JPH08794Y2 - 補助カ−ド - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は積み重ね式の制御カード（以下、制御カー
ドという）の試験や調査時に、制御カード同士が接触す
ることがなく、しかも複数の制御カードの試験や調査が
同時に行うことができる補助カードに関するものであ
る。

〔従来の技術〕

第３図は制御カードを重ねたときの状態を示す正面図
であり、図において、１はCPUやメモリ等の素子が配置
された主制御カード、2a〜2cはCPUやメモリ等の素子が
配置され、後述のコネクタ６、７を介して主制御カード
１と接続され、主制御カード１により制御される副制御
カード、３は主制御カード１または副制御カード２の表
面に設けられた上部コネクタ（第１のコネクタ）、４は
副制御カード５の裏面に設けられた下部コネクタ（第２
のコネクタ）であり、上記上部コネクタ３と接続され
る。

したがって、通常の使用時には、主制御カード１の上
部には、図３に示すように上部コネクタ３、下部コネク
タ４を介して複数の副制御カード2a〜2cが積み重ねられ
ており、主制御カード１と副制御カード2a〜2cとの間で
データや制御信号等が授受される。

このような主制御カード１や副制御カード2a〜2cの動
作試験やデータ測定時にあって、主制御カード１または
副制御カード2a〜2cの素子や端子等に測定用、または試
験用機器（例えば、オシロスコープ等）のプローブを接
続する必要がある。しかし、通常の使用時にあっては、
主制御カード１と副制御カード2a〜2cとの間隔は上部コ
ネクタ３と下部コネクタ４とを合わせた厚みしかないた
め、上記測定用、または試験用機器のプローブを接続す
ることができないとともに、各素子の調整等を行うこと
ができなかった。

したがって、主制御カード１や副制御カード2a〜2cの
動作試験やデータ測定時にあっては、第４図に示すよう
な補助コネクタが必要であった。

第４図は1985年７月発行メーカカタログヒロセ電機株
式会社PCCプリント基板用コネクタCL583に示された補助
コネクタの構成を示す斜視図であり、第５図は補助コネ
クタを制御カードに装着したときの状態を示す斜視図で
ある。図において、５は上部コネクタ３と接続される下
端コネクタ６と下部コネクタ４と接続される上端コネク
タ７と下端コネクタ６と上端コネクタ７とを接続する帯
状電線８とから構成される補助コネクタであり、主制御
カード１および副制御カード２の試験時に主制御カード
１と副制御カード２との間に介在する。

したがって、主制御カード１や副制御カード2a〜2cの
動作試験やデータ測定時にあっては、第５図に示すよう
に、主制御カード１の上部コネクタ３と補助コネクタ５
の下端コネクタ６とを接続するとともに、下部コネクタ
４と上端コネクタ７とを接続し、主制御カード１と副制
御カード2a〜2cとの間隔を広げ、主制御カード１または
副制御カード2a〜2cの素子や端子等に測定用、または試
験用機器（例えば、オシロスコープ等）のプローブを接
続していた。

また、主制御カード１からの信号を副制御カード2a〜
2cに、または副制御カード2a〜2cからの信号を主制御カ
ード１に出力させるか否かを操作できる回路開閉用スイ
ッチ、および、主制御カード１と副制御カード2a〜2cと
の間で授受される信号、または副制御カード2a〜2c間で
授受される信号をチェックできるテスト用端子を補助コ
ネクタ５に設ける必要があったが、主制御カード１と副
制御カード2a〜2cとを接続するのは帯状電線８であるの
で、回路開閉用スイッチおよびテスト用端子を設けるこ
とができなかった。

〔考案が解決しようとする問題点〕

従来の補助カードは以上のように構成されているの
で、主制御カード１と副制御カード2a〜2cとの間に補助
コネクタ５を接続した場合、補助コネクタ５の下端コネ
クタ６と上端コネクタ７とを接続する帯状電線８は、主
制御カード１と副制御カード2a〜2cとの間隔を固定する
ことができず、非常に不安定な状態であるため、主制御
カード１と副制御カード2a〜2cとが接触し、電源ショー
トおよび回路素子の破損等が起こるなどの問題点があっ
た。

また、複数の副制御カード2a〜2cの動作試験またはデ
ータの測定を同時に行う場合、それぞれの間に補助コネ
クタ５を接続しなければならず、電源ショートおよび回
路素子の破損等が起こる確率が非常に高くなるため、複
数の副制御カード2a〜2cの動作試験またはデータの測定
を同時に行うことができないなどの問題点があった。

さらに、補助コネクタ５は下端コネクタ６と上端コネ
クタ７とは帯状電線８により接続されているので、補助
コネクタ５に回路開閉用スイッチおよびテスト用端子を
取り付けることができないなどの問題点があった。

この考案は上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、主制御カード１と副制御カード2a〜2cとが
接触し、電源ショートおよび回路素子の破損を防止する
とともに、複数の副制御カード2a〜2cの動作試験または
データの測定を同時に行うことができ、しかも回路開閉
用スイッチおよびテスト用端子を設けることができる補
助カードを得ることを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

この考案に係る補助カードは、制御カードおよび副制
御カードの上面に設けられた第１のコネクタと挿脱自在
に接続されるメインコネクタを設け、第２のコネクタと
挿脱自在に接続される複数のサブコネクタを制御カード
および副制御カードの下面に設け、回路パターンにより
メインコネクタ及び複数のサブコネクタの同一ピン同士
を接続し、複数の副制御カードを同時に装着可能とさせ
るようにしたものである。

〔作用〕

この考案における補助カードは、制御カードおよび副
制御カードの上面に設けられた第１のコネクタと挿脱自
在に接続されるメインコネクタを設けた基板と、制御カ
ードおよび副制御カードの下面に設けられた第２のコネ
クタと挿脱自在に接続される複数のサブコネクタと、メ
インコネクタ及び複数のサブコネクタの同一ピン同士を
接続する回路パターンとを設けたことにより、制御カー
ドと副制御カード、または副制御カード同士が接触しな
いようにメインコネクタに制御カードの第１のコネクタ
を接続することができ、サブコネクタに制御カードの第
２のコネクタを接続することができる。

〔実施例〕

以下、この考案の一実施例を図について説明する。

第１図はこの考案の一実施例による補助カードの構成
を示す平面図である。図において、従来のものと同一の
符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
10は主制御カード１と副制御カード2a〜2cとの間で挿脱
自在の補助カード、11は矩形状の基板、12は矩形状の基
板11上に配置され、主制御カード１の上部コネクタ３と
接続されるメインコネクタ、13は矩形状の基板11上の複
数の位置に配置され、副制御カード2a〜2cの下部コネク
タ４と接続されるサブコネクタ、14は矩形状の基板11上
に形成され、メインコネクタ12と上記複数のサブコネク
タ13との同一ピン同士を接続する回路パターン、15は回
路パターン14上に備えられ、主制御カード１からの信号
等を副制御カード2a〜2cに出力するか否か、または副制
御カード2a〜2cからの信号を主制御カード１に出力する
か否かを決定する回路開閉用スイッチ、16は回路パター
ン14上に備えられ、主制御カード１からの信号等が出力
されているか否か、または副制御カード2a〜2cからの信
号が主制御カード１に出力されているか否かをチェック
するためのテスト用端子である。

次に、補助カード10の使用方法を第２図を用いて説明
する。

第２図はこの考案の補助カードを使用したときの状態
を示す平面図である。

副制御カード2a〜2cの動作試験またはデータの測定を
行う場合、補助カード10のメインコネクタ12に主制御カ
ード１の上部コネクタ３を接続するとともに、副制御カ
ード2a〜2cの表面が補助カード10の外側に向くように補
助カード10のサブコネクタ13に副制御カード2a〜2cの下
部コネクタ４をそれぞれ接続する。このとき、主制御カ
ード１とこの主制御カード１と垂直状態にある副制御カ
ード2aと2cとは、測定用または試験用機器のプローブが
挿入できるだけの間隔を有している。

また、主制御カード１からの信号を副制御カード2a〜
2cに、または副制御カード2a〜2cからの信号を主制御カ
ード１に出力させるか否かは、その信号が割り当てられ
ている回路開閉用スイッチ15を操作することにより決定
される。

さらに、主制御カード１からの信号等が副制御カード
2a〜2cに出力されているか否か、または副制御カード2a
〜2cからの信号が主制御カード１に出力されているか否
かをチェックするためには、テスト用端子16に測定用ま
たは試験用機器のプローブを接続するだけでよい。な
お、上記例では基板11にテスト用端子16を設けたが、コ
ネクタを設けても良い。

以上により、この実施例によれば、上部コネクタ３と
下部コネクタ４とは基板11に取り付けられているため、
副制御カード2a〜2cの動作試験またはデータの測定時に
あって主制御カード１と副制御カード2a〜2cとが接触す
ることがなく、電源ショートおよび回路素子の破損を防
止することができる。また、複数の副制御カード2a〜2c
を補助カード10に取り付けた場合、各々副制御カード2a
〜2cの表面は補助カード10の外側に向くので、複数の副
制御カード2a〜2cの動作試験またはデータの測定を同時
に行うことができる。

また、上部コネクタ３と下部コネクタ４とは回路パタ
ーン14を形成する基板11に取り付けられているため、こ
の回路パターン14上に回路開閉用スイッチ15およびテス
ト用端子16を備えることができる。

〔考案の効果〕

以上のようにこの考案によれば、制御カードおよび副
制御カードの上面に設けられた第１のコネクタと挿脱自
在に接続されるメインコネクタを設け、第２のコネクタ
と挿脱自在に接続される複数のサブコネクタを制御カー
ドおよび副制御カードの下面に設け、回路パターンによ
りメインコネクタ及び複数のサブコネクタの同一ピン同
士を接続させるように構成したので、制御カードと副制
御カード、または複数の副制御カード同士の接触を防止
することができ、電源ショートおよび回路素子の破損を
防止すると共に、複数の副制御カードの動作試験を同時
に行うことができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例による補助カードの構成を
示す平面図、第２図はこの考案の補助カードを使用した
ときの状態を示す平面図、第３図は制御カードを重ねた
ときの状態を示す正面図、第４図は1985年７月発行メー
カカタログヒロセ電機株式会社PCCプリント基板用コネ
クタCL583に示される補助コネクタの構成を示す斜視
図、第５図は補助コネクタを制御カードに装着したとき
の状態を示す斜視図である。 １は主制御カード、2a〜2cは副制御カード、３は上部コ
ネクタ（第１のコネクタ）、４は下部コネクタ（第２の
コネクタ）、10は補助カード、11は基板、12はメインコ
ネクタ、13はサブコネクタ、14は回路パターン、15は回
路開閉用スイッチ、16はテスト用端子。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】制御カードおよびこの制御カードにより制
   御される副制御カードの上面に設けられた第１のコネク
   タと挿脱自在に接続されるメインコネクタを設けた基板
   と、この基板に配置され、上記制御カードおよび上記副
   制御カードの下面に設けられた第２のコネクタと挿脱自
   在に接続される複数のサブコネクタと、上記基板上に配
   線され、上記メインコネクタ及び上記複数のサブコネク
   タの同一ピン同士を接続する回路パターンとを備え、複
   数の上記副制御カードを同時に装着可能とする補助カー
   ド。