JPH087138B2 - クロマトスキヤナ等のイルミネ−シヨン機構 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は薄層クロマトスキャナや分光光度計におい
て、試料上へ照射する光束位置を示すイルミネーション
機構に関するものである。

（従来の技術） 薄層クロマトスキャナでは薄層プレート上を照射する
光束を走査して、薄層プレートに展開された試料のスポ
ットを検出していく。この場合、試料室の蓋をあけて光
束が薄層プレート上のどの位置を照射しているかを確認
する場合がある。しかし、紫外域の波長で照射を行なっ
ているときは、薄層プレート上での光束位置がみえず、
走査する位置を目で確認することができない。

そこで、光束位置を目で見ることができるようにイル
ミネーション機構が備えられている。

従来の薄層クロマトスキャナのイルミネーション機構
では、分光器の出口スリットの後にイルミネーション機
構用のタングステンランプからの光路を合流させ、その
タングステンランプからの光を薄層プレート上に照射す
る。

（発明が解決しようとする問題点） イルミネーション機構のために別に光源と光学系を設
ける従来の機構では、余分な機構が必要となり、コスト
高になる。

イルミネーション用の光束と測定用の光束とを切り換
えて使用するので、何れの光束が使用されているかを確
認する機構も必要になる。このような機構を備えると、
遮光上の問題もあり、構造が一層複雑となる。

また、イルミネーション用の光源を測定用の光源とは
別に設けているので、光源のランプの数が増え、ランプ
が切れたときの交換頻度が高くなる。

本発明は、複雑な機構を使用せずに従来のイルミネー
ション機構と同等の機能をもつイルミネーション機構を
提供することを目的とするものである。

（問題点を解決するための手段） 本発明のイルミネーション機構は、第１図に示される
ように、蓋に設けられるスイッチ（２）と、スイッチ
（２）の出力信号により測定用分光器（６）の波長を０
次光又は予め設定された可視域の特定波長に移動する分
光器波長移動手段（４）とを備えている。

（作用） 本考案ではイルミネーション機構のための光源や光学
系を設けないで、照射位置の確認時に試料室の蓋が開け
られると、測定用の光学系を用いて分光器の出力波長を
イルミネーション用の波長に切り換える。

（実施例） 第２図は本発明を薄層クロマトスキャナに適用した実
施例を表わすものである。

８はテングステンランプ、10は重水素（D₂）ランプで
あり、12はタングステンランプ８と重水素ランプ10のい
ずれかを選択して分光器に入射させる光源切替えミラー
である。16は分光器の入口スリット、18は分光器の回析
格子、14はカットフィルタであり、ミラー12によって選
択された光源からの光は必要に応じてフィルタ14を透過
して入口スリット16から分光器の回析格子18へ入射す
る。

20は分光器のコリメータミラー、22は分光器の出口ス
リットである。回析格子18で分光された光はミラー20で
反射されて出口スリット22から出射する。出口スリット
22は複数種の形状のスリットを備えており、目的に応じ
て適当な形状のスリットが選択されて使用される。

24は凹面ミラー、26は平面ミラー、28は水晶の窓板で
ある。分光器から出射した光はミラー24,26を経て水晶
窓板28から試料プレート30上に照射される。水晶窓板28
では入射光の一部が反射されてモニター用光電子増倍管
32に入射し検出されて、モニター用として使用される。
試料プレート30上に測定光が入射し、その照射点からの
反射光が反射用光電子増倍管34に入射して検出され、試
料プレート30を透過した光は透過用光電子増倍管36に入
射して検出される。

38は試料室の蓋であり、蓋38と連動して動作するスイ
ッチ40が設けられている。スイッチ40は蓋38が閉じられ
てときにオンとなり、蓋38があけられたときにオフとな
る。スイッチ40の出力信号は制御部42に取り込まれる。

分光器において回析格子18は波長用パルスモータ44に
よって回転させられる。回析格子18の支持台には、回析
格子18の回転の原点を検出するためにフォトカプラを含
む原点検出部46が設けられている。

制御部42ではCPU48がバス50に接続され、ROM52やRAM5
4の他、種々のインターフェイスがバス50を介してCPU48
に接続されている。

ROM52には試料プレート30を保持しているステージの
移動、出口スリット22の駆動、試料プレート30上の検出
されたスポットの面積計算、ピーク算出、及び分光器の
走査などを行なうプログラムが記憶されている。RAM54
には測定データ、各種パラメータ（波長走査範囲など）
などが記憶され、スペクトルを記憶したりデータ処理を
行なうのに使用される。

スイッチ40は試料室蓋I/O・インターフェイス56を経
てバス50に接続されている。波長用パルスモータ44は波
長モータI/O・インターフェイス58を経てバス50に接続
されている。60は測定データをデジタル信号に変換して
取り入れるA/D変換器、62は電源がオフになったときに
測定条件などのパラメータを記憶しておくバックアップ
RAM、64はキーボードを接続するキーコントロール・イ
ンターフェイス、66は光源8,10のいずれをオンとするか
を制御する光源制御・インターフェイス、68はクロック
信号を入力するクロック・インターフェイス、70は試料
プレート30を保持するXYステージを制御するXYステージ
・インターフェイスである。

分光器波長移動手段４はCPU48とROM52及びRAM54によ
って実現される。

次に、本実施例の動作について第３図を参照して説明
する。

試料室の蓋38をあけると、スイッチ40がオフとなる。
スイッチ40がオフとなったことをCPU48が認識し（ステ
ップS1）、CPU48は点灯している光源が重水素ランプ10
の場合には分光器を出力波長が0nm（０次光）になるよ
うに設定する（スイッチS2,S3）。このCPU48での設定に
従って、インターフェイス58を介して波長用パルスモー
タ44を駆動し、回析格子18を回転させて出力波長を0nm
にする。

また、ステップS2において点灯している光源がタング
ステンランプ８の場合には、イルミネーション波長を可
視域の視感度の高い500nm前後の特定の波長に設定する
（ステップS4）。このときもインターフェイス58を介し
てパルスモータ44を駆動し、今度は回析格子18を出力波
長が500nmになるように回転させる。

次に、試料室の蓋38が閉じられるとスイッチ40がオン
となる。CPU48はスイッチ40がオンとなったことを認識
し、分光器の波長をキーボードから入力された測定用の
所定の波長に移動させる（ステップS5）。その後は、通
常のプログラムに従ってXYステージを移動させ、試料プ
レート30上の走査を行なう。

実施例では光源としてタングステンランプと重水素ラ
ンプを用いているが、水銀ランプを光源として使用する
ときには、イルミネーションのための波長として0nm、
又は546nmと577nmのいずれかの輝線スペクトル波長を選
択するようにROM52にプログラムを施しておく。

上記の実施例は本発明を薄層クロマトスキャナに適用
した例であるが、分光光度計においても試料の輻射位置
を確認したい場合がある。本発明は分光光度計にも同様
に適用することができる。

本発明を分光光度計に適用する場合、スペクトル測定
をしない停止時に、重水素ランプ使用時には０波長（０
次光）に、ハロゲンランプ又はタングステンランプ使用
時には可視の視感度の高い波長に分光器を設定するイル
ミネーションモードを設けることができる。そして、そ
のようなイルミネーションモードを使用するかしないか
をキーボードから入力できるようにしてもよい。

（発明の効果） 本発明では測定用分光器の波長を０次光又は予め設定
された可視域の特定波長に移動してイルミネーションを
行なうようにしたので、従来のようなイルミネーション
のための光学系が不要となり、コストが低下する。

また、構造が簡単になるため故障率が低下する。

そして、試料室の蓋を開けると、試料を照射している
測定光が目視可能な光に自動的に変更されるので、直ち
に試料上の照射位置を目視で確認することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の構成を示すブロック図、第２図は一実
施例を示す概略図、第３図は一実施例の動作を示すフロ
ーチャートである。 ２……スイッチ、４……分光器波長移動手段、６……分
光器、40……スイッチ、42……制御部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】試料室の蓋の開閉と連動したスイッチと、
   前記蓋が開けられたときの前記スイッチの出力信号によ
   り測定用分光器の波長を０次光又は予め設定された可視
   域の特定波長に移動させ、前記蓋が閉じられたときの前
   記スイッチの出力信号により前記測定用分光器の波長を
   測定用の波長に戻す分光器波長移動手段とを備えたクロ
   マトスキャナ等のイルミネーション機構。