JPH0863895A - ディスク及びディスク欠陥検出装置 - Google Patents

ディスク及びディスク欠陥検出装置

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JPH0863895A
JPH0863895A JP6199871A JP19987194A JPH0863895A JP H0863895 A JPH0863895 A JP H0863895A JP 6199871 A JP6199871 A JP 6199871A JP 19987194 A JP19987194 A JP 19987194A JP H0863895 A JPH0863895 A JP H0863895A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sector
disk
sectors
defective
defect
Prior art date
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Pending
Application number
JP6199871A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Sanada
覚 真田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH0863895A publication Critical patent/JPH0863895A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 アクセス時間の遅れを減らす。 【構成】 光ディスク1の全てのセクタについて欠陥の
有無を検査する。その結果、欠陥セクタが見つかった場
合には、その欠陥セクタのセクタアドレスを記憶素子3
の領域Aに格納する。全てのセクタの検査を終了した
ら、欠陥セクタが格納されている領域Aを検索してバー
スト欠陥の有無を調べる。バースト欠陥の有無は、同一
セクタ番号でかつトラック番号が5トラック以上連続し
ている領域があるかどうかで判定する。バースト欠陥が
あった場合には、そのバースト領域が存在するトラック
の前後にあって、かつセクタ番号が同一のセクタも欠陥
セクタとみなして記憶素子3の領域Bに登録する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータや画像処
理装置などの外部記憶装置として利用される光ディスク
及び光磁気ディスクに関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスク(光磁気ディスクを含む)の
製造過程において、何らかの原因によってディスクのセ
クタに欠陥が生じてしまうことがある。この欠陥セクタ
にデータが保存されると、後にデータを読み出そうとし
ても正常に読み出せない場合がある。そこで、ディスク
の製造後に、全てのセクタに対して欠陥の有無を検査し
ている。その結果、欠陥セクタが発見されると、その欠
陥セクタの位置情報(セクタアドレス)を光ディスク上
の所定の領域に設けられた欠陥リストに登録しておく。
そして、この欠陥リストに登録されたセクタには、デー
タの書込みは行わず、他のセクタ(交代セクタ)に書か
れる。この交代セクタを速やかに見つけるため、交代セ
クタが書かれるべき領域(交代領域とよぶ)を予め決め
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】光ディスクの欠陥に
は、大きく分けて、2つの種類がある。一つは、ランダ
ム欠陥と呼ばれる小さな欠陥であり、もう一つはバース
ト欠陥と呼ばれる比較的大きな欠陥である。バースト欠
陥の中には、経年変化によって欠陥自身が成長していく
ものがあることが知られている。その大きさは最大で数
マイクロメートルにもなる。この成長した欠陥が隣接す
るセクタにまで及ぶと、工場出荷時には正常であったセ
クタの記録再生ができなくなるために、新たな交代処理
が発生してアクセスが遅くなるという不具合があった。
本発明の目的は、新たな交代処理が発生することによっ
て、アクセスが遅くなるのを防ぐことにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は、複
数のトラックを有し、該トラックが複数のセクタに分割
され、欠陥セクタの情報が所定の領域に保存されている
ディスクにおいて、2つ以上の欠陥がディスクの半径方
向で隣接しているセクタの情報が、前記所定の領域に保
存されているディスク(請求項1)を提供する。
【0005】また、上述したディスクの欠陥を検出する
ディスク欠陥検出装置において、2つ以上の欠陥がディ
スクの半径方向で隣接しているセクタの情報を前記ディ
スク上の所定の領域に保存するディスク欠陥検出装置
(請求項2)を提供する。
【0006】
【作用】本発明によれば、バースト欠陥と隣接するセク
タの情報が、予め(たとえば工場出荷時に)ディスクの
所定の領域に保存されている。ディスクの記録再生装置
においては、その情報を基にしてバースト欠陥と隣接す
るセクタも欠陥セクタとみなして交代処理をすることが
できる。
【0007】バースト欠陥が成長して隣接するセクタに
まで及んだ場合でも、この隣接するセクタは交代処理さ
れているために、実際のデータの記録再生は行われな
い。従って、新たな交代処理も発生しないため、アクセ
スが遅くなることもない。そして、この欠陥リストに登
録されたセクタには、データの書込みは行わず、他のセ
クタ(交代セクタ)に書く。
【0008】
【実施例】図1は、本実施例にかかわる光ディスク欠陥
検査装置の全体構成を示すブロック図である。1は光デ
ィスク、2は光ディスクの欠陥を検査し、その欠陥情報
を光ディスクに登録する光ディスク欠陥検査ドライブ、
3は欠陥情報を一時的に保存しておくRAM等の記憶素
子である。この記憶素子は、実際の欠陥セクタの情報を
格納しておく領域Aとバースト欠陥の隣接セクタを登録
しておく領域Bからなる。
【0009】図2は、本実施例にかかわる光ディスクの
トラックフォーマットである。トラックピッチは1.6
マイクロメートルである。また、バースト欠陥には、セ
クタの欠陥がディスクの半径方向に2つ以上連なったも
のまで含めることができるが、本発明者らの研究によれ
ば、欠陥長が8マイクロメートル(5トラックピッチ)
以上に及ぶと、欠陥の成長が進みやすいことがわかっ
た。そこで、本実施例では、5トラックピッチ以上に及
んでいる欠陥のみをバースト欠陥とみなすことにした。
【0010】本実施例では、まず光ディスク1の全ての
セクタについて欠陥の有無を検査する。その結果、欠陥
セクタが見つかった場合には、その欠陥セクタのセクタ
アドレス(トラック番号とセクタ番号)を記憶素子3の
領域Aに格納する。全てのセクタの検査を終了したら、
欠陥セクタが格納されている領域Aを検索してバースト
欠陥の有無を調べる。バースト欠陥の有無は、同一セク
タ番号でかつトラック番号が5トラック以上連続してい
る領域があるかどうかで判定する。バースト欠陥があっ
た場合には、そのバースト領域が存在するトラックの前
後にあって、かつセクタ番号が同一のセクタも欠陥セク
タとみなして記憶素子3の領域Bに登録する。
【0011】図3は、本実施例を具体的に説明するため
に用いる、あるディスクに存在する欠陥セクタのアドレ
スを示す。ディスクの全セクタの検査の結果、図3に示
したような欠陥セクタが見つかると、これらのセクタア
ドレスは記憶素子3の領域Aに格納される。次にこの領
域Aに格納された欠陥セクタの中から、バースト欠陥の
有無を検索する。 すなわち、同一のセクタ番号であっ
て、かつ5つ以上の連なったトラック番号があるか否か
を判定すればよい。図3の例では、トラック番号50か
ら54で、かつセクタ番号4のセクタ領域と、トラック
番号125から130で、かつセクタ番号15のセクタ
領域にバースト欠陥が存在している。そこで、これらセ
クタ領域の前後にあるトラックで、セクタ番号が同じで
ある次の4つのセクタ(バースト欠陥に対して、ディス
クの半径方向に隣接するセクタ)が、追加セクタ記憶領
域Bに追加される。 1)トラック番号49 セクタ番号4 2)トラック番号55 セクタ番号4 3)トラック番号124 セクタ番号15 4)トラック番号131 セクタ番号15 次に、ディスク媒体上の欠陥リスト(図示せず)に欠陥
セクタアドレスを登録する。登録する欠陥セクタアドレ
スは、実際に欠陥のあるセクタアドレスを保存した記憶
素子3の領域Aのセクタアドレスと共に、バースト欠陥
に隣接しているセクタアドレスを保存した領域Bに格納
されているセクタアドレスも追加して登録する。この結
果、実際にディスク上の欠陥リストに登録されるセクタ
アドレスは図4のようになり、バースト欠陥に隣接した
セクタも欠陥リストに登録される。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
バースト欠陥が経年変化によって大きくなり、欠陥セク
タが隣接するセクタに及んだとしても、その隣接セクタ
は工場出荷時に予め交代処理されているため、新たな交
代処理が発生してアクセスが遅くなるといった不具合を
未然に防ぐことができるという優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】は、本発明の実施例にかかわる光ディスク欠陥
検査装置の全体構成を示すブロック図である。
【図2】は、本発明の実施例にかかわる光ディスクのト
ラックフォーマットである。
【図3】は、本発明の実施例にかかわる光ディスクに存
在する欠陥セクタのアドレスを示す。
【図4】は、本発明の実施例にかかわる光ディスク上の
欠陥リストに登録されるセクタアドレスを示す。
【符号の説明】
1・・・光ディスク 2・・・光ディスク欠陥検査ドライブ 3・・・記憶素子

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のトラックを有し、該トラックが複
    数のセクタに分割され、欠陥セクタの情報が所定の領域
    に保存されているディスクにおいて、ディスクの半径方
    向で隣接している欠陥セクタの情報が、前記所定の領域
    に保存されていることを特徴とするディスク。
  2. 【請求項2】 複数のトラックを有し、該トラックを複
    数のセクタに分割してデータを保存するディスクの欠陥
    を検出するディスク欠陥検出装置において、2つ以上の
    欠陥がディスクの半径方向で隣接しているセクタの情報
    を前記ディスク上の所定の領域に保存することを特徴と
    するディスク欠陥検出装置。
  3. 【請求項3】 複数のトラックを有し、該トラックが複
    数のセクタに分割され、欠陥セクタの情報が所定の領域
    に保存されているディスクにおいて、ディスクの半径方
    向で隣接している欠陥セクタがある場合に、前記欠陥セ
    クタにディスクの半径方向で隣接している正常なセクタ
    の情報が、欠陥セクタの情報として前記所定の領域に保
    存されていることを特徴とするディスク。
JP6199871A 1994-08-24 1994-08-24 ディスク及びディスク欠陥検出装置 Pending JPH0863895A (ja)

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