JPH0856901A - 両眼開放型検眼装置 - Google Patents

両眼開放型検眼装置

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JPH0856901A
JPH0856901A JP6195310A JP19531094A JPH0856901A JP H0856901 A JPH0856901 A JP H0856901A JP 6195310 A JP6195310 A JP 6195310A JP 19531094 A JP19531094 A JP 19531094A JP H0856901 A JPH0856901 A JP H0856901A
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JP
Japan
Prior art keywords
optical axis
optometry apparatus
measuring
optical system
light emitting
Prior art date
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Application number
JP6195310A
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English (en)
Inventor
Masakatsu Iwamoto
昌克 岩本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RIYUUSHIYOU SANGYO KK
Ryusyo Industrial Co Ltd
Original Assignee
RIYUUSHIYOU SANGYO KK
Ryusyo Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 両眼開放型検眼装置において、被検者が測定
部の透視窓を通して覗く視標の位置を、測定光学系の光
軸と精度良く一致させる。 【構成】 測定光学系の光軸3xに平行にかつ接近して
レーザ光線6xを発光するレーザマーカ装置6を、測定
部3の上部に備える。装置の前方に配置した壁、スクリ
ーン等の立面7aにレーザ光線6xを当てて輝点7sを
形成する。この光軸3x近傍に位置している輝点7sを
視標として、被検者が透視窓3aを通して覗く。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、眼屈折度測定装置等の
検眼装置に関し、特に、被検者が覗く測定部の窓が透視
窓になっていて、装置前方の適当な距離のところに置か
れた視標を被検者が透視した状態、つまり自然視状態、
で検査するようにした、いわゆる両眼開放型の検眼装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】検眼装置には、装置内に光学的に作像し
た視標を被検者に覗かせる方式のものと、上記両眼開放
型のものとがある。両方式は一長一短であるが、後者の
方式は、自然視状態の被検眼を検査するという意味で精
度が良いという利点がある。
【0003】ところで、両眼開放型の検眼装置の場合
は、測定時に被検者の視線を一定方向に向けて固定し、
測定光学系の光軸と一致させる必要がある。そのため、
測定装置から一定距離、たとえば4〜5メートルの位置
に配置された視標となる人形等の置物を、被検者は測定
装置の透視窓を通して覗く。
【0004】ところが、このような視標物を測定光学系
の光軸に正確に一致させて配置するのは容易でなく、被
検者の視線と測定光学系の光軸とのズレを生じ易い。こ
のようなズレは、ある程度は検者のアライメント操作に
よって調整可能であるが、ズレが大き過ぎると、測定で
きなくなったり、精度よく測定できなくなる。また、従
来の両眼開放型検眼装置において用いる視標物は、被検
者が視標物のどの部分を見ればよいのかが分かり易い大
きさにする必要があり、また、装置の設置場所の条件に
よって色や形などを考慮する必要があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明が
解決しようとする技術的課題は、両眼開放型検眼装置に
おいて、被検者が測定部の透視窓を通して覗く視標の位
置を、測定光学系の光軸と精度良く一致させることにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための・手段・作用・効果】上記課題
を解決するために、本発明によれば、以下の構成の両眼
開放型検眼装置が提供される。
【0007】すなわち、この両眼開放型眼屈折度測定装
置は、ベース上に検眼装置本体が水平移動自在に搭載さ
れ、検眼装置本体は、少なくとも、被検者が覗く透視窓
を備えた測定部を含んでいる。
【0008】そして、測定光学系の光軸に略平行かつ接
近する視標としての平行光束を発光する発光装置を上記
測定部に備える。
【0009】上記構成によれば、測定光学系の光軸に略
平行かつ接近する平行光束によって形成される輝点(ス
ポット)を、この装置は視標として用いる。すなわち、
装置前方に、被検者が近視状態にならないように所定距
離以上離れた位置に、壁やスクリーン等を配置し、その
立面に平行光束を当て、その反射光により明るく光った
輝点を形成する。平行光束は、視標としての適切な寸法
・形状を形成する適宜断面寸法を有する。この輝点と光
軸とのズレは、装置と輝点との間の距離に比べて十分に
小さいので、平行光束は、実質的には、測定光学系の光
軸と一致し、光軸と同視できる。それゆえ、この輝点
は、立面の装置からの距離に拘わらず、当然、測定光学
系の光軸上又はその近傍に常に位置する。
【0010】また、検眼装置本体がベースに対して水平
移動されても、測定部に備えられた発光装置も検眼装置
本体と一体的に移動し、測定光学系の光軸に対する平行
光束の相対位置は固定されたままである。つまり、検眼
装置本体の移動によって、立面に形成される輝点は移動
するものの、同時に検眼装置本体の測定光学系も移動す
るので、輝点は常に測定光学系の光軸上又はその近傍に
位置する。
【0011】したがって、被検者が透視窓を通してこの
輝点を覗くことにより、被検者の視線は測定光学系の光
軸と精度良く一致させることができる。
【0012】上記構成においては、平行光束が測定光学
系の光軸に接近しかつ厳密に平行であるときは、立面を
配置する位置に拘わらず、平行光束による輝点は光軸か
ら常に一定距離離れて位置する。この一定距離のズレが
生じても、実用的には十分な精度で計測可能である。し
かし、より高精度の測定を希望する場合には、平行光束
による輝点は、厳密には測定光学系の光軸上に位置する
ことが、より好ましい。
【0013】そのためには、上記構成の発光装置に代え
て、測定光学系の上記光軸と所定位置で交差する視標と
しての平行光束を放射する発光装置を上記測定部に備え
ることが好ましい。
【0014】上記構成において、平行光束と測定光学系
の光軸とが交差する所定位置に立面を配置して輝点を形
成すると、この輝点は測定光学系の光軸上に位置する。
また、平行光束と測定光学系の光軸とが交差する所定位
置の前後の一定範囲において立面を配置して輝点を形成
しても、輝点は光軸に非常に接近しており、非常に高精
度な測定が期待できる。
【0015】上記構成においては、平行光束と測定光学
系の光軸との交点から遠ざかる程、光軸と輝点とのズレ
は大きくなるので、測定精度が低下していく傾向がある
ため、立面を配置できる位置は、交点の前後の一定範囲
に限定されるが、以下のように構成すれば、任意位置に
立面を配置できる。
【0016】すなわち、少なくとも2台の上記発光装置
を備え、この発光装置からの上記平行光束が上記測定光
学系の上記光軸上で互いに交差しかつこの交点が上記光
軸上を移動可能であるようにする、上記平行光束の放射
角度を同期して調整する放射角度調整手段をさらに備え
る。
【0017】上記構成において、放射角度調整手段によ
って、任意位置の立面に形成される平行光束の輝点が重
なり合うように調整すれば、この重なり合った輝点すな
わち交点は測定光学系の光軸上に位置する。
【0018】したがって、立面を任意位置に配置して
も、輝点を測定光学系の光軸上に位置させることが可能
となる。
【0019】上記構成においては、放射角度調整手段を
必要とするが、以下のように構成すれば、放射角度調整
手段は不要となる。
【0020】すなわち、測定光学系の光軸と交わる視標
としての平面光を放射する少なくとも2つの発光装置を
上記測定部に備える。
【0021】上記構成において、測定光学系の光軸と交
わる少なくとも2つの平面光が立面に当たると、少なく
とも2つの交差する輝線が形成される。平面光は測定光
学系の光軸で交わるので、輝線の交点は測定光学系の光
軸上にある。検者が被検者にこの輝線の交点を見るよう
に指示することによって、交差する輝線を視標として用
いる。
【0022】したがって、上記構成においては、放射角
度調整手段は不要である。
【0023】上記各構成において、発光装置としては、
レーザ発光装置が好ましい。
【0024】すなわち、他の光源を用いて視標を形成す
るビーム光を作ってもよいが、レーザ発光装置であれ
ば、簡単な構成で、光源を絞りやすく、見やすい視標が
形成できる等の点で、他の光源よりも、好ましい。
【0025】
【実施例】以下に、本発明の各実施例を図1〜4に従っ
て、詳細に説明する。
【0026】まず、第1実施例について説明する。
【0027】図1は、本実施例に係る両眼開放型検眼装
置、具体的には眼屈折度測定装置を使用して被検者の眼
屈折度を測定している状態を示す側面図である。装置全
体の大略構成は従来のものと同じである。すなわち、ベ
ース1の上に検眼装置本体2を水平微小移動自在に搭載
している。そして、本体2は、モニター4、具体的には
CRT、と、該モニター4の上に装着した測定部3と、
ジョイスティック5とを備えている。
【0028】図示のように、ベース1の被検者側には頭
部固定フレーム1aを設けている。測定部3は、被検者
が覗く透視窓3aを有している。この測定部3は、被検
者又はフレーム1aに近い位置にある。
【0029】測定部3の上部には、発光装置であるレー
ザマーカ装置6が備えられる。レーザマーカ装置6は市
販の赤色レーザを用い、レーザダイオードが最適であ
る。平行光束であるレーザ光線6xは測定光学系の光軸
3xから約10センチメートル離れ、測定光学系の光軸
3xと平行に放射される。
【0030】この装置を用いて検査を行なうためには、
被検者が近視状態にならないように、一般的には、装置
前方3メートル以上離れた位置7に、適当な壁やスクリ
ーン等を配置し、その立面7aにレーザ光線6xを当て
る。そして、立面7aに形成されるレーザ光線6xの輝
点6s、すなわちレーザ光線6xの反射光により明るく
光った点を視標として、被検者は透視窓3aを通して覗
く。なお、測定時には、この輝点6sが点滅するなどに
よって被検者の注意を引くと、効果的である。
【0031】上記構成において、立面7aにおける測定
光学系の光軸3x上の点3sと、レーザ光線6xによる
輝点6sとのズレ(約10センチメートル)は、装置か
らの距離(3メートル以上)に比べて十分に小さいの
で、輝点6sは実質的に光軸3xに位置するものと同視
できる。また、レーザ光線6xは、測定光学系の光軸3
xに平行であるので、立面7aの位置に拘わらず、輝点
7sの光軸3xからのズレは一定である。さらに、検者
のアライメント操作によって、検眼装置本体2がベース
1に対して水平移動されても、測定部3に備えられたレ
ーザマーカ装置6も検眼装置本体2と一体的に移動する
ので、測定光学系の光軸3xに対するレーザ光線6xの
相対位置は固定されたままである。つまり、検眼装置本
体2の移動によって輝点6sは立面7a上を移動する
が、輝点6sは常に測定光学系の光軸3xから一定距離
離れて位置する。
【0032】したがって、被検者が測定部3の透視窓3
aを通して覗く視標である輝点6sの位置を、測定光学
系の光軸3xに精度良く一致させることができる。
【0033】上記第1実施例では、輝点6sの光軸3x
からのズレは、輝点6sの装置からの距離に無関係に一
定である。したがって、この装置は、装置からの距離と
は無関係に立面7を配置できるという長所を有する。一
方、この装置の計測においては、輝点6sの光軸3xか
らの一定のズレによる計測誤差を、常に含んでいる。
【0034】次に、輝点の光軸からのズレを無くすこと
ができる第2実施例を説明する。
【0035】第2実施例では、図2に示すように、大
略、第1実施例と同様に構成する。第1実施例と異なる
構成は、レーザ光線6xの放射方向のみである。
【0036】すなわち、レーザ光線6xは、装置前方の
所定距離離れた位置7、一般的には、被検者が近視状態
にならないように装置前方3メートル以上離れた位置、
ここでは装置前方5メートルの位置7で、測定光学系の
光軸3xと交差する。図2では、実際の寸法通りには図
示していないので、レーザマーカ装置6から放射された
レーザ光線6xが測定光学系の光軸3xと略平行かつ接
近しているようには見えにくいが、実際には、交点近傍
では、レーザ光線6xは光軸3xに非常に接近してお
り、実質的には、レーザ光線6xは測定光学系の光軸3
xと同視できる。
【0037】この装置を用いて検査を行なうためには、
レーザ光線6xと光軸3xとが交差する所定位置7また
はその前後の所定範囲内の位置7',7''に、適当な壁や
スクリーン等を配置し、その立面7a,7a',7a''に
レーザ光線6xを当てる。そして、立面7a,7a',7
a''に形成されるレーザ光線6xの輝点6s,6s',6
a''を、第1実施例と同様に視標として用いる。
【0038】上記構成において、レーザ光線6xは測定
光学系の光軸3xと実質的に同視できるので、立面7
a,7a',7a''に形成されるレーザ光線6xの輝点6
s,6s',6a''は、測定光学系の光軸3x上又はその
近傍に位置する。すなわち、立面7aが上記所定位置7
にあるときには、輝点6sは測定光学系の光軸3x上に
位置する。また、立面7a',7a''が上記所定位置7よ
り前後に所定範囲内でずれても、輝点7s',7s''の光
軸3xからのズレは、ごくわずかであり、実質的には光
軸3x上に位置するのと同じである。
【0039】したがって、被検者が測定部3の透視窓3
aを通して覗く視標である輝点6s,6s',6s''の位
置を、測定光学系の光軸3xにきわめて精度良く一致さ
せることができる。
【0040】なお、上記各実施例において、レーザマー
カ装置6は、測定部3の上部に配置する代わりに、測定
部3の他の位置、たとえば左右位置に配置してもよい。
また、レーザ光線6xは、光軸3xと交差せず、かつ、
厳密には光軸3xと平行でなくても、光軸3xに接近し
かつ略平行であれば、光軸3xと実質的に同視できるの
で、同様にして、実用的に十分な測定精度が得られる。
さらには、発光装置としては、レーザマーカ装置の代わ
りに、ビーム光を放射する他の光源を用いてもよい。
【0041】ところで、上記したように、より高精度の
測定を希望する場合には、レーザ光線による輝点は、厳
密には、測定光学系の光軸上に位置していることが、理
想的である。上記第2実施例では、そのような位置は、
図2において示した一箇所7だけであるが、以下のよう
に構成すれば、装置前方の任意位置にある立面に、測定
光学系の光軸に一致する輝点を形成することが可能であ
る。
【0042】たとえば、レーザマーカ装置からのレーザ
光線放射角度を調整できる放射角度調整手段をさらに備
え、この放射角度調整手段によって輝点が測定光学系の
光軸上に位置するように、立面と装置との距離に応じて
レーザ光線の放射角度を調整する。
【0043】あるいは、2台のレーザマーカ装置を備
え、公知の同期調整手段を含む放射角度調整手段によっ
て各レーザマーカ装置の放射角度を同期調整し、常にレ
ーザ光線同士の交点を測定光学系の光軸上に位置させな
がら光軸上を移動させることができるように構成する。
そして、装置前方の任意位置の立面に形成されるレーザ
光線の輝点が重なり合うように同期調整手段を調整し、
重なり合った輝点を視標とする。
【0044】上記各構成によれば、装置前方の任意位置
に立面を配置しても、レーザ光線の輝点は常に測定光学
系の光軸上に位置させることができるので、被検者の視
線と測定光学系の光軸とを完全に一致させることが可能
である。
【0045】上記各構成においては、レーザ光線の放射
角度を調整する放射角度調整手段が必要であるが、以下
に、放射角度調整手段が不要である第3実施例を説明す
る。
【0046】すなわち、図3の要部斜視図に示すよう
に、この装置は、平面光発光装置であるラインレーザ装
置16a,16bを、測定部3の上部および右部に備え
る。
【0047】測定部3の上部にある垂直ラインレーザ装
置16aは、レーザ光線を垂直方向に高速に上下振動さ
せて、扇状の平面光18aを形成する。この平面光18
aの上辺18uは、測定光学系の光軸3xと平行であ
る。一方、測定部3の右部にある水平ラインレーザ装置
16bは、レーザ光線を水平方向に高速に上下振動させ
て、扇状の平面光18bを形成する。この平面光18b
の右辺18rは、測定光学系の光軸3xと平行である。
両平面光18a,18bは、測定光学系の光軸3xと交
わる。
【0048】装置前方の所定範囲、ここでは、各平面光
18a,18bと光軸との交点18s,18tのうち、装
置から遠い方18tより遠方の範囲に立面7aを配置す
ると、図3,4に示すように、直交する輝線20a,20
bが形成される。図4に模式的に示したように、垂直輝
線20aの下部および水平輝線20bの左部は、立面7
aを装置に近付けると短くなり、立面7aを装置から遠
ざけると長くなるが、両輝線20a,20bは常に交差
し、その交点20sは測定光学系の光軸3x上にある。
【0049】したがって、検者が被検者に輝線20a,
20bの交点20sを見るように指示することによっ
て、交差する輝線20a,20bを視標として用いれ
ば、放射角度調整手段は不要である。
【0050】なお、平面光発光装置としては。ラインレ
ーザ装置の代わりに、公知のスリット光発光装置を用い
てもよい。また、平面光は、立面を配置して視標を形成
すべき範囲内で、測定光学系の光軸と交われば十分であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施例に係る両眼開放型検眼装
置を使用して検査を行なっている状態を示す側面図であ
る。
【図2】 本発明の第2実施例に係る両眼開放型検眼装
置を使用して検査を行なっている状態を示す側面図であ
る。
【図3】 本発明の第3実施例に係る両眼開放型検眼装
置の要部斜視図である。
【図4】 立面の位置により変化する、図3の輝線を示
す模式図である。
【符号の説明】
1 ベース 1a 頭部固定フレーム 2 検眼装置本体 3 測定部 3a 透視窓 3x 光軸 4 モニター 4a モニター画面 5 ジョイスティック 6 レーザマーカ装置(発光装置) 6s,6s',6s'' 輝点(視標) 6x レーザ光線(平行光束) 7,7',7'' 位置 7a,7a',7a'' 立面 16a,16b ラインレーザ装置(発光装置) 18a,18b 平面光 18r 右辺 18s,18t 交点 18u 上辺 20a,20b 輝線(視標) 20s 交点

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベース(1)上に検眼装置本体(2)が
    水平移動自在に搭載され、検眼装置本体(2)は、少な
    くとも、被検者が覗く透視窓(3a)を備えた測定部
    (3)を含む両眼開放型検眼装置において、 測定光学系の光軸(3x)に略平行かつ接近する視標と
    しての平行光束(6x)を放射する発光装置(6)を上
    記測定部(3)に備えることを特徴とする両眼開放型検
    眼装置。
  2. 【請求項2】 ベース(1)上に検眼装置本体(2)が
    水平移動自在に搭載され、検眼装置本体(2)は、少な
    くとも、被検者が覗く透視窓(3a)を備えた測定部
    (3)を含む両眼開放型検眼装置において、 測定光学系の光軸(3x)と所定位置(7)で交差する
    視標としての平行光束(6x)を放射する発光装置
    (6)を上記測定部(3)に備えることを特徴とする両
    眼開放型検眼装置。
  3. 【請求項3】 少なくとも2台の上記発光装置(6)を
    備え、 該発光装置(6)からの上記平行光束(6x)が上記測
    定光学系の上記光軸(3x)上で互いに交差しかつ該交
    点が上記光軸(3x)上を移動可能であるようにする、
    上記平行光束の放射角度を同期して調整する放射角度調
    整手段をさらに備えることを特徴とする、請求項2記載
    の両眼開放型検眼装置。
  4. 【請求項4】 ベース(1)上に検眼装置本体(2)が
    水平移動自在に搭載され、検眼装置本体(2)は、少な
    くとも、被検者が覗く透視窓(3a)を備えた測定部
    (3)を含む両眼開放型検眼装置において、 測定光学系の光軸(3x)と交わる視標としての平面光
    (18a,18b)を放射する少なくとも2つの発光装置
    (16a,16b)を上記測定部(3)に備えることを
    特徴とする両眼開放型検眼装置。
  5. 【請求項5】 上記発光装置(6,16a,16b)は、
    レーザ発光装置(6,16a,16b)であることを特徴
    とする請求項1〜4のいずれかに記載の両眼開放型検眼
    装置。
JP6195310A 1994-08-19 1994-08-19 両眼開放型検眼装置 Pending JPH0856901A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004535881A (ja) * 2001-07-27 2004-12-02 トレイシィ テクノロジーズ、エルエルシー 人の眼の屈折特性の測定

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004535881A (ja) * 2001-07-27 2004-12-02 トレイシィ テクノロジーズ、エルエルシー 人の眼の屈折特性の測定

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