JPH0894585A - 磁粉探傷機能の検定方法及びその実施に使用する装置 - Google Patents
磁粉探傷機能の検定方法及びその実施に使用する装置Info
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- JPH0894585A JPH0894585A JP23352394A JP23352394A JPH0894585A JP H0894585 A JPH0894585 A JP H0894585A JP 23352394 A JP23352394 A JP 23352394A JP 23352394 A JP23352394 A JP 23352394A JP H0894585 A JPH0894585 A JP H0894585A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁粉探傷機能の検定を行う方法及び装置を提
供する。 【構成】 蛍光治具１を搬送し、ＣＣＤカメラ４により
標準蛍光体７及び蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを撮像す
る。ＣＣＤカメラ４からの輝度信号がフリーザ５で映像
信号に変換され、画像処理部６へ入力される。画像処理
部６では中心エリア９が設定され、中心エリア９範囲内
での前記映像信号により標準蛍光体７の撮像画像の平均
輝度及び半値幅が測定される。平均輝度及び半値幅が許
容範囲内であるかを判定し、これに応じた信号をゲイン
補正部８へ出力する。
供する。 【構成】 蛍光治具１を搬送し、ＣＣＤカメラ４により
標準蛍光体７及び蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを撮像す
る。ＣＣＤカメラ４からの輝度信号がフリーザ５で映像
信号に変換され、画像処理部６へ入力される。画像処理
部６では中心エリア９が設定され、中心エリア９範囲内
での前記映像信号により標準蛍光体７の撮像画像の平均
輝度及び半値幅が測定される。平均輝度及び半値幅が許
容範囲内であるかを判定し、これに応じた信号をゲイン
補正部８へ出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁粉探傷機能を検定する
方法及び装置に関する。
方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、蛍光磁粉探傷検査は磁化された被
検査材に蛍光磁粉を散布し、付着した蛍光磁粉の模様を
目視することにより被検査材の疵を検出している。この
探傷検査中には、紫外線灯の光強度、蛍光磁粉の蛍光輝
度及び被検査材の表面磁場強度等が管理されており、例
えば、蛍光磁粉液中の蛍光輝度を測定することにより蛍
光磁粉の蛍光輝度が管理される。近年、高検出能及び高
速度化を目標として探傷検査が自動化され、画像処理装
置を用いて疵検出が行われている。この自動磁粉探傷で
は、磁化された被検査材を搬送しつつ蛍光磁粉液を散布
し、疵部分に付着された蛍光体に紫外線を照射して発光
せしめ、ＣＣＤカメラによりこれを撮像して画像処理す
る。
検査材に蛍光磁粉を散布し、付着した蛍光磁粉の模様を
目視することにより被検査材の疵を検出している。この
探傷検査中には、紫外線灯の光強度、蛍光磁粉の蛍光輝
度及び被検査材の表面磁場強度等が管理されており、例
えば、蛍光磁粉液中の蛍光輝度を測定することにより蛍
光磁粉の蛍光輝度が管理される。近年、高検出能及び高
速度化を目標として探傷検査が自動化され、画像処理装
置を用いて疵検出が行われている。この自動磁粉探傷で
は、磁化された被検査材を搬送しつつ蛍光磁粉液を散布
し、疵部分に付着された蛍光体に紫外線を照射して発光
せしめ、ＣＣＤカメラによりこれを撮像して画像処理す
る。
【０００３】この画像処理にあっては、カメラが取り込
んだ映像信号をフリーザへ入力し、ここで得た静止画像
を画像処理装置へ与えて画面内の輝度分布を求める。こ
のような静止画像を経時的に連続して生成し、これらを
画像処理することにより被検査材の疵部を自動検出す
る。
んだ映像信号をフリーザへ入力し、ここで得た静止画像
を画像処理装置へ与えて画面内の輝度分布を求める。こ
のような静止画像を経時的に連続して生成し、これらを
画像処理することにより被検査材の疵部を自動検出す
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】以上の如き磁粉探傷検
査にあっては、カメラ及び画像処理装置の機能が正常で
あるか否かの検定は行われておらず、機能に異常を来し
た場合は探傷結果に誤差を生じ、磁粉探傷検査の信頼性
を低くするという問題があった。
査にあっては、カメラ及び画像処理装置の機能が正常で
あるか否かの検定は行われておらず、機能に異常を来し
た場合は探傷結果に誤差を生じ、磁粉探傷検査の信頼性
を低くするという問題があった。
【０００５】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、所定輝度を有する蛍光体を付した蛍光治具を
撮像することにより、磁粉探傷機能の検定を行う方法及
び装置を提供することを目的とする。
のであり、所定輝度を有する蛍光体を付した蛍光治具を
撮像することにより、磁粉探傷機能の検定を行う方法及
び装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１発明に係る磁粉探傷
機能の検定方法は、被検査材の表面に付着された蛍光磁
粉からの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号に
基づいて前記被検査材の磁粉探傷を行う機能を検定する
方法であって、既知輝度を有する蛍光体を付した蛍光治
具からの蛍光を前記撮像手段により撮像する過程と、該
撮像手段により得られた信号のうち前記蛍光体に対応す
る信号を選定する過程と、選定された信号から平均輝度
を測定する過程とを有することを特徴とする。
機能の検定方法は、被検査材の表面に付着された蛍光磁
粉からの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号に
基づいて前記被検査材の磁粉探傷を行う機能を検定する
方法であって、既知輝度を有する蛍光体を付した蛍光治
具からの蛍光を前記撮像手段により撮像する過程と、該
撮像手段により得られた信号のうち前記蛍光体に対応す
る信号を選定する過程と、選定された信号から平均輝度
を測定する過程とを有することを特徴とする。
【０００７】第２発明に係る磁粉探傷機能の検定方法
は、被検査材の表面に付着された蛍光磁粉からの蛍光を
撮像手段により撮像し、得られた信号に基づいて前記被
検査材の磁粉探傷を行う機能を検定する方法であって、
既知輝度を有する蛍光体を付した蛍光治具からの蛍光を
前記撮像手段により撮像する過程と、該撮像手段からの
信号により前記蛍光体に対応する画像を生成する過程
と、該画像の所定輝度値より大なる輝度を有する画素数
を計数する過程とを有することを特徴とする。
は、被検査材の表面に付着された蛍光磁粉からの蛍光を
撮像手段により撮像し、得られた信号に基づいて前記被
検査材の磁粉探傷を行う機能を検定する方法であって、
既知輝度を有する蛍光体を付した蛍光治具からの蛍光を
前記撮像手段により撮像する過程と、該撮像手段からの
信号により前記蛍光体に対応する画像を生成する過程
と、該画像の所定輝度値より大なる輝度を有する画素数
を計数する過程とを有することを特徴とする。
【０００８】第３発明に係る磁粉探傷機能の検定装置
は、第１発明の磁粉探傷機能の検定方法の実施に使用す
る装置であって、前記撮像手段により得られた信号のう
ち前記蛍光体に対応する信号を選定する手段と、選定さ
れた信号から平均輝度を測定する手段とを備えることを
特徴とする。
は、第１発明の磁粉探傷機能の検定方法の実施に使用す
る装置であって、前記撮像手段により得られた信号のう
ち前記蛍光体に対応する信号を選定する手段と、選定さ
れた信号から平均輝度を測定する手段とを備えることを
特徴とする。
【０００９】第４発明に係る磁粉探傷機能の検定装置
は、第２発明の磁粉探傷機能の検定方法の実施に使用す
る装置であって、前記撮像手段からの信号により前記蛍
光体に対応する画像を生成する手段と、該画像の所定輝
度値より大なる輝度を有する画素数を計数する手段と備
えることをを特徴とする。
は、第２発明の磁粉探傷機能の検定方法の実施に使用す
る装置であって、前記撮像手段からの信号により前記蛍
光体に対応する画像を生成する手段と、該画像の所定輝
度値より大なる輝度を有する画素数を計数する手段と備
えることをを特徴とする。
【００１０】
【作用】本発明の磁粉探傷機能の検定方法及びその実施
に使用する装置では、被検査材を撮像する撮像手段が既
知輝度の蛍光体を付した蛍光治具を撮像し、該蛍光体の
平均輝度を測定して磁粉探傷の機能の検定を行う。これ
により、例えば複数の検査材を探傷検査する際に探傷期
間中に前記蛍光治具を撮像して磁粉探傷の機能が正常で
あるか否かを検定する。
に使用する装置では、被検査材を撮像する撮像手段が既
知輝度の蛍光体を付した蛍光治具を撮像し、該蛍光体の
平均輝度を測定して磁粉探傷の機能の検定を行う。これ
により、例えば複数の検査材を探傷検査する際に探傷期
間中に前記蛍光治具を撮像して磁粉探傷の機能が正常で
あるか否かを検定する。
【００１１】また、本発明の磁粉探傷機能の検定方法及
びその実施に使用する装置では、前記蛍光体に対応する
画像の所定輝度値より大なる輝度を有する画素数によ
り、前記画像の輝度分布を得、これにより磁粉探傷の機
能の検定を行う。
びその実施に使用する装置では、前記蛍光体に対応する
画像の所定輝度値より大なる輝度を有する画素数によ
り、前記画像の輝度分布を得、これにより磁粉探傷の機
能の検定を行う。
【００１２】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
き具体的に説明する。図１は本発明の検定装置の構成を
示すブロック図であり、図２は、本発明方法の実施に用
いる蛍光治具の構造を示す斜視図である。図２に示すよ
うに、１は蛍光治具であり、直方体形状の角材の一面に
標準蛍光体７が貼付けられており、標準蛍光体７を囲む
態様で４本の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが貼付けられて
いる。標準蛍光体７は磁粉探傷検査に用いる蛍光磁粉と
同程度の蛍光輝度を有し、蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが
有する面積よりも小さい所定の面積を有するものを使用
する。蛍光テープａ，ｃは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＹS だけ離隔して貼付けら
れ、蛍光テープｂ，ｄは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＸS だけ離隔して貼付けられ
ている。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄは10/100mm以下の寸
法精度を有するものであり、貼付け間隔（ＸS，ＹS ）
は後述する画像処理部が有する固定画素数に基づいて決
定される。なお、この蛍光治具は被検査材が角材の場合
のものであるが、被検査材が角材でない場合はその形状
と同形状の蛍光治具を準備する。
き具体的に説明する。図１は本発明の検定装置の構成を
示すブロック図であり、図２は、本発明方法の実施に用
いる蛍光治具の構造を示す斜視図である。図２に示すよ
うに、１は蛍光治具であり、直方体形状の角材の一面に
標準蛍光体７が貼付けられており、標準蛍光体７を囲む
態様で４本の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが貼付けられて
いる。標準蛍光体７は磁粉探傷検査に用いる蛍光磁粉と
同程度の蛍光輝度を有し、蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが
有する面積よりも小さい所定の面積を有するものを使用
する。蛍光テープａ，ｃは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＹS だけ離隔して貼付けら
れ、蛍光テープｂ，ｄは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＸS だけ離隔して貼付けられ
ている。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄは10/100mm以下の寸
法精度を有するものであり、貼付け間隔（ＸS，ＹS ）
は後述する画像処理部が有する固定画素数に基づいて決
定される。なお、この蛍光治具は被検査材が角材の場合
のものであるが、被検査材が角材でない場合はその形状
と同形状の蛍光治具を準備する。
【００１３】図１において、２は被検査材及び蛍光治具
１を搬送するローラであり、ローラ２上を搬送される蛍
光治具１の斜め上方に紫外線灯３が配設されている。紫
外線灯３の近傍にはＣＣＤカメラ４が配されており、蛍
光治具１の蛍光体を撮像してその輝度信号をフリーザ５
へ入力する。入力された映像信号はフリーザ５により静
止画像に生成され、画像処理部６へ与えられる。画像処
理部６の２値化手段６１では、フリーザ５から入力され
た映像信号が所定のしきい値に基づいて２値化画像に変
換される。変換された信号がＸ方向プロジェクション手
段６２及びＹ方向プロジェクション手段６３へ与えら
れ、夫々の手段で求められた数値が中心エリア設定手段
６４に与えられる。中心エリア設定手段６４では、与え
られた数値を基に標準蛍光体７の画像を中心とする中心
エリア９が設定され、平均輝度測定手段６５及び半値幅
測定手段６６に与えられる。
１を搬送するローラであり、ローラ２上を搬送される蛍
光治具１の斜め上方に紫外線灯３が配設されている。紫
外線灯３の近傍にはＣＣＤカメラ４が配されており、蛍
光治具１の蛍光体を撮像してその輝度信号をフリーザ５
へ入力する。入力された映像信号はフリーザ５により静
止画像に生成され、画像処理部６へ与えられる。画像処
理部６の２値化手段６１では、フリーザ５から入力され
た映像信号が所定のしきい値に基づいて２値化画像に変
換される。変換された信号がＸ方向プロジェクション手
段６２及びＹ方向プロジェクション手段６３へ与えら
れ、夫々の手段で求められた数値が中心エリア設定手段
６４に与えられる。中心エリア設定手段６４では、与え
られた数値を基に標準蛍光体７の画像を中心とする中心
エリア９が設定され、平均輝度測定手段６５及び半値幅
測定手段６６に与えられる。
【００１４】平均輝度測定手段６５及び半値幅測定手段
６６には前記フリーザ５から映像信号が入力されてお
り、設定された中心エリア９内での平均輝度及び後述す
る半値幅を夫々求め、ゲイン補正部８へ出力するように
なっている。２値化手段６１、Ｘ方向プロジェクション
手段６２、Ｙ方向プロジェクション手段６３、中心エリ
ア設定手段６４、平均輝度測定手段６５及び半値幅測定
手段６６は画像処理部６の構成要素である。画像処理部
６はこの他に、撮像された輝度信号を疵の程度を表す信
号に変換する手段（図示せず）を備えており、通常の磁
粉探傷検査を行える構成になっている。
６６には前記フリーザ５から映像信号が入力されてお
り、設定された中心エリア９内での平均輝度及び後述す
る半値幅を夫々求め、ゲイン補正部８へ出力するように
なっている。２値化手段６１、Ｘ方向プロジェクション
手段６２、Ｙ方向プロジェクション手段６３、中心エリ
ア設定手段６４、平均輝度測定手段６５及び半値幅測定
手段６６は画像処理部６の構成要素である。画像処理部
６はこの他に、撮像された輝度信号を疵の程度を表す信
号に変換する手段（図示せず）を備えており、通常の磁
粉探傷検査を行える構成になっている。
【００１５】以上の如き構成の装置を用いて磁粉探傷機
能の検定を行う場合は、ローラ２を回転せしめ、複数の
角材の搬送の合間に上述の蛍光治具１を搬送する。蛍光
治具１は標準蛍光体７の劣化を防止するために低湿度の
暗所で保管したものを用いる。紫外線灯３から紫外線が
照射されて蛍光治具１に貼付けられた標準蛍光体７及び
蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが発光する。紫外線灯３の光
強度は4500μｗ／cm2以上に設定する。ＣＣＤカメラ４
により標準蛍光体７及び蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを撮
像する。ＣＣＤカメラ４は、シャッター速度が1/250
秒、絞りが８段階中の４に設定されている。ＣＣＤカメ
ラ４からの輝度信号によりフリーザ５が静止画像を生成
して画像処理部６で画像処理される。図３は、画像処理
部６が平均輝度及び半値幅を求める実施手順を示すフロ
ーチャートであり、このフローチャートに基づいて画像
処理部６の動作を以下に説明する。
能の検定を行う場合は、ローラ２を回転せしめ、複数の
角材の搬送の合間に上述の蛍光治具１を搬送する。蛍光
治具１は標準蛍光体７の劣化を防止するために低湿度の
暗所で保管したものを用いる。紫外線灯３から紫外線が
照射されて蛍光治具１に貼付けられた標準蛍光体７及び
蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが発光する。紫外線灯３の光
強度は4500μｗ／cm2以上に設定する。ＣＣＤカメラ４
により標準蛍光体７及び蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを撮
像する。ＣＣＤカメラ４は、シャッター速度が1/250
秒、絞りが８段階中の４に設定されている。ＣＣＤカメ
ラ４からの輝度信号によりフリーザ５が静止画像を生成
して画像処理部６で画像処理される。図３は、画像処理
部６が平均輝度及び半値幅を求める実施手順を示すフロ
ーチャートであり、このフローチャートに基づいて画像
処理部６の動作を以下に説明する。
【００１６】図３は、本発明の画像処理部６の実施手順
を示すフローチャートであり、この図に基づいて標準蛍
光体の輝度検出を行う手順を説明する。２値化手段６１
に与えられた静止画像は、所定のしきい値に基づいて２
値化画像に変換される（ステップＳ１１）。この２値化
画像を膨張処理し、縮小処理してラベリングする。そし
て、ノイズを除去するために発光部分の面積を計算して
標準蛍光体７の所定の面積より小さい部分をノイズと判
断して暗部分に転換する（ステップＳ１２）。
を示すフローチャートであり、この図に基づいて標準蛍
光体の輝度検出を行う手順を説明する。２値化手段６１
に与えられた静止画像は、所定のしきい値に基づいて２
値化画像に変換される（ステップＳ１１）。この２値化
画像を膨張処理し、縮小処理してラベリングする。そし
て、ノイズを除去するために発光部分の面積を計算して
標準蛍光体７の所定の面積より小さい部分をノイズと判
断して暗部分に転換する（ステップＳ１２）。
【００１７】図４は、２値化された画像を座標上に示し
た平面図であり、図面上で左右方向がＸ方向、上下方向
がＹ方向である。なお、本実施例では、ＸSIZEがＸ方向
に512 画素、ＹSIZE がＹ方向に240 画素の固定画素数
のものを使用している。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄの画
像上での位置を表すパラメータをｘstart ，ｘend ，ｙ
start ，ｙend とすると、蛍光テープａは（ｘ1 ，ｙ
start ）から（ｘ2 ，ｙ start ）に、ｂは（ｘend ，ｙ
1 ）から（ｘend ，ｙ2 ）に、ｃは（ｘ1 ，ｙen d ）か
ら（ｘ2 ，ｙend ）に、ｄは（ｘstart ，ｙ1 ）から
（ｘstart ，ｙ2 ）に位置する。
た平面図であり、図面上で左右方向がＸ方向、上下方向
がＹ方向である。なお、本実施例では、ＸSIZEがＸ方向
に512 画素、ＹSIZE がＹ方向に240 画素の固定画素数
のものを使用している。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄの画
像上での位置を表すパラメータをｘstart ，ｘend ，ｙ
start ，ｙend とすると、蛍光テープａは（ｘ1 ，ｙ
start ）から（ｘ2 ，ｙ start ）に、ｂは（ｘend ，ｙ
1 ）から（ｘend ，ｙ2 ）に、ｃは（ｘ1 ，ｙen d ）か
ら（ｘ2 ，ｙend ）に、ｄは（ｘstart ，ｙ1 ）から
（ｘstart ，ｙ2 ）に位置する。
【００１８】そして、蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄで囲ま
れた範囲の中心位置を設定するために、まず、Ｘ方向プ
ロジェクション手段６２にてＸ方向にプロジェクション
して輝度を測定する（ステップＳ１３）。プロジェクシ
ョンの結果、Ｘ座標に対するprof-ｘ即ち頻度から、ｘ
start ，ｘend の値を求める。次に、Ｙ方向プロジェク
ション手段６３にてＹ方向にプロジェクションして輝度
を測定する（ステップＳ１４）。Ｘ方向プロジェクショ
ンの結果と同様にＹ座標に対する prof-ｙ即ち頻度か
ら、ｙstart ，ｙend の値を求める。ｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙen d の値は、以下の式で求められ
る。
れた範囲の中心位置を設定するために、まず、Ｘ方向プ
ロジェクション手段６２にてＸ方向にプロジェクション
して輝度を測定する（ステップＳ１３）。プロジェクシ
ョンの結果、Ｘ座標に対するprof-ｘ即ち頻度から、ｘ
start ，ｘend の値を求める。次に、Ｙ方向プロジェク
ション手段６３にてＹ方向にプロジェクションして輝度
を測定する（ステップＳ１４）。Ｘ方向プロジェクショ
ンの結果と同様にＹ座標に対する prof-ｙ即ち頻度か
ら、ｙstart ，ｙend の値を求める。ｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙen d の値は、以下の式で求められ
る。
【００１９】
【数１】
【００２０】次に、中心エリア９を設定するために、蛍
光テープａ，ｂ，ｃ，ｄで囲まれた範囲のＸ方向及びＹ
方向夫々の画素数Ｈ，Ｗを計算する。 Ｈ＝ｘend −ｘstart ＋１ Ｗ＝ｙend −ｙstart ＋１ そして、画像の平均中心（ｘ0 ，ｙ0 ）は、 ｘ0 ＝ｘstart ＋Ｈ／２ ｙ0 ＝ｙstart ＋Ｗ／２ で算出され（ステップＳ１５）、中心エリア９を表すパ
ラメータalpha-ｘ,alpha- ｙは以下の式で求められる
（ステップＳ１６）。 alpha-ｘ＝（ｘend −ｘstart ）／４ alpha-ｙ＝（ｙend −ｙstart ）／４
光テープａ，ｂ，ｃ，ｄで囲まれた範囲のＸ方向及びＹ
方向夫々の画素数Ｈ，Ｗを計算する。 Ｈ＝ｘend −ｘstart ＋１ Ｗ＝ｙend −ｙstart ＋１ そして、画像の平均中心（ｘ0 ，ｙ0 ）は、 ｘ0 ＝ｘstart ＋Ｈ／２ ｙ0 ＝ｙstart ＋Ｗ／２ で算出され（ステップＳ１５）、中心エリア９を表すパ
ラメータalpha-ｘ,alpha- ｙは以下の式で求められる
（ステップＳ１６）。 alpha-ｘ＝（ｘend −ｘstart ）／４ alpha-ｙ＝（ｙend −ｙstart ）／４
【００２１】なお、画素数Ｈ，Ｗの値から画素分解能を
算出することができる。Ｘ方向の画素分解能はαＸS ／
Ｈ、Ｙ方向の画素分解能はαＹS ／Ｗで求められる。な
お、αＸS ，αＹS は画像処理部６の固定値である。
算出することができる。Ｘ方向の画素分解能はαＸS ／
Ｈ、Ｙ方向の画素分解能はαＹS ／Ｗで求められる。な
お、αＸS ，αＹS は画像処理部６の固定値である。
【００２２】このように設定された中心エリア９におい
て、フリーザ５から入力された映像信号の輝度ヒストグ
ラムを作成する。図５は映像信号の輝度ヒストグラムで
あり、縦軸は度数を示し、横軸は階調を示している。平
均輝度測定手段６５では、このヒストグラムから標準蛍
光体７の平均輝度を測定する（ステップＳ１７）。次
に、半値幅測定手段６６ではこのヒストグラムから半値
幅Ｆを求める（ステップＳ１８）。ここで半値幅Ｆと
は、最大輝度の２分の１以上の輝度を有する画素の数と
する。図５のＡ，Ｂ，Ｃのヒストグラムは何れも平均輝
度ｘa であり、このように平均輝度が同値であっても輝
度分布が異なる場合があり、半値幅Ｆを求めることによ
り平均輝度が同値である場合の輝度分布の相違を知るこ
とができる。
て、フリーザ５から入力された映像信号の輝度ヒストグ
ラムを作成する。図５は映像信号の輝度ヒストグラムで
あり、縦軸は度数を示し、横軸は階調を示している。平
均輝度測定手段６５では、このヒストグラムから標準蛍
光体７の平均輝度を測定する（ステップＳ１７）。次
に、半値幅測定手段６６ではこのヒストグラムから半値
幅Ｆを求める（ステップＳ１８）。ここで半値幅Ｆと
は、最大輝度の２分の１以上の輝度を有する画素の数と
する。図５のＡ，Ｂ，Ｃのヒストグラムは何れも平均輝
度ｘa であり、このように平均輝度が同値であっても輝
度分布が異なる場合があり、半値幅Ｆを求めることによ
り平均輝度が同値である場合の輝度分布の相違を知るこ
とができる。
【００２３】以上の如く、標準蛍光体の平均輝度及び半
値幅Ｆを求め、これらをゲイン補正部８へ入力する。ゲ
イン補正部８では、これらの値が所定の許容範囲内であ
るか否かを判定し、範囲外であった場合はＣＣＤカメラ
４から画像処理部までのゲインの補正を行う信号を出力
する。又は、ゲイン許容範囲から外れたことを知らせる
信号を出力する。なお、判定条件の１例として、上述の
ようなゲインの補正に関する許容範囲は平均輝度ｘa に
ついては40≦ｘa ≦50であり、半値幅Ｆについては1400
≦Ｆ≦1800である。
値幅Ｆを求め、これらをゲイン補正部８へ入力する。ゲ
イン補正部８では、これらの値が所定の許容範囲内であ
るか否かを判定し、範囲外であった場合はＣＣＤカメラ
４から画像処理部までのゲインの補正を行う信号を出力
する。又は、ゲイン許容範囲から外れたことを知らせる
信号を出力する。なお、判定条件の１例として、上述の
ようなゲインの補正に関する許容範囲は平均輝度ｘa に
ついては40≦ｘa ≦50であり、半値幅Ｆについては1400
≦Ｆ≦1800である。
【００２４】なお、中心エリア９を設定するために、ｘ
1 ，ｘ2 ，ｙ1 ，ｙ2 の値だけを使用せずにｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙend の値を求めるのは、ｘ1 ，ｘ
2 ，ｙ1 ，ｙ2 は蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄの汚れ、欠
け等により容易に値の誤差を生じるためである。また、
蛍光治具１の標準蛍光体７を中心とするエリアを設定で
きれば、上述の計算式の限りではない。
1 ，ｘ2 ，ｙ1 ，ｙ2 の値だけを使用せずにｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙend の値を求めるのは、ｘ1 ，ｘ
2 ，ｙ1 ，ｙ2 は蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄの汚れ、欠
け等により容易に値の誤差を生じるためである。また、
蛍光治具１の標準蛍光体７を中心とするエリアを設定で
きれば、上述の計算式の限りではない。
【００２５】また、上述の実施例では蛍光治具の一面を
撮像するＣＣＤカメラ４の１台を備えた場合を説明して
いるが、実際の磁粉探傷装置には複数台のＣＣＤカメラ
が被検査材を様々な方向から撮像しており、被検査材の
各面を撮像する撮像装置により蛍光治具の各面を撮像
し、夫々の面に対する磁粉探傷機能の検定を行っても良
い。
撮像するＣＣＤカメラ４の１台を備えた場合を説明して
いるが、実際の磁粉探傷装置には複数台のＣＣＤカメラ
が被検査材を様々な方向から撮像しており、被検査材の
各面を撮像する撮像装置により蛍光治具の各面を撮像
し、夫々の面に対する磁粉探傷機能の検定を行っても良
い。
【００２６】また、上述の実施例では被検査材が搬送さ
れつつ探傷される自動探傷検査装置について説明してい
るが、これに限るものではなく、画像処理を行う磁粉探
傷装置であれば適用できる。
れつつ探傷される自動探傷検査装置について説明してい
るが、これに限るものではなく、画像処理を行う磁粉探
傷装置であれば適用できる。
【００２７】
【発明の効果】以上のように、本発明においては被検査
材の探傷検査の際に既知輝度を有する蛍光体を付した蛍
光治具を撮像することにより、リアルタイムで磁粉探傷
機能の検定を行って、高精度に磁粉探傷検査を行うこと
ができる等、本発明は優れた効果を奏するものである。
材の探傷検査の際に既知輝度を有する蛍光体を付した蛍
光治具を撮像することにより、リアルタイムで磁粉探傷
機能の検定を行って、高精度に磁粉探傷検査を行うこと
ができる等、本発明は優れた効果を奏するものである。
【図１】本発明に係る実施例の検定装置の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】本発明方法の実施に用いる蛍光治具の構造を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図３】本実施例の画像処理部の実施手順を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図４】本実施例に係る２値化された画像を座標上に示
した平面図である。
した平面図である。
【図５】本実施例の映像信号の輝度ヒストグラムであ
る。
る。
１ 蛍光治具 ２ ローラ ３ 紫外線灯 ４ ＣＣＤカメラ ６ 画像処理部 ７ 標準蛍光体 ９ 中心エリア ６１ ２値化手段 ６５ 平均輝度測定手段 ６６ 半値幅測定手段 ａ，ｂ，ｃ，ｄ 蛍光テープ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松本 修二 大阪府大阪市中央区北浜４丁目５番33号 住友金属工業株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 被検査材の表面に付着された蛍光磁粉か
らの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号に基づ
いて前記被検査材の磁粉探傷を行う機能を検定する方法
であって、 既知輝度を有する蛍光体を付した蛍光治具からの蛍光を
前記撮像手段により撮像する過程と、該撮像手段により
得られた信号のうち前記蛍光体に対応する信号を選定す
る過程と、選定された信号から平均輝度を測定する過程
とを有することを特徴とする磁粉探傷機能の検定方法。 - 【請求項２】 被検査材の表面に付着された蛍光磁粉か
らの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号に基づ
いて前記被検査材の磁粉探傷を行う機能を検定する方法
であって、 既知輝度を有する蛍光体を付した蛍光治具からの蛍光を
前記撮像手段により撮像する過程と、該撮像手段からの
信号により前記蛍光体に対応する画像を生成する過程
と、該画像の所定輝度値より大なる輝度を有する画素数
を計数する過程とを有することを特徴とする磁粉探傷機
能の検定方法。 - 【請求項３】 請求項１記載の磁粉探傷機能の検定方法
の実施に使用する装置であって、前記撮像手段により得
られた信号のうち前記蛍光体に対応する信号を選定する
手段と、選定された信号から平均輝度を測定する手段と
を備えることを特徴とする磁粉探傷機能の検定装置。 - 【請求項４】 請求項２記載の磁粉探傷機能の検定方法
の実施に使用する装置であって、前記撮像手段からの信
号により前記蛍光体に対応する画像を生成する手段と、
該画像の所定輝度値より大なる輝度を有する画素数を計
数する手段とを備えることを特徴とする磁粉探傷機能の
検定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23352394A JP3496288B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 磁粉探傷機能の検定方法、磁粉探傷機能の検定装置、磁粉探傷装置及び蛍光治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23352394A JP3496288B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 磁粉探傷機能の検定方法、磁粉探傷機能の検定装置、磁粉探傷装置及び蛍光治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894585A true JPH0894585A (ja) | 1996-04-12 |
| JP3496288B2 JP3496288B2 (ja) | 2004-02-09 |
Family
ID=16956378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23352394A Expired - Fee Related JP3496288B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 磁粉探傷機能の検定方法、磁粉探傷機能の検定装置、磁粉探傷装置及び蛍光治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3496288B2 (ja) |
-
1994
- 1994-09-28 JP JP23352394A patent/JP3496288B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3496288B2 (ja) | 2004-02-09 |
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