JPH0894584A - 磁粉探傷における画素分解能検定方法及びその実施に使用する装置 - Google Patents
磁粉探傷における画素分解能検定方法及びその実施に使用する装置Info
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- JPH0894584A JPH0894584A JP23352294A JP23352294A JPH0894584A JP H0894584 A JPH0894584 A JP H0894584A JP 23352294 A JP23352294 A JP 23352294A JP 23352294 A JP23352294 A JP 23352294A JP H0894584 A JPH0894584 A JP H0894584A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 画素分解能を自動的に簡易に検定する画素分
解能検定方法及び装置を提供する。 【構成】 既知寸法の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを貼付
した蛍光治具１を搬送し、ＣＣＤカメラ４により蛍光体
ａ，ｂ，ｃ，ｄを貼付した面を撮像する。ＣＣＤカメラ
４からの輝度信号が、２値化手段６１にて所定のしきい
値に基づいて２値化画像に変換され、画素数測定手段６
４で蛍光治具１の所定範囲に対応する画素数が求められ
る。この画素数が画素分解能算出手段６５へ入力され、
画素分解能が算出される。
解能検定方法及び装置を提供する。 【構成】 既知寸法の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを貼付
した蛍光治具１を搬送し、ＣＣＤカメラ４により蛍光体
ａ，ｂ，ｃ，ｄを貼付した面を撮像する。ＣＣＤカメラ
４からの輝度信号が、２値化手段６１にて所定のしきい
値に基づいて２値化画像に変換され、画素数測定手段６
４で蛍光治具１の所定範囲に対応する画素数が求められ
る。この画素数が画素分解能算出手段６５へ入力され、
画素分解能が算出される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁粉探傷検査における
画像処理の画素分解能を検定する方法及び装置に関す
る。
画像処理の画素分解能を検定する方法及び装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、蛍光磁粉探傷検査における疵の検
出は目視検査により行われていたが、近年の画像処理装
置の普及により疵検出が自動化され、高検出能及び高速
度化が達成されつつある。自動磁粉探傷では、磁化され
た被検査材を搬送しつつ蛍光磁粉液を散布し、疵部分に
付着された蛍光体に紫外線を照射して発光せしめ、ＣＣ
Ｄカメラによりこれを撮像して画像処理することによ
り、被検査材の疵部を検出する。
出は目視検査により行われていたが、近年の画像処理装
置の普及により疵検出が自動化され、高検出能及び高速
度化が達成されつつある。自動磁粉探傷では、磁化され
た被検査材を搬送しつつ蛍光磁粉液を散布し、疵部分に
付着された蛍光体に紫外線を照射して発光せしめ、ＣＣ
Ｄカメラによりこれを撮像して画像処理することによ
り、被検査材の疵部を検出する。
【０００３】この画像処理にあっては、カメラが取り込
んだ映像信号をフレームメモリに入力し、生成した画像
を保存する。フレームメモリは、カメラの映像信号を走
査周期範囲内の時間でデジタル化する装置であり、各画
素の輝度をアナログ／デジタル変換してメモリに記憶す
る。例えば、フレームメモリが、カメラの水平方向（被
検査材の軸長垂直方向）を512 、垂直方向（被検査材の
軸長方向）を256 に分解されたもので、カメラと被検査
材の表面との距離が500mm である場合は、１画素は鋼片
表面の幅方向が0.55mm、軸長方向が0.825mm に分解した
要素に対応させることになり、画素分解能が決定され
る。
んだ映像信号をフレームメモリに入力し、生成した画像
を保存する。フレームメモリは、カメラの映像信号を走
査周期範囲内の時間でデジタル化する装置であり、各画
素の輝度をアナログ／デジタル変換してメモリに記憶す
る。例えば、フレームメモリが、カメラの水平方向（被
検査材の軸長垂直方向）を512 、垂直方向（被検査材の
軸長方向）を256 に分解されたもので、カメラと被検査
材の表面との距離が500mm である場合は、１画素は鋼片
表面の幅方向が0.55mm、軸長方向が0.825mm に分解した
要素に対応させることになり、画素分解能が決定され
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】自動磁粉探傷検査の過
程でカメラ視野が完全に固定されている場合は、上述し
た画素分解能を用いて疵部を自動検出することができ
る。しかしながら、カメラの移動、交換又は視野調整を
行った際には被検査材に対するカメラ位置が変わり、画
素分解能が変化する。このような場合にはカメラ位置が
変化する都度、画素分解能を算出する必要があり、この
作業は煩雑になり易く、画素分解能の測定に時間がかか
るという問題があった。
程でカメラ視野が完全に固定されている場合は、上述し
た画素分解能を用いて疵部を自動検出することができ
る。しかしながら、カメラの移動、交換又は視野調整を
行った際には被検査材に対するカメラ位置が変わり、画
素分解能が変化する。このような場合にはカメラ位置が
変化する都度、画素分解能を算出する必要があり、この
作業は煩雑になり易く、画素分解能の測定に時間がかか
るという問題があった。
【０００５】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、撮像体制が変化したときに画素分解能を自動
的に簡易に測定し、迅速に画素検定を行うことができる
画素分解能検定方法及び装置を提供することを目的とす
る。
のであり、撮像体制が変化したときに画素分解能を自動
的に簡易に測定し、迅速に画素検定を行うことができる
画素分解能検定方法及び装置を提供することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１発明に係る画素分解
能検定方法は、被検査材の表面に付着せしめた蛍光磁粉
からの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号を画
像処理して前記被検査材の磁粉探傷を行う際に、前記撮
像手段の画素分解能を検定する方法であって、既知寸法
の蛍光体を所定の位置に貼付した蛍光治具の前記蛍光体
からの蛍光を前記撮像手段により撮像する過程と、該撮
像手段からの信号を画像処理して所定範囲内の画素数を
測定する過程と、測定された画素数により画素分解能を
求める過程とを有することを特徴とする。
能検定方法は、被検査材の表面に付着せしめた蛍光磁粉
からの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号を画
像処理して前記被検査材の磁粉探傷を行う際に、前記撮
像手段の画素分解能を検定する方法であって、既知寸法
の蛍光体を所定の位置に貼付した蛍光治具の前記蛍光体
からの蛍光を前記撮像手段により撮像する過程と、該撮
像手段からの信号を画像処理して所定範囲内の画素数を
測定する過程と、測定された画素数により画素分解能を
求める過程とを有することを特徴とする。
【０００７】第２発明に係る画素校正装置は、第１発明
の実施に使用する装置であって、前記撮像手段からの信
号を画像処理して所定範囲内の画素数を測定する手段
と、測定された画素数により画素分解能を求める手段と
を備えることを特徴とする。
の実施に使用する装置であって、前記撮像手段からの信
号を画像処理して所定範囲内の画素数を測定する手段
と、測定された画素数により画素分解能を求める手段と
を備えることを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明の画素分解能検定方法及びその実施に使
用する装置では、被検査材を撮像する撮像手段が既知寸
法の蛍光体を貼付した蛍光治具を撮像し、画面視野内の
所定範囲の画素数を測定してリアルタイムの画素分解能
を得る。これにより、例えば複数の検査材を探傷検査す
る際に探傷期間中に前記蛍光治具を撮像して自動的に画
素分解能を検定する。
用する装置では、被検査材を撮像する撮像手段が既知寸
法の蛍光体を貼付した蛍光治具を撮像し、画面視野内の
所定範囲の画素数を測定してリアルタイムの画素分解能
を得る。これにより、例えば複数の検査材を探傷検査す
る際に探傷期間中に前記蛍光治具を撮像して自動的に画
素分解能を検定する。
【０００９】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
き具体的に説明する。図１は、本発明の画素分解能検定
装置の構成を示すブロック図であり、図２は本発明方法
の実施に用いる蛍光治具の構造を示す斜視図である。図
２において、１は蛍光治具であり、直方体形状の角材の
一面に４本の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが貼付けられて
いる。蛍光テープａ，ｃは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＹS だけ離隔して貼付けら
れ、蛍光テープｂ，ｄは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＸS だけ離隔して貼付けられ
ている。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄは10/100mm以下の寸
法精度を有するものであり、貼付け間隔（ＸS ，ＹS ）
は後述する画像処理部が有する固定画素数に基づいて決
定される。なお、この蛍光治具は被検査材が角材の場合
のものであるが、被検査材が角材でない場合はその形状
と同形状の蛍光治具を準備する。
き具体的に説明する。図１は、本発明の画素分解能検定
装置の構成を示すブロック図であり、図２は本発明方法
の実施に用いる蛍光治具の構造を示す斜視図である。図
２において、１は蛍光治具であり、直方体形状の角材の
一面に４本の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄが貼付けられて
いる。蛍光テープａ，ｃは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＹS だけ離隔して貼付けら
れ、蛍光テープｂ，ｄは長さ80mm、幅10mmの寸法を有
し、これらは中心間距離をＸS だけ離隔して貼付けられ
ている。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄは10/100mm以下の寸
法精度を有するものであり、貼付け間隔（ＸS ，ＹS ）
は後述する画像処理部が有する固定画素数に基づいて決
定される。なお、この蛍光治具は被検査材が角材の場合
のものであるが、被検査材が角材でない場合はその形状
と同形状の蛍光治具を準備する。
【００１０】図１において、２は被検査材及び蛍光治具
１を搬送するローラであり、ローラ２上を搬送される蛍
光治具１の斜め上方に紫外線灯３が配設されている。紫
外線灯３の近傍にはＣＣＤカメラ４が配されており、蛍
光治具１の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを撮像してその輝
度信号をフリーザ５へ入力する。入力された輝度信号は
フリーザ５により静止画像に生成され、画像処理部６へ
入力される。画像処理部６の２値化手段６１では、フリ
ーザ５から入力された信号が所定のしきい値に基づいて
２値化画像に変換される。変換された信号がＸ方向プロ
ジェクション手段６２及びＹ方向プロジェクション手段
６３へ与えられ、夫々の手段で得られた数値が画素数測
定手段６４に与えられる。画素数測定手段６４で測定さ
れた画素数が画素分解能算出手段６５へ入力されて画素
分解能が算出される。
１を搬送するローラであり、ローラ２上を搬送される蛍
光治具１の斜め上方に紫外線灯３が配設されている。紫
外線灯３の近傍にはＣＣＤカメラ４が配されており、蛍
光治具１の蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを撮像してその輝
度信号をフリーザ５へ入力する。入力された輝度信号は
フリーザ５により静止画像に生成され、画像処理部６へ
入力される。画像処理部６の２値化手段６１では、フリ
ーザ５から入力された信号が所定のしきい値に基づいて
２値化画像に変換される。変換された信号がＸ方向プロ
ジェクション手段６２及びＹ方向プロジェクション手段
６３へ与えられ、夫々の手段で得られた数値が画素数測
定手段６４に与えられる。画素数測定手段６４で測定さ
れた画素数が画素分解能算出手段６５へ入力されて画素
分解能が算出される。
【００１１】２値化手段６１、Ｘ方向プロジェクション
手段６２、Ｙ方向プロジェクション手段６３、画素数測
定手段６４及び画素分解能算出手段６５は画像処理部６
が備えている。画像処理部６はこの他に、撮像された輝
度信号を疵の程度を表す信号に変換する手段（図示せ
ず）を備えており、通常の磁粉探傷検査を行える構成に
なっている。
手段６２、Ｙ方向プロジェクション手段６３、画素数測
定手段６４及び画素分解能算出手段６５は画像処理部６
が備えている。画像処理部６はこの他に、撮像された輝
度信号を疵の程度を表す信号に変換する手段（図示せ
ず）を備えており、通常の磁粉探傷検査を行える構成に
なっている。
【００１２】以上の如き構成の装置を用いて画素分解能
検定を行う場合は、複数の角材を搬送する合間に上述し
た蛍光治具１を搬送する。そして、ＣＣＤカメラ４によ
り蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを貼付した面を撮像し、Ｃ
ＣＤカメラ４からの輝度信号によりフリーザ５が静止画
像を生成して画像処理部６に与えられる。図３は、画像
処理部が画素分解能を求める実施手順を示すフローチャ
ートであり、このフローチャートに基づいて、画素分解
能を求める手順を説明する。
検定を行う場合は、複数の角材を搬送する合間に上述し
た蛍光治具１を搬送する。そして、ＣＣＤカメラ４によ
り蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄを貼付した面を撮像し、Ｃ
ＣＤカメラ４からの輝度信号によりフリーザ５が静止画
像を生成して画像処理部６に与えられる。図３は、画像
処理部が画素分解能を求める実施手順を示すフローチャ
ートであり、このフローチャートに基づいて、画素分解
能を求める手順を説明する。
【００１３】２値化手段６１に与えられた静止画像は、
所定のしきい値に基づいて２値化画像に変換される（ス
テップＳ１１）。図４は、２値化された画像を座標上に
示した平面図であり、図面上で左右方向がＸ方向、上下
方向がＹ方向である。なお、本実施例では、ＸSIZEがＸ
方向に512 画素、ＹSIZE がＹ方向に240 画素の固定画
素数のものを使用している。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄ
の画像上での位置を表すパラメータをｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙend とすると、蛍光テープａは
（ｘ1 ，ｙstart ）から（ｘ2 ，ｙstart ）に、ｂは
（ｘend ，ｙ1 ）から（ｘ end ，ｙ2 ）に、ｃは
（ｘ1 ，ｙend ）から（ｘ2 ，ｙend ）に、ｄは（ｘ
star t ，ｙ1 ）から（ｘstart ，ｙ2 ）に位置する。
所定のしきい値に基づいて２値化画像に変換される（ス
テップＳ１１）。図４は、２値化された画像を座標上に
示した平面図であり、図面上で左右方向がＸ方向、上下
方向がＹ方向である。なお、本実施例では、ＸSIZEがＸ
方向に512 画素、ＹSIZE がＹ方向に240 画素の固定画
素数のものを使用している。蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄ
の画像上での位置を表すパラメータをｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙend とすると、蛍光テープａは
（ｘ1 ，ｙstart ）から（ｘ2 ，ｙstart ）に、ｂは
（ｘend ，ｙ1 ）から（ｘ end ，ｙ2 ）に、ｃは
（ｘ1 ，ｙend ）から（ｘ2 ，ｙend ）に、ｄは（ｘ
star t ，ｙ1 ）から（ｘstart ，ｙ2 ）に位置する。
【００１４】そして、蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄで囲ま
れた範囲の画素数を測定するために、まず、Ｘ方向プロ
ジェクション手段６２にてＸ方向にプロジェクションし
て輝度を測定する（ステップＳ１２）。図５はＸ方向プ
ロジェクションの結果を示すグラフであり、横軸はＸ座
標を示し、縦軸は prof-ｘ即ち頻度を示している。この
プロジェクションの結果から、ｘstart ，ｘend の値を
求める（ステップＳ１３）。次に、Ｙ方向プロジェクシ
ョン手段６３にてＹ方向にプロジェクションして輝度を
測定する（ステップＳ１４）。Ｘ方向プロジェクション
の結果と同様にＹ座標に対する prof-ｙ即ち頻度から、
ｙstart ，ｙend の値を求める（ステップＳ１５）。ｘ
start ，ｘend ，ｙstart ，ｙend の値は、以下の式で
求められる。
れた範囲の画素数を測定するために、まず、Ｘ方向プロ
ジェクション手段６２にてＸ方向にプロジェクションし
て輝度を測定する（ステップＳ１２）。図５はＸ方向プ
ロジェクションの結果を示すグラフであり、横軸はＸ座
標を示し、縦軸は prof-ｘ即ち頻度を示している。この
プロジェクションの結果から、ｘstart ，ｘend の値を
求める（ステップＳ１３）。次に、Ｙ方向プロジェクシ
ョン手段６３にてＹ方向にプロジェクションして輝度を
測定する（ステップＳ１４）。Ｘ方向プロジェクション
の結果と同様にＹ座標に対する prof-ｙ即ち頻度から、
ｙstart ，ｙend の値を求める（ステップＳ１５）。ｘ
start ，ｘend ，ｙstart ，ｙend の値は、以下の式で
求められる。
【００１５】
【数１】
【００１６】画素数測定手段６４ではｘstart ，
ｘend ，ｙstart ，ｙend の値が入力され、蛍光テープ
ａ，ｂ，ｃ，ｄで囲まれた範囲の画素数はＸ方向がＨ＝
ｘend −ｘ start であり、Ｙ方向がＷ＝ｙend −ｙ
start であり、総画素数はＨ×Ｗで求められる（ステッ
プＳ１６）。これらの画素数が画素分解能算出手段６５
へ入力され、画素分解能が算出される。Ｘ方向の画素分
解能はαＸS ／Ｈ、Ｙ方向の画素分解能はαＹS ／Ｗで
求められる。なお、αＸS ，αＹS は画像処理部６の固
定値である。
ｘend ，ｙstart ，ｙend の値が入力され、蛍光テープ
ａ，ｂ，ｃ，ｄで囲まれた範囲の画素数はＸ方向がＨ＝
ｘend −ｘ start であり、Ｙ方向がＷ＝ｙend −ｙ
start であり、総画素数はＨ×Ｗで求められる（ステッ
プＳ１６）。これらの画素数が画素分解能算出手段６５
へ入力され、画素分解能が算出される。Ｘ方向の画素分
解能はαＸS ／Ｈ、Ｙ方向の画素分解能はαＹS ／Ｗで
求められる。なお、αＸS ，αＹS は画像処理部６の固
定値である。
【００１７】なお、所定範囲の画素数を求めるために、
ｘ1 ，ｘ2 ，ｙ1 ，ｙ2 の値だけを使用せずに
ｘstart ，ｘend ，ｙstart ，ｙend の値を求めるの
は、ｘ1 ，ｘ2，ｙ1 ，ｙ2 は蛍光テープａ，ｂ，ｃ，
ｄの汚れ、欠け等により容易に値の誤差を生じるためで
ある。また、蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄで囲まれた範囲
の面積を求めることができれば、上述の計算式の限りで
はない。
ｘ1 ，ｘ2 ，ｙ1 ，ｙ2 の値だけを使用せずに
ｘstart ，ｘend ，ｙstart ，ｙend の値を求めるの
は、ｘ1 ，ｘ2，ｙ1 ，ｙ2 は蛍光テープａ，ｂ，ｃ，
ｄの汚れ、欠け等により容易に値の誤差を生じるためで
ある。また、蛍光テープａ，ｂ，ｃ，ｄで囲まれた範囲
の面積を求めることができれば、上述の計算式の限りで
はない。
【００１８】以上の如き画素分解能検定を行った結果を
表１に示す。蛍光治具１は軸長方向長さが 13595mm, Ｘ
S ＝200mm,ＹS ＝120mm のものを用いた。表に示すよう
に画素分解能が求められ、この画素分解能を用いて被検
査材の探傷精度を向上させることができる。
表１に示す。蛍光治具１は軸長方向長さが 13595mm, Ｘ
S ＝200mm,ＹS ＝120mm のものを用いた。表に示すよう
に画素分解能が求められ、この画素分解能を用いて被検
査材の探傷精度を向上させることができる。
【００１９】
【表１】
【００２０】なお、上述の実施例では蛍光治具の一面を
撮像するＣＣＤカメラ４の１台を備えた場合を説明して
いるが、実際の磁粉探傷装置では被検査材を様々な方向
から撮像するために複数の撮像装置が配置されており、
被検査材の各面を撮像する撮像装置により蛍光治具の各
面を撮像し、夫々の面において画素分解能の検定を行っ
ても良い。
撮像するＣＣＤカメラ４の１台を備えた場合を説明して
いるが、実際の磁粉探傷装置では被検査材を様々な方向
から撮像するために複数の撮像装置が配置されており、
被検査材の各面を撮像する撮像装置により蛍光治具の各
面を撮像し、夫々の面において画素分解能の検定を行っ
ても良い。
【００２１】また、上述の実施例では被検査材が搬送さ
れつつ探傷される自動探傷検査装置について説明してい
るが、これに限るものではなく、画像処理を行う磁粉探
傷検査であれば適用できる。
れつつ探傷される自動探傷検査装置について説明してい
るが、これに限るものではなく、画像処理を行う磁粉探
傷検査であれば適用できる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように、本発明においては、被検
査材の探傷検査の際に既知寸法の蛍光体を撮像すること
によりリアルタイムで画素分解能を求め、簡易に画素検
定を行うことができるので、高精度に磁粉探傷検査を行
うことができる等、本発明は優れた効果を奏するもので
ある。
査材の探傷検査の際に既知寸法の蛍光体を撮像すること
によりリアルタイムで画素分解能を求め、簡易に画素検
定を行うことができるので、高精度に磁粉探傷検査を行
うことができる等、本発明は優れた効果を奏するもので
ある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の画素分解能検定装置の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】本発明方法の実施に用いる蛍光治具の構造を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図３】画像処理部が画素分解能を求める実施手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図４】本発明に係る２値化画像を座標上に示した平面
図である。
図である。
【図５】本発明に係るＸ方向プロジェクションの結果を
示すグラフである。
示すグラフである。
１ 蛍光治具 ２ ローラ ３ 紫外線灯 ４ ＣＣＤカメラ ６ 画像処理部 ６４ 画素数測定手段 ６５ 画素分解能算出手段 ａ，ｂ，ｃ，ｄ 蛍光テープ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松本 修二 大阪府大阪市中央区北浜４丁目５番33号 住友金属工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 被検査材の表面に付着せしめた蛍光磁粉
からの蛍光を撮像手段により撮像し、得られた信号を画
像処理して前記被検査材の磁粉探傷を行う際に、前記撮
像手段の画素分解能を検定する方法であって、 既知寸法の蛍光体を所定の位置に貼付した蛍光治具の前
記蛍光体からの蛍光を前記撮像手段により撮像する過程
と、該撮像手段からの信号を画像処理して所定範囲内の
画素数を測定する過程と、測定された画素数により画素
分解能を求める過程とを有することを特徴とする磁粉探
傷における画素分解能検定方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の画素分解能検定方法に使
用する装置であって、前記撮像手段からの信号を画像処
理して所定範囲内の画素数を測定する手段と、測定され
た画素数により画素分解能を求める手段とを備えること
を特徴とする磁粉探傷における画素分解能検定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23352294A JPH0894584A (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 磁粉探傷における画素分解能検定方法及びその実施に使用する装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23352294A JPH0894584A (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 磁粉探傷における画素分解能検定方法及びその実施に使用する装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894584A true JPH0894584A (ja) | 1996-04-12 |
Family
ID=16956361
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23352294A Pending JPH0894584A (ja) | 1994-09-28 | 1994-09-28 | 磁粉探傷における画素分解能検定方法及びその実施に使用する装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0894584A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105823762A (zh) * | 2015-01-07 | 2016-08-03 | 宝山钢铁股份有限公司 | 用于自动磁粉探伤的荧光强度不均匀度测量方法与装置 |
| CN105823763A (zh) * | 2015-01-07 | 2016-08-03 | 宝山钢铁股份有限公司 | 用于自动磁粉探伤的荧光强度测量装置与方法 |
-
1994
- 1994-09-28 JP JP23352294A patent/JPH0894584A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105823762A (zh) * | 2015-01-07 | 2016-08-03 | 宝山钢铁股份有限公司 | 用于自动磁粉探伤的荧光强度不均匀度测量方法与装置 |
| CN105823763A (zh) * | 2015-01-07 | 2016-08-03 | 宝山钢铁股份有限公司 | 用于自动磁粉探伤的荧光强度测量装置与方法 |
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