JPH0863444A - Eeprom内蔵マイクロコンピュータ及びeeprom内蔵マイクロコンピュータの製造方法 - Google Patents

Eeprom内蔵マイクロコンピュータ及びeeprom内蔵マイクロコンピュータの製造方法

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JPH0863444A
JPH0863444A JP6196626A JP19662694A JPH0863444A JP H0863444 A JPH0863444 A JP H0863444A JP 6196626 A JP6196626 A JP 6196626A JP 19662694 A JP19662694 A JP 19662694A JP H0863444 A JPH0863444 A JP H0863444A
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JP6196626A
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Toshiyuki Matsubara
利行 松原
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Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp
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Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/102External programming circuits, e.g. EPROM programmers; In-circuit programming or reprogramming; EPROM emulators

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 EEPROMを外部から直接制御してデータ
の書き込み及び読み出しができるとともに、外部からの
EEPROMの直接制御の可否を切り換えられるEEP
ROM内蔵マイクロコンピュータ及びその製造方法を得
る。 【構成】 EEPROM8の書き込み及び読み出しを、
CPU2を介して行うための第一の入出力手段6、P1
〜P5と、外部から直接行うための第二の入出力手段P
6〜P32と、第二の入出力手段における外部からの入
出力の可否を切り換えるための切換制御手段9、10と
が設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、EEPROM内蔵マ
イクロコンピュータ、及び、EEPROM内蔵マイクロ
コンピュータの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図10は、従来のEEPROM内蔵マイ
クロコンピュータの構造を示したブロック図で、たとえ
ばICカード等に搭載されて使用されるものである。図
10に示すように、マイクロコンピュータ1は、データ
を処理するためのCPU2と、CPU2が処理を行うた
めの処理プログラムを格納しているROM3と、一時的
にデータの格納を行うためのRAM4と、常時データの
格納を行い必要に応じて書き換えを行うためのEEPR
OM5と、外部とのデータの入出力を制御する入出力回
路6と、またこれらの各機能を電気的に接続しているシ
ステムバス7とで構成されている。また、ICカード専
用のマイクロコンピュータ1には、ISO(国際標準化
機構)の規格により、外部との入出力端子として用いら
れる5つの端子、即ち、VDD端子P1、GND端子P
2、RST(リセット)端子P3、CLK(クロック)
端子P4、I/O端子P5が設けられている。
【0003】次に動作について説明する。マイクロコン
ピュータ1は、外部からVDD端子P1、GND端子P
2、RST端子P3、CLK端子P4にそれぞれ信号が
入力されると動作を開始する。また、マイクロコンピュ
ータ1は、外部とI/O端子P5を介してシリアルでデ
ータの授受を行い、入出力回路6においてシリアルで入
力されたデータをシリアル/パラレル変換しパラレルデ
ータにして、システムバス7を介してCPU2に伝達す
る。CPU2は、ROM3に格納されている処理プログ
ラムに従って処理を行い、一時的に格納が必要なデータ
はRAM4に格納し、常時格納が必要なデータはEEP
ROM5へ格納する。また、処理結果等のように外部へ
出力するデータは入出力回路6においてパラレル/シリ
アル変換によりシリアルデータに変換されて、I/O端
子P5を介してシリアルで外部へ出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上のように従来のE
EPROM内蔵マイクロコンピュータ1に内蔵されてい
るEEPROM5は、CPU2の制御によってのみ書き
込み/読み出しの制御がされていた。また、従来のEE
PROM内蔵マイクロコンピュータ1においては、上述
したように、外部とシリアルでデータの入出力を行うた
めEEPROM5へのデータの書き込み時間が増大し、
特に、テスト段階で多数回(たとえば1万回程度)の書
き込みテストを行ったりする場合には、書き込みテスト
に膨大な時間がかかってしまうという問題があった。ま
た、出荷時においてもEEPROM5の全エリアに初期
データを書き込んで出荷する場合、シリアルでデータの
書き込みを行っていると膨大な時間がかかってしまうと
いう問題があった。
【0005】不揮発生メモリとしてのEEPROM5は
記憶したデータの保持を電源バックアップを行わずにで
き(電源をオフしてもデータが消えない)、電気的に書
換も可能なため最近特に注目を浴びている。EEPRO
M5は、以前からその構想が進められていたものの、そ
の製造方法が困難であったため、製造技術の進歩に伴っ
て最近になってようやくマイクロコンピュータ1に内蔵
され始めてきた。しかしながら、マイクロコンピュータ
1とEEPROM5を同一チップ上に形成することはま
だまだ難しく、特により大容量のEEPROMを搭載す
る場合や、より微細化したプロセスで製造する場合に
は、製造後にCPU2とEEPROM5の両方を一回の
評価テストで最初から正常に動作させることは難しく、
CPU2の制御でのみEEPROM5が動作する場合、
EEPROM5以外の周辺機能が確実に動作するまでは
EEPROM5を評価することが出来ないという問題が
あった。
【0006】そのため、これらの問題点を解決する手段
として、たとえば特開平5−165980に開示されて
いるようなEEPROM内蔵マイクロコンピュータにお
いて、外部から直接的にEEPROMデータの書き込み
/読み出しを可能にすることが考えられた。図11にそ
の構造を示す。図のように、EEPROM118にコン
トロール部119が電気的に接続されており、コントロ
ール部119には2つの端子、SCL端子111及びS
DA端子112が接続されている。コントロール部11
9内には、SCL端子111に接続されている制御回路
113と、制御回路113に接続され、書き込み動作の
ための高電圧を発生する書き込み電圧発生回路115と
が設けられている。また、アドレスカウンタ114、デ
ータレジスタ116、及び、データ出力回路117が設
けられ、それらはSDA端子112に電気的に接続され
ている。SDA端子112には制御回路113も接続さ
れており、また、制御回路113及びデータ出力回路1
17はデータレジスタ116に接続されており、アドレ
スカウンタ114及びデータレジスタ116はEEPR
OM118に接続されている。
【0007】動作について説明する。まず、EEPRO
M118にデータの書き込みを行う場合について説明す
る。SCL端子111から制御回路113を介してアド
レスカウンタ114に、データを書き込みたいEEPR
OM18のアドレスを示すアドレスデータを入力してE
EPROM118に送信し、書き込みを行うことを宣言
するため書き込み信号をSDA端子112に入力する。
さらにSDA端子112から書き込みたいデータをデー
タレジスト116に入力し、8ビット揃った時点で、ア
ドレスカウンタ114に入力されているアドレスデータ
のアドレスにデータを送信し、書き込み電圧発生回路1
15から発生された高電圧により書き込みを行う。一
方、データの読み出しを行う場合は、SCL端子111
から制御回路113を介して、アドレスカウンタ114
に、データを読み出したいEEPROM118のアドレ
スを示すアドレスデータを入力し、読み出しを行うこと
を宣言するため読み出し信号をSDA端子112に入力
する。EEPROM118からデータレジスタ116に
送信されたデータは出力回路117を介してSDA端子
112に送られ、読み出しが行われる。
【0008】以上のような構成にしたことにより、EE
PROM118へのデータの書き込み/読み出しがCP
U2(図10参照)を介することなく行えるという利点
が得られた。しかしながら、通常EEPROM内蔵マイ
クロコンピュータを搭載して製品化されたICカード等
は銀行カードやクレジットカード等に用いられる場合が
多く、その際EEPROM118へは金銭データや取引
データ等重要なデータを記憶させる場合が一般的であ
り、ICカード等に用いられるEEPROM内蔵マイク
ロコンピュータでは外部から直接EEPROMのデータ
を書き換えたり読み出したり出来る事はデータの安全性
上の問題があった。
【0009】また、EEPROM内蔵マイクロコンピュ
ータにおいては、EEPROMの種々の機能を実現する
ため、動作モードを変更するための動作レジスタを内蔵
している場合が一般的である。たとえば、動作レジスタ
の1つとしてのステータスレジスタは、そこに決められ
た値を設定することで、EEPROMの書き込みモード
を変更することができる。通常は、動作レジスタは、R
AM4内やEEPROMに補助領域を設けて内蔵する場
合が一般的であるため、CPU2の制御によってのみ動
作レジスタの内容の設定が行われるため、CPU2が確
実に動作しない場合には動作レジスタの内容の設定がで
きず、EEPROM5の評価テストの際に、動作モード
が変更できず評価内容が充実しないという問題があっ
た。
【0010】この発明は、上記の課題を解決するために
なされたもので、EEPROMを外部から直接、パラレ
ルデータによる書き込み/読み出し制御できるととも
に、外部からの制御の可否を選択できるようにして、出
荷時のEEPROMのテスト時間を大幅に短縮し、か
つ、データの安全性も向上させるためのEEPROM内
蔵マイクロコンピュータ及びその製造方法を得ることを
目的とする。
【0011】さらに、出荷時のEEPROMのテストの
際に動作モードを変更するための動作レジスタを外部か
ら直接制御できるようにし、充実した評価内容のテスト
が行えるEEPROM内蔵マイクロコンピュータ及びそ
の製造方法を得ることをも目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明に係るEEPR
OM内蔵マイクロコンピュータにおいては、中央処理手
段と、電気的にデータの書き込み及び読み出しが可能な
不揮発性メモリであるEEPROMと、中央処理手段に
電気的に接続され、EEPROMのデータの書き込み及
び読み出しを中央処理手段の制御により行うための信号
の入出力を外部と行うための第一の入出力手段と、EE
PROMに電気的に接続され、EEPROMのメモリの
書き込み及び読み出しを外部から直接行うための信号の
入出力を行うための第二の入出力手段と、EEPROM
と第一の入出力手段及び第二の入出力手段との間に電気
的に接続されて、第一の入出力手段からの信号と第二の
入出力手段からの信号とを選択し切り換えるための信号
切換制御手段と、信号切換制御手段と第二の入出力手段
との間に電気的に接続され、中央処理手段の制御によ
り、第二の入出力手段による外部との入出力の可否を切
り換えるための外部入出力可否切換制御手段とを備えて
いる。
【0013】請求項2の発明は、中央処理手段と、不揮
発性メモリを有し、電気的にそのメモリの書き込み及び
読み出しが可能なEEPROMと、中央処理手段に電気
的に接続され、EEPROMのメモリの書き込み及び読
み出しを中央処理手段を介して行うための信号の入出力
を外部と行うための第一の入出力手段と、EEPROM
に電気的に接続され、EEPROMのメモリの書き込み
及び読み出しを外部から直接行うための信号の入出力を
行うための第二の入出力手段と、EEPROMと第一の
入出力手段及び第二の入出力手段との間に電気的に接続
されて、第一の入出力手段からの信号と第二の入出力手
段からの信号とを選択し切り換えるための信号切換制御
手段と、中央処理手段に電気的に接続されるとともに、
第二の入出力手段に電気的に接続されて、中央処理手段
または第二の入出力手段を介してEEPROMの動作モ
ードが設定される動作レジスタとを備えている。
【0014】請求項3の発明は、信号切換制御手段及び
動作レジスタと、第二の入出力手段と、の間に電気的に
接続され、中央処理手段の制御により、第二の入出力手
段による外部からの入出力の可否を切り換えるための外
部入出力可否切換制御手段を備えている。
【0015】請求項4の発明は、EEPROMと動作レ
ジスタとを同一メモリマップ上に構成したものである。
【0016】請求項5の発明は、外部入出力可否切換制
御手段を、初期状態に、外部からの入出力が可能な状態
に設定するための初期設定手段を備えている。
【0017】請求項6の発明は、中央処理手段と、電気
的にデータの書き込み及び読み出しが可能な不揮発性メ
モリであるEEPROMと、中央処理手段に電気的に接
続され、EEPROMのデータの書き込み及び読み出し
を中央処理手段を介して行うための信号の入出力を行う
ための第一の入出力手段と、EEPROMに電気的に接
続され、EEPROMのデータの書き込み及び読み出し
を外部から直接行うための信号の入出力を外部と行うた
めの第二の入出力手段と、EEPROMと第一の入出力
手段及び第二の入出力手段との間に電気的に接続され
て、第一の入出力手段からの信号と第二の入出力手段か
らの信号とを選択し切り換えるための信号切換制御手段
と、信号切換制御手段と第二の入出力手段との間に電気
的に接続され、中央処理手段の制御により、第二の入出
力手段による外部との入出力の可否を切り換えるための
外部入出力可否切換制御手段とを備えたEEPROM内
蔵マイクロコンピュータを形成する工程と、第一の入出
力手段及び中央処理手段を介して、EEPROMのデー
タの書き込み及び読み出しのテストを行う工程と、第二
の入出力手段を介して、EEPROMのデータの書き込
み及び読み出しのテストを外部から直接行う工程と、E
EPROMに初期データを書き込む工程と、第二の入出
力手段による外部との入出力を上記外部入出力可否切換
制御手段により禁止する工程とを備えたEEPROM内
蔵マイクロコンピュータの製造方法である。
【0018】請求項7の発明は、上記EEPROM内蔵
マイクロコンピュータが、中央処理手段に電気的に接続
されるとともに、第二の入出力手段に電気的に接続され
て、中央処理手段または第二の入出力手段を介してEE
PROMの動作モードが設定される動作レジスタを備
え、動作レジスタに第二の入出力手段を介してEEPR
OMの動作モードを設定する工程とを備えている。
【0019】請求項8の発明は、請求項2記載のEEP
ROM内蔵マイクロコンピュータを形成する工程と、第
一の入出力手段及び中央処理手段を介して、EEPRO
Mのデータの書き込み及び読み出しのテストを行う工程
と、動作レジスタに第二の入出力手段を介してEEPR
OMの動作モードを設定する工程と、第二の入出力手段
を介して、EEPROMのデータの書き込み及び読み出
しのテストを外部から直接行う工程と、EEPROMに
初期データを書き込む工程とを備えたEEPROM内蔵
マイクロコンピュータの製造方法である。
【0020】請求項9の発明は、EEPROMと動作レ
ジスタとが同一メモリマップ上に構成される。
【0021】
【作用】請求項1の発明においては、EEPROMのメ
モリの書き込み及び読み出しを外部から直接行うための
第二の入出力手段と、第二の入出力手段における外部と
の入出力の可否を切り換えるための外部入出力可否切換
制御手段とを設けるようにしたので、EEPROMメモ
リへの連続書き込みテストのように従来は時間のかかっ
ていた工程を迅速に行うとともに、上記切換制御手段に
より外部との入出力の可否を切り換えるので、出荷時に
外部との入出力を禁止する状態に切り換えておけば、市
場においてデータが書き換えられたり読み出されたりす
ることを防止する。
【0022】請求項2の発明においては、EEPROM
のメモリの書き込み及び読み出しを外部から直接行うた
めの第二の入出力手段を設け、EEPROMの動作レジ
スタの制御も第二の入出力手段を介して外部から直接す
るようにしたので、EEPROMメモリへの連続書き込
みテストのように従来は時間のかかっていた工程を迅速
に行うとともに、動作レジスタの内容を外部から自由に
設定してEEPROMの評価テストを行う。
【0023】請求項3の発明においては、EEPROM
のメモリの書き込み及び読み出しを外部から直接行うた
めの第二の入出力手段と、第二の入出力手段における外
部との入出力の可否を切り換えるための外部入出力可否
切換制御手段とを設け、さらに、EEPROMの動作レ
ジスタの制御も第二の入出力手段を介して外部から直接
するようにしたので、EEPROMメモリへの連続書き
込みテストのように従来は時間のかかっていた工程を迅
速に行うとともに、動作レジスタの内容を外部から自由
に設定してEEPROMの評価テストを行い、さらに、
上記切換制御手段により外部との入出力の可否を切り換
えるので、出荷時に外部との入出力を禁止する状態に切
り換えておけば、市場においてデータが書き換えられた
り読み出されたりすることを防止する。
【0024】請求項4の発明においては、EEPROM
のメモリと動作レジスタとが同一メモリマップ上に構成
されているので、上記第二の入出力手段に、単に、EE
PROMのメモリのアドレスを設定するか、動作レジス
タのアドレスを設定するかによって、EEPROMのメ
モリと動作レジスタのいずれにおいても容易にデータの
書き込み及び読み出しが行われる。
【0025】請求項5の発明においては、外部入出力可
否切換制御手段を、初期状態に外部からの入出力が可能
な状態に設定するようにした初期設定手段を設けたの
で、電源投入時に自動的に外部からの直接制御を許可す
る状態に設定されている。
【0026】請求項6の発明においては、EEPROM
のメモリへの連続書き込みテストのように従来は時間の
かかっていた工程も、EEPROMを外部から直接制御
して迅速に行い、その後に、外部入出力可否切換制御手
段により外部との入出力の可否が切り換えられるので、
出荷時に外部との入出力を禁止する状態に切り換えてお
けば、市場においてデータが書き換えられたり読み出さ
れたりすることを防ぐことができるEEPROM内蔵マ
イクロコンピュータの製造方法を得る。
【0027】請求項7の発明においては、外部から制御
できる動作レジスタを設けて、外部から動作レジスタの
内容を自由に変更してEEPROMの評価テストを行う
ようにしたので、評価内容を充実させて評価テストを行
う。
【0028】請求項8の発明においては、EEPROM
のメモリへの連続書き込みテストのように従来は時間の
かかっていた工程も、EEPROMを外部から直接制御
して迅速に行い、さらに、外部から制御できる動作レジ
スタを設けて、外部から動作レジスタの内容を自由に変
更してEEPROMの評価テストを行うようにしたの
で、評価内容を充実させて評価テストを行うことができ
るEEPROM内蔵マイクロコンピュータの製造方法が
得られる。
【0029】請求項9の発明においては、EEPROM
のメモリと動作レジスタとが同一メモリマップ上に構成
されているので、上記第二の入出力手段に、単に、EE
PROMのメモリのアドレスを設定するか、動作レジス
タのアドレスを設定するかによって、EEPROMのメ
モリと動作レジスタのいずれにおいても容易にデータの
書き込み及び読み出しを行うことができ、より迅速かつ
効率的に評価テストを行う。
【0030】
【実施例】
実施例1.図1は、本発明の実施例によるEEPROM
内蔵マイクロコンピュータ27の構造を示したブロック
図である。図1に示すように、本発明のマイクロコンピ
ュータ27は、中央処理手段であるCPU2を介さずに
外部からの直接制御によってデータの書き換え/読み出
しが単体で可能なEEPROM8と、EEPROM8の
外部からの直接制御の可否を制御するための制御レジス
タ9とが設けられており、それらはシステムバス7に電
気的に接続されている。また、制御スイッチ10が制御
レジスタ9に電気的に接続されており、CPU2の制御
による制御レジスタ9の設定により、EEPROM8へ
の外部入力信号の入力の可否を切り換える。制御スイッ
チ10には、EEPROM8の外部からの直接制御のた
めの上記の外部入力信号が入力される専用端子P6〜P
32が接続されている。専用端子P6〜P32のうち、
P6〜P19はアドレスバス端子(AD0〜AD13)
であり、P20〜P27はデータバス端子(DB0〜D
B7)で、P28〜P32は単体で動作するための制御
信号端子で、それぞれ、VDD端子、GND端子、CL
K(クロック)端子、R/W(読み出し/書き込み)信
号入力端子、及び、外部からの直接制御により単体での
動作モードへ強制的にするための信号が入力されるEE
MOD端子である。他の構造については、図10に示し
た従来例と同一であるため、ここでは説明は省略する。
【0031】この実施例においては、従って、入出力回
路6及び入出力端子P1〜P5が、CPU2を介してE
EPROM8の書き込み/読み出しを行うための第一の
入出力手段を構成しており、専用端子P6〜P32が、
CPU2を介さずにEEPROM8を単体で動作させる
ために外部から直接制御する第二の入出力手段を構成し
ており、制御レジスタ9及び制御スイッチ10が上記の
第二の入出力手段による外部との入出力の可否を切り換
えるための外部入出力可否切換制御手段を構成してい
る。
【0032】次に動作について説明する。まず、EEP
ROM8に、外部から直接制御してデータの書き込み及
び読み出しを行う場合について説明する。マイクロコン
ピュータ27に電源投入後、CPU2により、制御レジ
スタ9を、EEPROM8の外部からの直接制御を許可
する許可状態に設定する。許可状態に設定した後に、E
EPROM8の外部からの直接制御のための外部入力端
子であるVDD端子P28及びGND端子P29に電圧
を印加し、EEMOD端子P32に“L”レベルの信号
を与えることによって、EEPROM8が外部から直接
制御されるモードに入ることが出来る。EEMOD端子
P32に入力されたEEMOD信号は制御スイッチ10
を介してEEPROM8へ入力される。
【0033】制御スイッチ10の回路の一例を図2に示
す。スイッチ回路10は、図2に示すように、複数のN
ORゲート10aと各NORゲート10aに電気的に接
続されたインバーター10bとで構成されている。制御
レジスタ9の出力が図のように、NORゲートの片側の
入力に接続されているので、制御レジスタ9の出力が
“H”の時は、NORゲートの出力が固定されて外部端
子からの入力がEEPROM8へ入力されず、制御レジ
スタ9の出力が“L”の時は外部端子からの入力がEE
PROM8へ入力される。
【0034】次にEEPROM8について図3を用いて
説明する。EEPROM8には、アドレスバス端子P6
〜P19、データバス端子P20〜P27、制御信号端
子P28〜P31に外部から入力され、制御スイッチ1
0、並びに、アドレスバスB6〜B19、データバスB
20〜B27、及び、制御信号バスB28〜B31を介
してEEPROM8に入力される信号と、マイクロコン
ピュータ27のシステムバス7からEEPROM8に入
力される信号とを、それぞれ、EEMOD端子P32に
外部から入力されるEEMOD信号により、選択し切り
換えるための信号切換制御手段である3つの切り換え制
御回路、すなわち、アドレス切り換え制御回路25、デ
ータバス切り換え制御回路26、及び、制御信号切り換
え制御回路24とが設けられている。ここで、この実施
例においては、図のように、3つの切り換え制御回路2
4〜26がEEPROM8に内蔵されている例を示した
が、その場合に限らず、別個に設けるようにしてもよ
い。さらに、図2の制御スイッチ10を、3つの切り換
え制御回路24〜26内に設けるようにしてもよい。
【0035】また、EEPROM8には、データを格納
するためのメモリセルアレイ11と、メモリセルアレイ
11内のメモリセルを選択するためのコラムデコーダ1
5及びロウデコーダ14とが設けられている。アドレス
切り換え制御回路25には、アドレス切り換え制御回路
25で選択されたアドレスをラッチするためのアドレス
ラッチ17が設けられ、アドレスラッチ17にはコラム
デコーダ15及びロウデコーダ14とが接続されてい
る。また、制御信号切り換え制御回路24には、EEP
ROM8全体を制御するためのEEPROM制御回路2
3が電気的に接続されている。また、EEPROM制御
回路23には、高電圧VPPを発生するためのVPP発
生回路22が設けられ、EEPROM制御回路23の制
御によりVPPスイッチ12に高電圧VPPが供給され
る。また、書き込みデータを一時的にラッチするための
コラムラッチ13が設けられている。さらに、メモリセ
ルアレイ11にはYゲート16が設けられており、Yゲ
ート16には、データバス切り換え制御回路26に電気
的に接続され、データ書き込み時に用いられる書き込み
バッファ18及びデータラッチ19と、データ読み出し
時に用いられるセンスアンプ21及び出力バッファ20
とが電気的に接続されている。
【0036】次に、動作について説明する。EEPRO
M8全体は上述したようにEEPROM制御回路23に
よって制御され、制御信号切り換え制御回路24によっ
て選択された制御信号がEEPROM制御回路23に入
力されEEPROM8の各機能ブロックへ信号が供給さ
れる。EEPROM8の書き込み及び読み出し動作とし
ては、EEMOD端子23に外部から入力されたEEM
OD信号の信号状態によって、アドレス切り換え制御回
路25で選択されたアドレスをアドレスラッチ17でラ
ッチし、ラッチされたアドレスデータに従ってコラムデ
コーダ15とロウデコーダ14とでメモリセルアレイ1
1内のメモリセルが選択される。データの書き込み時は
EEPROM制御回路23よりWR信号(書き込み信
号)が各機能ブロックへ供給され、データバス切り換え
制御回路26で選択されたデータ信号がデータラッチ1
9でラッチされた後、書き込みバッファ18に蓄えら
れ、その後Yゲート16を介して、コラムラッチ13に
ラッチされた後、制御回路23の制御でVPP発生回路
22で昇圧した高電圧VPPをVPPスイッチ12に供
給し書き込みを実施する。データの読み出し時は、ロウ
デコーダ14及びコラムデコーダ15で選択されたメモ
リセルアレイ11内のメモリセルに蓄えているデータを
制御回路23のRD信号(読み出し信号)の出力タイミ
ングで、Yゲート16及びセンスアンプ21を介して、
出力バッファ20にラッチし、データバス切り換え制御
回路26の選択によって外部データバス端子P20〜P
27またはシステムバス7へデータが出力される。
【0037】切り換え制御回路24、25及び26は同
じ構造の回路から構成すればよく、その一例を図4に示
す。図4に示すように、NANDゲート24cとORゲ
ート24a及び24bとから構成された複合ゲートと、
インバーター24d及び24eとにより構成されてい
る。各NANDゲート24cには、図のように、2つの
ORゲート24a及び24bが電気的に接続されてお
り、専用端子P6〜P19、P20〜P27、または、
P28〜P31に外部から入力され、制御スイッチ10
を通って送信されてきた外部入力信号と、システムバス
7から送信されてきた信号とを切り換える。制御スイッ
チ10を通って送信されてきたEEMOD端子P32か
らの出力をNANDゲート24cに接続された一方のO
Rゲート24aの片側の入力に接続し、専用端子P6〜
P19、P20〜P27、または、P28〜P31の出
力をそのORゲート24aのもう片側の入力に接続す
る。また、EEMOD端子P32からの出力をインバー
ター24eで反転し、その反転信号をNANDゲート2
4cに接続された他方のORゲート24bの片側の入力
に接続し、システムバス7からの信号をそのORゲート
24bのもう片側の入力に接続する。EEMOD端子P
32に入力された信号が“H”の時はシステムバス7の
信号が出力され、EEMOD端子P32に入力された信
号が"L"の時は外部入力信号が出力される。
【0038】以上がEEPROM8を外部から直接制御
して読み出し及び書き込みを行う場合の説明であるが、
次に外部からの直接制御を禁止する場合について説明す
る。外部からの直接制御を禁止する場合は、CPU2の
制御によって制御レジスタ9を禁止状態にすることによ
り、制御レジスタ9の出力が“H”となり、図2に示し
た制御スイッチ10のNORゲート10aの出力が固定
されて、外部に設けられた専用端子P6〜P31からの
入力を全く受け付けずEEPROM8への直接の書き込
み/読み出しが禁止状態となる。
【0039】また、上記実施例1ではマイクロコンピュ
ータ27の電源投入後に、CPU2が制御レジスタ9を
設定する例を示したが、制御レジスタ9の初期設定手段
として、例えば図2の破線で示すプルダウン抵抗A等を
設けておき、電源投入時に自動的に外部からの直接制御
を許可する状態に制御レジスタ9を設定するようにすれ
ば、CPU2等が動作していなくてもEEPROM8だ
けを外部から直接制御して単体で動作させることが可能
になる。この場合、出荷後のデータの安全性を考慮すれ
ば、出荷前のテスト及び初期データの書き込み等を行っ
た後に、プルダウン抵抗Aを焼き切るようにすればよ
い。或は、他の初期設定手段として、制御レジスタ9の
出力の初期値が“L”になるように製造工程時に制御レ
ジスタ9を設定するようにしてもよい。
【0040】以上のように、この実施例におけるEEP
ROM内蔵マイクロコンピュータによれば、出荷前のテ
スト工程においてEEPROM8の周辺機能が確実に動
作していない場合においても、EEPROM8へのデー
タの書き込み/読み出しをCPU2を介さずに外部から
専用端子により直接かつパラレルで行えるようにしたの
で、連続書き込み等の従来は膨大な時間がかかっていた
テストも迅速に行えると共に、制御レジスタ9を設けて
CPU2の制御によって外部からの制御の可否を選択で
きるようにしたので、出荷時にEEPROM8への外部
からの直接制御を禁止するように設定しておけば、市場
においてEEPROM8のデータを簡単に書き換えたり
読み出したりすることが出来ないので、データの安全性
を確保することができる。
【0041】実施例2.本発明の他の実施例におけるE
EPROM内蔵マイクロコンピュータ28について説明
する。図5にその構成を示す。この実施例においては、
外部からの制御によってデータの書き換え/読み出しが
可能なEEPROM8と、EEPROM8の動作モード
を種々に変更するためのデータが書き込まれるととも
に、外部からの制御が可能な動作レジスタ29と、動作
レジスタ29にデータを書き込むための書き込み信号が
入力される書き込み信号入力端子P33とを備えたもの
である。動作レジスタ29は図のように別個に設けても
よいが、RAM4内やEEPROM8内に補助領域を設
けて内蔵するようにしてもよい。
【0042】次に動作について説明する。外部に設けら
れたデータバス端子P20〜P27はEEPROM8と
動作レジスタ29の両方に接続しデータが両方に入出力
できる様になっている。まず動作レジスタ29に一定の
値を設定してEEPROM8にデータを書き込む場合に
ついて説明する。まず始めに、外部から、VDD端子P
28、GND端子P29、及び、EEMOD端子P32
に、それぞれ、信号を入力し,EEPROMを外部から
の直接制御が可能な状態にする。次にデータバス端子P
20〜P27に動作レジスタ29に設定したいデータを
入力し、書き込み信号入力端子P33に書き込み信号を
入力することで動作レジスタ29にデータが設定され
る。次にメモリセルアレイ11(図3参照)の書き込み
たいメモリセルのアドレスを外部アドレスバス端子P6
〜P19に設定した後、書き込むデータをデータバス端
子P20〜P27に設定し、その後R/W端子P31に
書き込み信号を入力する事で、EEPROM8へのデー
タの書き込みが行われる。この時、動作レジスタ29か
らEEPROM8へ制御信号が入力され、動作レジスタ
29に設定された値による書き込みモードに制御された
書き込みが行われる。
【0043】次にデータを読み出す場合について説明す
る。まず外部から、VDD端子P28、GND端子P2
9及びEEMOD端子P32のそれぞれに信号を入力
し、EEPROMを外部からの直接制御が可能な状態に
した後に、外部アドレス端子P6〜P19に読み出した
いEEPROM8のメモリセルアレイ11(図3参照)
のメモリセルのアドレスを設定し、R/W端子P31に
読み出し信号を入力する事で、データバス端子P20〜
P27にデータが出力される。
【0044】以上のように、この実施例によれば、外部
からの直接制御によりパラレルでの読み込み/書き込み
が可能なEEPROM8と、外部から直接制御できる動
作レジスタ29とを設けたので、EEPROM8の動作
レジスタ29の内容を外部から自由に設定して、動作レ
ジスタ29に設定された内容(動作モード)による書き
込み及び読み出しを外部からの直接制御によりパラレル
で行うことが出来るため、EEPROM8の単体でのテ
ストを、迅速に、かつ、評価内容を充実させて行うこと
ができる。
【0045】実施例3.図6は、本発明の他の実施例に
おけるEEPROM内蔵マイクロコンピュータ28の構
造を示したブロック図である。基本的な構成は上述の図
5に示した実施例2と同様であるが、この実施例におい
ては、図6に示すように、外部信号を入力するための専
用端子P6〜P32、EEPROM8、及び、動作レジ
スタ29とが、制御バス31により電気的に接続されて
いる。この実施例においては、図7に示すように、EE
PROM8のメモリと動作レジスタ29を同一メモリマ
ップ上で構成しているため、動作レジスタ29とEEP
ROM8とが制御バス31を介して電気的に接続されて
いる。ここで、制御バス31と専用端子P6〜P32と
は、この実施例における第二の入出力手段を構成してい
る。また、同一メモリマップ上に構成されているため、
動作レジスタ29にもEEPROM8のメモリと同じよ
うにアドレスが割り当てられる。従って、動作レジスタ
29へのデータの書き込みにおいては、動作レジスタ2
9に割り当てられたアドレスの番地を外部アドレス端子
P6〜P19に設定し、次にデータ端子P20〜P27
に設定データを入力し、R/W端子P31を書き込み状
態にすることで動作レジスタ29へのデータの書き込み
が実行される。またEEPROM8へのデータの書き込
みは、EEPROM8に割り当てられたアドレスのう
ち、データを書き込みたいアドレスの番地をアドレス端
子P6〜P19に設定後、データ端子P20〜P27に
データを入力し、R/W端子P31を書き込み状態にす
ることで書き込みが実施される。
【0046】また、動作レジスタ29の読み出しは、動
作レジスタ29のアドレスのうち、内容を読み出したい
アドレスの番地をアドレス端子P6〜P19に設定後、
R/W端子P31を読み出しに設定することでデータ端
子P20〜P27に動作レジスタ29の内容が読み出せ
る。EEPROM8のデータの読み出しも、同様に、内
容を読み出したいEEPROM8のアドレスの番地をア
ドレス端子P6〜P19に設定後、R/W端子P31を
読み出しに設定することでデータ端子P20〜P27に
動作レジスタ29の内容が読み出せる。
【0047】この実施例によれば、EEPROM8及び
EEPROM8の動作レジスタ29を外部から制御出来
るようにすると共に、動作レジスタ29とEEPROM
8とを同一メモリマップ上に構成するようにしたので、
上記の実施例2と同様の効果が得られるとともに、動作
レジスタ29のアドレスをアドレス端子に設定するかE
EPROM8のアドレスをアドレス端子に設定するかに
より、いずれにも容易にデータを書き込んだり読み出し
たりでき、EEPROM8の単体での評価がより容易
に、かつ、効率的に行えることができる。
【0048】実施例4.図8は、本発明の他の実施例に
おけるEEPROM内蔵マイクロコンピュータの構成を
示したブロック図である。この実施例は、上述の実施例
1と実施例3の機能を合わせ持ったEEPROM内蔵マ
イクロコンピュータであり、上述の実施例3の構成に、
実施例1で示したEEPROM8を単体で動作させるた
めの制御レジスタ9と制御スイッチ10とを加えたもの
である。図のように、制御レジスタ9はシステムバス7
を介してCPU2に電気的に接続されており、CPU2
の制御によって制御レジスタ9が外部動作が可能な状態
に設定されている場合に、制御スイッチ10が専用端子
P6〜P32からの入力を制御バス31へ入力し、EE
PROM8及び動作レジスタ29の専用端子からの直接
書き込み/読み出しを可能にする。また、CPU2の制
御により制御レジスタ9が外部からの直接制御不許可状
態の場合は、制御スイッチ10は専用端子P6〜P32
からの入力を受け付けず制御バス31への信号の伝達も
行わない。EEPROM8および動作レジスタ29への
データの書き込み/読み出しは、上述の実施例3で説明
した手順で行われる。
【0049】また、制御レジスタ9の設定はCPU2に
よって変更する例を示したが、制御レジスタ9の出力を
プルダウン抵抗A(図2参照)等で接続しておくと電源
投入時、制御レジスタ9の出力が自動的に固定され、C
PU2が動作しなくてもEEPROM8および動作レジ
スタ29への専用端子P6〜P32からの外部からの直
接制御が可能になる。
【0050】また、この実施例では、専用端子P6〜P
32に制御スイッチ10を接続し、制御スイッチ10に
制御バス31を接続する例を示したが、専用端子P6〜
P32に制御バス31を接続した後、制御スイッチ10
を接続してもよく、その場合も同様の効果が得られる。
【0051】以上のように、この実施例においては、E
EPROM8の動作レジスタ29を外部から制御出来る
ようにすると共に、動作レジスタ29とEEPROM8
とを同一メモリマップ上に構成するようにし、さらに、
EEPROM8の外部からの直接制御の可否を選択する
制御レジスタ9を設けたので、CPU2を介さずにEE
PROM8単体での評価がより効率的に行えると共に、
マイクロコンピュータ32の出荷後EEPROM単体動
作を禁止にしておく事でEEPROM8のデータの安全
性も確保することができる。
【0052】実施例5.図9は、実施例4で示したEE
PROM内蔵マイクロコンピュータのEEPROM8の
製造方法のフローを示したフローチャートである。まず
実施例4におけるEEPROM内蔵マイクロコンピュー
タを形成する(ステップS0)。次に、テスト工程に入
るが、EEPROM8をテストする場合、必要に応じて
CPU2を介して動作レジスタ29の内容を設定した
(ステップS1)後、CPU2を介してEEPROM8
の書き込み/読み出しテストを簡単に行う(ステップS
2)。この際には、外部とI/O端子P5を介してシリ
アルでデータの入出力を行うので、EEPROM8への
多数回たとえば1万回程度のデータの連続書き込み等の
ように時間のかかるテストは行わず、CPU2の制御で
EEPROM8にデータの書き込み/読み出しが行える
かどうかのテストを行う。次に、CPU2を介して制御
レジスタ9を、EEPROM8の外部からの直接制御を
許可する状態に設定して、必要に応じて動作レジスタ2
9を専用端子P6〜P31を用いて外部から直接制御し
て動作モードを切り換え(ステップS3)、EEPRO
M8の連続書き込み等のように時間のかかるテストを専
用端子P6〜P31を用いて行う(ステップS4)。そ
の次に、良品と判定されたEEPROM内蔵マイクロコ
ンピュータに対して、必要に応じて、動作レジスタ29
を専用端子P6〜P31を用いて外部から直接制御して
動作モードを切り換え(ステップS5)、EEPROM
8への初期データ書き込みを専用端子P6〜P31を用
いて実施する(ステップS6)。その後、CPU2を介
して制御レジスタ9を禁止状態にしてEEPROM8の
テストを終わる(ステップS7)。こうすることによっ
て制御レジスタ9の禁止状態の解除方法を知らない限
り、外部から直接EEPROM8のデータの書き込み/
読み出しが不可能になる。
【0053】ここで、実施例1におけるEEPROM内
蔵マイクロコンピュータの製造方法においては、動作レ
ジスタ29が設けられていないため、図9のステップS
1、S3、及び、S5の工程が不要となる。また、実施
例2及び3におけるEEPROM内蔵マイクロコンピュ
ータの製造方法においては、制御レジスタ9が設けられ
ていないため、図9のステップS7の工程が不要とな
る。
【0054】実施例1〜4によるEEPROM内蔵マイ
クロコンピュータを用いて、EEPROM8の時間のか
かるテスト及び初期データ書き込みについては、EEP
ROM8を外部から直接制御して行うようにしたので、
EEPROM8のテスト時間及び初期データ書き込みに
要する時間等が短縮でき、生産性の効率アップを実現す
ることができる。また、実施例1及び4においては、初
期データ書き込み後に、制御レジスタ9を禁止状態にす
るようにしたので、出荷後のデータの安全性も確保する
ことができる。また、実施例2〜4においては、動作レ
ジスタの内容を外部から直接制御して変更するようにし
たので、たとえEEPROM8以外の周辺機器が動作し
ていない場合においても、評価内容の充実したテストが
行えるとともに、初期データの書き込みモードも自由に
変更することができる。
【0055】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、EEPROM
のメモリの書き込み及び読み出しを外部から直接行うた
めの第二の入出力手段と、第二の入出力手段における外
部との入出力の可否を切り換えるための外部入出力可否
切換制御手段とを設けるようにしたので、EEPROM
メモリへの連続書き込みテストのように従来は時間のか
かっていた工程も迅速に行えるとともに、上記の切換制
御手段により外部との入出力の可否が切り換えられるの
で、出荷時に外部との入出力を禁止する状態に切り換え
ておけば、市場においてデータが書き換えられたり読み
出されたりすることを防ぐことができ、製造工程を迅速
かつ容易にするとともに、データの安全性が向上すると
いう効果が得られる。
【0056】請求項2の発明によれば、EEPROMの
メモリの書き込み及び読み出しを外部から直接行うため
の第二の入出力手段を設け、EEPROMの動作レジス
タの制御も第二の入出力手段を介して外部から直接でき
るようにしたので、EEPROMメモリへの連続書き込
みテストのように従来は時間のかかっていた工程も迅速
に行えるとともに、動作レジスタの内容を外部から自由
に設定してEEPROMの評価テストが行え、評価内容
を充実させた評価テストを行うことができ、信頼性を向
上させることができるという効果が得られる。
【0057】請求項3の発明によれば、EEPROMの
メモリの書き込み及び読み出しを外部から直接行うため
の第二の入出力手段と、第二の入出力手段における外部
との入出力の可否を切り換えるための外部入出力可否切
換制御手段とを設け、さらに、EEPROMの動作レジ
スタの制御も第二の入出力手段を介して外部から直接で
きるようにしたので、EEPROMメモリへの連続書き
込みテストのように従来は時間のかかっていた工程も迅
速に行えるとともに、動作レジスタの内容を外部から自
由に設定してEEPROMの評価テストが行え、さら
に、上記の切換制御手段により外部との入出力の可否が
切り換えられるので、出荷時に外部との入出力を禁止す
る状態に切り換えておけば、市場においてデータが書き
換えられたり読み出されたりすることを防ぐことがで
き、製造工程を迅速かつ容易にでき、データの安全性及
び製品の信頼性を高くすることができるという効果が得
られる。
【0058】請求項4の発明によれば、EEPROMの
メモリと動作レジスタとが同一メモリマップ上に構成さ
れているので、上記第二の入出力手段に、単に、EEP
ROMのメモリのアドレスを設定するか、動作レジスタ
のアドレスを設定するかによって、EEPROMのメモ
リと動作レジスタのいずれにおいても容易にデータの書
き込み及び読み出しを行うことができるという効果が得
られる。
【0059】請求項5の発明によれば、外部入出力可否
切換制御手段を、初期状態に外部からの入出力が可能な
状態に設定するようにした初期設定手段を設けたので、
電源投入時に自動的に外部からの直接制御を許可する状
態に設定することができるという効果が得られる。
【0060】請求項6の発明によれば、EEPROMの
メモリへの連続書き込みテストのように従来は時間のか
かっていた工程も、EEPROMを外部から直接制御し
て迅速に行い、その後に、外部入出力可否切換制御手段
により外部との入出力の可否が切り換えられるので、出
荷時に外部との入出力を禁止する状態に切り換えておけ
ば、市場においてデータが書き換えられたり読み出され
たりすることを防ぐことができ、迅速かつ容易に製造で
きるとともに、製品の信頼性を向上させ、データの安全
性も確保することができるという効果が得られる。
【0061】請求項7の発明によれば、外部から制御で
きる動作レジスタを設けて、外部から動作レジスタの内
容を自由に変更してEEPROMの評価テストを行うよ
うにしたので、評価内容を充実させて評価テストを行う
ことができるという効果が得られる。
【0062】請求項8の発明によれば、EEPROMの
メモリへの連続書き込みテストのように従来は時間のか
かっていた工程も、EEPROMを外部から直接制御し
て迅速に行えるとともに、外部から制御できる動作レジ
スタを設けて、外部から動作レジスタの内容を自由に変
更してEEPROMの評価テストを行えるようにしたの
で、評価内容を充実させて評価テストを行うことができ
るという効果が得られる。
【0063】請求項9の発明によれば、EEPROMの
メモリと動作レジスタとが同一メモリマップ上に構成さ
れているので、上記第二の入出力手段に、単に、EEP
ROMのメモリのアドレスを設定するか、動作レジスタ
のアドレスを設定するかによって、EEPROMのメモ
リと動作レジスタのいずれにおいても容易にデータの書
き込み及び読み出しを行うことができ、より迅速かつ効
率的に評価テストを行うことができるという効果が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1におけるEEPROM内蔵マイクロ
コンピュータの構造を示したブロック図である。
【図2】 実施例1における制御スイッチの構造を示し
たブロック図である。
【図3】 実施例1におけるEEPROMの構造を示し
たブロック図である。
【図4】 図3の制御信号切り換え回路、アドレス切り
換え回路、及び、データバス切り換え制御回路の構造を
示したブロック図である。
【図5】 実施例2におけるEEPROM内蔵マイクロ
コンピュータの構造を示したブロック図である。
【図6】 実施例3におけるEEPROM内蔵マイクロ
コンピュータの構造を示したブロック図である。
【図7】 実施例3におけるEEPROMメモリと動作
レジスタのメモリマップを示した図である。
【図8】 実施例4におけるEEPROM内蔵マイクロ
コンピュータの構造を示したブロック図である。
【図9】 実施例4のEEPROM内蔵マイクロコンピ
ュータの製造方法を示したフローチャートである。
【図10】 従来のEEPROM内蔵マイクロコンピュ
ータの構造の一例を示したブロック図である。
【図11】 従来のEEPROM内蔵マイクロコンピュ
ータの構造の他の例を示したブロック図である。
【符号の説明】
2 CPU、3 ROM、4 RAM、6 入出力回
路、8 EEPROM、9 制御レジスタ、10 制御
スイッチ、29 動作レジスタ、31 制御バス、P6
〜P19 アドレスバス端子、P20〜P27 データ
バス端子、P28〜P31 制御信号端子。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中央処理手段と、 電気的にデータの書き込み及び読み出しが可能な不揮発
    性メモリであるEEPROMと、 上記中央処理手段に電気的に接続され、上記EEPRO
    Mのデータの書き込み及び読み出しを上記中央処理手段
    の制御により行うための信号の入出力を外部と行うため
    の第一の入出力手段と、 上記EEPROMに電気的に接続され、上記EEPRO
    Mのデータの書き込み及び読み出しを外部から直接行う
    ための信号の入出力を行うための第二の入出力手段と、 上記EEPROMと、上記第一の入出力手段及び上記第
    二の入出力手段と、の間に電気的に接続されて、上記第
    一の入出力手段からの信号と上記第二の入出力手段から
    の信号とを選択し切り換えるための信号切換制御手段
    と、 上記信号切換制御手段と上記第二の入出力手段との間に
    電気的に接続され、上記中央処理手段の制御により、上
    記第二の入出力手段による外部との入出力の可否を切り
    換えるための外部入出力可否切換制御手段とを備えたこ
    とを特徴とするEEPROM内蔵マイクロコンピュー
    タ。
  2. 【請求項2】 中央処理手段と、 電気的にデータの書き込み及び読み出しが可能な不揮発
    性メモリであるEEPROMと、 上記中央処理手段に電気的に接続され、上記EEPRO
    Mのデータの書き込み及び読み出しを上記中央処理手段
    の制御により行うための信号の入出力を外部と行うため
    の第一の入出力手段と、 上記EEPROMに電気的に接続され、上記EEPRO
    Mのデータの書き込み及び読み出しを外部から直接行う
    ための信号の入出力を行うための第二の入出力手段と、 上記EEPROMと、上記第一の入出力手段及び上記第
    二の入出力手段と、の間に電気的に接続されて、上記第
    一の入出力手段からの信号と上記第二の入出力手段から
    の信号とを選択し切り換えるための信号切換制御手段
    と、 上記中央処理手段に電気的に接続されるとともに、上記
    第二の入出力手段に電気的に接続されて、上記中央処理
    手段または上記第二の入出力手段を介して上記EEPR
    OMの動作モードが設定される動作レジスタとを備えた
    ことを特徴とするEEPROM内蔵マイクロコンピュー
    タ。
  3. 【請求項3】 上記信号切換制御手段及び上記動作レジ
    スタと、上記第二の入出力手段と、の間に電気的に接続
    され、上記中央処理手段の制御により、上記第二の入出
    力手段による外部からの入出力の可否を切り換えるため
    の外部入出力可否切換制御手段を備えたことを特徴とす
    る請求項2記載のEEPROM内蔵マイクロコンピュー
    タ。
  4. 【請求項4】 上記EEPROMと上記動作レジスタと
    が同一メモリマップ上に構成されていることを特徴とす
    る請求項2または請求項3記載のEEPROM内蔵マイ
    クロコンピュータ。
  5. 【請求項5】 上記外部入出力可否切換制御手段を、初
    期状態に、外部からの入出力が可能な状態に設定するた
    めの初期設定手段を備えたことを特徴とする請求項1ま
    たは請求項3記載のEEPROM内蔵マイクロコンピュ
    ータ。
  6. 【請求項6】 中央処理手段と、電気的にデータの書き
    込み及び読み出しが可能なEEPROMと、上記中央処
    理手段に電気的に接続され、上記EEPROMのデータ
    の書き込み及び読み出しを上記中央処理手段の制御によ
    り行うための信号の入出力を外部と行うための第一の入
    出力手段と、上記EEPROMに電気的に接続され、上
    記EEPROMのデータの書き込み及び読み出しを外部
    から直接行うための信号の入出力を行うための第二の入
    出力手段と、上記EEPROMと上記第一の入出力手段
    及び上記第二の入出力手段との間に電気的に接続され
    て、上記第一の入出力手段からの信号と上記第二の入出
    力手段からの信号とを選択し切り換えるための信号切換
    制御手段と、上記信号切換制御手段と上記第二の入出力
    手段との間に電気的に接続され、上記中央処理手段の制
    御により、上記第二の入出力手段による外部との入出力
    の可否を切り換えるための外部入出力可否切換制御手段
    とを備えたEEPROM内蔵マイクロコンピュータを形
    成する工程と、 上記第一の入出力手段及び上記中央処
    理手段を介して、上記EEPROMのデータの書き込み
    及び読み出しのテストを行う工程と、 上記第二の入出力手段を介して、上記EEPROMのデ
    ータの書き込み及び読み出しのテストを外部から直接行
    う工程と、 上記EEPROMに初期データを書き込む工程と、 上記第二の入出力手段による外部との入出力を上記外部
    入出力可否切換制御手段により禁止する工程とを備えた
    EEPROM内蔵マイクロコンピュータの製造方法。
  7. 【請求項7】 上記EEPROM内蔵マイクロコンピュ
    ータが、上記中央処理手段に電気的に接続されるととも
    に、上記第二の入出力手段に電気的に接続されて、上記
    中央処理手段または上記第二の入出力手段を介して上記
    EEPROMの動作モードが設定される動作レジスタを
    備え、 上記動作レジスタに上記第二の入出力手段を介して上記
    EEPROMの動作モードを設定する工程とを備えた請
    求項6記載のEEPROM内蔵マイクロコンピュータの
    製造方法。
  8. 【請求項8】 中央処理手段と、電気的にデータの書き
    込み及び読み出しが可能な不揮発性メモリであるEEP
    ROMと、上記中央処理手段に電気的に接続され、上記
    EEPROMのデータの書き込み及び読み出しを上記中
    央処理手段の制御により行うための信号の入出力を外部
    と行うための第一の入出力手段と、上記EEPROMに
    電気的に接続され、上記EEPROMのデータの書き込
    み及び読み出しを外部から直接行うための信号の入出力
    を行うための第二の入出力手段と、上記EEPROM
    と、上記第一の入出力手段及び上記第二の入出力手段
    と、の間に電気的に接続されて、上記第一の入出力手段
    からの信号と上記第二の入出力手段からの信号とを選択
    し切り換えるための信号切換制御手段と、上記中央処理
    手段に電気的に接続されるとともに、上記第二の入出力
    手段に電気的に接続されて、上記中央処理手段または上
    記第二の入出力手段を介して上記EEPROMの動作モ
    ードが設定される動作レジスタとを備えたEEPROM
    内蔵マイクロコンピュータを形成する工程と、 上記第一の入出力手段及び上記中央処理手段を介して、
    上記EEPROMのデータの書き込み及び読み出しのテ
    ストを行う工程と、 上記動作レジスタに上記第二の入出力手段を介して上記
    EEPROMの動作モードを設定する工程と、 上記第二の入出力手段を介して、上記EEPROMのデ
    ータの書き込み及び読み出しのテストを外部から直接行
    う工程と、 上記第二の入出力手段を介して、上記EEPROMに初
    期データを外部から直接書き込む工程とを備えたEEP
    ROM内蔵マイクロコンピュータの製造方法。
  9. 【請求項9】 上記EEPROMと上記動作レジスタと
    が同一メモリマップ上に構成されることを特徴とする請
    求項7または請求項8記載のEEPROM内蔵マイクロ
    コンピュータの製造方法。
JP6196626A 1994-08-22 1994-08-22 Eeprom内蔵マイクロコンピュータ及びeeprom内蔵マイクロコンピュータの製造方法 Pending JPH0863444A (ja)

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