JPH0894494A - 光アイソレータ波長依存性測定装置 - Google Patents

光アイソレータ波長依存性測定装置

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Publication number
JPH0894494A
JPH0894494A JP25478494A JP25478494A JPH0894494A JP H0894494 A JPH0894494 A JP H0894494A JP 25478494 A JP25478494 A JP 25478494A JP 25478494 A JP25478494 A JP 25478494A JP H0894494 A JPH0894494 A JP H0894494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
optical isolator
wavelength
light
isolator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25478494A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Kimura
昌行 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokin Corp
Original Assignee
Tokin Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokin Corp filed Critical Tokin Corp
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Publication of JPH0894494A publication Critical patent/JPH0894494A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 短時間で正確な波長依存性を測定できる光ア
イソレータ波長依存性測定装置を提供すること。 【構成】 白色光源1から発した光は、光ファイバ2を
通過し、グラントムソンプリズム3を通り、単一偏光と
なり、レンズ4でコリメートされて、光アイソレータ5
aに入射する。光アイソレータ5aを出た光は、レンズ
6で光ファイバ7に集光される。この光を光スペクトラ
ムアナライザ8で解析する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光アイソレータの波長
依存性測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】可視光半導体レーザを光計測等の光信号
伝送系の光源として用いる場合、半導体レーザからの出
射光の一部が、伝送路、あるいは伝送用光学部品の各接
続部で反射して、半導体レーザへ帰還した場合、半導体
レーザの発振特性の不安定化や雑音増加を引き起こす原
因となる。この戻り光が帰還するのを防止するため、一
般的に、光アイソレータが使用される。
【0003】光アイソレータは、基本的に、図4に示す
ように、ファラデー効果を有する磁気光学素子13と、
偏光子11、検光子12と、磁気光学素子13に磁界を
印加するための磁石14とから構成され、磁気光学素子
13、偏光子11、検光子12が、それぞれ光軸調整さ
れている。そして、矢印aの方向に伝搬する入射光は、
偏光子11を通過後、直線偏光となって、磁気光学素子
13に入射し、この磁気光学素子13を伝搬中、光は、
その偏波面が磁石14の磁界強度により、通常、45゜
回転した状態で検光子に入射し、この偏光子11の傾き
が、予め入射光の偏波面の傾き(45゜)と等しく設定
されているので、この入射光を通過させる。一方、矢印
bのように、逆方向に伝搬する入射光は、検光子12と
磁気光学素子13を通過することにより、偏光子11の
偏波面に対して、90゜傾いた偏波面を持った直線偏光
になって偏光子11に入射されるために、この逆方向の
入射光は、偏光子11を通過しない。
【0004】光アイソレータの特性を示す値の一つとし
て、波長依存性がある。これは、入射LD光がアイソレ
ータの作製中心波長から、ずれた場合、ファラデー回転
角が変わるため、最適なアイソレーションを示さなくな
る。よって、図5に示すようなアイソレータは、中心波
長に対して、アイソレーションの波長依存性を示すこと
になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】光アイソレータの波長
依存性を評価するためには、図6に示すような工学系を
用いる。LDから出た入射光は、グラントムソンプリズ
ム3を通過して、コリメートレンズ4で平行光となり、
集光レンズ6により、パワーメータ10に集光する。
【0006】この時、LDの波長を少しずつ変化させて
いき、逆方向挿入損失を測定していく。しかしながら、
LDの波長可変光源9は、中心波長±20nm程度しか
変化させられず、広範囲な波長依存性はとれない。又、
種々の中心波長に対応する光アイソレータの波長依存性
を測定するには、中心波長の数だけ波長可変光源が必要
となり、特性測定時間は長く、設備費も高価なものとな
っていた。
【0007】本発明の目的は、上記した欠点を除去し、
短時間で正確な波長依存性を測定する光アイソレータ波
長依存性測定装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、光アイ
ソレータのアイソレーションの波長依存性を測定する光
アイソレータ波長依存性測定装置において、光源に白色
光を用い、光スペクトラムアナライザでアイソレーショ
ンを測定することを特徴とする光アイソレータ波長依存
性測定装置が得られる。
【0009】
【作用】白色光源は、可視光域から赤外域まで広範囲に
わたり発光する。この光の進行方向に対して、アイソレ
ータを順方向に置き、光スペクトラムアナライザで波長
依存性を測定する。次に、光アイソレータを光の進行方
向に対して、逆方向に置くと、アイソレータの中心波長
を谷とする波長依存性が測定される。光アイソレータを
順方向に置いた場合と、逆方向に置いた場合の差が、光
アイソレーションの波長依存性となる。白色光源は、4
00nm〜1600nmの波長帯域まで発光するため、
この範囲に中心波長を持つ光アイソレータは、全て、本
発明による装置で、簡単に波長依存性を測定できる。
【0010】
【実施例】本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明す
る。
【0011】本発明の構造を図1及び図2に示す。図1
(a)に示すように、白色光源1につながれた光ファイ
バ2の端から出た光は、グラントムソンプリズム3を通
過し、単一偏光の光となり、レンズ4でコリメートさ
れ、光アイソレータ5aに入射する。光アイソレータ5
aを出た光は、レンズ6で光ファイバ7に集光される。
【0012】この光を光スペクトラムアナライザ8で解
析すると、図1(b)のようなグラフが得られる。
【0013】又、同じ装置でアイソレータを逆方向に置
くと、図2(a)に示すように、白色光源1につながれ
た光ファイバ2の端から出た光は、グラントムソンプリ
ズム3を通過し、単一偏光となり、レンズ4でコリメー
トされ、逆向きに置かれた光アイソレータ5bに入射す
る。光アイソレータ5bを出た光は、レンズ6で光ファ
イバ7に集光される。
【0014】この光を光スペクトラムアナライザ8で解
析すると、図2(b)のようなグラフが得られる。
【0015】光スペクトラムアナライザ8で図1(b)
−図2(b)のグラフを出させると、図3のようなアイ
ソレーションの波長依存性になる。
【0016】
【比較例】比較例を図5に示す。基本的な構造は実施例
と同じであるが、光源は波長可変光源であり、アイソレ
ータから出た光は、パワーメータに集光される。よっ
て、波長依存性を測定する範囲内で、断続的に変化させ
ている。波長可変光源は、1550nm,1310nm
等、種類が少ないので、ある特定波長でしか波長依存性
を測定できない。
【0017】表1に、本実施例と比較例の測定可能波長
範囲と測定時間を示す。
【0018】
【表1】
【0019】表1から明かなように、本実施例は測定範
囲が広く、測定時間も1/30に短縮される。
【0020】
【発明の効果】本発明による装置により、400〜16
00nmまでの、どの波長帯のアイソレータでも、波長
依存性が簡単に正確に測定可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光アイソレータ波長依存性測定装置の
構成を示す説明図。図1(a)は、光アイソレータを矢
印方向に置いた場合の光アイソレータ波長依存性測定装
置の構成を示す説明図。図1(b)は、図1(a)の光
スペクトラムアナライザで解析されたグラフ。
【図2】本発明の光アイソレータ波長依存性測定装置の
構成を示す説明図。図2(a)は、光アイソレータを図
1(a)とは逆方向に置いた場合の光アイソレータ波長
依存性測定装置の構成を示す説明図。図2(b)は、図
2(a)の光スペクトラムアナライザで解析されたグラ
フ。
【図3】光スペクトラムアナライザで図1(b)と図2
(b)とのグラフを解析し得られたアイソレーションの
波長依存性を示す図。
【図4】光アイソレータの基本構成を示す説明図。
【図5】従来の光アイソレータのアイソレーションの波
長依存性を示す図。
【図6】光アイソレータのアイソレーションの波長依存
性を評価する従来の装置の構成を示す説明図。
【符号の説明】
1 白色光源 2,7 光ファイバ 3 グラントムソンプリズム(GTP) 4 (コリメート)レンズ 5a,5b アイソレータ 6 (集光)レンズ 8 光スペクトラムアナライザ 9 波長可変光源 10 パワーメータ 11 偏光子 12 検光子 13 磁気光学素子 14 磁石 a,b 矢印

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光アイソレータのアイソレーションの波
    長依存性を測定する光アイソレータ波長依存性測定装置
    において、光源に白色光を用い、光スペクトラムアナラ
    イザでアイソレーションを測定することを特徴とする光
    アイソレータ波長依存性測定装置。
JP25478494A 1994-09-22 1994-09-22 光アイソレータ波長依存性測定装置 Pending JPH0894494A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25478494A JPH0894494A (ja) 1994-09-22 1994-09-22 光アイソレータ波長依存性測定装置

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JP25478494A JPH0894494A (ja) 1994-09-22 1994-09-22 光アイソレータ波長依存性測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0894494A true JPH0894494A (ja) 1996-04-12

Family

ID=17269839

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25478494A Pending JPH0894494A (ja) 1994-09-22 1994-09-22 光アイソレータ波長依存性測定装置

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JP (1) JPH0894494A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103852779A (zh) * 2014-02-19 2014-06-11 中国科学院等离子体物理研究所 一种同时测算束流质谱与能谱的方法
CN105371953A (zh) * 2015-12-01 2016-03-02 中国科学院上海技术物理研究所 一种通用型便携式地物光谱成像仪

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103852779A (zh) * 2014-02-19 2014-06-11 中国科学院等离子体物理研究所 一种同时测算束流质谱与能谱的方法
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