JPH0863795A - 光記録媒体の製造方法 - Google Patents
光記録媒体の製造方法Info
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- JPH0863795A JPH0863795A JP19420294A JP19420294A JPH0863795A JP H0863795 A JPH0863795 A JP H0863795A JP 19420294 A JP19420294 A JP 19420294A JP 19420294 A JP19420294 A JP 19420294A JP H0863795 A JPH0863795 A JP H0863795A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 63
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 claims description 4
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 33
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- HCDGVLDPFQMKDK-UHFFFAOYSA-N hexafluoropropylene Chemical compound FC(F)=C(F)C(F)(F)F HCDGVLDPFQMKDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 methacryloyl group Chemical group 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 2
- LMDVZDMBPZVAIV-UHFFFAOYSA-N selenium hexafluoride Chemical compound F[Se](F)(F)(F)(F)F LMDVZDMBPZVAIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PYVHTIWHNXTVPF-UHFFFAOYSA-N F.F.F.F.C=C Chemical compound F.F.F.F.C=C PYVHTIWHNXTVPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 1
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 1
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 150000008062 acetophenones Chemical class 0.000 description 1
- 125000005396 acrylic acid ester group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- 229960002130 benzoin Drugs 0.000 description 1
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 1
- 150000008366 benzophenones Chemical class 0.000 description 1
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N desyl alcohol Natural products C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000005397 methacrylic acid ester group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920006295 polythiol Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N prop-2-enoyloxy prop-2-eneperoxoate Chemical compound C=CC(=O)OOOC(=O)C=C KCTAWXVAICEBSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 貼合せ型の光ディスクであって、変形が少な
く高品質のものを収率良く製造する方法を提供する。 【構成】 基板に記録層を形成した後、基板中の水分濃
度を0.14wt%以上となるように調節して貼合せる
もの。
く高品質のものを収率良く製造する方法を提供する。 【構成】 基板に記録層を形成した後、基板中の水分濃
度を0.14wt%以上となるように調節して貼合せる
もの。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高密度かつ高速で情報
の記録再生ができる文章や画像ファイルに適したライト
ワンス型の光記録媒体の製造するのに適した方法に関
し、詳しくは、基板上に形成した記録層にレーザービー
ムを照射して局部的に加熱し、その加熱部に穴もしくは
凹部又は凸部を形成することによって記憶するライトワ
ンス型の光記録媒体を高品質、且つ高収率で製造するの
に適した方法に関する。
の記録再生ができる文章や画像ファイルに適したライト
ワンス型の光記録媒体の製造するのに適した方法に関
し、詳しくは、基板上に形成した記録層にレーザービー
ムを照射して局部的に加熱し、その加熱部に穴もしくは
凹部又は凸部を形成することによって記憶するライトワ
ンス型の光記録媒体を高品質、且つ高収率で製造するの
に適した方法に関する。
【0002】
【従来の技術】基板上に形成された薄膜にレーザービー
ムを照射して穴(ピット)や凹凸を形成するようにした
光学的記録用媒体として、従来より低融点かつ低熱伝導
率であるために低記録パワーで穴あけ可能なTe薄膜が
知られている。(Appl.Phys.Lett.,3
4(1979)、835ページ)さらに、経時安定性を
増すためにTeにSe,Sb,Cuなどを添加した合金
薄膜やこれら金属を含有し、さらに炭素、窒素、弗素、
酸素等を含むプラズマ重合膜、反応性スパッタ膜等が用
いられている(特開昭53−31104公報、特開昭5
8−54338公報、特開昭57−98394公報、特
開昭62−252543公報、特開昭63−16002
7公報、特開昭63−95983公報等)。
ムを照射して穴(ピット)や凹凸を形成するようにした
光学的記録用媒体として、従来より低融点かつ低熱伝導
率であるために低記録パワーで穴あけ可能なTe薄膜が
知られている。(Appl.Phys.Lett.,3
4(1979)、835ページ)さらに、経時安定性を
増すためにTeにSe,Sb,Cuなどを添加した合金
薄膜やこれら金属を含有し、さらに炭素、窒素、弗素、
酸素等を含むプラズマ重合膜、反応性スパッタ膜等が用
いられている(特開昭53−31104公報、特開昭5
8−54338公報、特開昭57−98394公報、特
開昭62−252543公報、特開昭63−16002
7公報、特開昭63−95983公報等)。
【0003】これらの穴あけ型もしくは凹凸形成型(以
下穴あけ型と言う)ライトワンス記録媒体は、穴あけや
凹凸形成という物理的に安定な記録状態を用いているた
めエラーレートが増加しにくく、書換不能であるが故に
改ざん不能な記録媒体として高い信頼を得ている。既
に、文書ファイル、画像ファイルとして実用化されてい
る。
下穴あけ型と言う)ライトワンス記録媒体は、穴あけや
凹凸形成という物理的に安定な記録状態を用いているた
めエラーレートが増加しにくく、書換不能であるが故に
改ざん不能な記録媒体として高い信頼を得ている。既
に、文書ファイル、画像ファイルとして実用化されてい
る。
【0004】この穴あけ型ライトワンス媒体は、物理的
に記録層に穴や凹凸を形成する方式であるため穴あけや
凹凸の形成を阻害するような、記録層上面に直接接触し
た保護層を設けることが困難である。この種のライトワ
ンス媒体は、上記の理由から、記録層の上面に空間を形
成した構造が採られる。このため、基板の表面に記録層
を形成した後、基板の外周部及び内周部にリング状のス
ペーサーを介在させて、2枚の基板の間に間隙を形成し
て貼り合せ、記録層の上部に空間部を形成している。
に記録層に穴や凹凸を形成する方式であるため穴あけや
凹凸の形成を阻害するような、記録層上面に直接接触し
た保護層を設けることが困難である。この種のライトワ
ンス媒体は、上記の理由から、記録層の上面に空間を形
成した構造が採られる。このため、基板の表面に記録層
を形成した後、基板の外周部及び内周部にリング状のス
ペーサーを介在させて、2枚の基板の間に間隙を形成し
て貼り合せ、記録層の上部に空間部を形成している。
【0005】基板は通常ポリカーボネート等の合成樹脂
が用いられているが、基板を射出成形した時点では、加
熱成形されるため乾燥状態にある基板も、成形後吸水し
て変形したり、特に、記録層を形成した後、室内で保管
しておくと、記録層が設けられた側からは吸水しない
が、記録層の設けられていない側から吸水するので反り
返るような変形を起すことがある。
が用いられているが、基板を射出成形した時点では、加
熱成形されるため乾燥状態にある基板も、成形後吸水し
て変形したり、特に、記録層を形成した後、室内で保管
しておくと、記録層が設けられた側からは吸水しない
が、記録層の設けられていない側から吸水するので反り
返るような変形を起すことがある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】基板に記録層を設けた
後、すぐに記録層面を内側にして2枚の基板を張り合わ
せた場合には、張り合せ後に吸水により基板が変形して
記録媒体に歪みを生ずる。また記録層を基板に形成後、
基板が吸水して変形を生じている時点で貼り合せを行な
っても、同様に記録媒体に歪みを生ずることとなる。
後、すぐに記録層面を内側にして2枚の基板を張り合わ
せた場合には、張り合せ後に吸水により基板が変形して
記録媒体に歪みを生ずる。また記録層を基板に形成後、
基板が吸水して変形を生じている時点で貼り合せを行な
っても、同様に記録媒体に歪みを生ずることとなる。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記課題
に鑑み、基板の変形に基づく記録媒体の歪みを改善すべ
く鋭意検討を重ねた結果、基板に金属記録層を設けた
後、該基板中の水分が特定濃度に達した時点以降で、記
録層面を内側にして2枚の基板を張り合わせた場合に
は、上記問題が解決でき、且つ、光記録媒体を高品質
で、且つ高収率で製造出来ることを見出し、本発明を完
成するに至った。
に鑑み、基板の変形に基づく記録媒体の歪みを改善すべ
く鋭意検討を重ねた結果、基板に金属記録層を設けた
後、該基板中の水分が特定濃度に達した時点以降で、記
録層面を内側にして2枚の基板を張り合わせた場合に
は、上記問題が解決でき、且つ、光記録媒体を高品質
で、且つ高収率で製造出来ることを見出し、本発明を完
成するに至った。
【0008】すなわち、本発明の要旨は、少なくとも一
方が記録層を有する2枚のポリカーボネート樹脂基板
を、記録層を内側にし、基板間に間隔を形成して貼り合
わせた光記録媒体を製造するにあたり、基板上に記録層
を成膜した後、基板中の水分濃度を0.14wt%以上
として貼り合わせることを特徴とする光記録媒体の製造
方法に存する。
方が記録層を有する2枚のポリカーボネート樹脂基板
を、記録層を内側にし、基板間に間隔を形成して貼り合
わせた光記録媒体を製造するにあたり、基板上に記録層
を成膜した後、基板中の水分濃度を0.14wt%以上
として貼り合わせることを特徴とする光記録媒体の製造
方法に存する。
【0009】本発明の光記録媒体はその記録層の特性上
エアーサンドイッチ構造、すなわち、2枚の基板を対向
させて、基板の外周及び内周にリング状のスペーサーを
介在させて貼り合せた構造とされる。本発明の光学的情
報記録媒体を構成するに用いる基板は、ポリカーボネー
ト、ポリメチルメタクリレート等のプラスチックが用い
られる。基板を通して集束したレーザー光を記録層に照
射し、穴あけや凹凸により記録し、光の反射の相違によ
り再生を行う。
エアーサンドイッチ構造、すなわち、2枚の基板を対向
させて、基板の外周及び内周にリング状のスペーサーを
介在させて貼り合せた構造とされる。本発明の光学的情
報記録媒体を構成するに用いる基板は、ポリカーボネー
ト、ポリメチルメタクリレート等のプラスチックが用い
られる。基板を通して集束したレーザー光を記録層に照
射し、穴あけや凹凸により記録し、光の反射の相違によ
り再生を行う。
【0010】基板には、アドレス情報等の特定の順に配
列された穴(ピット)を追跡(トラッキング)するため
の、溝や凹凸(ピット)を設けるのが普通である。この
ために、スタンパーを備えた金型を用いた射出成形でプ
ラスチック基板を形成するのが好ましい。記録層は金属
合金薄膜であり、ここでレーザー光や、電子ビーム等の
エネルギービームを吸収し、溶融・蒸発がおこって穴が
形成される。記録層の膜厚としては100〜1000Å
であることが望ましい。100Å未満では、酸化等の影
響が容易に膜全体に及び保存安定性に問題がある。ま
た、反射率が低くなりドライブでの再生が困難となる。
列された穴(ピット)を追跡(トラッキング)するため
の、溝や凹凸(ピット)を設けるのが普通である。この
ために、スタンパーを備えた金型を用いた射出成形でプ
ラスチック基板を形成するのが好ましい。記録層は金属
合金薄膜であり、ここでレーザー光や、電子ビーム等の
エネルギービームを吸収し、溶融・蒸発がおこって穴が
形成される。記録層の膜厚としては100〜1000Å
であることが望ましい。100Å未満では、酸化等の影
響が容易に膜全体に及び保存安定性に問題がある。ま
た、反射率が低くなりドライブでの再生が困難となる。
【0011】一方、1000Åより厚い場合には、穴あ
けに要するエネルギーが大きく成りすぎ、安価な半導体
レーザーを用いることができず実用的ではない。金属合
金薄膜記録層に含まれる元素としてはTe等の低融点金
属にその経時安定性を向上させたり、ピット形状を改善
したり、記録感度を向上させたりすることを目的として
Se,Pb,Bi,Sb,Sn,Ge,Si,In,A
s,Cu,Ag,Au,Ti,O,S,N,C,F,H
あるいはAr等の不活性ガス等から1種または2種以上
の元素を選び、同時真空蒸着、イオンプレーティング、
合金を用いた真空蒸着、スパッタ、反応性スパッタ等の
手段により基板上に形成される。
けに要するエネルギーが大きく成りすぎ、安価な半導体
レーザーを用いることができず実用的ではない。金属合
金薄膜記録層に含まれる元素としてはTe等の低融点金
属にその経時安定性を向上させたり、ピット形状を改善
したり、記録感度を向上させたりすることを目的として
Se,Pb,Bi,Sb,Sn,Ge,Si,In,A
s,Cu,Ag,Au,Ti,O,S,N,C,F,H
あるいはAr等の不活性ガス等から1種または2種以上
の元素を選び、同時真空蒸着、イオンプレーティング、
合金を用いた真空蒸着、スパッタ、反応性スパッタ等の
手段により基板上に形成される。
【0012】なかでも、TeSeF合金薄膜記録層はT
eまたはTeSe合金ターゲットを弗化セレンガスと不
活性ガスの混合ガス中で反応性スパッタすること、ある
いは、TeまたはTeSe合金を蒸発させ弗化セレンガ
スと不活性ガスの混合ガス中でイオンプレーティングす
ることで容易に形成され、高感度、高信号品質、長寿命
の記録媒体が得られる(特開昭61−146594、特
開昭62−252543)。
eまたはTeSe合金ターゲットを弗化セレンガスと不
活性ガスの混合ガス中で反応性スパッタすること、ある
いは、TeまたはTeSe合金を蒸発させ弗化セレンガ
スと不活性ガスの混合ガス中でイオンプレーティングす
ることで容易に形成され、高感度、高信号品質、長寿命
の記録媒体が得られる(特開昭61−146594、特
開昭62−252543)。
【0013】なお、本発明においては、6フッ化プロピ
レンプラズマ重合膜等のフッ素系樹脂膜等の下引き層
を、記録層と基板の間に設け、記録感度、ピット形状の
改善をはかることも可能である(特開昭63−1600
31、特開昭63−155443)。上記フッ素系樹脂
膜の原料となるモノマーガスとしては、4弗化エチレ
ン、6弗化プロピレン等があげられる。若干の水素、酸
素、窒素を含むような分子であってもかまわない。
レンプラズマ重合膜等のフッ素系樹脂膜等の下引き層
を、記録層と基板の間に設け、記録感度、ピット形状の
改善をはかることも可能である(特開昭63−1600
31、特開昭63−155443)。上記フッ素系樹脂
膜の原料となるモノマーガスとしては、4弗化エチレ
ン、6弗化プロピレン等があげられる。若干の水素、酸
素、窒素を含むような分子であってもかまわない。
【0014】本発明においては、基板を恒温状態に保持
し、ポリカーボネート樹脂基板の吸湿により、該基板の
水分濃度が0.14wt%以上、好ましくは0.15w
t%以上、さらに好ましくは0.15wt%以上〜飽和
状態になるまで基板中の水分濃度調節を行なう。この
後、2枚の基板の記録層を内側にして(一枚は記録層の
ないものでも可)スペーサーを介して接着剤で張り合わ
せて光記録媒体とする。上記恒温状態としては、温度1
5〜25℃、湿度(RH)40〜70%の範囲の状態が
好ましい。基板の水分濃度が下限未満では、基板に反り
や変形を生じ、保存安定性の点で問題である。また、基
板を恒温状態に保持する時間が10日間を過ぎた場合に
は、記録層が酸化されて経時変化を起こし、C/N比及
び反射率が大幅に低下する等、別の弊害を招くので好ま
しくない。
し、ポリカーボネート樹脂基板の吸湿により、該基板の
水分濃度が0.14wt%以上、好ましくは0.15w
t%以上、さらに好ましくは0.15wt%以上〜飽和
状態になるまで基板中の水分濃度調節を行なう。この
後、2枚の基板の記録層を内側にして(一枚は記録層の
ないものでも可)スペーサーを介して接着剤で張り合わ
せて光記録媒体とする。上記恒温状態としては、温度1
5〜25℃、湿度(RH)40〜70%の範囲の状態が
好ましい。基板の水分濃度が下限未満では、基板に反り
や変形を生じ、保存安定性の点で問題である。また、基
板を恒温状態に保持する時間が10日間を過ぎた場合に
は、記録層が酸化されて経時変化を起こし、C/N比及
び反射率が大幅に低下する等、別の弊害を招くので好ま
しくない。
【0015】なお、上記水分濃度調節を行なうに先だ
ち、アニーリング処理して記録層成膜に起因した基板の
内部歪みを緩和させるのが望ましい。アニーリング処理
は、通常50〜130℃、望ましくは70〜90℃の温
度範囲で行うのが良い。基板の貼り合わせは、上記紫外
線硬化型樹脂の塗料、例えば重合性オリゴマー、モノマ
ー、光重合開始剤及び増感剤、所望により溶媒を含有す
る塗料を基板の張り合わせ面に塗布した後、リング状の
スペーサーを介して位置決めした後、基板上から紫外線
照射して重合反応させて硬化樹脂を形成させる。上記硬
化樹脂の塗布は、基板表面にスピンコート、ディッピン
グ、スプレーコート、グラビア塗布等の公知の方法が採
用できる。
ち、アニーリング処理して記録層成膜に起因した基板の
内部歪みを緩和させるのが望ましい。アニーリング処理
は、通常50〜130℃、望ましくは70〜90℃の温
度範囲で行うのが良い。基板の貼り合わせは、上記紫外
線硬化型樹脂の塗料、例えば重合性オリゴマー、モノマ
ー、光重合開始剤及び増感剤、所望により溶媒を含有す
る塗料を基板の張り合わせ面に塗布した後、リング状の
スペーサーを介して位置決めした後、基板上から紫外線
照射して重合反応させて硬化樹脂を形成させる。上記硬
化樹脂の塗布は、基板表面にスピンコート、ディッピン
グ、スプレーコート、グラビア塗布等の公知の方法が採
用できる。
【0016】紫外線硬化型樹脂としてはアクリル系、エ
ポキシ系、ウレタン系等が挙げられ、特にアクリル系紫
外線硬化型樹脂が好適に使用される。該アクリル系紫外
線硬化型樹脂には重合性オリゴマー、モノマ、光重合性
開始剤及び増感剤を含有してもよい。該重合性オリゴマ
ーとしてはアクリル酸エステル、メタクリル酸エステル
の二重結合、アクリロイル基、メタクリロイル基の官能
基を含んだオリゴマーが使用され、ベースオリゴマーの
主鎖構造としてはポリエステル系、ポリエーテル系、ウ
レタン系、エポキシ系、アクリル系、ポリチオール系、
ポリイミド系等挙げられる。具体的にはポリエステルア
クリレート、ポリエーテルアクリレート、ポリウレタン
アクリレート、エポキシアクリレート、ポリブタジェン
アクリレート等の重合性オリゴマーが好適に用いられ
る。光重合開始剤としてはベンゾインエーテル類、ベン
ゾフェノン類、アセトフェノン類等があげられる。
ポキシ系、ウレタン系等が挙げられ、特にアクリル系紫
外線硬化型樹脂が好適に使用される。該アクリル系紫外
線硬化型樹脂には重合性オリゴマー、モノマ、光重合性
開始剤及び増感剤を含有してもよい。該重合性オリゴマ
ーとしてはアクリル酸エステル、メタクリル酸エステル
の二重結合、アクリロイル基、メタクリロイル基の官能
基を含んだオリゴマーが使用され、ベースオリゴマーの
主鎖構造としてはポリエステル系、ポリエーテル系、ウ
レタン系、エポキシ系、アクリル系、ポリチオール系、
ポリイミド系等挙げられる。具体的にはポリエステルア
クリレート、ポリエーテルアクリレート、ポリウレタン
アクリレート、エポキシアクリレート、ポリブタジェン
アクリレート等の重合性オリゴマーが好適に用いられ
る。光重合開始剤としてはベンゾインエーテル類、ベン
ゾフェノン類、アセトフェノン類等があげられる。
【0017】
【実施例】以下に実施例を示すが、本発明はその要旨を
越えない限り以下の実施例に限定されるものではない。
なお、実施例、比較例における物性の測定は以下の方法
によった。
越えない限り以下の実施例に限定されるものではない。
なお、実施例、比較例における物性の測定は以下の方法
によった。
【0018】・C/N比測定法 レーザー波長 780nm ディスク回転数 2400rpm 測定半径 30.0mm 記録周波数 4.9MHZ(矩形波) 記録パルス幅 65nsec 記録パワー 6.0mW でピットを記録する。しかる後に、再生パワー0.6m
Wのレーザーで記録部を再生し、(再生信号比)−(雑
音信号比)をC/N比として測定した値26点の平均
値。
Wのレーザーで記録部を再生し、(再生信号比)−(雑
音信号比)をC/N比として測定した値26点の平均
値。
【0019】・反射率測定法 レーザー波長さ 780nm ディスク回転数 2400rpm 再生パワー 0.6mWにて 半径位置30.0mm、60.0mmのODF部の反射
光量を測定した後、(反射光量÷入射光量)×100と
する。
光量を測定した後、(反射光量÷入射光量)×100と
する。
【0020】・反射率合格率 半径位置30.0mmでの反射率が39.2%以下で、
半径位置60.0mmでの反射率が30.8%以上を合
格ディスクとして、(合格ディスク枚数÷全測定枚数)
×100とする。
半径位置60.0mmでの反射率が30.8%以上を合
格ディスクとして、(合格ディスク枚数÷全測定枚数)
×100とする。
【0021】実施例1〜2 ポリカーボネート樹脂基板上に6弗化プロピレンをAr
の10mTorr雰囲気中で高周波電力200Wを印加
してプラズマ重合を行い、厚さ15nmのプラズマ重合
膜を形成した。次いで記録層として、Te(85)Se(15)
(数値は成分割合)合金ターゲットを用い、5mTor
rのSeF6 /Ar混合ガス中で反応性スパッタして膜
厚30nmのTeSeF膜を形成した。
の10mTorr雰囲気中で高周波電力200Wを印加
してプラズマ重合を行い、厚さ15nmのプラズマ重合
膜を形成した。次いで記録層として、Te(85)Se(15)
(数値は成分割合)合金ターゲットを用い、5mTor
rのSeF6 /Ar混合ガス中で反応性スパッタして膜
厚30nmのTeSeF膜を形成した。
【0022】なお、成膜後大気中にて80℃、1時間の
アニールを行った。これは記録層を結晶化して安定化す
るとともに、記録層と下引き層の界面を安定化する効果
もある。次いで、上記で得られた基板を20℃、45%
RH条件下に5日間又は3日間恒温条件下に保持し、表
1の水分濃度に調節した後、該基板の貼り合わせ面にU
V硬化型樹脂(アクリレート系UV硬化型樹脂)をスピ
ンコーターを用いて塗布し、スペーサを介して2枚の基
板を位置決めして合わせた後、基板外側から紫外線を照
射して硬化させて貼り合わせた。得られた光記録媒体に
つき、C/N比、反射率を測定した。その結果を表1に
示す。
アニールを行った。これは記録層を結晶化して安定化す
るとともに、記録層と下引き層の界面を安定化する効果
もある。次いで、上記で得られた基板を20℃、45%
RH条件下に5日間又は3日間恒温条件下に保持し、表
1の水分濃度に調節した後、該基板の貼り合わせ面にU
V硬化型樹脂(アクリレート系UV硬化型樹脂)をスピ
ンコーターを用いて塗布し、スペーサを介して2枚の基
板を位置決めして合わせた後、基板外側から紫外線を照
射して硬化させて貼り合わせた。得られた光記録媒体に
つき、C/N比、反射率を測定した。その結果を表1に
示す。
【0023】比較例1〜3 実施例1において、恒温状態の保持時間を表1のように
変えて表1の水分濃度にして行なったこと以外は同様に
して行なった。その結果を表1に示す。
変えて表1の水分濃度にして行なったこと以外は同様に
して行なった。その結果を表1に示す。
【0024】
【表1】
【0025】
【発明の効果】本発明の方法によれば基板の歪の少ない
エアーサンドイッチ構造の光記録媒体を高収率で製造す
ることができる。
エアーサンドイッチ構造の光記録媒体を高収率で製造す
ることができる。
Claims (3)
- 【請求項1】 少なくとも一方が記録層を有する2枚の
ポリカーボネート樹脂基板を、記録層を内側にし、基板
間に間隔を形成して貼り合わせた光記録媒体を製造する
にあたり、基板上に記録層を成膜した後、基板中の水分
濃度を0.14wt%以上として貼り合わせることを特
徴とする光記録媒体の製造方法。 - 【請求項2】 基板上に記録層を成膜した後、基板を1
5〜25℃、40〜70%RHの恒温状態に保存して基
板中の水分濃度を0.14wt%以上に調整した後貼り
合わせることを特徴とする請求項1に記載の光記録媒体
の製造方法。 - 【請求項3】 基板上に記録層を成膜した後、50〜1
30℃の温度でアニーリング処理することを特徴とする
請求項1又は2に記載の光記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19420294A JPH0863795A (ja) | 1994-08-18 | 1994-08-18 | 光記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19420294A JPH0863795A (ja) | 1994-08-18 | 1994-08-18 | 光記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0863795A true JPH0863795A (ja) | 1996-03-08 |
Family
ID=16320658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19420294A Pending JPH0863795A (ja) | 1994-08-18 | 1994-08-18 | 光記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0863795A (ja) |
-
1994
- 1994-08-18 JP JP19420294A patent/JPH0863795A/ja active Pending
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