JPH08510826A - 環境制御システム - Google Patents

環境制御システム

Info

Publication number
JPH08510826A
JPH08510826A JP6517286A JP51728694A JPH08510826A JP H08510826 A JPH08510826 A JP H08510826A JP 6517286 A JP6517286 A JP 6517286A JP 51728694 A JP51728694 A JP 51728694A JP H08510826 A JPH08510826 A JP H08510826A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
fluid
flow
room
air
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6517286A
Other languages
English (en)
Inventor
ジェンコ,ロバート,エム
マーベル,グレッグ,エイ
ミラー,デイビッド,イー
マント,グレゴリー,ケイ
Original Assignee
インテリジェント,エンクロージャーズ,コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by インテリジェント,エンクロージャーズ,コーポレイション filed Critical インテリジェント,エンクロージャーズ,コーポレイション
Publication of JPH08510826A publication Critical patent/JPH08510826A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H10P72/3404—Storage means
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F24—HEATING; RANGES; VENTILATING
    • F24F—AIR-CONDITIONING; AIR-HUMIDIFICATION; VENTILATION; USE OF AIR CURRENTS FOR SCREENING
    • F24F3/00—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems
    • F24F3/12—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling
    • F24F3/16—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling by purification, e.g. by filtering; by sterilisation; by ozonisation
    • F24F3/163—Clean air work stations, i.e. selected areas within a space which filtered air is passed
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F24—HEATING; RANGES; VENTILATING
    • F24F—AIR-CONDITIONING; AIR-HUMIDIFICATION; VENTILATION; USE OF AIR CURRENTS FOR SCREENING
    • F24F3/00—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems
    • F24F3/12—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling
    • F24F3/16—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling by purification, e.g. by filtering; by sterilisation; by ozonisation
    • F24F3/167—Clean rooms, i.e. enclosed spaces in which a uniform flow of filtered air is distributed
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
    • H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ventilation (AREA)
  • Central Air Conditioning (AREA)

Abstract

(57)【要約】 環境制御システム(10)は、半導体その他の製品の製作又は加工のために、連携した雰囲気管理装置(18)と共にモジュール式隔離チャンバー(14)を含む。工作物及び加工その他の機械類(28)は、それらが配置されている部屋の残り部分から隔離され、各部屋の多くの脱汚染は必要でない。運搬可能なモジュール式チャンバーの使用はまた、粒子汚染物に対する制御を高めることと、単一の部屋内の異なった加工環境の個別制御とを許容する。他のチャンバーは混合された垂直層流(VLF)及び水平層流(HLF)を工作物上に供給するのに適合させてある。

Description

【発明の詳細な説明】 環境制御システム 発明の分野 本発明は環境制御システムに関し、より具体的には、種々の産業において、例 えば加工装置等を囲む領域において並びに材料輸送及び取扱通路において使用さ れている又は有用である雰囲気状態を管理するための囲いに関する。 発明の背景 半導体チップの製作は多工程のプロセスである。シリコンウエーハーは、結晶 性インゴットよりスライスされるか、最初に平らに並べられて鏡面状に仕上がる まで磨かれる。続いて単結晶シリコンの層が、各ウエーハー上に成長させられそ してウエーハーは1000℃近い高温にて酸化される。次いで光感受性の「フォトレ ジスト」コーティングが、各ウエーハーに適用され、該フォトレジストコーティ ングを露光させるためにウエーハーステッパーが使用される。該コーティングの 露光は、各ウエーハー上に数個の集積されたチップの像を含んだ、マルチプリン トを生み出す。 露光に続いて、該フォトレジストコーティングは、現像されそして該シリコン ウエーハー上に該パターン化されたプリントを固化させるために焼かれる。次い でウエーハーは、反応性のガス放出と接触し、イオン化したホウ素原子その他の 不純物か該パターン中に埋め込まれる前に、該ウエーハーの露光部がエッチング される。低温(350℃)プラズマ放出が低圧において該ウエーハー上に二酸化ケ イ素を沈着させ、一方該ウエーハー上へ薄いアルミニウム又は類似の金属フィル ムを沈着させることによって、回路要素の接触がなされる。各ウエーハーは後で 精密ダイアモンドソーを用いて多数の半導体チップへと切られてよく、各チップ は、接触リード線及び導線接続部を有するパッケージに取り付けられる。最後に 、各チップは、機械的な及び環境からの保護のためプラスチック中にカプセル包 埋される。 顕微鏡的な空気運搬性の不純物でさえ、製作されたチップの品質及び収率を低 下させることから、ウエーハーへのフォトレジストコーティングの適用及び該コ ーティング上への集積チップ像の露光を含むこれらの製造ステップの多くは、「 クリーンルーム」と呼ばれる施設内において実施される。これらのクリーンルー ムの雰囲気は、一般に、シリコンウエーハーに接触することのできる粒子の数及 びタイプを限定するために規制される。例えは、クリーンルーム内で作業する労 働者の身体は、皮膚、毛その他の個人の微粒子状物がウエーハー上に沈着するの を防止するために、典型的には、滅菌服に囲われている。ウエーハー加工及び取 扱機械類のような他の汚染源から来る粒子の蓄積を減らすために、追加の湿度/ 排気/空調(HVAC)装置が、クリーンルーム内の空気を調整するために使用 され得る。 平均的な製造施設は、半導体チップを製作するために200もの加工及び取扱装 置を含み得る。ウエーハーを加工するために使用される種々の装置とウエーハー を取り扱う要員との両方を収容するために、多くのクリーンルームのサイズは、 しばしば20000平方フィート近い。そのようなルームは建設にコストがかかり、 そしてその大 規模な環境を中等度に管理するのにすら、洗練されたモニタリング及び空調装置 を必要とする。更には、クリーンルームは、0.2μm以上の粒子を1立方フィー トあたり7.5個以下に指定する現行の政府及び産業上の標準に合致するよう建て られるものの、多くは、例えば64メガビットのダイナミックランダム・アクセス メモリーチップ(DRAM)等を製造するのに要する一層厳格な脱汚染標準を満 たすようには建設されておらず、またそのように建設することができない。既存 のクリーンルーム技術は、同様に、医療的、薬剤的、バイオテクノロジー的、食 品製造、航空宇宙、その他の加工産業において存在する、細菌及びウイルスを含 む多くの顕微鏡的汚染物から工作物及び材料取扱要員を保護することができない 。 発明の要約 本発明は、伝統的クリーンルームに代わるものとしての、一連のモジュール式 の連結可能な隔離チャンバー及び連携した雰囲気調整装置を提供する。半導体の 個々の又はその他の加工機械類又は材料輸送及び取扱装置をその中に所望により 配置することのできるこれらの運搬可能な、モジュール式チャンバーの使用は、 加工を行うに適した多数の環境を維持するのに関連したコストを低減させる一方 、少なくとも、0.12μmの小ささの有機又は無機の微粒子汚染物に対する制御を 向上させることを許容する。工作物及び機械類がそれらが配置されている部屋の 残り部分から隔離されていることから、各部屋の多くの脱汚染が必要とされない 。同様に、工作物及び装置を人間たる作業要員から隔離することは、労働者が防 護服を着用する必要を無くし、それは健康及び安全状態を潜在的に改善する。該 運搬可能なチャンバーの連結可能性はまた、装置その他の要求が変 わったときに容易な再配列を許容する。 本発明の閉鎖ループ式の一具体例においては、加工装置上を層流の形で流れる 空気その他の流体は、米国特許Des.331,117に図解されているような気密的カバ ーダクトを通って再循環されることができる。該カバーダクトはまた、必要に応 じて装置を保守点検し維持するために、チャンバー内へのアクセスを許容する。 本発明は、該チャンバー内に一定の(正)圧を維持するように設計されたセンサ ー及び制御装置を含み、汚染された空気その他の流体が製品の積込み又は保守点 検に際して開けられたカバーダクトその他のアクセス手段を介して入るのを阻止 する。温度及び湿度センサーもHVAC装置又はオペレーターのコントロールデ ィスプレイに、これらの変数に関する情報を提供する一方、各モジュール内に存 在する粒子汚染物をモニターし減少させるため、濾過システム及び粒子センサー もまた含まれる。各チャンバー内の気圧、温度及び湿度を精密に制御することは 、例えば、欲していない製品の熱膨脹や、鋭敏な装置の不整合及びフォトレジス トコーティングの望ましくない粘性変化等を防止する助けとなる。1つ又は多数 のモジュールを利用する場合には、必要に応じて、共通のHVAC装置に「構成 」空気その他の流体を供給するために、一単位のダンパーをも含んでよい。種々 のリップ、スカート、及びフランジが、実質的に如何なる数の個々のモジュール を連結してシールすることも許容し、種々の量の加工装置その他の装置を囲い込 む際に無駄になるスペースを最小限にする。 気密のカバーダクトに加えて、本発明の再循環システムは、供給空気その他の 流体を、カバーダクトを通って戻ってくる排気から隔 離するための形成されたプリナムと、交換可能なガラス繊維ULPAその他のフ ィルターが中に配置されているフィルターハウジングとを含む。フィルターの交 換に続いて、圧縮性の膨脹可能なシールを、該ハウジング内へフィルターを納め るのに用いることができ、それによって供給空気又は流体に、ウエーハー加工そ の他の装置に接触する前に該フィルターを通過させることができる。各カバーダ クトに形成されているノズルは、排気を吸い込み適当な配管及びダンパーを通し てそれをHVAC装置へと再使用のために戻す。 従って本発明の一目的は、工作物及び加工その他装置を、空気運搬性の汚染物 から隔離するための、一連のモジュール式の、連結可能なチャンバーを提供する ことである。 本発明の更なる一目的は、連携した雰囲気調整装置と連結したとき伝統的なク リーンルームに代わるものとして機能する、一連のモジュール式チャンバーを提 供することである。 本発明の別の一目的は、既存の加工環境を維持するのに関連したコストを低減 しつつ粒子汚染物に対する制御の向上を提供することである。 本発明の更に別の一目的は、多数の隔離モジュールを連結しそして加工装置そ の他の要求が変更したときにモジュールの容易な再配列を許容することである。 本発明の更なる一目的は、該モジュール囲い内の空気その他の流体をの特性を モニターし、濾過し、制御し、そして再循環するための手段を提供することであ る。 本発明の更なる一目的は、同一の部屋又は施設内の異なった加工環境を個別に 制御するための手段を提供することである。 本発明の別の一目的は、垂直の層流(VLF)と水平の層流(HLF)との混 合を用いるシステムを提供することである。 本発明の他の目的、特徴及び利点は、本記述の残り及び本出願の図面を参照す ることにより、明らかとなろう。 図面の簡単な記述 図1は、連携した環境制御装置と共にある本発明の一連のモジュール式の隔離 チャンバーの立面図である。 図2は、図1の線2−2に主として沿ってとったモジュール式隔離チャンバー 及び連携した制御装置の、断面図的な、部分的に概念化した図である。 図3は、図2のモジュール式隔離チャンバーの拡大した断面図である。 図4は、図1の環境制御装置の部分を形成する化学的蒸気濾過(CVF)シス テムの透視図的な、部分的に断面とした図である。 図5は、図2のモジュール式隔離チャンバーのカバーダクト形成部の外部の立 面図である。 図6は、図5のカバーダクトの内部の立面図である。 図7は、図5のカバーダクトの末端立面図である。 図8は、図5のカバーダクトの上面図である。 図9は、図5のカバーダクトの底面図である。 図10は、本発明の、代わりのモジュール式隔離チャンバーの部分の透視図で ある。 図11は、図2のチャンバーに連結しているところを示す、連携した環境制御 装置と共にある図10の該代わりのチャンバーの断面図である。 図12〜18は、VLF及びHLFの混合に適合させた他のチャンバー又は囲 いの図である。 図19は、図12〜18のチャンバー又は囲いのパネルの分解した透視図であ る。 詳細な記述 図1は、本発明の環境制御システム10を図解する。システム10に含まれて いるのは、1つ又はより多くの隔離チャンバー14並びにHVAC装置18、少 なくとも1つのCVFフィルター構造物22、及び1つ又はより多くの供給ダク ト26である。代わりとして、任意の既存の(適合性のある)中央HVAC装置 に又はParameter Generation and Control,Inc.の製品のような局所化HVA C装置に(これらの装置の何れかが既に設置されている場合には)、チャンバー 14及び他の必要な構成要素を接続することによって、既存のクリーンルームを 修正してもよい。モジュール式チャンバー14は、種々の加工その他の機械類又 は装置28(図2)を囲い込み、異なった装置28のタイプのために異なった環 境がつくり出されることを許容しつつ、それらの機械類及び工作物を空気運搬性 の汚染物から保護する。装置28がそれが配置されている部屋の残りの何れから も隔離されることから、部屋中の残りのスペースの脱汚染は任意的であって必要 でない。チャンバー14を用いることはまた、チャンバー14の内部に自らアク セスするのでない限り労働者が防護服を着用する必要をなくす。 やはり図1に示されているのは、必要なとき又は望んだとき、循環されていな い空気その他の流体をHVAC装置18へ供給するためのカバーダクト30及び 共通の「構成」空気ダクト34である。 チャンバー14内に配置された装置28の保守点検を許容するために、少なくと も1つのカバーダクト30が各チャンバー14と連携させてある。窓38を開く ことにより又はカバーダクト30自体を除去することによってチャンバー14の 内部への容易なアクセスを許容するために、カバーダクト30は、窓38及びラ ッチ42を含む。ラッチ42は、同様に、装置28が作動しているときにはカバ ーダクト30が閉じられたままであることを許容する。 図2に示されている矢印は、システム10の再循環流体を図解する。図2に一 致するシステム10の一具体例においては、HVAC装置18によって加圧され 調整された空気その他の流体が、CVFフィルター構造物22を通って供給ダク ト26内へ流入する。供給ダンパー46が開いている場合には、該流体は供給ダ クト26を通ってプリナム50内へ、次いでハウジング54(これは微粒子フィ ルター58を含んでいる)内へと流入する。この2度濾過された流体は、その後 チャンバー14の内部62内へと移動し、そこでそれは層流の形で装置28の上 へ(そして望むならば装置をぬけて及びまわって)流れ、装置28の連続的作動 許容し且つ、装置28によって加工又は操作されている最中のシリコンウエーハ ーその他の工作物にさもなければ接触するかも知れない粒子を除去する。図1〜 2に示されているように、チャンバー14は、それを床70にシールしているス カート66を有し、それにより、さもなければ起こりうる流体の流入又は流出を 不可能にする。再循環しない単一通過システムが好ましい場合には、加圧された 空気その他の流体の流出を許容するようスカート66を除去してよい。スカート 66又は他の適当な手段はまた、装置28を含んだ枠72を所定位置に保持する ためにも使用できる。 接触して装置28から粒子を除去した後(そしてスカート66が ト30は、中空であり(図3及び6を参照)、それらを通って排気がそれらの上 側開口又はノズル78へと移動することを許容する。ノズル78は排気を吸い込 んで、フィルター58及び装置28から隔離されたチャンバー14の領域内へと 、そして、HVAC装置18内へと再度流入するために排気ダクト82に通す。 排気ダンパー86は、排気がHAVC装置18に再び入ることを阻止する(そし てそれにより、チャンバー14内の正圧のレベルを設定するか、又は、場合によ っては、窓38が開かれ若しくはカバーダクト30が除去されている場合のよう に、正圧を調節し維持する)ために使用することができる。やはり図2に示され ておりダクト34を構成するために連結されている単位としての構成ダンパー9 0は、代わりとしての圧制御装置として、そして例えば窓38が開いているか又 は1つ若しくはより多くの排気ダンパー86が閉じている場合に一定量の空気そ の他の流体をHVAC装置18に供給するために、使用できる。 図2は更に、システム10に連携したモニタリング及び制御装置の幾つかを図 解している。チャンバー14の内部62に含まれているのは、それぞれ圧、温度 及び湿度、並びにチャンバー14に入る供給空気その他の流体中に存する粒子の 数を感知するためのセンサー94、98及び102である。外部の圧センサー1 06及び周囲温度及び湿度センサー108は、チャンバー14の外側に配置され ていてよく、チャンバー14の内外の圧、温度及び湿度の差の測定を許容する。 センサー94、98、102、106及び108の各々は、制御装置111及び 112の一方又は双方に接続されている。 図2に詳しく記されているように、制御装置112はHVAC装置18に接続 されており、センサー94、98、102、106及び108の一つ又はより多 くから得られた情報に応答して、HVAC装置18を出る調整された供給空気そ の他の流体の速度を変化させる能力を有する。制御装置111は、ダンパー46 、86及び90の何れか又は全てを開閉するのに使用することができるが、シス テム10を通って流れる供給及び排出する空気その他の流体のバランスをとるよ う機能し、それによって各チャンバー14内に一定の(又は他の望みの)圧を維 持する。先に述べたように、チャンバー14内に一定の正圧を維持することは、 例えば加工装置28が保守点検を受ける時等に、濾過されていない空気その他の 流体が開いたカバーダクト30又は窓38を通って流入するのを防止するのに有 用である。システム10の種々の具体例において、制御装置111及び112の 何れか又は双方が、チャンバー14内の状態を表示しそして警報、データの記録 、その他の適当な又は所望の機能を提供する能力のある慣用のコンピューターで あるか又はそれに含まれていてよい。制御装置111及び112はまた、囲い込 まれる装置28のタイプに対応して要求される独特の環境をマルチチャンバーシ ステム10の各チャンバー内に創り出すのに使用してもよい。 チャンバー14及び連携した装置の更なる詳細が、図3に提供されている。図 3に含まれているのは、シール110、リップ114 及び梁118である。シール110は、膨脹可能なゴム又は類似の材料でできて いてよいが、フィルター58の上側の外周と係合し、そしてフィルター58をハ ウジング54に圧縮的に納める(そしてシールする)。プリナム50(反転した 漏斗形状を有するように成形されていてよい)と共に、フィルター58、シール 110及びハウジング54は、供給ダクト26を通って流入する供給空気その他 の流体をノズル78から出る排気から隔離する。更には、シール110が膨脹可 能であることから、単にシール110をしぼませることによって、(評価又は交 換のために必要なら)フィルター58を除去するためにハウジング54内に十分 な空間を創り出すことができる。チャンバー14の内部62の望まない汚染を防 止するために、シール110の膨脹胴部は、供給空気その他の流体から隔離され たチャンバー14の排気領域内に配置してよい。リップ114は、一対の水平に 配置された「I」字型の(又は類似の)梁又は支持体118の上へ各チャンバー 14がスライドして取り付けられることを許容し、多数のチャンバー14が、図 1に詳細に示されているように一連に連結されることを許容する。隣接するチャ ンバー14の外周をシールしそして適合性のある装置28の群を囲い込むための 、本質的に一単位の構造物を創り出すために、種々の「T」字型その他のシール 装置又は固定装置を使用することができる。直ちに明らかになるように、チャン バー14の追加、削除、及び再配列は、単にモジュール式チャンバー14を支持 体118上でスライドさせるかスライドさせて外すことによって行うことができ る。 図4は、システム10の典型的なCVF濾過構造物22の詳細を示している。 濾過構造物22に含まれているのは、枠122、シー ル126、及び1つ又はより多くのフィルター130a〜nである。枠122は 、多数のフィルター130を収容するために積み重ねられることができるが、そ の上側外周が、シール110のようにフィルター130の容易な配置及び除去の ための膨脹可能なものであるシール126によって構造物22にシールされてい てよい。枠122及び構造物22はまた、プローブが種々のフィルター130を 通る空気その他の流体のサンプリングをすることを許容するポート134を含む ことができる。やはり図4に図解されているのは、調整された空気その他の流体 がHVAC装置18から構造物22に入るための上側ポート138である。下側 ポート(示さず)は、該流体が構造物22を出て供給ダクト26内へ入ることを 許容する。 システム10の少なくとも1つの具体例においては、構造物22は、構造物2 2内に最上部から底へと配置された、間隔を開けた4つのフィルター130すな わち、1インチ厚のガラス繊維ASHRAEフィルター(130a)、2つの1インチ 厚の活性炭フィルター(130b及び130c)、及び2インチ厚のガラス繊維 ASHRAEフィルター(130d)を含む。これらのフィルター130は、さもなけ ればフィルター58(これは典型的にはガラス繊維ULPA又は類似のフィルタ ーであるか又はSan Clemente,CaliforniaのY Square Ltd.によって提供され ているUltra Filterであってよい。)を通過するであろう特定の粒子を捕捉し、 また有機その他の化学物質を吸収する。一番下のASHRAEフィルター130dは、 加えて、如何なる活性炭粒子をも捕捉しそれによって構造物22から出ることを 阻止する。図1を参照して、フィルター130は、望むならばフィルター130 のアクセスと交換を容易にするために構造物22の一部 を形成している開くことのできる引出し内に配置してよい。 図5〜9は、米国特許Des.331,117の図2〜6に対応しているが、システム1 0のカバーダクト30を図解している。その外部(図5)から分かるようにそし て先に述べたように、カバーダクト30は、装置28へのアクセス及びチャンバ ー14への及びチャンバーからのカバーダクト30の容易な取付け及び取外しを 許容するための窓38及びラッチ42を含む。足142は、チャンバー14の対 応するプレートと係合するよう設計されており、所定位置にあるときカバーダク ト30をチャンバー14にシールするのを助ける。ガスケット146は、チャン バー14の外部に接触しているが、同様にカバーダクト30をチャンバー14に シールするのを助ける。ヒンジ150及びハンドル152(図7)は、チャンバ ー14の外側から窓38が開閉されることを許容し、そして、チャンバー14か ら除去するときの取扱を容易にするために、カバーダクト30は、軽量プラスチ ックで作られてよい。 図6は、カバーダクト30によって行われる流体再循環機能に関する追加の詳 細を提供する。先に述べたように、下側開口74は装置28上を通過してきた排 気を取り込む働きをする。この加圧された排気は、次いで、カバーダクト30の 中空の内部を通ってノズル78へと運ばれ、そこから、排気ダクト82のような 適当な配管に通されて、その後再使用される。再循環が望ましくない場合には、 下側開口74及びノズル78の一方又は両方を塞ぐことができる。図6に図解さ れている固定具154は、ガスケット146をカバーダクト30に固定する。 操作コストは空気その他の流体の調整量をより少なくすることに よって低減できることから、伝統的なクリーンルームのサイズに比して、チャン バー14その他のシステム10の構成要素の寸法は、本発明の多くの重要な特徴 の一つを形成する。例えは既存のクリーンルームとの顕著な対照をなすものとし て、チャンバー14の選ばれた具体例は、52インチ×19インチ×70インチ (又はそのオーダー)しかない。図2〜3は、2つの隣接した装置28を収容す るのに十分長いチャンバー14の一具体例を図解している。この選ばれた具体例 のようなチャンバー14は幅が19インチしかないから、一連の又は一群の装置 を囲い込むのに必要なチャンバーの数の決定は、比較的精密に行うことができ、 無駄なスペースを最小限にし又はなくすことができる。図2〜3に示されている チャンバー14の実質的にA字型の外部は、流体の流れを妨げることなく、チャ ンバー内部62の使用されない空間を、更に減少している。 既存のクリーンルーム技術と異なって、本発明のシステム10の脱汚染能力は 、0.16μm以上のサイズの粒子を1平方フィートあたり7.5個未満と規定する“C lean Room and Work Station Requirements,Controlled Environment”(June 15,1988)についての(合衆国)連邦標準209Dのクラス1要件に合致する又 はこれを超えるように設計されている。システム10はまた、0.12μmしかない 粒子汚染物をも管理することができ、半導体製造産業に加えて種々の産業(医療 、薬剤、バイオテクノロジー、食品、航空宇宙その他の産業)において使用する のに適している。クラス1規格に合致するシステム10が適するように設計され た他の関連パラメーターは、次のものを含む。 空気速度 50〜135フィート/分 フィルター58効率 99.9997% フィルター130効率 99.99% 相対湿度 35〜65% RH 制御の一定性 +1% RH 温度 20〜26℃ 制御の一定性 +0.10 ℃ 圧 0.05″〜0.23″+0.05″H2O Ga. 音レベル 5フィートにおいて65 dBa (平均) 図10〜11は、施設内に清浄な通路、廊下、トンネル又は同等な領域を囲い 込むことができそしてチャンバー14が例えば材料の輸送及び取扱ロボット又は 要員等とインターフェースすることを許容する、本発明の代わりのシステム21 0を図解している。図10に示されているように、システム210は、チャンバ ー214、流体供給プリナム218、フィルター211、及び材料輸送システム 226を含む。図11はまた、チャンバー214に連結されたHVAC装置23 4、フィルター238、及びダンパー242及び246含む環境制御装置230 を詳細に示している。チャンバー214は、孔のあいた床250及び中空の壁又 はドア254を含み、それらは、流体が装置230から床250を通って流れそ してドア254及びダンパー246を用いて再循環されることを許容する。床2 50をそれが配置されている部屋の残り部分から隔離する一方孔のある床250 を持ち上げるために、ベースプレート258その他の支持体を使用してよい。チ ャンバー214の内部全体を通して層流 を提供するために、ほぼチャンバー214の幅のサイズを有する拡散装置262 を、フィルター222の直下に配置することができる。 チャンバー214は、ロボット266を含む材料の輸送及び取扱システム22 6を囲い込むのに使用することができる。図11は、モノレール278及び28 2上のカセットに入れてロボット266へと輸送されているシリコンウエーハー 270を図解する。ロボット266は、図11においてエレベータとして機能し ているが、次いで、カセット274を隔離スリーブ286を介して1つ又はより 多くの選択されたチャンバー14へと輸送し、そこでカセットは、装置28によ って正しく加工される。しかしながら、材料取扱システム226がチャンバー1 4内において再配置されなければならないならば、供給プリナム218及びフィ ルター222は、チャンバー214に対し同じ高さに嵌まってチャンバーにシー ルされるよう設計される。 チャンバー214は、チャンバー14と同様、制御された領域、 、図11に示したように、要員(もし必要なら)を、それらが位置している部屋 の残り部分における周囲の、汚染された空気から隔離するための、連結可能な、 モジュール式の手段を提供する。チャンバー14及び214は、スリーブ286 を介して連結可能であり、従って加工全体にわたって工作物を隔離するための完 全なシステムを提供することができる。チャンバー14及び214のモジュール 式の構成及びシステム10及び210を採用するときに達成される結果は、更に 、種々の異なった適用及び種々の産業においてシステ ム10及び210が使用されることを許容する。システム10及び210はまた 、例えばAsyst Technologies,Inc.のようなStandard Mechanical Interface( SMIF)技術を含む非常に多くの材料取扱機構並びに及び手動の及び自動化さ れた取扱機構の両方を収容することができる。最後に、チャンバー14及び21 4の多くの特徴は、相互変化可能であり、そのため例えば、実質的にA字型のチ ャンバー14全体を通して層流を提供するのを補助するためにチャンバー14が 拡散装置262を含んでもよく(図11を参照)、また修正されたカバーダクト 30の底にある開口を通して流体を再循環させるよう設計された孔のある床25 0を含んでもよい。 混合流貯蔵囲いの記述 図12〜18に図解されている囲い315は、クラス1(0.2μm)のワンパ ス/混合流(VLF−垂直層流及びHLF−水平層流)設計であり、空気をHV AC温度/湿度ユニットから引き、該ユニットは今度は構成空気(100%)を施 設の周囲空気から引く。囲い315は開いたボールルームクリーンルーム(クラ ス1〜100K、+/−10°以上、又は+/−15%以上)内に配置されよう。この 囲い315は、製品貯蔵ユニットに供給するVLF及びHLF領域にULPA濾 過(99.9997%)を採用するであろう。 枠の全側面にパネルが備えられ、そして適当な捕捉固定方法(例えば雌枠固定 装置に対する雄パネル固定装置)を介して枠に取り付けられる。パネルサイズは 、該製品貯蔵ユニット形態を最も少ないパネルサイズで覆う最適のモジュール式 の覆い方に基づいて決定することができる。供給空気を分配するためにパネルは 、二重壁の側面のものであることができる。それらは、最終設計に依存して、シ ート状金属(エポキシ塗装)又はシート状アルミニウム(エポキシ塗装)又は成 形プラスチックパネルより製作されてよい。パネルは、ネオプレンガスケット( パネル対パネルのための)シール及び2枚のプレートよりなる手で調節可能なア ルミニウムの供給空気ダンパーを保持したアルミニウム押出し内側フレームに取 り付けることができる。次いで適当な内側枠が、該製品貯蔵ユニット枠に取り付 けられる。 例えば亜鉛メッキシート状スチール等から製作された共通の供給ダクトを用い ることができそしてHVACユニットへと導かれることができる。加えて、積込 み/積下ろしポートに手動のI/O空気シャワーを備えることができる。この囲 い315はまた、正面及び後部カバー及びI/Oのための安全インターロック、 イオン化バー、及び照明を含むことができる。 混合流貯蔵囲いの働き 該囲い供給空気は、囲い315の最上部から垂直にも、及び二重壁の側面パネ ルを介して正面及び後部から水平にも、放出される。管理を改善するために、V LF流の空気流は典型的にはHLF流の(15〜20FPM)より速い速度(60〜90 FPM)に設定される。この設計は、ボックス/カセット領域を横切って空気を 一層効率的に駆動するよう働くことができ、且つ2つのHLF流(前及び後ろ) がVLF流と混ざる際の乱流を減少させることができる。コーナーの移行的供給 空気ダンパーと共にVLF及びHLF供給空気ダンパーを調節することは、空気 流の最適化を許容する。加えて、囲い315の上側部分は、下側部分よりも僅か に大きな速度に設定することができる。これは、囲い315の下側の外周に配置 されている排 気口へ向かう気流を加速するであろう。排気口ファンは、囲い315内の乱流の ポケットを減少させそして囲い315の内部の理想的加圧を維持するために、制 御することができる。 図12に示されているように、囲い315は供給ダクト287、コーナーの移 行領域288、コーナーの移行的供給ダンパー294及び側壁又はパネル289 を含む。やはり図解されているのは、パネル289の構成要素であり、フィルタ ー292及び供給ダンパー295を含む。供給ダンパー295は、孔の集合数又 はサイズを変化させるために相互にスライドするのに適合させた孔のあいたシー トであってよく、それによって囲い315内への種々の流体流を許容する。パネ ル289(図19も参照)は更に、正面カバー289a、キャップ289b、及 び後部カバー289cを含み、固定装置アセンブリー320を用いて囲い315 の残り部分に取り付けてよい。フィルター292aは、0.75″ULPAフィルタ ーであってもよいが、その必要はない。 図13は、供給ダクト287、(ULPAその他の)フィルター291a、及 びダンパー293、及び側面(出口)逃がし排気口296を通るHLF流290 、VLF流291を含む、囲い315の要素に関する更なる詳細を提供する。囲 い315は、更に、囲い315を床Fにシールするためのフランジ297その他 の適当な手段を含み、そして製品貯蔵領域292(ウエーハーカセット又はウエ ーハーカセットボックス等のような)もまた示されている。図14は、流体供給 298を図解し、それはブロワー299及び弁300を含む。 図15〜18は、囲い315の変種を図解する。図15〜16に 示されているのは、例えば、排気口296と連携して使用できる排気ファン30 5である。図17〜18と一致している囲い315の具体例は、対照的に、側面 逃がし排気口296でなく(又はこれに加えて)底部逃がし排気口306を用い ている。底部逃がし排気口306を通って囲い315を出る流体は、床Fにある 適当な開口310を通って流れ、(所望により)再循環される。供給ダンパー2 95のように、側面逃がし排気口296、底部逃がし排気口306、ダンパー2 93、及び移行的供給ダンパー294もまた、相互にスライドするよう適合させ た孔のあいたシートの組であってよい。 上記は、本発明の具体例の図解、説明及び記述のために提供されている。これ らの具体例に対する修正及び適合化は当業者に明らかであり、本発明の範囲及び 精神から逸脱することなく行うことができよう。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),CN,JP,KR (72)発明者 ミラー,デイビッド,イー アメリカ合衆国30329ジョージア、アトラ ンタ、キャリバーウッドドライブ 506 (72)発明者 マント,グレゴリー,ケイ アメリカ合衆国30136ジョージア、ダルー ス、モントローズポンドコート 3699

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. 底を有するモジュール式チャンバーであって、複数の流体供給装置、該供 給装置からの該チャンバーを通る混合流体流を垂直の及び水平の空気流パネルを 用いて制御するための手段、該チャンバー内の製品貯蔵領域及び底部にある逃が し排気口を含むチャンバー。 2. 工作物を囲い込みそれを該チャンバーの配置されている部屋の残り部分か ら隔離するためのモジュール式チャンバーであって、 a) 流体が該チャンバーに入ることを許容するための第1の開口を有する 部分と、 b) 該入ってくる流体を脱汚染するために該チャンバー内に除去可能に配 置されているフィルターと、 c) 脱汚染された流体を該工作物上に垂直及び水平の双方の層流の形で流 すための、該チャンバーと連携した手段と、そして d) 該流れる流体が該チャンバーを出ることを許容するための第2の開口 と、 を含む装置。 3. 工作物を囲い込みそれを該チャンバーの配置されている部屋の残り部分か ら隔離するためのチャンバーであって、 a) 該チャンバーへ流体を供給するためのダクトと、 b) 該流体の第1の部分を垂直にそして層流の形で該工作物上に流すため の手段と、 c) 該流体の第2の部分を水平にそして層流の形で該工作物 上に流すための手段と、そして d) 該流体の該第1及び第2部分が該チャンバーを出ることを許容するた めの開口と、 を含むチャンバー。 4. 該流体の水平の流れを引き起こす手段が、孔のあいた複数の要素を含み、 それらのうち少なくとも一つが他に対して可動である、請求項3のチャンバー。 5. 該流体の垂直の流れを引き起こす手段が、孔のあいた複数の要素を含み、 それらのうち少なくとも一つが他に対して可動である、請求項4のチャンバー。
JP6517286A 1993-01-28 1994-01-26 環境制御システム Pending JPH08510826A (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US1053493A 1993-01-28 1993-01-28
US010,534 1993-01-28
US033,892 1993-03-19
US08/033,892 US5401212A (en) 1990-08-29 1993-03-19 Environmental control system
PCT/US1994/000900 WO1994017336A1 (en) 1993-01-28 1994-01-26 Environmental control system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08510826A true JPH08510826A (ja) 1996-11-12

Family

ID=26681292

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6517286A Pending JPH08510826A (ja) 1993-01-28 1994-01-26 環境制御システム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5401212A (ja)
EP (1) EP0680584A4 (ja)
JP (1) JPH08510826A (ja)
KR (1) KR960700435A (ja)
CN (1) CN1119040A (ja)
WO (1) WO1994017336A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004527899A (ja) * 2001-01-10 2004-09-09 エンテグリス カイマン リミテッド 内部環境モニタを含む可搬式コンテナ

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5641354A (en) * 1995-07-10 1997-06-24 Seh America, Inc. Puller cell
US5765672A (en) * 1996-08-16 1998-06-16 Horton, Inc. Overheating protection device for rotational control apparatus
US5972060A (en) * 1996-10-09 1999-10-26 Ch2Mhill Industrial Design Corporation Apparatus for providing a purified resource in a manufacturing facility
WO1998059229A2 (en) * 1997-06-23 1998-12-30 Genco Robert M Pod monitor for use in a controlled environment
US5944602A (en) * 1997-09-09 1999-08-31 Tumi Manufacturing, Inc. Portable cleanroom cabinet assembly
US5849103A (en) * 1997-12-22 1998-12-15 Seh America, Inc. Method of monitoring fluid contamination
US5947170A (en) * 1998-02-10 1999-09-07 Vital Signs Inc. Aseptic liquid filling
US6319297B1 (en) * 1998-03-27 2001-11-20 Asyst Technologies, Inc. Modular SMIF pod breather, adsorbent, and purge cartridges
JP4052736B2 (ja) * 1998-07-21 2008-02-27 株式会社荏原製作所 ポリッシング装置
US5984070A (en) * 1998-08-28 1999-11-16 Horton, Inc. Overheating protection device for rotational control apparatus
IL126866A (en) * 1998-11-02 2003-02-12 Orbotech Ltd Apparatus and method for fabricating flat workpieces
US6152818A (en) * 1999-02-10 2000-11-28 Siemens Building Technologies, Inc. Flow control apparatus for a semiconductor manufacturing wet bench
DE19916458A1 (de) * 1999-04-12 2000-10-19 Bosch Gmbh Robert Reinraum
AU4686000A (en) 1999-04-28 2000-11-10 Stratotech Corporation Adjustable clean-air flow environment
US6251001B1 (en) 1999-05-10 2001-06-26 Applied Materials, Inc. Substrate polishing with reduced contamination
US6305500B1 (en) * 1999-08-25 2001-10-23 Maxtor Corporation Material delivery system for clean room-like environments
JP3513437B2 (ja) * 1999-09-01 2004-03-31 キヤノン株式会社 基板管理方法及び半導体露光装置
US6574937B1 (en) * 1999-09-07 2003-06-10 Speedfam-Ipec Corporation Clean room and method
US6354781B1 (en) 1999-11-01 2002-03-12 Chartered Semiconductor Manufacturing Company Semiconductor manufacturing system
US6619063B1 (en) 2002-03-19 2003-09-16 Anthony Lee Brumett Indoor air treatment system with HEPA filtration
EP1515100A4 (en) * 2002-06-03 2006-09-20 Sankyo Seiki Seisakusho Kk CLEAN ASSEMBLY MODULE, PRODUCTION EQUIPMENT CONTAINING SAME, INDUSTRIAL ROBOT AND ANTI-EMISSION SYSTEM
WO2005038887A1 (ja) * 2003-10-21 2005-04-28 Nikon Corporation 環境制御装置、デバイス製造装置、デバイス製造方法、露光装置
CA2552717C (en) * 2004-01-07 2011-11-29 Levtech, Inc. Mixing bag with integral sparger and sensor receiver
US10190087B2 (en) 2004-02-03 2019-01-29 Ge Healthcare Bio-Sciences Corp. Single use controlled environment module
JP2007520820A (ja) 2004-02-03 2007-07-26 エクセラーエックス, エルエルシー 製造のためのシステムおよび方法
CN101001945B (zh) * 2004-06-04 2012-02-08 艾克塞勒雷克斯公司 一次性生物反应器系统及方法
US7393373B1 (en) 2004-06-14 2008-07-01 H.K. Plastics Engineering, Inc. Portable clean molding apparatus and method of use
CN1329696C (zh) * 2005-08-22 2007-08-01 无锡华润微电子有限公司 洁净室的空气调节、净化系统
EP2049646A2 (en) * 2006-07-14 2009-04-22 Xcellerex, Inc. Environmental containment systems
JP2008032335A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Hitachi High-Technologies Corp ミニエンバイロメント装置、検査装置、製造装置、及び空間の清浄化方法
US20080278041A1 (en) * 2007-05-10 2008-11-13 The Baker Company Cable port for biosafety cabinet
DE102007051726A1 (de) * 2007-10-25 2009-04-30 Hänel & Co. Lageranordnung mit vorgebbarer Lagerungsatmosphäre
US20100051502A1 (en) * 2008-09-04 2010-03-04 3M Innovative Properties Company Carrier having integral detection and measurement of environmental parameters
US20110015789A1 (en) * 2009-07-17 2011-01-20 The Bronze Craft Corporation Window and door hardware with integrated wireless sensors
US9239170B2 (en) 2010-11-04 2016-01-19 Air Divide, Llc Integrated self-contained plenum module
CN102219174B (zh) * 2011-05-10 2012-10-17 浙江卫信生物药业有限公司 风幕隔离和自循环净化的消除尘屑装置
CN103620757B (zh) * 2011-06-23 2015-11-25 动力微系统公司 清洁系统和方法
JP5921168B2 (ja) * 2011-11-29 2016-05-24 株式会社日立国際電気 基板処理装置
US8963552B2 (en) 2012-04-26 2015-02-24 3M Innovative Properties Company Electrostatic discharge event detector
US9339026B2 (en) 2012-06-14 2016-05-17 Therapeutic Proteins International, LLC Pneumatically agitated and aerated single-use bioreactor
CA2880930A1 (en) * 2012-09-20 2014-03-27 Ge Healthcare Bio-Sciences Corp. Single-use controlled environment module
CN103008312B (zh) * 2012-11-29 2015-01-21 北京七星华创电子股份有限公司 一种空气调节监测系统
CN102963408A (zh) * 2012-12-14 2013-03-13 上海东富龙爱瑞思科技有限公司 一种用于无菌药品转运的水平层流转运小车
USD729290S1 (en) * 2013-02-28 2015-05-12 Panasonic Healthcare Holdings Co., Ltd. Draft chamber
USD737871S1 (en) 2013-07-23 2015-09-01 Panasonic Healthcare Holdings, Co., Ltd. Draft chamber
CN106556085B (zh) * 2016-12-06 2019-05-24 惠科股份有限公司 无尘室车间及无尘室车间的气流调节方法
US20230375199A1 (en) * 2020-12-18 2023-11-23 Amira S.R.L. Cart-window assembly
EP4356047A4 (en) * 2021-06-17 2025-04-16 Precision Robotics (Hong Kong) Limited CLEANROOM MODULE
CN113909116B (zh) * 2021-11-04 2025-04-25 唐山神州机械集团有限公司 一种用于移动式智能干法选煤系统的集群式风力净化系统

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3115819A (en) * 1961-03-06 1963-12-31 Sheffield Corp Prefabricated enclosure
US3745908A (en) * 1971-08-13 1973-07-17 May Rich Specialty Co Hood
US3874754A (en) * 1972-11-27 1975-04-01 Kewaunee Scient Equipment Corp Biohazard safety cabinet
DE2356780A1 (de) * 1973-11-14 1975-05-22 Rotterdamsche Electriciteitsma Belueftungsanlage fuer operationsraeume
CH577833A5 (en) * 1974-06-21 1976-07-30 Sveadiesel Ab Insulated chamber for dust laden atmosphere - has filtered air circulated between double walls, cabin cooled and vibration damped
GB2099034A (en) * 1981-05-26 1982-12-01 Smith David Trevor Modular partition panel for ventilated enclosure
US4409889A (en) * 1981-11-02 1983-10-18 Burleson Maurice L Modular clean room
JPS58127033A (ja) * 1982-01-25 1983-07-28 Hitachi Ltd 清浄室装置
JPS5963742A (ja) * 1982-10-05 1984-04-11 Sony Corp 半導体素子の製造方法
JPS5995327A (ja) * 1982-11-24 1984-06-01 Toyo Netsu Kogyo Kk クリ−ンル−ムの空気調和装置
DE3422900A1 (de) * 1984-06-20 1986-01-02 Klima und Kälte GmbH Beratung und Vertrieb für Klima- und Kältetechnik, 6300 Gießen Filterdecke zum filtrieren von in einen raum eintretender luft
US4723480A (en) * 1985-04-19 1988-02-09 Hitachi, Ltd. Manufacturing apparatus with air cleaning device
US4666477A (en) * 1986-04-22 1987-05-19 Weber Technical Products, Division Of Craig Systems Corporation Adjustable damper for clean room systems
DE3637880C2 (de) * 1986-11-06 1994-09-01 Meissner & Wurst Transportierbares Behältnis zur Handhabung von Halbleiterelementen während ihrer Herstellung sowie Verfahren zur partikelfreien Übergabe von Produkten
US4880581A (en) * 1986-12-24 1989-11-14 Alcon Laboratories, Inc. Means and method for aseptic particle-free production of articles
JPS63248449A (ja) * 1987-04-03 1988-10-14 Tadahiro Omi ドラフトチヤンバ
US4927438A (en) * 1987-12-01 1990-05-22 Varian Associates, Inc. Horizontal laminar air flow work station
JPH0756879B2 (ja) * 1988-03-31 1995-06-14 日鉄セミコンダクター株式会社 半導体の無塵化製造装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004527899A (ja) * 2001-01-10 2004-09-09 エンテグリス カイマン リミテッド 内部環境モニタを含む可搬式コンテナ
US7490637B2 (en) 2001-01-10 2009-02-17 Entegris, Inc. Transportable container including an internal environment monitor

Also Published As

Publication number Publication date
US5401212A (en) 1995-03-28
CN1119040A (zh) 1996-03-20
KR960700435A (ko) 1996-01-20
EP0680584A1 (en) 1995-11-08
EP0680584A4 (en) 1997-05-07
WO1994017336A1 (en) 1994-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5401212A (en) Environmental control system
US5431599A (en) Environmental control system
US5195922A (en) Environmental control system
US5664995A (en) Environmental enclosure apparatus with air flow control and balancing
US4963069A (en) Container for the handling of semiconductor devices and process for particle-free transfer
KR100848527B1 (ko) 박판형 전자부품 클린 이동탑재장치 및 박판형 전자제품제조 시스템
TW484001B (en) Cleanroom and cleanroom ventilation method
US5827118A (en) Clean storage unit air flow system
US4637301A (en) Contamination control work station
US5425793A (en) Coupling-type clean space apparatus
KR100278564B1 (ko) 이송및보관캐리어
US20020134060A1 (en) Air management system and method for chemical containment and contamination reduction in a semiconductor manufacturing facility
US5713791A (en) Modular cleanroom conduit and method for its use
US7393373B1 (en) Portable clean molding apparatus and method of use
WO2000064562A1 (en) Adjustable clean-air flow environment
US4801312A (en) Laminar air flow hazardous materials abatement method and system
JP6652902B2 (ja) クリーンルーム
JPH01288342A (ja) 清浄キャビネット
JP2004269214A (ja) 浄化空気通風式の保管設備
JP4684683B2 (ja) クリーンブースおよびそのクリーンブースを用いた作業システム
CA2403734A1 (en) Cabinets for handling toxic or sterile materials
JP3697275B2 (ja) 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム
JP4656296B2 (ja) 局所清浄化装置及びクリーンルーム
JP2001133001A (ja) ダクトレス内部循環型クリーンブース
JPH0231496Y2 (ja)