JPH04355305A - 光位置検出器 - Google Patents

光位置検出器

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JPH04355305A
JPH04355305A JP3131157A JP13115791A JPH04355305A JP H04355305 A JPH04355305 A JP H04355305A JP 3131157 A JP3131157 A JP 3131157A JP 13115791 A JP13115791 A JP 13115791A JP H04355305 A JPH04355305 A JP H04355305A
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Application number
JP3131157A
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English (en)
Inventor
Hiroyoshi Suzuki
鈴木 尋善
Takahiro Moronaga
諸永 高宏
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光入射位置に対して
、位置検出精度を向上できるようにした光位置検出器に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近時、高い耐久性、信頼性をもって、物
体の直線変位や角度変位を検出するために、電気的接触
を用いる可変抵抗器を用いた位置検出器に代わり、移動
体より放射あるいは移動体で反射、透過される光が抵抗
層を備えた光位置検知素子で受光し、この光位置検知素
子での受光位置により、非接触に前記移動体の直線変位
や角度変位を検出する光位置検出器が用いられている。
【0003】このような光位置検出器およびその光位置
検出素子として、特開昭61−271413号公報や特
開昭63−32305号公報のごとく、シリコン光起電
力層と抵抗層を積層した構造の光位置検出器が知られて
いる。
【0004】次に、このような従来例について説明する
。図9は従来の光位置検出器のシリコン半導体を用いた
光位置検知素子の分解斜視図であり、図10は光位置検
出器の構成を示す構成説明図である。
【0005】まず、図9において、Aは光位置検知素子
であり、1は基板である。この基板1は、ここでは、透
明板ガラスである場合を示している。
【0006】また、2a,2bは位置検出電極であり、
Alなどの金属を基板上に蒸着して形成しており、3は
透明抵抗層(以下、抵抗層という)である。この抵抗層
3は酸化インジウム、錫(ITO)膜、あるいは酸化錫
(Sn O2 )膜をその両端が検出電極2a,2bと
重なるように、スパッタ、または蒸着にて、帯状に形成
している。
【0007】4はシリコン半導体層であり、ここでは、
アモルファスシリコン半導体(a−Si)を用いた場合
を示しており、プラズマCVD法などの蒸着法により、
抵抗層3上にP層、I層、N層の順に成膜され、PIN
構造の光起電力層を形成している。以下、光起電力層と
いう。
【0008】5はバイアス電極であり、同じくAlなど
の金属を光起電力層の検出領域の上に蒸着にて、形成し
ている。
【0009】次に、図10の光位置検出器の構成につい
て説明する。この図10において、7はLEDなどの光
源であり、光起電力層4がa−Si層である場合には、
その受光感度特性より、通常可視光源が用いられている
【0010】この光源7の前方、すなわち、図10の右
側には、光拡散板8が配設されている。光拡散板8は光
源7の放射光を均等に拡散させ、移動スリット板9をほ
ぼ同一照度で照明するようにしている。
【0011】この移動スリット板9の一部には、矩形状
のスリット91が設けられている。このスリット91を
透過して、光位置検出素子Aに入射光ビーム6が入射す
るようになっている。
【0012】一方、20は位置検出回路である。この位
置検出回路20内の非反転増幅器21a,21bの各反
転入力端((−)入力端)には、光位置検知素子Aの両
端の検出電極2a,2bがそれぞれ接続されている。
【0013】光位置検知素子Aのバイアス電極5はバイ
アス電位(ここでは、接地電位)に接続されている。
【0014】非反転増幅器21a,21bの各非反転入
力端((+)入力端)はバイアス電位に接続され、非反
転増幅器21a,21bの反転入力端と出力端との間に
は、それぞれ抵抗が接続されている。
【0015】非反転増幅器21a,21bの出力端は加
算器22の(−)入力端に接続され、非反転増幅器21
a,21bの出力端に発生する電圧Va,Vbがこの加
算器22の(−)入力端に加えられるようになっている
【0016】加算器22の(+)入力端はバイアス電位
に接続され、加算器22の出力端は割算器23の一方の
入力端に接続されている。この割算器23の他方の入力
端は、非反転増幅器21aの出力端に接続されている。
【0017】さらに、位置検出回路20内には、定電流
駆動回路24が設けられている。この定電流駆動回路2
4により、上記光源7を駆動するようになっている。
【0018】次に、動作について説明する。光源7は定
電流駆動回路24により駆動されて発光する。この光束
は光拡散板8で拡散され、光位置検知素子Aの上を移動
する移動スリット板9を均等に照明し、この光束の一部
はスリット板9の矩形状のスリット91を透過して矩形
スリット状の光ビーム6が光位置検知素子Aに入射する
【0019】光位置検知素子Aへの入射光ビーム6は基
板1,抵抗層3を透過して、光起電力層4に到達し、そ
の一部はさらにバイアス電極5で反射されて、再度光起
電力層4に戻され、光起電力層4には、この入射光ビー
ム6により、光起電力が発生し、入射光量に応じた光電
流iが発生し、この光電流iは抵抗層3をその両端に設
けた位置検出電極2a,2bに分流する。
【0020】このとき、位置検出電極2bより光入射位
置までの距離Xは、位置検出電極2a,2bに分流する
光電流をそれぞれia,ib、位置検出電極2a,2b
間の長さ(受光長さ)をLとして、X/L=ia/(i
a+ib)      …(1)で与えられる。
【0021】光電流ia,ibは各々非反転増幅器21
a,21bで電流−電圧変換され、それぞれ、非反転増
幅器21a,21bの出力端から電圧Va,Vbとなっ
て、加算器22に入力され、この加算器22で加算され
る。
【0022】この加算器22の加算結果は、割算器23
に送られる。割算器23では、上記(1)式の右辺に相
当する割算Va/(ia+ib)が実行されて、光検知
素子Aの光入射位置Xに対応したアナログ電圧Vxが出
力される。
【0023】したがって、移動スリット板9を移動させ
、その矩形状のスリット91を透過する光ビーム6の光
位置検知素子Aへの入射位置を検出することにより、移
動スリット板9の位置を知る。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】従来の光位置検出器は
以上のように構成されているので、位置出力が極めて小
さい光電流の比より計算されるアナログ出力であるため
、外来雑音などの影響により、S/N比が悪く、位置検
出回路20に使用する非反転増幅器21a,21bの入
力オフセット誤差などによる位置出力のオフセット誤差
が大きく、特に、その入力オフセットの温度変化による
誤差は回路的に除去できないため、大きな問題であった
【0025】この入力オフセットの影響を小さくするた
めに、光位置検知素子Aの抵抗層3の厚さを減じて、抵
抗値を上げる方法をとることも可能であるが、抵抗層3
の厚さを減じると、その厚さのばらつきが相対的に大き
くなり、逆に位置出力の直線性が悪化するといった課題
があった。
【0026】また、出力がアナログ値であるため、エン
コーダのごとく、ディジタル的に用いる用途には適用で
きないといった課題もあった。
【0027】請求項1の発明は上記のような課題を解消
するためになされたもので、位置検出精度が向上すると
ともに、ディジタル出力が可能な光位置検出器を得るこ
とを目的とする。
【0028】また、請求項2の発明は、位置検出精度の
向上とディジタル出力が可能となる光位置検出器を得る
ことを目的とする。
【0029】請求項3の発明は、請求項1の発明の目的
に加えて、回路構成が簡略にでき、ひいてはコストの低
減化が可能となる光位置検出器を得ることを目的とする
【0030】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る光
位置検出器は、光電変換層とそれに積層された抵抗層お
よび光電変換層にバイアス電位を与えるバイアス電極と
少なくとも二つ以上の位置検出電極とを有し、かつ光ビ
ームの入射位置により周期的に光電流変換率が変化する
光位置検知素子と、位置検出電極から出力される分割光
電流の比に対応したアナログ演算値を出力するアナログ
出力手段と、光電変換効率に対応したパルスを出力する
ディジタル出力手段とを設けたものである。
【0031】また、請求項2の発明に係る光位置検出器
は、位置検出電極より出力される分割光電流の内同一次
元方向の分割光電流の和に対応したパルスを出力するデ
ィジタル出力手段を設けたものである。
【0032】また、請求項2の発明に係る光位置検出器
は、上記位置検出電極より出力される分割光電流のうち
少なくとも同一次元方向の分割光電流値の和が一定とな
るように、光源の発光量を制御する制御手段と、この制
御手段の出力に対応したパルスを出力するディジタル出
力手段とを設けたものである。
【0033】
【作用】請求項1の発明における光位置検知素子は光源
より放射される入射光ビームにより、光電変換層で光電
流が生成され、位置検出電極が抵抗層を流れる光電流を
分流して検出し、位置検出電極より検出された分割光電
流の比に対応してアナログ出力手段でアナログ演算値を
出力するとともに、光位置検知素子の光電流変換率の変
化に対応してディジタル出力手段からパルスを出力する
【0034】また、請求項2の発明におけるディジタル
出力手段は、位置検出電極より出力される分割光電流の
内、同一次元方向の分割電流値の和に対応してパルスを
出力するように作用する。
【0035】さらに、請求項3の発明における制御手段
は光源の光量を制御して、光位置検知素子より出力され
る分割光電流のうち、少なくとも同一次元方向の分割光
電流値の和を一定とするととに、制御手段の出力に対応
して、ディジタル出力手段からパルスを出力する。
【0036】
【実施例】以下、この発明の光位置検知器の実施例につ
いて図面に基づき説明する。図1はその一実施例の全体
の構成を示す構成説明図であり、図2は図1の実施例に
適用される光位置検知素子の展開構成図、図3ないし図
5はそれぞれ光位置検知素子の透明抵抗層のパターン例
を示す。
【0037】これらの図1〜図5において、図14,図
15と同一部分には、同一符号を付して説明する。まず
図1において、基本的構成は従来例と同じであるが、光
位置検知素子Aにおける抵抗層3と位置検出回路20の
構成が上記従来例とは異なるものである。
【0038】図1におけるAは光位置検知素子であり、
透明ガラス基板1上にAlなどの位置検出電極2a,2
bが蒸着などにより積層されている。
【0039】この透明ガラス基板1上に、検出電極2a
,2bとその両端が重なり合うように、ITOあるいは
Sn O2 スパッタリングなどにより、数100〜1
000Åの厚さに成膜して、抵抗層3が形成されている
【0040】さらに、この抵抗層3上に、プラズマCV
Dなどの蒸着法やスパッタリングにて、数1000Å程
度のa−Si光起電力層4をP層、I層、N層の順に抵
抗層3の幅より広い幅で積層し、最後に、Alなどのバ
イアス電極5をリード接続部51を除き、ほぼ抵抗層3
と同程度の幅に蒸着などで形成する。
【0041】このとき、抵抗層3の検出電極と重なるの
り部33a,33bを除く、検出領域の抵抗層は検出領
域の長軸に沿ってのり部33a,33bを結ぶ中心抵抗
部31とそれに垂直で所定ピッチで複数個設けられた枝
状抵抗部32よりなる。
【0042】すなわち、中心抵抗部31に対して対称に
魚骨状に枝状抵抗部32が形成されている。この枝状抵
抗部32の個数Nはディジタル出力の最大N数であり、
そのピッチはディジタル出力精度と入射光ビーム径を考
慮して決められ、入射光ビーム径を小さくすれば、数1
0μピッチとすることは簡単である。
【0043】図6に示すように、抵抗層3を持つ光位置
検知素子Aの検出領域の上を矩形入射ビーム6が移動し
たとき、位置検出電極2aに流れる光電流iaは図7に
示すように変化し、また、図8に示すように、総光電流
(ia+ib)は入射光ビーム6が枝状抵抗部32の上
に来たとき最大となり、枝状抵抗部32の間に来たとき
、最小となる。
【0044】これは、a−Si光起電力変換層4では、
層面方向のキャリア拡散長が短いため、光電流が生成さ
れるのは、a−Si光電流層4と抵抗層3が重なった部
分のみとなるためであり、したがって、入射光ビームの
照射面積内に最も透明抵抗層3の占める面積の広い枝状
抵抗部32上の場合が光電流量が最大となり、逆に抵抗
3の占める面積の狭い枝状抵抗部32間に来たときが最
小となる。ただし、総光電流の最大、最小値は入射ビー
ム6の位置により変化しない。
【0045】これに対し、片側の光電流値(ここでは、
iaを示す)は総光電流値と同じ位置で極大、極小を示
すが、その極大、極小値は入射ビーム6がその検出電極
(ここでは、2a)に近いほど大きくなる。
【0046】ここで、説明を図1に戻す。この図1にお
いて、検出回路20には、加算器22の出力と定電流駆
動回路24の出力とが、ディジタル出力手段としての比
較器25で比較されるようになっており、この比較器2
5からディジタル位置出力Pxが出力されるようになっ
ている。その他の構成は図15と同様である。
【0047】次に、動作について説明する。位置検出回
路20の定電流駆動回路24により、LEDによる光源
7が駆動されて発光すると、光位置検知素子Aの上を移
動するスリット板9は光拡散板により、一様に照射され
、この光束の一部が矩形スリット91を通過し、光位置
検知素子Aに入射ビーム6として入射する。
【0048】入射光ビーム6により、a−Si光起電力
層4では、光電流が生成され、この光電流は抵抗層3を
通り、検出電極2a,2bより各々光電流ia,ibと
して検出される。
【0049】ここで、入射ビーム位置が検出電極2aよ
り2bの方向に動いたときの光電流量の挙動は既に図7
,図8に示したごとくになる。
【0050】光電流ia,ibはそれぞれ非反転増幅器
21a,21bで電流−電圧変換され、それぞれ非反転
増幅器21a,21bの出力端に電流Va,Vbとして
現われ、これらの電圧Va,Vbは加算器22で加算さ
れる。
【0051】加算器22での加算結果はアナログ出力手
段としての割算器23で上記(1)式の右辺に相当する
割算Va/(Va+Vb)が実行されて、光位置検出素
子Aの光入射位置Xに対応したアナログ電圧Vxが出力
される。
【0052】ここで、図7,図8のごとく、光電流ia
,ibは入射光ビーム6の入射位置Xにより、極大,極
小を示しつつ変化するが、位置出力Vxは(1)式のご
とく、両者の比により与えられるため、位置Xに対し、
直線的に変化する出力となる。
【0053】一方、加算器22で加算された全電流相当
電圧(Va+Vb)は比較器25で定電流駆動回路24
からの出力に相当する比較電圧VSH(図8)と比較さ
れ、全電流相当電圧(Va+Vb)が比較電圧VSHよ
り高い場合は、「H」が出力され、逆に低い場合には、
「L」が出力される。したがって、比較器25の出力は
図9に示すごとく、入射光ビーム6の入射位置に対して
、ディジタル的に変化するディジタル位置出力Pxとな
る。
【0054】すなわち、この実施例では、従来の位置の
アナログ出力のみならず、位置のディジタル出力が可能
なため、たとえば、ディジタル出力をカウンタに入力し
て、パルス数を積算することにより、位置を測定するな
ど、エンコーダ的な使用も可能となる。
【0055】この場合、移動方向はアナログ電圧を微分
すればよい。また、位置のアナログ出力Vxは従来例で
説明したように、オフセット誤差が無視できないが、デ
ィジタル値は光位置検知素子の抵抗層3のパターンピッ
チで決まるため、このようなオフセット誤差を本質的に
持たず、したがって、ディジタル出力Pxを基準として
、アナログ出力Vxを補正すれば、位置検出精度を大幅
に向上できるという利点がある。
【0056】上記実施例では、光位置検知素子Aの抵抗
層3として、中心抵抗部31と枝状抵抗部32からなる
魚骨状のパターンを示したが、図3ないし図5に示すよ
うに別のパターンも使用できる。
【0057】上記実施例と同じ魚骨状のパターンでも、
図5に示すようにすれば、検出電極間の全抵抗を大きく
でき、アナログ位置出力のオフセット誤差低減に有利で
ある。
【0058】また、図4では、櫛歯状に形成し、アナロ
グ位置出力に位置による摂動が多少生じるが、図5より
もさらに検出電極間の全抵抗を大きくでき、したがって
、オフセット誤差はさらに改善できる。
【0059】図3は矩形状に切り抜いたパターンの場合
を示しているが、この場合も検出電極間の抵抗を大きく
することができる。
【0060】図10はこの発明の第2の実施例の光位置
検出器の構成説明図であり、検出回路20内には、さら
に、比較積分増幅器26および出力増幅器28と光源駆
動回路27が接続されている。
【0061】すなわち、比反転増幅器21aの出力端に
現れる電圧Vaは加算器22および出力増幅器28の(
−)入力端に加えるようになっている。この出力増幅器
28の(+)入力端はアースされ、出力端からアナログ
出力Vxが出力されるようになっている。
【0062】また、加算器22の出力は比較積分増幅器
26の(−)入力端に加えられるようになっており、こ
の比較積分増幅器26の(+)入力端には、基準電圧V
ref が印加されている。
【0063】比較積分増幅器26の出力は比較器25の
一方の入力端と光源駆動回路27の入力端とに入力され
るようになっている。比較器25の他方の入力端には、
比較電圧VSHが印加され、出力端には、ディジタル位
置信号Pxが出力するようになっている。また、光源駆
動回路27は図1における定電流駆動回路24に代わる
ものであり、上記光源7を駆動するものである。
【0064】次に、この図10に示すこの発明の第2の
実施例の動作について説明する。光電流ia,ibの電
圧相当値Va,Vbの加算器22での加算結果(Va+
Vb)が比較積分増幅器26で所定の基準電圧Vref
 と比較積分されて、その結果により、光源駆動回路2
7が駆動される。
【0065】これにより、光位置検知素子Aの総光電流
値が常に一定となるように、(すなわち、(1)式の分
母が一定となるように)、光源7の発光量が制御される
。つまり、比較積分増幅器26と光源駆動回路27とに
より、位置検出電極2a,2bより出力される分割光電
流の内、少なくとも同一次元方向の分割光電流値の和が
一定となるように光源7の発光量を制御する制御手段を
構成している。
【0066】一方の光電流相当値Vaが出力増幅器28
で増幅されて、アナログ位置出力Vxとして出力される
【0067】光入射ビーム6の入射位置が透明抵抗層3
の枝状抵抗部32の上にあるときは、光電流変換率が最
大となるため、比較積分増幅器26の出力は光源7の発
光量を減少するような最小値をとる。
【0068】逆に、入射位置が枝状抵抗部32の間にあ
るときは、光電流変換率が最低となるため、比較積分増
幅器26の出力は最大値をとる。
【0069】すなわち、比較積分増幅器26の出力を比
較器25で所定の基準電圧VSHと比較し、比較結果と
して、ディジタル位置出力Pxを得る。アナログ位置出
力Vxは上記第1の実施例と同様光電流比の形で与えら
れるため、位置に対して、リニアな出力を示す。
【0070】この第2の実施例においても、前記第1の
実施例と同様な効果が得られるとともに、割算器23を
使用する必要がないため、回路が安価に構成できる。
【0071】次に、この発明の第3の実施例について説
明する。図11は第3の実施例の光位置検知素子Aの展
開構成図であり、研磨したセラミック、ポリイミド樹脂
などのプラスチックの基板1上にAlなどのバイアス電
極5を蒸着などにより積層し、さらに、a−Si光起電
力層4,抵抗層3をマスキングにより中心光起電力層4
1,枝状光起電力層42が各々中心抵抗部31,枝状抵
抗部32と重なるように積層している。
【0072】最後に、抵抗層3ののり部33a,33b
にAlなどの検出電極2a,2bを蒸着などにより積層
して、光位置検知素子Aを形成する。
【0073】このような構成によれば、a−Si光起電
力層4自身をパターン化しているため、キャリアの層方
向拡散長を考慮する必要はなく、ピッチをさらに細くで
き、ディジタル出力の精度を上げられるという利点があ
る。
【0074】光起電力層4は単結晶Siにイオンドーピ
ングで形成したフォトダイオード層をエッチングでパタ
ーン化したものを使用してもよい。
【0075】また、第1の実施例のごとく、透明基板1
上に位置検出電極2a,2b、抵抗層3、光起電力層4
、バイアス電極5の順に積層して形成しても、同様な検
出素子が得られることは明らかである。
【0076】図12はこの発明の第4の実施例の光位置
検知素子Aの展開構成図であり、図13はこの図12で
示す光位置検知素子Aを使用した第4の実施例の構成説
明図である。
【0077】この第4の実施例の場合は、上記各実施例
の場合とは異なり、2次元の位置検出に応用した場合に
ついて示している。
【0078】まず、図12は透明基板1の上にX方向の
位置を検出する位置検出電極2a,2bおよびY方向の
位置検出電極2c,2dを積層し、さらに、網目状の抵
抗層3,光起電力層4,バイアス電極5を順に積層した
2次元光位置検知素子Aである。
【0079】このような2次元光位置検知素子Aにおい
ては、入射光ビーム6により、検出電極2に流れる光電
流の総和は入射光ビーム6が抵抗層3の網目の交点上に
きたとき最大に、網目の間にきたとき最小になる。
【0080】次に、図13において、位置検出回路20
の定電流駆動回路24により、光源7が駆動されると、
光源7の放射光は先端がX,Y両方向に動くファイバ1
0を導光して、2次元位置検知素子Aに入射光ビーム6
が入射する。
【0081】この入射光ビーム6により、光起電力層4
に生じた光電流は網目状抵抗層3を流れて検出電極2a
〜2dで検出され、光電流ia,ibが非反転増幅器2
1a,21bで電流−電圧変換され、加算器22aで加
算されて、一方の光電流相当電圧Vaと加算結果(Va
+Vb)が割算器23aで割算され、X方向アナログ位
置出力Vxとして出力される。
【0082】他方の光電流ic,idが非反転増幅器2
1c,21dで電流電圧変換され、加算器22bで加算
されて、一方の光電流相当電圧Vcと加算結果(Vc+
Vd)が割算器23bで割算され、Y方向アナログ位置
出力Vyとして出力される。
【0083】また、加算結果(Va+Vb),(Vc+
Vd)が各々比較器25a,25bで基準電圧VSHと
比較され、比較結果が各々ディジタル位置出力Px,P
yとして出力される。
【0084】
【発明の効果】以上のように、請求項1の発明によれば
光電変換層に抵抗層を積層し、光電変換層にバイアス電
極からバイアス電位を与え、少なくとも二つ以上の位置
検出電極を設け、光電変換層あるいは抵抗層を光ビーム
照射面積に対する光電変換層あるいは抵抗面積比が光ビ
ームの入射位置に応じて周期的に変化するようにパター
ン化した光位置検知素子を設け、位置検出電極から出力
される分割光電流の比に対応したアナログ演算値をアナ
ログ出力手段で出力するとともに、光電流変換率の変化
に対応したパルスをディジタル出力手段から発生するよ
うに構成したので、ディジタル的な使用方法にも適用で
きるとともに、アナログ出力に特有なS/N比低下や、
出力オフセット誤差を改善して位置検出精度を向上でき
るという効果を奏する。
【0085】また、請求項2の発明によれば、位置検出
電極より出力される分割光電流の内同一次元方向の分割
光電流値の和に対応したパルスをディジタル出力手段か
ら出力するように構成したので、位置検出精度の向上と
ディジタル的に用いる用途に対応することができる。
【0086】さらに、請求項3の発明によれば、位置検
出電極より出力される分割光電流の内、少なくとも同一
次元方向の分割光電流値の和が一定となるように光源の
発光量を制御手段で制御するとともに、この制御手段の
出力に対応してディジタル出力手段からパルスを出力す
るように構成したので、位置検出精度の向上とディジタ
ル的使用が可能であることに加えて、割算器が不要とな
ることから、回路構成が簡略になり、ひいてはコストダ
ウンにつながる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例による光位置検出器の
全体構成を示す構成説明図である。
【図2】図1の実施例に適用される光位置検知素子の分
解斜視図である。
【図3】図1の実施例における光位置検知素子の抵抗層
のパターンの異なる例を示す平面図である。
【図4】図1の実施例における光位置検知素子の抵抗層
のパターンの異なる例を示す平面図である。
【図5】図1の実施例における光位置検知素子の抵抗層
の異なる例を示すパターンの平面図である。
【図6】図1の実施例における光位置検知素子の入射位
置に対する光電流出力の関係を示す説明図である。
【図7】図6の光位置検知素子における出力電流iaの
波形図である。
【図8】図6の光位置検知素子における合成出力電流(
ia+ib)の波形図である。
【図9】図1の実施例におけるパルス出力の波形図であ
る。
【図10】この発明の第2の実施例による光位置検出器
の全体構成を示す構成説明図である。
【図11】図10の実施例に適用される光位置検知素子
の分解斜視図である。
【図12】この発明に適用される光位置検知素子の他の
実施例の分解斜視図である。
【図13】この発明の第3の実施例による光位置検出器
の全体構成を示す構成説明図である。
【図14】従来の光位置検知素子の分解斜視図である。
【図15】従来の光位置検出器の全体構成を示す構成説
明図である。
【符号の説明】
A  光位置検知素子 1  基板 2a  位置検出電極 2b  位置検出電極 2c  位置検出電極 2d  位置検出電極 3  抵抗層 4  光起電力層 5  バイアス電極 6  入射光ビーム 7  光源 9  移動スリット板 20  位置検出回路 21a  非反転増幅器 21b  非反転増幅器 21c  非反転増幅器 21d  非反転増幅器 22  加算器 22a  加算器 22b  加算器 23  割算器 23a  割算器 23b  割算器 24  定電流駆動回路 25  比較器 26  比較積分増幅器 27  光源駆動回路 28  出力増幅器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光源より放射された光ビームにより光
    電流を生成する光電変換層とこの光電変換層に積層され
    た抵抗層と上記光電変換層にバイアス電位を与えるバイ
    アス電極と上記抵抗層を流れる上記光電流を分流して検
    出する少なくとも二つ以上の位置検出電極とを有し、か
    つ上記光ビームの入射位置により周期的に光電流変換率
    が変化するように構成された光位置検知素子と、上記位
    置検出電極より出力される分割光電流の比に対応したア
    ナログ演算値を出力するアナログ出力手段と、上記光電
    流変換率の変化に対応したパルスを出力するディジタル
    出力手段とを備えた光位置検出器。
  2. 【請求項2】  光源より放射された光ビームにより光
    電流を生成する光電変換層と上記光電変換層に積層され
    た抵抗層と上記光電変換層にバイアス電位を与えるバイ
    アス電極と上記抵抗層を流れる上記光電流を分流して検
    出する少なくとも二つ以上の位置検出電極が設けられる
    とともに光ビームの入射位置により周期的に光電流変換
    率が変化するように構成された光位置検知素子と、上記
    位置検出電極より出力される分割光電流の内同一次元方
    向の分割光電流値の和に対応したパルスを出力するディ
    ジタル出力手段と、上記光電流変換率の変化に対応した
    パルスを出力するディジタル出力手段とを備えた光位置
    検出器。
  3. 【請求項3】  光源より放射された光ビームにより光
    電流を生成する光電変換層と上記光電変換層に積層され
    た抵抗層と上記光電変換層にバイアス電位を与えるバイ
    アス電極と上記抵抗層を流れる上記光電流を分流して検
    出する少なくとも二つ以上の位置検出電極が設けられる
    とともに上記光ビームの入射位置により周期的に光電流
    変換率が変化するように構成された光位置検知素子と、
    上記位置検出電極より出力される分割光電流の比に対応
    したアナログ値を出力するアナログ出力手段と、上記位
    置検出電極より出力される分割光電流の内少なくとも同
    一次元方向の分割光電流値の和が一定となるように上記
    光源の発光量を制御する制御手段と、この制御手段の出
    力に対応したパルスを出力するディジタル出力手段とを
    備えた光位置検出器。
JP3131157A 1991-06-03 1991-06-03 光位置検出器 Pending JPH04355305A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103148780A (zh) * 2013-01-30 2013-06-12 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 高重频脉冲激光的光斑位置检测器件的数据采集装置

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