JPH087607B2 - 電源装置の校正方法 - Google Patents
電源装置の校正方法Info
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- JPH087607B2 JPH087607B2 JP30639587A JP30639587A JPH087607B2 JP H087607 B2 JPH087607 B2 JP H087607B2 JP 30639587 A JP30639587 A JP 30639587A JP 30639587 A JP30639587 A JP 30639587A JP H087607 B2 JPH087607 B2 JP H087607B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、ディジタル値に対応したアナログ信号を出
力する電源装置の校正方法に関する。
力する電源装置の校正方法に関する。
［従来の技術］ 従来よりコンピュータの支援によりアナログ回路の特
性を試験する試験装置がある。この装置は、被試験回路
であるアナログ回路にアナログの試験電圧（あるいは電
流）を与えて、そのときの出力電圧（あるいは電流）を
測定し、入出力信号の関係からアナログ回路の特性を試
験するものである。この場合、アナログ信号の出力およ
び被試験回路のアナログ出力信号を測定する装置として
は、通常計測ユニットと呼ばれる装置が使用される。計
測ユニットは、上位のコンピュータと接続され、コンピ
ュータが実行する試験プログラムに従って、アナログ電
圧を出力し、また被試験装置からの出力電圧を測定する
などの機能を有する。なお、ここでは説明を簡明にする
ために電圧の出力および電圧の測定の場合を例にとって
説明する。
性を試験する試験装置がある。この装置は、被試験回路
であるアナログ回路にアナログの試験電圧（あるいは電
流）を与えて、そのときの出力電圧（あるいは電流）を
測定し、入出力信号の関係からアナログ回路の特性を試
験するものである。この場合、アナログ信号の出力およ
び被試験回路のアナログ出力信号を測定する装置として
は、通常計測ユニットと呼ばれる装置が使用される。計
測ユニットは、上位のコンピュータと接続され、コンピ
ュータが実行する試験プログラムに従って、アナログ電
圧を出力し、また被試験装置からの出力電圧を測定する
などの機能を有する。なお、ここでは説明を簡明にする
ために電圧の出力および電圧の測定の場合を例にとって
説明する。
被試験回路に与えるアナログ電圧は、計測ユニットの
電圧出力カードから出力される。この電圧出力カード
は、コントロール電圧を発生する部分と、このコントロ
ール電圧に対応したアナログ電圧を出力することができ
るように構成された電圧出力回路［通常自動電圧レギュ
レータ（AVR）と呼ばれる］からなる電源装置を内蔵し
ている。
電圧出力カードから出力される。この電圧出力カード
は、コントロール電圧を発生する部分と、このコントロ
ール電圧に対応したアナログ電圧を出力することができ
るように構成された電圧出力回路［通常自動電圧レギュ
レータ（AVR）と呼ばれる］からなる電源装置を内蔵し
ている。
［発明が解決しようとする問題点］ このような従来の計測カードにおけるAVRにおいて
は、コントロール電圧に対するAVRの出力電圧の割合
を、フルスケール中の何点かにおいてハードウェア的に
調整し合わせ込んでいる。
は、コントロール電圧に対するAVRの出力電圧の割合
を、フルスケール中の何点かにおいてハードウェア的に
調整し合わせ込んでいる。
しかしながら、コントロール電圧に対しAVR出力電圧
が第４図に示すようにリニアに変化していない場合には
出力誤差を生じる。すなわち、第４図において、実線が
実際のコントロール電圧ｘに対するAVR出力電圧ｙ、点
線が理想的なコントロール電圧ｘ対AVR出力電圧ｙの関
係であるが、この場合、コントロール電圧がx1のとき、
実際のAVR出力電圧はy1、理想のAVR出力電圧はy0であ
り、その誤差は（y0−y1）となる。このように、AVR出
力電圧がリニアに変化していない場合は、従来の調整方
式では出力誤差を生ずるという問題があった。
が第４図に示すようにリニアに変化していない場合には
出力誤差を生じる。すなわち、第４図において、実線が
実際のコントロール電圧ｘに対するAVR出力電圧ｙ、点
線が理想的なコントロール電圧ｘ対AVR出力電圧ｙの関
係であるが、この場合、コントロール電圧がx1のとき、
実際のAVR出力電圧はy1、理想のAVR出力電圧はy0であ
り、その誤差は（y0−y1）となる。このように、AVR出
力電圧がリニアに変化していない場合は、従来の調整方
式では出力誤差を生ずるという問題があった。
本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、AV
Rのコントロール電圧と出力電圧との関係が線形（一次
式の関係）でない場合でも、誤差の少ないコントロール
電圧出力が得られるように校正する校正方法を提供する
ことにある。
Rのコントロール電圧と出力電圧との関係が線形（一次
式の関係）でない場合でも、誤差の少ないコントロール
電圧出力が得られるように校正する校正方法を提供する
ことにある。
［問題点を解決するための手段］ このような目的を達成するために、本発明は、電圧出
力回路にコントロール電圧を与えると、この電圧出力回
路よりコントロール電圧に対応したアナログ電圧が出力
されるように構成された電源装置において、 前記コントロール電圧を与え、そのときの電圧出力回
路のアナログ出力電圧値を読み取り、その出力電圧値と
目標電圧値との差を判断し、最終的に目標電圧値近傍の
コントロール電圧と電圧出力回路のアナログ出力電圧と
の関係を一次式で近似する機能を有する手段を備え、 下記の手順に従ってコントロール電圧を校正するよう
にしたことを特徴とする。
力回路にコントロール電圧を与えると、この電圧出力回
路よりコントロール電圧に対応したアナログ電圧が出力
されるように構成された電源装置において、 前記コントロール電圧を与え、そのときの電圧出力回
路のアナログ出力電圧値を読み取り、その出力電圧値と
目標電圧値との差を判断し、最終的に目標電圧値近傍の
コントロール電圧と電圧出力回路のアナログ出力電圧と
の関係を一次式で近似する機能を有する手段を備え、 下記の手順に従ってコントロール電圧を校正するよう
にしたことを特徴とする。
予め定めた一次式 ｙ＝ax＋ｂ において目標値y0が得られる場合のｘの値x1 x1＝（y0−ｂ）/a をコントロール電圧として電圧出力回路に与え、そのと
きに測定された実際の出力電圧y1の目標値y0に対する差 ｜y0−y1｜ を求める工程。
きに測定された実際の出力電圧y1の目標値y0に対する差 ｜y0−y1｜ を求める工程。
前記差が予め定めた最大誤差以下でかつ予め定めた
設定誤差を越える場合は、前記工程において求めた点p1
（x1，y1）を通り傾きがａの直線の式 ｙ−y1＝ａ（ｘ−x1） において、目標値y0が得られるｘの値x2 x2＝（y0−y1）/a−x1 を新たなコントロール電圧として電圧出力回路に与え、
そのときに測定された実際の出力電圧y2の目標値y0に対
する差 ｜y0−y2｜ を求める工程。
設定誤差を越える場合は、前記工程において求めた点p1
（x1，y1）を通り傾きがａの直線の式 ｙ−y1＝ａ（ｘ−x1） において、目標値y0が得られるｘの値x2 x2＝（y0−y1）/a−x1 を新たなコントロール電圧として電圧出力回路に与え、
そのときに測定された実際の出力電圧y2の目標値y0に対
する差 ｜y0−y2｜ を求める工程。
前記差が予め定めた最大誤差以下でかつ予め定めた
設定誤差を越える場合は、前記工程において求めた点p1
（x1，y1）およびp2（x2，y2）を通る直線の式 ｙ−y1＝（x2−x1）（ｘ−x1）／（y2−y1） において、目標値y0が得られるｘの値x3 x3＝（y0−y1）（x2−x1）／（y2−y1）＋x1 を新たなコントロール電圧として電圧出力回路に与え、
そのときに測定された実際の出力電圧y3の目標値y0に対
する差 ｜y0−y3｜ を求める工程。
設定誤差を越える場合は、前記工程において求めた点p1
（x1，y1）およびp2（x2，y2）を通る直線の式 ｙ−y1＝（x2−x1）（ｘ−x1）／（y2−y1） において、目標値y0が得られるｘの値x3 x3＝（y0−y1）（x2−x1）／（y2−y1）＋x1 を新たなコントロール電圧として電圧出力回路に与え、
そのときに測定された実際の出力電圧y3の目標値y0に対
する差 ｜y0−y3｜ を求める工程。
前記誤差｜y0−y3｜が最大誤差以下でかつ設定確度
以下の場合には、前記工程で仮定した一次式より得られ
る傾きａ′および切片ｂ′を最終的な近似一次式の係数
および定数として保存する工程。
以下の場合には、前記工程で仮定した一次式より得られ
る傾きａ′および切片ｂ′を最終的な近似一次式の係数
および定数として保存する工程。
この場合の新たな傾きａ′は、 ａ′＝（x2−x1）／（y2−y1） 新たな切片ｂ′は、 ｂ′＝y1−（x2−x1）・x1／（y2−y1） である。
上記各工程において、差が設定確度以下の場合は、
処理は直ちに上記の工程に移行し、また上記各工程に
おいて、差が最大誤差を越えるときおよび前記の工程
において求められる差が設定誤差より大きい場合には共
に校正動作を中止する工程。
処理は直ちに上記の工程に移行し、また上記各工程に
おいて、差が最大誤差を越えるときおよび前記の工程
において求められる差が設定誤差より大きい場合には共
に校正動作を中止する工程。
［実施例］ 第１図は本発明の校正方法の原理フローである。本発
明では、誤差が規定の許容範囲以内にある正常なAVRの
出力電圧（以下目標出力電圧という）の近傍において、
コントロール電圧を与え、そのときのAVRの出力電圧を
測定する（以下この操作をセット・メジャーという）。
そして測定された出力電圧と、目標出力電圧との差（絶
対誤差）を求める。
明では、誤差が規定の許容範囲以内にある正常なAVRの
出力電圧（以下目標出力電圧という）の近傍において、
コントロール電圧を与え、そのときのAVRの出力電圧を
測定する（以下この操作をセット・メジャーという）。
そして測定された出力電圧と、目標出力電圧との差（絶
対誤差）を求める。
このようなセット・メジャー操作を最高３回行い、目
標出力電圧に対応するコントロール電圧を求める。
標出力電圧に対応するコントロール電圧を求める。
以下本発明の方法の手順について詳細に説明する。
まず、コントロール電圧ｘと出力電圧ｙは ｙ＝ax＋ｂ ・・・（１） の関係にあるものとする。そこで、上記（１）式におい
て、ｙ＝y0としたときのｘの値x1 x1＝（y0−ｂ）/a をコントロール電圧としてAVRに与え、そのときの出力
電圧を測定する。出力電圧測定値をy1とする。
て、ｙ＝y0としたときのｘの値x1 x1＝（y0−ｂ）/a をコントロール電圧としてAVRに与え、そのときの出力
電圧を測定する。出力電圧測定値をy1とする。
目標出力電圧y0と前記測定電圧y1との差 ｜y0−y1｜が規定の最大誤差以下であるか否かを判定す
る。最大誤差はその系により決定されるが、かなり大き
い誤差としてある。
る。最大誤差はその系により決定されるが、かなり大き
い誤差としてある。
前記誤差が最大誤差以下であれば、さらにその差が
設定確度（いわゆる許容誤差）以下か否かを判定する。
設定確度（いわゆる許容誤差）以下か否かを判定する。
設定確度を越える場合は、次に第２回目のAVRセッ
ト・メジャーを行う。
ト・メジャーを行う。
このときのコントロール電圧x2は次のようにして決定
する。第２図に示すように、第１回目のセット・メジャ
ーにおける点P1（x1，y1）を通り傾きがａの直線の式は ｙ−y1＝ａ（ｘ−x1） ・・・（２） である。そこで（２）式においてｙ＝y0としたときのｘ
の値x2は x2＝（y0−y1）/a−x1 であり、これを第２回目のセット・メジャーでのコント
ロール電圧とする。
する。第２図に示すように、第１回目のセット・メジャ
ーにおける点P1（x1，y1）を通り傾きがａの直線の式は ｙ−y1＝ａ（ｘ−x1） ・・・（２） である。そこで（２）式においてｙ＝y0としたときのｘ
の値x2は x2＝（y0−y1）/a−x1 であり、これを第２回目のセット・メジャーでのコント
ロール電圧とする。
このコントロール電圧x2を与えたときの出力電圧が、
y2であったとする。
y2であったとする。
そこで誤差｜y0−y2｜が最大誤差以下か否かを判定
する。
する。
上記の誤差が最大誤差以下であれば、続いてその
誤差が設定確度以下か否かを判定する。
誤差が設定確度以下か否かを判定する。
上記誤差が設定確度を越える場合は、次に第３回目
のAVRセット・メジャーを行う。
のAVRセット・メジャーを行う。
このときのコントロール電圧x3は次のようにして決定
する。第２図に示すように、第１回目および第２回目の
セット・メジャーにおける測定点P1（x1，y1）およびP2
（x2，y2）をを通る直線の式は ｙ−y1＝（x2−x1）・（ｘ−x1／（y2−y1） ・・・
（３） である。そこで（３）式においてｙ＝y0としたときのｘ
の値x3は x3＝（y0−y1）（x2−x1）／（y2−y1）＋x1 であり、これを第３回目のセット・メジャーでのコント
ロール電圧とする。
する。第２図に示すように、第１回目および第２回目の
セット・メジャーにおける測定点P1（x1，y1）およびP2
（x2，y2）をを通る直線の式は ｙ−y1＝（x2−x1）・（ｘ−x1／（y2−y1） ・・・
（３） である。そこで（３）式においてｙ＝y0としたときのｘ
の値x3は x3＝（y0−y1）（x2−x1）／（y2−y1）＋x1 であり、これを第３回目のセット・メジャーでのコント
ロール電圧とする。
このコントロール電圧x3を与えたときの出力電圧が、
y3であったとする。
y3であったとする。
誤差｜y0−y3｜が最大誤差以下か否かを判定する。
上記の誤差が最大誤差以下であれば、続いてその
誤差が設定確度以下か否かを判定する。
誤差が設定確度以下か否かを判定する。
上記誤差が設定確度以下であれば、（３）式から新
たな傾きａ′および切片ｂ′を求めて保存し、校正動作
を終了する。
たな傾きａ′および切片ｂ′を求めて保存し、校正動作
を終了する。
新たな傾きａ′は、 ａ′＝（x2−x1）／（y2−y1） 新たな切片ｂ′は、 ｂ′＝y1−（x2−x1）・x1／（y2−y1） である。
なお、上記各最大誤差判定において、誤差が最大誤差
を越える場合および第３回目のセット・メジャー後に行
われる設定確度判定における誤差が設定確度よりも大き
い場合には、AVR設定を中止する。
を越える場合および第３回目のセット・メジャー後に行
われる設定確度判定における誤差が設定確度よりも大き
い場合には、AVR設定を中止する。
他方第３回目のセット・メジャー以前での各設定確度
判定における誤差が設定確度以下の場合は、処理は直ち
に上記に移行する。
判定における誤差が設定確度以下の場合は、処理は直ち
に上記に移行する。
このようにして新しい係数ａ′および定数ｂ′を求
め、その後のy0設定の際には、 ｙ＝ａ′ｘ＋ｂ′ の式よりｘを求め、それをコントロール電圧として設定
する。
め、その後のy0設定の際には、 ｙ＝ａ′ｘ＋ｂ′ の式よりｘを求め、それをコントロール電圧として設定
する。
以上のようにして、AVRの出力電圧y0を得るときのコ
ントロール電圧を校正することができる。他の出力電圧
についても上記方法によりそれぞれコントロール電圧を
求めることができる。
ントロール電圧を校正することができる。他の出力電圧
についても上記方法によりそれぞれコントロール電圧を
求めることができる。
第３図は本発明の方法を実施するための装置の一実施
例を示す構成図である。図において、１は被試験アナロ
グ回路、２はAVR、３はコントローラ、４はディジタル
・アナログ変換器（以下D/A変換器という）、５はスイ
ッチ、６はアナログ・ディジタル変換器（以下A/D変換
器という）である。
例を示す構成図である。図において、１は被試験アナロ
グ回路、２はAVR、３はコントローラ、４はディジタル
・アナログ変換器（以下D/A変換器という）、５はスイ
ッチ、６はアナログ・ディジタル変換器（以下A/D変換
器という）である。
コントローラ３は、上記セット・メジャー動作を実行
し、コントロール電圧を発生すると共に測定値を読み取
り、誤差の大きさを判定する機能を有する。
し、コントロール電圧を発生すると共に測定値を読み取
り、誤差の大きさを判定する機能を有する。
コントローラ３は、各コントロール電圧x1，x2，x3を
ディジタル値でD/A変換器４に与える。D/A変換器４では
これをアナログ化し、AVR2に入力する。AVRの各出力電
圧y1，y2，y3は被試験アナログ回路１に加えられるが、
この出力電圧はコントローラ３によってオン・オフ制御
されるスイッチ５を介してA/D変換器６に導かれ、ここ
でディジタル化された後コントローラ３に入力される。
ディジタル値でD/A変換器４に与える。D/A変換器４では
これをアナログ化し、AVR2に入力する。AVRの各出力電
圧y1，y2，y3は被試験アナログ回路１に加えられるが、
この出力電圧はコントローラ３によってオン・オフ制御
されるスイッチ５を介してA/D変換器６に導かれ、ここ
でディジタル化された後コントローラ３に入力される。
このような構成において、コントローラ３の制御によ
り、スイッチ５をオンとして校正モードとした後、第１
図に示すフローに従うセット・メジャーおよび誤差の判
定を行い、最終的に出力電圧y0近傍の近似一次式を求め
る。
り、スイッチ５をオンとして校正モードとした後、第１
図に示すフローに従うセット・メジャーおよび誤差の判
定を行い、最終的に出力電圧y0近傍の近似一次式を求め
る。
上記校正モードが終了すると、スイッチ５はコントロ
ーラ３の制御によりオフ状態となる。
ーラ３の制御によりオフ状態となる。
［発明の効果］ 以上詳細に説明したように、本発明によれば、第２回
目および第３回目のAVRコントロール電圧を決定すると
き、それぞれ第１回目の実測データおよび第１回目と第
２回目の実測データを基に計算により求めているため、
AVR設定目標値とのずれが少なく、目標値へ早く収束さ
せることができる。
目および第３回目のAVRコントロール電圧を決定すると
き、それぞれ第１回目の実測データおよび第１回目と第
２回目の実測データを基に計算により求めているため、
AVR設定目標値とのずれが少なく、目標値へ早く収束さ
せることができる。
また、一度校正を行って求めた傾きａ′と切辺ｂ′を
保存し、次回の校正のときにこれを利用することができ
るようにしたため、次回からはより少ない回数で目標値
へ収束させることができる。通常の試験装置では、 試験項目が変わっても各検査項目ごとにAVRの出力電圧
は被試験アナログ回路の定格入力電圧で一定の場合が多
く、その付近で近似されたａ′,b′を用いると早く収束
するので、実用上の効果は大きい。
保存し、次回の校正のときにこれを利用することができ
るようにしたため、次回からはより少ない回数で目標値
へ収束させることができる。通常の試験装置では、 試験項目が変わっても各検査項目ごとにAVRの出力電圧
は被試験アナログ回路の定格入力電圧で一定の場合が多
く、その付近で近似されたａ′,b′を用いると早く収束
するので、実用上の効果は大きい。
第１図は本発明の校正方法の原理フロー、第２図は本発
明の校正方法の原理を説明するためのコントロール電圧
とAVR出力電圧の関係を示す説明図、第３図は本発明の
方法を実施するための装置の一実施例を示す構成図、第
４図はコントロール電圧とAVR出力電圧との関係を示す
特性図である。 １…被試験アナログ回路、２…AVR、３…コントロー
ラ、４…D/A変換器、５…スイッチ、６…A/D変換器。
明の校正方法の原理を説明するためのコントロール電圧
とAVR出力電圧の関係を示す説明図、第３図は本発明の
方法を実施するための装置の一実施例を示す構成図、第
４図はコントロール電圧とAVR出力電圧との関係を示す
特性図である。 １…被試験アナログ回路、２…AVR、３…コントロー
ラ、４…D/A変換器、５…スイッチ、６…A/D変換器。
Claims (1)
- 【請求項１】電圧出力回路にコントロール電圧を与える
と、この電圧出力回路よりコントロール電圧に対応した
アナログ電圧が出力されるように構成された電源出力装
置において、 前記コントロール電圧を与え、そのときの電圧出力回路
のアナログ出力電圧値を読み取り、その出力電圧値と目
標電圧値との差を判断し、最終的に目標電圧値近傍のコ
ントロール電圧と電圧出力回路のアナログ出力電圧との
関係を一次式で近似する機能を有する手段を備え、 下記の手順に従ってコントロール電圧を校正するように
したことを特徴とする電源装置の校正方法。 予め定めた一次式 ｙ＝ax＋ｂ において目標値y0が得られる場合のｘの値x1 x1＝（y0−ｂ）/a をコントロール電圧として電圧出力回路に与え、そのと
きに測定された実際の出力電圧y1の目標値y0に対する差 ｜y0−y1｜ を求める工程。 前記差が予め定めた最大誤差以下でかつ予め定めた
設定誤差を越える場合は、前記工程において求めた点p1
（x1，y1）を通り傾きがａの直線の式 ｙ−y1＝ａ（ｘ−x1） において、目標値y0が得られるｘの値x2 x2＝（y0−y1）/a−x1 を新たなコントロール電圧として電圧出力回路に与え、
そのときに測定された実際の出力電圧y2の目標値y0に対
する差 ｜y0−y2｜ を求める工程。 前記差が予め定めた最大誤差以下でかつ予め定めた
設定誤差を越える場合は、前記工程において求めた点p1
（x1，y1）およびp2（x2，y2）を通る直線の式 ｙ−y1＝（x2−x1）（ｘ−x1）／（y2−y1） において、目標値y0が得られるｘの値x3 x3＝（y0−y1）（x2−x1）／（y2−y1）＋x1 を新たなコントロール電圧として電圧出力回路に与え、
そのときに測定された実際の出力電圧y3の目標値y0に対
する差 ｜y0−y3｜ を求める工程。 前記誤差｜y0−y3｜が最大誤差以下でかつ設定確度
以下の場合には、前記工程で仮定した一次式より得られ
る傾きａ′および切片ｂ′を最終的な近似一次式の係数
および定数として保存する工程。 この場合の新たな傾きａ′は、 ａ′＝（x2−x1）／（y2−y1） 新たな切片ｂ′は、 ｂ′＝y1−（x2−x1）・x1／（y2−y1） である。 上記各工程において、差が設定確度以下の場合は、
処理は直ちに上記の工程に移行し、また上記各工程に
おいて、差が最大誤差を越えるときおよび前記の工程
において求められる差が設定誤差より大きい場合には共
に校正動作を中止する工程。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30639587A JPH087607B2 (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 電源装置の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30639587A JPH087607B2 (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 電源装置の校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01147603A JPH01147603A (ja) | 1989-06-09 |
| JPH087607B2 true JPH087607B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=17956500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30639587A Expired - Lifetime JPH087607B2 (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 電源装置の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087607B2 (ja) |
-
1987
- 1987-12-03 JP JP30639587A patent/JPH087607B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01147603A (ja) | 1989-06-09 |
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