JPH0860148A - 放射線検出器用の発光物質、該発光物質からなるセラミックの製造方法および希土類金属オキシスルフィド発光物質セラミック用の添加物 - Google Patents

放射線検出器用の発光物質、該発光物質からなるセラミックの製造方法および希土類金属オキシスルフィド発光物質セラミック用の添加物

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JPH0860148A JP7190887A JP19088795A JPH0860148A JP H0860148 A JPH0860148 A JP H0860148A JP 7190887 A JP7190887 A JP 7190887A JP 19088795 A JP19088795 A JP 19088795A JP H0860148 A JPH0860148 A JP H0860148A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線検出器用の発光物質を提供する。 【解決手段】 前記発光物質は、希土類金属オキシスル
フィドをベースとし、残光を減衰するために、ドーピン
グ添加物としてZr,Hf,Se,TeおよびTiから
選択される1種の元素D、およびCo,Ni,Fe,R
uおよびMnから選択される少なくとも1種の元素Aを
含有する。 【効果】 本発明による発光物質は改良された発光特性
にもとづき特にコンピュータ断層撮影に適している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、残光が減衰した発
光物質に関する。
【0002】
【従来の技術】高エネルギー放射線を検出するために、
検出器は発光物質およびフォトダイオードまたは光電子
倍増管から構成することができる。そのような検出器は
放射線医学およびX線診断に既に使用されている。この
場合に発光物質には高エネルギー放射線を吸収し、この
吸収の結果として可視光線を放出するという課題が課せ
られる。可視光線は感光性素子、たとえばフォトダイオ
ード、光電子倍増管または感光性フィルムにより検出す
ることができる。
【0003】たとえばX線コンピュータ断層撮影に使用
されるような近代的な放射線検出器においては、X線パ
ルスのための十分に高いパルス周波数を得るためにきわ
めて少ない残光を有する発光物質が必要である。広く普
及している発光物質はタリウムをドープしたセシウムヨ
ージドCsI:Tlであり、これはたとえば高エネルギ
ー放射線を遮断して20msec後になお最初の発光強
度の約10~2〜10~3の残光強度を有する。しかしなが
ら新しい形式の放射線検出器のためには残光をはるかに
速く減衰する発光物質が必要である。
【0004】近代的な放射線検出器に使用するための有
望な発光物質は希土類金属オキシスルフィドである。ド
イツ特許第3629180号明細書から、一般的組成: (Ln1-x-yxCey22S:X [式中、LnはGd,LaまたはYであり、MはEu,
PrまたはTbであり、かつXはFまたはClであり、
0<x,y<1である]で示される発光物質セラミック
を製造する方法が公知である。この場合に出発物質とし
て使用される顔料粉末を真空密の金属容器に充填し、ホ
ットアイソスタチックプレスによりセラミックに圧縮す
る。しかしながら、こうして得られた発光物質は付加的
な手段を用いないと好ましくない強い残光を示す。
【0005】J.Electrochem,Soc.Vol.136,No9,Septembe
r 1989,2713頁以下には、残光を減衰するために、希土
類金属オキシスルフィドの発光物質セラミックにセリウ
ムをドープすることが提案されている。しかしながらセ
リウム添加により光収率が低下した有色の発光物質セラ
ミックが得られる。従って、この発光物質はほかの重要
な特性を劣化させる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の課題
は、改良されたまたは減衰した残光を有し、その際発光
強度を喪失しない希土類金属オキシスルフィドをベース
とする発光物質を提供することであった。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記課題は本発明により
請求項1の特徴部分に記載の発光物質により解決され
る。
【0008】請求項2以下には本発明の別の実施態様お
よび発光物質の製造方法が記載されている。
【0009】意想外にも、ジルコニウム、チタン、セレ
ン、テルルまたはハフニウムから選択される1種の元素
D、およびコバルト、ニッケル、鉄、ルテニウムおよび
マンガンから選択される少なくとも1種の元素Aの少な
いドーピングがすでに10~2にまで残光の著しい減衰を
生じることが判明した。たとえばセリウムのような残光
を減衰するための従来公知の添加物が光収率の低下を生
じるのに対して、本発明を使用してセリウムに対して、
たとえば20%だけ改良された全光収率が達成される。
【0010】添加物は、一般的実験式: (M1-xLnx22S [式中、MはY,LaおよびGdの群の少なくとも1種
の元素を含み、LnはEu,Pr,Tb,Yb,Dy,
SmおよびHoの群の少なくとも1種の元素を表し、か
つ(2×10~1)≧x≧(1×10~6)である]で示さ
れる希土類金属オキシスルフィドに有効である。Lnは
有利にはTb,PrまたはEuを表す。
【0011】発光物質中のアニオン欠陥位置(Anionfeh
lstelle)がトラップ、すなわち低い状態を生じ、これ
がX線により生じるキャリアを捕獲し、引き続き遅延し
て再び放出し、遅延したルミネセンス光(残光)を生じ
ることが推測される。
【0012】Dのドーピングの作用に関しては、これが
発光物質の価格子(Wertgitter)内のドーピング物質A
の電荷平衡を形成することが推測される。
【0013】本発明によれば、セラミック中のDの添加
は、2×10~1モル%〜1×10~6モル%であるが、有
利には1×10~4モル%〜1×10~6モル%である。
【0014】本発明によれば、セラミック中の少なくと
も1種のほかの元素Aの添加は、2×10~1モル%〜1
×10~6モル%であるが、有利には1×10~4モル%〜
1×10~6モル%である。
【0015】本発明による発光物質は、有利には画像を
形成する方法、たとえばコンピュータ断層撮影に使用す
ることができる高密度のおよび半透明の発光物質セラミ
ックに加工する。
【0016】発光物質または発光物質セラミックから製
造される発光物質粉末は従来の方法により製造すること
ができる。たとえば発光物質粉末を溶融法により製造す
ることが可能である。そのために酸化物、炭酸塩、塩化
物、フッ化物、硫化物またはほかの適当な化合物として
発光物質中に含まれている金属を硫黄および融剤として
適当なアルカリ金属化合物といっしょに溶融する。溶融
物が硬化した後で融剤として使用したアルカリ金属化合
物を除去するために溶融物を浸出し、かつ洗浄する。
【0017】金属化合物を所望の比で溶解し、その後適
当な形に析出することも可能である。そのために希土類
金属酸化物をたとえば亜硫酸水素塩錯体として溶解し、
亜硫酸塩または硫酸塩として析出することができる。引
き続きほかの工程で亜硫酸塩または硫酸塩を所望のオキ
シスルフィドに還元することが必要である。
【0018】溶液から沈殿することによる発光物質粉末
の製造は、きわめて少ない割合で含まれるドーピング物
質を全部の粉末にわたって均質に分配するという利点を
有する。このことはセラミック成形体にわたって均質に
分配される特性を有する均質な発光物質セラミックの製
造を保証する。
【0019】変法においては、沈殿により得られた亜硫
酸塩粉末を炉内でフォーミングガス(forminggas)雰囲
気下でオキシスルフィドに還元し、引き続きほかの調質
工程で水素−硫黄蒸気雰囲気下で処理する。この方法を
使用して異相封入物を有せず、正確な化学量論的割合の
ほかに1g当たり10m2より大きい表面積(BET法
による)を有する発光物質粉末が得られる。
【0020】本発明による組成を有する前記方法により
製造される発光物質粉末は、セラミックに更に処理する
前にまずなお粉砕し、場合により均質化する。画像を形
成する方法のために、適当な発光物質セラミックは、必
要な光学的純度および半透明性を有するために、理論的
最大密度に対して96%以上の高い密度を有しなければ
ならない。この高い密度はたとえば発光物質粉末のホッ
トアイソスタチックプレスにより達成することができ
る。そのためにこの粉末を気密のかつ成形可能な金属か
ら製造された容器に充填する。引き続き800〜170
0℃の温度でこの容器のすべての面に50〜200MP
aの圧力をかける。
【0021】比較的経費のかからない方法においては、
発光物質粉末を単軸熱間圧縮により高密度の発光物質セ
ラミックに加工することができる。しかしながらそのた
めには10m2/gより大きいBET法による表面積を
有する発光物質粉末が必要である。そのような粉末は、
従来は前記の方法によってのみ亜硫酸塩の沈殿を介して
製造することができた。
【0022】
【実施例】本発明を以下の実施例により詳細に説明す
る。
【0023】発光物質粉末の製造 実験的組成:(Gd1-x-y-zPrxCoyZrz22S [式中のxは1×10~3であり、yは2.5×10~5
あり、zは2.5×10~5であり、MはGdであり、L
nはPrであり、かつAはCoである]で示される発光
物質粉末を製造する。
【0024】そのために適当なガドリニウム化合物、た
とえば酸化ガドリニウムGd23を相当する亜硫酸水素
塩錯体に転化する。
【0025】
【化1】
【0026】水性懸濁液に、二酸化硫黄を導入する。亜
硫酸水素塩錯体の透明な溶液が生じる。
【0027】この溶液を、粒子を除くために0.2μm
フィルタを通過して供給する。プラセオジム、ジルコニ
ウムおよびコバルトに関してなお不足するドーピング添
加物を今やこの工程で前記の式により決められた正確な
比で添加することができる。この添加は有利には金属ま
たはドーピング物質の相当する酸化物、硫化物、塩化
物、硝酸塩、炭酸塩またはほかの適当な化合物の溶液ま
たは懸濁液として実施する。
【0028】二酸化硫黄を今や溶液から取り出し、その
際ガドリニウムをドーピング物質と一緒に亜硫酸塩とし
て溶液から完全に沈殿する。
【0029】
【化2】
【0030】全部の工程、特に固体粉末の処理は、亜硫
酸水素塩錯体または固体の亜硫酸塩が硫酸塩に酸化する
のを回避するために不活性ガスまたは還元雰囲気下で実
施する。
【0031】乾燥した亜硫酸ガドリニウム粉末を今や還
元雰囲気下で、たとえばN280%/H220%の組成の
フォーミングガス下でたとえば700℃に加熱する。そ
の際、亜硫酸ガドリニウムがオキシ硫化ガドリニウムG
22Sに還元される。
【0032】亜硫酸ガドリニウムの還元は、ほかの還元
作用するガスにより、たとえば一酸化炭素、水素または
ほかの組成のフォーミングガスを導入することにより行
うこともできる。還元に必要な温度は400℃〜800
℃で選択することができる。こうして得られた発光物質
粉末はたとえば35m2/gの所望の高い比表面積を有
する。この粉末は前記の実験式に相当しない異相封入物
をなお有することができる。このことは特に本発明の変
更例において、純粋なオキシ硫化ガドリニウムを製造
し、その直後にこれをドーピング物質の適当な化合物と
混合する場合に認められる。この場合に化学量論的割合
を完全にするために別の還元工程を実施することがで
き、その際得られた発光物質粉末を水素/硫黄蒸気雰囲
気にさらす。この場合に最初の還元工程におけると同じ
調質条件を選択する。
【0033】今や発光物質粉末からたとえば単軸熱間圧
縮により発光物質セラミック板を製造する。そのために
この粉末をプレス型に充填し、50MPaの圧力でまず
冷間でかつ乾燥して予備圧縮する。引き続き熱間圧縮
で、まず圧力をかけずに1100〜1300℃の温度に
加熱し、その際発光物質粉末を理論的密度の約80〜8
5%に焼結する。その直後に約50MPaのプレス圧を
形成し、発光物質粉末を完全に発光物質セラミックに圧
縮する。
【0034】同様に製造した発光物質粉末を使用して同
じ実験を繰り返す、ただしZrの代りにTiもしくはH
f,SeまたはTeおよびCoの代りにMnもしくはN
i,FeまたはRuを使用する。
【0035】今や型から取り出した発光物質セラミック
成形体に、その発光特性、特に残光を定量的に把握する
ために異なる条件下でX線を当てる。
【0036】その際、X線源を遮断して4ms後に、最初
の強度に対して10~3.2の残光強度が得られる。これは
純粋なGd22S:Pr発光セラミックに比べて約10
~1.5〜10~2.0だけ改良された値であり、Ceをドープ
したGd22S:Pr発光セラミックの範囲内にある。
これに対して絶対的光収率はCeをドープしたGd22
S:Pr発光セラミックに比べて約20%だけ改良され
ている。
【0037】従って、本発明による元素Dおよび元素A
の添加物を有する発光物質は、これらの添加物を有しな
い同じ発光物質に比べて10の数乗分の1に減衰した残
光を示す。相当する添加物不含の発光物質セラミック
は、そのほかは同じ条件でなお残光を示し、これは前記
の時間間隔の後で最初の発光強度の10~2倍である。
【0038】改良された発光特性により本発明による発
光物質は特にコンピュータ断層撮影に使用するために適
している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ユルゲン レッペルト ドイツ連邦共和国 イニング フルーアシ ュトラーセ 8

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 組成が、一般的実験式: (M1-xLnx22S [式中、MはY,LaおよびGdの群の少なくとも1種
    の元素を含み、Lnは、Eu,Pr,Tb,Yb,D
    y,SmおよびHoの群の少なくとも1種の元素を表
    し、かつ(2×10~1)≧x≧(1×10~6)である]
    で示される希土類金属オキシスルフィドをベースとし、
    更に残光を減衰するために、Zr,Hf,Se,Teお
    よびTiから選択される1種の元素D、およびCo,N
    i,Fe,RuおよびMnから選択される少なくとも1
    種の元素Aがそれぞれ10~1〜10~6モル%の割合でド
    ープされていることを特徴とする、放射線検出器用の発
    光物質。
  2. 【請求項2】 Co,Ni,Fe,RuまたはMnから
    なる少なくとも1種の元素が全部で10~4〜10~6モル
    %の割合で含まれている請求項1記載の発光物質。
  3. 【請求項3】 元素Dが10~4モル%〜10~6モル%の
    割合で含まれている請求項1または2記載の発光物質。
  4. 【請求項4】 残光が減衰した発光物質からなるセラミ
    ックを製造する方法において、一般的実験式: (M1-x-y-zLnxyz22S [式中、MはY,LaおよびGdの群の少なくとも1種
    の元素を含み、Lnは、Eu,Pr,Tb,Yb,D
    y,SmおよびHoの群の少なくとも1種の元素を表
    し、DはZr,Hf,Se,TeおよびTiから選択さ
    れる元素に相当し、AはCo,Ni,Fe,Ruまたは
    Mnの少なくとも1種の元素を表し、かつ(2×10
    ~1)≧x≧(1×10~6)および(1×10~1)≧y,
    z≧(1×10~6)である]で示される顔料粉末を調製
    し、かつ均質化し、 この顔料粉末を加圧下で1200℃より高い温度で不活
    性または還元雰囲気下でセラミックに圧縮することを特
    徴とする、残光が減衰した発光物質からなるセラミック
    の製造方法。
  5. 【請求項5】 BET法により測定した表面積が10m
    2/g以上である顔料粉末を使用する請求項4記載の方
    法。
  6. 【請求項6】 圧縮を単軸熱間圧縮により実施する請求
    項5記載の方法。
  7. 【請求項7】 全部で10~1〜10~6モル%の濃度範囲
    内のZrとCo,NiおよびMnからなる少なくとも1
    種の元素Aとからなる、残光を減衰するための希土類金
    属オキシスルフィド発光物質セラミック用の添加物。
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