JPH087128B2

JPH087128B2 - 冷熱衝撃試験装置

Info

Publication number: JPH087128B2
Application number: JP2324340A
Authority: JP
Inventors: 隆田中; 力弥藤原
Original assignee: Daikin Industries Ltd
Current assignee: Daikin Industries Ltd
Priority date: 1990-11-26
Filing date: 1990-11-26
Publication date: 1996-01-29
Anticipated expiration: 2011-01-29
Also published as: JPH04191638A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、試験室の温度を低温さらし温度および高温
さらし温度に交互に繰り返して変化させ、冷熱衝撃試験
を行うための装置に関する。

従来の技術従来からの冷熱衝撃試験装置は、たとえば特開平１−
274035号公報に示されている。このような冷熱衝撃試験
装置においては、試験室の温度を低温さらし温度と高温
さらし温度とに交互に急激に変化させるヒートシヨツク
サイクルを繰り返して行うことができる。試験室に試験
対象物を収納して、ヒートシヨツクすなわち冷熱衝撃を
繰り返して行うことにより、試験対象物の耐久性や信頼
性などを加速して試験することができる。

冷熱衝撃試験装置においては、試験室内の温度を急激
に変化させるため、試験室とは別に予冷室および予熱室
が設けられている。予冷室は、低温さらし温度よりも低
い温度に予冷され、試験室を低温さらし温度に冷却する
ときは、予冷室内の冷風を試験室内に循環させる。予熱
室は高温さらし温度よりも高い温度に予熱されており、
試験室を高温さらし温度にするときは、予熱室内の熱風
を試験室内に循環させる。このようにして、試験室内の
温度が急激に冷却または加熱される。

予冷室内は、０℃以下に冷却される。そのため、冷媒
の蒸発などによつて、周囲の熱を吸収し冷却を行う蒸発
器などが設けられている。この蒸発器などには、霜が付
着しやすい。霜が付着すると、冷風の循環や周囲からの
熱の吸収が阻害され、冷却能力が低下する。そのため、
予め定められる冷熱衝撃の回数に達する毎に、除霜運転
すなわちデフロスト運転が行われる。デフロスト運転に
おいては、ホツトガスデフロスト法などによつて、蒸発
器などの霜を溶融させ、ドレンとして落下させ除去す
る。

１つの冷熱衝撃試験は、多回数の冷熱衝撃サイクルか
ら成る。したがつて、一定回数毎に、デフロスト運転が
行われる。

発明が解決しようとする課題冷熱衝撃試験装置においては、予冷温度は−40〜−50
℃程度に達する。このような低温では、空気に含み得る
水分の量は極めて少ない。その量に比較すれば、常温の
空気中においては、たとえ相対湿度が小さくても、多量
の水分が含まれている。試験室を完全に気密にするのは
困難であるので、試験室の周囲から試験室内に水分が浸
入することを完全に防止することはできない。また、冷
熱衝撃の中間で、一定の時間だけ、常温の状態とするた
め、試験室を開放する試験規格もある。このようにして
試験室内に導入された水分は、試験室を冷却するとき予
冷室内の蒸発器などに霜として付着する。

予冷室内に付着した水分を除去するためには、除霜運
転すなわちデフロスト運転が行われる。デフロスト運転
としては、ホツトガスデフロスト法などによつて、蒸発
器を加熱し、付着した霜を溶融させ、ドレンとして落下
させる。落下したドレンは、予冷室の下部に貯留され
る。特開平１−274035号公報で示される先行技術では、
除霜のため装置周囲の空気を導入する。したがつて、予
冷運転時に蒸発器などに付着する霜の量は多くなり、デ
フロスト時にドレンとなつて貯留される水分の量も多く
なる。

予冷室には、ドレンを外部に排水するためのドレン管
が設けられる。ドレン管を介して外部から空気や熱が予
冷室内に侵入することを防ぐため、ドレン管は水封され
ている。すなわちドレン管は常に水で満たされている。
しかし、予冷室の温度が低くなるので、ドレン管内の水
は凍結する。ドレン管内の水が凍結していると、デフロ
スト運転時にドレンを排水することができない。したが
つて、ドレン管の凍結を防止するため、ドレン管を加熱
するためのヒータが設けられる。ヒータを常時加熱して
おけば、ドレン管は凍結することがなく、予冷室のデフ
ロスト運転時における排水が可能となる。

しかしながら、低温に予冷すべき予冷室に設けられる
ドレン管を常時加熱しておくことは、予冷室の冷却のた
めの負荷を増大させる。

本発明の目的は、ドレンを有効に排水することがで
き、ヒータの加熱による予冷室の負荷の増加を少なくす
ることができる冷熱衝撃試験装置を提供することであ
る。

課題を解決するための手段本発明は、試験室３に予冷室４からの冷風と予熱室５
からの熱風とを交互に供給して冷熱衝撃試験を行い、予
冷室４には、試験室３の低温さらし温度よりも低い予冷
温度に予冷室を冷却するための冷却手段10と、予冷室を
水封するとともにドレンを排水するためのドレン管12と
が設けられており、冷熱衝撃回数が予め定められる回数
Ｎに達する毎に冷却手段10の除霜運転を行う冷熱衝撃試
験装置において、ドレン管12に設けられるヒータ13と、前記除霜運転を行う回数Ｎに達するまでの冷熱衝撃回
数が、前記低温さらし温度または前記予冷温度が低くな
るほど大きく設定される回数ｍ以下であることを検出す
る検出手段35と、前記検出手段35からの出力に応答して、前記ヒータ13
を加熱制御する制御手段14とを含むことを特徴とする冷
熱衝撃試験装置である。

また本発明は、試験室３に予冷室４からの冷風と予熱
室５からの熱風とを交互に供給して冷熱衝撃試験を行い
予冷室４には、試験室３の低温さらし温度よりも低い予
冷温度に予冷室を冷却するための冷却手段10と、予冷室
を水封するとともにドレンを排水するためのドレン管12
とが設けられており、冷熱衝撃回数が予め定める回数Ｎ
に達する毎に冷却手段10の除霜運転を行う冷熱衝撃試験
装置において、ドレン管12に設けられるヒータ13と、前記除霜運転を行う回数Ｎに達するまでの冷熱衝撃時
間が、前記低温さらし温度または前記予冷温度が低くな
るほど大きく設定される時間ｗ以下であることを検出す
る検出手段35と、前記検出手段35からの出力に応答して、前記ヒータ13
を加熱制御する制御手段14とを含むことを特徴とする冷
熱衝撃試験装置である。

作用本発明に従えば、予冷室の冷却手段は予め定められる
冷熱衝撃の回数Ｎ毎に除霜運転される。検出手段は、除
霜運転を行う回数に達するまでの冷熱衝撃回数が、予め
設定される回数ｍ以下であることを検出する。制御手段
は、制御手段からの出力に応答して、ドレン管に設ける
ヒータを加熱制御する。すなわち、ドレン管は、除霜運
転から予め定める回数ｍだけ先行する冷熱衝撃から加熱
される。したがつて、除霜運転を開始するときは、ドレ
ン管内の水分は充分に溶融しており、除霜運転によつて
予冷室内に発生するドレンの排水が充分に可能となる。
また、ヒータの加熱は、除霜運転からｍ以下の回数の冷
熱衝撃の期間だけ行われるので、予冷室の冷却手段に対
する負荷の増加は少ない。

またヒータの加熱は、試験室の低温さらし温度または
予冷室の予冷温度が低くなる程早い冷熱衝撃回数から開
始される。したがつて除霜運転に入る直前にドレン管内
の氷を完全に溶融させることができる。

さらに本発明に従えば、ドレン管を加熱するためのヒ
ータは、除霜運転が行われる冷熱衝撃の回数から予め定
める時間ｗ以下の時間の範囲内で加熱制御される。した
がつて、ドレン管内の氷を充分に溶融させることがで
き、予冷室の冷凍装置に対する冷却負荷の増加は少な
い。

またドレン管のヒータを加熱すべき時間ｗは、試験室
の低温さらし温度または予冷室の予冷温度が低くなるほ
ど大きく設定される。したがつて除霜運転に入る直前に
ドレン管内の氷を完全に溶融させることができる。

実施例第１図は、本発明の一実施例による冷熱衝撃試験装置
の構成を説明すための概略的な断面図である。冷熱衝撃
試験装置のハウジング１内には、周囲を断熱壁２によつ
て熱絶縁される試験室３が設けられる。試験室３の下方
には、同様に断熱壁２によつて熱絶縁される予冷室４が
設けられる。試験室３の上方には、同様に断熱壁２によ
つて熱絶縁される予熱室５が設けられる。

予冷室４内には、冷媒の蒸発によつて周囲を冷却する
ための蒸発器６と、予冷室４内の空気を循環させるため
の冷却フアン７が設けられる。冷却フアン７は予冷室外
に設けられるモータ８によつて駆動される。予冷室４内
には、蓄冷器９も設けられる。蓄冷器９は、銅、アルミ
ニウムまたはステンレスなどの金属フインを有して、予
冷室４内を循環する空気によつて冷却され、試験室３を
冷却するときは、熱を吸収する。このように、蒸発器
６、冷却フアン７および蓄冷器９は、予冷室４内を冷却
するための冷却手段10を構成する。

蒸発器６および蓄冷器９は、低温に冷却されるので、
霜が付着しやすい。この霜を除去するために、蒸発器６
にホツトガスなどを導入してデフロスト運転を行うと、
霜は溶融され、ドレンとして予冷室４の下部のドレンパ
ン11に貯留される。ドレンパン11に貯留されるドレン
は、予冷室４の壁面などに付着する霜からの分も含まれ
る。このようなドレンの水位が上昇すると、予冷室４の
容積が減少し、蒸発器６や蓄冷器９にまで水位が達する
おそれもある。そのため、予冷室４には、ドレンを排水
するためのドレン管12が設けられている。ドレン管12
は、断熱壁２にほぼ水平に引き出される。ドレン管12は
合成樹脂によつて形成され、内部にヒータ13が設けられ
る。ヒータ13は、制御手段14によつて通電加熱状態が制
御される。ドレン管12の端部は、断熱壁２外に設けられ
るドレントラツプ15の水面より下に導かれる。ドレント
ラツプ15の水面は、ハウジング１の外部に排水するため
の排水管16によつて定められる。このようにして、ドレ
ン管12内に直接周囲の空気や熱が侵入することを防止し
ている。

予冷室４内は、冷却フアン７によつて冷風が循環す
る。この冷風の方向を、参照符17で示す。予冷室４と試
験室３との間には、冷風吹出口18が設けられる。冷風吹
出口18は、低温ダンパ19によつて開閉される。低温ダン
パ19が角変位して、冷風吹出口18を開いた状態を仮想線
で示す。この状態では、予冷室４内の冷風は、参照符17
に示す方向に循環しないで、試験室３内に吹出す。試験
室３内の空気は、蓄冷器９および蒸発器６によつて冷却
される。このように低温ダンパ19を開くことによつて、
試験室３内を急速に冷却することができる。

予熱室５には、加熱ヒータ20および加熱フアン21が設
けられる。加熱フアン21はモータ22によつて駆動され、
予熱室５内は、熱風が循環する。予熱室５と試験室３と
の間には、熱風吹出口23が設けられ、高温ダンパ24によ
つて開閉される。高温ダンパ24が開いたときは、予熱室
５内の熱風が試験室３内に循環し、試験室３内を急速に
加熱する。

試験室３の開口部には、開閉可能な扉25が設けられ
る。扉25を開放して、試験室３内に試験対象物を搬入
し、試験終了後の試験対象物を排出する。このような扉
25と断熱壁２との間は、気密に封止される。しかしなが
ら、試験室３内の温度は急激に上昇または下降するの
で、扉25の封止部から周囲の水分などが試験室３内に浸
入することを完全に防止することは困難である。

冷熱衝撃試験の規格によつては、低温と高温との間
に、常温に保持する過程も必要となる。このため、ハウ
ジング１には、吸気ダクト26および排気ダクト27が設け
られている。吸気ダクト26から試験室３内に常温の空気
を導入するため、吸気口28が設けられている。吸気口28
は、吸気ダンパ29によつて開閉される。吸気ダクト26内
には、吸気フアン30が設けられる。参照符31は、吸気ダ
クト26への空気流入方向を示す。排気ダクト27と試験室
３との間には、排気口32が設けられ、排気ダンパ33によ
つて開閉される。参照符34は、排気ダクト27内の空気排
出方向を示す。

ハウジング１内には、さらに、冷熱衝撃回数から、ド
レン管12のヒータ13の加熱を開始する時点を検出ための
検出手段35が設けられている。

第２図は、第１図示の冷熱衝撃試験装置の電気的構成
を示す概略的なブロツク図である。第１図示の検出手段
35は、マイクロコンピユータなどによつて実現される中
央処理装置（以下「CPU」と略称する）36を含む。さら
に、CPU36の動作のためのプログラムなどが格納される
読出し専用メモリ（以下「ROM」と略称する）37およびC
PU36の動作のために必要なワークメモリとしての書込み
可能メモリ（以下「RAM」と略称する）38が設けられ
る。さらに検出回路35には、CPU36によつて制御される
カウンタ39も設けられる。

冷熱衝撃試験のための低温さらし温度T1は、低温さら
し温度設定手段40によつて設定される。この温度は、た
とえば−40℃である。予冷温度設定手段41は、低温さら
し温度設定手段40からの出力に応答し、第１式で示され
る予冷温度T2を設定する。

T2＝T1−ΔT1 …（１）低温さらし温度T1が−40℃であるとき、予冷温度T2は、
たとえば−50℃に設定される。

冷熱衝撃試験のための高温さらし温度T3は、高温さら
し温度設定手段42によつて設定される。この高温さらし
温度T3は、たとえば150℃である。。予熱温度設定手段4
3は、高温さらし温度設定手段42からの出力に応答し、
予熱温度T4を第２式のようにして設定する。

T4＝T3＋ΔT3 …（２）このようにして設定される低温および高温さらし温度
T1,T3にさらされる時間は、たとえば30分ずつに設定さ
れる。高温および低温の中間の常温にさらされる時間
は、たとえば５分間に設定される。低温および高温の冷
熱衝撃のサイクルを繰り返す回数は、たとえば670回に
設定される。このような冷熱衝撃試験において、除霜運
転を行うための冷熱衝撃回数の間隔であるデフロスト回
数Ｎは、たとえば45回であり、デフロスト回数設定手段
44によつて設定される。

CPU36は、ROM37に設定されるプログラムに従つて、冷
却手段10を制御して予冷室４を予冷温度T2に冷却する。
CPU36は、加熱ヒータ20を制御して、予熱室５を予熱温
度T4に加熱する。また低温ダンパ19、高温ダンパ24、吸
気ダンパ29、吸気フアン30および排気ダンパ33を制御し
て、冷熱衝撃のサイクルを行う。このサイクルの回数
は、カウンタ39によつて計数され、デフロスト回数Ｎに
達する毎に、冷却手段10は除霜運転される。この除霜運
転より、先行予定開始回数ｍ回前にヒータ13の加熱が開
始される。この先行予定開始回数ｍは、先行予定開始回
数設定手段45によつて設定される。CPU36は、冷熱衝撃
サイクルの回数を計数するカウンタ39の計数値から、除
霜運転開始までの回数がｍ以下であることを検知する
と、制御手段14を介してヒータ13に通電し、ドレン管12
の加熱を行う。

第３図は、第１図示の実施例の冷熱衝撃試験装置が設
定された回数の冷熱衝撃を行う過程を説明するための図
である。第３図（１）は、冷熱衝撃の各サイクルが実施
される状態を示す。第３図（２）は、除霜運転の状態を
示す。説明の便宜のため、冷熱衝撃の５回毎に除霜運転
が行われるものとする。５回目の冷熱衝撃が行われた
後、冷却手段10は１回目の除霜運転を開始する。除霜運
転終了後、冷却手段10は再び冷却運転される。予冷室４
内の温度が予冷温度に達すると、通算６回目以降の冷熱
衝撃が行われる。このようにして、５回目毎の除霜運転
を行いながら、設定された回数の冷熱衝撃試験が行われ
る。

第３図（３）は、ヒータ13の通電加熱が行われる状態
を示す。ヒータ13の通電加熱は、除霜運転が開始される
のにｍ回だけ先行して行われる。第３図（３）では、ｍ＝１ …（３）の場合を示し、４回、９回、14回目、…にヒータ13の加
熱を開始し、除霜運転の終了時に加熱も終了する。

第４図は、第１図示の冷熱衝撃試験装置における第３
図示の動作を説明するためのフローチヤートである。ス
テツプs1から、ステツプs2およびステツプs3において、
冷熱衝撃の通算の回数ｋと除霜運転間の回数ｎとが共に
１に初期化される。冷熱衝撃は通算Ｋ回、除霜運転はＮ
回毎に行うものとする。

初期化後は、ステツプs4に移り、ｎが除霜運転である
デフロスト運転開始の回数Ｎに達したか否かが判断され
る。ｎがデフロスト運転開始回数Ｎに達していなけれ
ば、ステツプs5に移る。ステツプs5で、冷熱衝撃の回数
ｎがヒータ13の予冷を行うべき回数Ｎ−ｍに達していな
いときは、ステツプs6に移る。

ステツプs4において、冷熱衝撃の回数ｎがデフロスト
運転を行うべき回数Ｎに達しているときは、ステツプs7
において冷却手段10の除霜運転であるデフロスト運転が
行われる。次にステツプs8において、デフロスト運転を
終了すべきか否かが判断される。終了すべきでないとき
は、再びステツプs7に戻る。ステツプs8において、デフ
ロスト運転を終了すべきときは、ステツプs9およびステ
ツプs10に移る。ステツプs9においては、ドレン管12の
ヒータ13への通電が停止される。ステツプs10において
は、デフロスト運転を行うべきか否かを判断するための
回数ｎが再び１に設定される。

ステツプs5において、冷熱衝撃の回数ｎがＮ−ｍ以上
になつていると判断されるときは、ステツプs11に移
り、ドレン管12のヒータ13に対する通電が行われ、ドレ
ン管12が加熱される。ドレン管12は、デフロスト運転が
行われるｍ回前から加熱されるので、デフロスト運転さ
れるまでに、ドレン管12内に凍結されている水を溶解さ
せることができる。

以上の各処理が終了すると、ステツプs6において冷熱
衝撃の１サイクルが行われる。次にステツプs12におい
て、通算の回数ｋが、設定された回数Ｋに達し、冷熱衝
撃試験を終了すべきか否かが判断される。終了すべきで
ないときは、ステツプs13およびステツプs14に移り、ｋ
およびｍがそれぞれ１だけ増加され、再びステツプs4に
戻る。ステツプs12で、冷熱衝撃試験は終了すべきと判
断されると、ステツプs15に移つて終了する。

第５図は、本発明による冷熱衝撃試験装置の他の実施
例の動作を説明するための図である。本実施例において
は、先行予定開始回数ｍを、第５図（１）に示すよう
に、予冷温度T2が低くなるほど大きく設定する。このよ
うな先行予定開始回数ｍの値の設定は、第５図（２）に
示すフローチヤートに従つて行われる。ステツプp1から
ステツプp2において、T2が−20以上であると判断される
と、ステツプp3においてｍには０が設定される。ステツ
プp4において、T2が−20未満−30以上であると判断され
ると、ステツプp5においてｍには１が設定される。以下
同様にして、ステツプp6〜ステツプp12においてT2の値
に対応して、ｍの値が設定される。このようにしてステ
ツプp13においては、予冷温度T2と第５図（１）に示す
ような対応関係を有する先行予定開始回数ｍの値が設定
される。このような予冷温度T2は、低温さらし温度T1の
値に基づき、第１式によつて設定される。したがつて、
先行予定開始回数ｍを低温さらし温度T1に従つて設定す
るようにしてもよいことは勿論である。第１式のΔT1の
値は、予めROM37に設定されており、第１式の演算はCPU
36によつて行われる。また第５図（１）の対応関係もRO
M37に、データとして設定されている。このような対応
関係や、ΔT1などの値は、予め実験によつて定められ
る。

第６図は、以上の各実施例において、ｍの値が２であ
るときの動作を説明するための図である。第６図（１）
は、実線で試験室３内の温度を示し、破線で予冷室４内
の温度を示し、２点鎖線で予熱室５内の温度を示す。温
度T0は常温を示し、T1は低温さらし温度、T2は予冷温
度、T3は高温さらし温度、T4は予熱温度を示す。第６図
（２）は、ヒータ13への通電状態を示す。

冷熱衝撃試験の回数が、Ｎ回毎のデフロスト運転終了
後、Ｎ−２サイクル目になると、ヒータ13はONになる。
Ｎ回目の冷熱衝撃サイクルが終了すると、冷却手段10の
デフロスト運転が開始される。予冷室内の温度は、デフ
ロスト運転中上昇する。したがつて、デフロスト運転が
終了しても次の冷熱衝撃サイクルに入るまで、予冷室４
内を冷却するための準備期間が必要である。ヒータ13へ
の通電は、デフロスト運転が終了するとOFFにされる。
このように、ヒータ13がデフロスト運転に先行して加熱
されるので、デフロスト運転時にはドレン管内の氷は充
分に溶けている。したがつて、デフロスト運転で発生す
るドレンを充分に排出することができる。

第７図は、予冷室４内でドレンが多く発生する理由を
説明するための湿り空気ｉ−ｘ線図である。Ａは、25℃
で相対湿度50％である室内状態点を示す。このとき、乾
燥空気1kg当り0.01kgの水が含まれている。予冷温度が
−50℃であるときは、飽和線１上の状態点Ｂでも、空
気中には状態点Ａの1/100の水分しか含むことができな
い。残りの水分は、予冷室４内に霜として付着する。上
述の各実施例によれば、このようにして付着した霜を除
霜して発生するドレンを、充分に排出することができ
る。

以上の各実施例においては、ヒータ13の加熱を冷熱衝
撃サイクルの先行予定開始回数ｍ回前から行うようにし
ている。各冷熱衝撃サイクルは一定時間で行われるの
で、回数ｍに対応する時間ｗだけ、デフロスト運転に先
行してヒータ13の加熱を行うようにしてもよいことは勿
論である。さらに、時間ｗによつてヒータ13の加熱を開
始するようにすれば、第６図（３）に示すように、１回
の冷熱衝撃サイクルの途中からでもヒータ13の加熱を開
始させることができる。したがつて、ドレン管12を充分
に加熱することができ、しかも冷却手段10の冷却負荷と
しては小さくすることができる。

発明の効果以上のように本発明に従えば、ドレン管内のヒータ
は、除霜運転を行う冷熱衝撃回数から予め設定される回
数だけ先行して加熱される。これによつて除霜運転時に
は、ドレン管を介してドレンの排水が可能となる。ドレ
ン管のヒータの加熱は、除霜運転に予め設定される回数
先行する期間だけに行われるので、予冷室の冷却手段に
対する冷却負荷の増加を少なくすることができる。また
この先行する回数は、試験室の低温さらし温度または予
冷温度が低くなるに従つて、大きく設定され、さらし温
度や予冷温度に対応して必要にして充分なドレン管の加
熱を行うことができる。

さらに本発明によれば、ドレン管のヒータを予め定め
る時間だけ除霜運転に先行して加熱することができる。
これによつて、除霜運転によつて予冷室内に発生するド
レンを充分に排水することができ、予冷室の冷却手段に
対する冷却負荷の増加を小さくすることができる。また
この予め定める時間は、低温さらし温度または予冷温度
が低くなるに従つて、大きく設定され、さらし温度や予
冷温度に対応して必要にして充分なドレン管の加熱を行
うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示す概略的な断面
図、第２図は第１図示の実施例の電気的構成を示すブロ
ツク図、第３図は第１図示の実施例の動作を説明するた
めの図、第４図は第１図示の実施例における動作を説明
するためのフローチヤート、第５図は本発明の他の実施
例における先行予定開始回数ｍを設定する動作を説明す
るための図、第６図は第１図または第５図示の実施例に
おける温度変化およびヒータ13の通電を説明するための
図、第７図は第１図示または第５図示の実施例における
予冷室４内に霜が付着することを説明するための湿り空
気線図である。１…ハウジング、２…断熱壁、３…試験室、４…予冷
室、５…予熱室、６…蒸発器、７…冷却フアン、９…蓄
冷器、10冷却手段、11…ドレンパン、12…ドレン管、13
…ヒータ、14…制御手段、18…冷風吹出口、19…低温ダ
ンパ、20…加熱ヒータ、21…加熱フアン、23…熱風吹出
口、24…高温ダンパ、25…扉、35…検出手段、36…CP
U、37…ROM、38…RAM、39…カウンタ、40…低温さらし
温度設定手段、41…予冷温度設定手段、42…高温さらし
温度設定手段、43…予熱温度設定手段、44…デフロスト
回数設定手段、45…先行予定開始回数設定手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試験室３に予冷室４からの冷風と予熱室５
からの熱風とを交互に供給して冷熱衝撃試験を行い、予
冷室４には、試験室３の低温さらし温度よりも低い予冷
温度に予冷室を冷却するための冷却手段10と、予冷室を
水封するとともにドレンを排水するためのドレン管12と
が設けられており、冷熱衝撃回数が予め定められる回数
Ｎに達する毎に冷却手段10の除霜運転を行う冷熱衝撃試
験装置において、ドレン管12に設けられるヒータ13と、前記除霜運転を行う回数Ｎに達するまでの冷熱衝撃回数
が、前記低温さらし温度または前記予冷温度が低くなる
ほど大きく設定される回数ｍ以下であることを検出する
検出手段35と、前記検出手段35からの出力に応答して、前記ヒータ13を
加熱制御する制御手段14とを含むことを特徴とする冷熱
衝撃試験装置。
【請求項２】試験室３に予冷室４からの冷風と予熱室５
からの熱風とを交互に供給して冷熱衝撃試験を行い予冷
室４には、試験室３の低温さらし温度よりも低い予冷温
度に予冷室を冷却するための冷却手段10と、予冷室を水
封するとともにドレンを排水するためのドレン管12とが
設けられており、冷熱衝撃回数が予め定める回数Ｎに達
する毎に冷却手段10の除霜運転を行う冷熱衝撃試験装置
において、ドレン管12に設けられるヒータ13と、前記除霜運転を行う回数Ｎに達するまでの冷熱衝撃時間
が、前記低温さらし温度または前記予冷温度が低くなる
ほど大きく設定される時間ｗ以下であることを検出する
検出手段35と、前記検出手段35からの出力に応答して、前記ヒータ13を
加熱制御する制御手段14とを含むことを特徴とする冷熱
衝撃試験装置。