JPH0868667A - 光学式エンコーダ装置 - Google Patents

光学式エンコーダ装置

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JPH0868667A
JPH0868667A JP20496394A JP20496394A JPH0868667A JP H0868667 A JPH0868667 A JP H0868667A JP 20496394 A JP20496394 A JP 20496394A JP 20496394 A JP20496394 A JP 20496394A JP H0868667 A JPH0868667 A JP H0868667A
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signal
light
scale
light receiving
reference voltage
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JP20496394A
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Sohei Tanaka
壮平 田中
Kenichi Kataoka
健一 片岡
Masahiko Igaki
正彦 井垣
Masafumi Wataya
雅文 綿谷
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Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 発光素子の経時的変化が大きくても安定した
2値化信号を得る信号処理装置を有する光学式エンコー
ダ装置を提供する。 【構成】 受光手段6a、6b、および6cから出力さ
れる第1の信号ca、第2の信号cb、および第3の信
号ccの和信号と、第1の基準電圧V1とを比較する比
較手段118と、比較手段118の出力信号に応じて光
照射手段の光量を制御する制御手段120とを有する。
第1の基準電圧V1と比較する信号として、和信号を1
/4にした信号を用いる。また、第1の信号caと第2
の信号cbとから第1のスケールと第2のスケールとの
相対的な変位情報を検出する際に、第1の信号caおよ
び第2cbの信号を2値化し、コンパレートレベルとな
る第2の基準電圧V2を第1の基準電圧V1と同じ値と
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学式のロータリーエ
ンコーダやリニアエンコーダに関し、特に信号処理装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来からフロッピーディスクの駆動装置
等のコンピュータ機器、プリンタ等の事務機器、もしく
はNC工作機器、さらにはVTRのキャプスタンモータ
や回転ドラム等の回転機構の、回転速度や回転変位量、
または直線移動物体の変動量を検出するための手段とし
て、光学式のロータリーエンコーダやリニアエンコーダ
が利用されている。
【0003】図4は従来例の光学式リニアエンコーダの
主要部概略図である。図4に示すように、従来の光学式
リニアエンコーダは、赤外発光LED等の発光素子1
と、光学レンズ2と、平行光束を一定の量に絞る光学ス
リット3と、一定周期のV溝を備える格子を有する可動
スケール4と、可動スケール4と同様にV溝を備える格
子を有する固定されている偏向スケール(以下、固定ス
ケールと記述する)5と、受光素子6a、6b、6c
と、信号処理回路部7とを有する構成となっている。
【0004】図4において、発光素子1は波長λの可干
渉性光束を発し、光学レンズ2は発光素子1からの発散
光束を平行光束に変換する。光学スリット3を通った光
束は、可動スケール4において光透過部と光遮光部とを
等間隔にした周期的なピッチPの平行光束列となって、
固定スケール5に入射する。ピッチPに対する可動スケ
ール4と固定スケール5との位相差によって、3方向に
偏向される光束量が変化する。この3方向に分解された
光束量の変化を各受光素子6a、6b、6cが捕えて電
流変換し、信号処理回路部7で位相パルス信号に変換す
る。
【0005】図5はスケールにおける光束の偏向説明図
である。図5を用いて可動スケール4および固定スケー
ル5に入射する光束の偏向光路を説明する。図5(a)
の上面から入射した平行光束列は、可動スケール4のV
溝4a部に入った場合には全反射して遮光部となり、V
溝4b部に入った場合にも同様に全反射して遮光部とな
る。平行光束列は4c部に入った場合にのみ透過して透
過部となる。図5(b)の上面から入射した平行光束列
は、固定スケール5のV溝5a部に入った場合には図中
右方向に屈折し、V溝5b部に入った場合には図中左方
向に屈折する。平行光束列は5c部に入った場合にの
み、そのまま直進する。このようにして、可動スケール
4を透過した平行光束列は固定スケール5によって3方
向に偏向される。
【0006】図6ないし図9はスケールの変位量と光束
の偏向光量との説明図である。以下、図6ないし図9を
用いて、可動スケール4と固定スケール5との相対的な
位置変位量と、3方向の偏向光量との関係を説明する。
図6は変位量0の位置での光路を示しており、可動スケ
ール4を透過した平行光束列は全て固定スケール5中を
直進して受光素子6cのみに入る。図7は変位量が1/
4Pの位置での光路を示しており、可動スケール4を透
過した平行光束列の右半分が直進して受光素子6cに入
り、左半分が右に屈折して受光素子6aに入る。図8は
変位量が1/2Pの位置での光路を示しており、可動ス
ケール4を透過した平行光束列の右半分が右に屈折して
受光素子6aに入り、左半分が左に屈折して受光素子6
bに入る。図9は変位量が3/4Pの位置での光路を示
しており、可動スケール4を透過した平行光束列の右半
分が左方向に屈折して受光素子6bに入り、左半分が直
進して受光素子6cに入る。
【0007】図10はスケールの変位量に対する受光光
量の変化を示す図である。図10を用いて、図6ないし
図9に示した可動スケール4と固定スケール5との位置
変位量に対する受光素子6a、6b、6cの受光光量の
変化を説明する。図10においては、受光素子6a、6
b、6cのそれぞれの光量変化の信号処理波形である、
A相信号ca、B相信号cb、C相信号ccを示してい
る。図10(a)は理想的な直線状の波形であるが、実
際には全ての光路がこのように理想的ではなく、途中減
衰、反射、光路のオーバーラップ等が起こるので、図1
0(b)に示すようにピーク値のつぶれた略正弦波形状
に変化する。
【0008】光学式エンコーダは従来から、受光素子と
してホトダイオードを用いて光量を電流変換し、電流−
電圧変換回路の出力信号を一定の基準値でコンパレート
することで2値化信号を得ている。図11は従来例の光
学式エンコーダの2値化信号処理回路図である。図12
は図11の各部の信号波形図である。図13は図11の
光量変動時の各部の信号波形図である。以下、図11な
いし図13を用いて説明する。
【0009】図11中の制限抵抗201は発光素子1に
流れる電流を決定し、供給電圧Vccが変動しなければ
発光素子1は一定光量で発光する。可動スケールおよび
固定スケール通過後の光束列はホトダイオード等の受光
素子6a、6b、6cに入り、受光光量が電流変換され
る。受光素子6a、6b、6cのカソード側は共通で逆
バイアス電圧印加用抵抗202が接続されており、この
逆バイアス電圧が受光素子6a、6b、6cの接合容量
を減少させ、周波数応答性を良くしている。受光素子6
aに流れる電流は基準抵抗206を流れてオペアンプ2
07の帰還電流となり、オペアンプ207の正極入力端
子(+)電圧から基準抵抗206の両端電位を引いた値
がオペアンプ207の出力電圧となるので、基準抵抗2
06とオペアンプ207と発振防止用の帰還容量208
とは電流−電圧変換回路を構成する。各受光素子6b、
6cにも同様に、それぞれ基準抵抗209、212と、
オペアンプ210、213と、帰還容量211、214
とで構成される電流−電圧変換回路が接続される。各受
光素子6a、6b、6cに流れる電流を電流−電圧変換
したオペアンプの出力CA、CB、CCにおける信号波
形は、それぞれ図12に示すA相信号ca、B相信号c
b、C相信号ccである。ここでオペアンプ207、2
10、213の正極入力端子(+)電圧は、抵抗20
3、204、および205の分圧比で決定された基準電
圧V1である。オペアンプ215、216の正極入力端
子(+)は、A相信号caおよびB相信号cbの振幅中
心用の基準電圧V2である。オペアンプ215、216
は基準電圧V2で比較される回路であり、それらの出力
信号は、それぞれTA、TBである。
【0010】図12(a)は、図11におけるA相信号
ca、B相信号cb、C相信号ccを、スケール位相差
に対するセンサ出力電圧波形として示している。このよ
うに光量が多いほど基準電圧V1から下がった電圧を中
心にした略正弦波振幅波形となる。図12(b)はT
A、TBの波形であり、デューティ比50%の矩形波信
号がお互いに1/4ピッチ(90゜)位相のずれた信号
となり、このとき、TAをA相2値化信号、TBをB相
2値化信号と呼ぶ。
【0011】しかし、このようにコンパレートレベルが
一定である場合、発光光源の経時的な変化や外部温度の
変化による発光強度の変動、それに各光学スケールに付
着した塵や汚れによる透過光量の変動によって、出力信
号は図13(a)に示すように、振幅中心レベルや信号
振幅が変動する。また、図13(b)に示すように、A
相2値化信号TA、B相2値化信号TBは、デューティ
比もしくは位相差が安定しない、または矩形波が出力さ
れないということが発生する。
【0012】そこで従来は、可動スケール4を透過した
平行光束列の全てが3方向に分散して受光素子6a、6
b、6cに入射することから、A相信号ca、B相信号
cb、C相信号ccの平均値をとって、常にA相信号c
aおよびB相信号cbの振幅中心値とすることによっ
て、上記不具合を防いでいた。図14は従来例の光学式
エンコーダの改良された信号処理回路図である。図15
は図14の光量変動時の各部の信号波形図である。
【0013】図14の構成は、ほぼ図11の回路と同様
である。制限抵抗301は発光素子1に流れる電流を決
定する。受光素子6a、6b、6cのカソード側は共通
で逆バイアス電圧印加用抵抗302が接続されている。
基準電圧V1は、抵抗303および304の分圧比で決
定されている。オペアンプ306、309、312はそ
れぞれ、図11のオペアンプ207、210、213に
対応し、基準抵抗305、308、311はそれぞれ、
図11の基準抵抗206、209、212に対応し、帰
還容量307、310、313はそれぞれ、図11の帰
還容量208、211、214に対応している。
【0014】図14に示すように、図11と同様にして
受光素子6a、6b、6cに流れる電流をオペアンプで
電流−電圧変換した出力CA、CB、CCにおけるA相
信号ca、B相信号cb、C相信号ccを、それぞれが
同じ抵抗値を有する抵抗器314、315、316、3
17で加算して、オペアンプ318の帰還抵抗319の
抵抗値を抵抗器314等の抵抗値の1/4とすること
で、平均値がオペアンプ318の出力電圧(以下、コン
パレーション電圧と記述する)TSとなる。図15
(a)は、図14の回路において光量等が変動した場合
のコンパレーション電圧TSのグラフである。このTS
をA相信号caおよびB相信号cbのコンパレーション
レベルとしてコンパレータ320および321に入力す
ると、図15(b)に示すように、A相2値化信号TA
およびB相2値化信号TBはデューティ比および位相差
が安定する。
【0015】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら図1
4に示したような改良された従来例でも、発光素子の選
択において安価な赤外発光LEDを用いた場合、経時的
変化に対する発光光量の変動量が非常に大きいために、
コンパレーション電圧TSを正確に捕えるだけのダイナ
ミックレンジの広い回路設計が困難となり、測定系に寿
命ができてしまうという問題点があった。
【0016】このような点に鑑み本発明は、発光素子の
経時的変化が大きくても安定した2値化信号を得る信号
処理装置を有する光学式エンコーダ装置を提供すること
を目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の光学式エンコーダ装置は、一定周期の格子を
有する第1のスケールに光照射手段から光束を照射し、
該第1のスケールで光変調した光束を一定周期の格子を
有する第2のスケールに入射させ、該第2のスケールで
光変調した光束を複数の受光素子を有する受光手段で受
光し、該受光手段から出力される第1の信号と第2の信
号とから、該第1のスケールと該第2のスケールとの相
対的な変位情報を検出する光学式エンコーダ装置であ
り、前記第1の信号、前記第2の信号、および前記受光
手段から出力される第3の信号の和信号と、第1の基準
電圧とを比較する比較手段と、該比較手段の出力信号に
応じて前記光照射手段の光量を制御する制御手段とを有
する。
【0018】上記本発明の光学式エンコーダ装置は、前
記第1の基準電圧と比較する信号として、前記和信号を
1/4にした信号を用いる。
【0019】また、上記本発明の光学式エンコーダ装置
は、前記受光手段から出力される前記第1の信号と前記
第2の信号とから、前記第1のスケールと前記第2のス
ケールとの相対的な変位情報を検出する際に、該第1の
信号および該第2の信号を2値化し、コンパレートレベ
ルとなる第2の基準電圧を前記第1の基準電圧と同じ値
とすることができる。
【0020】さらに、上記本発明の光学式エンコーダ装
置は、前記受光手段の指向特性を補正して、前記第1、
第2、および第3の信号の振幅の比が1:1:2である
光−電圧変換回路を有することができる。
【0021】
【作用】上記のように構成される本発明の光学式エンコ
ーダ装置は、受光手段から得られた光量情報から総透過
光量を測定して一定の透過光量となるように発光光量制
御を行うことができ、発光素子の経時的変化が大きくて
も安定した2値化信号を得ることができる。
【0022】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0023】図1は本発明の一実施例の光学式リニアエ
ンコーダの信号処理回路図である。図2は本発明の一実
施例の光学式リニアエンコーダの主要部概略図である。
図3は図1の各部の信号波形図である。
【0024】まず初めに、図2を用いて概略を説明す
る。図2の構成は従来例で説明した図4とほぼ同じであ
るので、主に異なる部分を説明する。発光素子1として
用いている赤外発光LEDは、本実施例では受光素子6
a、6b、6cの分光感度特性に合わせて選択されたも
のである。光学レンズ2はキャンシールタイプのパッケ
ージで一体構造となったものであり、発光素子lからの
発散光束を平行光束に変換する。平行光束を一定の量に
絞る光学スリット3を通った光束は、V溝を備える格子
を有する可動スケール4において光透過部と光遮光部と
を等間隔にした周期的なピッチPの平行光束列となっ
て、固定スケール5に入射する。この固定スケール5は
透光性の光学材料(例えばプラスチック)の射出成型、
圧縮成型等の製法で作成され、可動スケール4と同様に
V溝を備える格子を有する。可動スケール4と固定スケ
ール5とのピッチPに対する位相差によって、3方向に
偏向される光束量が変化する。この3方向に分解された
光束量の変化を、同一シリコンチップ上に形成されたホ
トダイオード等の受光素子6a、6b、6cが捕えて電
流変換し、信号処理回路部7において位相パルス信号に
変換する。信号処理回路部7では測定された光量に応じ
て発光素子1の電流制御信号を生成し、発光素子電力制
御部8に電流制御信号を送り、それによって発光素子電
力制御部8に接続された発光素子1の発光光量が制御さ
れる。電力供給線9、10は信号処理回路部7および発
光素子電力制御部8に電力を供給する。光量制御信号線
11は光量制御用オペアンプ120の出力信号である。
電力供給線12、13は発光素子1に電力を供給する。
【0025】次に図1を用いて、信号処理回路部7およ
び発光素子電力制御部8の詳細な説明を行う。
【0026】図1中の発光素子lからの光束が、図2で
示した光学レンズ2、光学スリット3、可動スケール
4、固定スケール5を通過後にホトダイオード等の受光
素子6a、6b、6cに入り光量が電流変換される。受
光素子6a、6b、6cのカソード側は共通で逆バイア
ス電圧印加用抵抗101が接続されており、この逆バイ
アスが受光素子6a、6b、6cの接合容量を減少さ
せ、周波数応答性が良くなる。また3個の受光素子6
a、6b、6cは同一シリコンチップ上に形成されるの
で、暗電流の差はほとんどないと考えてよい。
【0027】受光素子6aに流れる電流は基準抵抗10
5を流れて受光電流−電圧変換オペアンプ(以下、オペ
アンプと記述する)106の帰還電流となり、オペアン
プ106の正極入力端子(+)電圧から基準抵抗105
の両端電位を引いた値がオペアンプ106の出力電圧と
なるので、基準抵抗105とオペアンプ106と発振防
止用の帰還容量107とは電流−電圧変換回路を構成す
る。本実施例において、発光素子1の寿命を延ばすこと
を目的としてLED電流を10mA以下となるように設
計すると、受光素子6a、6b、6cの光電流が微少電
流となるので、電圧変換用基準抵抗を数100KΩと大
きな値に設定している。各受光素子6b、6cにも同様
に、基準抵抗108、111と、受光電流−電圧変換オ
ペアンプ(以下、オペアンプと記述する)109、11
2と、帰還容量110、113とで構成される電流−電
圧変換回路が接続される。ここで、オペアンプ106、
109、112の正極入力端子(+)電圧は抵抗10
2、103、および104の分圧比で決定した基準電圧
V1である。従来の技術の図12(a)に示したよう
に、CA、CB、CCにおけるA相信号ca、B相信号
cb、C相信号ccは、受光光量が多いほど基準電圧V
1から下がった電圧を中心とする略正弦波振幅波形とな
る。A相信号ca、B相信号cb、C相信号ccは、式
1ないし式3で表わされる。
【0028】 ca=V1−{A*SIN(ωt)+VL} 1 cb=V1−{A*COS(ωt)+VL} 2 cc=V1−[−A*{SIN(ωt)+COS(ωt)}+2*VL] 3 ここで、ωは周波数を、tは時間を、AはA相信号ca
およびB相信号cbの出力信号振幅を、VLは振幅中心
のV1からのDC変動レベルを表わしている。このとき
各信号の和信号は、式4で表わされる。
【0029】 ca+cb+cc=3*V1−4*VL 4 ここで、V1およびVLがDCレベルで一定値であるの
で、3信号の和信号も一定値となる。また上記和信号に
V1を加えて1/4にすると、式5となる。
【0030】 (ca+cb+cc+V1)/4=(3*V1−4*VL+V1)/4 =V1−VL 5 式5は、A相信号caおよびB相信号cbの振幅中心電
圧と同じ値になる。この値を2値化する際のコンパレー
ション・レベルとして用いると、50%デューティの矩
形波を出力することができる。
【0031】そこで、再び図1に戻り説明を続けると、
A相信号ca、B相信号cb、C相信号ccの信号電圧
をそれぞれ抵抗器114、115、116で接続し、基
準電圧V1を抵抗器117で接続し、抵抗器114ない
し117を同じ値にすると、接合点電位は(ca+cb
+cc+V1)となり、その接合点に加算および1/4
演算用オペアンプ118と、上記4個の抵抗器114な
いし117の1/4の値の抵抗器119とを接続する
と、式5に示した(V1−VL)が出力される。オペア
ンプ118から出力される平均化した値は、光量制御用
オペアンプ120において、抵抗102、103、10
4の分圧比で決定された基準電圧V2と比較され、出力
が一定値になるように発光素子lを制御する電力制御用
トランジスタ121のべ−ス入力に信号供給される。電
力制御用トランジスタ121および電力制限抵抗122
は図2中の発光素子電力制御部8中にあり、発光素子l
に光量制御した電力供給を行う。
【0032】このように受光素子上の光量の総量が常に
一定になるように発光素子lの光量制御を行うことで、
経時的な発光光量変化やスケールの汚れ等によらず、A
相信号caおよびB相信号cbの振幅中心用の基準電圧
はV2と同一の一定値となる。このため、A相2値化信
号TAおよびB相2値化信号TBは、相出力用コンパレ
ータ123、124の正極入力端子(+)電圧として基
準電圧V2を入力し、負極入力端子(−)電圧にA相信
号ca、B相信号cbを入力することで出力される。
【0033】図3(a)は図1におけるA相信号ca、
B相信号cb、C相信号ccのそれぞれの光量変化の、
理想的な直線状の信号処理波形である。実際には図3
(b)のようにピーク値のつぶれた略正弦波形状に変化
する。図3(c)はA相2値化信号TA、B相2値化信
号TBの波形である。図1の構成においては、図3
(b)に示すように受光光量を検出した各出力信号c
a、cb、ccの振幅が一定になるように制御している
ので各部の波形が常に理想的な振幅となり、TA、TB
は図3(c)に示すように位相差が安定した50%デュ
ーティの矩形波となる。
【0034】本発明の他の実施例を説明する。受光素子
6a、6bには約30゜の入射角で光束が入るのに対
し、受光素子6cには0゜の入射角で入るので、受光素
子の指向特性によって、受光素子の相対感度が約10%
低下する。そこで図1中の電流−電圧変換回路の基準抵
抗105、108、111の抵抗値を 105:108:111=1:0.9:1 6 の比になるように設定する。このようにして、基準抵抗
を流れる電流が一定になるように光量制御を行うことが
できるので、基準抵抗に一定の比を付けることができ
る。
【0035】
【発明の効果】以上のように本発明の構成によれば、複
数の受光手段から得られる信号を信号処理回路で適切に
処理することができ、エンコーダの相信号を生成する電
流−電圧変換回路のオペアンプ出力信号の振幅中心を一
定にするように発光素子の発光強度を制御できるので、
以下に記述する効果を有する。
【0036】(1)光源の発光強度の経時的変動や外部
温度変動に伴う変化、および光学スケールの汚れ等によ
る光学特性の変化があっても、2値化信号処理後の波形
のデューティ比が変動しない。
【0037】(2)発光強度制御を行うことによって、
初期の発光強度を低くして信号処理回路の電流−電圧変
換回路の倍率を大きくする設計が可能となり、発光素子
の寿命を延ばすことができる。
【0038】(3)相信号を出力するコンパレータの比
較電圧を一定値とすることによって、デューティ比が変
動せず、安定する。
【0039】(4)周囲温度によって発生するホトダイ
オードの暗電流の変動も光量制御手段が補正することに
よって、微少光量でも安定した相信号を出力できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の光学式エンコーダの信号処
理回路図
【図2】本発明の一実施例の光学式エンコーダの主要部
概略図
【図3】図1の各部の信号波形図
【図4】従来例のリニアエンコーダの主要部概略図
【図5】スケールにおける光束の偏向説明図
【図6】スケールの変位量と光束の偏向光量との説明図
【図7】スケールの変位量と光束の偏向光量との説明図
【図8】スケールの変位量と光束の偏向光量との説明図
【図9】スケールの変位量と光束の偏向光量との説明図
【図10】スケールの変位量に対する受光光量の変化を
示す図
【図11】従来例の光学式エンコーダの2値化信号処理
回路図
【図12】図11の各部の信号波形図
【図13】図11の光量変動時の各部の信号波形図
【図14】従来例の光学式エンコーダの改良された信号
処理回路図
【図15】図14の光量変動時の各部の信号波形図
【符号の説明】
1 発光素子 2 光学レンズ 3 光学スリット 4 可動スケール 5 固定スケール 6a A相用受光素子 6b B相用受光素子 6c C相用受光素子 7 信号処理回路部 8 発光素子電力制御部 9、10、12、13 電力供給線 11 光量制御信号線 101 逆バイアス電圧印加用抵抗 105、108、111 基準抵抗 106、109、112 受光電流−電圧変換オペア
ンプ 107、110、113 帰還容量 118 加算および1/4演算用オペアンプ 120 光量制御用オペアンプ 121 電力制御用トランジスタ 122 電力制限抵抗 123、124 相出力用コンパレータ ca A相信号 cb B相信号 cc C相信号 TA A相2値化信号 TB B相2値化信号 V1 基準電圧 V2 基準電圧
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 綿谷 雅文 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定周期の格子を有する第1のスケール
    に光照射手段から光束を照射し、該第1のスケールで光
    変調した光束を一定周期の格子を有する第2のスケール
    に入射させ、該第2のスケールで光変調した光束を複数
    の受光素子を有する受光手段で受光し、該受光手段から
    出力される第1の信号と第2の信号とから、該第1のス
    ケールと該第2のスケールとの相対的な変位情報を検出
    する光学式エンコーダ装置において、 前記第1の信号、前記第2の信号、および前記受光手段
    から出力される第3の信号の和信号と、第1の基準電圧
    とを比較する比較手段と、 該比較手段の出力信号に応じて前記光照射手段の光量を
    制御する制御手段とを有することを特徴とする、光学式
    エンコーダ装置。
  2. 【請求項2】 前記第1の基準電圧と比較する信号とし
    て、前記和信号を1/4にした信号を用いることを特徴
    とする、請求項1に記載の光学式エンコーダ装置。
  3. 【請求項3】 前記受光手段から出力される前記第1の
    信号と前記第2の信号とから、前記第1のスケールと前
    記第2のスケールとの相対的な変位情報を検出する際
    に、 該第1の信号および該第2の信号を2値化し、コンパレ
    ートレベルとなる第2の基準電圧を前記第1の基準電圧
    と同じ値とすることを特徴とする、請求項1または2に
    記載の光学式エンコーダ装置。
  4. 【請求項4】 前記受光手段の指向特性を補正して、前
    記第1、第2、および第3の信号の振幅の比が1:1:
    2である光−電圧変換回路を有することを特徴とする、
    請求項1に記載の光学式エンコーダ装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005156367A (ja) * 2003-11-26 2005-06-16 Olympus Corp 光学式エンコーダ
JP2009002932A (ja) * 2007-06-22 2009-01-08 Lite-On Semiconductor Corp 一部の全反射光源及び一部の非全反射光源の少なくとも一方を利用する光学式移動検知装置
CN100520306C (zh) 2006-08-30 2009-07-29 夏普株式会社 光电式编码器以及使用它的电子设备
CN102193327A (zh) * 2010-03-12 2011-09-21 Asml荷兰有限公司 光刻设备和器件制造方法
US8207488B2 (en) 2005-03-14 2012-06-26 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector circuit
US8351024B2 (en) 2009-03-13 2013-01-08 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method involving a level sensor having a detection grating including three or more segments
US8675210B2 (en) 2009-03-13 2014-03-18 Asml Netherlands B.V. Level sensor, lithographic apparatus, and substrate surface positioning method
US8842293B2 (en) 2009-03-13 2014-09-23 Asml Netherlands B.V. Level sensor arrangement for lithographic apparatus and device manufacturing method
US8993954B2 (en) 2011-02-28 2015-03-31 Canon Kabushiki Kaisha Optical encoder having a high resolution detection mode to detect a fine pitch pattern and a low resolution detection mode to detect a coarse pitch pattern
JP2018044782A (ja) * 2016-09-12 2018-03-22 株式会社ミツトヨ 光電式エンコーダ

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005156367A (ja) * 2003-11-26 2005-06-16 Olympus Corp 光学式エンコーダ
US8207488B2 (en) 2005-03-14 2012-06-26 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector circuit
CN100520306C (zh) 2006-08-30 2009-07-29 夏普株式会社 光电式编码器以及使用它的电子设备
JP2009002932A (ja) * 2007-06-22 2009-01-08 Lite-On Semiconductor Corp 一部の全反射光源及び一部の非全反射光源の少なくとも一方を利用する光学式移動検知装置
US8675210B2 (en) 2009-03-13 2014-03-18 Asml Netherlands B.V. Level sensor, lithographic apparatus, and substrate surface positioning method
US8351024B2 (en) 2009-03-13 2013-01-08 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method involving a level sensor having a detection grating including three or more segments
US8842293B2 (en) 2009-03-13 2014-09-23 Asml Netherlands B.V. Level sensor arrangement for lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2011209278A (ja) * 2010-03-12 2011-10-20 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
JP2011203248A (ja) * 2010-03-12 2011-10-13 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
US8619235B2 (en) 2010-03-12 2013-12-31 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
CN102193327A (zh) * 2010-03-12 2011-09-21 Asml荷兰有限公司 光刻设备和器件制造方法
US8993954B2 (en) 2011-02-28 2015-03-31 Canon Kabushiki Kaisha Optical encoder having a high resolution detection mode to detect a fine pitch pattern and a low resolution detection mode to detect a coarse pitch pattern
JP2018044782A (ja) * 2016-09-12 2018-03-22 株式会社ミツトヨ 光電式エンコーダ

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