JPH0845970A - Die bonding device - Google Patents

Die bonding device

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Publication number
JPH0845970A
JPH0845970A JP17788094A JP17788094A JPH0845970A JP H0845970 A JPH0845970 A JP H0845970A JP 17788094 A JP17788094 A JP 17788094A JP 17788094 A JP17788094 A JP 17788094A JP H0845970 A JPH0845970 A JP H0845970A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
collet
semiconductor chip
die bonding
television camera
amount
Prior art date
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Pending
Application number
JP17788094A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masahito Sei
雅人 清
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Die Bonding (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable a semiconductor chip to be accurately mounted on a stem at a right position always. CONSTITUTION:The picture of a collet 1 is picked up by a TV camera 2 from below before the collet 1 sucks a semiconductor chip 19, a relative deviation of the picture image pattern picked up by the camera 2 from a previously stored reference pattern is calculated through a recognition section 7, the amount of deviation is outputted from the recognition section 7 to a control section 8 to actuate pulse motors 10a and 10b or a pulse motor 11 to correct the collet 1 in original position, and then the collet 1 sucks up the semiconductor chip 19 and transfers it by a prescribed distance of X-Y, and thus the chip 19 is bonded.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体チップを吸着保持
しリードフレームやステムなどの被搭載部材に該半導体
チップを被着固定するダイボンディング装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a die bonding apparatus for adsorbing and holding a semiconductor chip and adhering and fixing the semiconductor chip to a mounted member such as a lead frame or a stem.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ダイボンディング装置において
は、粘着シート又はトレー上からステージに移載された
半導体チップをコレットで真空吸着し、被搭載部材であ
るリードフレームあるはステム上までコレットに吸着さ
れた半導体チップを移送し、それから、コレットを下降
させ被搭載部材面に半導体チップを押し付け被着させて
いた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a die bonding apparatus, a semiconductor chip transferred from an adhesive sheet or tray to a stage is vacuum-sucked by a collet, and a lead frame or a stem, which is a mounted member, is sucked by the collet. The semiconductor chip is transferred, and then the collet is lowered to press and attach the semiconductor chip to the surface of the mounted member.

【0003】また、この半導体チップであるダイを被搭
載部材に被着させる際に、被搭載部材に常に一定の位置
に被着しなければならなかった。特に、高周波特性に厳
しい半導体装置においては、ダイボンディング位置精度
は±20μm〜±25μmの高い精度が要求されてい
た。
Further, when the die, which is the semiconductor chip, is attached to the member to be mounted, it has to be always attached to the member to be mounted at a fixed position. Particularly, in a semiconductor device having severe high frequency characteristics, a high accuracy of die bonding position of ± 20 μm to ± 25 μm is required.

【0004】このような精密な位置決めするのに、例え
ば、吸着された半導体チップを下方からテレビカメラで
撮像し、撮像された半導体チップの外形画像パターンと
コレットに正確に吸着されたときの基準パターンと比較
しそのずれ量を演算し、コレットの元位置と被搭載部材
との相対距離にずれ量を補正してコレットを移動させた
後半導体チップを移送し被搭載部材上に位置決めした
り、あるいは、コレットを光を透過する材質で作り、吸
着された半導体チップの表面のパターンを上方のテレビ
カメラにより撮像し、予じめ記憶された半導体チップの
基準パターンと比較しずれ量を算出し、上述したように
ずれ量で移動距離を補正して位置決めするなどしてい
た。
In order to perform such precise positioning, for example, an image of the sucked semiconductor chip is picked up from below by a television camera, and an external image pattern of the picked-up semiconductor chip and a reference pattern when the collet is sucked accurately Comparing with the calculated amount of displacement, the displacement is corrected to the relative distance between the original position of the collet and the mounted member, and after moving the collet, the semiconductor chip is transferred and positioned on the mounted member, or , The collet is made of a light-transmitting material, the pattern of the surface of the adsorbed semiconductor chip is imaged by the upper television camera, and the amount of deviation is calculated by comparing with the previously stored reference pattern of the semiconductor chip, As described above, the movement distance is corrected by the amount of displacement and positioning is performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】図5(a)および
(b)は従来のダイボンディング装置の問題点を説明す
るためのコレットと半導体チップを示す図である。上述
した外形画像パターンで位置を決める従来の位置認識方
法では、コレットの中心位置と半導体チップの表面パタ
ーンの中心位置と一致させ製作することが困難であり、
精度良く製作してもせいぜい±50μm程度の位置決め
精度である。従って、それ以上の位置決め精度は期待で
きない。
FIGS. 5A and 5B are views showing a collet and a semiconductor chip for explaining the problems of the conventional die bonding apparatus. In the conventional position recognition method for determining the position by the above-mentioned outer shape image pattern, it is difficult to manufacture by matching the center position of the collet with the center position of the surface pattern of the semiconductor chip,
Even if it is manufactured with high accuracy, the positioning accuracy is at most ± 50 μm. Therefore, further positioning accuracy cannot be expected.

【0006】後者である表面パターンをコレットに半導
体チップが吸着保持された状態で位置を認識する方法
は、図5(a)の二点鎖線で示すように、水平に半導体
チップ19がテーパ面1aに吸着されれば問題がないも
のの、しばしば、図5(a)の実線で示すように、コレ
ット1のテーパ面1aに傾むいて吸着される。この場合
は、コレット1を下降させ半導体チップ19を被搭載部
材20に押し付け排気穴1b内を大気に戻したとき、テ
ーパ面1aの押し付け力による自動調芯作用により半導
体チップ19がコレット1の中心に倣ってしまう。
In the latter method of recognizing the position of the semiconductor chip adsorbed and held by the collet on the surface pattern, as shown by the chain double-dashed line in FIG. Although there is no problem as long as it is adsorbed on the collet 1, it is often adsorbed while being inclined to the tapered surface 1a of the collet 1, as shown by the solid line in FIG. In this case, when the collet 1 is lowered and the semiconductor chip 19 is pressed against the mounted member 20 to return the inside of the exhaust hole 1b to the atmosphere, the semiconductor chip 19 is moved to the center of the collet 1 by the self-centering action by the pressing force of the tapered surface 1a. Imitate.

【0007】すなわち、θ度傾いてコレット1に吸着さ
れた半導体チップ19が被搭載部材20に載置され真空
開放されると、コレット1の自動調芯作用で半導体チッ
プ19はsinθ×半導体チップの板厚tだけずれて被
着されることになる。例えば、厚さtが0.3mmで5
度傾いただけで26μmとなりこれだけで許容値を超え
てしまう。
That is, when the semiconductor chip 19 tilted by θ degrees and adsorbed by the collet 1 is placed on the mounted member 20 and released from vacuum, the semiconductor chip 19 becomes sin θ × semiconductor chip due to the self-centering action of the collet 1. It will be attached with a deviation of the plate thickness t. For example, if the thickness t is 0.3 mm, 5
It becomes 26 μm just by tilting it, which exceeds the allowable value.

【0008】従って、本発明の目的は、常により正確な
位置の被搭載部材に半導体チップを被着することができ
るダイボンディング装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a die bonding apparatus that can always attach a semiconductor chip to a mounted member at a more accurate position.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、半導体
チップを吸着保持し被搭載部材に該半導体チップを被着
固定するダイボンディング装置において、端部縁から内
側にテーパ面と排気穴をもつとともに前記半導体チップ
を該テーパ面に吸着させ保持するコレットと、このコレ
ットを保持してXY方向に移動し該被搭載部材上に前記
コレットを位置決めするとともに該コレットを下降させ
前記被搭載部材に前記半導体チップを載置する移動機構
と、前記コレットの該端部を撮像するテレビカメラと、
このテレビカメラで撮像された該端部のパターン画像を
予め記憶させた基準パターンと一致するまでの相対的移
動量を算出し前記コレットの該基準パターンと前記画像
パターンとの位置のずれ量を演算する認識部と、前記半
導体チップを吸着する前に前記移動機構よる前記コレッ
トの移動量を前記ずれ量で補正する制御部とを備えるダ
イボンディング装置である。また、前記テレビカメラに
入光する光と同軸に照明光を投射する照明光学機構を備
えることが望ましい。さらに、必要に応じて、軸心を中
心にし前記コレットを回転させる回転機構を備えること
である。
A feature of the present invention is that in a die bonding apparatus for adsorbing and holding a semiconductor chip and adhering and fixing the semiconductor chip to a mounted member, a taper surface and an exhaust hole are formed inward from an end edge. A collet for holding and holding the semiconductor chip on the taper surface and holding the collet to move in the XY directions to position the collet on the mounted member and lower the collet to the mounted member. A moving mechanism for mounting the semiconductor chip, a television camera for imaging the end portion of the collet,
The relative movement amount until the pattern image of the end imaged by the television camera matches the previously stored reference pattern is calculated, and the displacement amount between the reference pattern of the collet and the image pattern is calculated. And a controller for correcting the amount of movement of the collet by the moving mechanism by the amount of displacement before the semiconductor chip is sucked. Further, it is desirable to include an illumination optical mechanism that projects illumination light coaxially with the light entering the television camera. Furthermore, if necessary, a rotation mechanism for rotating the collet around the axis is provided.

【0010】本発明の他の特徴は、前記コレットの前記
排気穴のつまりの許容限界値あるいは前記コレットの前
記テーパ面のきずまたは欠けの有無の判定値を予め前記
認識部に記憶させ、前記テレビカメラに入力される前記
コレットの端部の画像パターンから前記排気穴のつまり
の前記許容限界値内か否か及び前記テーパ面のきずまた
は欠けの有無の判定によって警報を発生するダイボンデ
ィング装置である。
Another feature of the present invention is that the permissible limit value for clogging of the exhaust hole of the collet or the judgment value of the presence or absence of a flaw or chip on the tapered surface of the collet is stored in advance in the recognition section, and the television is stored. A die bonding apparatus that issues an alarm by determining whether an image pattern at the end portion of the collet input to a camera is within the allowable limit value for clogging of the exhaust hole and whether the taper surface is flawed or chipped. .

【0011】[0011]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0012】図1(a)および(b)は本発明によるダ
イボンディング装置の一実施例を示す平面図および主要
部の側面図である。このダイボンディング装置は、図1
に示すように、端部縁から内側に形成されるテーパ面1
aと排気穴1bをもつとともに半導体チップ19をテー
パ面1aに吸着させ保持するコレット1と、このコレッ
ト1を保持するアーム3を有しXY方向に移動しステム
17上にコレット1を位置決めするとともにコレット1
を下降させステム17に半導体チップ19を載置するヘ
ッド6と、ヘッド6をXY方向に移動させるXY駆動機
構5と、コレット1の端部16を撮像するテレビカメラ
2と、このテレビカメラ2で撮像された端部16のパタ
ーン画像を予め記憶させた基準パターンと一致するまで
の相対的移動量を算出しコレット1のパターン画像と基
準パターンとの位置に対するずれ量を演算する認識部7
と、半導体チップ19を吸着する前にXY駆動機構3よ
るコレット1の移動量を演算されたずれ量で補正する制
御部8とを備えている。
1 (a) and 1 (b) are a plan view and a side view of a main part showing an embodiment of a die bonding apparatus according to the present invention. This die bonding device is shown in FIG.
As shown in, the tapered surface 1 formed inward from the end edge
a and an exhaust hole 1b, and a collet 1 for adsorbing and holding the semiconductor chip 19 on the taper surface 1a and an arm 3 for holding the collet 1 and moving in the XY directions to position the collet 1 on the stem 17. Collet 1
Is moved down to mount the semiconductor chip 19 on the stem 17, an XY drive mechanism 5 for moving the head 6 in the XY directions, a television camera 2 for capturing an image of the end 16 of the collet 1, and the television camera 2. A recognizing unit 7 that calculates a relative movement amount of the captured pattern image of the end portion 16 until it coincides with a reference pattern stored in advance and calculates a shift amount between the pattern image of the collet 1 and the reference pattern.
And a controller 8 that corrects the movement amount of the collet 1 by the XY drive mechanism 3 by the calculated shift amount before the semiconductor chip 19 is sucked.

【0013】ここで、コレット1の位置を補正するXY
駆動機構3の他に軸心を中心にコレット1を回転するス
テップ送りができるパルスモータ11を設けることが望
ましい。このことは後述するが、XY成分に分けてずれ
量を補正するよりはX方向あるいはY方向のいずれかの
成分と回転角成分に分けて補正した方が、ずれの量およ
び向きによって補正が容易に行なえるという利点があ
る。
XY for correcting the position of the collet 1
In addition to the drive mechanism 3, it is desirable to provide a pulse motor 11 capable of step feed for rotating the collet 1 around the axis. Although this will be described later, it is easier to correct the amount of deviation depending on the amount and direction of deviation rather than correcting the amount of deviation by dividing it into the XY component and by correcting the component in either the X or Y direction and the rotation angle component. The advantage is that

【0014】また、テレビカメラ2には、光源ランプ1
3からの光をハーフミラー14で反射しコレット1の端
部16に投射し反射する光をハーフミラー14を透過さ
せテレビカメラ2に入光する照明光学機構が設けられて
いる。この照明光学機構を設けることにより暗いコレッ
ト1の端部16でも鮮明なコントラストで凸部の影を生
ずることなく撮像できるし、後述する排気穴1bのごみ
のつまりでも十分な反射光量が得られるようにしてあ
る。
The television camera 2 includes a light source lamp 1
There is provided an illumination optical mechanism for reflecting the light from the mirror 3 on the half mirror 14 and projecting the reflected light to the end 16 of the collet 1 to transmit the light to the television camera 2 through the half mirror 14. By providing this illumination optical mechanism, it is possible to take an image with a sharp contrast even at the end 16 of the dark collet 1 without causing a shadow of the convex portion, and to obtain a sufficient amount of reflected light even if dust in the exhaust hole 1b described later is blocked. I am doing it.

【0015】なお、図中、9は中間ステージであって、
トレーから半導体チップ19を仮置きするステージであ
る。また、ステージ4は被搭載部材であるステム17を
載置するステージである。
In the figure, 9 is an intermediate stage,
This is a stage for temporarily placing the semiconductor chip 19 from the tray. The stage 4 is a stage on which the stem 17, which is a mounted member, is placed.

【0016】図2(a)および(b)は角型コレットと
丸型コレットの端部における画像パターンを示す図であ
る。テレビカメラ2に入光する画像は、図2(a)に示
すような場合は、角型コレットの場合であって、位置認
識部15a,15bの対角線上の2個所で行なう。ま
た、図2(b)に示すように丸形コレットの場合は位置
認識15cはコレット1の端部を含む全体である。
FIGS. 2A and 2B are diagrams showing image patterns at the ends of the rectangular collet and the round collet. In the case of the image shown in FIG. 2A, the image entering the television camera 2 is a case of a rectangular collet, and the images are taken at two positions on the diagonal of the position recognition units 15a and 15b. Further, as shown in FIG. 2B, in the case of the round collet, the position recognition 15c is the whole including the end of the collet 1.

【0017】このようにコレット1の端部16からの反
射光の強度の強弱により認識部7で白黒の二値化画像に
処理され、認識部7の記憶回路に予じめ入力されていた
基準パターンと比較され入光された画像パターンの基準
パターンに対する中心位置のずれ量が演算される。
As described above, the reference which has been processed into a black and white binarized image by the recognition unit 7 according to the intensity of the reflected light from the end 16 of the collet 1 and which has been input in advance into the memory circuit of the recognition unit 7 is used. The amount of deviation of the center position of the image pattern, which is compared with the pattern and received, with respect to the reference pattern is calculated.

【0018】図3はずれ量の演算方法を説明するための
撮像エリアとスライス線を示す図である。上述した演算
方法は、例えば、丸形コレットの場合をとると、図3に
示すように、まず、端部16の全体領域をX方向,Y方
向について一定数の線でスライスし、スライス線毎に黒
白の画素の境界点を見つける。そして全スライス線につ
いて黒白の画素の境界点の座標を平均し端部16の画像
の重心の座標を求める。次に、予め入力された基準パタ
ーンの重心と取り込まれた画像の重心のずれ量を演算す
る。
FIG. 3 is a diagram showing an imaging area and slice lines for explaining a method of calculating the shift amount. In the case of the round collet, for example, the above-described calculation method, as shown in FIG. 3, first slices the entire region of the end portion 16 with a certain number of lines in the X and Y directions, and slices each slice line. Find the black and white pixel boundary points at. Then, the coordinates of the boundary points of the black and white pixels are averaged over all the slice lines to obtain the coordinates of the center of gravity of the image of the end portion 16. Next, the shift amount between the center of gravity of the reference pattern input in advance and the center of gravity of the captured image is calculated.

【0019】このようにして演算されたずれ量は制御部
8に送られ、アーム2を含むヘッド6を移動させるXY
駆動機構3のパルスモータ10a,10bにずれ量をX
およびY成分に分けられた距離に対応する補正パルスを
入力しXY駆動機構3によりヘッド6を移動させ、半導
体チップ19の吸着すべき位置とダイボンディングする
位置を求めるコレットの原点位置が決定される。
The amount of deviation calculated in this way is sent to the control unit 8 to move the head 6 including the arm 2 in the XY direction.
The pulse motors 10a and 10b of the drive mechanism 3 have a shift amount of X
And the correction pulse corresponding to the distance divided into the Y component is input, the head 6 is moved by the XY drive mechanism 3, and the origin position of the collet for determining the position to be sucked by the semiconductor chip 19 and the position to be die-bonded is determined. .

【0020】また、X方向あるいはY方向のいずれかに
大きくずれがあるが、他の方向のずれが少ない場合は、
X方向またはY方向に補正した後、パルスモータ11の
回転により補正した方がより高い精度を確保できる。何
となれば、XY駆動用のパルスモータ10a,10bに
比べコレット回転軸は低負荷であることから、パルスモ
ータ11がコレット回転軸に直結できバックラシュがあ
る歯車など介在させることなくパルスモータ11はコレ
ット回転軸に直結できるからである。
If there is a large deviation in either the X direction or the Y direction but a small deviation in the other directions,
Higher accuracy can be ensured by correcting the pulse motor 11 after the correction in the X direction or the Y direction. Since the collet rotary shaft has a lower load than the pulse motors 10a and 10b for XY drive, the pulse motor 11 can be directly connected to the collet rotary shaft and the pulse motor 11 can be directly connected to the collet rotary shaft without interposing a gear having a backlash. This is because it can be directly connected to the rotating shaft.

【0021】図4(a)および(b)は本発明のダイボ
ンディング装置の他の実施例を説明するためのコレット
の端部の状態を示す図である。また、このダイボンディ
ング装置は、コレット1の端部を観察するテレビカメラ
2を備えることによってコレットの端部の異常を事前に
検出することができるという利点がある。
FIGS. 4A and 4B are views showing the state of the end portion of the collet for explaining another embodiment of the die bonding apparatus of the present invention. In addition, this die bonding apparatus has an advantage that the abnormality of the end portion of the collet can be detected in advance by including the television camera 2 that observes the end portion of the collet 1.

【0022】例えば、図4(a)に示すように、半導体
チップへの吸着を不能にする欠けあるいはきず21がコ
レットのテーパ面1aに存在したような場合は、テーパ
面1aの外径を示す境界点と内径を示す境界点との間の
リング状領域内に黒点や連続した黒点部が存在しら不可
てあることを認識部7の記憶部に記憶させ、コレット1
の画像パターンをスライス線で走査しリング状領域に黒
点あるいは連続した黒点部の有無によって判定し、もし
有りであれば警報を発生する。そして、警報が発生すれ
ば事前に新しいコレットを交換すれば、コレットが半導
体チップを移送中に落下や不確実な保持はなくなる。
For example, as shown in FIG. 4 (a), when there is a chip or flaw 21 on the taper surface 1a of the collet that makes it impossible to adsorb to the semiconductor chip, the outer diameter of the taper surface 1a is shown. It is stored in the storage unit of the recognition unit 7 that the existence of black dots or continuous black dots is not possible in the ring-shaped region between the boundary point and the boundary point indicating the inner diameter, and the collet 1
The image pattern is scanned with a slice line to determine whether there are black spots or continuous black spots in the ring-shaped area, and if there is, an alarm is issued. If a new collet is exchanged in advance when an alarm is issued, the collet will not drop or hold uncertainly during the transfer of semiconductor chips.

【0023】また、図4(b)に示すように、排気穴1
bにつまり22が生じ吸着力が弱くなったとき、認識部
7の記憶部に予め最小穴を示す限界線23の境界点座標
を入力しておけば、コレットの排気穴1bのつまり22
が示す境界点が限界線23の内側に存在すれば警報を発
生するようにする。
Further, as shown in FIG. 4 (b), the exhaust hole 1
When the clogging 22 is generated in b and the suction force is weakened, if the boundary point coordinates of the limit line 23 indicating the minimum hole are input in the storage unit of the recognition unit 7 in advance, the clogging of the exhaust hole 1b of the collet 22
If the boundary point indicated by is inside the limit line 23, an alarm is issued.

【0024】このコレット端部の検査は上述した位置認
識を行なう前に実施するように装置のシーケンス制御を
設計し、一ロットの半導体チップをマウントする毎ある
いは所定数の半導体チップをマウントする毎に行なうと
良い。
The sequence control of the apparatus is designed so that the inspection of the end of the collet is performed before the above-mentioned position recognition, and every time one lot of semiconductor chips is mounted or a predetermined number of semiconductor chips are mounted. Good to do.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、コレット
の底面を撮像するテレビカメラと、テレビカメラが取込
む画像パターンと予じめ記憶された基準パターンとを比
較して両者の相対的位置ずれを算出する認識部と、コレ
ットの元位置を算出された位置ずれで補正することによ
って、正確にコレットに吸着されなくてもあるいは製作
精度の不十分なコレットでも被搭載部材に常に精密な位
置に半導体チップを被着できるという効果がある。
As described above, according to the present invention, the relative position of the television camera that captures the bottom surface of the collet is compared with the image pattern captured by the television camera and the previously stored reference pattern. By recognizing the displacement and correcting the original position of the collet with the calculated displacement, even if the collet is not accurately attracted to the collet or the collet with inadequate manufacturing accuracy, the precise position of the mounted member is always maintained. There is an effect that a semiconductor chip can be attached to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるダイボンディング装置の一実施例
を示す平面図および主要部の側面図である。
FIG. 1 is a plan view and a side view of a main part showing an embodiment of a die bonding apparatus according to the present invention.

【図2】角型コレットと丸型コレットの端部における画
像パターンを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing image patterns at ends of a rectangular collet and a round collet.

【図3】ずれ量の演算方法を説明するための撮像エリア
とスライス線を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an imaging area and slice lines for explaining a method of calculating a shift amount.

【図4】本発明のダイボンディング装置の他の実施例を
説明するためのコレットの端部の状態を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a state of an end portion of a collet for explaining another embodiment of the die bonding apparatus of the present invention.

【図5】従来のダイボンディング装置の問題点を説明す
るためのコレットと半導体チップを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a collet and a semiconductor chip for explaining the problems of the conventional die bonding apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コレット 1a テーパ面 1b 排気穴 2 テレビカメラ 3 アーム 4 ステージ 5 XY駆動機構 6 ヘッド 7 認識部 8 制御部 9 中間ステージ 10a,10b,11 パルスモータ 12 レンズ 13 光源ランプ 14 ハーフミラー 15a,15b,15c 位置認識部 16 端部 17 ステム 19 半導体チップ 20 被搭載部材 21 きず 22 つまり 23 限界線 1 Collet 1a Tapered surface 1b Exhaust hole 2 Television camera 3 Arm 4 Stage 5 XY drive mechanism 6 Head 7 Recognition part 8 Control part 9 Intermediate stage 10a, 10b, 11 Pulse motor 12 Lens 13 Light source lamp 14 Half mirror 15a, 15b, 15c Position recognition part 16 End part 17 Stem 19 Semiconductor chip 20 Mounted member 21 Flaw 22 That is 23 Limit line

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップを吸着保持し被搭載部材に
該半導体チップを被着固定するダイボンディング装置に
おいて、端部縁から内側にテーパ面と排気穴をもつとと
もに前記半導体チップを該テーパ面に吸着させ保持する
コレットと、このコレットを保持してXY方向に移動し
該被搭載部材上に前記コレットを位置決めするとともに
該コレットを下降させ前記被搭載部材に前記半導体チッ
プを載置する移動機構と、前記コレットの該端部を撮像
するテレビカメラと、このテレビカメラで撮像された該
端部のパターン画像を予め記憶させた基準パターンと一
致するまでの相対的移動量を算出し前記コレットの該基
準パターンと前記画像パターンとの位置のずれ量を演算
する認識部と、前記半導体チップを吸着する前に前記移
動機構よる前記コレットの移動量を前記ずれ量で補正す
る制御部とを備えることを特徴とするダイボンディング
装置。
1. A die bonding apparatus for adsorbing and holding a semiconductor chip and adhering and fixing the semiconductor chip to a member to be mounted, wherein a taper surface and an exhaust hole are provided inside from an end edge and the semiconductor chip is formed on the taper surface. A collet that attracts and holds the collet; and a moving mechanism that holds the collet and moves in the XY directions to position the collet on the mounted member and lower the collet to mount the semiconductor chip on the mounted member. , A relative amount of movement of the television camera that captures an image of the end of the collet and a pattern image of the edge captured by the television camera until the reference pattern is stored in advance, and the relative movement amount of the collet is calculated. A recognition unit that calculates the amount of positional deviation between the reference pattern and the image pattern; and A die bonding apparatus, comprising: a controller that corrects the movement amount of the dot with the shift amount.
【請求項2】 前記テレビカメラに入光する光と同軸に
照明光を投射する照明光学機構を備えることを特徴とす
る請求項1記載のダイボンディング装置。
2. The die bonding apparatus according to claim 1, further comprising an illumination optical mechanism that projects illumination light coaxially with light entering the television camera.
【請求項3】 軸心を中心にし前記コレットを回転させ
る回転機構を備えることを特徴とする請求項1または請
求項2記載のダイボンディング装置。
3. The die bonding apparatus according to claim 1, further comprising a rotating mechanism that rotates the collet around an axis.
【請求項4】 前記コレットの前記排気穴のつまりの許
容限界値あるいは前記コレットの前記テーパ面のきずま
たは欠けの有無の判定値を予め請求項1記載の前記認識
部に記憶させ、前記テレビカメラに入力される前記コレ
ットの端部の画像パターンから前記排気穴のつまりの前
記許容限界値内か否か及び前記テーパ面のきずまたは欠
けの有無の判定によって警報を発生することを特徴とす
るダイボンディング装置。
4. An allowable limit value for clogging of the exhaust hole of the collet or a judgment value for the presence or absence of a flaw or chip in the tapered surface of the collet is stored in the recognition unit according to claim 1 in advance, and the television camera is stored. A die for issuing an alarm by determining whether or not the exhaust hole is within the allowable limit value for clogging of the exhaust hole and whether or not there is a flaw or chip in the tapered surface from the image pattern of the end portion of the collet input to the die. Bonding equipment.
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