JPH08509332A - 高速の差動ラインドライバ - Google Patents

高速の差動ラインドライバ

Info

Publication number
JPH08509332A
JPH08509332A JP6523439A JP52343994A JPH08509332A JP H08509332 A JPH08509332 A JP H08509332A JP 6523439 A JP6523439 A JP 6523439A JP 52343994 A JP52343994 A JP 52343994A JP H08509332 A JPH08509332 A JP H08509332A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
data
transistors
conduction
path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6523439A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3411574B2 (ja
Inventor
クオ,ジェイムズ,アール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Semiconductor Corp
Original Assignee
National Semiconductor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Semiconductor Corp filed Critical National Semiconductor Corp
Publication of JPH08509332A publication Critical patent/JPH08509332A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3411574B2 publication Critical patent/JP3411574B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0292Arrangements specific to the receiver end
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/04Modifications for accelerating switching
    • H03K17/041Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/04106Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
    • H03K17/6872Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor using complementary field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/15Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors
    • H03K5/151Arrangements in which pulses are delivered at different times at several outputs, i.e. pulse distributors with two complementary outputs
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/028Arrangements specific to the transmitter end
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0272Arrangements for coupling to multiple lines, e.g. for differential transmission

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 データトランシーバには、データ伝送線の一端に接続される送信機、及びデータ伝送線の他端に接続される受信機が含まれる。トランシーバの少なくとも幾つかの部分は、CMOSで形成される。温度補償回路が、トランシーバの選択された構成要素に接続されて、それら構成要素を介する電流の温度誘導の変動を補正する。温度補償回路には、並列伝導経路にそれぞれ接続される、一対のトランジスタが含まれる。該トランジスタは、等しくないエミッタ領域を有し、それらのゲートが共に連結される。より大きなトランジスタを介する電流は、温度と比例して変化し、この電流は、トランジスタ対の短絡されたゲートに接続される、電流ミラー・トランジスタに反映される。CMOS技術において、電流は、温度と反比例して変化するので、ミラー・トランジスタを介する電流は、トランシーバの選択された構成要素に対して、温度補償をもたらす手段として使用され得る。

Description

【発明の詳細な説明】 高速の差動ラインドライバ 発明の分野 伝送線へとデータを供給し、伝送線からデータを受信するトランシーバに関し 、特に、高速、低電圧の差動スイング伝送線と関連した用途のトランシーバに関 する。 発明の背景 データ伝送線、又はバスは、コンピュータの構成要素と他のデジタルデータシ ステム間でデータを転送するために使用される。例えば、コンピュータの構成要 素は、一般に「シングルエンド」形式、すなわち単一の導体が「ハイ(high)」 か「ロー(low)」のどちらかでデータを処理するが、差動スイング伝送線が、 CPUとコンピュータの他の構成要素間でデータを伝送するために通常使用され る。その理由は、シングルエンド線は、コモンモード雑音に対して受容可能であ るが、差動スイングの二重ワイヤ線はそうではないということである。差動スイ ングシステムにおいて、データは2線間の電圧差(例えば、+Vと−V)により 表され、この差は、両方の線が外部の影響にさらされた場合、同じままである。 これには、シングルエンドから差動形式にデータを変換するために、伝送線へ の入力において送信機が設けられ、差動からシングルエンド形式にデータを変換 するために、伝送線の出力において受信機が設けられる必要がある。伝送線の入 /出力における送信機/受信機の対は、組み合わせてトランシーバと言われる。 送信機は、シングルエンドの入力データを受信して、それを公称スキューを有 する差動パルスに変換しなければならない。すなわち、伝送線対での対応する立 ち上がり、及び立ち下がりが、同時に発生しなければならない。受信機は、差動 入力を受信して、対称的な出力パルスを生成しなければならない。CMOS素子 の特性が温度で変動するので、素子がCMOSで形成される場合、特定の問題に 直面する。従って、温度変化により、伝送線上のデータがスキューさせられ、こ のことは、受信機のシングルエンド出力の対称性に影響を与える可能性がある。 発明の摘要 本発明によるトランシーバにおいて、送信機には、シングルエンド入力データ が向けられる、一対の伝導経路が含まれる。並列経路の各々は、データ経路の出 力でのそれぞれの信号が、逆の関係にある、すなわちそれらの一方が入力を反映 し、他方は入力とは反対であるように、選択された数のインバータ、及び伝送ゲ ートを含む。各並列経路の出力は、電流が、「1」が入力に出現した場合には、 終端抵抗を介して第1の方向に流れ、「0」が入力に出現した場合には、反対方 向に流れるようにして接続される、好適にはCMOSで形成される、トランジス タ・スイッチに接続される。差動伝送線の2つの側は、終端抵抗のそれぞれの端 子に接続される。 受信機には、並列に接続され、電流源により共通に供給される、一対のトラン ジスタが含まれる。伝送線のワイヤはそれぞれ、トランジスタの他方をオフに切 り換えた場合、トランジスタの一方をオ ンに切り換えるように、これら2つのトランジスタの制御端子に接続される。電 圧が、並列伝導経路の一方における点で検出され、1つ以上のインバータを介し て、受信機の出力に供給される。 温度補償回路が、CMOS素子の温度依存特性に対する補償が要求される、ト ランシーバの各種の点に接続される。好適な実施例において、温度補償回路には 、共に連結され、及び並列伝導経路に接続されたゲートを備えた、一対の不整合 トランジスタが含まれる。より大きなトランジスタを介する電流は、温度変化に 比例して変動する。この電流は、温度補償が要求されるトランジスタの位置にミ ラーリングされる。通常、これは、CMOSトランジスタと直列に電流ミラート ランジスタを接続することによりなされる。電流ミラートランジスタを介する電 流は、温度に比例して(すなわち、CMOS素子における通常の電流−温度関係 とは反対に)変動するので、電流ミラートランジスタは、他のトランジスタを介 する電流における温度誘導の変化を打ち消す。 トランシーバは、β段階で開発されたクイックリング伝送線のような単方向伝 送線だけでなく、双方向伝送線、すなわちバスに接続され得る。双方向伝送線、 すなわちバスの場合、送信機と受信機は、伝送線の各端部において接続され、他 方の送信機が伝送線上にデータを送っている場合に、送信機の一方を禁止にする ための手段が設けられる。 図面の簡単な説明 図1Aは、クイックリングのような単方向伝送線で使用される、 トランシーバを示す。 図1Bは、双方向伝送線、すなわちバスで使用される、トランシーバを示す。 図2は、クイックリング・データ伝送線の概略図を示す。 図3は、送信機の回路図を示す。 図4は、受信機の回路図を示す。 図5は、温度補償回路の回路図を示す。 発明の説明 図1Aは、伝送線103の端部に接続された、送信機100、及び受信機10 1を示す。伝送線103は、図2に示されるような、クイックリング単方向デー タ伝送システムのセグメントであり得る。図2において、コントローラ201− 205の各々は、デジタル装置211−215のそれぞれに接続され、データが 、ループ200の回りで一方向に循環する。このことは実際、送信機100が、 何時でも送信可能であり、送信機100を禁止にする手段を設ける必要はないこ とを意味する。 送信機100には、バッファとして働き、2つの並列データ経路へと供給する 、インバータ104が含まれる。経路の一方には、インバータ105、インバー タ106、及びインバータ107が含まれる。他方の並列伝導経路には、インバ ータ108、伝送ゲート109、及びインバータ110が含まれる。温度補償さ れた電流源111が、インバータ108の出力、及び伝送ゲート109の入力に おいて電流を供給する。 インバータ107の出力は、NMOSトランジスタ112及び113のゲート に共通に接続され、インバータ110の出力は、NMOSトランジスタ114及 び115のゲートに共通に接続される。トランジスタ112及び114のドレイ ンは、温度補償された電流源116、及びトランジスタ113及び115のソー スに接続され、抵抗118を介して、接地に接続される。トランジスタ112− 115は又、伝送線103の他方の端部にある、終端抵抗117にも結合される 。伝送線103は、ワイヤ321及び322を含む。 図3は、送信機100の回路図を示す。インバータ104は、PMOSトラン ジスタ300、及びNMOSトランジスタ301を含み、反転出力は、線302 上に出現する。インバータ105は、PMOSトランジスタ303、及びNMO Sトランジスタ304を含み、インバータ106は、PMOSトランジスタ30 5、及びNMOSトランジスタ306を含み、インバータ107は、PMOSト ランジスタ307、及びNMOSトランジスタ308を含む。これにより、図1 Aに示す、上側の並列伝導経路が完了する。下側の並列伝導経路について言えば 、インバータ108は、PMOSトランジスタ309、及びNチャンネル・トラ ンジスタ310を含み、伝送ゲート109は、PMOSトランジスタ311、及 びNMOSトランジスタ312を含み、インバータ110は、PMOSトランジ スタ313、及びNMOSトランジスタ314を含む。伝送ゲート311、及び これらのインバータの各々は、当業者には周知の、慣用的なCMOS構造である 。温度補償された電流源111に含まれ る、PMOSトランジスタ323は、トランジスタ309及び310のドレイン に共通に接続される。 この記述から明らかなように、線315上に出現する、インバータ107の出 力は、線316上に出現する、インバータ110の出力とは反対極性である。イ ンバータ107の出力は、図1Aで同様に符号づけられたトランジスタと同じで ある、NMOSトランジスタ112及び113のそれぞれのゲートに向けられる 。同様に、インバータ110の出力は、NMOSトランジスタ114及び115 のそれぞれのゲートに向けられる。線315及び316上の信号は、反対極性で あるので、トランジスタ114及び115をオフにした場合、トランジスタ11 2及び113はオンになり、その逆の場合も同じである。 トランジスタ112−115は、トランジスタ317及び318を介して流れ る電流により供給される。(温度補償された電流源116の一部であるトランジ スタ317及び318の動作を、以下に記載する。)トランジスタ112及び1 13をオンにした(トランジスタ114及び115はオフにされる)場合、電流 が、トランジスタ112を介し、ワイヤ321にわたり、終端抵抗117(図4 )を介し、ワイヤ322にわたり、トランジスタ113、及び抵抗118を介し て、接地へと流れる。従って、トランジスタ112及び113をオンにした場合 、ワイヤ321上の信号はハイとなり、ワイヤ322上の信号はローとなる。 逆に、トランジスタ114及び115をオンにした(トランジス タ112及び113はオフにされる)場合、電流が、トランジスタ114を介し 、ワイヤ322にわたり、終端抵抗117を介し、ワイヤ321にわたり、トラ ンジスタ115、及び抵抗118を介して、接地へと流れる。この状況において 、ワイヤ322上の信号はハイであり、ワイヤ321上の信号はローである。( 伝送線103を共に形成する)ワイヤ321及び322は、インバータ104に 対するシングルエンド入力に応答して、差動出力を示す。即ち、インバータ10 4への入力における2進信号は、トランジスタ112/113、及び114/1 15のどの対がオンになるかを決定し、これは次いで、終端抵抗117を横切る 信号の極性を決定する。終端抵抗117の出力は、伝送線103により供給され る、差動スイング信号を表す。 再度図1Aを参照すると、受信機101には、基準電圧と接地間で並列伝導経 路に接続された、一対のPMOSトランジスタ120及び121が含まれる。ワ イヤ321は、トランジスタ120のゲートに接続され、ワイヤ322は、トラ ンジスタ121のゲートに接続される。また、そのゲートが共に連結される、N MOSトランジスタ122、及びNMOSトランジスタ123も、並列伝導経路 に接続される。トランジスタ123のゲートとドレインは、トランジスタ122 及び123が電流ミラーとして働くように、短絡される。並列伝導経路は、温度 補償された電流源124により供給される。出力が、トランジスタ120と12 2間のノードからとられ、一連のインバータ125、126、及び127の入力 に供給される。 温度補償された電流源128が、インバータ125の入力に電流を供給する。受 信機101のシングルエンド出力は、インバータ127の出力において出現し、 コンピュータ、又は他のシステムの構成要素に供給される。 受信機101の回路図が、図4に示されている。インバータ125には、NM OSトランジスタ401が含まれ、インバータ126には、一対のCMOSトラ ンジスタ402及び403が含まれ、インバータ127には、一対のCMOSト ランジスタ404及び405が含まれる。インバータ127の出力におけるコン デンサ418は、受信機101の出力を受信する、構成要素(不図示)の寄生イ ンピーダンスを表す。温度補償された電流源124には、PMOSトランジスタ 406が含まれ、温度補償された電流源128には、PMOSトランジスタ40 7、408、及び409が含まれる。抵抗410が、トランジスタ407と接地 間に接続される。トランジスタ120及び122は、ノード411で結合される 。ワイヤ321上の信号は、PMOSトランジスタ120のゲートで受信され、 信号がハイの場合は、PMOSトランジスタ120をオフにし、信号がローの場 合は、PMOSトランジスタ120をオンにする。同様に、PMOSトランジス タ121が、線322上の信号により制御される。ワイヤ321上の信号がハイ の場合、トランジスタ120はオフであり、トランジスタ121はオンである。 従って、ノード411における電圧がローである場合、この電圧はNMOSトラ ンジスタ401のゲートに供給され、そのトランジスタをオフにし て、インバータ126への入力においてハイの電圧が生成される。従って、イン バータ127の出力も又ハイである。インバータ126及び127は、当業者に は周知の、慣用的なCMOSインバータである。インバータ125−127の機 能は、受信機101の出力において、急峻に規定され、対称的な信号を生成する ために、ノード411において出現する信号を成形し、増幅することである。ト ランジスタ122及び123の対は、トランジスタ120及び121を介する電 流を等しくするために、電流ミラーとして動作する。これは、ワイヤ321及び 322上の差動入力の変化に応答して、ノード411での出力電流を2倍にする 効果を有する。 逆に、ワイヤ321上の信号がローの場合、トランジスタ120はオンとなり 、トランジスタ121はオフとなって、ノード411における電圧はハイとなる 。結果として、NMOSトランジスタがオンとなり、インバータ126への入力 はローとなる。この状況において、NMOSトランジスタ405がオンとなり、 受信機101の出力が接地される。従って、受信機101の出力は、シングルエ ンド化され、Vddと接地間で変化する。 上述したように、CMOS素子の特性は温度で変動する。特に、それらのトラ ンスコンダクタンスは、温度の上昇に伴って減少する。従って、温度補償が設け られない限り、CMOS素子を介する電流は、温度が上昇するにつれて減少する 。 再度図4を参照すると、温度補償ユニット415が、送信機100及び受信機 101の幾つかのトランジスタ、即ち高利得を有し、 それゆえに、温度変動を特に受けやすいそれらトランジスタの温度依存性を補償 するために使用される、基準信号を発生する。本発明の実施例において、温度補 償は、送信機100(図3)内のトランジスタ112−115、及びトランジス タ310、及び受信機101(図4)内のトランジスタ120及び401に適用 される。 図5は、温度補償ユニット415の回路図を示す。一対の伝導経路500及び 501が、Vddと接地間に接続される。PMOSトランジスタ502、及びNM OSトランジスタ503が、伝導経路500に接続される。PMOSトランジス タ504、NMOSトランジスタ505、及び抵抗506が、伝導経路501に 接続され、トランジスタ504のゲートとドレインは短絡される。トランジスタ 502及び504は、整合された対であり、伝導経路500及び501の電流に 対して電流ミラーを与える。 トランジスタ505のエミッタ領域は、トランジスタ503のエミッタ領域よ りも実質的に大きい。従って、トランジスタ503のゲート・ソース間電圧(VGS )は、トランジスタ505のゲート・ソース間電圧よりも大きい。トランジス タ503及び505のゲートは共に連結されるので、以下の関係が保たれる。 VGS(503)=VGS(505)+VR(506) VGS(503)−VGS(505)=VR(506) ここで、VGS(503)は、トランジスタ503のゲート・ソース間電圧であり 、VGS(505)は、トランジスタ505のゲート・ソース間電圧であり、VR (506)は、抵抗506を横切る電圧 である。温度が上昇するにつれて、(VGS(503)−VGS(505))の量が 増大し、従ってVR(506)も又増大する。このことは、抵抗506を介して 流れる電流が増大することを意味する。従って、伝導経路501における電流( 抵抗506を介する電流と同じである)は、温度の上昇に伴って増大し、このこ とは、電流が、CMOSトランジスタの通常の変動と反比例して変化することを 意味する。 NMOSトランジスタ507、及びPMOSトランジスタ508が、Vddと 接地間で伝導経路に接続される。トランジスタ507のゲートは、トランジスタ 503及び505のゲートに結合される。従って、トランジスタ507は、伝導 経路501に流れる電流に対して電流ミラーとして働く。トランジスタ508の ゲートにおける電圧は、伝導経路509を介して流れる電流に比例して変化する 。この電圧は、温度補償ユニット415の出力を構成し、IREFで表される。伝 導経路509を介して流れる電流は通常、伝導経路501において流れる電流よ りもずっと大きい(例えば、マイクロアンペアではなくミリアンペア)。トラン ジスタ507及び508の値は、以下に記載するように、温度補償の目的のため の正確なIREFが得られるように、確立される。 IREF1で表される、温度補償ユニット415の第2の出力が、Vddと接地間で 抵抗511と直列に接続される、トランジスタ510のドレインにおいてとられ る。トランジスタ510のゲートとドレインは共に短絡される。トランジスタ5 10は温度補償されていな いので、出力IREF1は、通常のCMOS素子のように、温度と反比例して変化す る。 NMOSトランジスタ512が、トランジスタ503、505、及び507の 共通のゲート端子間に接続され、接地線(513で表す)上に出現する可能性の ある如何なる雑音をも濾波除去するために、コンデンサとして働く。同様に、P MOSトランジスタ514が、トランジスタ508のゲートとVdd電源線(51 5で表す)間に接続され、PMOSトランジスタ516が、トランジスタ510 のドレインと電源線515間に接続される。トランジスタ514及び516は、 電源線515上に発生する如何なる雑音をも濾波除去して、それにより雑音が、 それぞれ出力信号IREF及びIREF1に出現するのを防止する。 トランジスタ517−520は、温度補償ユニット415のためのスタートア ップ回路を形成する。PMOSトランジスタ517、及び2つのNMOSトラン ジスタ518及び519が、Vddと接地間で直列に接続される。これらのトラン ジスタのドレインとゲート端子は共に連結され、それらは共に分圧器を形成して 、トランジスタ517と518間の共通のノードにおける電圧が、NMOSトラ ンジスタ520のゲートに印加される。トランシーバが先ずオンになると、トラ ンジスタ520が導通して、トランジスタ503のドレインをVddに結合する。 これにより、トランジスタ503を介して電流が流れ始め、次いでトランジスタ 505において電流を流れさせる。トランジスタ518及び519は、トランジ スタ520の ゲートをクランプし、電流が伝導経路500及び501において流れ、回路が動 作している場合、トランジスタ520はオフとなる。 要約すると、温度補償ユニット415は、2つの電圧出力、すなわち温度に比 例して変化する第1の電圧出力IREF、及び温度と反比例して変化する第2の電 圧出力IREF1を生成する。 もう一度図4を参照すると、IREFは線416上に出現して、トランジスタ4 06及び409のゲートに供給される。先ず、トランジスタ406を考えると、 IREFは温度と比例して変化するので、それによりトランジスタ406を介する 電流が、同様にして温度と比例して変化させられ、これによって、トランジスタ 120及び121における温度誘導の影響が補償される。換言すると、温度が上 昇するにつれて、トランジスタ120及び121のトランスコンダクタンスが減 少して、これにより、これらのトランジスタを介する温度の流動が削減される。 しかし、トランジスタ406を介する電流は、温度と共に増大して、これにより 電流削減の平衡がとられ、トランジスタ120及び121に流れる、比較的温度 依存性のある電流が維持される。SPICEのようなシミュレーション・プログ ラムの手段により、トランジスタ503及び505のエミッタ領域の比率、及び トランジスタ507、508、及び406のサイズが、トランジスタ120及び 121に対して、適切な温度補償を与えるように設定される。 同様に、IREFは、トランジスタ401と直列に接続される、トランジスタ4 09のゲートに印加される。トランジスタ409を介 する電流は、トランジスタ401を介する電流における温度誘導の変動を補償す る。対のトランジスタ407及び408は、電流ミラーとして働き、トランジス タ401に加えられる補償の大きさを縮減する。これにより、確実に、トランジ スタ401により伝送されるパルスの立ち上がり時間は、温度に関係なく、同一 のままとなる。これらパルスの立ち下がり時間は、トランジスタ401のゲート における電圧により決定され、これは、次いでトランジスタ120及び121を 介して流れる電流により決定される。トランジスタ406によりもたらされる温 度補償によって、確実に、トランジスタ401により伝送されるパルスの立ち下 がり時間が同一のままとなる。従って、トランジスタ406によりもたらされる 温度補償(トランジスタ120及び121に対する)、及びトランジスタ407 −409の組合わさった影響(トランジスタ401に対する)が、共に作用して 、トランジスタ401により生成されるパルスが対称であるのを確実にする。 再度図3を参照すると、温度補償ユニット415のIREF出力は、トランジス タ317及び323のゲートに向けられる。上記で注目したように、トランジス タ323は、図1Aの温度補償された電流源111を表す。トランジスタ323 は、電源電圧Vddと接地間で、トランジスタ309と並列に、及びトランジスタ 310と直列に接続される。トランジスタ309及び310は、インバータ10 8(図1A)内に含まれる。トランジスタ323を介する電流は、温度と比例し て変化し、トランジスタ310を介して流れる電流を温 度補償する。これにより、確実に、トランジスタ310を介する電流の立ち上が り時間が一定となる。 トランジスタ317は、トランジスタ318と並列に接続され、共にこれら2 つのトランジスタは、電流源116(図1)を形成する。IREFは、トランジス タ317のゲートに印加され、IREF1は、トランジスタ318のゲートに印加さ れる。上記で注目したように、IREF1は、温度と反比例して変化し、それにより 、温度における変動と、Vddにおける揺動の両方が補償される。トランジスタ3 17は、温度と比例して変化する電流を与え、従ってトランジスタ対112/1 13、及び114/115を介する電流の、通常のCMOSの温度誘導の影響を 補償する。トランジスタ317と318の組み合わせは、Vddにおける揺動、 及び温度に対する補償を与える。 図1Aを参照すると、温度補償された電流源111、116、124、及び1 28は、以下の機能を実行するものと見なすことができる。 電流源111 電流源111(トランジスタ323及び309)は、インバータ108の出力 の立ち上がり時間を調節して、伝送ゲート109に対して対称的な入力を与える 。 電流源116 電流源116(トランジスタ317及び318)は、トランジスタ112/1 13、及び114/115をスイッチングするために、温度補償され、Vddと雑 音に無関係な電流を与える。抵抗118と 関連して動作すると、電流源116により生成された電流が、伝送線103に供 給されるデータパルスに対して、安定なコモンモード電圧を与え、終端抵抗11 7と関連して動作すると、電流は、データパルスに対して、安定な差動電圧を与 える。 電流源124 電流源124(トランジスタ406)は、トランジスタ120及び121を介 する温度補償された電流を与え、それによって、入力段(トランジスタ120− 123)の利得を安定化する。 電流源128 電流源128(トランジスタ407−409)は、トランジスタ401を介す る温度補償された電流を与え、それによって、トランジスタ401(インバータ 125)により生成されるパルスの立ち上がり時間を安定化する。電流源121 と関連して動作すると、電流源128により、確実に、トランジスタ401によ り生成されるパルスが対称で安定になる。 本発明のトランシーバは又、図1Bに示すように、双方向データ伝送線にも適 用可能である。一対のNORゲート152及び153が、インバータ107及び 110と置き換わっているのを除いて、送信機150は、送信機100(図1A )と同じである。イネーブル信号が、バッファインバータ154を介して、NO Rゲート152及び153の各々の入力の一方に加えられる。イネーブル信号が ハイである場合、NORゲート152及び153のそれぞれの出力は、ゼロに凍 結され、従って送信機は禁止にされる。送信機151 は、送信機150と同一である。送信機150及び151に加えられるイネーブ ル信号は、送信機の他方が、伝送線103に情報を供給している場合、送信機の 一方は禁止にされるように協働する。受信機154及び155は、図1Aの受信 機101と同一である。 上記の実施例は、例示を意図したものであり、限定されるものではない。本発 明による多数の付加的な、及び代替の実施例は、当業者には明白であろう。本発 明の完全なる範囲は、添付の請求の範囲でのみ規定される。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.シングルエンドのデジタルデータを差動データに変換するデータ送信機に おいて、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のインバータ、及び前記第2の伝導 経路に接続され、CMOSで形成される伝送ゲートと、 前記伝送ゲートに接続され、該伝送ゲートの電流において、温度誘導の変 動を補正する温度補償手段と、 前記第1及び第2の伝導経路に接続され、2進の0が前記入力端子に出現 した場合、第1の差動出力を与え、2進の1が前記入力端子に出現した場合、第 2の差動出力を与えるスイッチング手段と、 からなるデータ送信機。 2.前記第1の伝導経路が更に、第2のインバータ、及び第3のインバータか らなり、前記第1のインバータは、前記第2及び第3のインバータ間に接続され 、前記第2の伝導経路が更に、第4のインバータ、及び第5のインバータからな り、前記伝送ゲートは、前記第4及び第5のインバータ間に接続される、請求項 1に記載のデータ送信機。 3.前記スイッチング手段が、第1及び第2のトランジスタからなり、該第1 及び第2のトランジスタのゲートは、前記第1の 伝導経路に接続され、前記スイッチング手段は又、第3及び第4のトランジスタ からなり、該第3及び第4のトランジスタのゲートは、前記第2の伝導経路に接 続され、前記第1及び第4のトランジスタ間のノードが、差動データ伝送線の第 1のワイヤに接続され、前記第2及び第3のトランジスタ間のノードが、前記差 動データ伝送線の第2のワイヤに接続される、請求項1に記載のデータ送信機。 4.前記温度補償手段が、第3及び第4の並列伝導経路からなり、第1のトラ ンジスタが、前記第3の伝導経路に接続され、第2のトランジスタが、前記第4 の伝導経路に接続され、前記第1及び第2のトランジスタのそれぞれのエミッタ 領域は異なり、前記第1及び第2のトランジスタのゲートは、共に接続され、且 つ電流ミラー・トランジスタに接続される、請求項1に記載のデータ送信機。 5.シングルエンドのデジタルデータを差動データに変換するデータ送信機に おいて、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のインバータ、及び前記伝導経路に 接続される伝送ゲートと、 前記第1及び第2の伝導経路に接続され、2進の0が前記入力端子に出現 した場合、第1の差動出力を与え、2進の1が前記入力端子に出現した場合、第 2の差動出力を与え、CMOS 技術で形成されるスイッチング手段と、 前記スイッチング手段に接続され、該スイッチング手段の電流において、 温度誘導の変動を補正する温度補償手段と、 からなるデータ送信機。 6.前記第1の伝導経路が更に、第2のインバータ、及び第3のインバータか らなり、前記第1のインバータは、前記第2及び第3のインバータ間に接続され 、前記第2の伝導経路が更に、第4のインバータ、及び第5のインバータからな り、前記伝送ゲートは、前記第4及び第5のインバータ間に接続される、請求項 5に記載のデータ送信機。 7.前記スイッチング手段が、第1及び第2のトランジスタからなり、該第1 及び第2のトランジスタのゲートは、前記第1の伝導経路に接続され、前記スイ ッチング手段は又、第3及び第4のトランジスタからなり、該第3及び第4のト ランジスタのゲートは、前記第2の伝導経路に接続され、前記第1及び第4のト ランジスタ間のノードが、差動データ伝送線の第1のワイヤに接続され、前記第 2及び第3のトランジスタ間のノードが、前記差動データ伝送線の第2のワイヤ に接続される、請求項5に記載のデータ送信機。 8.前記温度補償手段が、第3及び第4の並列伝導経路からなり、第1のトラ ンジスタが、前記第3の伝導経路に接続され、第2のトランジスタが、前記第4 の伝導経路に接続され、前記第1及び第2のトランジスタのそれぞれのエミッタ 領域は異なり、 前記第1及び第2のトランジスタのゲートは、共に接続され、且つ電流ミラー・ トランジスタに接続される、請求項5に記載のデータ送信機。 9.第2の温度補償手段からなり、該第2の温度補償手段が、前記伝送ゲート に接続され、該伝送ゲートは、CMOSで形成される、請求項5に記載のデータ 送信機。 10.差動データをシングルエンドのデータに変換する受信機において、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のトランジスタ、及び前記第2の伝 導経路に接続される第2のトランジスタと、 前記第1及び第2の伝導経路にそれぞれ接続される一対の電流ミラー・ト ランジスタと、 前記第1のトランジスタと、前記第1の伝導経路における電流ミラー・ト ランジスタとの間の共通のノードに接続され、CMOSで形成される第3のトラ ンジスタからなるインバータと、 前記第1のトランジスタに接続され、該第1のトランジスタにおける電流 の、温度誘導の変動を補正する温度補償手段と、 からなる受信機。 11.前記第1のインバータと直列に接続される、第2及び第3のインバータか ら更になる、請求項10に記載の受信機。 12.前記温度補償手段が、第3及び第4の並列伝導経路からなり、 第3のトランジスタが、前記第3の伝導経路に接続され、第4のトランジスタが 、前記第4の伝導経路に接続され、前記第3及び第4のトランジスタのそれぞれ のエミッタ領域は異なり、前記第3及び第4のトランジスタのゲートは、共に接 続され、且つ電流ミラー・トランジスタに接続される、請求項10に記載の受信 機。 13.差動データをシングルエンドのデータに変換する受信機において、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のトランジスタ、及び前記第2の伝 導経路に接続される第2のトランジスタであり、前記第1及び第2のトランジス タがCMOSで形成されることと、 前記第1及び第2の伝導経路にそれぞれ接続される一対の電流ミラー・ト ランジスタと、 前記第1のトランジスタと、前記第1の伝導経路における電流ミラー・ト ランジスタとの間の共通のノードに接続されるインバータと、 前記第3のトランジスタに接続され、該第3のトランジスタにおける電流 の、温度誘導の変動を補正する温度補償手段と、 からなる受信機。 14.前記第1のインバータと直列に接続される、第2及び第3の インバータから更になる、請求項13に記載の受信機。 15.前記温度補償手段が、第3及び第4の並列伝導経路からなり、第3のトラ ンジスタが、前記第3の伝導経路に接続され、第4のトランジスタが、前記第4 の伝導経路に接続され、前記第3及び第4のトランジスタのそれぞれのエミッタ 領域は異なり、前記第3及び第4のトランジスタのゲートは、共に接続され、且 つ電流ミラー・トランジスタに接続される、請求項13に記載の受信機。 16.データトランシーバの組合せにおいて、 差動スイングデータ伝送線と、 前記伝送線の第1の端部に接続されるデータ送信機であり、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のインバータ、及び前記第2の伝導 経路に接続され、CMOSで形成される伝送ゲートと、 前記伝送ゲートに接続され、該伝送ゲートの電流において、温度誘導の変 動を補正する温度補償手段と、 前記第1及び第2の伝導経路に接続され、2進の0が前記入力端子に出現 した場合、第1の差動出力を前記伝送線に与え、2進の1が前記入力端子に出現 した場合、第2の差動出力を前記伝送線に与えるスイッチング手段と、からなる データ送信機と、 前記伝送線の第2の端部に接続される受信機であり、 入力端子と、 第3及び第4の並列伝導経路と、 前記第3の伝導経路に接続される第1のトランジスタ、及び前記第4の伝 導経路に接続される第2のトランジスタと、 前記第3及び第4の伝導経路にそれぞれ接続される一対の電流ミラー・ト ランジスタと、 前記第3のトランジスタと、前記第1の導電経路における電流ミラー・ト ランジスタとの間の共通のノードに接続されるインバータと、からなる受信機と 、 から構成されるデータトランシーバの組合せ。 17.データトランシーバの組合せにおいて、 差動スイングデータ伝送線と、 前記伝送線の第1の端部に接続されるデータ送信機であり、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のインバータ、及び前記伝導経路に 接続される伝送ゲートと、 前記第1及び第2の伝導経路に接続され、2進の0が前記入力端子に出現 した場合、第1の差動出力を与え、2進の1が前記入力端子に出現した場合、第 2の差動出力を与え、CMOSで形成されるスイッチング手段と、 前記スイッチング手段に接続され、該スイッチング手段の電 流において、温度誘導の変動を補正する温度補償手段と、からなるデータ送信機 と、 前記伝送線の第2の端部に接続される受信機であり、 入力端子と、 第3及び第4の並列伝導経路と、 前記第3の伝導経路に接続される第1のトランジスタ、及び前記第4の伝 導経路に接続される第2のトランジスタと、 前記第3及び第4の伝導経路にそれぞれ接続される一対の電流ミラー・ト ランジスタと、 前記第3のトランジスタと、前記第1の導電経路における電流ミラー・ト ランジスタとの間の共通のノードに接続されるインバータと、からなる受信機と 、 から構成されるデータトランシーバの組合せ。 18.データトランシーバの組合せにおいて、 差動スイングデータ伝送線と、 前記データ伝送線の第1の端部に接続されるデータ送信機であり、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のインバータ、及び前記第2の伝導 経路に接続される伝送ゲートと、 前記第1及び第2の伝導経路に接続され、2進の0が前記入力端子に出現 した場合、第1の差動出力を前記データ伝送線に 与え、2進の1が前記入力端子に出現した場合、第2の差動出力を前記データ伝 送線に与えるスイッチング手段と、からなるデータ送信機と、 前記データ伝送線の第2の端部に接続される受信機であり、 入力端子と、 第3及び第4の並列伝導経路と、 前記第3の伝導経路に接続される第1のトランジスタ、及び前記第4の伝 導経路に接続される第2のトランジスタであり、前記第1及び第2のトランジス タがCMOSで形成されることと、 前記第3及び第4の伝導経路にそれぞれ接続される一対の電流ミラー・ト ランジスタと、 前記第1のトランジスタと、前記第3の伝導経路における電流ミラー・ト ランジスタとの間の共通のノードに接続されるインバータと、 前記第1のトランジスタに接続され、該第1のトランジスタにおける電流 の、温度誘導の変動を補正する温度補償手段と、からなる受信機と、 から構成されるデータトランシーバの組合せ。 19.データトランシーバの組合せにおいて、 データ伝送線と、 前記データ伝送線の第1の端部に接続されるデータ送信機であり、 入力端子と、 第1及び第2の並列伝導経路と、 前記第1の伝導経路に接続される第1のインバータ、及び前記第2の伝導 経路に接続される伝送ゲートと、 前記第1及び第2の伝導経路に接続され、2進の0が前記入力端子に出現 した場合、第1の差動出力を前記データ伝送線に与え、2進の1が前記入力端子 に出現した場合、第2の差動出力を前記データ伝送線に与えるスイッチング手段 と、からなるデータ送信機と、 前記データ伝送線の第2の端部に接続される受信機であり、 入力端子と、 第3及び第4の並列伝導経路と、 前記第3の伝導経路に接続される第1のトランジスタ、及び前記第4の伝 導経路に接続される第2のトランジスタと、 前記第3及び第4の伝導経路にそれぞれ接続される一対の電流ミラー・ト ランジスタと、 前記第1のトランジスタと、前記第3の伝導経路における電流ミラー・ト ランジスタとの間の共通のノードに接続され、第3のトランジスタからなるイン バータと、 前記第3のトランジスタに接続され、該第3のトランジスタにおける電流 の、温度誘導の変動を補正する温度補償手段と、からなる受信機と、 から構成されるデータトランシーバの組合せ。
JP52343994A 1993-04-15 1994-04-13 高速の差動ラインドライバ Expired - Fee Related JP3411574B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/047,731 US5471498A (en) 1993-04-15 1993-04-15 High-speed low-voltage differential swing transmission line transceiver
US08/047,731 1993-04-15
PCT/US1994/004096 WO1994024797A1 (en) 1993-04-15 1994-04-13 High-speed, differential line driver

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08509332A true JPH08509332A (ja) 1996-10-01
JP3411574B2 JP3411574B2 (ja) 2003-06-03

Family

ID=21950628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52343994A Expired - Fee Related JP3411574B2 (ja) 1993-04-15 1994-04-13 高速の差動ラインドライバ

Country Status (7)

Country Link
US (2) US5471498A (ja)
EP (1) EP0775404B1 (ja)
JP (1) JP3411574B2 (ja)
KR (1) KR100292573B1 (ja)
DE (1) DE69422644T2 (ja)
TW (1) TW400674B (ja)
WO (1) WO1994024797A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023031576A (ja) * 2021-08-25 2023-03-09 株式会社デンソー 差動送信回路

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69434906T2 (de) * 1993-11-29 2007-08-30 Fujitsu Ltd., Kawasaki Integrierte Halbleiterschaltung und Abschlussvorrichtung
JPH07235952A (ja) * 1993-12-28 1995-09-05 Oki Electric Ind Co Ltd 信号伝送回路およびその回路を用いた信号伝送装置
US5712875A (en) * 1995-06-07 1998-01-27 Compaq Computer Corporation Asynchronous differential communication
JP2882316B2 (ja) * 1995-08-29 1999-04-12 株式会社デンソー データ通信装置
WO1997009811A1 (en) * 1995-09-06 1997-03-13 Advanced Micro Devices, Inc. Low jitter low power single ended driver
SE509882C2 (sv) * 1995-11-10 1999-03-15 Ericsson Telefon Ab L M Mottagarkrets innefattande parallella ingångskretsar
JP3699764B2 (ja) * 1996-01-31 2005-09-28 株式会社東芝 ドライバ回路装置及びインターフェース
US5767699A (en) * 1996-05-28 1998-06-16 Sun Microsystems, Inc. Fully complementary differential output driver for high speed digital communications
US5801564A (en) * 1996-06-28 1998-09-01 Symbios, Inc. Reduced skew differential receiver
US5986479A (en) * 1997-05-05 1999-11-16 National Semiconductor Corporation Fully switched, class-B, high speed current amplifier driver
US5977796A (en) * 1997-06-26 1999-11-02 Lucent Technologies, Inc. Low voltage differential swing interconnect buffer circuit
US5917340A (en) * 1997-10-08 1999-06-29 Pericom Semiconductor Corp. Twisted-pair driver with staggered differential drivers and glitch free binary to multi level transmit encoder
US5963053A (en) * 1997-10-09 1999-10-05 Pericom Semiconductor Corp. Self-biasing CMOS PECL receiver with wide common-mode range and multi-level-transmit to binary decoder
US6051990A (en) * 1997-11-13 2000-04-18 Quantum Corporation Asymmetric current mode driver for differential transmission lines
US5977797A (en) * 1997-12-30 1999-11-02 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for transferring data on a voltage biased data line
US6107856A (en) * 1997-12-30 2000-08-22 Lsi Logic Corporation Dual output comparator for operating over a wide common mode range
DE19803796B4 (de) * 1998-01-30 2006-10-26 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Ausgangspuffer zum Ansteuern einer symmetrischen Übertragungsleitung
US6111431A (en) * 1998-05-14 2000-08-29 National Semiconductor Corporation LVDS driver for backplane applications
US6348817B2 (en) 1999-05-10 2002-02-19 Jinghui Lu Complementary current mode driver for high speed data communications
JP2001053598A (ja) * 1999-08-16 2001-02-23 Nec Corp インターフェイス回路、該インターフェイス回路を備えた電子機器及び通信システム
GB2356304B (en) * 1999-11-10 2003-11-19 Fujitsu Ltd Switch driver circuitry
DE10002850C2 (de) * 2000-01-24 2002-02-14 Infineon Technologies Ag Schaltung zur Umsetzung eines Paars aus differenziellen Signalen in ein Eintaktsignal
ATE307446T1 (de) * 2000-07-18 2005-11-15 Koninkl Philips Electronics Nv Digitale zwischenschatltung mit niedrigem leistungsverbrauch
AU2001277104A1 (en) 2000-07-24 2002-02-05 Lifecor, Inc. Data collection and system management for patient-worn medical devices
US6512400B1 (en) * 2000-08-30 2003-01-28 Micron Technology, Inc. Integrated circuit comparator or amplifier
US6288581B1 (en) 2001-01-05 2001-09-11 Pericom Semiconductor Corp. Low-voltage differential-signalling output buffer with pre-emphasis
EP1229234B1 (en) * 2001-02-01 2005-11-16 STMicroelectronics S.r.l. Integrated circuit and method of soft thermal shut down for power devices
TW480817B (en) * 2001-03-15 2002-03-21 Himax Opto Electronics Corp Data transmitter
US6566911B1 (en) * 2001-05-18 2003-05-20 Pixelworks, Inc. Multiple-mode CMOS I/O cell
JP4627928B2 (ja) * 2001-06-28 2011-02-09 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路
US7756917B2 (en) * 2001-09-28 2010-07-13 Baseline, Llc Two wire communication apparatus and method
US6812733B1 (en) 2002-08-02 2004-11-02 Pmc-Sierra, Inc. High-efficiency mixed voltage/current mode output driver
US6667892B1 (en) * 2002-10-08 2003-12-23 Faraday Technology Corp. Voltage-averaged temperature compensation method and corresponding circuit thereof
US7224188B2 (en) * 2003-05-16 2007-05-29 Nxp B. V. Line driver with reduced interference
JP3753712B2 (ja) * 2003-08-13 2006-03-08 ローム株式会社 伝送装置
JP3833634B2 (ja) * 2003-08-13 2006-10-18 ローム株式会社 伝送装置
US7154307B2 (en) * 2003-11-24 2006-12-26 Fairchild Semiconductor Corporation Current transfer logic
JP4518321B2 (ja) * 2004-05-28 2010-08-04 ルネサスエレクトロニクス株式会社 データ伝送装置、及び受信装置
US7342420B2 (en) * 2004-09-24 2008-03-11 Integrated Device Technology, Inc. Low power output driver
JP4509737B2 (ja) * 2004-10-28 2010-07-21 株式会社東芝 差動信号生成回路および差動信号送信回路
WO2006102666A1 (en) * 2005-03-23 2006-09-28 Qualcomm Incorporated Current mode interface for off-chip high speed communication
US7246022B2 (en) * 2005-06-20 2007-07-17 Intel Corporation Initiation of differential link retraining upon temperature excursion
US8653853B1 (en) * 2006-12-31 2014-02-18 Altera Corporation Differential interfaces for power domain crossings
US7692565B2 (en) * 2007-04-18 2010-04-06 Qualcomm Incorporated Systems and methods for performing off-chip data communications at a high data rate
JP5369100B2 (ja) * 2007-07-12 2013-12-18 シリコン・ライン・ゲー・エム・ベー・ハー 少なくとも1個の差動ラインを駆動する回路装置及び方法
TWI393349B (zh) * 2008-12-17 2013-04-11 Ind Tech Res Inst 信號傳收裝置及系統
TWI383589B (zh) * 2009-03-12 2013-01-21 Himax Media Solutions Inc 信號發送器及其操作方法
JP5971113B2 (ja) 2012-12-26 2016-08-17 富士通株式会社 差動信号スキュー調整方法および送信回路
US9300278B2 (en) * 2014-08-04 2016-03-29 Realtek Semiconductor Corp. Method and apparatus for calibrating CMOS inverter
EP3934096A1 (en) * 2020-06-29 2022-01-05 Ams Ag Driver circuit for low voltage differential signaling, lvds, line driver arrangement for lvds and method for operating an lvds driver circuit

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3899754A (en) * 1974-05-09 1975-08-12 Bell Telephone Labor Inc Delta modulation and demodulation with syllabic companding
JPS6075121A (ja) * 1983-09-30 1985-04-27 Nec Corp フリツプ・フロツプ
EP0172229B1 (en) * 1984-02-15 1989-05-17 AT&T Corp. High speed cmos circuits
US4630284A (en) * 1984-12-28 1986-12-16 Gte Laboratories Incorporated Low power line driving digital transmission system
JP2902016B2 (ja) * 1989-11-21 1999-06-07 株式会社日立製作所 信号伝送方法および回路
US5287386A (en) * 1991-03-27 1994-02-15 Thinking Machines Corporation Differential driver/receiver circuit
US5144405A (en) * 1991-08-13 1992-09-01 Itt Corporation Temperature compensation apparatus for logic gates
US5285477A (en) * 1991-12-18 1994-02-08 At&T Bell Laboratories Balanced line driver for local area networks or the like

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023031576A (ja) * 2021-08-25 2023-03-09 株式会社デンソー 差動送信回路

Also Published As

Publication number Publication date
KR100292573B1 (ko) 2001-06-15
EP0775404A1 (en) 1997-05-28
JP3411574B2 (ja) 2003-06-03
TW400674B (en) 2000-08-01
KR960702236A (ko) 1996-03-28
US5471498A (en) 1995-11-28
DE69422644D1 (de) 2000-02-17
DE69422644T2 (de) 2000-08-03
WO1994024797A1 (en) 1994-10-27
US5519728A (en) 1996-05-21
EP0775404B1 (en) 2000-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08509332A (ja) 高速の差動ラインドライバ
US5764086A (en) Comparator circuit with wide dynamic range
JP4202504B2 (ja) ディファレンシャルスイッチング回路およびディジタルアナログ変換器
US7425844B1 (en) Input buffer for multiple differential I/O standards
US6313662B1 (en) High speed low voltage differential signal driver having reduced pulse width distortion
US11159135B2 (en) Lower-skew receiver circuit with RF immunity for controller area network (CAN)
JPH1065515A (ja) 差動出力ドライバおよび信号伝送システム
US5666068A (en) GTL input receiver with hysteresis
US20010048327A1 (en) Variable drive current driver circuit
JP6524981B2 (ja) リンギング抑制回路
JP2547889B2 (ja) Cmos−ecl出力バッファ回路
JP3252903B2 (ja) インタフェース回路
US7259592B2 (en) Output drivers having adjustable swing widths during test mode operation
US6218901B1 (en) High speed differential output driver with increased voltage swing and predrive common mode adjustment
US6593769B1 (en) Differential, reduced swing buffer design
JP3217079B2 (ja) 半導体集積回路
JP3119611B2 (ja) 演算増幅器
US20050275431A1 (en) High-speed low-voltage differential signaling buffer using a level shifter
US7579877B2 (en) Comparator
US6703864B2 (en) Buffer circuit
US11791820B2 (en) Output circuit, transmission circuit, and semiconductor integrated circuit
JP2939241B2 (ja) 入力インタフェース回路
JP2903885B2 (ja) Cmos出力バッファ回路
JP2984362B2 (ja) 出力回路
JPH08307243A (ja) 電流モード半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110320

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120320

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130320

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140320

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees