JPH0856160A - Adコンバータの異常検出装置 - Google Patents
Adコンバータの異常検出装置Info
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- JPH0856160A JPH0856160A JP6188235A JP18823594A JPH0856160A JP H0856160 A JPH0856160 A JP H0856160A JP 6188235 A JP6188235 A JP 6188235A JP 18823594 A JP18823594 A JP 18823594A JP H0856160 A JPH0856160 A JP H0856160A
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 title claims abstract description 64
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 101100219315 Arabidopsis thaliana CYP83A1 gene Proteins 0.000 description 7
- 101000806846 Homo sapiens DNA-(apurinic or apyrimidinic site) endonuclease Proteins 0.000 description 7
- 101000835083 Homo sapiens Tissue factor pathway inhibitor 2 Proteins 0.000 description 7
- 101100269674 Mus musculus Alyref2 gene Proteins 0.000 description 7
- 101100140580 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) REF2 gene Proteins 0.000 description 7
- 102100026134 Tissue factor pathway inhibitor 2 Human genes 0.000 description 7
- 239000004237 Ponceau 6R Substances 0.000 description 3
- 239000004236 Ponceau SX Substances 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000004233 Indanthrene blue RS Substances 0.000 description 1
- 239000004191 allura red AC Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 239000004174 erythrosine Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 239000004180 red 2G Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ADコンバータの異常状態を確実に検出す
る。 【構成】 検査対象であるADコンバータ21に対して
試験用信号として第1基準電圧または第2基準電圧を選
択的に与えて、それぞれのAD変換値と予め定めたAD
コンバータの正常出力値との比較を行い、いずれかが不
一致となる場合にADコンバータ21を異常とみなす。 【効果】 例えばADコンバータの出力データのうち所
定のビットが0または1に固定されるような異常状態と
なった場合でも、試験用信号の電圧または電流の変化に
伴い、いずれかの試験用信号のもとで不一致が検出され
るため、ADコンバータの異常状態が確実に検出され
る。
る。 【構成】 検査対象であるADコンバータ21に対して
試験用信号として第1基準電圧または第2基準電圧を選
択的に与えて、それぞれのAD変換値と予め定めたAD
コンバータの正常出力値との比較を行い、いずれかが不
一致となる場合にADコンバータ21を異常とみなす。 【効果】 例えばADコンバータの出力データのうち所
定のビットが0または1に固定されるような異常状態と
なった場合でも、試験用信号の電圧または電流の変化に
伴い、いずれかの試験用信号のもとで不一致が検出され
るため、ADコンバータの異常状態が確実に検出され
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ADコンバータを用
いた機器において、ADコンバータの異常状態を検出す
る装置に関する。
いた機器において、ADコンバータの異常状態を検出す
る装置に関する。
【0002】
【従来の技術】何らかのアナログ信号を入力してディジ
タル処理により所定の処理を施す電子機器においては、
その入力部に必ずADコンバータが用いられるが、AD
コンバータは取り扱う信号の周波数帯域やサンプリング
周期および分解能などに応じて種々の方式のものが用い
られる。
タル処理により所定の処理を施す電子機器においては、
その入力部に必ずADコンバータが用いられるが、AD
コンバータは取り扱う信号の周波数帯域やサンプリング
周期および分解能などに応じて種々の方式のものが用い
られる。
【0003】このようなADコンバータはその使用目的
に応じて、オフセット誤差、ゲイン誤差および直線性誤
差などの各種特性値を満足するように回路が設計されて
いる。従って、ADコンバータが正常な動作をすれば、
入力されたアナログ信号のディジタル値が設計どおりの
精度で得られるが、何らかの原因でADコンバータが異
常動作すると設計どおりの精度が得られないばかりか、
しばしば全くでたらめな値が出力されることになる。
に応じて、オフセット誤差、ゲイン誤差および直線性誤
差などの各種特性値を満足するように回路が設計されて
いる。従って、ADコンバータが正常な動作をすれば、
入力されたアナログ信号のディジタル値が設計どおりの
精度で得られるが、何らかの原因でADコンバータが異
常動作すると設計どおりの精度が得られないばかりか、
しばしば全くでたらめな値が出力されることになる。
【0004】そのため、ADコンバータを用いた従来の
機器においては、ADコンバータの異常によるシステム
全体の異常動作を回避するために、テストモードにおい
て予め定めた基準電圧をADコンバータに入力し、その
変換データが所定値に等しいか否かによってADコンバ
ータの動作チェックを行うようにしている。
機器においては、ADコンバータの異常によるシステム
全体の異常動作を回避するために、テストモードにおい
て予め定めた基準電圧をADコンバータに入力し、その
変換データが所定値に等しいか否かによってADコンバ
ータの動作チェックを行うようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
方法による従来のADコンバータの異常検出の方法で
は、テストモードにおいて印加する基準電圧が一定であ
り、AD変換値の比較値も一定であるため、例えば出力
端子が電源電位または接地電位になるような故障が生じ
て、ADコンバータの出力データのうちある特定のビッ
トが異常となるような状態を確実に検出し得なかった。
例えば8ビットのADコンバータで、テストモードにお
いて1000 0000が出力されるような基準電圧を
印加するように構成した場合、仮に第2ビットが常に0
となるような故障が生じたとしても、基準電圧の印加時
には必ず1000 0000が出力されるため、第2ビ
ットの異常状態を検出することは不可能であった。
方法による従来のADコンバータの異常検出の方法で
は、テストモードにおいて印加する基準電圧が一定であ
り、AD変換値の比較値も一定であるため、例えば出力
端子が電源電位または接地電位になるような故障が生じ
て、ADコンバータの出力データのうちある特定のビッ
トが異常となるような状態を確実に検出し得なかった。
例えば8ビットのADコンバータで、テストモードにお
いて1000 0000が出力されるような基準電圧を
印加するように構成した場合、仮に第2ビットが常に0
となるような故障が生じたとしても、基準電圧の印加時
には必ず1000 0000が出力されるため、第2ビ
ットの異常状態を検出することは不可能であった。
【0006】また、従来のADコンバータの異常検出方
法では、特別なモードでADコンバータの異常検出を行
うようにしていたため、通常の使用時に定常的に異常検
出を行えなかった。
法では、特別なモードでADコンバータの異常検出を行
うようにしていたため、通常の使用時に定常的に異常検
出を行えなかった。
【0007】この発明の目的は、このようなADコンバ
ータの出力データの或るビットが0または1に固定され
るような異常状態をも確実に検出することのできるAD
コンバータの異常検出装置を提供することにある。
ータの出力データの或るビットが0または1に固定され
るような異常状態をも確実に検出することのできるAD
コンバータの異常検出装置を提供することにある。
【0008】この発明の他の目的は、複数のアナログ信
号を選択的にAD変換する場合に、特別な異常検出のた
めのモードを設けることなく、通常の使用状態において
ADコンバータの異常検出を行えるようにしたADコン
バータの異常検出装置を提供することにある。
号を選択的にAD変換する場合に、特別な異常検出のた
めのモードを設けることなく、通常の使用状態において
ADコンバータの異常検出を行えるようにしたADコン
バータの異常検出装置を提供することにある。
【0009】この発明のさらに他の目的は、ADコンバ
ータの異常検出のための処理プログラムの負担を低減し
たADコンバータの異常検出装置を提供することにあ
る。
ータの異常検出のための処理プログラムの負担を低減し
たADコンバータの異常検出装置を提供することにあ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
るADコンバータの異常検出装置は、検査対象であるA
Dコンバータに入力する試験用信号の電圧値または電流
値を変化させる手段と、前記試験用信号の電圧値または
電流値に対応して予め記憶されたADコンバータの正常
出力値と前記ADコンバータの実際の出力値との一致判
定を前記試験用信号の電圧値または電流値を変化させる
毎に行う一致判定手段と、その判定結果のいずれかが不
一致となる場合に前記ADコンバータを異常とみなす手
段とを備えたことを特徴とする。
るADコンバータの異常検出装置は、検査対象であるA
Dコンバータに入力する試験用信号の電圧値または電流
値を変化させる手段と、前記試験用信号の電圧値または
電流値に対応して予め記憶されたADコンバータの正常
出力値と前記ADコンバータの実際の出力値との一致判
定を前記試験用信号の電圧値または電流値を変化させる
毎に行う一致判定手段と、その判定結果のいずれかが不
一致となる場合に前記ADコンバータを異常とみなす手
段とを備えたことを特徴とする。
【0011】請求項2に係るADコンバータの異常検出
装置は、請求項1記載のものにおいて、前記試験用信号
の電圧値または電流値を変化させる手段は、電圧値また
は電流値の異なる複数種の試験用信号を発生する手段
と、この中から任意の試験用信号を選択する手段とから
構成したことを特徴とする。
装置は、請求項1記載のものにおいて、前記試験用信号
の電圧値または電流値を変化させる手段は、電圧値また
は電流値の異なる複数種の試験用信号を発生する手段
と、この中から任意の試験用信号を選択する手段とから
構成したことを特徴とする。
【0012】請求項3に係るADコンバータの異常検出
装置は、請求項1記載のものにおいて、前記試験用信号
の電圧値または電流値を変化させる手段は、電圧値また
は電流値の一定した基準信号を発生する手段と、電圧値
または電流値の変化するオフセット信号を発生する手段
と、前記基準信号に前記オフセット信号を加算する手段
とからなり、前記一致判定手段は、前記オフセット信号
分のAD変換値を前記ADコンバータの出力値から減算
するオフセット補正手段と、前記基準信号のAD変換値
と前記オフセット補正後の値との一致判定を行うことを
特徴とする。
装置は、請求項1記載のものにおいて、前記試験用信号
の電圧値または電流値を変化させる手段は、電圧値また
は電流値の一定した基準信号を発生する手段と、電圧値
または電流値の変化するオフセット信号を発生する手段
と、前記基準信号に前記オフセット信号を加算する手段
とからなり、前記一致判定手段は、前記オフセット信号
分のAD変換値を前記ADコンバータの出力値から減算
するオフセット補正手段と、前記基準信号のAD変換値
と前記オフセット補正後の値との一致判定を行うことを
特徴とする。
【0013】請求項4に係るADコンバータの異常検出
装置は、請求項3記載のものにおいて、前記オフセット
信号を発生する手段は、乱数を発生する乱数発生手段
と、この乱数に応じた電圧値または電流値の信号をオフ
セット信号として発生する手段とから構成したことを特
徴とする。
装置は、請求項3記載のものにおいて、前記オフセット
信号を発生する手段は、乱数を発生する乱数発生手段
と、この乱数に応じた電圧値または電流値の信号をオフ
セット信号として発生する手段とから構成したことを特
徴とする。
【0014】請求項5に係るADコンバータの異常検出
装置は、請求項1,2,3または4記載のものにおい
て、前記ADコンバータは、前記試験用信号が入力され
る少なくとも1つの入力チャンネルと、測定信号が入力
される入力チャンネルを含む複数の入力チャンネルを備
えて、入力チャンネルを順次繰り返し切り替えてAD変
換を行うものであり、前記試験用信号の電圧値または電
流値を変化させる手段は各入力チャンネルの切り替えが
一巡する毎に前記試験用信号の電圧値または電流値を変
化させることを特徴とする。
装置は、請求項1,2,3または4記載のものにおい
て、前記ADコンバータは、前記試験用信号が入力され
る少なくとも1つの入力チャンネルと、測定信号が入力
される入力チャンネルを含む複数の入力チャンネルを備
えて、入力チャンネルを順次繰り返し切り替えてAD変
換を行うものであり、前記試験用信号の電圧値または電
流値を変化させる手段は各入力チャンネルの切り替えが
一巡する毎に前記試験用信号の電圧値または電流値を変
化させることを特徴とする。
【0015】請求項6に係るADコンバータの異常検出
装置は、複数の入力チャンネルのうち幾つかの入力チャ
ンネルに電圧値または電流値の異なる試験用信号をそれ
ぞれ入力する手段と、各入力チャンネルから入力した前
記試験用信号のAD変換値と各試験用信号に応じて予め
記憶されたADコンバータの正常出力値と前記ADコン
バータの実際の出力値との一致判定を行う一致判定手段
と、その判定結果のうちいずれかが不一致となる場合に
前記ADコンバータを異常とみなす手段とを備えたこと
を特徴とする。
装置は、複数の入力チャンネルのうち幾つかの入力チャ
ンネルに電圧値または電流値の異なる試験用信号をそれ
ぞれ入力する手段と、各入力チャンネルから入力した前
記試験用信号のAD変換値と各試験用信号に応じて予め
記憶されたADコンバータの正常出力値と前記ADコン
バータの実際の出力値との一致判定を行う一致判定手段
と、その判定結果のうちいずれかが不一致となる場合に
前記ADコンバータを異常とみなす手段とを備えたこと
を特徴とする。
【0016】
【作用】この発明の請求項1に係るADコンバータの異
常検出装置では、検査対象であるADコンバータに対し
て試験用信号である電圧または電流が入力され、その電
圧値または電流値が変化される。そして、ADコンバー
タに入力される電圧値または電流値に応じて予め定めら
れた基準値とADコンバータの出力値との一致判定が行
われ、試験用信号の電圧または電流の変化に伴って上記
一致判定が不一致となる場合にADコンバータが異常で
あるものとして検出される。従ってADコンバータに入
力される電圧値または電流値の変化した全ての試験用信
号のもとでADコンバータが規定どおりの出力値を出力
する場合にのみ正常とみなされる。例えばADコンバー
タの出力データのうち所定のビットが0または1に固定
されるような異常状態となった場合に、試験用信号の電
圧または電流の変化に伴い、いずれかの試験用信号のも
とで不一致が検出されるため、ADコンバータの異常状
態が確実に検出される。
常検出装置では、検査対象であるADコンバータに対し
て試験用信号である電圧または電流が入力され、その電
圧値または電流値が変化される。そして、ADコンバー
タに入力される電圧値または電流値に応じて予め定めら
れた基準値とADコンバータの出力値との一致判定が行
われ、試験用信号の電圧または電流の変化に伴って上記
一致判定が不一致となる場合にADコンバータが異常で
あるものとして検出される。従ってADコンバータに入
力される電圧値または電流値の変化した全ての試験用信
号のもとでADコンバータが規定どおりの出力値を出力
する場合にのみ正常とみなされる。例えばADコンバー
タの出力データのうち所定のビットが0または1に固定
されるような異常状態となった場合に、試験用信号の電
圧または電流の変化に伴い、いずれかの試験用信号のも
とで不一致が検出されるため、ADコンバータの異常状
態が確実に検出される。
【0017】請求項2に係るADコンバータの異常検出
装置では、電圧値または電流値の異なる複数種の試験用
信号のうち任意の電圧値または電流値の試験用信号が選
択されることによって試験信号の電圧値または電流値が
変化される。
装置では、電圧値または電流値の異なる複数種の試験用
信号のうち任意の電圧値または電流値の試験用信号が選
択されることによって試験信号の電圧値または電流値が
変化される。
【0018】請求項3に係るADコンバータの異常検出
装置では、基準信号を発生する手段が電圧値または電流
値の一定した基準信号を発生し、オフセット信号を発生
する手段が電圧値または電流値の変化するオフセット信
号を発生し、基準信号にオフセット信号が加算されるこ
とによって、試験用信号の電圧値または電流値が変化す
る。そして、オフセット補正手段がオフセット信号分の
AD変換値をADコンバータの出力値から減算するた
め、ADコンバータが正常であれば、上記オフセット補
正後の値は上記基準信号のAD変換値に一致する。この
ように請求項3の構成によれば、ADコンバータの出力
値と常に固定値との一致判定を行うことによってADコ
ンバータの異常検出を行うことができ、ADコンバータ
の複数の正常出力値を予め記憶しておき、しかもこれら
と選択的に一致判定を行う、といった処理が必要でない
ため、プログラムの負担を増大させることがない。
装置では、基準信号を発生する手段が電圧値または電流
値の一定した基準信号を発生し、オフセット信号を発生
する手段が電圧値または電流値の変化するオフセット信
号を発生し、基準信号にオフセット信号が加算されるこ
とによって、試験用信号の電圧値または電流値が変化す
る。そして、オフセット補正手段がオフセット信号分の
AD変換値をADコンバータの出力値から減算するた
め、ADコンバータが正常であれば、上記オフセット補
正後の値は上記基準信号のAD変換値に一致する。この
ように請求項3の構成によれば、ADコンバータの出力
値と常に固定値との一致判定を行うことによってADコ
ンバータの異常検出を行うことができ、ADコンバータ
の複数の正常出力値を予め記憶しておき、しかもこれら
と選択的に一致判定を行う、といった処理が必要でない
ため、プログラムの負担を増大させることがない。
【0019】請求項4に係るADコンバータの異常検出
装置では、乱数発生手段が発生した乱数に応じた電圧値
または電流値が上記オフセット信号として発生される。
装置では、乱数発生手段が発生した乱数に応じた電圧値
または電流値が上記オフセット信号として発生される。
【0020】請求項5に係るADコンバータの異常検出
装置では、複数の入力チャンネルのうち少なくとも1つ
の入力チャンネルに試験用信号が入力され、他の入力チ
ャンネルに測定信号が入力され、その入力チャンネルが
順次切り換えられてAD変換が行われる際、各入力チャ
ンネルの切り換えが一巡するごとに試験用信号の電圧値
または電流値が変化される。これにより、測定信号の通
常の入力とともにADコンバータの異常検出が行われ
る。
装置では、複数の入力チャンネルのうち少なくとも1つ
の入力チャンネルに試験用信号が入力され、他の入力チ
ャンネルに測定信号が入力され、その入力チャンネルが
順次切り換えられてAD変換が行われる際、各入力チャ
ンネルの切り換えが一巡するごとに試験用信号の電圧値
または電流値が変化される。これにより、測定信号の通
常の入力とともにADコンバータの異常検出が行われ
る。
【0021】請求項6に係るADコンバータの異常検出
装置では、複数の入力チャンネルのうちいくつかの入力
チャンネルに電圧値または電流値の異なる予め定めた試
験用信号がそれぞれ入力され、試験用信号の入力チャン
ネルが選択されたときのAD変換値とADコンバータの
正常出力値との一致判定が行われ、いずれかが不一致と
なる場合にADコンバータが異常とみなされる。この場
合、予め複数の試験用信号を入力チャンネルに割り当て
ておくだけで、入力チャンネルを順次切り換えるごとに
AD変換を行うとともに、ADコンバータの異常検出を
行うことができる。
装置では、複数の入力チャンネルのうちいくつかの入力
チャンネルに電圧値または電流値の異なる予め定めた試
験用信号がそれぞれ入力され、試験用信号の入力チャン
ネルが選択されたときのAD変換値とADコンバータの
正常出力値との一致判定が行われ、いずれかが不一致と
なる場合にADコンバータが異常とみなされる。この場
合、予め複数の試験用信号を入力チャンネルに割り当て
ておくだけで、入力チャンネルを順次切り換えるごとに
AD変換を行うとともに、ADコンバータの異常検出を
行うことができる。
【0022】
【実施例】この発明の請求項1,2に対応する第1の実
施例に係るADコンバータの異常検出装置の構成を図1
〜図3に示す。
施例に係るADコンバータの異常検出装置の構成を図1
〜図3に示す。
【0023】図1は装置のブロック図であり、同図にお
いて1,2,3は入力端子IN1,IN2・・・INm
から入力されるアナログ信号を一定ゲインで増幅または
減衰させるレベル変換回路である。第1基準電圧発生回
路5および第2基準電圧発生回路6はそれぞれ予め定め
たそれぞれ異なる一定の基準電圧EREF1,EREF2を発生
する。マルチプレクサ7は選択信号によって第1の基準
電圧EREF1または第2の基準電圧EREF2を選択出力す
る。マルチプレクサ4はレベル変換回路1,2,3また
はマルチプレクサ7の出力信号を選択信号に応じて選択
的に出力する。ディジタル回路部20においてADコン
バータ21はマルチプレクサ4からの信号を入力してデ
ィジタルデータに変換する。CPU22はメモリ23内
のROMに予め書き込まれたプログラムを実行する。メ
モリ23内のRAMにはAD変換された結果のディジタ
ルデータなどを記憶する。システムバスインタフェース
26はシステムバスとディジタル回路部20内のローカ
ルバスとの間でインタフェース制御を行う。周辺インタ
フェース25はCPU22の処理によりこの場合マルチ
プレクサ4,7に対して選択信号を出力する。
いて1,2,3は入力端子IN1,IN2・・・INm
から入力されるアナログ信号を一定ゲインで増幅または
減衰させるレベル変換回路である。第1基準電圧発生回
路5および第2基準電圧発生回路6はそれぞれ予め定め
たそれぞれ異なる一定の基準電圧EREF1,EREF2を発生
する。マルチプレクサ7は選択信号によって第1の基準
電圧EREF1または第2の基準電圧EREF2を選択出力す
る。マルチプレクサ4はレベル変換回路1,2,3また
はマルチプレクサ7の出力信号を選択信号に応じて選択
的に出力する。ディジタル回路部20においてADコン
バータ21はマルチプレクサ4からの信号を入力してデ
ィジタルデータに変換する。CPU22はメモリ23内
のROMに予め書き込まれたプログラムを実行する。メ
モリ23内のRAMにはAD変換された結果のディジタ
ルデータなどを記憶する。システムバスインタフェース
26はシステムバスとディジタル回路部20内のローカ
ルバスとの間でインタフェース制御を行う。周辺インタ
フェース25はCPU22の処理によりこの場合マルチ
プレクサ4,7に対して選択信号を出力する。
【0024】図1に示した第1基準電圧発生回路5およ
び第2基準電圧発生回路6の発生する基準電圧EREF1,
EREF2は次のようにして定める。図2は図1に示したA
Dコンバータ21が8ビットADコンバータである場合
の入力電圧と出力データとの関係を示す。同図において
入力電圧がE0 の時はAD変換されたディジタルデータ
は0000 0000となり、入力電圧がE1 の時00
00 0001となる。また入力電圧がE125 の時01
11 1101となる。また入力電圧がE255の時11
11 1111となる。第1基準電圧EREF1と第2基準
電圧EREF2はAD変換されたディジタルデータ同士が1
の補数の関係となるように予め選んでおく。例えばE
REF1を図2におけるE127 とすればEREF2はE128 とな
る。また、EREF1がE126 であれば、EREF2はE129 と
なる。同様に例えばEREF1を図2におけるE125 とすれ
ばEREF2はE130 となる。但し正確には図2に示した8
ビットの各データが出力されるための入力電圧には幅が
あり、例えば図2におけるE126 であれば、ADコンバ
ータに入力されるAD変換の際に用いる基準電圧をER
とすれば、ER(126/256)≦E126 <ER(1
27/256)の範囲である。
び第2基準電圧発生回路6の発生する基準電圧EREF1,
EREF2は次のようにして定める。図2は図1に示したA
Dコンバータ21が8ビットADコンバータである場合
の入力電圧と出力データとの関係を示す。同図において
入力電圧がE0 の時はAD変換されたディジタルデータ
は0000 0000となり、入力電圧がE1 の時00
00 0001となる。また入力電圧がE125 の時01
11 1101となる。また入力電圧がE255の時11
11 1111となる。第1基準電圧EREF1と第2基準
電圧EREF2はAD変換されたディジタルデータ同士が1
の補数の関係となるように予め選んでおく。例えばE
REF1を図2におけるE127 とすればEREF2はE128 とな
る。また、EREF1がE126 であれば、EREF2はE129 と
なる。同様に例えばEREF1を図2におけるE125 とすれ
ばEREF2はE130 となる。但し正確には図2に示した8
ビットの各データが出力されるための入力電圧には幅が
あり、例えば図2におけるE126 であれば、ADコンバ
ータに入力されるAD変換の際に用いる基準電圧をER
とすれば、ER(126/256)≦E126 <ER(1
27/256)の範囲である。
【0025】図3は図1に示した装置においてADコン
バータの異常判定を行う際の処理手順を示すフローチャ
ートである。まずこのモードでは第1基準電圧をADコ
ンバータへ入力し、その時のAD変換値を読み取り、予
め定めた第1の基準値(第1基準電圧入力時のADコン
バータの正常出力値)との比較を行う。一致すれば次に
第2基準電圧をADコンバータへ入力し、その時のAD
変換値を読み取り、同様にして予め定めた第2の基準値
(第2基準電圧入力時のADコンバータの正常出力値)
との比較を行う。一致すればADコンバータが正常であ
るものとみなして、異常フラグをリセットする。もし上
記2回の判定の内いずれか一方が不一致となれば異常フ
ラグをセットする。このようにしてADコンバータの異
常検出結果を異常フラグの状態として設定する。
バータの異常判定を行う際の処理手順を示すフローチャ
ートである。まずこのモードでは第1基準電圧をADコ
ンバータへ入力し、その時のAD変換値を読み取り、予
め定めた第1の基準値(第1基準電圧入力時のADコン
バータの正常出力値)との比較を行う。一致すれば次に
第2基準電圧をADコンバータへ入力し、その時のAD
変換値を読み取り、同様にして予め定めた第2の基準値
(第2基準電圧入力時のADコンバータの正常出力値)
との比較を行う。一致すればADコンバータが正常であ
るものとみなして、異常フラグをリセットする。もし上
記2回の判定の内いずれか一方が不一致となれば異常フ
ラグをセットする。このようにしてADコンバータの異
常検出結果を異常フラグの状態として設定する。
【0026】次に、この発明の請求項1,2,5に対応
する第2の実施例に係るADコンバータの異常検出装置
の構成を図4および図5に示す。
する第2の実施例に係るADコンバータの異常検出装置
の構成を図4および図5に示す。
【0027】図4は装置のブロック図であり、同図にお
いて1,2,3は入力端子IN1,IN2・・・INm
から入力されるアナログ信号を一定ゲインで増幅または
減衰させるレベル変換回路である。可変基準電圧発生回
路8は外部から与えられる複数ビットのディジタルデー
タに応じて予め定めた基準電圧を発生する。マルチプレ
クサ4はレベル変換回路1,2,3の出力信号または可
変基準電圧発生回路8の出力信号を選択出力する。ディ
ジタル回路部20においてADコンバータ21はマルチ
プレクサ4からの信号を入力してディジタルデータに変
換する。CPU22はメモリ23内のROMに予め書き
込まれたプログラムを実行する。メモリ23内のRAM
にはAD変換された結果のディジタルデータなどを記憶
する。システムバスインタフェース26はシステムバス
とディジタル回路部20内のローカルバスとの間でイン
タフェース制御を行う。周辺インタフェース25はCP
U22の処理によりこの場合マルチプレクサ4に対して
選択信号を出力し、可変基準電圧発生回路8に対して制
御データを出力する。また、CTC24は基本カウンタ
であり、AD変換を行う時間間隔に応じてCPU22に
割り込みをかける。
いて1,2,3は入力端子IN1,IN2・・・INm
から入力されるアナログ信号を一定ゲインで増幅または
減衰させるレベル変換回路である。可変基準電圧発生回
路8は外部から与えられる複数ビットのディジタルデー
タに応じて予め定めた基準電圧を発生する。マルチプレ
クサ4はレベル変換回路1,2,3の出力信号または可
変基準電圧発生回路8の出力信号を選択出力する。ディ
ジタル回路部20においてADコンバータ21はマルチ
プレクサ4からの信号を入力してディジタルデータに変
換する。CPU22はメモリ23内のROMに予め書き
込まれたプログラムを実行する。メモリ23内のRAM
にはAD変換された結果のディジタルデータなどを記憶
する。システムバスインタフェース26はシステムバス
とディジタル回路部20内のローカルバスとの間でイン
タフェース制御を行う。周辺インタフェース25はCP
U22の処理によりこの場合マルチプレクサ4に対して
選択信号を出力し、可変基準電圧発生回路8に対して制
御データを出力する。また、CTC24は基本カウンタ
であり、AD変換を行う時間間隔に応じてCPU22に
割り込みをかける。
【0028】図5は図4に示した装置の処理手順を示す
フローチャートである。この処理は図4に示したCTC
24から一定時間ごとに発生される割り込み信号に応じ
て割り込み処理によってなされるものである。まず測定
ループでは図4に示したIN1,IN2・・・INmの
複数の入力信号を順次入力するとともに、そのAD変換
値を順次読み取る。その後、図4に示した可変基準電圧
発生回路8に与える範囲の乱数を発生させ、その値を可
変基準電圧発生回路8へ与える。そして、マルチプレク
サ4を制御して可変基準電圧発生回路8の出力電圧をA
Dコンバータ21へ入力し、AD変換値を読み取る。そ
して、AD変換値と基準値との比較を行う。この基準値
は可変基準電圧発生回路8に与える乱数値とそれにより
出力される基準電圧およびその基準電圧がADコンバー
タ21に入力されることにより得られるAD変換値との
関係から予め定められるADコンバータの正常出力値で
ある。例えば、可変基準電圧発生回路8に与える乱数値
とAD変換値とが同一となるように、可変基準電圧発生
回路8の回路を構成しておけば、上記比較の際には上記
乱数値とAD変換値とを比較することになる。もしこの
判定で不一致となれば異常フラグをセットする。なお、
図5に示した処理は定常のルーチンで行われるものであ
り、テストモードなどの特別なモードに入ることなく実
質的に常にADコンバータの異常検出を行うことができ
る。
フローチャートである。この処理は図4に示したCTC
24から一定時間ごとに発生される割り込み信号に応じ
て割り込み処理によってなされるものである。まず測定
ループでは図4に示したIN1,IN2・・・INmの
複数の入力信号を順次入力するとともに、そのAD変換
値を順次読み取る。その後、図4に示した可変基準電圧
発生回路8に与える範囲の乱数を発生させ、その値を可
変基準電圧発生回路8へ与える。そして、マルチプレク
サ4を制御して可変基準電圧発生回路8の出力電圧をA
Dコンバータ21へ入力し、AD変換値を読み取る。そ
して、AD変換値と基準値との比較を行う。この基準値
は可変基準電圧発生回路8に与える乱数値とそれにより
出力される基準電圧およびその基準電圧がADコンバー
タ21に入力されることにより得られるAD変換値との
関係から予め定められるADコンバータの正常出力値で
ある。例えば、可変基準電圧発生回路8に与える乱数値
とAD変換値とが同一となるように、可変基準電圧発生
回路8の回路を構成しておけば、上記比較の際には上記
乱数値とAD変換値とを比較することになる。もしこの
判定で不一致となれば異常フラグをセットする。なお、
図5に示した処理は定常のルーチンで行われるものであ
り、テストモードなどの特別なモードに入ることなく実
質的に常にADコンバータの異常検出を行うことができ
る。
【0029】次に、この発明の請求項3,4に対応する
第3の実施例に係るADコンバータの異常検出装置の構
成を図6に示す。同図において基準電圧発生回路9は請
求項3に係る基準信号に相当する予め定めた基準電圧を
固定的に発生する。乱数発生回路12は所定ビット数の
乱数を発生し、可変電圧発生回路10は乱数発生回路1
2から与えられるデータに応じた、請求項3に係るオフ
セット信号に相当する正または負の電圧を発生する。加
算回路11は基準電圧発生回路9の発生する電圧と可変
電圧発生回路10の発生する電圧とをアナログ加算す
る。減算器13は乱数発生回路12の発生する値をAD
コンバータ21の出力値から減算する。ここで可変電圧
発生回路10の発生する電圧が基準電圧発生回路9の発
生する基準電圧に対するオフセット電圧として作用し、
ADコンバータ21のAD変換値はそのオフセット分の
データが加算された値となり、減算器13がそのオフセ
ット分を減じることにより、結局基準電圧発生回路9の
発生する基準電圧がADコンバータ21に入力された時
に発生されるAD変換値が得られるように、可変電圧発
生回路10の入出力特性を予め定めている。
第3の実施例に係るADコンバータの異常検出装置の構
成を図6に示す。同図において基準電圧発生回路9は請
求項3に係る基準信号に相当する予め定めた基準電圧を
固定的に発生する。乱数発生回路12は所定ビット数の
乱数を発生し、可変電圧発生回路10は乱数発生回路1
2から与えられるデータに応じた、請求項3に係るオフ
セット信号に相当する正または負の電圧を発生する。加
算回路11は基準電圧発生回路9の発生する電圧と可変
電圧発生回路10の発生する電圧とをアナログ加算す
る。減算器13は乱数発生回路12の発生する値をAD
コンバータ21の出力値から減算する。ここで可変電圧
発生回路10の発生する電圧が基準電圧発生回路9の発
生する基準電圧に対するオフセット電圧として作用し、
ADコンバータ21のAD変換値はそのオフセット分の
データが加算された値となり、減算器13がそのオフセ
ット分を減じることにより、結局基準電圧発生回路9の
発生する基準電圧がADコンバータ21に入力された時
に発生されるAD変換値が得られるように、可変電圧発
生回路10の入出力特性を予め定めている。
【0030】以上のように構成したことにより、ADコ
ンバータ21に試験用信号が入力される時、乱数発生回
路12の発生する乱数に拘らず、ADコンバータ21が
正常であれば減算器13の出力は常に基準値と等しくな
る。そのため、ADコンバータの異常検出時には、減算
器13の出力データと予め固定的に定めた基準値との比
較を行うだけでよい。なおADコンバータの異常検出を
行わずに入力端子IN1,IN2・・・INmからのア
ナログ信号をAD変換する場合には、乱数発生回路12
の出力は0とする。
ンバータ21に試験用信号が入力される時、乱数発生回
路12の発生する乱数に拘らず、ADコンバータ21が
正常であれば減算器13の出力は常に基準値と等しくな
る。そのため、ADコンバータの異常検出時には、減算
器13の出力データと予め固定的に定めた基準値との比
較を行うだけでよい。なおADコンバータの異常検出を
行わずに入力端子IN1,IN2・・・INmからのア
ナログ信号をAD変換する場合には、乱数発生回路12
の出力は0とする。
【0031】次に、この発明の請求項6に対応する第4
の実施例に係るADコンバータの異常検出装置の構成を
ブロック図として図7に示す。同図において1,2,3
は入力端子IN1,IN2・・・INmから入力される
アナログ信号を一定ゲインで増幅または減衰させるレベ
ル変換回路である。第1基準電圧発生回路5および第2
基準電圧発生回路6はそれぞれ予め定めたそれぞれ異な
る一定の基準電圧を発生する。マルチプレクサ4は第1
チャンネルから第mチャンネルまでの入力チャンネルを
備え、レベル変換回路1,2,3の出力信号または第
1,第2の基準電圧発生回路5,6の発生する基準電圧
信号を選択信号に応じて選択的に出力する。ディジタル
回路部20においてADコンバータ21はマルチプレク
サ4からの信号を入力してディジタルデータに変換す
る。CPU22はメモリ23内のROMに予め書き込ま
れたプログラムを実行する。メモリ23内のRAMには
AD変換された結果のディジタルデータなどを記憶す
る。システムバスインタフェース26はシステムバスと
ディジタル回路部20内のローカルバスとの間でインタ
フェース制御を行う。周辺インタフェース25はCPU
22の処理によりこの場合マルチプレクサ4に対して選
択信号を出力する。また、CTC24は基本カウンタで
あり、AD変換を行う時間間隔に応じてCPU22に割
り込みをかける。
の実施例に係るADコンバータの異常検出装置の構成を
ブロック図として図7に示す。同図において1,2,3
は入力端子IN1,IN2・・・INmから入力される
アナログ信号を一定ゲインで増幅または減衰させるレベ
ル変換回路である。第1基準電圧発生回路5および第2
基準電圧発生回路6はそれぞれ予め定めたそれぞれ異な
る一定の基準電圧を発生する。マルチプレクサ4は第1
チャンネルから第mチャンネルまでの入力チャンネルを
備え、レベル変換回路1,2,3の出力信号または第
1,第2の基準電圧発生回路5,6の発生する基準電圧
信号を選択信号に応じて選択的に出力する。ディジタル
回路部20においてADコンバータ21はマルチプレク
サ4からの信号を入力してディジタルデータに変換す
る。CPU22はメモリ23内のROMに予め書き込ま
れたプログラムを実行する。メモリ23内のRAMには
AD変換された結果のディジタルデータなどを記憶す
る。システムバスインタフェース26はシステムバスと
ディジタル回路部20内のローカルバスとの間でインタ
フェース制御を行う。周辺インタフェース25はCPU
22の処理によりこの場合マルチプレクサ4に対して選
択信号を出力する。また、CTC24は基本カウンタで
あり、AD変換を行う時間間隔に応じてCPU22に割
り込みをかける。
【0032】図8は図7に示した装置においてADコン
バータの異常判定を行う際の処理手順を示すフローチャ
ートである。まずこの処理は図7に示したCTC24か
ら一定時間ごとに発生される割り込み信号に応じて割り
込み処理によってなされるものである。但し図8におい
ては、第1チャンネル〜第m−2チャンネルから入力し
た信号のAD変換値についての処理は省略している。ま
ず測定ループでは図7に示したマルチプレクサ4に対す
る第1チャンネルから第mチャンネルまでの入力信号を
順次選択するとともに、そのAD変換値を順次読み取
る。その後、第m−1チャンネルの入力信号のAD変換
値と予め定めた第1基準値(第m−1チャンネル入力時
のADコンバータの正常出力値)との比較、および第m
チャンネルの入力信号のAD変換値と予め定めた第2基
準値(第mチャンネル入力時のADコンバータの正常出
力値)との比較を行い、もしいずれか一方が不一致とな
れば異常フラグをセットする。
バータの異常判定を行う際の処理手順を示すフローチャ
ートである。まずこの処理は図7に示したCTC24か
ら一定時間ごとに発生される割り込み信号に応じて割り
込み処理によってなされるものである。但し図8におい
ては、第1チャンネル〜第m−2チャンネルから入力し
た信号のAD変換値についての処理は省略している。ま
ず測定ループでは図7に示したマルチプレクサ4に対す
る第1チャンネルから第mチャンネルまでの入力信号を
順次選択するとともに、そのAD変換値を順次読み取
る。その後、第m−1チャンネルの入力信号のAD変換
値と予め定めた第1基準値(第m−1チャンネル入力時
のADコンバータの正常出力値)との比較、および第m
チャンネルの入力信号のAD変換値と予め定めた第2基
準値(第mチャンネル入力時のADコンバータの正常出
力値)との比較を行い、もしいずれか一方が不一致とな
れば異常フラグをセットする。
【0033】尚、各実施例では電圧信号を入力して、そ
のディジタルデータを出力するADコンバータを検査対
象としたが、電流信号を入力してAD変換を行うADコ
ンバータを検査対象とする場合には、試験用信号として
電流信号を入力するように構成すればよい。
のディジタルデータを出力するADコンバータを検査対
象としたが、電流信号を入力してAD変換を行うADコ
ンバータを検査対象とする場合には、試験用信号として
電流信号を入力するように構成すればよい。
【0034】
【発明の効果】この発明の請求項1、2、3、4、5お
よび6に係るADコンバータの異常検出装置によれば、
例えばADコンバータの出力データのうち所定のビット
が0または1に固定されるような異常状態となった場合
でも、試験用信号の電圧または電流の変化に伴い、いず
れかの試験用信号のもとで不一致が検出されるため、A
Dコンバータの異常状態が確実に検出される。
よび6に係るADコンバータの異常検出装置によれば、
例えばADコンバータの出力データのうち所定のビット
が0または1に固定されるような異常状態となった場合
でも、試験用信号の電圧または電流の変化に伴い、いず
れかの試験用信号のもとで不一致が検出されるため、A
Dコンバータの異常状態が確実に検出される。
【0035】特に請求項3,4に係るADコンバータの
異常検出装置によれば、ADコンバータの出力値と常に
固定の基準値との一致判定を行うことによってADコン
バータの異常検出を行うことができるため、プログラム
の負担を増大させることがない。
異常検出装置によれば、ADコンバータの出力値と常に
固定の基準値との一致判定を行うことによってADコン
バータの異常検出を行うことができるため、プログラム
の負担を増大させることがない。
【0036】また請求項5に係るADコンバータの異常
検出装置では、測定信号の通常の入力とともにADコン
バータの異常検出が行われる。
検出装置では、測定信号の通常の入力とともにADコン
バータの異常検出が行われる。
【0037】また請求項6に係るADコンバータの異常
検出装置によれば、予め複数の試験用信号を入力チャン
ネルに割り当てておくだけで、入力チャンネルを順次切
り換えるごとにAD変換を行うとともに、ADコンバー
タの異常検出を行うことができる。
検出装置によれば、予め複数の試験用信号を入力チャン
ネルに割り当てておくだけで、入力チャンネルを順次切
り換えるごとにAD変換を行うとともに、ADコンバー
タの異常検出を行うことができる。
【図1】第1の実施例に係るADコンバータの異常検出
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図2】第1基準電圧と第2基準電圧の選定方法を示す
図である。
図である。
【図3】図1に示すADコンバータの異常検出装置の処
理手順を示すフローチャートである。
理手順を示すフローチャートである。
【図4】第2の実施例に係るADコンバータの異常検出
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図5】図4に示す装置の処理手順を示すフローチャー
トである。
トである。
【図6】第3の実施例に係るADコンバータの異常検出
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図7】第4の実施例に係るADコンバータの異常検出
装置の構成を示すブロック図である。
装置の構成を示すブロック図である。
【図8】図7に示す装置の処理手順を示すフローチャー
トである。
トである。
Claims (6)
- 【請求項1】 検査対象であるADコンバータに入力す
る試験用信号の電圧値または電流値を変化させる手段
と、前記試験用信号の電圧値または電流値に対応して予
め記憶されたADコンバータの正常出力値と前記ADコ
ンバータの実際の出力値との一致判定を前記試験用信号
の電圧値または電流値を変化させる毎に行う一致判定手
段と、その判定結果のいずれかが不一致となる場合に前
記ADコンバータを異常とみなす手段とを備えたADコ
ンバータの異常検出装置。 - 【請求項2】 前記試験用信号の電圧値または電流値を
変化させる手段は、電圧値または電流値の異なる複数種
の試験用信号を発生する手段と、この中から任意の試験
用信号を選択する手段とから構成したことを特徴とする
請求項1記載のADコンバータの異常検出装置。 - 【請求項3】 前記試験用信号の電圧値または電流値を
変化させる手段は、電圧値または電流値の一定した基準
信号を発生する手段と、電圧値または電流値の変化する
オフセット信号を発生する手段と、前記基準信号に前記
オフセット信号を加算する手段とからなり、前記一致判
定手段は、前記オフセット信号分のAD変換値を前記A
Dコンバータの出力値から減算するオフセット補正手段
と、前記基準信号のAD変換値と前記オフセット補正後
の値との一致判定を行うことを特徴とする請求項1記載
のADコンバータの異常検出装置。 - 【請求項4】 前記オフセット信号を発生する手段は、
乱数を発生する乱数発生手段と、この乱数に応じた電圧
値または電流値の信号をオフセット信号として発生する
手段とから構成したことを特徴とする請求項3記載のA
Dコンバータ。 - 【請求項5】 前記ADコンバータは、前記試験用信号
が入力される少なくとも1つの入力チャンネルと、測定
信号が入力される入力チャンネルを含む複数の入力チャ
ンネルを備えて、入力チャンネルを順次繰り返し切り替
えてAD変換を行うものであり、前記試験用信号の電圧
値または電流値を変化させる手段は各入力チャンネルの
切り替えが一巡する毎に前記試験用信号の電圧値または
電流値を変化させる請求項1,2,3または4記載のA
Dコンバータの異常検出装置。 - 【請求項6】 複数の入力チャンネルのうち幾つかの入
力チャンネルに電圧値または電流値の異なる試験用信号
をそれぞれ入力する手段と、各入力チャンネルから入力
した前記試験用信号のAD変換値と各試験用信号に応じ
て予め記憶されたADコンバータの正常出力値と前記A
Dコンバータの実際の出力値との一致判定を行う一致判
定手段と、その判定結果のうちいずれかが不一致となる
場合に前記ADコンバータを異常とみなす手段とを備え
たADコンバータの異常検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6188235A JPH0856160A (ja) | 1994-08-10 | 1994-08-10 | Adコンバータの異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6188235A JPH0856160A (ja) | 1994-08-10 | 1994-08-10 | Adコンバータの異常検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0856160A true JPH0856160A (ja) | 1996-02-27 |
Family
ID=16220162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6188235A Pending JPH0856160A (ja) | 1994-08-10 | 1994-08-10 | Adコンバータの異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0856160A (ja) |
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1994
- 1994-08-10 JP JP6188235A patent/JPH0856160A/ja active Pending
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