JPH0894333A - 鋼板の疵検出方法 - Google Patents
鋼板の疵検出方法Info
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- JPH0894333A JPH0894333A JP22485194A JP22485194A JPH0894333A JP H0894333 A JPH0894333 A JP H0894333A JP 22485194 A JP22485194 A JP 22485194A JP 22485194 A JP22485194 A JP 22485194A JP H0894333 A JPH0894333 A JP H0894333A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】信号処理上非常に大きな外乱である水滴を除去
し、冷間圧延工程におけるオンライン疵検出を行うこ
と。 【構成】 カメラにより圧延中の板の画像を前後の画像
でその一部が重複するように撮像して複数枚分の画像信
号を得、この画像信号に基づき板上の異常明暗点の位置
Qn ,Qn-1 を検出し、この異常明暗点の位置を撮像間
隔の間の板の移動距離分Dn ,Dn-1 だけ補正して隣接
する画像の異常明暗点の位置と比較し、同じ位置にある
ときは疵と判断し、同じ位置にないときは水滴と判断す
る。
し、冷間圧延工程におけるオンライン疵検出を行うこ
と。 【構成】 カメラにより圧延中の板の画像を前後の画像
でその一部が重複するように撮像して複数枚分の画像信
号を得、この画像信号に基づき板上の異常明暗点の位置
Qn ,Qn-1 を検出し、この異常明暗点の位置を撮像間
隔の間の板の移動距離分Dn ,Dn-1 だけ補正して隣接
する画像の異常明暗点の位置と比較し、同じ位置にある
ときは疵と判断し、同じ位置にないときは水滴と判断す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、鋼板の疵検出方法に関
し、特に、特に冷間圧延機でのロール疵を、CCDカメ
ラによる疵検出器で検出する際の信号処理方法に関す
る。
し、特に、特に冷間圧延機でのロール疵を、CCDカメ
ラによる疵検出器で検出する際の信号処理方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】圧延工程において、圧延された鋼板の表
面のロール疵を監視することは、製品の品質を維持する
上で重要である。ロール疵が大きくなったときは、ロー
ル組替を行う等の対策をとる。
面のロール疵を監視することは、製品の品質を維持する
上で重要である。ロール疵が大きくなったときは、ロー
ル組替を行う等の対策をとる。
【0003】従来、連続タンデム冷間圧延工程における
疵検査は、数コイルに1個のコイルを抜き出してオフラ
インで検査する抜き取り検査であった。このため、一度
疵が発生すると、必然的に数コイルに疵が発生するとい
う事態が生じるため、これらの疵の発生したコイルを救
済するためには、通常工程に対して増工程を行わねばな
らず、操業効率を大幅に低下させるという不都合が生じ
ていた。
疵検査は、数コイルに1個のコイルを抜き出してオフラ
インで検査する抜き取り検査であった。このため、一度
疵が発生すると、必然的に数コイルに疵が発生するとい
う事態が生じるため、これらの疵の発生したコイルを救
済するためには、通常工程に対して増工程を行わねばな
らず、操業効率を大幅に低下させるという不都合が生じ
ていた。
【0004】そこで、オンラインの疵検出方法が開発さ
れている。従来のオンラインのロール疵の判定は、CC
Dカメラで撮影した一枚の画面やレーザスキャン等によ
り得た鋼板の幅方向の画像信号から、反射、色の濃淡に
より疵の有無を判定している。
れている。従来のオンラインのロール疵の判定は、CC
Dカメラで撮影した一枚の画面やレーザスキャン等によ
り得た鋼板の幅方向の画像信号から、反射、色の濃淡に
より疵の有無を判定している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このオンライン疵検出
は、酸洗・精整工程では実用化されているが、冷間圧延
工程では未だ実用化されていない。その理由としては、
冷間圧延工程はセンサを用いてオンライン疵検出を行お
うとした際に、図9に示すように、外乱要素が多々あ
り、その中でも鋼板に付着した水滴が、非常に信号とし
て大きく、且つ多数発生するため、疵との分別が困難で
あることが挙げられる。
は、酸洗・精整工程では実用化されているが、冷間圧延
工程では未だ実用化されていない。その理由としては、
冷間圧延工程はセンサを用いてオンライン疵検出を行お
うとした際に、図9に示すように、外乱要素が多々あ
り、その中でも鋼板に付着した水滴が、非常に信号とし
て大きく、且つ多数発生するため、疵との分別が困難で
あることが挙げられる。
【0006】一方、冷間圧延工程においてオンライン疵
検出を行なうロール疵検出方法が、本出願人により、特
願平5−99805号、特願平5−111822号とし
て出願されている。
検出を行なうロール疵検出方法が、本出願人により、特
願平5−99805号、特願平5−111822号とし
て出願されている。
【0007】特願平5−99805号明細書に記載のロ
ール疵検出方法は、圧延ロールを撮像して得た画像デー
タからロール疵を検出し、次にこのロール疵を拡大して
撮像するものであるが、移動する鋼板に対して同一箇所
の撮像を2回行なう必要があるので、撮像装置が複雑化
するという問題がある。また、画像を拡大しただけで
は、ロール疵と水滴の区別を確実に行なうことは困難で
ある。
ール疵検出方法は、圧延ロールを撮像して得た画像デー
タからロール疵を検出し、次にこのロール疵を拡大して
撮像するものであるが、移動する鋼板に対して同一箇所
の撮像を2回行なう必要があるので、撮像装置が複雑化
するという問題がある。また、画像を拡大しただけで
は、ロール疵と水滴の区別を確実に行なうことは困難で
ある。
【0008】また、特願平5−111822号に記載の
ロール転写疵検出方法は、圧延ロール周長に同期させ撮
像した画像データを複数画面分記憶手段に格納し、板幅
方向の明暗レベルデータを全画像について加算すること
により、疵検出のS/N比を高めようとするものであ
り、ロール転写疵の様に周期性のあるものには信号レベ
ルの累積により有効であるが、単発的な疵に対しては逆
にS/Nを低下させるため、水滴の区別を確実に行なう
ことは困難であるという問題がある。
ロール転写疵検出方法は、圧延ロール周長に同期させ撮
像した画像データを複数画面分記憶手段に格納し、板幅
方向の明暗レベルデータを全画像について加算すること
により、疵検出のS/N比を高めようとするものであ
り、ロール転写疵の様に周期性のあるものには信号レベ
ルの累積により有効であるが、単発的な疵に対しては逆
にS/Nを低下させるため、水滴の区別を確実に行なう
ことは困難であるという問題がある。
【0009】また、特開平4−200820号公報に
は、鋼板を赤外線カメラで撮像して圧延ロールの1回転
分に相当する画像を取り込み、画像処理により低温部を
識別し、1回目と2回目の画面との間の画像データの論
理積Sと論理和Nを求め、その比S/Nが一定値以上で
あるときにロール疵と判定する方法が開示されている。
しかしながら、ロール疵のようにピッチ性を持つロール
疵の起点は比較的大きな疵で、ロールの回転に伴うピッ
チを持ちながら、徐々に小さくなっていくため、上記公
報に記載の方法では、ノイズ、外乱要素を意味する論理
和部分は変わらないのに対し、疵の要素を意味する論理
積部分が小さくなっていくことになり、S/N比が判定
毎に小さくなり、他の単発的な疵や鋼板表面に付着した
冷却水の水滴等と区別が困難になるという問題がある。
は、鋼板を赤外線カメラで撮像して圧延ロールの1回転
分に相当する画像を取り込み、画像処理により低温部を
識別し、1回目と2回目の画面との間の画像データの論
理積Sと論理和Nを求め、その比S/Nが一定値以上で
あるときにロール疵と判定する方法が開示されている。
しかしながら、ロール疵のようにピッチ性を持つロール
疵の起点は比較的大きな疵で、ロールの回転に伴うピッ
チを持ちながら、徐々に小さくなっていくため、上記公
報に記載の方法では、ノイズ、外乱要素を意味する論理
和部分は変わらないのに対し、疵の要素を意味する論理
積部分が小さくなっていくことになり、S/N比が判定
毎に小さくなり、他の単発的な疵や鋼板表面に付着した
冷却水の水滴等と区別が困難になるという問題がある。
【0010】そこで本発明は、信号処理上非常に大きな
外乱である水滴を除去し、冷間圧延工程におけるオンラ
イン疵検出を行うことを目的とする。
外乱である水滴を除去し、冷間圧延工程におけるオンラ
イン疵検出を行うことを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の鋼板の疵検出方
法は、圧延中の板の画像を前後の画像でその一部が重複
するように撮像して複数枚分の画像信号を得、該画像信
号に基づき板上の異常明暗点の位置を検出し、該異常明
暗点の位置を各撮像時点の間の板の移動距離分だけ補正
して隣接する画像の異常明暗点の位置と比較し、同じ位
置にあるときは疵と判断し、同じ位置にないときは外乱
と判断することことを特徴とする。
法は、圧延中の板の画像を前後の画像でその一部が重複
するように撮像して複数枚分の画像信号を得、該画像信
号に基づき板上の異常明暗点の位置を検出し、該異常明
暗点の位置を各撮像時点の間の板の移動距離分だけ補正
して隣接する画像の異常明暗点の位置と比較し、同じ位
置にあるときは疵と判断し、同じ位置にないときは外乱
と判断することことを特徴とする。
【0012】
【作用】本発明は、鋼板上の疵の鋼板に対する相対位置
は一定であるのに対して、外乱となる水滴の位置は鋼板
に対して移動することに着目して疵と水滴の区別を行
う。
は一定であるのに対して、外乱となる水滴の位置は鋼板
に対して移動することに着目して疵と水滴の区別を行
う。
【0013】圧延中の板の画像が前後の画像でその一部
が重複するように複数枚分撮像され各画像において板上
の異常明暗点の位置が検出される。異常明暗点が疵であ
る場合には、板上の相対位置は一定であるので、異常明
暗点の位置を各撮像時点の間の板の移動距離分だけ補正
すると隣接する画像の異常明暗点の位置と一致する。と
ころが、異常明暗点が水滴である場合には、各撮像時点
の間にパージ等により水滴の位置が移動するので、移動
距離の補正を行っても隣接する画像の異常明暗点の位置
とは一致しない。これにより、疵と水滴の区別が可能と
なる。
が重複するように複数枚分撮像され各画像において板上
の異常明暗点の位置が検出される。異常明暗点が疵であ
る場合には、板上の相対位置は一定であるので、異常明
暗点の位置を各撮像時点の間の板の移動距離分だけ補正
すると隣接する画像の異常明暗点の位置と一致する。と
ころが、異常明暗点が水滴である場合には、各撮像時点
の間にパージ等により水滴の位置が移動するので、移動
距離の補正を行っても隣接する画像の異常明暗点の位置
とは一致しない。これにより、疵と水滴の区別が可能と
なる。
【0014】
【実施例】以下、本発明を実施例を参照しながら具体的
に説明する。
に説明する。
【0015】図1は本発明に係る圧延ロール疵検出方法
を実施するためのシステムの構成例を示すものである。
本実施例では、CCDカメラ1により、圧延スタンド2
から圧延されてくる鋼板3の表面を撮像するようにして
いる。また、鋼板3の撮像範囲(斜線で示す)を照明す
るためのストロボ4が設けられている。また図2は、C
CDカメラ1からの画像信号に対する信号処理系を示す
ブロック図である。CCDカメラ1からの画像信号は、
画像処理装置5において後述する各種の信号処理を受け
て、画像メモリ6、演算装置7、モニタ8に供給され
る。
を実施するためのシステムの構成例を示すものである。
本実施例では、CCDカメラ1により、圧延スタンド2
から圧延されてくる鋼板3の表面を撮像するようにして
いる。また、鋼板3の撮像範囲(斜線で示す)を照明す
るためのストロボ4が設けられている。また図2は、C
CDカメラ1からの画像信号に対する信号処理系を示す
ブロック図である。CCDカメラ1からの画像信号は、
画像処理装置5において後述する各種の信号処理を受け
て、画像メモリ6、演算装置7、モニタ8に供給され
る。
【0016】先ず、本発明の疵検出方法の原理について
説明する。
説明する。
【0017】〔工程1〕図3(a)に示すように、鋼板
3の圧延方向に関して前後の画像が重複する部分がある
ように、CCDカメラ1により圧延スタンド2から圧延
されてくる鋼板3の表面を撮像し、CCDカメラ1から
の画像信号を画像メモリ6に書き込む。図4(a)は、
(n−1)番目、n番目、(n+1)番目の連続する3
枚分の画像の撮像部分を相対的に示している。いま、鋼
板3の表面に、図3に示す位置Pに疵が発生したとする
と、(n−1)番目、n番目、(n+1)番目の画像に
おける疵信号の位置Pn-1 ,Pn ,Pn+1 は、図3
(a),(b),(c)に示すようになる。なお、図4
(b),(c)の破線の丸印は、(n−1)番目の画像
における疵信号の位置Pn-1 を仮想的に示している。
3の圧延方向に関して前後の画像が重複する部分がある
ように、CCDカメラ1により圧延スタンド2から圧延
されてくる鋼板3の表面を撮像し、CCDカメラ1から
の画像信号を画像メモリ6に書き込む。図4(a)は、
(n−1)番目、n番目、(n+1)番目の連続する3
枚分の画像の撮像部分を相対的に示している。いま、鋼
板3の表面に、図3に示す位置Pに疵が発生したとする
と、(n−1)番目、n番目、(n+1)番目の画像に
おける疵信号の位置Pn-1 ,Pn ,Pn+1 は、図3
(a),(b),(c)に示すようになる。なお、図4
(b),(c)の破線の丸印は、(n−1)番目の画像
における疵信号の位置Pn-1 を仮想的に示している。
【0018】そして、画像処理装置5は画像メモリ6の
内容(256階調)を読み出し、任意の画素とその周辺
の画素の明暗レベルの変化率を全画素領域において算出
し、一定の閾値以上の信号を出力したものを疵と見做す
ことにより疵判定を行なう。
内容(256階調)を読み出し、任意の画素とその周辺
の画素の明暗レベルの変化率を全画素領域において算出
し、一定の閾値以上の信号を出力したものを疵と見做す
ことにより疵判定を行なう。
【0019】〔工程2〕各画像をその時の通板速度分だ
け位置を補正し、前後の画像において、疵信号の位置が
変化したか否かを判定する。
け位置を補正し、前後の画像において、疵信号の位置が
変化したか否かを判定する。
【0020】〔工程3〕疵信号の相対位置が動いていな
ければ、疵や疵起点と見做し、疵信号の相対位置が動い
ていれば水滴等の外乱と見做す。すなわち、疵信号が鋼
板の疵が原因となって発生している場合には、疵信号
は、図4(a),(b),(c)に示すように鋼板が移
動した距離と同じ距離だけ移動する。したがって、図4
(b),(c)に示すように、鋼板3の進行分Dn ,D
n+1 だけ疵信号の発生位置Pn ,Pn+1 を補正したと
き、n番目,(n−1)番目の画像における疵信号の位
置Pn ,Pn+1 は、(n−1)番目の画像における疵信
号の位置Pn-1 と同一位置になる。すなわち、鋼板3と
の相対位置に変化がないことが判る。これに対して、水
滴が疵信号の原因となって発生している場合には、図5
(a),(b),(c)に示すように、疵信号の移動距
離は、パージの影響により鋼板が移動した距離とは異な
ってくる。したがって、鋼板3の進行分Dn ,Dn+1 だ
け疵信号の発生位置Qn ,Qn+1 を補正したとしても、
(n−1)番目の画像における疵信号の位置Qn-1 と同
一位置にならない。なお、図5(b),(c)の破線の
丸印は、水滴の位置が移動しないと仮定した場合の(n
−1)番目の画像における疵信号の位置Qn-1 を示す。
ければ、疵や疵起点と見做し、疵信号の相対位置が動い
ていれば水滴等の外乱と見做す。すなわち、疵信号が鋼
板の疵が原因となって発生している場合には、疵信号
は、図4(a),(b),(c)に示すように鋼板が移
動した距離と同じ距離だけ移動する。したがって、図4
(b),(c)に示すように、鋼板3の進行分Dn ,D
n+1 だけ疵信号の発生位置Pn ,Pn+1 を補正したと
き、n番目,(n−1)番目の画像における疵信号の位
置Pn ,Pn+1 は、(n−1)番目の画像における疵信
号の位置Pn-1 と同一位置になる。すなわち、鋼板3と
の相対位置に変化がないことが判る。これに対して、水
滴が疵信号の原因となって発生している場合には、図5
(a),(b),(c)に示すように、疵信号の移動距
離は、パージの影響により鋼板が移動した距離とは異な
ってくる。したがって、鋼板3の進行分Dn ,Dn+1 だ
け疵信号の発生位置Qn ,Qn+1 を補正したとしても、
(n−1)番目の画像における疵信号の位置Qn-1 と同
一位置にならない。なお、図5(b),(c)の破線の
丸印は、水滴の位置が移動しないと仮定した場合の(n
−1)番目の画像における疵信号の位置Qn-1 を示す。
【0021】〔工程4〕疵や疵起点を検出した場合、そ
れをモニタ8に写し出し、オペレータの目視により疵や
疵起点であるか否かの判定を行なうと共に、オンライン
での疵検査のための情報として使用する。
れをモニタ8に写し出し、オペレータの目視により疵や
疵起点であるか否かの判定を行なうと共に、オンライン
での疵検査のための情報として使用する。
【0022】次に、本実施例による疵起点検出の方法
を、図6のフローチャートに従って順に説明する。
を、図6のフローチャートに従って順に説明する。
【0023】(1)鋼板3の速度をVmpm 以下に減速す
る(ステップ100)。なお、Vmp m は、圧延方向に関
して前後の画像で重複する部分があるように撮像できる
速度であり、カメラの視野(撮像範囲)で決まる値であ
る。たとえば、視野が300mm×300mmの場合に
は、この速度Vmpm は180m/分である。
る(ステップ100)。なお、Vmp m は、圧延方向に関
して前後の画像で重複する部分があるように撮像できる
速度であり、カメラの視野(撮像範囲)で決まる値であ
る。たとえば、視野が300mm×300mmの場合に
は、この速度Vmpm は180m/分である。
【0024】(2)鋼板3の表面に傾斜方向からストロ
ボ4を発光することにより、疵部位の明暗を浮き出さ
せ、その画像を、実質的に連続した画像が得られるよう
に、短い一定期間毎に、たとえば、1/30秒毎に複数
画面、本例では64画面分、CCDカメラ1で撮像して
画像処理装置5を介して画像メモリ6に取り込む(ステ
ップ110,130)。このとき、各画像取り込み時の
鋼板速度Vn を、たとえば、圧延スタンド出側に設置さ
れたレーザドップラ方式速度計で測定して記憶させてお
く(ステップ120)。図7は、n番目の画面と(n+
1)番目の画面との関係を模式的に示す説明図であり、
1/30秒間の間に、斜線で示した鋼板3の対応した部
分が、距離Dだけ移動することを示している。なお、A
k,Bkは、n番目の画面と(n+1)番目の画面にお
ける疵或いは疵候補の位置である。
ボ4を発光することにより、疵部位の明暗を浮き出さ
せ、その画像を、実質的に連続した画像が得られるよう
に、短い一定期間毎に、たとえば、1/30秒毎に複数
画面、本例では64画面分、CCDカメラ1で撮像して
画像処理装置5を介して画像メモリ6に取り込む(ステ
ップ110,130)。このとき、各画像取り込み時の
鋼板速度Vn を、たとえば、圧延スタンド出側に設置さ
れたレーザドップラ方式速度計で測定して記憶させてお
く(ステップ120)。図7は、n番目の画面と(n+
1)番目の画面との関係を模式的に示す説明図であり、
1/30秒間の間に、斜線で示した鋼板3の対応した部
分が、距離Dだけ移動することを示している。なお、A
k,Bkは、n番目の画面と(n+1)番目の画面にお
ける疵或いは疵候補の位置である。
【0025】(3)n番目の画面(図7参照)内を1/
30秒間に進んだ距離の鋼板板長方向(Y方向)分を、
矢印で示すように鋼板幅手方向(X方向)に画素列毎に
サーチし(図8(a),(b)参照)、疵等でひときわ
明暗度の著しい部位(異常明暗座標)を各画素の明暗度
変化率より抽出する。明暗度変化率ΔLは、たとえば、
下式で求める。
30秒間に進んだ距離の鋼板板長方向(Y方向)分を、
矢印で示すように鋼板幅手方向(X方向)に画素列毎に
サーチし(図8(a),(b)参照)、疵等でひときわ
明暗度の著しい部位(異常明暗座標)を各画素の明暗度
変化率より抽出する。明暗度変化率ΔLは、たとえば、
下式で求める。
【0026】ΔL=√((L(x(n+5))−L(x
(n)))2 ) ただし、Lは各ポイントの濃度レベル、xはX方向の座
標、nはxのオフセットアドレスである。
(n)))2 ) ただし、Lは各ポイントの濃度レベル、xはX方向の座
標、nはxのオフセットアドレスである。
【0027】明暗度変化率ΔLが設定パラメータ以上で
あれば、その位置を異常発生位置とする。なお、ここで
は異常発生位置を仮異常点と呼ぶ。この仮異常点Apの
座標は、たとえば、 Ap=(Xi ,Yj ) 但し 1≦i,i≦256 1≦j,j≦240 で表される。
あれば、その位置を異常発生位置とする。なお、ここで
は異常発生位置を仮異常点と呼ぶ。この仮異常点Apの
座標は、たとえば、 Ap=(Xi ,Yj ) 但し 1≦i,i≦256 1≦j,j≦240 で表される。
【0028】次に、仮異常点Ap近傍の濃度解析を行な
う。
う。
【0029】仮異常点Apの座標を(Xi ,Yj )とし
たとき、座標(Xi ,Xj +1)を中心とするH×Vド
ットの平均濃度DAkを算出する(図8(c)参照)。但
し、HはY方向のドット数、VはX方向のドット数であ
る。
たとき、座標(Xi ,Xj +1)を中心とするH×Vド
ットの平均濃度DAkを算出する(図8(c)参照)。但
し、HはY方向のドット数、VはX方向のドット数であ
る。
【0030】算出された平均濃度DAkと事前に求めた平
均濃度との差が設定パラメータ以上であれば起点疵候補
として中心座標(X,Y)を記憶する(ステップ14
0)。(4)疵起点候補が無い場合は、(3)を(取り
込み画像数−1)回だけ繰り返す(ステップ160)。
均濃度との差が設定パラメータ以上であれば起点疵候補
として中心座標(X,Y)を記憶する(ステップ14
0)。(4)疵起点候補が無い場合は、(3)を(取り
込み画像数−1)回だけ繰り返す(ステップ160)。
【0031】(5)起点疵候補がある場合、次の画面で
ある(n+1)番目の画面を呼び出し、n番目の画面で
の起点疵候補の位置Ak の座標が1/30秒間に進んだ
位置Bk の座標を求める(ステップ170)。Bk の座
標は下式で与えられる。
ある(n+1)番目の画面を呼び出し、n番目の画面で
の起点疵候補の位置Ak の座標が1/30秒間に進んだ
位置Bk の座標を求める(ステップ170)。Bk の座
標は下式で与えられる。
【0032】Bk =(Xi ,Yj +Yv ) 但し、Yv は、(n+1)番目の画像取り込み時の鋼板
速度Vn+1 に1/30を乗じた値をY軸上のドット数に
変換した値である。
速度Vn+1 に1/30を乗じた値をY軸上のドット数に
変換した値である。
【0033】(6)求めたBk の座標を中心とした設定
エリア内(図8(e)においてハッチングで示す)を
(3)と同じ方法で処理し、異常明暗座標近傍の濃度解
析を行なって、疵起点候補を抽出し、1/30秒間に進
んだ左上端を起点とした座標Ck =(X’,Y’)を記
憶する(ステップ180)。また、疵起点候補の平均濃
度DCkを算出する。
エリア内(図8(e)においてハッチングで示す)を
(3)と同じ方法で処理し、異常明暗座標近傍の濃度解
析を行なって、疵起点候補を抽出し、1/30秒間に進
んだ左上端を起点とした座標Ck =(X’,Y’)を記
憶する(ステップ180)。また、疵起点候補の平均濃
度DCkを算出する。
【0034】(7)疵候補の有無を判別し(ステップ1
90)、起点疵候補がない場合は、サーチを終了するか
否かを判別し (ステップ200)、サーチを継続する場
合にはステップ180に戻り、サーチを終了する場合に
はステップ140へ戻る。
90)、起点疵候補がない場合は、サーチを終了するか
否かを判別し (ステップ200)、サーチを継続する場
合にはステップ180に戻り、サーチを終了する場合に
はステップ140へ戻る。
【0035】(8)起点疵候補がある場合は、(3)で
見つけた起点疵候補座標及び平均濃度値と(6)で求め
た疵起点候補座標及び平均濃度を比較する(ステップ2
10)。
見つけた起点疵候補座標及び平均濃度値と(6)で求め
た疵起点候補座標及び平均濃度を比較する(ステップ2
10)。
【0036】(9)結果が設定しきい値以内であると
き、すなわち、起点疵候補座標の差が小さく、且つ、濃
度の変化が小さい場合には、真の起点疵として警報出力
を行なう(ステップ220)。
き、すなわち、起点疵候補座標の差が小さく、且つ、濃
度の変化が小さい場合には、真の起点疵として警報出力
を行なう(ステップ220)。
【0037】(10)結果が設定しきい値以外であると
きは、水滴であると判断し、(取り込み画像数−1)に
なるまで(3)からの処理を繰り返す(ステップ23
0)。
きは、水滴であると判断し、(取り込み画像数−1)に
なるまで(3)からの処理を繰り返す(ステップ23
0)。
【0038】なお、上述した疵検出に際しては、図8
(d),(e)に示すように、鋼板の圧延方向と直交す
る方向にパージを行って、水滴を積極的に動かしている
ので、外乱である水滴をより確実に移動することができ
る。
(d),(e)に示すように、鋼板の圧延方向と直交す
る方向にパージを行って、水滴を積極的に動かしている
ので、外乱である水滴をより確実に移動することができ
る。
【0039】また、疵検出に際しては、図9に示すよう
に、溶接線や溶接認識穴が外乱として存在するが、これ
らの外乱は、カメラ撮像エリア通過タイミングが予めわ
かっているためソフトウェア的に排除することが可能で
ある。すなわち、溶接線や溶接認識穴に対応するパター
ンを有する外乱が検出されたときには、これを無視する
ようにプログラムを作成すればよい。
に、溶接線や溶接認識穴が外乱として存在するが、これ
らの外乱は、カメラ撮像エリア通過タイミングが予めわ
かっているためソフトウェア的に排除することが可能で
ある。すなわち、溶接線や溶接認識穴に対応するパター
ンを有する外乱が検出されたときには、これを無視する
ようにプログラムを作成すればよい。
【0040】
【発明の効果】本発明の鋼板の疵検出方法によれば以下
の効果を奏する。
の効果を奏する。
【0041】(1)冷間圧延工程におけるオンライン疵
検出のネックである水滴に起因する外乱を排除でき、冷
間圧延工程におけるオンライン疵検出が可能となる。
検出のネックである水滴に起因する外乱を排除でき、冷
間圧延工程におけるオンライン疵検出が可能となる。
【図1】 本発明に係る疵検出方法を実施するためのシ
ステムの構成例を示す説明図である。
ステムの構成例を示す説明図である。
【図2】 CCDカメラからの画像信号に対する信号処
理系を示すブロック図である。
理系を示すブロック図である。
【図3】 鋼板に対する撮像位置を示す説明図である。
【図4】 鋼板に疵がある場合の撮像画像を示す説明図
である。
である。
【図5】 鋼板に水滴がある場合の撮像画像を示す説明
図である。
図である。
【図6】 本実施例による疵起点検出の方法を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図7】 n番目の画面と(n+1)番目の画面との関
係を模式的に示す説明図である。
係を模式的に示す説明図である。
【図8】 本実施例による疵起点検出の方法を示す説明
図である。
図である。
【図9】 オンラインにおける外乱と疵の信号レベルを
示す説明図である。
示す説明図である。
1…CCDカメラ、2…圧延スタンド、3…鋼板、4…
ストロボ、5…画像処理装置、6…画像メモリ、7…演
算装置、8…モニタ
ストロボ、5…画像処理装置、6…画像メモリ、7…演
算装置、8…モニタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 久保田 光利 福岡県北九州市戸畑区飛幡町1番1号 新 日本製鐵株式会社八幡製鐵所内
Claims (1)
- 【請求項1】 圧延中の板の画像を前後の画像でその一
部が重複するように撮像して複数枚分の画像信号を得、 該画像信号に基づき板上の異常明暗点の位置を検出し、 該異常明暗点の位置を各撮像時点の間の板の移動距離分
だけ補正して隣接する画像の異常明暗点の位置と比較
し、 同じ位置にあるときは疵と判断し、同じ位置にないとき
は外乱と判断することことを特徴とする鋼板の疵検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22485194A JP3300546B2 (ja) | 1994-09-20 | 1994-09-20 | 鋼板の疵検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22485194A JP3300546B2 (ja) | 1994-09-20 | 1994-09-20 | 鋼板の疵検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894333A true JPH0894333A (ja) | 1996-04-12 |
| JP3300546B2 JP3300546B2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=16820162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22485194A Expired - Fee Related JP3300546B2 (ja) | 1994-09-20 | 1994-09-20 | 鋼板の疵検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3300546B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH109837A (ja) * | 1996-06-26 | 1998-01-16 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
| WO2001035050A1 (en) * | 1999-11-08 | 2001-05-17 | Sumitomo Metal Industries Limited | Method for measuring quality of bandlike body, method for suppressing camber, instrument for measuring quality of bandlike body, rolling machine, and trimming device |
| JP2004317188A (ja) * | 2003-04-14 | 2004-11-11 | Ckd Corp | 外観検査装置及びptp包装機 |
| JP2005114645A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Asahi Techno Glass Corp | ガラス管の検査装置及び検査システム |
| JP2006110489A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Toray Eng Co Ltd | 基板塗布システム |
| JP2007218629A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
| JP2008286646A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Nippon Steel Corp | 表面疵検査装置 |
| JP2019158486A (ja) * | 2018-03-12 | 2019-09-19 | 王子ホールディングス株式会社 | シート状物の欠陥検査装置及び製造方法 |
| CN114187368A (zh) * | 2022-02-17 | 2022-03-15 | 深圳艾灵网络有限公司 | 建筑板材的暗纹检测方法、装置、电子设备及存储介质 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010071720A (ja) * | 2008-09-17 | 2010-04-02 | Nippon Steel Corp | 鋼帯の欠陥検査装置及び検査方法 |
-
1994
- 1994-09-20 JP JP22485194A patent/JP3300546B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2001343223A (ja) * | 1999-11-08 | 2001-12-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 帯状体の品質測定方法、キャンバ抑制方法、帯状体の品質測定装置、圧延装置及びトリム装置 |
| JP2004317188A (ja) * | 2003-04-14 | 2004-11-11 | Ckd Corp | 外観検査装置及びptp包装機 |
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| JP2006110489A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Toray Eng Co Ltd | 基板塗布システム |
| JP2007218629A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
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| CN114187368A (zh) * | 2022-02-17 | 2022-03-15 | 深圳艾灵网络有限公司 | 建筑板材的暗纹检测方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN114187368B (zh) * | 2022-02-17 | 2022-05-06 | 深圳艾灵网络有限公司 | 建筑板材的暗纹检测方法、装置、电子设备及存储介质 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3300546B2 (ja) | 2002-07-08 |
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