JPS6046445A - 薄層クロマトグラフイ用光走査方法 - Google Patents
薄層クロマトグラフイ用光走査方法Info
- Publication number
- JPS6046445A JPS6046445A JP14570084A JP14570084A JPS6046445A JP S6046445 A JPS6046445 A JP S6046445A JP 14570084 A JP14570084 A JP 14570084A JP 14570084 A JP14570084 A JP 14570084A JP S6046445 A JPS6046445 A JP S6046445A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- scanning
- thin layer
- stage
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
木発明は薄層クロマトグラフにおける薄層プレートの分
光吸光度測定に二波長方式を用いる場合の光走査装置に
関する。
光吸光度測定に二波長方式を用いる場合の光走査装置に
関する。
薄層クロマトグラフの薄層プレートの吸光度測定におい
て薄層プレートの厚さむら等によ・るノイズを除去する
ため二波長方式が用いられるが、従来はこの二波長方式
を実行するために互に異なる波長の光を出すように設定
された２つの分光器を用い、その両分光器の射出光をセ
クターミラーを用いて交互に試料に入射させるようにし
てい九から、分光器が２台必要であシ、またセクターミ
ラー及びその駆動機構が必要で更に２つの分光器からの
光を同一光路に導くための光学系が必要であるため装置
は高価複雑なものとなってい友。
て薄層プレートの厚さむら等によ・るノイズを除去する
ため二波長方式が用いられるが、従来はこの二波長方式
を実行するために互に異なる波長の光を出すように設定
された２つの分光器を用い、その両分光器の射出光をセ
クターミラーを用いて交互に試料に入射させるようにし
てい九から、分光器が２台必要であシ、またセクターミ
ラー及びその駆動機構が必要で更に２つの分光器からの
光を同一光路に導くための光学系が必要であるため装置
は高価複雑なものとなってい友。
本考案は薄層プレートの光走査装置で分光器が１つでよ
くセクターミラー及びそれに付随する部分及び２個所か
ら来る光線を同一光路に導入する光学系が不要な光学走
査装置を提供することを目的としている。
くセクターミラー及びそれに付随する部分及び２個所か
ら来る光線を同一光路に導入する光学系が不要な光学走
査装置を提供することを目的としている。
本発明は一定波長の光で薄層プレートを走査し、そのと
きの測光出力をメモリに記憶させておき、次に他の一定
波長で薄層プレートを走査し、先の記憶結果を読出して
２回目の走査における測光値との間で演算を行うことに
より二波長方式を用いたのと同じ結果を得るようにした
光走査装置を与えるものである。以下実施例によって本
発明を説明する。
きの測光出力をメモリに記憶させておき、次に他の一定
波長で薄層プレートを走査し、先の記憶結果を読出して
２回目の走査における測光値との間で演算を行うことに
より二波長方式を用いたのと同じ結果を得るようにした
光走査装置を与えるものである。以下実施例によって本
発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。１は光源、２は分光
器、３は走査ステージ、４は走査ステージを駆動するパ
ルスモータである。走査ステージ８上に試料の薄層プレ
ートがセットされる。光源１から出た光は分光器２に入
射し、分光器２によって単一波長λｌの光のみが分光器
２から射出して走査ステージ８上の試料に入射せしめら
れる。
器、３は走査ステージ、４は走査ステージを駆動するパ
ルスモータである。走査ステージ８上に試料の薄層プレ
ートがセットされる。光源１から出た光は分光器２に入
射し、分光器２によって単一波長λｌの光のみが分光器
２から射出して走査ステージ８上の試料に入射せしめら
れる。
走査ステージ８を駆動するパルスモータは図では４と番
号をつけた一つだけが示されているが、具体的には走査
ステージをＸ方向Ｙ方向に駆動し得るよう二個のパルス
モータがある。５は光検出器で試料の薄層プレートの透
過光或は反射光を受光し電気信号に変換する。この電気
信号は増幅器６で増幅され九後Ａ−Ｄ変換器１８でディ
ジタル信号に変換される。７はマイクロプロセッサであ
る。
号をつけた一つだけが示されているが、具体的には走査
ステージをＸ方向Ｙ方向に駆動し得るよう二個のパルス
モータがある。５は光検出器で試料の薄層プレートの透
過光或は反射光を受光し電気信号に変換する。この電気
信号は増幅器６で増幅され九後Ａ−Ｄ変換器１８でディ
ジタル信号に変換される。７はマイクロプロセッサであ
る。
パルスモータ４は制御回路８から供給されるパルスで駆
動せしめられ、制御回路８はマイクロプロセッサ７から
の指令により正転成は逆転パルスをパルスモータ４に印
加すると共に同じパルスをマイクロプロセッサに送る。
動せしめられ、制御回路８はマイクロプロセッサ７から
の指令により正転成は逆転パルスをパルスモータ４に印
加すると共に同じパルスをマイクロプロセッサに送る。
マイクロプロセッサはこのパルスを計数して走査ステー
ジ３の位置の信号を得る。Ａ−Ｄ変換器１８はマイクロ
プロセッサ７よυパルスモータ４を駆動するパルスと同
期したサンプリング信号を受けて増幅器６の出力をサン
プリングしこれをＡ−Ｄ変換し、このＡ−Ｄ変換出力は
マイクロプロセッサ７を介してランダムアクセスメモリ
（ＲＡＭ ）９に書込まれる。このときＲＡＭのアドレ
スを指定する情報はマイクロプロセッサ７が制御回路８
から受取ったパルスを計数した値であって、ＲＡＭのア
ドレスは薄層プレート上の位置に対応している。１０は
マイクロプロセッサ７の動作プログラムが畳込んである
読出し専用メモリ（ＲＯＭ ）である。
ジ３の位置の信号を得る。Ａ−Ｄ変換器１８はマイクロ
プロセッサ７よυパルスモータ４を駆動するパルスと同
期したサンプリング信号を受けて増幅器６の出力をサン
プリングしこれをＡ−Ｄ変換し、このＡ−Ｄ変換出力は
マイクロプロセッサ７を介してランダムアクセスメモリ
（ＲＡＭ ）９に書込まれる。このときＲＡＭのアドレ
スを指定する情報はマイクロプロセッサ７が制御回路８
から受取ったパルスを計数した値であって、ＲＡＭのア
ドレスは薄層プレート上の位置に対応している。１０は
マイクロプロセッサ７の動作プログラムが畳込んである
読出し専用メモリ（ＲＯＭ ）である。
マイクロプロセッサ７は次のような動作をする。
装置をスタートさせると試料ステージ３を走査の始点に
移動させると共にパルスモータ１１を操作して回折格子
Ｇを予め定めてちる波長λ１の位置にセットし、走査ス
テージ８に走査運動を行わせる。波長λ１は薄層プレー
トに対しても同プレート上に展開されている試料物質に
対しても同じような吸収を与える波長に選んであり、測
光結果は薄層プレート自体のむらの情報でちってこれが
ＲＡＭＩＱにメモリされる一回の走査が終ると走査ステ
ージを走査始点に戻しパルスモータ１１を制御して分光
器２の波長をλ２にセットし再び走査を開始させる。波
長λ２は薄層プレート上に展開されている物質によって
特に吸収される波長に選んである。測光出力はＡ−Ｄ変
換器でサンプリングされディジタル信号に変換されるが
サンプリングの度にＲＡＭからそのときのステージ３の
位置に対応するアドレスの記憶を読出し上記ディジタル
信号と共に演算を行い測光結果から薄層プレートのむら
等に基くノイズ成分を除く。このノイズ成分を除去され
た正しい情報は表示装置１２に出力されてプリントされ
、或はＤ−Ａ変換されてカーブとして描記される〇 薄層プレートは第２図に示すように複数チャンネルに展
開されており、走査ステージ８はｘ、Ｙ両方向に駆動さ
れるようになっていてマイクロプロセッサ７からの指令
でパルスモータを介して走査レーンの切換えがなされ、
走査軌跡は図にＳで示すよ２な形となり、イの部分は速
送りであり、口の部分で測光が行われる。
移動させると共にパルスモータ１１を操作して回折格子
Ｇを予め定めてちる波長λ１の位置にセットし、走査ス
テージ８に走査運動を行わせる。波長λ１は薄層プレー
トに対しても同プレート上に展開されている試料物質に
対しても同じような吸収を与える波長に選んであり、測
光結果は薄層プレート自体のむらの情報でちってこれが
ＲＡＭＩＱにメモリされる一回の走査が終ると走査ステ
ージを走査始点に戻しパルスモータ１１を制御して分光
器２の波長をλ２にセットし再び走査を開始させる。波
長λ２は薄層プレート上に展開されている物質によって
特に吸収される波長に選んである。測光出力はＡ−Ｄ変
換器でサンプリングされディジタル信号に変換されるが
サンプリングの度にＲＡＭからそのときのステージ３の
位置に対応するアドレスの記憶を読出し上記ディジタル
信号と共に演算を行い測光結果から薄層プレートのむら
等に基くノイズ成分を除く。このノイズ成分を除去され
た正しい情報は表示装置１２に出力されてプリントされ
、或はＤ−Ａ変換されてカーブとして描記される〇 薄層プレートは第２図に示すように複数チャンネルに展
開されており、走査ステージ８はｘ、Ｙ両方向に駆動さ
れるようになっていてマイクロプロセッサ７からの指令
でパルスモータを介して走査レーンの切換えがなされ、
走査軌跡は図にＳで示すよ２な形となり、イの部分は速
送りであり、口の部分で測光が行われる。
マイクロプロセッサ７は与えられるプログラムによりＲ
ＡＭｌ０の記憶情報及び現に測光しつ＼ある情報等を用
い、単にノイズ除去のみでなく他の種々な情報処理が可
能である。例えば微分動作で現在得られた情報とそれよ
り少し以前例えば曲回サンプリング時の情報（ＲＡＭに
入れである）との差をめれば微分情報が得られ吸光度の
記録だけでは明瞭に分離できないような二つのピークが
分離可能となり、また同一波長を用いて試料の展開され
ているレーンとその中間のレーンとを走査することによ
シ両者の差で薄層プレートの汚れとか曲り等のゆっくり
した変化による測光結果のベースラインの変動を消去す
るような動作をさせ長方式を用いる場合分光器が１台で
よく従って装置構成が安価である。なおマイクロプロセ
ッサを 。
ＡＭｌ０の記憶情報及び現に測光しつ＼ある情報等を用
い、単にノイズ除去のみでなく他の種々な情報処理が可
能である。例えば微分動作で現在得られた情報とそれよ
り少し以前例えば曲回サンプリング時の情報（ＲＡＭに
入れである）との差をめれば微分情報が得られ吸光度の
記録だけでは明瞭に分離できないような二つのピークが
分離可能となり、また同一波長を用いて試料の展開され
ているレーンとその中間のレーンとを走査することによ
シ両者の差で薄層プレートの汚れとか曲り等のゆっくり
した変化による測光結果のベースラインの変動を消去す
るような動作をさせ長方式を用いる場合分光器が１台で
よく従って装置構成が安価である。なおマイクロプロセ
ッサを 。
利用すると自動化と共にプログラムの組み方によリ２波
長方式以外の種々な動作及びデータ処理ができる。
長方式以外の種々な動作及びデータ処理ができる。
ロック図、第２図は薄層プレート上の走査線を示す平面
図である。
図である。
ｌ・・・光源、 ２・・・分光器、 ８・・・走査ステ
ージ、４・・・パルスモータ、１２・・・表示装置。
ージ、４・・・パルスモータ、１２・・・表示装置。
代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 走査ステージに試料照射用の光を投射する一個の分光器
と走査ステージの駆動と同期した信号により走査ステー
ジの位置の情報を作）、これによってメモリのアドレス
を指定して測光結果を記憶せしめ、この記憶或はこの記
憶と現在得られた測光データを用いて演算を行う制御回
路とを有する薄層クロマトグラフィ用光走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14570084A JPS6046445A (ja) | 1984-07-12 | 1984-07-12 | 薄層クロマトグラフイ用光走査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14570084A JPS6046445A (ja) | 1984-07-12 | 1984-07-12 | 薄層クロマトグラフイ用光走査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6046445A true JPS6046445A (ja) | 1985-03-13 |
| JPS6342221B2 JPS6342221B2 (ja) | 1988-08-22 |
Family
ID=15391083
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14570084A Granted JPS6046445A (ja) | 1984-07-12 | 1984-07-12 | 薄層クロマトグラフイ用光走査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6046445A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63200039A (ja) * | 1987-02-14 | 1988-08-18 | Shimadzu Corp | クロマトスキヤナ等のイルミネ−シヨン機構 |
-
1984
- 1984-07-12 JP JP14570084A patent/JPS6046445A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63200039A (ja) * | 1987-02-14 | 1988-08-18 | Shimadzu Corp | クロマトスキヤナ等のイルミネ−シヨン機構 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6342221B2 (ja) | 1988-08-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4544271A (en) | Densitometer | |
| US3972617A (en) | Spectrophotometer | |
| US4299486A (en) | Spectrofluorometer | |
| US4225233A (en) | Rapid scan spectrophotometer | |
| JPS6231288B2 (ja) | ||
| GB2128359A (en) | Double-beam spectrophotometer | |
| JPS6218008B2 (ja) | ||
| JPH052931B2 (ja) | ||
| US4150899A (en) | Densitometer | |
| JPH01155221A (ja) | 分光光度計の波長走査方法 | |
| EP0241904B1 (en) | Gel scanner | |
| JPS6046445A (ja) | 薄層クロマトグラフイ用光走査方法 | |
| JPS6140928B2 (ja) | ||
| JPS5985918A (ja) | 直接比率式の分光光度計 | |
| JPS607330A (ja) | 分光光度計 | |
| US4145139A (en) | Zig zag scanning densitometer with base line and impurity correction | |
| JPH0776744B2 (ja) | 空間的に展開された試料パターン測定装置 | |
| JPH051413B2 (ja) | ||
| JPS6385414A (ja) | マルチビ−ム測光装置 | |
| JP2689572B2 (ja) | クロマトスキャナ | |
| JPH01250737A (ja) | 自動化学分析装置 | |
| JPS6221952Y2 (ja) | ||
| JPS61155731A (ja) | クロマトスキヤナの測光信号処理回路 | |
| JP2526594B2 (ja) | スキャニング・デンシトメ−タ | |
| JPH06331540A (ja) | 分光光度計 |