JPH0887838A - ビット誤り測定装置 - Google Patents
ビット誤り測定装置Info
- Publication number
- JPH0887838A JPH0887838A JP6247166A JP24716694A JPH0887838A JP H0887838 A JPH0887838 A JP H0887838A JP 6247166 A JP6247166 A JP 6247166A JP 24716694 A JP24716694 A JP 24716694A JP H0887838 A JPH0887838 A JP H0887838A
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- JP
- Japan
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- bit error
- bit
- error
- recording medium
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Error Detection And Correction (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】デジタル記録装置などのビット誤りの位置を効
率よく測定、記憶し、デジタル記録媒体のビット誤りの
物理的位置およびその分布を視覚的、直感的に把握でき
る表示をする手段を提供する。 【構成】被測定ビット列と正しいビット列とを比較して
ビット誤りを測定するビット誤り測定装置において、正
しいビット列を記憶するビット列記憶部３と、比較器
４、誤りのビット数を計数するカウンタ５、被測定ビッ
ト列を計数し記録媒体の記録論理ブロックの境界を判断
する被測定ビット数カウンタ６と該記録論理ブロック毎
に誤り数を記憶する誤り数記憶部７および誤り記憶用ア
ドレス８で構成される。該測定記憶した論理ブロック毎
のビット誤り情報をもとに、物理的位置を計算し、記録
媒体の物理的形状の図形上にビット誤り情報を表示す
る。
率よく測定、記憶し、デジタル記録媒体のビット誤りの
物理的位置およびその分布を視覚的、直感的に把握でき
る表示をする手段を提供する。 【構成】被測定ビット列と正しいビット列とを比較して
ビット誤りを測定するビット誤り測定装置において、正
しいビット列を記憶するビット列記憶部３と、比較器
４、誤りのビット数を計数するカウンタ５、被測定ビッ
ト列を計数し記録媒体の記録論理ブロックの境界を判断
する被測定ビット数カウンタ６と該記録論理ブロック毎
に誤り数を記憶する誤り数記憶部７および誤り記憶用ア
ドレス８で構成される。該測定記憶した論理ブロック毎
のビット誤り情報をもとに、物理的位置を計算し、記録
媒体の物理的形状の図形上にビット誤り情報を表示す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタル記録装置（以
下、記録装置と記す）およびデジタル記録媒体（以下、
記録媒体と記す）のビット誤りを測定するビット誤り測
定装置における、ビット誤り数、ビット誤り率などのデ
ジタル記録データの読み誤りに関する情報（以下、ビッ
ト誤り情報と記す）の表示方法に関するものである。
下、記録装置と記す）およびデジタル記録媒体（以下、
記録媒体と記す）のビット誤りを測定するビット誤り測
定装置における、ビット誤り数、ビット誤り率などのデ
ジタル記録データの読み誤りに関する情報（以下、ビッ
ト誤り情報と記す）の表示方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のビット誤り測定装置におけるビッ
ト誤り情報の表示は、単純にビット誤り率を数値で表示
するもののほかに、図８に示すように、横軸にデータブ
ロックなどの測定対象データの論理系列を配し、縦軸に
ビット誤り数やビット誤り率をとるものが通常である。
なお本明細書において、ひとかたまりで扱われるデータ
の最小単位をブロックと記す。測定の対象や目的に応じ
て、記憶媒体のゾーン、トラック、セクタあるいはブロ
ック等が本明細書のブロックになる。
ト誤り情報の表示は、単純にビット誤り率を数値で表示
するもののほかに、図８に示すように、横軸にデータブ
ロックなどの測定対象データの論理系列を配し、縦軸に
ビット誤り数やビット誤り率をとるものが通常である。
なお本明細書において、ひとかたまりで扱われるデータ
の最小単位をブロックと記す。測定の対象や目的に応じ
て、記憶媒体のゾーン、トラック、セクタあるいはブロ
ック等が本明細書のブロックになる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ディスク状の記録媒体
（以下、ディスクと記す）の重要な評価項目に不均一性
や損傷および形状の歪みなどが挙げられるが、これらの
評価には、ビット誤りの物理的位置を捕えることが必須
である。また、記録媒体のみならず、記録装置において
も、記録装置と記録媒体との相性評価の必要性から、上
記の評価は重要な評価項目となっている。
（以下、ディスクと記す）の重要な評価項目に不均一性
や損傷および形状の歪みなどが挙げられるが、これらの
評価には、ビット誤りの物理的位置を捕えることが必須
である。また、記録媒体のみならず、記録装置において
も、記録装置と記録媒体との相性評価の必要性から、上
記の評価は重要な評価項目となっている。
【０００４】テープ状の記録媒体（以下、テープと記
す）においては、上記の不均一性や損傷の評価に加え、
テープとヘッドとの接触の具合を知る必要がある。テー
プにヘッドが接触した瞬間から離れるまでの間の、テー
プとヘッドの接触の具合は一様でない。これによるビッ
ト誤り率の変化を測定することは、テープとヘッドの接
触の具合を知るための大切な評価項目の一つであり、そ
のためにも誤りの物理的位置の情報は欠かせない。
す）においては、上記の不均一性や損傷の評価に加え、
テープとヘッドとの接触の具合を知る必要がある。テー
プにヘッドが接触した瞬間から離れるまでの間の、テー
プとヘッドの接触の具合は一様でない。これによるビッ
ト誤り率の変化を測定することは、テープとヘッドの接
触の具合を知るための大切な評価項目の一つであり、そ
のためにも誤りの物理的位置の情報は欠かせない。
【０００５】以上のように、ディスク、テープを問わ
ず、また、記録装置と記録媒体の両方において、ビット
誤り情報の物理的位置およびその分布を知ることは、極
めて大切なことである。にもかかわらず、従来技術で
は、ビット誤り情報の分布状況と実際の記録媒体の物理
的位置との関係を視覚的に捕えることが困難であった。
ず、また、記録装置と記録媒体の両方において、ビット
誤り情報の物理的位置およびその分布を知ることは、極
めて大切なことである。にもかかわらず、従来技術で
は、ビット誤り情報の分布状況と実際の記録媒体の物理
的位置との関係を視覚的に捕えることが困難であった。
【０００６】本発明は、上記の課題を解決し、ビット誤
り情報の物理的位置を視覚的・直感的に捕えることが出
来る手段を提供することを目的としてなされたものであ
る。
り情報の物理的位置を視覚的・直感的に捕えることが出
来る手段を提供することを目的としてなされたものであ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】正しいビット列を発生す
る手段と、入力されたビット列と正しいビット列を比較
する比較器と誤りの数を集計する計数器手段と、被測定
ビット列のビット数を計数する計数手段と、被測定ビッ
トのブロック別に誤り数を集計する手段と、を測定装置
に備える。このビット誤り情報の測定結果を演算処理に
より、実際の記録媒体の形状を模した図形に重ねて測定
装置の表示画面に表示する。その表示例を示す。ディス
ク測定の場合には、図２のように、ディスクの形状を模
した図形の上にビット誤りを起こしたブロックを点で表
示する。テープ測定の場合には、図３のように、テープ
の形状を模した図形の上にビット誤りを起こしたブロッ
クを点で表示する。
る手段と、入力されたビット列と正しいビット列を比較
する比較器と誤りの数を集計する計数器手段と、被測定
ビット列のビット数を計数する計数手段と、被測定ビッ
トのブロック別に誤り数を集計する手段と、を測定装置
に備える。このビット誤り情報の測定結果を演算処理に
より、実際の記録媒体の形状を模した図形に重ねて測定
装置の表示画面に表示する。その表示例を示す。ディス
ク測定の場合には、図２のように、ディスクの形状を模
した図形の上にビット誤りを起こしたブロックを点で表
示する。テープ測定の場合には、図３のように、テープ
の形状を模した図形の上にビット誤りを起こしたブロッ
クを点で表示する。
【０００８】
【作用】記録装置または記録媒体の性能を知るためのビ
ット誤り測定に関して、測定結果を実際の記録媒体の物
理的形状を模した形で表示させることで、ビット誤りが
発生した物理的位置および分布を記録媒体の物理的形状
と対応させながら視覚的に把握することができる。これ
により、記録媒体の評価にとって極めて大切な、不均一
性や損傷およびディスクの形状の歪み更にテープとヘッ
ドとの接触の具合をその物理的位置と照らし合わせて簡
便に評価することができる。
ット誤り測定に関して、測定結果を実際の記録媒体の物
理的形状を模した形で表示させることで、ビット誤りが
発生した物理的位置および分布を記録媒体の物理的形状
と対応させながら視覚的に把握することができる。これ
により、記録媒体の評価にとって極めて大切な、不均一
性や損傷およびディスクの形状の歪み更にテープとヘッ
ドとの接触の具合をその物理的位置と照らし合わせて簡
便に評価することができる。
【０００９】
【実施例】図９の光磁気ディスクの場合のように、論理
フォーマットと物理フォーマットの関係が与えられてい
れば、ブロック番号およびブロック中のデータバイトの
位置から、物理的位置が一意的に求められる。一周（一
物理トラック）あたりのブロック数さえ決まっていれ
ば、測定開始点がディスクの最初でない場合にも、相対
的な物理的位置を得ることができる。
フォーマットと物理フォーマットの関係が与えられてい
れば、ブロック番号およびブロック中のデータバイトの
位置から、物理的位置が一意的に求められる。一周（一
物理トラック）あたりのブロック数さえ決まっていれ
ば、測定開始点がディスクの最初でない場合にも、相対
的な物理的位置を得ることができる。
【００１０】同様に、テープの場合も、図１０に示すよ
うに、１ライン上のブロック数が決まっていれば、論理
的位置から計算により物理的位置を得ることができる。
ただし、テープの場合、全体のなかの何本目のラインで
あるかの情報を得ることは困難であると同時に不必要で
あるので、測定の開始されたラインを一本目のラインと
みなすことになる。ビット誤りの論理的位置に関する情
報が得られれば、その物理的位置に関する情報は上記の
ように簡単に求まるので、ビット誤りの情報と共に、そ
の論理的位置を記憶しておけば、ビット誤りの物理的位
置を知ることが出来る。
うに、１ライン上のブロック数が決まっていれば、論理
的位置から計算により物理的位置を得ることができる。
ただし、テープの場合、全体のなかの何本目のラインで
あるかの情報を得ることは困難であると同時に不必要で
あるので、測定の開始されたラインを一本目のラインと
みなすことになる。ビット誤りの論理的位置に関する情
報が得られれば、その物理的位置に関する情報は上記の
ように簡単に求まるので、ビット誤りの情報と共に、そ
の論理的位置を記憶しておけば、ビット誤りの物理的位
置を知ることが出来る。
【００１１】図１は本発明の実施例を示す構成図で、ビ
ット誤りを検出する際に、誤りが起こったビットについ
ての論理的位置の情報を記憶しておく手段の例を示して
いる。被測定ビット列Ａは、シフトレジスタ１によっ
て、シリアル−パラレル変換され、正しいビット列を記
憶しているビット列記憶部３からラッチ２に送り出され
たデータと比較される。誤り検出手段４は両者の不一致
数を数え、数えられた不一致数、即ち被測定ビット列Ａ
の誤りの数は、誤り数カウンタ５によって集計される。
一方、被測定ビット列Ａのビット数を数えている被測定
ビット数カウンタ６は、入力されたビット列の数が１ブ
ロック分に達するとブロック終了信号Ｂを発生し、該信
号によりスイッチ９を閉じ、誤り数カウンタ５の内容が
誤り数記憶部７に蓄えられる。同時に、誤り数記憶部７
の記憶場所を指定する誤り記憶用アドレス８がインクリ
メントされる。誤り数カウンタ５はそのときリセットさ
れ、次のブロックの誤りを数え始める。以上のような手
続きにより、誤り数記憶部７には各ブロック毎の誤り数
が蓄えられ、誤り記憶用アドレス８の指定するアドレス
が論理的位置の情報（ブロック番号）に対応する。これ
により、各ブロックにいくつビット誤りが含まれている
かの情報が蓄えられたことになる。
ット誤りを検出する際に、誤りが起こったビットについ
ての論理的位置の情報を記憶しておく手段の例を示して
いる。被測定ビット列Ａは、シフトレジスタ１によっ
て、シリアル−パラレル変換され、正しいビット列を記
憶しているビット列記憶部３からラッチ２に送り出され
たデータと比較される。誤り検出手段４は両者の不一致
数を数え、数えられた不一致数、即ち被測定ビット列Ａ
の誤りの数は、誤り数カウンタ５によって集計される。
一方、被測定ビット列Ａのビット数を数えている被測定
ビット数カウンタ６は、入力されたビット列の数が１ブ
ロック分に達するとブロック終了信号Ｂを発生し、該信
号によりスイッチ９を閉じ、誤り数カウンタ５の内容が
誤り数記憶部７に蓄えられる。同時に、誤り数記憶部７
の記憶場所を指定する誤り記憶用アドレス８がインクリ
メントされる。誤り数カウンタ５はそのときリセットさ
れ、次のブロックの誤りを数え始める。以上のような手
続きにより、誤り数記憶部７には各ブロック毎の誤り数
が蓄えられ、誤り記憶用アドレス８の指定するアドレス
が論理的位置の情報（ブロック番号）に対応する。これ
により、各ブロックにいくつビット誤りが含まれている
かの情報が蓄えられたことになる。
【００１２】ビット列記憶部３は記憶媒体のデータ量と
比べて容量が少ない。そこで、記録媒体の全体のビット
誤りを測定するために、ビット記憶部３に記憶できる容
量以内のデータを繰り返し記憶媒体に記録しておき、こ
れを読み出して試験することになる。すなわち、何度も
同じデータと比較することになる。しかしビット誤りの
位置は何番目のブロックかが分かればよいので、これは
問題にはならない。なおスイッチ９は、本発明のデータ
の流れを分かりやすく示すために図示したものである。
従って、図の位置にある機械的スイッチに限定するもの
ではなく、通常はコンピュータによりデータの流れが制
御される。また、本実施例では、被測定ビット列をシリ
アル−パラレル変換して複数のビットをまとめて比較し
て誤りを検出する方法を示した。しかし、ビット毎に比
較する方法でも実施可能である。さらに、正しいビット
列を発生する手段として、本実施例に示した例以外に、
疑似ランダム信号発生器などで発生する方法がある。
比べて容量が少ない。そこで、記録媒体の全体のビット
誤りを測定するために、ビット記憶部３に記憶できる容
量以内のデータを繰り返し記憶媒体に記録しておき、こ
れを読み出して試験することになる。すなわち、何度も
同じデータと比較することになる。しかしビット誤りの
位置は何番目のブロックかが分かればよいので、これは
問題にはならない。なおスイッチ９は、本発明のデータ
の流れを分かりやすく示すために図示したものである。
従って、図の位置にある機械的スイッチに限定するもの
ではなく、通常はコンピュータによりデータの流れが制
御される。また、本実施例では、被測定ビット列をシリ
アル−パラレル変換して複数のビットをまとめて比較し
て誤りを検出する方法を示した。しかし、ビット毎に比
較する方法でも実施可能である。さらに、正しいビット
列を発生する手段として、本実施例に示した例以外に、
疑似ランダム信号発生器などで発生する方法がある。
【００１３】論理フォーマットと物理フォーマットの関
係は既知であるから、ビット誤りの論理的位置情報か
ら、演算によって物理的位置情報が求められる。即ち、
各ブロックの位置と媒体上の物理的位置とは一意的に対
応しているので、その位置にビット誤り数やビット誤り
率の情報を表示できる。例えば、ディスク一周に、また
は、テープの一本のラインに、Ｎ個のブロックが入って
いる場合、誤り数記憶部の数字をそのアドレスに従っ
て、図９、図１０の位置に表示すれば、ディスク、テー
プそれぞれの物理的位置と対応することができる。これ
に従い、ビット誤りが起きたブロックを点で表示したも
のが図２および図３であり、それぞれ、ディスク、テー
プに対応する。上記の手段を用いて得られたビット誤り
数と１ブロックあたりのビット数から、ビット誤り率を
計算し、それを、濃淡もしくは色で表現したものが図４
および図５であり、それぞれ、ディスクとテープに対応
する。また上記で得られたビット誤り率を、地図の等高
線にならった表現をしたものが図６および図７であり、
それぞれ、ディスクとテープに対応する。以上に本発明
の実施例を示したが、例示の様式、配置、その他を限定
するものでなく、必要に応じて本発明の要旨を失うこと
なく構成の変形も許容される。
係は既知であるから、ビット誤りの論理的位置情報か
ら、演算によって物理的位置情報が求められる。即ち、
各ブロックの位置と媒体上の物理的位置とは一意的に対
応しているので、その位置にビット誤り数やビット誤り
率の情報を表示できる。例えば、ディスク一周に、また
は、テープの一本のラインに、Ｎ個のブロックが入って
いる場合、誤り数記憶部の数字をそのアドレスに従っ
て、図９、図１０の位置に表示すれば、ディスク、テー
プそれぞれの物理的位置と対応することができる。これ
に従い、ビット誤りが起きたブロックを点で表示したも
のが図２および図３であり、それぞれ、ディスク、テー
プに対応する。上記の手段を用いて得られたビット誤り
数と１ブロックあたりのビット数から、ビット誤り率を
計算し、それを、濃淡もしくは色で表現したものが図４
および図５であり、それぞれ、ディスクとテープに対応
する。また上記で得られたビット誤り率を、地図の等高
線にならった表現をしたものが図６および図７であり、
それぞれ、ディスクとテープに対応する。以上に本発明
の実施例を示したが、例示の様式、配置、その他を限定
するものでなく、必要に応じて本発明の要旨を失うこと
なく構成の変形も許容される。
【００１４】
【発明の効果】ディスク、テープなどのデジタル記録媒
体のビット誤りの測定結果を実際の記録媒体の物理的形
状を模した形で表示させることで、ビット誤りの物理的
分布を記録媒体の物理的形状と対応させながら視覚的に
把握することができる。これにより、デジタル記録装置
または記録媒体の性能評価の効率を向上でき、実用に供
して有益である。また、従来技術で実時間処理をしよう
とすると、入力データの転送レートでビット誤り情報の
書き込みができるように設計する必要があるが、本発明
の実施例では８ビットのバイトまたはその整数倍のビッ
ト長でまとめて処理するため、ビット数分の１の転送レ
ートがで誤り情報が書き込めるように設計すればよく、
設計が格段に楽でかつ経済的である。
体のビット誤りの測定結果を実際の記録媒体の物理的形
状を模した形で表示させることで、ビット誤りの物理的
分布を記録媒体の物理的形状と対応させながら視覚的に
把握することができる。これにより、デジタル記録装置
または記録媒体の性能評価の効率を向上でき、実用に供
して有益である。また、従来技術で実時間処理をしよう
とすると、入力データの転送レートでビット誤り情報の
書き込みができるように設計する必要があるが、本発明
の実施例では８ビットのバイトまたはその整数倍のビッ
ト長でまとめて処理するため、ビット数分の１の転送レ
ートがで誤り情報が書き込めるように設計すればよく、
設計が格段に楽でかつ経済的である。
【図１】本発明の実施例を示す構成図である。
【図２】本発明による、ディスク状記録媒体のビット誤
りを起こしたブロックを点で表示する例を示す図であ
る。
りを起こしたブロックを点で表示する例を示す図であ
る。
【図３】本発明による、テープ状記録媒体のビット誤り
を起こしたブロックを点で表示する例を示す図である。
を起こしたブロックを点で表示する例を示す図である。
【図４】本発明による、ディスク状記録媒体のビット誤
り率を濃淡もしくは色で表示する例を示す図である。
り率を濃淡もしくは色で表示する例を示す図である。
【図５】本発明による、テープ状記録媒体のビット誤り
率を濃淡もしくは色で表示する例を示す図である。
率を濃淡もしくは色で表示する例を示す図である。
【図６】本発明による、ディスク状記録媒体のビット誤
り率を等高線図で表示する例を示す図である。
り率を等高線図で表示する例を示す図である。
【図７】本発明による、テープ状記録媒体のビット誤り
率を等高線図で表示する例を示す図である。
率を等高線図で表示する例を示す図である。
【図８】ビット誤り率対ブロック番号を表示した従来技
術の例を示す図である。
術の例を示す図である。
【図９】ディスク状記憶媒体のブロック番号と物理的位
置の関係を示す図である。
置の関係を示す図である。
【図１０】テープ状記憶媒体のブロック番号と物理的位
置の関係を示す図である。
置の関係を示す図である。
１：シフトレジスタ ２：ラッチ ３：ビット列記憶部 ４：誤り検出手段 ５：誤り数カウンタ ６：被測定ビット数カウンタ ７：誤り数記憶部 ８：誤り記憶用アドレス ９：スイッチ Ａ：被測定ビット列 Ｂ：ブロック終了信号
Claims (3)
- 【請求項１】正しいビット列を発生する手段と、 該正しいビット列に基づき、測定対象であるデジタル記
憶媒体の論理記憶ブロック毎にビット誤りを測定、記憶
する手段と、 該測定、記憶値を演算処理する手段と、 該測定、記憶値に基づき、デジタル記録媒体の物理的位
置に対するビット誤り情報を求める手段と、を備えたビ
ット誤り測定装置。 - 【請求項２】デジタル記録媒体の形状を模した図形上
に、ビット誤り情報を描き、ビット誤りが発生した物理
的位置およびその分布を視覚的に表示することを特徴と
する請求項１に記載のビット誤り測定装置。 - 【請求項３】被測定信号のビット数が、所望のビット数
に達するとブロック終了信号を出力する計数手段と、 被測定信号のビット列と正しいビット列を比較してビッ
ト誤りを検出し、前記ブロック終了信号間毎の誤りの数
を集計する手段と、 該集計された誤り数をブロック終了信号毎に記憶する手
段と、によりデジタル記憶媒体の論理記憶ブロック毎の
ビット誤り数を記憶する請求項１記載のビット誤り測定
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6247166A JPH0887838A (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | ビット誤り測定装置 |
| US08/524,945 US5696767A (en) | 1994-09-14 | 1995-09-07 | Bit error measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6247166A JPH0887838A (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | ビット誤り測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0887838A true JPH0887838A (ja) | 1996-04-02 |
Family
ID=17159425
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6247166A Pending JPH0887838A (ja) | 1994-09-14 | 1994-09-14 | ビット誤り測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5696767A (ja) |
| JP (1) | JPH0887838A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19715829A1 (de) * | 1997-04-16 | 1998-10-22 | Deutsche Telekom Ag | Bitfehlerstruktur-Erfassungsschaltung |
| US6188737B1 (en) * | 1999-11-24 | 2001-02-13 | Nortel Networks Limited | Method and apparatus for regenerating data |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3576541A (en) * | 1968-01-02 | 1971-04-27 | Burroughs Corp | Method and apparatus for detecting and diagnosing computer error conditions |
| FR2474226B1 (fr) * | 1980-01-22 | 1985-10-11 | Thomson Csf | Dispositif de test pour enregistreur numerique multipiste |
| US5200960A (en) * | 1990-09-21 | 1993-04-06 | Xerox Corporation | Streaming tape diagnostic |
| US5485444A (en) * | 1991-06-07 | 1996-01-16 | Deustsche Thomson-Brandt Gmbh | Signalization of types of defects of an optical information carrier |
-
1994
- 1994-09-14 JP JP6247166A patent/JPH0887838A/ja active Pending
-
1995
- 1995-09-07 US US08/524,945 patent/US5696767A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5696767A (en) | 1997-12-09 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040304 |