JPH0319178A

JPH0319178A - 光ディスクのエラー位置検出方法及び表示方法

Info

Publication number: JPH0319178A
Application number: JP15327889A
Authority: JP
Inventors: Koji Suzuki; 浩司鈴木; Yoshio Miyai; 宮井　良雄
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 1989-06-15
Filing date: 1989-06-15
Publication date: 1991-01-28

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野本発明は、コンパクトディスク（ＣＤ）やビデオディス
ク（ＬＤ）の再生時にエラーとして発生するドロップア
ウト（映像信号のエラー）やＣＩエラー（音声信号のエ
ラー）のディスク上での発生位置を検出し、二次元的に
マップ化する方法に関するものであり、製造工程管理，
品質管理等に適用し得るものである。

（ロ）従来の技術現在市販されている光ディスク特性評価システムで傷測
定が行えるものがある（参考文献１）。

傷はマップ化されて表示される。このマップ化には、エ
ラー発生位置の半径とある基準位置からの角度の２つの
情報が必要となる。前述の陽マップを測定するシステム
では、ドライブモータのエンコーダ出力から角度情報を
、またピックアップの位置から半径情報を得ている。こ
こでその分解能が問題となる。角度情報においては、エ
ンコーダの分解能から１トラックを１０２４分割してお
り、この最小分解能内での詳細なデータを得ることがで
きない。また半径情報においては、トラッキングサーボ
をかけているので、ビックアップの位置からだけでは厳
密な半径を求めることができない。

そこで、前記システムでは半径１ｍｍ幅でブロック化し
ている。（この１ｍｍという値は、データを記憶するメ
モリの容量にも制限されている。）従って、半径方向１
ｍｍ以内の詳細なマップは得られない。この傷マップと
同様な検出原理でＣＩエラーやドロップアウトのエラー
マップを測定しようとすると、最小分解能が荒すぎるた
め詳細なエラー分布を観察することができない。この分
解能を上げ、例えばディスク上の最小信号単位（ピット
）まで検出精度を高めようとすると、半径，角度情報の
検出方法を根本的に変える必要がある。　次に、磁気デ
ィスクのドロップアウトエラー等をマップ化するシステ
ムがある（参考文献２）。　このシステムではｌトラッ
ク毎のエラー検出を基本としているが、このｌトラック
の測定を繰り返すことにより、ディスク全面のエラー検
出が高精度に行える。但し、リアルタイムでの測定は不
可能である。また、この測定法は１トラック毎の読み取
り制御が可能なディスクについてのみ有効であり、ＣＤ
やＬＤのＣＬＶ（線速度一定）制御方式のディスクでは
ｌトラック毎の厳密な制御ができないので、この方式で
の測定はできない。

〈参考文献〉ｌ）光ディスクの機械特性及び記録特性評価システムの
開発（４．３ｆＪ！測定）光メモリシンポジウム゜８６　　山本，他　Ｐ１５１〜
１５８２）　　ＹＨＰ製ハードディスクテストシステム
機能仕様書　　Ｐ３０〜３５（ハ）発明が解決しようとする問題点傷測定のマップ（参考文献ｌ）で、陽の位置を検出する
方法として、ドライブモータのエンコーダ出力から角度
情報を、またピックアップの位置から半径情報を得てい
る。しかし、工冫コーダの分解能からではせいぜい１０
２４分割の角度情報しか得られない。また、ピックアッ
プの位置からだけでは厳密な半径を求めることができず
、１ｍｍ幅でブロック化している。従って、１ｍｍ以内
の詳細な半径情報は得られない。また、傷マップの際に
も湯をマーク（口，△，○等）で表示するだけであり、
十分に位置精度のよいマップが得られない。

光磁気ディスクのドロップアウト等のマップ（参考文献
２）では、１トラック毎の測定を繰り返して行うため、
原理的に全トラックの測定は可能であるが、それをリア
ルタイムで測定することができない。また、測定には一
度データを書き込み再度読み出すことによりエラー発生
を検知しているが、この方法ではＣＤやＬＤ等書き込み
のできない光ディスクに用いることができない。一方、
この表示方法もマークで表示するだけであり、十分に位
置精度のよいマップが得られない。

（二）問題点を解決するための手段本発明は、４　Ｍ　Ｈ　ｚの基準クロックを用いてエラ
ーが発生した時、ある基準点から１回転のパルス数（Ｌ
），同基準点からエラー発生時までのパルス数（Ｍ），
エラー発生時の積算トラック数（Ｎ）を１６ビットのデ
ータとしてそれぞれ同時に３面のメモリに書き込み、そ
の内容をコンピュータから読み出すことによりエラー発
生位置の半径と基準点からの角度を以下のように高精度
に決定することができる。

半径＝ｒ＋ＮＸｐｒ：測定開始半径Ｎ：積算トラック数ｐ：トラックピッチＭ：エフ一発生時のパルス歎Ｌ：１回転のパルス数角度＝３６０゜ＸＭ／Ｌこれらのデータはそれぞれ１６ピット長のメモリに蓄積
される。メモリはＦＩＦＯメそりであるため、データを
書き込みながら読み出すことができる。従って、光ディ
スクの全トラック領城全エラーを高精度な半径と角度と
して計測し、リアルタイムでの測定が可能となる。

また、マップの表示に高解倣度カラーＣＲＴの１ピクセ
ルを１ブロックとすることにより、１ブロック当りに含
まれるトラック数は約１５０｝ラックとなり、非常にエ
ラー位置の精度がよくなる。

更に、ｌブロック（ｌビクセル）内にいくつものエラー
が重なった場合、重なり合う数を積算し、その値を重み
として色別に分類しカラー表示を行うことにより、エラ
ー発生位置におけるエラーの密度やパターンを視覚的に
マップから観察することができる。

（ホ）作　用本発明によってエラーをマップ化することにより、高梼
度で、かつリアルタイムなマップ表示を行うことができ
る。更に、ｌブロック内のエラーの密度に対するカラー
表示を行うことにより、光ディスク全域のエラーの密度
のばらつきやパターンをマップから観察することができ
る。

また、マップを用いてエラー発生原因を解析することに
も有効であり、製造工程管理や品質管理を行う上で重要
である。

（へ）実施例［第１実施例コ本発明に係わるエラー発生位置検出方法を第１図に示す
。ディスクプレーヤ（１）から出力された回転信号（１
回転に１パルス）とドロップアウト信号は、エラー発生
位置検出回路（２）に入力される。該エラー発生位置検
出回路（２）では４　ＭＨｚの基準クロック発生回路（
３）からの基準クロックを用いて、回転信号とドロップ
アウトの信号から１トラック間のパルス数，エラー発生
時のパルス数，トラック数がそれぞれ計測される。その
詳細を第２図に示す。（７）（８）及び（９）は１６ビ
ットカウンターで構威されている。（７）の１６ビット
カウンターは、４　ＭＨｚの基準クロック（３）でカウ
ントアップされ、上記回転信号が入力されると出力がラ
ッチされ、同時にそのカウンターはクリアされる。この
データで、１トラック間のパルス数が計測される。（８
）の１６ビットカウンターは、４ＭＨｚの上記基準クロ
ックでカウントアップされ、上記回転信号が入力される
とそのカウンターがクリアされ、ドロップアウト信号が
入力されると出力がラッチされる。このデータで、回転
信号が入力されてからドロップアウト信号が発生するま
でのパルス数が計測される。（９）の１６ビットカウン
ターは、上記回転信号をクロックとして用い、トラック
数がカウントアップされる。上記ドロップアウト信号が
入力されると出力がラッチされる。

このデータで、ドロップアウトが発生した時のトラック
数が計測される。これらのデータはドロップアウト信号
が発生する毎に縦続する２５６Ｋワード（１６ビット長
）のＦＩＦＯメモリ（４）（５）（６）にそれぞれ同時
に入力される。ＬＤではトラック数が約５４，　０００
　｝ラックを含んでいるため、例えば前記のメモリ（４
　）（５　）（６　）の容量をそれぞれ２５６Ｋワード
にすれば、１トラック当り約４．８個のドロップアウト
信号を検出し、データをこれらのメモリ（４　）（５　
）（６　）に蓄積することができる。このとき、ｌトラ
ック当り４．８個というドロップアウトの数は、十分に
ドロップアウトの多い水準であり、通常は全ドロップア
ウト信号のデータが２５６Ｋワードの容量内におさまる
。また、これらのメモリ（４　）（５　）（６　）はＦ
ＩＦＯを用いているので、たとえドロップアウトの数が
２５６Ｋを超えたとしても、再び最初の書き込み位置に
戻りデータの書き込みが開始される。一方、ドロップア
ウトの数が２５６Ｋを超えるような場合は、例えばこれ
らのメモリ（４　）（５　）（６　）の容量を５１２Ｋ
，あるいはＩＭ等に増やすことにより全ドロップアウト
信号のデータを確実にメモリ（４　）（５　）（６　’
）に保存することができる。

上述のエラー発生位置検出方法を用いて、第３図のよう
なシステムを構或する。（４　）（５　）（６　）の２
５６ＫワードＦＩＦＯメそりに蓄積された各データは、
随時読み出され、データ処理回路（１０）に入力される
。データ処理回路（１０）のｔｌｌ戊を第４図に示す。

前記３つのメモリ（４　）（５　）（６　）から得られ
るデータをそれぞれＬ，Ｍ，Ｎとする。これらのデータ
を用いて、基準点からの角度は角度算出回路（１０１）
の式３６０’　Ｘ　Ｍ　／　Ｌで得られ、半径は半径算
出回路（１０２）の式ｒ＋ＮＸｐで得られる。この時ｒ
は測定開始半径で、ｐはトラックピッチであり、共に定
数とする。このデータ処理回路によって得られた基準点
からの角度と半径は、マップとして高解像度カラーＣ　
Ｒ　Ｔ　（１１）に表示される。

次に、本発明エラーマップの表示方法を第５図に示す。

高解像度カラーＣ　Ｒ　Ｔ　（１１）は縦１０２４ピク
セル．横１２８０ピクセルで横威されている。ピクセル
を最大限に利用するため、光ディスクの直径を１０２４
ピクセルとする。この時ｌピクセルに約１５０トラック
が含まれる。今、仮にドロップアウト信号が１ピクセル
（１３）内に１個程度発生すれば、グレードｌとして緑
色で表示される。もし、ドロップアウト信号が同じピク
セル内に２個発生すればグレード２として赤色で表示す
る。同じくドロツプアウト信号が同じピクセル内に３個
発生すればグレード３として青色で表示し、１ビクセル
内にドロップアウト信号が４個以上発生した場合は、グ
レード４として黒色で表示する。

このように、グレード１からグレード４まで、緑→赤→
青→黒と表示色を変える。得られたエラーマップ（１８
）を出力するには、カラープリンター（１２）を用いる
。なお、ドロップアウト信号の他にＣｌエラー信号も同
様の方法で測定が行える。

このようにしてエラーマップが表示されるわけであるが
、このときの角度と半径のデータは残されておらず、高
解像度カラーＣＲＴ（１１）の１ピクセルを単位とした
画像データとしてデータ処理回路（１０）に記憶されて
いる。しかし、前記３つのメモリ（４　）（５　）（６
　）中には通常のドロップアウト発生量であれば全デー
タが保存されているので、再度データを読み出すことに
より半径と角度を算出してディスクの一部分を拡大して
表示することも可能であり、１トラックの分解能を持つ
表示をすることもできる。

［第２実施例コ次に、本発明に係わるドロップアウト信号の大きさを測
定する方法を第６図のシステム＊＊図をらとに説明する
。これは、前述の実施例１で用いられたメモリ（４　）
（５　）（６　）に更にもう１枚のメモリ（１５）を付
け加え、計４枚のメモリがら構或されている。このシス
テムは、実施例１で測足されるドロップアウト信号のマ
ップ表示と同時に、ドロップアウト信号の大きさをヒス
トダラム化して測定を行うものである。エラー発生位置
検出，及びドロンプアウトの大きさ測定回路（ｌ４）の
構或を第７図に示す。（７　）（８　）（９　）ならび
に（１７）は、１６ビットカウンターで構戒されている
。（７　）（８　）（９　）は、前述の実施例ｌで示し
た第２図と同様の構威である。（ｌ７）のカウンターは
、エラーの大きさのために用いられる。測定方法は、ド
ロップアウト信号が発生している間（“Ｈ”）の時だけ
基準クロ・ｌク発生回路（３）の基準夕ロックでカウン
トアップし、ドロップアウト信号が終了すると同時にデ
ータをランチし、このカウンター（１７）をクリアする
。（７　）（８　）（９　）及び（１７）のカウンター
から出力されたデータは２５６ＫワードＦＩＦＯメモリ
（７）（８　）（９　）及び（１５）に蓄積され、随時
必要に応じて読み出し、縦続するデータ処理回路（１６
）でその大きさを算出する。このデータ処理回路（１６
）の詳細を第８図に示す。（４　）（５　）（６　）の
メモリのデータはそれぞれＬ，　Ｍ，　Ｎであり、実施
例１と同様に角度と半径の算出回路（１０１）（１０２
）に入力してエラー発生位置の角度と半径を求める。（
１５）のメモリのデータをＫとすると、Ｋはドロップア
ウト発生中の前記基準クロックのパルス数であるので、
ドロップアウトの大きさ検出回路（１０３）の式ＫＸｔ
によりドロップアウトの大きさが計算される。このとき
、ｔは基準クロックの周期である。従って（４）（５）
（６）のメモリのデータを用いれば第５図のようなエラ
ーマップの表示が行え、（１５）のデータを用いれば第
９図のようなドロップアウトの大きさに対するヒストグ
ラムの表示が行える。第９図は、ドロップアウトの大き
さを６つのグレードに分け、それぞれのグレードの個数
をヒストグラム（ｌ９）として高解像度カラーＣ　Ｒ　
Ｔ　（１１）に表示したものである。高解像度カラーＣ
ＲＴ（１１）には、第５図のようなエラーマップ（１８
）を表示してもよいし、第９図のようなヒストグラム（
ｌ９）を表示してもよい。

一方、６つのグレードに分けられたドロップアウトの大
きさは、それぞれのグレードにおけるドロップアウトの
数としてデータ処理回路（１６）に記憶されている。し
かし、メモリ（４　）（５　）（６　）及び（ｌ５〉中
には、通常のドロップアウト発生量であれば全データが
保存されているので、再度データを読み出すことにより
部分的なドロップアウトの大きさをヒストグラムとして
表示することも可能出ある。また、実施例１と同様に、
これらのメモリ（４　）（５　）（６　）及び（１５）
の容量を５１２Ｋ、あるいはＩＭ等と増やすことにより
、全ドロップアウト信号のデータを確実にメモリ（４　
）（５　）（６　）及び（ｌ５）に保存することができ
る。

（ト）発明の効果本発明は、光ディスク再生時にエラーとして発生するド
ロップアウトやＣ１エラーの発生位置を精度よく検出す
ることができると共に、検出した位置からエラーをマッ
プ化することができる。これらの方法を用いることによ
り、エラーを高精度に、かつリアルタイムでマップ化す
ることが可能である。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例を示し、第１図はエラー発生位置
検出のための概略構或図，第２図はエラー発生検出回路
の具体的例を示す図，第３図はエラー発生位置検出とエ
ラーマップ測定のためのシステム博戊図，第４図はデー
タ処理回路の具体的例を示す図，第５図はエラーマップ
表示のための説明図，第６図はエラーマップ及びヒスト
グラム測定のためのシステムＩＩ戊図，第７図はエラー
発生位置及びドロップアウトの大きさ検出回路の具体的
例を示す図，第８図はデータ処理回路の具体的例を示す
図，第９図はドロップアウトの大きさのヒストグラム表
示のための説明図である。（１）・・・・ディスクプレーヤ（２）　・・エラー発生位置検出回路（３）・・・基準クロック発振回路（　４　）（　５　）（　６　）（１５）・・・・メモ
リ（　７　）（　８　）（　９　）（１７）・・・・１
６ビットカウンター（１０）（１６）・・・・データ処
理回路（１１）・・・・高解像度ＣＲＴ（ｌ２）・・・カラープリンター（１３）・・・・（１１）のピクセル（ｌ４）・・・・エラー発生位置検出，及びドロップア
ウトの大きさ検出回路（ｌ８）・・・・マップ（ｌ９）　　・・・　ヒストグラム

Claims

【特許請求の範囲】

（１）コンパクトディスクやビデオディスク等光ディス
クの再生時にエラーとして発生するＣ＿１エラーやドロ
ップアウトの発生位置を検出するために、基準クロック
を用いてディスクのある基準点から１回転分のクロック
のパルス数、同基準点からエラー発生時までのクロック
のパルス数、積算トラック数をそれぞれデータとしてメ
モリに書き込み、読み出しを行い、それらの３つのデー
タを用いてエラー発生位置のディスク上における半径と
基準点からの角度を決定し、エラーをディスク上でマッ
プ化することを特徴とする光ディスクのエラー位置検出
方法。
（２）（１）の検出方法において、エラーマップを高解
像度のカラーＣＲＴを用い、ＣＲＴの１ピクセルを１ブ
ロックとして表示し、更に１ブロック内で重なり合いが
生じた場合、重なり合う数を重みとして色別に分類し、
１ブロックを単位としてエラーのマップ表示を行う光デ
ィスクのエラーマップ表示方法。
（３）（１）（２）の検出方法、並びに表示方法におい
て、メモリに書き込まれた３つのデータからエラー発生
位置の半径と角度を決定し、光ディスクの再生とリアル
タイムでエラーマップを表示するためにデータを書き込
みながら読み出すことのできるＦＩＦＯ（Ｆｉｒｓｔ−
ｉｎ−Ｆｉｒｓｔ−ｏｕｔ）メモリを用いることを特徴
とするエラー位置検出及びエラーマップ表示方法。