JPH0862134A - 反射率評価装置 - Google Patents
反射率評価装置Info
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- JPH0862134A JPH0862134A JP7181382A JP18138295A JPH0862134A JP H0862134 A JPH0862134 A JP H0862134A JP 7181382 A JP7181382 A JP 7181382A JP 18138295 A JP18138295 A JP 18138295A JP H0862134 A JPH0862134 A JP H0862134A
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- Y10T436/11—Automated chemical analysis
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- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複雑な調整が最小限に低減され、かつその調
節された状態が装置を操作するあいだにわたり安定して
おり、さらにテスト領域と測定ヘッドとのあいだの距離
の公差がわずかでしかないテストエレメントを評価する
装置を提供する。 【解決手段】 発光体およびセンサを有する測定ヘッド
と、分析されるテストエレメントが配置されたテストエ
レメント支持体と、テストエレメントと測定ヘッドとの
あいだに配置されかつテストストリップのテスト領域の
表面と前記測定ヘッドとのあいだの距離を規定する、一
つまたはいくつかの測定開口を有するスペーサとからな
る、隣接したテスト領域を有するテストエレメントの反
射率評価のための装置。
節された状態が装置を操作するあいだにわたり安定して
おり、さらにテスト領域と測定ヘッドとのあいだの距離
の公差がわずかでしかないテストエレメントを評価する
装置を提供する。 【解決手段】 発光体およびセンサを有する測定ヘッド
と、分析されるテストエレメントが配置されたテストエ
レメント支持体と、テストエレメントと測定ヘッドとの
あいだに配置されかつテストストリップのテスト領域の
表面と前記測定ヘッドとのあいだの距離を規定する、一
つまたはいくつかの測定開口を有するスペーサとからな
る、隣接したテスト領域を有するテストエレメントの反
射率評価のための装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、テストエレメント
の反射率評価のための装置に関する。さらに詳しくは、
発光体およびセンサを有する測定ヘッドと、分析される
テストエレメントがその上に配置されるテストエレメン
ト支持体と、テストエレメントと測定ヘッドとのあいだ
に配置されかつテストストリップのテスト領域表面と前
記測定ヘッドとのあいだの距離を規定する、いくつかの
開口を有するスペーサとからなり、前記テストエレメン
トが前記テストエレメント支持体と前記支持体のあいだ
に配置され、前記測定ヘッドが前記スペーサの上に静止
することを特徴とするテストエレメントの反射率評価の
ための装置に関する。
の反射率評価のための装置に関する。さらに詳しくは、
発光体およびセンサを有する測定ヘッドと、分析される
テストエレメントがその上に配置されるテストエレメン
ト支持体と、テストエレメントと測定ヘッドとのあいだ
に配置されかつテストストリップのテスト領域表面と前
記測定ヘッドとのあいだの距離を規定する、いくつかの
開口を有するスペーサとからなり、前記テストエレメン
トが前記テストエレメント支持体と前記支持体のあいだ
に配置され、前記測定ヘッドが前記スペーサの上に静止
することを特徴とするテストエレメントの反射率評価の
ための装置に関する。
【０００２】本発明は、テストエレメント、とくにテス
トストリップが、サンプル液中の検体の存在および濃度
を測定するために反射率評価を受ける臨床分析の分野に
かかわる。
トストリップが、サンプル液中の検体の存在および濃度
を測定するために反射率評価を受ける臨床分析の分野に
かかわる。
【０００３】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】いく
つかのテスト領域を有するテストストリップの反射率評
価のための自動装置が、従来技術として知られている。
ヨーロッパ特許出願公開第０ ４２８ １８４号明細書
には、そのような装置が記載されている。評価実行のた
めに、いくつかの発光体およびセンサを有する測定ヘッ
ドがテストストリップのテスト領域を同時に評価するあ
いだ、分析されるテストストリップが板バネによって保
持されている。テスト領域は前記測定ヘッドに含まれる
ガラス繊維を介して光線（radiation）に曝される。光
線を移送および受容する前記繊維は、ネジによって測定
ヘッドに配置されている。
つかのテスト領域を有するテストストリップの反射率評
価のための自動装置が、従来技術として知られている。
ヨーロッパ特許出願公開第０ ４２８ １８４号明細書
には、そのような装置が記載されている。評価実行のた
めに、いくつかの発光体およびセンサを有する測定ヘッ
ドがテストストリップのテスト領域を同時に評価するあ
いだ、分析されるテストストリップが板バネによって保
持されている。テスト領域は前記測定ヘッドに含まれる
ガラス繊維を介して光線（radiation）に曝される。光
線を移送および受容する前記繊維は、ネジによって測定
ヘッドに配置されている。
【０００４】従来技術にかかわる装置の短所は、テスト
領域と光学測定ユニットのあいだの距離を考慮する必要
があるばあい、いくつかのテスト領域を有するテストス
トリップを評価するには、多数の発光体およびセンサを
必要とすることである。すなわち、発光体とセンサとの
各組み合わせについてそれぞれ別個に位置の調整を行わ
なければならない。ヨーロッパ特許出願公開第０ ４２
１ １８４号明細書記載のテストストリップ支持体に基
づくばあい、テストストリップおよび測定ヘッドの配置
に多くの構成部分を必要とし、その各々が別個に製造誤
差を有しているので、測定ヘッドとテスト領域とのあい
だの距離を厳密に決定するには、多くの複雑な技術が必
要である。このように、測定ヘッドと所与のテストスト
リップとを間接的に連結すると、温度による影響または
機械的な影響によって簡単に不適合が生じてしまう。
領域と光学測定ユニットのあいだの距離を考慮する必要
があるばあい、いくつかのテスト領域を有するテストス
トリップを評価するには、多数の発光体およびセンサを
必要とすることである。すなわち、発光体とセンサとの
各組み合わせについてそれぞれ別個に位置の調整を行わ
なければならない。ヨーロッパ特許出願公開第０ ４２
１ １８４号明細書記載のテストストリップ支持体に基
づくばあい、テストストリップおよび測定ヘッドの配置
に多くの構成部分を必要とし、その各々が別個に製造誤
差を有しているので、測定ヘッドとテスト領域とのあい
だの距離を厳密に決定するには、多くの複雑な技術が必
要である。このように、測定ヘッドと所与のテストスト
リップとを間接的に連結すると、温度による影響または
機械的な影響によって簡単に不適合が生じてしまう。
【０００５】本発明は、叙上の事情に鑑み、複雑な調整
が最小限に低減され、かつその調節された状態が装置を
操作するあいだにわたり安定しているような、テストエ
レメントを評価する装置を提供することを目的とする。
さらに、テスト領域と測定ヘッドとのあいだの距離の誤
差がわずかでしかない前記装置を提案することをも目的
とする。
が最小限に低減され、かつその調節された状態が装置を
操作するあいだにわたり安定しているような、テストエ
レメントを評価する装置を提供することを目的とする。
さらに、テスト領域と測定ヘッドとのあいだの距離の誤
差がわずかでしかない前記装置を提案することをも目的
とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、テスト領域が
並置されているテストエレメントの反射率評価のための
装置に基づいている。当該装置は、発光体およびセンサ
からなる測定ヘッド、分析されるテストエレメントが配
置されるテストエレメント支持体ならびに一個またはそ
れ以上の測定開口を有するスペーサを特徴としている。
評価のあいだ、テストエレメントはテストエレメント支
持体とスペーサとのあいだに配置され、一方、スペーサ
の上に静止している測定ヘッドは測定開口からつぎの測
定開口へと移動する。
並置されているテストエレメントの反射率評価のための
装置に基づいている。当該装置は、発光体およびセンサ
からなる測定ヘッド、分析されるテストエレメントが配
置されるテストエレメント支持体ならびに一個またはそ
れ以上の測定開口を有するスペーサを特徴としている。
評価のあいだ、テストエレメントはテストエレメント支
持体とスペーサとのあいだに配置され、一方、スペーサ
の上に静止している測定ヘッドは測定開口からつぎの測
定開口へと移動する。
【０００７】前記装置は、テスト領域を有するテストエ
レメントを評価するという目的にかなうものである。テ
ストエレメントによってサンプル液を評価する方法は、
とくに、検体の存在と濃度を知るために尿、血液、血
清、組織液および唾液などのサンプル液を分析する臨床
診断の分野で用いられる。そのようなテストエレメント
は購入可能でもあって、いくつかの、たとえば９個また
は１２個のテスト領域を有しており、それぞれが一つの
特定の検体を評価するのに役立つ。
レメントを評価するという目的にかなうものである。テ
ストエレメントによってサンプル液を評価する方法は、
とくに、検体の存在と濃度を知るために尿、血液、血
清、組織液および唾液などのサンプル液を分析する臨床
診断の分野で用いられる。そのようなテストエレメント
は購入可能でもあって、いくつかの、たとえば９個また
は１２個のテスト領域を有しており、それぞれが一つの
特定の検体を評価するのに役立つ。
【０００８】一般的に使用されるテストエレメントは、
長さが数ミリメートル、厚さが数百ミクロンである長方
形のテスト領域を有している。該テスト領域は、テスト
ストリップ支持体の上に隣接して設けられている。該テ
ストストリップ支持体は、長さが数センチメートル、幅
が数ミリメートルである長方形の細長い片状体である。
従来技術においては、前記テストエレメントもテストス
トリップと呼ばれる。
長さが数ミリメートル、厚さが数百ミクロンである長方
形のテスト領域を有している。該テスト領域は、テスト
ストリップ支持体の上に隣接して設けられている。該テ
ストストリップ支持体は、長さが数センチメートル、幅
が数ミリメートルである長方形の細長い片状体である。
従来技術においては、前記テストエレメントもテストス
トリップと呼ばれる。
【０００９】このようなテストストリップは、テストス
トリップのテスト領域とともに検知されるバーコード、
文字数字などのようなある一定の特性（characteristic
s）をも有している。しかしながら、本発明において
は、テストストリップの特性を確認する付加的な読取装
置を有することもできる。本発明が基づく装置を用い
て、テストストリップは発光体によって発っせられる可
視光線、赤外線または紫外線に曝される。コストを削減
するために、発光ダイオード（ＬＥＤｓ）が発光体とし
て一般に用いられる。しかしながら、光学フィルターと
ともに使用する必要があるならば、他の発光体の使用も
可能である。テスト領域によって反射された光線または
それを代表するものがセンサによって検知される。とく
に好ましいセンサは、フォトダイオード、フォトトラン
ジスタまたは光電圧要素（photovoltaic element）など
の半導体検知器である。もし必要ならば、センサに入る
光線が、フィルタを通すことによって選択されることも
可能である。
トリップのテスト領域とともに検知されるバーコード、
文字数字などのようなある一定の特性（characteristic
s）をも有している。しかしながら、本発明において
は、テストストリップの特性を確認する付加的な読取装
置を有することもできる。本発明が基づく装置を用い
て、テストストリップは発光体によって発っせられる可
視光線、赤外線または紫外線に曝される。コストを削減
するために、発光ダイオード（ＬＥＤｓ）が発光体とし
て一般に用いられる。しかしながら、光学フィルターと
ともに使用する必要があるならば、他の発光体の使用も
可能である。テスト領域によって反射された光線または
それを代表するものがセンサによって検知される。とく
に好ましいセンサは、フォトダイオード、フォトトラン
ジスタまたは光電圧要素（photovoltaic element）など
の半導体検知器である。もし必要ならば、センサに入る
光線が、フィルタを通すことによって選択されることも
可能である。
【００１０】本発明によると、発光体およびセンサの両
方が一つの測定ヘッドに設けられ、その結果、発光体お
よびセンサの相互調整を容易に行なうことができる。単
一の測定ヘッドが用いられると、スペーサのすべての測
定開口に到達できるように可動自在でなければならな
い。すなわち、測定開口にそって測定ヘッドを動かすこ
とができなければならない。スペーサが異なることによ
る厚さの変化および単一のスペーサにおける厚さの変化
は、測定ヘッドが、高さに関してすなわちスペーサに垂
直に移動自在であることが必要である。このような方向
へ移動できることは、測定ヘッドが静止位置からスペー
サの上に降下されるときにも好ましい。調整がガイドレ
ールによってスペーサの測定開口の上で行われるなら
ば、測定ヘッドは、空間上の第三の方向に関して、剛で
あるようにすなわち動きに制限が与えられるように調整
されてもよい。
方が一つの測定ヘッドに設けられ、その結果、発光体お
よびセンサの相互調整を容易に行なうことができる。単
一の測定ヘッドが用いられると、スペーサのすべての測
定開口に到達できるように可動自在でなければならな
い。すなわち、測定開口にそって測定ヘッドを動かすこ
とができなければならない。スペーサが異なることによ
る厚さの変化および単一のスペーサにおける厚さの変化
は、測定ヘッドが、高さに関してすなわちスペーサに垂
直に移動自在であることが必要である。このような方向
へ移動できることは、測定ヘッドが静止位置からスペー
サの上に降下されるときにも好ましい。調整がガイドレ
ールによってスペーサの測定開口の上で行われるなら
ば、測定ヘッドは、空間上の第三の方向に関して、剛で
あるようにすなわち動きに制限が与えられるように調整
されてもよい。
【００１１】また、本発明の評価装置は分析されるテス
トエレメントが配置されるテストエレメント支持体を含
んでいる。該テストエレメント支持体は、平坦であっ
て、テストエレメントの、少なくともテスト領域を保有
する領域を機械的に支持する平面であってもよい。本発
明の評価装置は、安定的なテストエレメント支持体を有
することが好ましいが、それが移動自在であってもよ
い。スペーサに圧力を加えることによって、テストエレ
メント支持体を所定の端部位置に配置できるようにすべ
きである。
トエレメントが配置されるテストエレメント支持体を含
んでいる。該テストエレメント支持体は、平坦であっ
て、テストエレメントの、少なくともテスト領域を保有
する領域を機械的に支持する平面であってもよい。本発
明の評価装置は、安定的なテストエレメント支持体を有
することが好ましいが、それが移動自在であってもよ
い。スペーサに圧力を加えることによって、テストエレ
メント支持体を所定の端部位置に配置できるようにすべ
きである。
【００１２】本発明の本質は、個々のテスト領域の評価
を所定の距離で行なうことを可能にするスペーサにあ
る。スペーサは実質的に長さが数センチメートル、幅も
数センチメートル、厚さが数ミリメートルである縦長の
板形状をしている。スペーサは一体化されたプラスチッ
ク片として成形されることが好ましい。プラスチックと
しては、ポリオキシメチレンおよびポリフェニレン・オ
キシドであることがとくに好ましい。スペーサの表面に
は、測定開口が設けられる。光線はこれらの測定開口を
通してテストエレメントのテスト領域の上に送られ、反
射された光線はこれらの測定開口を通過する。測定開口
は、下方に配置されたテストエレメントのテスト領域に
アクセス可能であるように配置される。すなわち、測定
開口の配置はテストエレメント上のテスト領域の配置と
一致している。測定開口の大きさと形状は、テスト領域
に完全にアクセス可能であるようにされていることが好
ましいが、縁端部からの妨害信号をできるだけ低減する
ために、テスト領域を実質的にこえる（exceed）ことが
好ましい。測定開口は長方形であって、測定ヘッドに向
き合う面からテストストリップに向き合う面に向かって
先細りになっていることが好ましい。
を所定の距離で行なうことを可能にするスペーサにあ
る。スペーサは実質的に長さが数センチメートル、幅も
数センチメートル、厚さが数ミリメートルである縦長の
板形状をしている。スペーサは一体化されたプラスチッ
ク片として成形されることが好ましい。プラスチックと
しては、ポリオキシメチレンおよびポリフェニレン・オ
キシドであることがとくに好ましい。スペーサの表面に
は、測定開口が設けられる。光線はこれらの測定開口を
通してテストエレメントのテスト領域の上に送られ、反
射された光線はこれらの測定開口を通過する。測定開口
は、下方に配置されたテストエレメントのテスト領域に
アクセス可能であるように配置される。すなわち、測定
開口の配置はテストエレメント上のテスト領域の配置と
一致している。測定開口の大きさと形状は、テスト領域
に完全にアクセス可能であるようにされていることが好
ましいが、縁端部からの妨害信号をできるだけ低減する
ために、テスト領域を実質的にこえる（exceed）ことが
好ましい。測定開口は長方形であって、測定ヘッドに向
き合う面からテストストリップに向き合う面に向かって
先細りになっていることが好ましい。
【００１３】測定開口は、スペーサによって囲まれた、
スペーサの中の凹部であることが好ましい。該測定開口
は、スペーサによって一部のみが囲まれ、スペーサの端
縁に向かって開いているような凹部であってもよい。
スペーサの中の凹部であることが好ましい。該測定開口
は、スペーサによって一部のみが囲まれ、スペーサの端
縁に向かって開いているような凹部であってもよい。
【００１４】スペーサのとくに好ましい実施態様は、二
つまたはそれ以上の水平面を有する垂直側面を有するも
のである。これまでの経験から、測定精度を改善するた
めには、テスト領域の表面と測定ヘッドとのあいだが所
定の距離であって、その距離が各テスト領域に対して同
一であることが好ましい。反射光の測定強度はこの距離
に大いに依存するので、前記事項は重要である。従来の
テストストリップにおいては、テスト領域が異なると厚
さも異なるが、その厚さは比較的高い精度を有すること
が知られている。測定ヘッドはテストエレメントに対し
て一定距離で動くので、テスト領域の上端と測定ヘッド
とのあいだの距離が変化することが問題となる。そのた
めに、充分に数学的に説明できない誤差が生じることは
すでに述べたとおりである。テスト領域の表面と測定ヘ
ッドとのあいだの距離が一定であることが最も好ましい
ことが経験的に知られている。この距離を一定にするこ
とは、スペーサの二つまたはそれ以上の水平面を有する
垂直側面によって達成される。各テスト領域は測定開口
および測定ヘッドのための支持領域と関係している。テ
スト領域とその厚さが既知であると、該テスト領域、と
くに測定ヘッドとスペーサとの接触領域に関係するスペ
ーサの領域の厚さは、測定ヘッドとテスト領域とのあい
だの所定の距離を維持するように選択することができ
る。
つまたはそれ以上の水平面を有する垂直側面を有するも
のである。これまでの経験から、測定精度を改善するた
めには、テスト領域の表面と測定ヘッドとのあいだが所
定の距離であって、その距離が各テスト領域に対して同
一であることが好ましい。反射光の測定強度はこの距離
に大いに依存するので、前記事項は重要である。従来の
テストストリップにおいては、テスト領域が異なると厚
さも異なるが、その厚さは比較的高い精度を有すること
が知られている。測定ヘッドはテストエレメントに対し
て一定距離で動くので、テスト領域の上端と測定ヘッド
とのあいだの距離が変化することが問題となる。そのた
めに、充分に数学的に説明できない誤差が生じることは
すでに述べたとおりである。テスト領域の表面と測定ヘ
ッドとのあいだの距離が一定であることが最も好ましい
ことが経験的に知られている。この距離を一定にするこ
とは、スペーサの二つまたはそれ以上の水平面を有する
垂直側面によって達成される。各テスト領域は測定開口
および測定ヘッドのための支持領域と関係している。テ
スト領域とその厚さが既知であると、該テスト領域、と
くに測定ヘッドとスペーサとの接触領域に関係するスペ
ーサの領域の厚さは、測定ヘッドとテスト領域とのあい
だの所定の距離を維持するように選択することができ
る。
【００１５】測定が実行されるとき、測定ヘッドは一端
をスペーサの上に載せて静止している。測定ヘッドの接
触部における垂直側面の高さが変化するために、各テス
ト領域に対する該テスト領域表面と測定ヘッドとのあい
だの距離を一定かつ所定の値にすることができる。スペ
ーサは測定開口と関係する各領域を含むストリップ状の
領域を有することが好ましい。これらのそれぞれの領域
が、隣接する水平面と互いに傾斜面で接続されている一
定の高さの水平面を有することが好ましい。
をスペーサの上に載せて静止している。測定ヘッドの接
触部における垂直側面の高さが変化するために、各テス
ト領域に対する該テスト領域表面と測定ヘッドとのあい
だの距離を一定かつ所定の値にすることができる。スペ
ーサは測定開口と関係する各領域を含むストリップ状の
領域を有することが好ましい。これらのそれぞれの領域
が、隣接する水平面と互いに傾斜面で接続されている一
定の高さの水平面を有することが好ましい。
【００１６】評価処理のあいだ中、接触押圧装置がスペ
ーサ、テストエレメントおよびテストエレメント支持体
の配列に圧力を加える。そのため、スペーサまたは測定
ヘッドの支持端に起因する誤差だけが、テスト領域表面
と測定ヘッドとのあいだの距離に関係する。このように
スペーサとテストエレメント支持体とのあいだにテスト
エレメントをサンドイッチ状に配列することによって、
現在知られている測定の配列よりもかなり正確に評価で
きることが経験的に明らかとなった。
ーサ、テストエレメントおよびテストエレメント支持体
の配列に圧力を加える。そのため、スペーサまたは測定
ヘッドの支持端に起因する誤差だけが、テスト領域表面
と測定ヘッドとのあいだの距離に関係する。このように
スペーサとテストエレメント支持体とのあいだにテスト
エレメントをサンドイッチ状に配列することによって、
現在知られている測定の配列よりもかなり正確に評価で
きることが経験的に明らかとなった。
【００１７】本発明の接触押圧装置は、たとえば、測定
ヘッドがその自重によってスペーサに圧力を加えること
でその目的を果たすことができる。本発明によれば、測
定ヘッドがレバーを介して装置基部に取り付けられてい
るバネ構成を有することが好ましい。レバーは、スペー
サの長手軸に垂直に配置される。レバーの長さはおよそ
１センチメートル以上程度であるので、測定ヘッドがス
ペーサ側面の高さにそって動いても光学ユニットには考
慮すべき回転が生じない。測定ヘッドの傾斜を回避する
ために、スペーサ上の接触端は測定ヘッドがスペーサ上
に静止するように選ばれる。この接触端は、前述したス
ペーサ上の垂直側面の水平面よりも幅が小さいことが好
ましい。このような構成により、測定ヘッドとスペーサ
とが相対的に動くあいだ、測定ヘッドは光学ユニットに
考慮すべき傾きを生じさせることなく確実に垂直側面に
追従する。
ヘッドがその自重によってスペーサに圧力を加えること
でその目的を果たすことができる。本発明によれば、測
定ヘッドがレバーを介して装置基部に取り付けられてい
るバネ構成を有することが好ましい。レバーは、スペー
サの長手軸に垂直に配置される。レバーの長さはおよそ
１センチメートル以上程度であるので、測定ヘッドがス
ペーサ側面の高さにそって動いても光学ユニットには考
慮すべき回転が生じない。測定ヘッドの傾斜を回避する
ために、スペーサ上の接触端は測定ヘッドがスペーサ上
に静止するように選ばれる。この接触端は、前述したス
ペーサ上の垂直側面の水平面よりも幅が小さいことが好
ましい。このような構成により、測定ヘッドとスペーサ
とが相対的に動くあいだ、測定ヘッドは光学ユニットに
考慮すべき傾きを生じさせることなく確実に垂直側面に
追従する。
【００１８】前記レバー構成を用いることで、該レバー
はバネによってスペーサ、テストエレメントおよびテス
トエレメント支持体の配列に圧力を加えることができ
る。バネは、一方の側がレバーに取り付けられ、他方の
側がレバー支持体の基部に取り付けられている。
はバネによってスペーサ、テストエレメントおよびテス
トエレメント支持体の配列に圧力を加えることができ
る。バネは、一方の側がレバーに取り付けられ、他方の
側がレバー支持体の基部に取り付けられている。
【００１９】測定ヘッドとスペーサとを関係させて誘導
することは、スペーサにガイドレールを設けることによ
ってさらに改善できる。ガイドレールの目的は、測定ヘ
ッドを測定開口の中心上に、スペーサの長手軸と垂直な
方向に配置することである。この構成によって、スペー
サを配置するための労力をさらに軽減することができ
る。
することは、スペーサにガイドレールを設けることによ
ってさらに改善できる。ガイドレールの目的は、測定ヘ
ッドを測定開口の中心上に、スペーサの長手軸と垂直な
方向に配置することである。この構成によって、スペー
サを配置するための労力をさらに軽減することができ
る。
【００２０】スペーサの機能は、スペーサの下面すなわ
ちテストエレメントと向き合う面にテストエレメントを
保持するための凹部を設けることによってさらに改善す
ることが可能である。該凹部には、二つの隣接する測定
開口のあいだにクロスバーが設けられる。クロスバーを
設ける目的は、テストエレメントをテストエレメント支
持体に押しつけること、および隣接するテスト領域から
の妨害光線を除去することである。クロスバーは比較的
小さいか、またはテストエレメントとの接触面積を最小
にするためにテストストリップに向かう方向にしだいに
薄くなっていることが好ましい。このことは、一つのテ
ストエレメントからつぎのテストエレメントへのキャリ
オーバ（carry-over）を回避することに重要である。
ちテストエレメントと向き合う面にテストエレメントを
保持するための凹部を設けることによってさらに改善す
ることが可能である。該凹部には、二つの隣接する測定
開口のあいだにクロスバーが設けられる。クロスバーを
設ける目的は、テストエレメントをテストエレメント支
持体に押しつけること、および隣接するテスト領域から
の妨害光線を除去することである。クロスバーは比較的
小さいか、またはテストエレメントとの接触面積を最小
にするためにテストストリップに向かう方向にしだいに
薄くなっていることが好ましい。このことは、一つのテ
ストエレメントからつぎのテストエレメントへのキャリ
オーバ（carry-over）を回避することに重要である。
【００２１】テストエレメントの様々なテスト領域を調
べるために、測定ヘッドおよびテストエレメントは相対
的な動きをしなければならない。駆動モータが測定ヘッ
ドをテストエレメントの長手軸方向に動かすあいだ、ス
ペーサ、テストエレメントおよびテストエレメント支持
体の配列が変わらないことが好ましい。
べるために、測定ヘッドおよびテストエレメントは相対
的な動きをしなければならない。駆動モータが測定ヘッ
ドをテストエレメントの長手軸方向に動かすあいだ、ス
ペーサ、テストエレメントおよびテストエレメント支持
体の配列が変わらないことが好ましい。
【００２２】本発明は、テストエレメントがテストエレ
メント支持体と垂直側面および測定開口を有するスペー
サとのあいだに配置されるようテストエレメント評価方
法をも含んでいる。発光体およびセンサを有する測定ヘ
ッドは、テストエレメントのテスト領域の低減値（remi
ssion values）を測定するためにスペーサの測定開口に
そって移動させられる。
メント支持体と垂直側面および測定開口を有するスペー
サとのあいだに配置されるようテストエレメント評価方
法をも含んでいる。発光体およびセンサを有する測定ヘ
ッドは、テストエレメントのテスト領域の低減値（remi
ssion values）を測定するためにスペーサの測定開口に
そって移動させられる。
【００２３】本発明の方法を実行するために、前記評価
装置が使用される。テストエレメントを評価するため
に、前述のように各テスト領域が単一の測定ヘッドによ
って評価できるか、またはその評価が、各ヘッドが一つ
の特定タイプの光線を使用するようないくつかの測定ヘ
ッドを用いて実行されることができる。こうして、個々
のテスト領域を異なる波長で評価することができる。
装置が使用される。テストエレメントを評価するため
に、前述のように各テスト領域が単一の測定ヘッドによ
って評価できるか、またはその評価が、各ヘッドが一つ
の特定タイプの光線を使用するようないくつかの測定ヘ
ッドを用いて実行されることができる。こうして、個々
のテスト領域を異なる波長で評価することができる。
【００２４】さらに、単一の測定ヘッドの代わりに測定
ヘッドの配列を設けることも可能である。この配列にお
いて、個々の測定ヘッドは相対的に動くことが可能であ
って、スペーサによって制御されるあいだそれぞれのテ
スト領域表面と所定の距離にある。
ヘッドの配列を設けることも可能である。この配列にお
いて、個々の測定ヘッドは相対的に動くことが可能であ
って、スペーサによって制御されるあいだそれぞれのテ
スト領域表面と所定の距離にある。
【００２５】本発明の中心的特徴は、互いに隣同士に設
けられた一つまたはいくつかの測定開口を有する、テス
トエレメント評価のためのスペーサにある。該スペーサ
もまた所与の測定開口に関係する接触面領域の範囲内の
厚さが一定である垂直側面を有しており、一方、異なる
測定開口と関係する接触面は異なる厚さを有している。
けられた一つまたはいくつかの測定開口を有する、テス
トエレメント評価のためのスペーサにある。該スペーサ
もまた所与の測定開口に関係する接触面領域の範囲内の
厚さが一定である垂直側面を有しており、一方、異なる
測定開口と関係する接触面は異なる厚さを有している。
【００２６】従来技術とは対称的に、本発明では、装置
を調整する技術的な複雑さがスペーサの使用によって大
いに低減されており、装置に与えられた調節状態を操作
期間のあいだ維持することができる。さらに、異なる厚
さを有するテスト領域を単一の測定ヘッドで評価できる
ことも本発明の長所である。そのため、多くの異なる測
定ヘッドを考慮した調整は不要である。
を調整する技術的な複雑さがスペーサの使用によって大
いに低減されており、装置に与えられた調節状態を操作
期間のあいだ維持することができる。さらに、異なる厚
さを有するテスト領域を単一の測定ヘッドで評価できる
ことも本発明の長所である。そのため、多くの異なる測
定ヘッドを考慮した調整は不要である。
【００２７】
【発明の実施の形態】つぎに、本発明の評価装置を図を
参照しながらさらに詳細に説明する。
参照しながらさらに詳細に説明する。
【００２８】図１は、本発明の評価装置を示す説明図、
図２は本発明のスペーサを示す説明図、図３は前記スペ
ーサの下面図である。
図２は本発明のスペーサを示す説明図、図３は前記スペ
ーサの下面図である。
【００２９】図１は、測定ヘッド３ならびにスペーサ
２、テストストリップ２０およびテストエレメント支持
体４の配列を有する本発明の評価装置１を示す。本図よ
り、テスト領域２１ａがテスト領域２１ｂより厚さが薄
いことがわかる。スペーサ２においては、テスト領域２
１ｂの上方における厚さはテスト領域２１ａの上方の厚
さよりも厚い。また、スペーサ２の垂直側面が、テスト
エレメント支持体４と平行な水平面６、７を有すること
がわかる。両方の水平面６、７は傾斜面によって接続さ
れているので、測定ヘッド３を水平面６から水平面７ま
で押し進めるときに引っかかるおそれがない。測定ヘッ
ド３は駆動モータによってテストストリップ上を動く。
すべての測定のあいだ、平行板バネ９は測定ヘッド３を
スペーサ２の上に押しつける。テストストリップ２０の
上にある一定の接触圧力を及ぼすために、スペーサ２に
は該スペーサの測定開口同士のあいだを通るクロスバー
が設けられている。これによって、テストストリップ２
０が、テスト領域の範囲にあるテストエレメント支持体
の上に確実に押しつけられる。
２、テストストリップ２０およびテストエレメント支持
体４の配列を有する本発明の評価装置１を示す。本図よ
り、テスト領域２１ａがテスト領域２１ｂより厚さが薄
いことがわかる。スペーサ２においては、テスト領域２
１ｂの上方における厚さはテスト領域２１ａの上方の厚
さよりも厚い。また、スペーサ２の垂直側面が、テスト
エレメント支持体４と平行な水平面６、７を有すること
がわかる。両方の水平面６、７は傾斜面によって接続さ
れているので、測定ヘッド３を水平面６から水平面７ま
で押し進めるときに引っかかるおそれがない。測定ヘッ
ド３は駆動モータによってテストストリップ上を動く。
すべての測定のあいだ、平行板バネ９は測定ヘッド３を
スペーサ２の上に押しつける。テストストリップ２０の
上にある一定の接触圧力を及ぼすために、スペーサ２に
は該スペーサの測定開口同士のあいだを通るクロスバー
が設けられている。これによって、テストストリップ２
０が、テスト領域の範囲にあるテストエレメント支持体
の上に確実に押しつけられる。
【００３０】図２は、多数の測定開口１１が設けられて
いる本発明のスペーサ２を示している。それぞれの測定
開口はスペーサの水平面と関係しており、たとえば二つ
の部分１２ａ、１２ｂからなる水平面１２は測定開口１
１ａに関係している。測定のあいだ、測定ヘッドの支持
端は表面１２ａまたは１２ｂのいずれかの上に静止して
いる。
いる本発明のスペーサ２を示している。それぞれの測定
開口はスペーサの水平面と関係しており、たとえば二つ
の部分１２ａ、１２ｂからなる水平面１２は測定開口１
１ａに関係している。測定のあいだ、測定ヘッドの支持
端は表面１２ａまたは１２ｂのいずれかの上に静止して
いる。
【００３１】測定開口１１の上に測定ヘッド３を配置す
るガイドレール１３が図２に示されている。
るガイドレール１３が図２に示されている。
【００３２】その中にテストエレメントが静止する凹部
１４もスペーサ２の底面に示される。
１４もスペーサ２の底面に示される。
【００３３】評価装置の中にスペーサ２を挿入するため
に、スペーサ２には取っ手１５が設けられている。
に、スペーサ２には取っ手１５が設けられている。
【００３４】図３は、スペーサ２の底面図である。本図
は、クロスバー８、およびテストストリップ２０がスペ
ーサ２の下にあるときに、テストストリップ２０と接触
するガイドエレメント１０を示している。これらのガイ
ドエレメントに適合するために、テストエレメント支持
体４に凹部が設けられているので、ガイドエレメントは
スペーサとテストエレメント支持体とのあいだの距離に
影響を及ぼさない。
は、クロスバー８、およびテストストリップ２０がスペ
ーサ２の下にあるときに、テストストリップ２０と接触
するガイドエレメント１０を示している。これらのガイ
ドエレメントに適合するために、テストエレメント支持
体４に凹部が設けられているので、ガイドエレメントは
スペーサとテストエレメント支持体とのあいだの距離に
影響を及ぼさない。
【００３５】
【発明の効果】本発明の評価装置によれば、複雑な調整
が最小限に低減され、かつその調節された状態が装置を
操作するあいだにわたり安定しており、さらに、テスト
領域と測定ヘッドとのあいだの距離の誤差がわずかでし
かなく、測定精度が良好である。
が最小限に低減され、かつその調節された状態が装置を
操作するあいだにわたり安定しており、さらに、テスト
領域と測定ヘッドとのあいだの距離の誤差がわずかでし
かなく、測定精度が良好である。
【図１】本発明の評価装置を示す説明図である。
【図２】本発明のスペーサを示す説明図である。
【図３】前記スペーサの下面図である。
１ 評価装置 ２ スペーサ ３ 測定ヘッド ４ テストエレメント支持体 ６、７ 水平面 ８ クロスバー ９ 平行板バネ １０ ガイドエレメント １１、１１ａ 測定開口 １２ａ、１２ｂ 水平面 １３ ガイドレール １４ 凹部 １５ 取っ手 ２０ テストストリップ ２１ａ、２１ｂ テスト領域
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成７年７月１９日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【請求項２】 テストエレメント（２０）が、テストエ
レメント支持体（４）と二つまたはそれ以上の水平面を
有する垂直側面および測定開口（１１）を含むスペーサ
（２）とのあいだに配置され、一方、発光体およびセン
サを有する測定ヘッド（３）が、テストエレメントのテ
スト領域の低減値を測定するために、前記スペーサ
（２）の前記測定開口（１１）にそって動くことを特徴
とするテストエレメントを評価するための方法。
レメント支持体（４）と二つまたはそれ以上の水平面を
有する垂直側面および測定開口（１１）を含むスペーサ
（２）とのあいだに配置され、一方、発光体およびセン
サを有する測定ヘッド（３）が、テストエレメントのテ
スト領域の低減値を測定するために、前記スペーサ
（２）の前記測定開口（１１）にそって動くことを特徴
とするテストエレメントを評価するための方法。
【請求項３】 互いに隣に配置された二つまたはそれ以
上の測定開口（１１）を有する、テストエレメントを評
価するためのスペーサ（２）であって、ある一つの測定
開口に関係する接触面における厚さが一定である垂直側
面を有し、一方、異なる測定開口と関係する接触面は異
なる厚さを有することを特徴とするスペーサ。
上の測定開口（１１）を有する、テストエレメントを評
価するためのスペーサ（２）であって、ある一つの測定
開口に関係する接触面における厚さが一定である垂直側
面を有し、一方、異なる測定開口と関係する接触面は異
なる厚さを有することを特徴とするスペーサ。
Claims (10)
- 【請求項１】 発光体およびセンサを有する測定ヘッド
と、分析されるテストエレメントが配置されるテストエ
レメント支持体（４）と、テストエレメント（２０）と
測定ヘッド（３）とのあいだに配置されかつテストスト
リップのテスト領域（２１ａ、２１ｂ）の表面と前記測
定ヘッド（３）とのあいだの距離を規定する、一つまた
はいくつかの測定開口（１１）を有するスペーサ（２）
とからなる、隣接したテスト領域を有するテストエレメ
ントの反射率評価のための装置（１）であって、前記テ
ストエレメントが前記テストエレメント支持体と前記ス
ペーサとのあいだに配置され、かつ前記測定ヘッドが前
記スペーサの上に静止することを特徴とする反射率評価
装置。 - 【請求項２】 接触押圧装置が前記スペーサ（２）、前
記テストエレメント（２０）および前記テストエレメン
ト支持体（４）からなる配列の上に前記測定ヘッドを押
しつける請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 前記スペーサが前記測定ヘッドのための
二つまたはそれ以上の水平面（６、７）を有する垂直側
面を含み、かつ異なる測定開口と関係する前記水平面が
異なる厚さを有する請求項１記載の装置。 - 【請求項４】 前記スペーサ（２）が二つまたはそれ以
上の長方形の測定開口（１１）を有し、該測定開口（１
１）の面が、前記テスト領域（２１ａ、２１ｂ）の表面
と大きさが一致するかまたはこえるように配置と大きさ
が選択されている請求項１記載の装置。 - 【請求項５】 前記スペーサ（２）が、該スペーサ
（２）上を動くあいだ前記測定ヘッド（３）を誘導する
ためのガイドレール（１３）を有する請求項１記載の装
置。 - 【請求項６】 前記スペーサ（２）が、該スペーサ
（２）の下面すなわち前記テストエレメント（２０）の
方を向いている面に前記テストエレメントのための凹部
および隣接する測定開口同士（１１）のあいだを通るク
ロスバー（８）を有する請求項１記載の装置。 - 【請求項７】 前記測定開口（１１）の一つからつぎの
測定開口（１１）まで前記スペーサ（２）上を前記測定
ヘッド（３）を動かす、前記測定ヘッド（１１）のため
の駆動ユニットを有する請求項１記載の装置。 - 【請求項８】 前記テスト領域（２１ａ）の表面とそれ
に関係する接触面（６）とのあいだの距離が実質的に一
定である請求項１記載の装置。 - 【請求項９】 テストエレメント（２０）が、テストエ
レメント支持体（４）と二つまたはそれ以上の水平面を
有する垂直側面および測定開口（１１）を含むスペーサ
（２）とのあいだに配置され、一方、発光体およびセン
サを有する測定ヘッド（３）が、テストエレメントのテ
スト領域の低減値を測定するために、前記スペーサ
（２）の前記測定開口（１１）にそって動くことを特徴
とするテストエレメントを評価するための方法。 - 【請求項１０】 互いに隣に配置された二つまたはそれ
以上の測定開口（１１）を有する、テストエレメントを
評価するためのスペーサ（２）であって、ある一つの測
定開口に関係する接触面における厚さが一定である垂直
側面を有し、一方、異なる測定開口と関係する接触面は
異なる厚さを有することを特徴とするスペーサ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4425432A DE4425432A1 (de) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | Auswertevorrichtung zur reflektometrischen Auswertung von Testelementen |
| DE4425432.6 | 1994-07-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0862134A true JPH0862134A (ja) | 1996-03-08 |
| JP2823529B2 JP2823529B2 (ja) | 1998-11-11 |
Family
ID=6523520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7181382A Expired - Fee Related JP2823529B2 (ja) | 1994-07-19 | 1995-07-18 | スペーサならびに該スペーサを用いた反射率評価装置および方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5665310A (ja) |
| EP (1) | EP0693684B1 (ja) |
| JP (1) | JP2823529B2 (ja) |
| KR (1) | KR0181733B1 (ja) |
| AT (1) | ATE232296T1 (ja) |
| DE (2) | DE4425432A1 (ja) |
| ES (1) | ES2192196T3 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6394952B1 (en) | 1998-02-03 | 2002-05-28 | Adeza Biomedical Corporation | Point of care diagnostic systems |
| US6267722B1 (en) | 1998-02-03 | 2001-07-31 | Adeza Biomedical Corporation | Point of care diagnostic systems |
| USD432244S (en) * | 1998-04-20 | 2000-10-17 | Adeza Biomedical Corporation | Device for encasing an assay test strip |
| USD434153S (en) * | 1998-04-20 | 2000-11-21 | Adeza Biomedical Corporation | Point of care analyte detector system |
| US6908008B2 (en) * | 2001-12-21 | 2005-06-21 | Lifescan, Inc. | Test device with means for storing and dispensing diagnostic strips |
| US7378270B2 (en) * | 2003-11-10 | 2008-05-27 | Sentec Scientific, Inc. | Device for analyte measurement |
| US7447168B2 (en) * | 2004-11-10 | 2008-11-04 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | System and method for auto-negotiation in a data communication device |
| KR101339778B1 (ko) * | 2012-03-23 | 2014-02-13 | (주)대경산업 | 요화학 분석기 |
Citations (4)
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| JPS6214371U (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-28 | ||
| JPS63135268U (ja) * | 1987-02-27 | 1988-09-05 | ||
| JPH04276526A (ja) * | 1990-12-17 | 1992-10-01 | Hewlett Packard Co <Hp> | 色測定装置及び色較正システム |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS59779B2 (ja) * | 1977-01-20 | 1984-01-09 | 株式会社京都第一科学 | 尿等の分析方法 |
| JPS5932851A (ja) * | 1982-08-19 | 1984-02-22 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 血液の簡易型分析装置 |
| US4689202A (en) * | 1984-09-11 | 1987-08-25 | Miles Laboratories, Inc. | Reagent test strip reading instrument |
| US4876204A (en) * | 1984-10-11 | 1989-10-24 | Kabushiki Kaisha Kyoto Daiichi Kagaku | Method and apparatus of automatic continuous analysis using analytical implement |
| JPS6315164A (ja) * | 1986-07-07 | 1988-01-22 | Tosoh Corp | 生化学分析装置のテストパツク選択供給装置 |
| JPH0442777Y2 (ja) * | 1986-09-03 | 1992-10-09 | ||
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| US5039615A (en) * | 1987-04-11 | 1991-08-13 | Kabushiki Kaisha Kyoto Daiichi Kagaku | Method for chemically analyzing a test piece |
| JP2546701B2 (ja) * | 1988-01-18 | 1996-10-23 | 富士写真フイルム株式会社 | 血液等の供給方法 |
| US5037613A (en) * | 1989-03-16 | 1991-08-06 | Eastman Kodak Company | Incubator |
| US5209903A (en) * | 1989-09-06 | 1993-05-11 | Toa Medical Electronics, Co., Ltd. | Synthetic apparatus for inspection of blood |
| DE3940152A1 (de) * | 1989-12-05 | 1991-06-06 | Boehringer Mannheim Gmbh | Teststreifenauswertegeraet fuer mehrfachteststreifen |
-
1994
- 1994-07-19 DE DE4425432A patent/DE4425432A1/de not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-07-14 DE DE59510546T patent/DE59510546D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-14 ES ES95111144T patent/ES2192196T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-14 EP EP95111144A patent/EP0693684B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-14 AT AT95111144T patent/ATE232296T1/de active
- 1995-07-18 JP JP7181382A patent/JP2823529B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-18 KR KR1019950021724A patent/KR0181733B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-18 US US08/503,695 patent/US5665310A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4979578A (ja) * | 1972-12-06 | 1974-08-01 | ||
| JPS6214371U (ja) * | 1985-07-10 | 1987-01-28 | ||
| JPS63135268U (ja) * | 1987-02-27 | 1988-09-05 | ||
| JPH04276526A (ja) * | 1990-12-17 | 1992-10-01 | Hewlett Packard Co <Hp> | 色測定装置及び色較正システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0693684B1 (de) | 2003-02-05 |
| DE4425432A1 (de) | 1996-01-25 |
| EP0693684A2 (de) | 1996-01-24 |
| EP0693684A3 (de) | 1997-02-12 |
| KR0181733B1 (ko) | 1999-05-15 |
| ATE232296T1 (de) | 2003-02-15 |
| ES2192196T3 (es) | 2003-10-01 |
| DE59510546D1 (de) | 2003-03-13 |
| US5665310A (en) | 1997-09-09 |
| JP2823529B2 (ja) | 1998-11-11 |
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