JPH0892506A - 導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池 - Google Patents
導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池Info
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- JPH0892506A JPH0892506A JP6229902A JP22990294A JPH0892506A JP H0892506 A JPH0892506 A JP H0892506A JP 6229902 A JP6229902 A JP 6229902A JP 22990294 A JP22990294 A JP 22990294A JP H0892506 A JPH0892506 A JP H0892506A
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-
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
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- Photovoltaic Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 容易に電極形成ができるため量産性に適し、
かつ、安価に製造することが可能で、しかもはんだ付け
性良好で十分な端子の引っ張り強度を有する電極形成が
可能な導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池を
提供する。 【構成】 分子量が900以上のエポキシ樹脂と、前記
エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範囲内であ
る銀粉末と、前記エポキシ樹脂を硬化させるのに最低限
必要な添加量の2倍以上の添加量のイミダゾール系硬化
剤とを含む導電ペースト。また、これを太陽電池用電極
材に用いる。さらに、150℃〜200℃の範囲内で加
熱硬化させて電極を形成する。
かつ、安価に製造することが可能で、しかもはんだ付け
性良好で十分な端子の引っ張り強度を有する電極形成が
可能な導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池を
提供する。 【構成】 分子量が900以上のエポキシ樹脂と、前記
エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範囲内であ
る銀粉末と、前記エポキシ樹脂を硬化させるのに最低限
必要な添加量の2倍以上の添加量のイミダゾール系硬化
剤とを含む導電ペースト。また、これを太陽電池用電極
材に用いる。さらに、150℃〜200℃の範囲内で加
熱硬化させて電極を形成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は導電ペーストおよび電
極形成方法に関するものである。
極形成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、電極形成時の高温に暴露する
と特性が劣化する電極、例えば、太陽電池セルの集電電
極、端子電極、およびオーミック電極は、スパッタリン
グや蒸着により、Ag、Al等を3〜5μm程度着膜さ
せて電極を形成していた。そして、この電極に対して、
Agを含むはんだによるはんだ付けや、超音波によるは
んだ付けを行っていた。
と特性が劣化する電極、例えば、太陽電池セルの集電電
極、端子電極、およびオーミック電極は、スパッタリン
グや蒸着により、Ag、Al等を3〜5μm程度着膜さ
せて電極を形成していた。そして、この電極に対して、
Agを含むはんだによるはんだ付けや、超音波によるは
んだ付けを行っていた。
【0003】また、別の方法として、アクリル樹脂等の
熱可塑性樹脂を用いた加熱硬化型導電塗料により電極を
形成し、はんだ浸漬によるはんだ付けを行っていた。
熱可塑性樹脂を用いた加熱硬化型導電塗料により電極を
形成し、はんだ浸漬によるはんだ付けを行っていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、Ag、
Al等をスパッタリングや蒸着により形成する場合に
は、着膜のときに真空系を利用するため、連続作業によ
る大量生産方式には不利であった。
Al等をスパッタリングや蒸着により形成する場合に
は、着膜のときに真空系を利用するため、連続作業によ
る大量生産方式には不利であった。
【0005】また、はんだ食われを防止するために、十
分な膜厚を確保するしなければならず、長い着膜時間が
必要であった。
分な膜厚を確保するしなければならず、長い着膜時間が
必要であった。
【0006】さらに、このはんだ食われの防止策とし
て、Ni電解メッキ処理等も行われていたが、生産工程
が増えることになり、コストが高くなっていた。
て、Ni電解メッキ処理等も行われていたが、生産工程
が増えることになり、コストが高くなっていた。
【0007】また、アクリル樹脂等の熱可塑性樹脂を用
いた加熱硬化型導電塗料の場合には、ソルダーペースト
のリフロー温度ではんだ食われが著しく、はんだ付け後
に十分な端子の引っ張り強度が確保できなかった。
いた加熱硬化型導電塗料の場合には、ソルダーペースト
のリフロー温度ではんだ食われが著しく、はんだ付け後
に十分な端子の引っ張り強度が確保できなかった。
【0008】そこで、本発明の目的は、電極の量産化に
適し、かつ、安価に電極を形成することが可能な導電ペ
ースト、電極形成方法、および太陽電池を提供すること
にある。
適し、かつ、安価に電極を形成することが可能な導電ペ
ースト、電極形成方法、および太陽電池を提供すること
にある。
【0009】また、本発明の目的は、はんだ付け性良好
でかつ十分な端子の引っ張り強度を有する電極形成が可
能な導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池を提
供することにある。
でかつ十分な端子の引っ張り強度を有する電極形成が可
能な導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池を提
供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記のような
問題点を解決するためになされたものであり、本発明の
導電ペーストは、分子量が900以上のエポキシ樹脂
と、前記エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範
囲内である銀粉末と、前記エポキシ樹脂を硬化させるの
に最低限必要な添加量の2倍以上の添加量のイミダゾー
ル系硬化剤とを含むことを特徴とするものである。
問題点を解決するためになされたものであり、本発明の
導電ペーストは、分子量が900以上のエポキシ樹脂
と、前記エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範
囲内である銀粉末と、前記エポキシ樹脂を硬化させるの
に最低限必要な添加量の2倍以上の添加量のイミダゾー
ル系硬化剤とを含むことを特徴とするものである。
【0011】また、本発明の電極形成方法は、分子量が
900以上のエポキシ樹脂に、前記エポキシ樹脂に対す
る重量比率が4〜10の範囲内である銀粉末を混合する
工程と、前記エポキシ樹脂に、前記エポキシ樹脂を硬化
させるのに最低限必要な添加量の2倍以上の添加量のイ
ミダゾール系硬化剤を添加する工程と、前記導電ペース
トをスクリーン印刷によって塗布する工程と、前記導電
ペーストを150℃〜200℃の範囲内で加熱硬化させ
る工程とを有することを特徴とするものである。
900以上のエポキシ樹脂に、前記エポキシ樹脂に対す
る重量比率が4〜10の範囲内である銀粉末を混合する
工程と、前記エポキシ樹脂に、前記エポキシ樹脂を硬化
させるのに最低限必要な添加量の2倍以上の添加量のイ
ミダゾール系硬化剤を添加する工程と、前記導電ペース
トをスクリーン印刷によって塗布する工程と、前記導電
ペーストを150℃〜200℃の範囲内で加熱硬化させ
る工程とを有することを特徴とするものである。
【0012】また、本発明の太陽電池は、分子量が90
0以上のエポキシ樹脂と、前記エポキシ樹脂に対する重
量比率が4〜10の範囲内である銀粉末と、前記エポキ
シ樹脂を硬化させるのに最低限必要な添加量の2倍以上
の添加量のイミダゾール系硬化剤とを含む導電ペースト
を、スクリーン印刷によって塗布し、150℃〜200
℃の範囲内で加熱硬化させた電極を備えることを特徴と
するものである。
0以上のエポキシ樹脂と、前記エポキシ樹脂に対する重
量比率が4〜10の範囲内である銀粉末と、前記エポキ
シ樹脂を硬化させるのに最低限必要な添加量の2倍以上
の添加量のイミダゾール系硬化剤とを含む導電ペースト
を、スクリーン印刷によって塗布し、150℃〜200
℃の範囲内で加熱硬化させた電極を備えることを特徴と
するものである。
【0013】
【作用】本発明の導電ペースト、電極形成方法、および
太陽電池では、銀粉粒径が細かく形成することができ、
かつ、潜在性の硬化剤であるイミダゾール系硬化剤を用
いるため導電ペーストの粘度上昇が抑えられるので、ス
クリーン印刷に適している。よって、スクリーン印刷を
用いて容易に電極形成ができる。
太陽電池では、銀粉粒径が細かく形成することができ、
かつ、潜在性の硬化剤であるイミダゾール系硬化剤を用
いるため導電ペーストの粘度上昇が抑えられるので、ス
クリーン印刷に適している。よって、スクリーン印刷を
用いて容易に電極形成ができる。
【0014】また、エポキシ樹脂の分子量が900以上
であるので、分子量が900未満のエポキシ樹脂の加熱
硬化が速いのとは異なり、ゆるやかに進行させることが
できる。
であるので、分子量が900未満のエポキシ樹脂の加熱
硬化が速いのとは異なり、ゆるやかに進行させることが
できる。
【0015】また、硬化剤がイミダゾール硬化剤である
ので、ポットライフ、すなわち初期粘度の2倍となるま
での可使時間を長くすることができる。
ので、ポットライフ、すなわち初期粘度の2倍となるま
での可使時間を長くすることができる。
【0016】また、エポキシ樹脂に対する銀粉末の重量
比率(銀粉末/エポキシ樹脂)が4〜10の範囲内とす
ることにより、樹脂比率が高すぎて導電ペースト塗膜上
を樹脂が覆うためにはんだ付け性不良となったり、銀粉
比率が高すぎるためにはんだ食われを生じて端子の引っ
張り強度が得られないということを防止できる。
比率(銀粉末/エポキシ樹脂)が4〜10の範囲内とす
ることにより、樹脂比率が高すぎて導電ペースト塗膜上
を樹脂が覆うためにはんだ付け性不良となったり、銀粉
比率が高すぎるためにはんだ食われを生じて端子の引っ
張り強度が得られないということを防止できる。
【0017】さらに、イミダゾール系硬化剤のエポキシ
樹脂に対する添加量が適正添加量、すなわち樹脂を硬化
させるのに最低限必要な添加量の2倍以上の添加量であ
るので、端子の引っ張り強度を十分に得ることができ
る。
樹脂に対する添加量が適正添加量、すなわち樹脂を硬化
させるのに最低限必要な添加量の2倍以上の添加量であ
るので、端子の引っ張り強度を十分に得ることができ
る。
【0018】また、本発明の太陽電池は、電極材の導電
性が良好となる。
性が良好となる。
【0019】
【実施例】以下、本発明の導電ペーストの実施例につい
て、太陽電池用電極材に用いた場合を例として説明す
る。図1および図2は、結晶系Si太陽電池セル1の断
面図および平面図である。図1に示すように、p型半導
体層3aおよびn型半導体層3bからなるSi基板3の
上面に透明電極5が設けられ、Si基板3の下面にはn
型層電極7が設けられている。さらにこの透明電極5の
上面に、図2に示すように、グリッド電極9およびブス
バー電極11が付与されている。
て、太陽電池用電極材に用いた場合を例として説明す
る。図1および図2は、結晶系Si太陽電池セル1の断
面図および平面図である。図1に示すように、p型半導
体層3aおよびn型半導体層3bからなるSi基板3の
上面に透明電極5が設けられ、Si基板3の下面にはn
型層電極7が設けられている。さらにこの透明電極5の
上面に、図2に示すように、グリッド電極9およびブス
バー電極11が付与されている。
【0020】このグリッド電極9およびブスバー電極1
1が本発明にかかる電極形成用としての導電ペースト、
すなわち、導電成分としてエポキシ樹脂と、銀粉末と、
イミダゾール系硬化剤とを含んでなる導電ペーストによ
って形成された電極である。
1が本発明にかかる電極形成用としての導電ペースト、
すなわち、導電成分としてエポキシ樹脂と、銀粉末と、
イミダゾール系硬化剤とを含んでなる導電ペーストによ
って形成された電極である。
【0021】次に、結晶系Si太陽電池セル用電極材と
しての導電ペーストについて詳述する。導電成分中のエ
ポキシ樹脂に対する銀粉末の重量比率(銀粉末/エポキ
シ樹脂)、およびエポキシ樹脂100gに対するイミダ
ゾール系硬化剤の添加量(phr)を表1で示すように
設定し、それぞれに対するはんだ付け性の評価、端子の
引っ張り強度(N)、および比抵抗(μΩ−cm)を表
1中に示している。
しての導電ペーストについて詳述する。導電成分中のエ
ポキシ樹脂に対する銀粉末の重量比率(銀粉末/エポキ
シ樹脂)、およびエポキシ樹脂100gに対するイミダ
ゾール系硬化剤の添加量(phr)を表1で示すように
設定し、それぞれに対するはんだ付け性の評価、端子の
引っ張り強度(N)、および比抵抗(μΩ−cm)を表
1中に示している。
【0022】
【表1】
【0023】なお、表1において、試料No.に*を付
したものは本発明の範囲外の試料であり、その他は本発
明の実施例を示す。
したものは本発明の範囲外の試料であり、その他は本発
明の実施例を示す。
【0024】この表1中における試料No.1ないし試
料No.15で示した導電ペーストのそれぞれは、いず
れも導電成分としてのエポキシ樹脂、銀粉末、およびイ
ミダゾール硬化剤を含むものであり、これらの導電ペー
ストをいずれも150℃、60分で加熱硬化させた電極
を形成している。
料No.15で示した導電ペーストのそれぞれは、いず
れも導電成分としてのエポキシ樹脂、銀粉末、およびイ
ミダゾール硬化剤を含むものであり、これらの導電ペー
ストをいずれも150℃、60分で加熱硬化させた電極
を形成している。
【0025】ここで、試料No.1ないし試料No.1
3は、エポキシ樹脂として三菱油化(株)製固形エポキ
シ樹脂エピコート#1004(分子量約1600、エポ
キシ当量約1000g/egiv.)を用いた場合を示
しており、メチルエチルケトン、エタノール、およびキ
シレンの混合溶剤に溶解させたエポキシワニスとして用
いる。
3は、エポキシ樹脂として三菱油化(株)製固形エポキ
シ樹脂エピコート#1004(分子量約1600、エポ
キシ当量約1000g/egiv.)を用いた場合を示
しており、メチルエチルケトン、エタノール、およびキ
シレンの混合溶剤に溶解させたエポキシワニスとして用
いる。
【0026】また、試料No.14は、エポキシ樹脂と
して三菱油化(株)製エピコート#1001(分子量約
900、エポキシ当量約500g/egiv.)を用い
た場合を示しており、試料No.15は、エポキシ樹脂
として三菱油化(株)製エピコート#1007(分子量
約2900、エポキシ当量約1800g/egiv.)
を用いた場合を示している。
して三菱油化(株)製エピコート#1001(分子量約
900、エポキシ当量約500g/egiv.)を用い
た場合を示しており、試料No.15は、エポキシ樹脂
として三菱油化(株)製エピコート#1007(分子量
約2900、エポキシ当量約1800g/egiv.)
を用いた場合を示している。
【0027】ところで、本実施例で使用されているエポ
キシ樹脂は、分子量が約900、約1600、および約
2900のものを使用しているが、これは分子量が90
0未満であるエポキシ樹脂は、加熱硬化が速く進行して
しまうためにはんだ付け性が悪く、はんだ付けをするこ
とができないためである。
キシ樹脂は、分子量が約900、約1600、および約
2900のものを使用しているが、これは分子量が90
0未満であるエポキシ樹脂は、加熱硬化が速く進行して
しまうためにはんだ付け性が悪く、はんだ付けをするこ
とができないためである。
【0028】また、銀粉末としては、平均粒径5〜10
μmのフレーク状銀粉末を用いる。
μmのフレーク状銀粉末を用いる。
【0029】さらに、イミダゾール系硬化剤としては、
2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミ
ダゾール(四国化成(株)製、商品名:2P4MH
Z)、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミ
ダゾール(四国化成(株)製、商品名:2PHZ)の少
なくともどちらか一方を用いる。このフェニルヒドロキ
シメチルイミダゾールは、その構造中に第二アミン(−
NH−基)を有しているので、適正添加量より過剰に添
加した場合は、過剰−NH−基がフラックス活性剤の補
助作用をするものと思われる。
2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミ
ダゾール(四国化成(株)製、商品名:2P4MH
Z)、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミ
ダゾール(四国化成(株)製、商品名:2PHZ)の少
なくともどちらか一方を用いる。このフェニルヒドロキ
シメチルイミダゾールは、その構造中に第二アミン(−
NH−基)を有しているので、適正添加量より過剰に添
加した場合は、過剰−NH−基がフラックス活性剤の補
助作用をするものと思われる。
【0030】なお、イミダゾール系硬化剤の適正添加量
とは、四国化成(株)の技術データにより定められてい
るものであり、樹脂を単独で硬化させるのに最低限必要
な添加量である。
とは、四国化成(株)の技術データにより定められてい
るものであり、樹脂を単独で硬化させるのに最低限必要
な添加量である。
【0031】次に、表1におけるはんだ付け性、引っ張
り強度、および比抵抗について説明する。はんだ付け性
については、導電ペーストを加熱硬化した結晶系Si太
陽電池セル1に非活性ロジン系フラックスを塗布し、2
20℃の2%銀入り共晶はんだ槽に浸漬してはんだ付け
性を観察した。
り強度、および比抵抗について説明する。はんだ付け性
については、導電ペーストを加熱硬化した結晶系Si太
陽電池セル1に非活性ロジン系フラックスを塗布し、2
20℃の2%銀入り共晶はんだ槽に浸漬してはんだ付け
性を観察した。
【0032】なお、○は、はんだ塗布面積に対して90
%以上がはんだ付け可能であった場合、△は、はんだ塗
布面積に対して70%以上90%未満がはんだ付け可能
であった場合、×は、はんだ塗布面積に対して70%未
満しかはんだ付けができなかった場合として評価してい
る。また、はんだ食われを生じたものに対しては、はん
だ付け性の評価中にはんだ食われと記載している。
%以上がはんだ付け可能であった場合、△は、はんだ塗
布面積に対して70%以上90%未満がはんだ付け可能
であった場合、×は、はんだ塗布面積に対して70%未
満しかはんだ付けができなかった場合として評価してい
る。また、はんだ食われを生じたものに対しては、はん
だ付け性の評価中にはんだ食われと記載している。
【0033】試料No.1ないし試料No.4、試料N
o.7ないし試料No.9、および試料No.12ない
し試料No.15で示される導電ペーストは、いずれも
はんだ付け性の評価が○であり、塗布面積に対して90
%以上がはんだ付け可能である。
o.7ないし試料No.9、および試料No.12ない
し試料No.15で示される導電ペーストは、いずれも
はんだ付け性の評価が○であり、塗布面積に対して90
%以上がはんだ付け可能である。
【0034】一方、試料No.5で示される導電ペース
トは、はんだ付け性の評価が×であり、塗布面積に対し
て70%未満しかはんだ付けができなかった。また、試
料No.6で示される導電ペーストは、はんだ食われを
生じていた。
トは、はんだ付け性の評価が×であり、塗布面積に対し
て70%未満しかはんだ付けができなかった。また、試
料No.6で示される導電ペーストは、はんだ食われを
生じていた。
【0035】これは、試料No.5は、(銀粉末/エポ
キシ樹脂)の重量比率が3であり、エポキシ樹脂の比率
が高すぎて導電ペースト塗膜上をエポキシ樹脂が覆うた
めに、はんだ付け性不良となってしまい、試料No.6
は、(銀粉末/エポキシ樹脂)の重量比率が11であ
り、銀粉末の比率が高すぎるために、はんだ食われを生
じてしまうからである。なお、はんだ食われとは、導電
ペースト内からはんだ中に銀粉末が拡散されてしまい、
剥がれてしまう状態のことである。
キシ樹脂)の重量比率が3であり、エポキシ樹脂の比率
が高すぎて導電ペースト塗膜上をエポキシ樹脂が覆うた
めに、はんだ付け性不良となってしまい、試料No.6
は、(銀粉末/エポキシ樹脂)の重量比率が11であ
り、銀粉末の比率が高すぎるために、はんだ食われを生
じてしまうからである。なお、はんだ食われとは、導電
ペースト内からはんだ中に銀粉末が拡散されてしまい、
剥がれてしまう状態のことである。
【0036】また、試料No.10および試料No.1
1は、はんだ付け性の評価が△であり、塗布面積に対し
て70%以上90%未満がはんだ付け可能である。な
お、試料No.10および試料No.11は、はんだ付
け性が悪いことからフラックス効果が不十分であるもの
と推察される。
1は、はんだ付け性の評価が△であり、塗布面積に対し
て70%以上90%未満がはんだ付け可能である。な
お、試料No.10および試料No.11は、はんだ付
け性が悪いことからフラックス効果が不十分であるもの
と推察される。
【0037】従って、はんだ付け性の評価では、試料N
o.1ないし試料No.4、試料No.7ないし試料N
o.9、および試料No.12ないし試料No.15で
示される導電ペーストが、はんだ付け性良好とされる、
塗布面積に対して90%以上がはんだ付け可能な試料で
あった。また、試料No.5および試料No.6、並び
に試料No.10および試料No.11は、はんだ付け
性不良であった。
o.1ないし試料No.4、試料No.7ないし試料N
o.9、および試料No.12ないし試料No.15で
示される導電ペーストが、はんだ付け性良好とされる、
塗布面積に対して90%以上がはんだ付け可能な試料で
あった。また、試料No.5および試料No.6、並び
に試料No.10および試料No.11は、はんだ付け
性不良であった。
【0038】端子の引っ張り強度(N)については、付
与済み太陽電池セルのブスパー部に市販の2%銀入り共
晶はんだペーストをスクリーン印刷にて塗布し、2mm
巾のリボン状リード端子をリフロー炉にてはんだ付け
後、端子の引っ張り強度(N)を測定した。
与済み太陽電池セルのブスパー部に市販の2%銀入り共
晶はんだペーストをスクリーン印刷にて塗布し、2mm
巾のリボン状リード端子をリフロー炉にてはんだ付け
後、端子の引っ張り強度(N)を測定した。
【0039】試料No.1ないし試料No.4、試料N
o.7ないし試料No.9、および試料No.12ない
し試料No.15で示される導電ペーストは、いずれも
端子の引っ張り強度が良好であり、実装上必要とされる
10N以上の引っ張り強度が得られた。
o.7ないし試料No.9、および試料No.12ない
し試料No.15で示される導電ペーストは、いずれも
端子の引っ張り強度が良好であり、実装上必要とされる
10N以上の引っ張り強度が得られた。
【0040】一方、試料No.5は、はんだ付け性が7
0%未満、また、試料No.6は、はんだ食われにより
測定できなかった。
0%未満、また、試料No.6は、はんだ食われにより
測定できなかった。
【0041】また、試料No.10および試料No.1
1は、端子の引っ張り強度がそれぞれ7(N)、4
(N)であり、実装上必要とされる10N以上の引っ張
り強度が得られなかった。
1は、端子の引っ張り強度がそれぞれ7(N)、4
(N)であり、実装上必要とされる10N以上の引っ張
り強度が得られなかった。
【0042】これは、試料No.10および試料No.
11は、商品名:2P4MHZ(硬化剤1)および商品
名:2PHZ(硬化剤2)のイミダゾール硬化剤の添加
量がともに1phrと少ないため、はんだ接着面積が小
さく、引っ張り強度が低くなったからである。
11は、商品名:2P4MHZ(硬化剤1)および商品
名:2PHZ(硬化剤2)のイミダゾール硬化剤の添加
量がともに1phrと少ないため、はんだ接着面積が小
さく、引っ張り強度が低くなったからである。
【0043】従って、端子の引っ張り強度では、試料N
o.1ないし試料No.4、試料No.7ないし試料N
o.9、および試料No.12ないし試料No.15で
示される導電ペーストは、いずれも端子の引っ張り強度
が良好であり、実装上必要とされる10N以上の引っ張
り強度が得られた。また、試料No.5および試料N
o.6、並びに試料No.10および試料No.11は
実装上必要とされる10N以上の引っ張り強度が得られ
なかった。
o.1ないし試料No.4、試料No.7ないし試料N
o.9、および試料No.12ないし試料No.15で
示される導電ペーストは、いずれも端子の引っ張り強度
が良好であり、実装上必要とされる10N以上の引っ張
り強度が得られた。また、試料No.5および試料N
o.6、並びに試料No.10および試料No.11は
実装上必要とされる10N以上の引っ張り強度が得られ
なかった。
【0044】ところで、硬化剤1および硬化剤2のエピ
コート#1004(分子量約1600、エポキシ当量約
1000g/egiv.)への適正添加量(phr)は
ともに1phr、すなわち、エピコート#1004を単
独で硬化させるのに最低限必要な添加量が1phrとな
っており、例えば、硬化剤1および硬化剤2のエピコー
ト#828(エポキシ当量約200g/egiv.)へ
の適正添加量は5phrであり、適正添加量とエポキシ
当量とは相関関係がある。
コート#1004(分子量約1600、エポキシ当量約
1000g/egiv.)への適正添加量(phr)は
ともに1phr、すなわち、エピコート#1004を単
独で硬化させるのに最低限必要な添加量が1phrとな
っており、例えば、硬化剤1および硬化剤2のエピコー
ト#828(エポキシ当量約200g/egiv.)へ
の適正添加量は5phrであり、適正添加量とエポキシ
当量とは相関関係がある。
【0045】従って、上記の引っ張り強度を得るために
は、この硬化剤1および硬化剤2の添加量を適正添加量
である1phrの2倍以上、すなわち2phr以上を添
加し、硬化作用を高めることが必要である。
は、この硬化剤1および硬化剤2の添加量を適正添加量
である1phrの2倍以上、すなわち2phr以上を添
加し、硬化作用を高めることが必要である。
【0046】比抵抗(μΩ−cm)については、ガラス
基板上に導電ペーストを巾0.5mm、長さ250mm
のラインをスクリーン印刷し、150℃、60分加熱硬
化後、ライン両端間の抵抗値とライン膜厚とを測定し、
比抵抗(μΩ−cm)を算出した。
基板上に導電ペーストを巾0.5mm、長さ250mm
のラインをスクリーン印刷し、150℃、60分加熱硬
化後、ライン両端間の抵抗値とライン膜厚とを測定し、
比抵抗(μΩ−cm)を算出した。
【0047】試料No.1ないし試料No.4、および
試料No.6ないし試料No.15は、いずれも比抵抗
が200(μΩ−cm)以下であり、前述の図1および
図2に示すグリッド電極9およびブスバー電極11は、
透明電極5との接触抵抗と導電ペーストとの配線抵抗に
よる電流損失を抑制するためにも、比抵抗が200μm
−cm以下が望ましいため良好である。
試料No.6ないし試料No.15は、いずれも比抵抗
が200(μΩ−cm)以下であり、前述の図1および
図2に示すグリッド電極9およびブスバー電極11は、
透明電極5との接触抵抗と導電ペーストとの配線抵抗に
よる電流損失を抑制するためにも、比抵抗が200μm
−cm以下が望ましいため良好である。
【0048】一方、試料No.5は、比抵抗が920
(μΩ−cm)であり、比抵抗は不良である。
(μΩ−cm)であり、比抵抗は不良である。
【0049】従って、比抵抗では、試料No.1ないし
試料No.4、および試料No.6ないし試料No.1
5が良好であり、試料No.5は不良である。
試料No.4、および試料No.6ないし試料No.1
5が良好であり、試料No.5は不良である。
【0050】以上により、試料No.1ないし試料N
o.15のうち、本発明の範囲内となるのは、試料N
o.1ないし試料No.4、試料No.7ないし試料N
o.9、および試料No.12ないし試料No.15で
ある。
o.15のうち、本発明の範囲内となるのは、試料N
o.1ないし試料No.4、試料No.7ないし試料N
o.9、および試料No.12ないし試料No.15で
ある。
【0051】次に、本発明の導電ペーストを用いた電極
形成方法について説明する。 (1)まず、三菱油化(株)製固形エポキシ樹脂エピコ
ート#1004(分子量約1600、エポキシ当量約1
000g/egiv.)をメチルエチルケトン、エタノ
ール、キシレンの混合溶剤に溶解させたエポキシワニス
に平均粒径5〜10μmのフレーク状銀粉末を混合す
る。
形成方法について説明する。 (1)まず、三菱油化(株)製固形エポキシ樹脂エピコ
ート#1004(分子量約1600、エポキシ当量約1
000g/egiv.)をメチルエチルケトン、エタノ
ール、キシレンの混合溶剤に溶解させたエポキシワニス
に平均粒径5〜10μmのフレーク状銀粉末を混合す
る。
【0052】(2)撹拌しながら冷風を送り込み、混合
溶剤を徐々に拡散させて、粘度調整用にターピネオー
ル、ジアセトンアルコール、乳酸ブチルの混合溶剤を適
宜加えて溶剤置換し、印刷性に適した粘度に調整する。
溶剤を徐々に拡散させて、粘度調整用にターピネオー
ル、ジアセトンアルコール、乳酸ブチルの混合溶剤を適
宜加えて溶剤置換し、印刷性に適した粘度に調整する。
【0053】(3)これに商品名:2P4MHZまたは
商品名:2PHZのイミダゾール系硬化剤を加えて3本
ロールで十分に混練分散させ、導電ペーストを製造す
る。ここで、このイミダゾール系硬化剤は、一液性導電
ペーストとして使用するためのペーストライフを考慮す
ると、エポキシ樹脂用硬化剤としては常温でのポットラ
イフが30日以上のものが望ましい。
商品名:2PHZのイミダゾール系硬化剤を加えて3本
ロールで十分に混練分散させ、導電ペーストを製造す
る。ここで、このイミダゾール系硬化剤は、一液性導電
ペーストとして使用するためのペーストライフを考慮す
ると、エポキシ樹脂用硬化剤としては常温でのポットラ
イフが30日以上のものが望ましい。
【0054】(4)この導電ペーストを図1および図2
に示すグリッド電極9、ブスパー電極11としてスクリ
ーン印刷後、150℃で60分加熱硬化させる。この加
熱硬化温度は150℃〜200℃の範囲内ではんだ付け
可能な加熱硬化を設定すればよい。200℃以下で加熱
硬化して形成するため、熱履歴に敏感な膜組成へのダメ
ージも与えない。ただし、加熱硬化により被塗布面との
十分な引っ張り強度を得る必要がある上、はんだ付けす
るときに、半硬化状態にしてはんだ付け性を確保するた
め、加熱硬化時間が長い方が良い。また、加熱硬化時間
については通常20分〜90分程度で行う。90分以上
加熱すると完全硬化してはんだが付かなくなり、20分
以下の加熱では硬化不十分のためはんだ食われが生じて
しまう。
に示すグリッド電極9、ブスパー電極11としてスクリ
ーン印刷後、150℃で60分加熱硬化させる。この加
熱硬化温度は150℃〜200℃の範囲内ではんだ付け
可能な加熱硬化を設定すればよい。200℃以下で加熱
硬化して形成するため、熱履歴に敏感な膜組成へのダメ
ージも与えない。ただし、加熱硬化により被塗布面との
十分な引っ張り強度を得る必要がある上、はんだ付けす
るときに、半硬化状態にしてはんだ付け性を確保するた
め、加熱硬化時間が長い方が良い。また、加熱硬化時間
については通常20分〜90分程度で行う。90分以上
加熱すると完全硬化してはんだが付かなくなり、20分
以下の加熱では硬化不十分のためはんだ食われが生じて
しまう。
【0055】(5)加熱半硬化状態でリード端子等には
んだ付けする。この場合、熱硬化性樹脂を半硬化状態で
利用するため、熱可塑性樹脂よりも接着強度が強く、か
つはんだ食われしにくい。
んだ付けする。この場合、熱硬化性樹脂を半硬化状態で
利用するため、熱可塑性樹脂よりも接着強度が強く、か
つはんだ食われしにくい。
【0056】ここで、加熱硬化温度を140℃(加熱硬
化時間は60分)に設定したものを試料No.16およ
び試料No.17に、また加熱硬化温度を210℃(加
熱硬化時間は30分)に設定したものを試料No.18
および試料No.19として表2に示す。
化時間は60分)に設定したものを試料No.16およ
び試料No.17に、また加熱硬化温度を210℃(加
熱硬化時間は30分)に設定したものを試料No.18
および試料No.19として表2に示す。
【0057】
【表2】
【0058】表2に示した試料No.16および試料N
o.17は、はんだ食われを生じており、試料No.1
8および試料No.19は、はんだ付け性が不良であっ
た。
o.17は、はんだ食われを生じており、試料No.1
8および試料No.19は、はんだ付け性が不良であっ
た。
【0059】従って、加熱硬化温度は150℃〜200
℃の範囲内で設定する必要があり、この温度範囲内では
電極のはんだ食われやはんだ付け性不良になることを防
止できて、品質の信頼性を向上することができる。
℃の範囲内で設定する必要があり、この温度範囲内では
電極のはんだ食われやはんだ付け性不良になることを防
止できて、品質の信頼性を向上することができる。
【0060】ところで、上記実施例では、図1、図2に
示すように、上記実施例にかかる電極形成用としての導
電ペーストを用いた結晶系Si太陽電池セルについて説
明したが、この発明はこれらの電子部品に限定されない
ことはいうまでもない。例えば、図3、図4に示すよう
な4素子直列タイプのアモルファスSi太陽電池、およ
びII−VI族化合物半導体(CdS−CdTe系)太
陽電池に用いることも可能である。
示すように、上記実施例にかかる電極形成用としての導
電ペーストを用いた結晶系Si太陽電池セルについて説
明したが、この発明はこれらの電子部品に限定されない
ことはいうまでもない。例えば、図3、図4に示すよう
な4素子直列タイプのアモルファスSi太陽電池、およ
びII−VI族化合物半導体(CdS−CdTe系)太
陽電池に用いることも可能である。
【0061】また、図3には電卓等に利用されている4
素子直列タイプのアモルファスSi太陽電池13の断面
図であり、ガラス基板15の表面上には、透明電極19
と、p型半導体層17c、i型半導体層17b、および
n型半導体層17aからなるpin構造のアモルファス
Si半導体17と、Ag系電極21とが層状に付与され
ている。このうち、Ag系電極21が本発明の導電ペー
ストにより形成された電極である。
素子直列タイプのアモルファスSi太陽電池13の断面
図であり、ガラス基板15の表面上には、透明電極19
と、p型半導体層17c、i型半導体層17b、および
n型半導体層17aからなるpin構造のアモルファス
Si半導体17と、Ag系電極21とが層状に付与され
ている。このうち、Ag系電極21が本発明の導電ペー
ストにより形成された電極である。
【0062】さらに、図4にはII−VI族化合物半導
体(CdS−CdTe系)太陽電池23の断面図であ
り、ガラス基板25の表面上には、n型半導体CdS層
27とp型半導体CdTe層29とからなるpn型半導
体と、カーボン系電極31と、Ag系電極33とが付与
されている。このうち、Ag系電極33が本発明の導電
ペーストにより形成された電極である。
体(CdS−CdTe系)太陽電池23の断面図であ
り、ガラス基板25の表面上には、n型半導体CdS層
27とp型半導体CdTe層29とからなるpn型半導
体と、カーボン系電極31と、Ag系電極33とが付与
されている。このうち、Ag系電極33が本発明の導電
ペーストにより形成された電極である。
【0063】また、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の応
用、変形が可能である。例えば、はんだ付け性が損なわ
れない範囲内でInまたはMoを添加した導電ペースト
も可能であり、この場合、オーミックコンタクト性を向
上させることが可能である。
のではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の応
用、変形が可能である。例えば、はんだ付け性が損なわ
れない範囲内でInまたはMoを添加した導電ペースト
も可能であり、この場合、オーミックコンタクト性を向
上させることが可能である。
【0064】
【発明の効果】本発明の導電ペースト、電極形成方法、
および太陽電池では、スクリーン印刷を用いて容易に電
極形成ができるので、量産性に適し、かつ安価に製造す
ることが可能である。さらに、導電性が良好であるた
め、はんだ浸漬法またはソルダーペーストを用いたリフ
ロー法によるはんだ付けも可能である。
および太陽電池では、スクリーン印刷を用いて容易に電
極形成ができるので、量産性に適し、かつ安価に製造す
ることが可能である。さらに、導電性が良好であるた
め、はんだ浸漬法またはソルダーペーストを用いたリフ
ロー法によるはんだ付けも可能である。
【0065】また、エポキシ樹脂の分子量が900以上
であるので、分子量が900未満のエポキシ樹脂の加熱
硬化が速いのとは異なり、ゆるやかに進行させることが
できるので、容易に電極形成が可能である。
であるので、分子量が900未満のエポキシ樹脂の加熱
硬化が速いのとは異なり、ゆるやかに進行させることが
できるので、容易に電極形成が可能である。
【0066】また、硬化剤がイミダゾール系硬化剤であ
るので、ポットライフ、すなわち初期粘度の2倍となる
までの可使時間を長くすることができるため、加熱半硬
化状態を長時間つくることができるので、より容易に電
極形成が可能である。
るので、ポットライフ、すなわち初期粘度の2倍となる
までの可使時間を長くすることができるため、加熱半硬
化状態を長時間つくることができるので、より容易に電
極形成が可能である。
【0067】また、エポキシ樹脂に対する銀粉の重量比
率(銀粉末/エポキシ樹脂)が4〜10の範囲内である
ので、樹脂比率が高すぎて導電ペースト塗膜上を樹脂が
覆うためにはんだ付け性不良となったり、銀粉比率が高
すぎるためにはんだ食われを生じて端子の引っ張り強度
が得られないということを防止できるため、はんだ付け
性を良好にし、かつ、端子の引っ張り強度を得ることが
可能である。
率(銀粉末/エポキシ樹脂)が4〜10の範囲内である
ので、樹脂比率が高すぎて導電ペースト塗膜上を樹脂が
覆うためにはんだ付け性不良となったり、銀粉比率が高
すぎるためにはんだ食われを生じて端子の引っ張り強度
が得られないということを防止できるため、はんだ付け
性を良好にし、かつ、端子の引っ張り強度を得ることが
可能である。
【0068】さらに、イミダゾール系硬化剤のエポキシ
樹脂に対する添加量が適正添加量、すなわち樹脂を硬化
させるのに最低限必要な添加量の2倍以上の添加量であ
るため、実装上必要とされる十分な端子の引っ張り強度
を得ることが可能である。
樹脂に対する添加量が適正添加量、すなわち樹脂を硬化
させるのに最低限必要な添加量の2倍以上の添加量であ
るため、実装上必要とされる十分な端子の引っ張り強度
を得ることが可能である。
【0069】また、本発明の太陽電池は、電極材の導電
性が良好であるので、オーミックコンタクトを形成し、
光電変換効率の低下を防止することが可能である。
性が良好であるので、オーミックコンタクトを形成し、
光電変換効率の低下を防止することが可能である。
【図1】本発明の一実施例を示す断面図。
【図2】本発明の一実施例を示す断面図。
【図3】本発明の一実施例を示す断面図。
【図4】本発明の一実施例を示す断面図。
1 結晶系Si太陽電池セル 3 Si基板 3a,17c p型半導体層 3b,17a n型半導体層 5,19 透明電極 7 n型層電極 9 グリッド電極 11 ブスバー電極 13 アモルファスSi太陽電池 15,25 ガラス基板 17b i型半導体層 21,33 Ag系電極 23 II−VI族化合物半導体(CdS−
CdTe系) 27 n型半導体CdS層 29 p型半導体CdTe層 31 カーボン系電極
CdTe系) 27 n型半導体CdS層 29 p型半導体CdTe層 31 カーボン系電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 31/04
Claims (3)
- 【請求項1】 分子量が900以上のエポキシ樹脂と、
前記エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範囲内
である銀粉末と、前記エポキシ樹脂を硬化させるのに最
低限必要な添加量の2倍以上の添加量のイミダゾール系
硬化剤とを含むことを特徴とする導電ペースト。 - 【請求項2】 分子量が900以上のエポキシ樹脂に、
前記エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範囲内
である銀粉末を混合する工程と、前記エポキシ樹脂に、
前記エポキシ樹脂を硬化させるのに最低限必要な添加量
の2倍以上の添加量のイミダゾール系硬化剤を添加する
工程と、前記導電ペーストをスクリーン印刷によって塗
布する工程と、前記導電ペーストを150℃〜200℃
の範囲内で加熱硬化させる工程とを有することを特徴と
する電極形成方法。 - 【請求項3】 分子量が900以上のエポキシ樹脂と、
前記エポキシ樹脂に対する重量比率が4〜10の範囲内
である銀粉末と、前記エポキシ樹脂を硬化させるのに最
低限必要な添加量の2倍以上の添加量のイミダゾール系
硬化剤とを含む導電ペーストを、スクリーン印刷によっ
て塗布し、150℃〜200℃の範囲内で加熱硬化させ
た電極を備えることを特徴とする太陽電池。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6229902A JPH0892506A (ja) | 1994-09-26 | 1994-09-26 | 導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6229902A JPH0892506A (ja) | 1994-09-26 | 1994-09-26 | 導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0892506A true JPH0892506A (ja) | 1996-04-09 |
Family
ID=16899525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6229902A Pending JPH0892506A (ja) | 1994-09-26 | 1994-09-26 | 導電ペースト、電極形成方法、および太陽電池 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0892506A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
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- 1994-09-26 JP JP6229902A patent/JPH0892506A/ja active Pending
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