JPH0881787A - 酸化物エッチング製品の製造方法 - Google Patents
酸化物エッチング製品の製造方法Info
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- JPH0881787A JPH0881787A JP22024694A JP22024694A JPH0881787A JP H0881787 A JPH0881787 A JP H0881787A JP 22024694 A JP22024694 A JP 22024694A JP 22024694 A JP22024694 A JP 22024694A JP H0881787 A JPH0881787 A JP H0881787A
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Abstract
を形成する工程、この薄膜上にエッチングレジストのパ
ターンを形成する工程および薄膜を塩酸−硝酸混合水溶
液からなるエッチング液を用いてエッチングする工程を
含む酸化物エッチング製品の製造方法において、エッチ
ング工程中、エッチング液の導電率が測定され、この測
定結果が、予め決定しておいた導電率に対して変動して
いた場合、所定の組成の塩酸−硝酸混合水溶液を該エッ
チング液に補給し、該エッチング液の導電率を所望の導
電率に調節する製造方法。 【効果】 酸化物をエッチングするためのエッチング液
の組成を常に一定に、簡単に保つことができるため、得
られる酸化物エッチング製品の不良率を著しく改善する
ことができる。
Description
の製造方法に関するものであり、さらに詳しくは本発明
は、酸化物をエッチングするためのエッチング液の組成
を常に一定に保つことにより、得られる酸化物エッチン
グ製品の不良率を著しく改善することのできる製造方法
に関するものである。
形成し、この薄膜上にエッチングレジストを形成し、適
当なマスクをその上に重ねて、例えば紫外線を照射し、
その後、所望するレジスト回路パターンを現像し、酸化
物の薄膜をエッチング液を用いてエッチングすることに
よって、酸化物エッチング製品を製造することは、広く
行われている。例えば、透明導電性金属酸化物の薄膜を
用いた酸化物エッチング製品は、液晶ディスプレイなど
の表示素子、タッチパネルなどの入力装置の透明電極と
して使用されている。そして上記の透明導電性金属酸化
物としては、錫酸化物、インジウム酸化物、インジウム
錫酸化物等が使用され、またエッチング液としては、通
常塩酸−硝酸の混合水溶液が使用されている。
エッチング液として塩酸−硝酸の混合水溶液を用いた場
合、加熱により塩酸や水が蒸散したり、被エッチング物
がエッチング液を持ち出したりするため、エッチング液
の成分組成が常に変化してしまう欠点がある。この傾向
は、エッチング液をスプレーするときに顕著となり、ま
たエッチング工程におけるダクトの吸引条件も影響を与
える。この結果、エッチング液の性能が変わり、製品の
仕上がりに影響を与え、不良率の増大、信頼性の低下を
もたらしている。そこで、一般にエッチング液の成分組
成の変化を制御する方法として、個々の液成分を分析・
測定し、変化した分量に応じてその成分を補給する方法
が考えられるが、この方法では工程が複雑なだけでな
く、煩雑な補給液の交換が必要であり、また、装置が大
掛かりとなり効率の悪いものであった。
大型化するとともに、高密度化、微細化が行われてお
り、精度が高く効率の良い酸化物エッチング製品の製造
方法が求められている。従って本発明は、酸化物エッチ
ング製品の不良率の増大および信頼性の低下を防止し、
精度が高く効率の良い酸化物のエッチング加工を可能に
する酸化物エッチング製品の製造方法を提供することを
目的とするものである。
結果、上記のような従来の課題を解決することができ
た。すなわち本発明は、基材表面上に、錫酸化物、イン
ジウム酸化物またはインジウム錫酸化物の薄膜を形成す
る工程、前記酸化物の薄膜上にエッチングレジストのパ
ターンを形成する工程および前記酸化物の薄膜を塩酸−
硝酸混合水溶液からなるエッチング液を用いてエッチン
グする工程を含む酸化物エッチング製品の製造方法にお
いて、前記のエッチング液を用いてエッチングする工程
の中で、該エッチング液の導電率が測定され、この測定
結果が、予め決定しておいた導電率に対して変動してい
た場合、所定の組成の塩酸−硝酸混合水溶液を該エッチ
ング液に補給し、該エッチング液の導電率を、前記の予
め決定しておいた導電率に調節することにより、該エッ
チング液の組成が一定に保たれていることを特徴とす
る、酸化物エッチング製品の製造方法を提供するもので
ある。
−硝酸の混合水溶液における、塩酸:硝酸の重量比率
が、1:0.05〜1:5であり、エッチング液中の全
酸が、該エッチング液100gあたり0.6〜0.9モル
の割合で含まれる前記の製造方法を提供するものであ
る。
発明者らは、エッチャー、加熱温度、スプレー圧、ダク
トの吸引条件等のエッチング条件を固定すれば、エッチ
ング液の成分の変動がそれぞれ一定で、さらにこの変動
は各成分について一方向的であることを見いだし、さら
にエッチング液の成分の組成の変動と、エッチング液の
導電率に著しい相関関係を有することを見いだし、本発
明を完成することができた。
程)本発明における基材および酸化物の薄膜を形成する
方法は、とくに制限されず自由に選択することができ
る。本発明における酸化物の種類としては、錫酸化物、
インジウム酸化物またはインジウム錫酸化物が挙げられ
る。
形成する工程)本発明に用いることのできるエッチング
レジストおよびその形成方法も、とくに制限されず、自
由に選択することができる。
程)本発明は、この工程に主な特徴を有する。本発明
は、まず、あらかじめ導電率とエッチング液の組成の変
動との関係を明らかにしておくことが必要である。この
関係は、エッチャー、加熱温度、スプレー圧、ダクトの
吸引条件等のエッチング条件を固定し、実際に酸化物エ
ッチング製品を製造し、そのときのエッチング液の各成
分の変動を調べることにより、簡単に割り出せる。この
関係が明らかになれば、補給液の各成分の濃度が算出可
能となる。エッチング液の補給液は、算出された各濃度
の塩酸−硝酸混合液を一液として調製しておき、導電率
の変動がみられたときエッチャー等に補給するのが簡便
で好ましいが、所定濃度の塩酸および硝酸を、別々に調
製しておき、エッチャー内に個別に導入されるようにし
ておいてもよい。
率およびエッチング液の組成の変動が良好な相関関係を
示す塩酸−硝酸混合水溶液が挙げられる。量比として
は、好ましくは、エッチング液中の塩酸:硝酸の重量比
率が1:0.05〜1:5であることがよい。塩酸に対
する硝酸の量が上記未満であると、エッチング速度が低
下する傾向にあり、逆に上記の比を超えた硝酸量では、
エッチングレジストに悪影響を与えやすくなる。
グ液100gあたり0.4モルを超え0.6モル未満の割
合で含まれると、導電率の変化率が小さいのでエッチン
グ液の成分の組成の制御が難しく、場合によっては制御
精度が低下することもあるので、この範囲のエッチング
液組成を使用しないことが好ましい。さらに、エッチン
グ液中の全酸が、エッチング液100gあたり0.2モル
未満の割合で含まれるとエッチング効率が低下すること
があり、逆に全酸が0.9モルを超えるとエッチングレ
ジストに悪影響を与えやすくなるので、エッチング液中
の全酸は、エッチング液100gあたり0.2〜0.4モ
ル若しくは0.6〜0.9モルの範囲で含まれることが好
ましく、とくに0.6〜0.9モルであると後述するエッ
チング液の補給液の組成が決定しやすいので好ましい。
いとエッチング速度が小さくなり、高いとエッチング液
の成分の組成の変化が速くなり、しかもエッチングレジ
ストへの影響が大きくなるので20〜50℃が好まし
い。スプレーを用いてエッチングする場合、スプレー圧
力は通常の範囲でよいが、エッチング速度、エッチング
レジストへの物理的影響からみて1〜5kg/cm2が好まし
い。
おけるエッチング工程において、あらかじめ導電率とエ
ッチング液の成分の組成の変動との相関関係を明らかに
しておき、一方、エッチング液の導電率の変化を導電率
計で検知し、上記相関関係から、補給すべき各成分の量
を知り、これを補給することによりエッチング液の成分
の組成を一定に保つ(導電率を設定値に保つ)方法であ
る。
発明はこれらに限定されるものではない。実施例 1 図1に示される装置を使用して、エッチング処理を行っ
た。すなわち、エッチング液のオーバーフロー配管9を
備えたスプレー式のエッチャー1により、被エッチング
物に向かってエッチング液が適用される。エッチャー1
におけるエッチング液は、送液ポンプ4により、エッチ
ング液送液管6を通って導電率検出および制御部2に送
られ、ここで導電率が測定される。導電率測定後のエッ
チング液は、エッチング液戻り配管7をを通ってエッチ
ャーに戻される。さらに、導電率の測定値に基づいて、
エッチング液の補給量を推定し、信号化し、制御信号配
線10によりこの信号が補給液送液ポンプ5に送られ、
必要な量のエッチング液を、補給液貯槽3から、該補給
液送液ポンプ5を介して、補給液送液管8を通ってエッ
チャー1に送るというものである。
ラス板、酸化物としてインジウム錫酸化物、エッチング
レジストとして熱硬化型インクを用いた。なお、基材へ
は、スパッタリングによりインジウム錫酸化物を形成さ
せ、またスクリーン印刷法によりエッチングレジストを
形成させた。インジウム錫酸化物膜の寸法は、厚さは5
00Å、サイズは、320mm×400mmとした。また、
エッチング条件としては、温度45℃、エッチャーとし
てスプレー式を用い、スプレー圧力1.5 kg/cm2、エ
ッチング有効距離2m、保有液量300リットル、コン
ベア速度2.0m/分とした。エッチング液の成分および
組成としては、35%塩酸および67%硝酸を用い、水
を加え、塩酸が21.5重量%(エッチング液100gあ
たり0.60モル含まれている)、硝酸が6.5重量%
(エッチング液100gあたり0.10モル含まれてい
る)となるように混合し、得られた混合液310kg を
エッチャーに仕込んだ。エッチング液の成分および組成
を一定に保つための補給液としては、塩酸28.5重量
%および硝酸6.5重量%の混合水溶液を使用した。制
御部の導電率設定値は、785ms/cmとした。なお、導
電率は、電磁誘導型導電率計を用いて測定した。制御装
置を稼働し補給液を自動供給しながらエッチングを続
け、被エッチング物40000枚の処理を行ったが、エ
ッチングに起因する不良品は発生しなかった。この間に
使用した補給液量は450kg であった。なお、処理枚
数毎のエッチング液の分析結果を次の表1に示す。表1
から分かるように、処理枚数が増えても、エッチングの
成分の組成は、あまり変化していないことがわかる。
た。すなわち、この装置は、実施例1で用いた図1の装
置とほぼ同様であるが、補給液貯槽11、補給液送液ポ
ンプ12および補給液送液管13が別に設置されてい
る。なお、本実施例においては、基材としてガラス板、
酸化物としてインジウム錫酸化物、エッチングレジスト
として熱硬化型インクを用いた。なお、基材へは、スパ
ッタリングによりインジウム錫酸化物を形成させ、また
スクリーン印刷法によりエッチングレジストを形成させ
た。インジウム錫酸化物膜の寸法は、厚さは500Å、
サイズは、320mm×400mmとした。また、エッチン
グ条件としては、温度40℃、エッチャーとしてスプレ
ー式を用い、スプレー圧力1.5 kg/cm2、エッチング
有効距離2m、保有液量300リットル、コンベア速度
250m/分とした。エッチング液の成分および組成と
しては、塩酸が11.7重量%(エッチング液100gあ
たり0.32モル含まれている)、硝酸が22.3重量%
(エッチング液100gあたり0.35モル含まれてい
る)となるように混合し、得られた混合液300kg を
エッチャーに仕込んだ。補給液としては、67%硝酸お
よび30%塩酸を使用し、所望される導電率が達成され
るように、両酸成分を、それぞれ1.0:2.4の容量比
において送液ポンプによりエッチャーに送った。制御部
の導電率設定値は 770ms/cmとした。なお導電率の
測定装置および条件は、実施例1と同じとした。制御装
置を稼働し補給液を自動供給しながらエッチングを続
け、被エッチング物60000枚の処理を行ったが、エ
ッチングに起因する不良品は発生しなかった。
た。結果は、被エッチング物を8500枚処理した時点
で、エッチング不足により短絡が数箇所に発生し、基板
上に目的とする回路形成ができず不良品が発生した。エ
ッチング液の成分の組成の分析結果は表2のとおりであ
った。
るためのエッチング液の組成を常に一定に、簡単に保つ
ことができるため、得られる酸化物エッチング製品の不
良率を著しく改善することができる。
ある。
図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 基材表面上に、錫酸化物、インジウム酸
化物またはインジウム錫酸化物の薄膜を形成する工程、
前記酸化物の薄膜上にエッチングレジストのパターンを
形成する工程および前記酸化物の薄膜を塩酸−硝酸混合
水溶液からなるエッチング液を用いてエッチングする工
程を含む酸化物エッチング製品の製造方法において、 前記のエッチング液を用いてエッチングする工程の中
で、該エッチング液の導電率が測定され、この測定結果
が、予め決定しておいた導電率に対して変動していた場
合、所定の組成の塩酸−硝酸混合水溶液を該エッチング
液に補給し、該エッチング液の導電率を、前記の予め決
定しておいた導電率に調節することにより、該エッチン
グ液の組成が一定に保たれていることを特徴とする、酸
化物エッチング製品の製造方法。 - 【請求項2】 エッチング液の塩酸−硝酸の混合水溶液
における、塩酸:硝酸の重量比率が、1:0.05〜
1:5であり、エッチング液中の全酸が、該エッチング
液100gあたり0.6〜0.9モルの割合で含まれる請
求項1に記載の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22024694A JP3406079B2 (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | 酸化物エッチング製品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22024694A JP3406079B2 (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | 酸化物エッチング製品の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0881787A true JPH0881787A (ja) | 1996-03-26 |
| JP3406079B2 JP3406079B2 (ja) | 2003-05-12 |
Family
ID=16748190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22024694A Expired - Lifetime JP3406079B2 (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | 酸化物エッチング製品の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3406079B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006075506A1 (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-20 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 透明電極及びその製造方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3456804B2 (ja) * | 1995-07-31 | 2003-10-14 | 旭電化工業株式会社 | 酸化物エッチング製品の製造方法および装置 |
-
1994
- 1994-09-14 JP JP22024694A patent/JP3406079B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006075506A1 (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-20 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 透明電極及びその製造方法 |
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|---|---|
| JP3406079B2 (ja) | 2003-05-12 |
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