JPH085510A - レーザ線質連続モニタ装置 - Google Patents
レーザ線質連続モニタ装置Info
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- JPH085510A JPH085510A JP14051394A JP14051394A JPH085510A JP H085510 A JPH085510 A JP H085510A JP 14051394 A JP14051394 A JP 14051394A JP 14051394 A JP14051394 A JP 14051394A JP H085510 A JPH085510 A JP H085510A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】レーザ発振波長とＡＳＥ波長が近接あるいは重
複している場合においても、簡単な測定装置および方法
を用いて、ＡＳＥの含有率を連続モニタすることを可能
にしたレーザ線質連続モニタ装置を提供する。 【構成】パルス色素レーザ増幅器１３に入力かつ出力す
る光２、１２、１４をそれぞれ分割するガラス平面基盤
３ａ〜３ｃと、分割されたモニタ用の光であるモニタ光
４ａ〜４ｃの光強度をコントロールするアッテネータ５
ａ〜５ｃと、分割された光を検出する光センサ６ａ〜６
ｃと、光センサ６ａ〜６ｃにより検出された信号を増幅
するプリアンプ７ａ〜７ｃ及び８ａ〜８ｃと、プリアン
プ８ａ〜８ｃからの信号をデジタル信号に変換するデジ
タイザ９と、デジタイザ９からの信号をデータ処理する
計算機１０とを備えたものである。
複している場合においても、簡単な測定装置および方法
を用いて、ＡＳＥの含有率を連続モニタすることを可能
にしたレーザ線質連続モニタ装置を提供する。 【構成】パルス色素レーザ増幅器１３に入力かつ出力す
る光２、１２、１４をそれぞれ分割するガラス平面基盤
３ａ〜３ｃと、分割されたモニタ用の光であるモニタ光
４ａ〜４ｃの光強度をコントロールするアッテネータ５
ａ〜５ｃと、分割された光を検出する光センサ６ａ〜６
ｃと、光センサ６ａ〜６ｃにより検出された信号を増幅
するプリアンプ７ａ〜７ｃ及び８ａ〜８ｃと、プリアン
プ８ａ〜８ｃからの信号をデジタル信号に変換するデジ
タイザ９と、デジタイザ９からの信号をデータ処理する
計算機１０とを備えたものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ線質連続モニタ
装置に係り、特にレーザ線質の１つの要因であるＡＳＥ
成分の含有率を簡単に連続モニタすることができるレー
ザ線質連続モニタ装置に関する。
装置に係り、特にレーザ線質の１つの要因であるＡＳＥ
成分の含有率を簡単に連続モニタすることができるレー
ザ線質連続モニタ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】色素レーザ増幅器は、発光用色素を外部
からの励起光によって励起状態に変え、発振波長を決定
する外部プローブ光による誘導放出により、色素の発光
エネルギーをレーザエネルギーに変換する装置である。
外部励起光は、アルゴンレーザ等の連続発振レーザやＹ
ＡＧレーザ等のパルス発振レーザが用いられる。
からの励起光によって励起状態に変え、発振波長を決定
する外部プローブ光による誘導放出により、色素の発光
エネルギーをレーザエネルギーに変換する装置である。
外部励起光は、アルゴンレーザ等の連続発振レーザやＹ
ＡＧレーザ等のパルス発振レーザが用いられる。
【０００３】ところで、色素レーザ増幅器のレーザ光軸
への発光において、外部プローブ光による誘導放出がさ
れない場合、得られる発振スペクトルは、色素の励起状
態からの自然発光によるものである。この発振スペクト
ルは自然発光のピーク波長付近の、より狭い帯域のスペ
クトルとなるが、これは色素の自然放出の増幅であり、
ＡＳＥ（Amplified Spontaneous Emission：色素の自然
放出の増幅）と呼ばれているもので、レーザ発振に比べ
て１桁以上広い帯域のスペクトルである。
への発光において、外部プローブ光による誘導放出がさ
れない場合、得られる発振スペクトルは、色素の励起状
態からの自然発光によるものである。この発振スペクト
ルは自然発光のピーク波長付近の、より狭い帯域のスペ
クトルとなるが、これは色素の自然放出の増幅であり、
ＡＳＥ（Amplified Spontaneous Emission：色素の自然
放出の増幅）と呼ばれているもので、レーザ発振に比べ
て１桁以上広い帯域のスペクトルである。
【０００４】一方、分析や同位体分離などのレーザ分光
の分野においては、限りなく線スペクトルに近いレーザ
発振波長を用いて、極めて近接した共鳴波長の分離など
が行われ、優れた特徴を発揮している。しかし、本来の
波長以外のＡＳＥ成分が強い場合には、ＡＳＥ成分によ
る光反応が無視できなくなり、本来のレーザによる共鳴
現象のバックグラウンドとなり、測定の大きな障害とな
る。
の分野においては、限りなく線スペクトルに近いレーザ
発振波長を用いて、極めて近接した共鳴波長の分離など
が行われ、優れた特徴を発揮している。しかし、本来の
波長以外のＡＳＥ成分が強い場合には、ＡＳＥ成分によ
る光反応が無視できなくなり、本来のレーザによる共鳴
現象のバックグラウンドとなり、測定の大きな障害とな
る。
【０００５】すなわち、レーザ発振の線質（クオリテ
ィ）を決める１つの要因としてこのＡＳＥ成分があげら
れる。
ィ）を決める１つの要因としてこのＡＳＥ成分があげら
れる。
【０００６】したがって、上記ＡＳＥ成分を連続モニタ
することが重要である。従来のＡＳＥ成分に対するモニ
タ方法の例としては、波長選択素子を用いて、レーザ出
力光をレーザ発振波長域とＡＳＥ波長域に分離して、そ
れぞれの光強度を比較することによりレーザ発振強度に
対するＡＳＥ成分の含有率をモニタするものである。
することが重要である。従来のＡＳＥ成分に対するモニ
タ方法の例としては、波長選択素子を用いて、レーザ出
力光をレーザ発振波長域とＡＳＥ波長域に分離して、そ
れぞれの光強度を比較することによりレーザ発振強度に
対するＡＳＥ成分の含有率をモニタするものである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来のレーザ線質連続
モニタ装置においては、レーザ発振波長とＡＳＥ波長が
波長選択素子によって分離できないほど近接あるいは重
複している場合は、波長選択素子が適用できずに、ＡＳ
Ｅ成分の含有率を連続モニタすることが困難な場合があ
った。
モニタ装置においては、レーザ発振波長とＡＳＥ波長が
波長選択素子によって分離できないほど近接あるいは重
複している場合は、波長選択素子が適用できずに、ＡＳ
Ｅ成分の含有率を連続モニタすることが困難な場合があ
った。
【０００８】本発明は上述した事情を考慮してなされた
もので、レーザ発振波長とＡＳＥ波長が近接あるいは重
複している場合においても、簡単な測定装置を用いて、
ＡＳＥの含有率を連続モニタすることを可能にしたレー
ザ線質連続モニタ装置を提供することを目的とする。
もので、レーザ発振波長とＡＳＥ波長が近接あるいは重
複している場合においても、簡単な測定装置を用いて、
ＡＳＥの含有率を連続モニタすることを可能にしたレー
ザ線質連続モニタ装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置は、請求項１に
記載されているように、色素レーザ増幅器のレーザ線質
を連続モニタするレーザ線質連続モニタ装置において、
色素レーザ増幅器に入出力する光をそれぞれ分割する光
分割手段と、前記分割された光の強度をコントロールす
るコントロール手段と、分割された光を電気信号として
検出する光検出手段と、この光検出手段により検出され
た電気信号をデジタル信号に変換する変換手段と、この
変換手段からのデジタル信号をデータ処理するデータ処
理手段とを備えたものである。
本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置は、請求項１に
記載されているように、色素レーザ増幅器のレーザ線質
を連続モニタするレーザ線質連続モニタ装置において、
色素レーザ増幅器に入出力する光をそれぞれ分割する光
分割手段と、前記分割された光の強度をコントロールす
るコントロール手段と、分割された光を電気信号として
検出する光検出手段と、この光検出手段により検出され
た電気信号をデジタル信号に変換する変換手段と、この
変換手段からのデジタル信号をデータ処理するデータ処
理手段とを備えたものである。
【００１０】
【作用】本発明によれば、色素レーザ増幅器に入出力す
る光からモニタ用の光を分割する。そして、分割された
一方の光であるモニタ用の光（モニタ光）の強度をコン
トロールする手段と、モニタ光を検出する手段と、検出
された信号をデジタル信号に変換する手段と、変換され
たデジタル信号をデータ処理するデータ処理手段とを備
えた装置を用いてＡＳＥ連続モニタを行う。これは、Ａ
ＳＥ成分の含有率とパルス色素レーザ増幅器への入出力
光の光強度との相対関係をあらかじめ実験により求めて
おき、このデータをデータ処理手段にインプットしてお
き、パルス色素レーザ増幅器への入出力光の光強度を、
上述した装置で測定して、データ処理手段に伝送するこ
とにより、レーザ発振波長とＡＳＥ波長が近接あるいは
重複している場合でも、ＡＳＥ成分の含有率を簡単に連
続モニタすることが可能になる。
る光からモニタ用の光を分割する。そして、分割された
一方の光であるモニタ用の光（モニタ光）の強度をコン
トロールする手段と、モニタ光を検出する手段と、検出
された信号をデジタル信号に変換する手段と、変換され
たデジタル信号をデータ処理するデータ処理手段とを備
えた装置を用いてＡＳＥ連続モニタを行う。これは、Ａ
ＳＥ成分の含有率とパルス色素レーザ増幅器への入出力
光の光強度との相対関係をあらかじめ実験により求めて
おき、このデータをデータ処理手段にインプットしてお
き、パルス色素レーザ増幅器への入出力光の光強度を、
上述した装置で測定して、データ処理手段に伝送するこ
とにより、レーザ発振波長とＡＳＥ波長が近接あるいは
重複している場合でも、ＡＳＥ成分の含有率を簡単に連
続モニタすることが可能になる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明に係るレーザ線質連続モニタ装
置の実施例について、添付図面を参照して説明する。な
お、本実施例では、色素レーザ増幅器における外部励起
光にパルス発振レーザを用いている（なお、この際の色
素レーザ増幅器をパルス色素レーザ増幅器という）。
置の実施例について、添付図面を参照して説明する。な
お、本実施例では、色素レーザ増幅器における外部励起
光にパルス発振レーザを用いている（なお、この際の色
素レーザ増幅器をパルス色素レーザ増幅器という）。
【００１２】図１はレーザ線質連続モニタ装置の構成図
である。このレーザ線質連続モニタ装置は、入力光源で
あるプローブ光源１を備えており、このプローブ光源１
から出射したプローブ光２は、光分割手段であるガラス
平面基盤（あるいはビームスプリッタ）３ａによって分
割され、一方はパルス色素レーザ増幅器１３に入射さ
れ、他方はモニタ用の光であるモニタ光４ａとして、光
強度をコントロールするためのコントロール手段である
アッテネータ５ａに入射される。
である。このレーザ線質連続モニタ装置は、入力光源で
あるプローブ光源１を備えており、このプローブ光源１
から出射したプローブ光２は、光分割手段であるガラス
平面基盤（あるいはビームスプリッタ）３ａによって分
割され、一方はパルス色素レーザ増幅器１３に入射さ
れ、他方はモニタ用の光であるモニタ光４ａとして、光
強度をコントロールするためのコントロール手段である
アッテネータ５ａに入射される。
【００１３】アッテネータ５ａによって光強度をコント
ロールされたモニタ光４ａは、光検出手段である光セン
サ６ａに入射される。光センサ６ａの出力信号は、増幅
手段であるプリアンプ７ａ、アンプ８ａに入力される。
アンプ８ａからのアナログ信号は、信号変換手段である
デジタイザ９に入力され、このデジタイザ９にてデジタ
ル信号に変換される。変換されたデジタル信号は、デー
タ処理手段である計算機１０に伝送されデータ処理され
る。
ロールされたモニタ光４ａは、光検出手段である光セン
サ６ａに入射される。光センサ６ａの出力信号は、増幅
手段であるプリアンプ７ａ、アンプ８ａに入力される。
アンプ８ａからのアナログ信号は、信号変換手段である
デジタイザ９に入力され、このデジタイザ９にてデジタ
ル信号に変換される。変換されたデジタル信号は、デー
タ処理手段である計算機１０に伝送されデータ処理され
る。
【００１４】ところでレーザ線質連続モニタ装置は、プ
ローブ光源１とともに入力光源であるパルス励起光源
（パルス発振レーザ装置）１１を備えており、このパル
ス励起光源１１から出射されたパルス励起光（パルスレ
ーザ）１２も光分割手段であるガラス平面基盤（あるい
はビームスプリッタ）３ｂにより分割され、一方はパル
ス色素レーザ増幅器１３に入射し、他方はモニタ光４ｂ
として、モニタ光４ａと同様にアッテネータ５ｂに入力
され、アッテネータ５ｂから出射されたモニタ光４ｂは
光センサ６ｂに入射される。光センサ６ｂからの出力信
号はプリアンプ７ｂ、８ｂに入力される。アンプ８ｂか
らのアナログ信号はデジタイザ９に入力され、デジタル
信号に変換され計算機１０に伝送される。
ローブ光源１とともに入力光源であるパルス励起光源
（パルス発振レーザ装置）１１を備えており、このパル
ス励起光源１１から出射されたパルス励起光（パルスレ
ーザ）１２も光分割手段であるガラス平面基盤（あるい
はビームスプリッタ）３ｂにより分割され、一方はパル
ス色素レーザ増幅器１３に入射し、他方はモニタ光４ｂ
として、モニタ光４ａと同様にアッテネータ５ｂに入力
され、アッテネータ５ｂから出射されたモニタ光４ｂは
光センサ６ｂに入射される。光センサ６ｂからの出力信
号はプリアンプ７ｂ、８ｂに入力される。アンプ８ｂか
らのアナログ信号はデジタイザ９に入力され、デジタル
信号に変換され計算機１０に伝送される。
【００１５】プローブ光源１とパルス励起光源１１から
の入力光によりパルス色素レーザ増幅器１３からの出力
光１４が出射される。この出射光１４も光分割手段であ
るガラス平面基盤（あるいはビームスプリッタ）３ｃに
より分割され、一方はメインビームになり、他方はモニ
タ光４ｃとして、モニタ光４ａ、４ｂと同様にアッテネ
ータ５ｃに入力され、アッテネータ５ｃから出射された
モニタ光４ｃは光センサ６ｃに入射される。光センサ６
ｃからの出力信号はプリアンプ７ｃ、８ｃに入力され
る。アンプ８ｃからのアナログ信号はデジタイザ９に入
力され、デジタル信号に変換されで計算機１０に伝送さ
れる。
の入力光によりパルス色素レーザ増幅器１３からの出力
光１４が出射される。この出射光１４も光分割手段であ
るガラス平面基盤（あるいはビームスプリッタ）３ｃに
より分割され、一方はメインビームになり、他方はモニ
タ光４ｃとして、モニタ光４ａ、４ｂと同様にアッテネ
ータ５ｃに入力され、アッテネータ５ｃから出射された
モニタ光４ｃは光センサ６ｃに入射される。光センサ６
ｃからの出力信号はプリアンプ７ｃ、８ｃに入力され
る。アンプ８ｃからのアナログ信号はデジタイザ９に入
力され、デジタル信号に変換されで計算機１０に伝送さ
れる。
【００１６】ところで、図２〜図６は、本発明に係るレ
ーザ線質連続モニタ装置の実験データの一例を示すもの
であり、パルス色素レーザ増幅器の色素にローダミン６
Ｇの色素を使用したときのものである。図２および図３
は、レーザ発振スペクトルを分光器により測定した実験
データである。図２はパルス色素レーザ増幅器への入力
光であるプローブ光の光強度を図３に示す場合の約１／
１００とした場合で、縦軸の相対光量も約１／１００で
ある。
ーザ線質連続モニタ装置の実験データの一例を示すもの
であり、パルス色素レーザ増幅器の色素にローダミン６
Ｇの色素を使用したときのものである。図２および図３
は、レーザ発振スペクトルを分光器により測定した実験
データである。図２はパルス色素レーザ増幅器への入力
光であるプローブ光の光強度を図３に示す場合の約１／
１００とした場合で、縦軸の相対光量も約１／１００で
ある。
【００１７】図２および図３に示される通り、プローブ
光の光強度の変化によって、パルス色素レーザ光の出力
光の出力強度、およびレーザ発振スペクトルで有るＬＡ
ＳＥＲと寄生発振であるＡＳＥとの相対関係が変化する
ことが判る。
光の光強度の変化によって、パルス色素レーザ光の出力
光の出力強度、およびレーザ発振スペクトルで有るＬＡ
ＳＥＲと寄生発振であるＡＳＥとの相対関係が変化する
ことが判る。
【００１８】ここで、レーザ発光強度とＡＳＥ発光強度
との比をＡＳＥ含有率として、以下のように定義する。
との比をＡＳＥ含有率として、以下のように定義する。
【００１９】
【数１】
【００２０】図４、図５はパルス色素レーザ増幅器への
もう一つの入力光であるパルス励起光の光強度を一定と
した場合の、パルスレーザ増幅器の出力光の出力強度な
らびにＡＳＥ含有率のプローブ強度依存性についての実
験データである。これらの図より、ＡＳＥ含有率がパル
ス色素レーザ増幅器の出力光の出力強度に依存している
ことが判る。
もう一つの入力光であるパルス励起光の光強度を一定と
した場合の、パルスレーザ増幅器の出力光の出力強度な
らびにＡＳＥ含有率のプローブ強度依存性についての実
験データである。これらの図より、ＡＳＥ含有率がパル
ス色素レーザ増幅器の出力光の出力強度に依存している
ことが判る。
【００２１】また、パルス色素レーザ増幅器の出力光の
出力強度のパルス励起光強度依存性を図６に示す。この
図６は色素レーザに使用した色素はローダミン６Ｇであ
り出力波長は５８０nmの場合について示したものであ
る。この図からパルス色素レーザ増幅器の出力強度はパ
ルス励起光強度に対してしきい値があり、それ以上はほ
ぼ飽和する傾向があることが判る。
出力強度のパルス励起光強度依存性を図６に示す。この
図６は色素レーザに使用した色素はローダミン６Ｇであ
り出力波長は５８０nmの場合について示したものであ
る。この図からパルス色素レーザ増幅器の出力強度はパ
ルス励起光強度に対してしきい値があり、それ以上はほ
ぼ飽和する傾向があることが判る。
【００２２】以上の関係から、パルス色素レーザ増幅器
のＡＳＥ含有率と、入力光強度であるプローブ光強度お
よびパルス励起光強度と、出力光強度であるパルス色素
レーザ増幅器の出力強度とは相互に依存していることが
判る。
のＡＳＥ含有率と、入力光強度であるプローブ光強度お
よびパルス励起光強度と、出力光強度であるパルス色素
レーザ増幅器の出力強度とは相互に依存していることが
判る。
【００２３】したがって、ＡＳＥ含有率と、入力光であ
るプローブ光強度およびパルス励起光強度と、パルスレ
ーザ光出力強度との相互関係をあらかじめ実験によっ
て、例えば図２〜図６のような関係を求めておくことに
よって、パルス色素レーザ増幅器のＡＳＥ含有率の連続
モニタが可能になる。
るプローブ光強度およびパルス励起光強度と、パルスレ
ーザ光出力強度との相互関係をあらかじめ実験によっ
て、例えば図２〜図６のような関係を求めておくことに
よって、パルス色素レーザ増幅器のＡＳＥ含有率の連続
モニタが可能になる。
【００２４】次に、レーザ線質連続モニタ装置の作用に
ついて説明する。
ついて説明する。
【００２５】本実施例のレーザ線質連続モニタ装置にお
いては、パルス色素レーザ増幅器のＡＳＥ含有率と、入
力光の強度であるプローブ光強度およびパルス励起光強
度と、出力光強度であるパルス色素レーザ増幅器の出力
強度との相対関係をあらかじめ求めておき、この関係を
計算機１０にインプットしておく。
いては、パルス色素レーザ増幅器のＡＳＥ含有率と、入
力光の強度であるプローブ光強度およびパルス励起光強
度と、出力光強度であるパルス色素レーザ増幅器の出力
強度との相対関係をあらかじめ求めておき、この関係を
計算機１０にインプットしておく。
【００２６】そして、入力光であるプローブ光２および
パルス励起光１２と、出力光であるパルス色素レーザ増
幅器の出力光１４とをガラス平面基盤（あるいはビーム
スプリッタ）３ａ〜３ｃでモニタ用の光を得るために分
割する。モニタ用に分割された一方の光（モニタ光）４
ａ〜４ｃは各測定系の直線性が維持できる程度に、アッ
テネータ５ａ〜５ｃで光強度が減衰され、センサ６ａ〜
６ｃに入射される。
パルス励起光１２と、出力光であるパルス色素レーザ増
幅器の出力光１４とをガラス平面基盤（あるいはビーム
スプリッタ）３ａ〜３ｃでモニタ用の光を得るために分
割する。モニタ用に分割された一方の光（モニタ光）４
ａ〜４ｃは各測定系の直線性が維持できる程度に、アッ
テネータ５ａ〜５ｃで光強度が減衰され、センサ６ａ〜
６ｃに入射される。
【００２７】そのセンサ６ａ〜６ｃの出力信号は、出力
信号を低雑音化するためのプリアンプ７ａ〜７ｃとデー
タ処理に十分な信号レベルを供給するためのアンプ８ａ
〜８ｃに伝送される。そして、アンプ８ａ〜８ｃからの
出力信号は、デジタイザ９でデジタル信号に変換され計
算機１０に伝送される。
信号を低雑音化するためのプリアンプ７ａ〜７ｃとデー
タ処理に十分な信号レベルを供給するためのアンプ８ａ
〜８ｃに伝送される。そして、アンプ８ａ〜８ｃからの
出力信号は、デジタイザ９でデジタル信号に変換され計
算機１０に伝送される。
【００２８】こうして、計算機１０には、入出力光から
得られたモニタ光の強度のデータが伝送される。このと
き、上述したように、あらかじめＡＳＥ含有率と入出力
光の強度との関係を示すデータが、計算機１０にインプ
ットされている。
得られたモニタ光の強度のデータが伝送される。このと
き、上述したように、あらかじめＡＳＥ含有率と入出力
光の強度との関係を示すデータが、計算機１０にインプ
ットされている。
【００２９】計算機１０は、そのデータと入出力光強度
データとをデータ処理し、この処理結果を例えばディス
プレイに表示する。したがって、ディスプレイ上にＡＳ
Ｅ含有率をリアルタイムで連続モニタすることができ
る。
データとをデータ処理し、この処理結果を例えばディス
プレイに表示する。したがって、ディスプレイ上にＡＳ
Ｅ含有率をリアルタイムで連続モニタすることができ
る。
【００３０】なお、本実施例では、外部励起光としてパ
ルス発振レーザを用いたが、本発明はこれに限定される
ものではなく、例えば、連続発振レーザを用いてもよ
い。
ルス発振レーザを用いたが、本発明はこれに限定される
ものではなく、例えば、連続発振レーザを用いてもよ
い。
【００３１】
【発明の効果】以上述べたように本発明に係るレーザ線
質連続モニタ装置によれば、ＡＳＥ含有率と色素レーザ
増幅器の入出力光の光強度との相対関係を実験で求め
て、そのデータをデータ処理手段にインプットしてお
く。そして、色素レーザ増幅器の入出力光の一部をそれ
ぞれモニタ光として分割し、このモニタ光の光強度を測
定、検出して信号処理する上記データ処理手段を含んだ
測定装置を用いて、ＡＳＥ含有率と前記入出力光の光強
度との実験データとその入出力光の測定値とをデータ処
理して、ＡＳＥ成分の含有率を連続モニタする。そのた
め、従来ＡＳＥをモニタすることが困難であった、レー
ザ発振波長とＡＳＥ波長が分離できない場合であっても
ＡＳＥ成分の含有率を連続モニタすることができる。ま
た、色素レーザ増幅器を用いた光反応実験などの実験中
に、光反応によって得られる測定データなどの変動の主
な原因の一つであるレーザ光の強度および線質などの変
動を、レーザ光の強度および線質をモニタすることによ
って把握でき、データの健全性を高めることができる。
質連続モニタ装置によれば、ＡＳＥ含有率と色素レーザ
増幅器の入出力光の光強度との相対関係を実験で求め
て、そのデータをデータ処理手段にインプットしてお
く。そして、色素レーザ増幅器の入出力光の一部をそれ
ぞれモニタ光として分割し、このモニタ光の光強度を測
定、検出して信号処理する上記データ処理手段を含んだ
測定装置を用いて、ＡＳＥ含有率と前記入出力光の光強
度との実験データとその入出力光の測定値とをデータ処
理して、ＡＳＥ成分の含有率を連続モニタする。そのた
め、従来ＡＳＥをモニタすることが困難であった、レー
ザ発振波長とＡＳＥ波長が分離できない場合であっても
ＡＳＥ成分の含有率を連続モニタすることができる。ま
た、色素レーザ増幅器を用いた光反応実験などの実験中
に、光反応によって得られる測定データなどの変動の主
な原因の一つであるレーザ光の強度および線質などの変
動を、レーザ光の強度および線質をモニタすることによ
って把握でき、データの健全性を高めることができる。
【図１】本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置の一実
施例である測定装置の構成図。
施例である測定装置の構成図。
【図２】本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置の一実
施例であるパルス色素レーザ増幅器の発振スペクトルを
表す図。
施例であるパルス色素レーザ増幅器の発振スペクトルを
表す図。
【図３】本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置の一実
施例であるパルス色素レーザ増幅器の発振スペクトルを
表す図。
施例であるパルス色素レーザ増幅器の発振スペクトルを
表す図。
【図４】本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置の一実
施例であるＡＳＥ含有率のプローブ強度依存性を表す
図。
施例であるＡＳＥ含有率のプローブ強度依存性を表す
図。
【図５】本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置の一実
施例であるパルス色素レーザ増幅器出力強度のプローブ
強度依存性を表す図。
施例であるパルス色素レーザ増幅器出力強度のプローブ
強度依存性を表す図。
【図６】本発明に係るレーザ線質連続モニタ装置の一実
施例であるパルス色素レーザ増幅器のパルス励起光強度
依存性を表す図。
施例であるパルス色素レーザ増幅器のパルス励起光強度
依存性を表す図。
１ プローブ光源 ２ プローブ光（パルス色素レーザ増幅器への入力光） ３ａ〜３ｃ ガラス平面基盤（光分割手段） ４ａ〜４ｃ モニタ光 ５ａ〜５ｃ アッテネータ（コントロール手段） ６ａ〜６ｃ 光センサ（光検出手段） ７ａ〜７ｃ プリアンプ（増幅手段） ８ａ〜８ｃ アンプ（増幅手段） ９ デジタイザ（変換手段） １０ 計算機（データ処理手段） １１ パルス励起光源 １２ パルス励起光（パルス色素レーザ増幅器への入力
光） １３ パルス色素レーザ増幅器 １４ パルス色素レーザ増幅器からの出力光
光） １３ パルス色素レーザ増幅器 １４ パルス色素レーザ増幅器からの出力光
Claims (1)
- 【請求項１】 色素レーザ増幅器のレーザ線質を連続モ
ニタするレーザ線質連続モニタ装置において、前記色素
レーザ増幅器に入出力する光をそれぞれ分割する光分割
手段と、前記分割された光の強度をコントロールするコ
ントロール手段と、分割された光を電気信号として検出
する光検出手段と、この光検出手段により検出された電
気信号をデジタル信号に変換する変換手段と、この変換
手段からのデジタル信号をデータ処理するデータ処理手
段とを備えたことを特徴とするレーザ線質連続モニタ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14051394A JPH085510A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | レーザ線質連続モニタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14051394A JPH085510A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | レーザ線質連続モニタ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085510A true JPH085510A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15270402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14051394A Pending JPH085510A (ja) | 1994-06-22 | 1994-06-22 | レーザ線質連続モニタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085510A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6160658A (en) * | 1996-11-01 | 2000-12-12 | Nec Corporation | Optical amplifier for wavelength multiplexing optical transmission |
-
1994
- 1994-06-22 JP JP14051394A patent/JPH085510A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6160658A (en) * | 1996-11-01 | 2000-12-12 | Nec Corporation | Optical amplifier for wavelength multiplexing optical transmission |
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