JPH0894708A - 部品テストの方法、およびテスト器具 - Google Patents
部品テストの方法、およびテスト器具Info
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 デジタルマルチメータのような低電力のポー
タブルテスト器具において「部品テスト」機能を提供す
る。 【解決手段】 テスト刺激波形はデジタル的に合成さ
れ、合成回路からのデジタルトリガ信号が測定データの
獲得をトリガするために使用される。単一チャネルフロ
ントエンドはトリガ点に続くテスト刺激波形の１つのサ
イクルにわたって電圧スキャンデータを獲得する。電流
スキャンデータはその刺激波形の後のサイクルの開始点
に対する同じトリガ点で始まる同じ獲得回路を介して得
られ、その結果電圧および電流スキャンデータは、別々
に獲得されるが、刺激波形に対して非常に密に同期さ
れ、その結果それらは位相関係を維持する。ストアされ
た電圧および電流スキャンデータは小さな表示（１４
０）上でリサジュパターンを形成するように応じて整合
され同時に表示される。
タブルテスト器具において「部品テスト」機能を提供す
る。 【解決手段】 テスト刺激波形はデジタル的に合成さ
れ、合成回路からのデジタルトリガ信号が測定データの
獲得をトリガするために使用される。単一チャネルフロ
ントエンドはトリガ点に続くテスト刺激波形の１つのサ
イクルにわたって電圧スキャンデータを獲得する。電流
スキャンデータはその刺激波形の後のサイクルの開始点
に対する同じトリガ点で始まる同じ獲得回路を介して得
られ、その結果電圧および電流スキャンデータは、別々
に獲得されるが、刺激波形に対して非常に密に同期さ
れ、その結果それらは位相関係を維持する。ストアされ
た電圧および電流スキャンデータは小さな表示（１４
０）上でリサジュパターンを形成するように応じて整合
され同時に表示される。
Description
【０００１】
【発明の背景】この発明は個別アナログ部品などの電子
部品をテストすることに関し、より特定的には、部品テ
ストデータを獲得し、グラフィックに表示するための方
法および装置に関する。
部品をテストすることに関し、より特定的には、部品テ
ストデータを獲得し、グラフィックに表示するための方
法および装置に関する。
【０００２】抵抗およびキャパシタならびに半導体接合
部などの受動部品は、適切な刺激信号をテスト中の装置
（ＤＵＴ）に与え、電圧および／または電流などの回路
パラメータを測定することによってテストできる。先行
技術のテスト装置の１つの問題は、測定できる容量値の
範囲が制限されていることである。以下に説明するハン
トロン（Huntron ）器具などの先行技術の装置はテスト
刺激信号源としてアナログ発振器を使用するために、そ
の刺激周波数範囲は制限される。したがって、多くのア
プリケーションで実際的ではない高電圧刺激源を使用す
ることなく高容量部品をテストすることはできない。さ
らに、アナログ発振器を使用して発生された刺激信号は
限られた種類の離散周波数しか利用できない。
部などの受動部品は、適切な刺激信号をテスト中の装置
（ＤＵＴ）に与え、電圧および／または電流などの回路
パラメータを測定することによってテストできる。先行
技術のテスト装置の１つの問題は、測定できる容量値の
範囲が制限されていることである。以下に説明するハン
トロン（Huntron ）器具などの先行技術の装置はテスト
刺激信号源としてアナログ発振器を使用するために、そ
の刺激周波数範囲は制限される。したがって、多くのア
プリケーションで実際的ではない高電圧刺激源を使用す
ることなく高容量部品をテストすることはできない。さ
らに、アナログ発振器を使用して発生された刺激信号は
限られた種類の離散周波数しか利用できない。
【０００３】リサジュ（Lissajous ）パターンなどの部
品テストデータのグラフィック表示は多くのアプリケー
ションで特に有用である。しかしながら、先行技術で
は、そのようなパターンを発生するためにはオシロスコ
ープなどの複雑でかつ高価な装置が必要とされる。たと
えば、オシロスコープを使用して、電圧データを獲得す
るためにＸチャネルが使用可能であるが、一方電流デー
タを獲得するためにはＹチャネルが使用される。表示を
同期化するための共通トリガとともにＸ対Ｙを表示する
ことによって、リサジュパターンなどを発生できる。こ
れは単一チャネル「フロントエンド」しか有さないデジ
タルマルチメータ（ＤＭＭ）などのより単純なハンドヘ
ルド器具では可能ではない。
品テストデータのグラフィック表示は多くのアプリケー
ションで特に有用である。しかしながら、先行技術で
は、そのようなパターンを発生するためにはオシロスコ
ープなどの複雑でかつ高価な装置が必要とされる。たと
えば、オシロスコープを使用して、電圧データを獲得す
るためにＸチャネルが使用可能であるが、一方電流デー
タを獲得するためにはＹチャネルが使用される。表示を
同期化するための共通トリガとともにＸ対Ｙを表示する
ことによって、リサジュパターンなどを発生できる。こ
れは単一チャネル「フロントエンド」しか有さないデジ
タルマルチメータ（ＤＭＭ）などのより単純なハンドヘ
ルド器具では可能ではない。
【０００４】「ハントロントラッカ」として商業的に知
られている半導体テスト器具については米国特許第4,07
4,195 号に開示されている。この器具は半導体接合部の
動作状態を決定し、その接合部の特性を表わす跡を表示
するために使用される。ハントロン型の装置に伴う問題
の１つは、この装置がある範囲のＡＣテスト刺激信号を
与えるためにマルチタップ変圧器および分圧器を必要と
することである。つまり、この先行技術は１組の垂直分
圧器を駆動して、表示の垂直偏向用のテスト信号を与え
るとともに、１組の水平分圧器を駆動して、表示の水平
偏向用のテスト信号を与える変圧器について教示してい
る。’１９５号特許の図１および第４欄を参照された
い。’１９５号のシステムはしたがって動作用の一定の
ＡＣ電力、重量の変圧器、およびオシロスコープのよう
な２チャネル（垂直および水平）高電圧表示システムを
必要とする。したがって、この技術はたとえば修理技術
者による現場での使用に望ましい軽量のポータブルテス
ト装置では役立たない。
られている半導体テスト器具については米国特許第4,07
4,195 号に開示されている。この器具は半導体接合部の
動作状態を決定し、その接合部の特性を表わす跡を表示
するために使用される。ハントロン型の装置に伴う問題
の１つは、この装置がある範囲のＡＣテスト刺激信号を
与えるためにマルチタップ変圧器および分圧器を必要と
することである。つまり、この先行技術は１組の垂直分
圧器を駆動して、表示の垂直偏向用のテスト信号を与え
るとともに、１組の水平分圧器を駆動して、表示の水平
偏向用のテスト信号を与える変圧器について教示してい
る。’１９５号特許の図１および第４欄を参照された
い。’１９５号のシステムはしたがって動作用の一定の
ＡＣ電力、重量の変圧器、およびオシロスコープのよう
な２チャネル（垂直および水平）高電圧表示システムを
必要とする。したがって、この技術はたとえば修理技術
者による現場での使用に望ましい軽量のポータブルテス
ト装置では役立たない。
【０００５】したがって、高電力または嵩張った装置を
必要とせず、なおかつ最小のコストで広範囲および高精
度を与える部品テストのための新しい方法および装置を
提供する必要性が残る。
必要とせず、なおかつ最小のコストで広範囲および高精
度を与える部品テストのための新しい方法および装置を
提供する必要性が残る。
【０００６】
【発明の概要】この発明の目的は、高電圧回路の複雑さ
を伴わずにより広い範囲の容量テストを可能にする可変
周波数高精度テスト刺激信号源を提供することである。
を伴わずにより広い範囲の容量テストを可能にする可変
周波数高精度テスト刺激信号源を提供することである。
【０００７】この発明の他の目的は、小さいポータブル
のテスト器具を使用して受動部品およびｐ−ｎ接合部の
迅速な回路内テストのための電流対電圧のグラフィック
表示を与えることである。
のテスト器具を使用して受動部品およびｐ−ｎ接合部の
迅速な回路内テストのための電流対電圧のグラフィック
表示を与えることである。
【０００８】この発明の他の目的はユーザがテスト刺激
信号の所望の周波数を選択することを可能にすることで
ある。
信号の所望の周波数を選択することを可能にすることで
ある。
【０００９】部品テストのための新しい実例をここに説
明する。これは改良された精度およびより大きな柔軟性
を与え、かつ同時に重量の変圧器および高電圧表示シス
テムに対する必要性を完全になくす。さらに、この発明
はポータブルのデジタルマルチメータ型のテスト器具で
実現され得る部品テストシステムを含み、新しいグラフ
ィック表示を与える。この新しい方法および装置は、多
くの現場の技術者、修理人およびエンジニアによく知ら
れている、大きな回転機能スイッチに基づく、単純なマ
ルチメータ型のユーザインタフェースと互換性がある。
したがって、ユーザ訓練要求は非常に小さい。
明する。これは改良された精度およびより大きな柔軟性
を与え、かつ同時に重量の変圧器および高電圧表示シス
テムに対する必要性を完全になくす。さらに、この発明
はポータブルのデジタルマルチメータ型のテスト器具で
実現され得る部品テストシステムを含み、新しいグラフ
ィック表示を与える。この新しい方法および装置は、多
くの現場の技術者、修理人およびエンジニアによく知ら
れている、大きな回転機能スイッチに基づく、単純なマ
ルチメータ型のユーザインタフェースと互換性がある。
したがって、ユーザ訓練要求は非常に小さい。
【００１０】この発明の別の局面はテスト刺激波形のデ
ジタル合成を使用することである。これは高精度および
低電力要求という利点を有し、その結果この発明はここ
に開示されるようなコンパクトでポータブルの電池駆動
のテスト器具において具体化され得る。デジタル合成は
広範囲の周波数のＡＣテスト刺激信号を可能にし、その
結果キャパシタなどの広範囲の部品を高電圧を使用せず
にテストできる。
ジタル合成を使用することである。これは高精度および
低電力要求という利点を有し、その結果この発明はここ
に開示されるようなコンパクトでポータブルの電池駆動
のテスト器具において具体化され得る。デジタル合成は
広範囲の周波数のＡＣテスト刺激信号を可能にし、その
結果キャパシタなどの広範囲の部品を高電圧を使用せず
にテストできる。
【００１１】この発明の他の局面は、単一チャネル「フ
ロントエンド」のみを使用して電圧および電流テストス
キャンデータの双方を獲得することである。先行技術は
独立した垂直および水平入力チャネル、アンプ、偏向回
路などを必要とする。これら２つのチャネルは共通トリ
ガによって同期され、先行技術では並列に、つまり同時
に動作してリサジュ表示を発生する。この発明に従っ
て、たった１つの「フロントエンド」チャネルを使用す
ることによってこの冗長性の大半は排除される。垂直お
よび水平スキャン、たとえば電圧および電流スキャンは
実際には一度に１つ実行される。しかしながら、獲得さ
れたデータを同期するために精密なデジタルトリガが使
用され、２つのチャネルが使用されているかのようにリ
サジュ表示パターンを発生する。つまり、テスト周期刺
激波形はデジタル的に合成され、合成回路によってトリ
ガ信号が与えられ、刺激波形の各サイクルの開始点に対
する予め定められたトリガ点を非常に正確に表示する。
このトリガ信号は電圧スキャンデータの獲得を開始する
ために使用される。第１のスキャンが完了した（かつデ
ータがストアされた）後、同じトリガ信号が電流スキャ
ンデータの獲得を再トリガするために使用される。電流
スキャンはしたがって刺激波形の後のサイクルの開始点
に対して同じトリガ点で始まる。獲得されたデータはデ
ジタル形式でストアされ、直交方向に同時に表示され、
リサジュパターンを形成する。
ロントエンド」のみを使用して電圧および電流テストス
キャンデータの双方を獲得することである。先行技術は
独立した垂直および水平入力チャネル、アンプ、偏向回
路などを必要とする。これら２つのチャネルは共通トリ
ガによって同期され、先行技術では並列に、つまり同時
に動作してリサジュ表示を発生する。この発明に従っ
て、たった１つの「フロントエンド」チャネルを使用す
ることによってこの冗長性の大半は排除される。垂直お
よび水平スキャン、たとえば電圧および電流スキャンは
実際には一度に１つ実行される。しかしながら、獲得さ
れたデータを同期するために精密なデジタルトリガが使
用され、２つのチャネルが使用されているかのようにリ
サジュ表示パターンを発生する。つまり、テスト周期刺
激波形はデジタル的に合成され、合成回路によってトリ
ガ信号が与えられ、刺激波形の各サイクルの開始点に対
する予め定められたトリガ点を非常に正確に表示する。
このトリガ信号は電圧スキャンデータの獲得を開始する
ために使用される。第１のスキャンが完了した（かつデ
ータがストアされた）後、同じトリガ信号が電流スキャ
ンデータの獲得を再トリガするために使用される。電流
スキャンはしたがって刺激波形の後のサイクルの開始点
に対して同じトリガ点で始まる。獲得されたデータはデ
ジタル形式でストアされ、直交方向に同時に表示され、
リサジュパターンを形成する。
【００１２】この発明の別の局面はテストデータのグラ
フィック表示を与えるための手段を含むデジタルマルチ
メータ（ＤＭＭ）である。特に、改良されたＤＭＭは部
品テスト動作モードを含み、このモードで、ＤＭＭはオ
シロスコープなどの複雑な装置および精密なテスト手順
を使用することなく、高速部品識別およびスクリーニン
グのためのリサジュ型パターンを表示する。電子工学の
技術者または修理者は、特別な訓練またはテストセット
アップなしに改良されたＤＭＭを部品テストモードで直
ちに使用できる。部品テストモードは従来の電圧または
インピーダンス測定が行なわれるのと同じ態様で回転機
能スイッチを使用して選択され得る。結果として生じる
表示パターンは部品識別用の素早い視覚フィードバック
またはトラブルシューティング用の単純な優／劣判定を
与える。
フィック表示を与えるための手段を含むデジタルマルチ
メータ（ＤＭＭ）である。特に、改良されたＤＭＭは部
品テスト動作モードを含み、このモードで、ＤＭＭはオ
シロスコープなどの複雑な装置および精密なテスト手順
を使用することなく、高速部品識別およびスクリーニン
グのためのリサジュ型パターンを表示する。電子工学の
技術者または修理者は、特別な訓練またはテストセット
アップなしに改良されたＤＭＭを部品テストモードで直
ちに使用できる。部品テストモードは従来の電圧または
インピーダンス測定が行なわれるのと同じ態様で回転機
能スイッチを使用して選択され得る。結果として生じる
表示パターンは部品識別用の素早い視覚フィードバック
またはトラブルシューティング用の単純な優／劣判定を
与える。
【００１３】この発明の他の局面は、ＡＣテスト刺激信
号の周波数を増大させることによってハイインピーダン
ス無効回路または回路素子を提供テストするための方法
および装置を提供することである。これは範囲および精
度を犠牲にすることなく低電圧テスト信号の使用を可能
にするという利点を有する。テスト刺激信号は好ましい
実施例においてデジタル的に合成され、その周波数は適
切な周波数クロック信号を合成器回路に与えることによ
って選択され得る。たとえば、以下に説明する一実施例
では、この発明に従うテスト器具は数十の範囲にわたっ
て、たとえば７２００ｐＦから７２μＦにわたって容量
を測定することができる。電圧ではなく刺激波形の周波
数が変化するので、この器具は携帯用に電池電源で動作
できる。刺激波形は２、３ボルトのオーダの固定振幅を
有する。
号の周波数を増大させることによってハイインピーダン
ス無効回路または回路素子を提供テストするための方法
および装置を提供することである。これは範囲および精
度を犠牲にすることなく低電圧テスト信号の使用を可能
にするという利点を有する。テスト刺激信号は好ましい
実施例においてデジタル的に合成され、その周波数は適
切な周波数クロック信号を合成器回路に与えることによ
って選択され得る。たとえば、以下に説明する一実施例
では、この発明に従うテスト器具は数十の範囲にわたっ
て、たとえば７２００ｐＦから７２μＦにわたって容量
を測定することができる。電圧ではなく刺激波形の周波
数が変化するので、この器具は携帯用に電池電源で動作
できる。刺激波形は２、３ボルトのオーダの固定振幅を
有する。
【００１４】この発明は前述の局面を組合せ、軽量でポ
ータブルの、そうでなければＤＭＭに類似のテスト器具
においてグラフィック出力を含む部品テスト機能を提供
する。
ータブルの、そうでなければＤＭＭに類似のテスト器具
においてグラフィック出力を含む部品テスト機能を提供
する。
【００１５】この発明の前述および他の目的、特徴なら
びに利点は、図面を参照して行なわれる好ましい実施例
の以下の詳細な説明から容易に明らかになるであろう。
びに利点は、図面を参照して行なわれる好ましい実施例
の以下の詳細な説明から容易に明らかになるであろう。
【００１６】
Ｉ．システム概観 図１および図２は併せてこの発明の局面を具体化するテ
スト器具の一般的なブロック図を形成する。このテスト
器具はその機能のいくつかにおいて既知のデジタルマル
チメータに類似している。たとえば、この器具は以下に
説明されるように電圧、電流またはインピーダンスを測
定するために使用可能である。加えて、この器具は特に
部品テストに向けられた、以下に説明するような新しい
特徴、回路および動作方法を組込む。部品テスト局面は
全体のシステム装置および動作と相互に関連しているの
で、まずこの器具について一般に説明する。この器具は
一般にフロントエンド、データ獲得部、制御／メモリ部
および表示部を含み、各々について以下に順に説明す
る。
スト器具の一般的なブロック図を形成する。このテスト
器具はその機能のいくつかにおいて既知のデジタルマル
チメータに類似している。たとえば、この器具は以下に
説明されるように電圧、電流またはインピーダンスを測
定するために使用可能である。加えて、この器具は特に
部品テストに向けられた、以下に説明するような新しい
特徴、回路および動作方法を組込む。部品テスト局面は
全体のシステム装置および動作と相互に関連しているの
で、まずこの器具について一般に説明する。この器具は
一般にフロントエンド、データ獲得部、制御／メモリ部
および表示部を含み、各々について以下に順に説明す
る。
【００１７】［フロントエンド部］図１を参照して、こ
のテスト器具の「フロントエンド」部は、従来のよう
に、テスト中の装置（ＤＵＴ）を適切なテストリードま
たはプローブ（図示せず）を経て器具に結合するための
１対の端子３６、４０を含む。たとえば、ＡＣまたはＤ
Ｃ電圧を測定するために、選択された回路ノードまたは
ＤＵＴに１つのリードが接続され、端子４０と回路接地
またはＤＵＴの反対側との間に第２のリードが接続され
る。ＤＣ電圧測定に対しては、端子３６で与えられる入
力電圧は保護回路３４を通って（高電圧経路か低電圧経
路のいずれかを経て）ＤＣ入力減衰回路６２へいく。こ
の器具がＤＣ電圧メータとして動作するようにセットさ
れた場合には、減衰されたＤＣ入力信号はＤＣフィルタ
６４およびマルチプレクサ６６を通ってアナログ−デジ
タルコンバータＡ／Ｄ６８へいき、デジタル形式に変換
される。その結果の表示については以下に論じる。
のテスト器具の「フロントエンド」部は、従来のよう
に、テスト中の装置（ＤＵＴ）を適切なテストリードま
たはプローブ（図示せず）を経て器具に結合するための
１対の端子３６、４０を含む。たとえば、ＡＣまたはＤ
Ｃ電圧を測定するために、選択された回路ノードまたは
ＤＵＴに１つのリードが接続され、端子４０と回路接地
またはＤＵＴの反対側との間に第２のリードが接続され
る。ＤＣ電圧測定に対しては、端子３６で与えられる入
力電圧は保護回路３４を通って（高電圧経路か低電圧経
路のいずれかを経て）ＤＣ入力減衰回路６２へいく。こ
の器具がＤＣ電圧メータとして動作するようにセットさ
れた場合には、減衰されたＤＣ入力信号はＤＣフィルタ
６４およびマルチプレクサ６６を通ってアナログ−デジ
タルコンバータＡ／Ｄ６８へいき、デジタル形式に変換
される。その結果の表示については以下に論じる。
【００１８】ＡＣ測定については、端子３６で生じる入
力信号は保護回路３４を経てＡＣ入力減衰回路７０へ送
られる。減衰回路７０の出力はＲＭＳコンバータ７２を
経てマルチプレクサ６６に結合される。ＡＣメータ動作
の間、マルチプレクサ６６はＲＭＳ ＡＣ信号をＡ／Ｄ
コンバータ６８に結合する。電流測定については、１つ
以上の付加的な端子、たとえば端子７６（共通端子４０
ではなく）が使用され、第２のリードを電流切換回路５
２に接続する。入力減衰およびメータ動作についてのさ
らなる説明はこの発明を理解するために必要ではないの
で省略する。フロントエンドはまた以下に詳細に説明さ
れるテスト刺激波形を与えるための部品テスト源回路８
０を含む。
力信号は保護回路３４を経てＡＣ入力減衰回路７０へ送
られる。減衰回路７０の出力はＲＭＳコンバータ７２を
経てマルチプレクサ６６に結合される。ＡＣメータ動作
の間、マルチプレクサ６６はＲＭＳ ＡＣ信号をＡ／Ｄ
コンバータ６８に結合する。電流測定については、１つ
以上の付加的な端子、たとえば端子７６（共通端子４０
ではなく）が使用され、第２のリードを電流切換回路５
２に接続する。入力減衰およびメータ動作についてのさ
らなる説明はこの発明を理解するために必要ではないの
で省略する。フロントエンドはまた以下に詳細に説明さ
れるテスト刺激波形を与えるための部品テスト源回路８
０を含む。
【００１９】［データ獲得部］部品テストに関連する局
面に力点をおいて、データ獲得部について次に説明す
る。テスト器具が部品テスト機能に切換えられると、部
品テスト源回路８０は活性化され、周期テスト刺激信号
を与える。この刺激信号は保護回路３４を介して出力さ
れ、端子３６を介してＤＵＴ３８（図３）に与えられ
る。電圧スキャン（以下にさらに説明する）の間、端子
３６は保護回路３４を介してＤＣ入力減衰回路６２に結
合され、その端子における電圧を測定する。「ＤＣ」と
表示された減衰回路６２の出力は組合せ回路８２（図２
参照）に結合される。組合せ回路８２から、ＤＣ信号が
フィルタ回路８４に入力される。ＡＣ入力電圧または信
号は保護回路３４を通ってＡＣ入力減衰回路７０（図
１）にいき、「ＡＣ」と表示されたその出力はフィルタ
回路８４（図２）に結合される。
面に力点をおいて、データ獲得部について次に説明す
る。テスト器具が部品テスト機能に切換えられると、部
品テスト源回路８０は活性化され、周期テスト刺激信号
を与える。この刺激信号は保護回路３４を介して出力さ
れ、端子３６を介してＤＵＴ３８（図３）に与えられ
る。電圧スキャン（以下にさらに説明する）の間、端子
３６は保護回路３４を介してＤＣ入力減衰回路６２に結
合され、その端子における電圧を測定する。「ＤＣ」と
表示された減衰回路６２の出力は組合せ回路８２（図２
参照）に結合される。組合せ回路８２から、ＤＣ信号が
フィルタ回路８４に入力される。ＡＣ入力電圧または信
号は保護回路３４を通ってＡＣ入力減衰回路７０（図
１）にいき、「ＡＣ」と表示されたその出力はフィルタ
回路８４（図２）に結合される。
【００２０】組合せ回路８２およびフィルタ回路８４は
このように端子信号のＡＣおよびＤＣ電圧成分を再結合
し、結合された信号はフラッシュＡ／Ｄコンバータ６０
に入力されてデジタル形式に変換される。フラッシュＡ
／Ｄは以下にさらに説明されるように、相対的に速いク
ロックによって駆動される。結果として生じるデジタル
値はデータバス９０を介して伝送され、獲得メモリ９２
にストアされるが、これについても以下にさらに説明す
る。
このように端子信号のＡＣおよびＤＣ電圧成分を再結合
し、結合された信号はフラッシュＡ／Ｄコンバータ６０
に入力されてデジタル形式に変換される。フラッシュＡ
／Ｄは以下にさらに説明されるように、相対的に速いク
ロックによって駆動される。結果として生じるデジタル
値はデータバス９０を介して伝送され、獲得メモリ９２
にストアされるが、これについても以下にさらに説明す
る。
【００２１】部品テストはまた以下のような電流測定デ
ータを獲得することを含む。部品テストモードの間、共
通端子４０は部品テスト電流−電圧変換回路４２に結合
される。結果として生じる電圧（電流を表わす）はＤＣ
入力減衰回路６２およびＡＣ入力減衰回路７０の双方に
結合される。代替の実施例では、これらの電圧は保護回
路３４を介して減衰回路に送られ得る。（なお電圧およ
び電流測定は同時に行なわれない。したがって、フロン
トエンドの部分は両方の機能に使用される。）ＤＣおよ
びＡＣ電圧信号は組合され、フィルタリングされ、かつ
部品テスト電圧測定の場合には上述のようにデジタル形
式に変換される。結果として生じるデジタル電流データ
もまたデータバス９０を介して与えられ、獲得ＲＡＭ９
２にストアされる。獲得ＲＡＭ９２は現在好ましい実施
例では５１２×８ビットの総サイズを有するランダムア
クセスメモリである。データ獲得部の動作についてはパ
ートＩＩＩでより詳細に説明する。
ータを獲得することを含む。部品テストモードの間、共
通端子４０は部品テスト電流−電圧変換回路４２に結合
される。結果として生じる電圧（電流を表わす）はＤＣ
入力減衰回路６２およびＡＣ入力減衰回路７０の双方に
結合される。代替の実施例では、これらの電圧は保護回
路３４を介して減衰回路に送られ得る。（なお電圧およ
び電流測定は同時に行なわれない。したがって、フロン
トエンドの部分は両方の機能に使用される。）ＤＣおよ
びＡＣ電圧信号は組合され、フィルタリングされ、かつ
部品テスト電圧測定の場合には上述のようにデジタル形
式に変換される。結果として生じるデジタル電流データ
もまたデータバス９０を介して与えられ、獲得ＲＡＭ９
２にストアされる。獲得ＲＡＭ９２は現在好ましい実施
例では５１２×８ビットの総サイズを有するランダムア
クセスメモリである。データ獲得部の動作についてはパ
ートＩＩＩでより詳細に説明する。
【００２２】［制御およびメモリ部］図２を参照して、
マイクロプロセッサ１３０はアドレスバス１０２および
データバス１０４に結合される。獲得ＲＡＭ９２もまた
このアドレスおよびデータバスに結合される。マイクロ
プロセッサ１３０および適切なソフトウエアの制御下
で、一時的に獲得ＲＡＭ９２にストアされたスキャンデ
ータはデータバス１０４を介してシステムメモリＳＲＡ
Ｍ１３４に転送される。アドレスおよびデータバスはま
た状態および制御レジスタ９５、ＥＥＰＲＯＭ１３６お
よびリードオンリメモリ（ＲＯＭ）１３２に結合され
る。ＥＥＰＲＯＭおよびＲＯＭは以下にさらに説明され
るソフトウエアをストアするために使用される。共通ア
ドレスおよびデータバス１０２、１０４はまたＬＣＤ
（液晶表示）コントローラ１３８に結合され、ストアさ
れたデータを次に説明するＬＣＤモジュール１４０上に
表示する。
マイクロプロセッサ１３０はアドレスバス１０２および
データバス１０４に結合される。獲得ＲＡＭ９２もまた
このアドレスおよびデータバスに結合される。マイクロ
プロセッサ１３０および適切なソフトウエアの制御下
で、一時的に獲得ＲＡＭ９２にストアされたスキャンデ
ータはデータバス１０４を介してシステムメモリＳＲＡ
Ｍ１３４に転送される。アドレスおよびデータバスはま
た状態および制御レジスタ９５、ＥＥＰＲＯＭ１３６お
よびリードオンリメモリ（ＲＯＭ）１３２に結合され
る。ＥＥＰＲＯＭおよびＲＯＭは以下にさらに説明され
るソフトウエアをストアするために使用される。共通ア
ドレスおよびデータバス１０２、１０４はまたＬＣＤ
（液晶表示）コントローラ１３８に結合され、ストアさ
れたデータを次に説明するＬＣＤモジュール１４０上に
表示する。
【００２３】［表示部］好ましい実施例では、グラフィ
ック表示は液晶表示装置によって与えられ、さまざまな
装置が市販されている。ＬＣＤは他の表示技術に比べて
丈夫さ、低コストおよび低電力要求という利点を有す
る。しかしながら、画素−アドレス指定可能な表示手段
であれば何でも使用可能である。この発明に適したＬＣ
Ｄはトランスフレクティブつまり反射性があり、任意に
バックライトをあてることができる。ポータブルテスト
器具におけるこの発明の１つの商業的な実施例では、Ｌ
ＣＤモジュール１４０は合計で２００画素（垂直）×２
４０画素（水平）を有する。リサジュパターンなどのグ
ラフィック表示のためには垂直に１２８画素しか使用さ
れない（垂直はボルトに対応する）。したがって、デー
タの７つの最上位ビット（ｍｓｂ）しか使用されない。
これにより表示のグラフィック部分の上または下に、メ
ータ動作モード、スケーリングなどの他のテキストまた
は数値情報の表示のための空間が残る。水平表示につい
ては、２５６のレベル（８ビット）がストアされ表示さ
れる。しかしながら、実際には、データはフルスケール
に達しないので２４０の水平画素が適切である。表示は
フルスケールの約８０パーセントにわたって中心決めさ
れる。したがって、表示のグラフィック部は測定すると
高さが１２８画素で幅が１８０画素である。図５を参照
して、フロントパネル２００は説明されたタイプの液晶
表示１４０を有する。表示のグラフィック部２３０は上
述のように形成されたリサジュパターン２４０を示す。
表示の他の特徴については後に説明する。
ック表示は液晶表示装置によって与えられ、さまざまな
装置が市販されている。ＬＣＤは他の表示技術に比べて
丈夫さ、低コストおよび低電力要求という利点を有す
る。しかしながら、画素−アドレス指定可能な表示手段
であれば何でも使用可能である。この発明に適したＬＣ
Ｄはトランスフレクティブつまり反射性があり、任意に
バックライトをあてることができる。ポータブルテスト
器具におけるこの発明の１つの商業的な実施例では、Ｌ
ＣＤモジュール１４０は合計で２００画素（垂直）×２
４０画素（水平）を有する。リサジュパターンなどのグ
ラフィック表示のためには垂直に１２８画素しか使用さ
れない（垂直はボルトに対応する）。したがって、デー
タの７つの最上位ビット（ｍｓｂ）しか使用されない。
これにより表示のグラフィック部分の上または下に、メ
ータ動作モード、スケーリングなどの他のテキストまた
は数値情報の表示のための空間が残る。水平表示につい
ては、２５６のレベル（８ビット）がストアされ表示さ
れる。しかしながら、実際には、データはフルスケール
に達しないので２４０の水平画素が適切である。表示は
フルスケールの約８０パーセントにわたって中心決めさ
れる。したがって、表示のグラフィック部は測定すると
高さが１２８画素で幅が１８０画素である。図５を参照
して、フロントパネル２００は説明されたタイプの液晶
表示１４０を有する。表示のグラフィック部２３０は上
述のように形成されたリサジュパターン２４０を示す。
表示の他の特徴については後に説明する。
【００２４】ＩＩ．テスト刺激波形の直接デジタル合成 ［ハードウエア］図３は図１および図２のテスト器具の
選択された部分の図であり、テスト刺激波形の直接デジ
タル合成の実現例を示す。図３は一般に図１の「部品テ
スト源」８０に対応する。デジタル合成は正弦波などの
可変周波数反復信号を発生するための技術である。しか
しながら、開示された装置は階段または任意の波形など
の他の波形を発生するために使用され得る。
選択された部分の図であり、テスト刺激波形の直接デジ
タル合成の実現例を示す。図３は一般に図１の「部品テ
スト源」８０に対応する。デジタル合成は正弦波などの
可変周波数反復信号を発生するための技術である。しか
しながら、開示された装置は階段または任意の波形など
の他の波形を発生するために使用され得る。
【００２５】ここで図３を参照して、デジタル合成モジ
ュール１１０はデジタル−アナログコンバータＤ／Ａ１
３３にデジタル形式で、つまり一連のデジタル値として
テスト刺激信号を与える。Ｄ／Ａ１３３はこれらの値を
変換して対応のアナログテスト信号を形成し、これがひ
いては上述のように端子３６を介してテスト中の装置Ｄ
ＵＴ３８に出力される。モジュール１１０では、Ｃ−Ｔ
ＥＳＴ ＣＬＯＣＫと呼ばれるクロック入力信号が８ビ
ットカウンタ１１２に与えられる。カウンタ１１２は以
下にさらに説明されるように全刺激発生器回路を制御す
る。Ｃ−ＴＥＳＴ ＣＬＯＣＫはユーザ選択テスト刺激
信号周波数の２５６倍に等しい周波数を有する。（Ｃ−
ＴＥＳＴ ＣＬＯＣＫ源については後に説明する。）カ
ウンタ１１２は制御論理ブロック１１４に結合され、こ
れはＵＰまたはＤＯＷＮカウントモードを選択すること
によって６ビットアップ／ダウンカウンタ１１５を制御
する。アップ／ダウンカウンタ１１５はクロック信号線
１１３を経て部品テストクロック入力信号を受信する。
応じて、カウンタ１１２およびアップ／ダウンカウンタ
１１５は同じ速度でカウントするが、カウンタ１１２は
あと２つビットを有するので、あと４つ状態を有する。
これら４つの状態は合成されたテスト刺激信号の四分円
に対応する。
ュール１１０はデジタル−アナログコンバータＤ／Ａ１
３３にデジタル形式で、つまり一連のデジタル値として
テスト刺激信号を与える。Ｄ／Ａ１３３はこれらの値を
変換して対応のアナログテスト信号を形成し、これがひ
いては上述のように端子３６を介してテスト中の装置Ｄ
ＵＴ３８に出力される。モジュール１１０では、Ｃ−Ｔ
ＥＳＴ ＣＬＯＣＫと呼ばれるクロック入力信号が８ビ
ットカウンタ１１２に与えられる。カウンタ１１２は以
下にさらに説明されるように全刺激発生器回路を制御す
る。Ｃ−ＴＥＳＴ ＣＬＯＣＫはユーザ選択テスト刺激
信号周波数の２５６倍に等しい周波数を有する。（Ｃ−
ＴＥＳＴ ＣＬＯＣＫ源については後に説明する。）カ
ウンタ１１２は制御論理ブロック１１４に結合され、こ
れはＵＰまたはＤＯＷＮカウントモードを選択すること
によって６ビットアップ／ダウンカウンタ１１５を制御
する。アップ／ダウンカウンタ１１５はクロック信号線
１１３を経て部品テストクロック入力信号を受信する。
応じて、カウンタ１１２およびアップ／ダウンカウンタ
１１５は同じ速度でカウントするが、カウンタ１１２は
あと２つビットを有するので、あと４つ状態を有する。
これら４つの状態は合成されたテスト刺激信号の四分円
に対応する。
【００２６】アップ／ダウンカウンタ１１５は６ビット
アドレスをルックアップテーブル１１８に供給し、この
テーブルはＲＯＭ、ＥＰＲＯＭまたは他の不揮発性メモ
リなどのメモリにストアされ得る。好ましい実施例で
は、ルックアップ機能は真のメモリではなく組合せ論理
によって与えられる。この戦略は真のＲＯＭテーブルよ
り少ないゲートを必要とするので、デジタルＡＳＩＣな
どの集積回路での実現に有利である。アップ／ダウンカ
ウンタ１１５からのアドレスビットはルックアップテー
ブルの６４の予め定められた値に順次アクセスするため
に使用される。たとえば、所望されるテスト波形が正弦
波であれば、６４のストアされた値はゼロ交差から始め
て正弦波の１つの四分円を形成する。好ましい実施例で
は、ルックアップテーブルは各々が７ビットの６４のワ
ードを与え、各ワードは四分の一正弦波データの７つの
最下位ビットを含む。カウンタ１１２のオーバフロー出
力は部品テスト（“Ｃ−ＴＥＳＴ”）トリガ信号を与え
る。この信号は、以下にさらに説明されるように、テス
ト刺激波形のサイクルごとに１回アサートされる。Ｃ−
ＴＥＳＴ ＴＲＩＧＧＥＲ信号は電流および電圧スキャ
ンの双方に正確なトリガ点を与える。
アドレスをルックアップテーブル１１８に供給し、この
テーブルはＲＯＭ、ＥＰＲＯＭまたは他の不揮発性メモ
リなどのメモリにストアされ得る。好ましい実施例で
は、ルックアップ機能は真のメモリではなく組合せ論理
によって与えられる。この戦略は真のＲＯＭテーブルよ
り少ないゲートを必要とするので、デジタルＡＳＩＣな
どの集積回路での実現に有利である。アップ／ダウンカ
ウンタ１１５からのアドレスビットはルックアップテー
ブルの６４の予め定められた値に順次アクセスするため
に使用される。たとえば、所望されるテスト波形が正弦
波であれば、６４のストアされた値はゼロ交差から始め
て正弦波の１つの四分円を形成する。好ましい実施例で
は、ルックアップテーブルは各々が７ビットの６４のワ
ードを与え、各ワードは四分の一正弦波データの７つの
最下位ビットを含む。カウンタ１１２のオーバフロー出
力は部品テスト（“Ｃ−ＴＥＳＴ”）トリガ信号を与え
る。この信号は、以下にさらに説明されるように、テス
ト刺激波形のサイクルごとに１回アサートされる。Ｃ−
ＴＥＳＴ ＴＲＩＧＧＥＲ信号は電流および電圧スキャ
ンの双方に正確なトリガ点を与える。
【００２７】ルックアップテーブル１１８は１連の７ビ
ット値をデジタル補足器回路１２０に与える。デジタル
補足器回路１２０は、制御論理１１４からの入力に依存
して、ルックアップテーブル１１８出力を補足またはバ
ッファする。結果として生じる値は、カウンタ１１２か
らの反転された最上位ビットとともに、入力として８ビ
ットデジタル−アナログコンバータＤＡＣ１３３に与え
られる。ここで図１および図２とともに図３を参照し
て、破線１３１によって示されたインタフェース回路
は、図１および図２に共通の素子とともにＤＡＣ１３３
を含む。このように、保護回路３４および端子３６は合
成されたテスト刺激信号をＤＵＴ３８に結合するように
示される。ＤＵＴはまた入力端子４０に結合される。Ｄ
ＵＴを流れる電流は部品テスト電流−電圧変換回路４２
で電圧に変換され、電流スキャンの間ノード１４４で代
表的な電圧を形成する。端子３６の刺激信号はまた抵抗
器１４６を介して結合され、ノード１４８で刺激電圧を
与える。ノード１４４および１４８は入力マルチプレク
サ１４９のそれぞれの入力に結合され、一度にこれらの
信号のうちの１つを選択する。選択された信号はマルチ
プレクサ１４９からフラッシュＡ／Ｄコンバータ６０に
出力される。
ット値をデジタル補足器回路１２０に与える。デジタル
補足器回路１２０は、制御論理１１４からの入力に依存
して、ルックアップテーブル１１８出力を補足またはバ
ッファする。結果として生じる値は、カウンタ１１２か
らの反転された最上位ビットとともに、入力として８ビ
ットデジタル−アナログコンバータＤＡＣ１３３に与え
られる。ここで図１および図２とともに図３を参照し
て、破線１３１によって示されたインタフェース回路
は、図１および図２に共通の素子とともにＤＡＣ１３３
を含む。このように、保護回路３４および端子３６は合
成されたテスト刺激信号をＤＵＴ３８に結合するように
示される。ＤＵＴはまた入力端子４０に結合される。Ｄ
ＵＴを流れる電流は部品テスト電流−電圧変換回路４２
で電圧に変換され、電流スキャンの間ノード１４４で代
表的な電圧を形成する。端子３６の刺激信号はまた抵抗
器１４６を介して結合され、ノード１４８で刺激電圧を
与える。ノード１４４および１４８は入力マルチプレク
サ１４９のそれぞれの入力に結合され、一度にこれらの
信号のうちの１つを選択する。選択された信号はマルチ
プレクサ１４９からフラッシュＡ／Ｄコンバータ６０に
出力される。
【００２８】［デジタルテスト信号合成の動作］ここで
図３および図４を参照して、デジタル的に合成されたテ
スト信号波形１５０の例が示される。第１の四分円１５
２の間、カウンタ１１２およびアップ／ダウンカウンタ
１１５が同期してカウントアップし、カウンタ１１２の
最上位ビットはゼロである（ｍｓｂ＝０）。アップ／ダ
ウンカウンタ１１５は一連の６４のアドレスをルックア
ップテーブル１１８に出力し、結果として生じる一連の
デジタル値は前に示されたようにＤＡＣ１３３に送られ
る。この一連の値は、アナログ電圧レベルに変換され、
波形１５０の第１の四分円を形成する。制御論理１１４
はカウンタ１１２のｍｓｂを受取り、それに応答してデ
ジタル補足器１２０をオフにセットする。つまり、補足
器への入力信号は補足なしに出力（Ｄ／Ａ１３３）に送
られる。これは第１および第２の四分円の間に当てはま
る。
図３および図４を参照して、デジタル的に合成されたテ
スト信号波形１５０の例が示される。第１の四分円１５
２の間、カウンタ１１２およびアップ／ダウンカウンタ
１１５が同期してカウントアップし、カウンタ１１２の
最上位ビットはゼロである（ｍｓｂ＝０）。アップ／ダ
ウンカウンタ１１５は一連の６４のアドレスをルックア
ップテーブル１１８に出力し、結果として生じる一連の
デジタル値は前に示されたようにＤＡＣ１３３に送られ
る。この一連の値は、アナログ電圧レベルに変換され、
波形１５０の第１の四分円を形成する。制御論理１１４
はカウンタ１１２のｍｓｂを受取り、それに応答してデ
ジタル補足器１２０をオフにセットする。つまり、補足
器への入力信号は補足なしに出力（Ｄ／Ａ１３３）に送
られる。これは第１および第２の四分円の間に当てはま
る。
【００２９】第２の四分円１５４の間、正弦波は第１の
四半分と同じ値を有するが、それらは逆の順序で生じ
る。これを達成するために、アップ／ダウンカウンタ１
１５は制御論理１１４によって制御され、カウントダウ
ンする。再びルックアップ値は補足されずＤＡＣ１３３
に送られ、それによって刺激信号１５０の第２の四分円
を形成する。
四半分と同じ値を有するが、それらは逆の順序で生じ
る。これを達成するために、アップ／ダウンカウンタ１
１５は制御論理１１４によって制御され、カウントダウ
ンする。再びルックアップ値は補足されずＤＡＣ１３３
に送られ、それによって刺激信号１５０の第２の四分円
を形成する。
【００３０】正弦波の第２の半分を発生するために、い
くつかの変化が生じなければならない。まず、カウンタ
１１２の最上位ビット（ｍｓｂ）がセットされる（ｍｓ
ｂ＝１）。このビットは、反転されＤＡＣ１３３の最上
位ビットに送られると、ＤＡＣにそのスケールの下位半
分を使用させる。第２に、このビットはデジタル補足器
１２０がルックアップテーブルからのデジタル値を補足
することを可能にする。補足されたデータによりＤＡＣ
１３３は波形１５０のこの第２の半分の凹形の形状を達
成する。アップ／ダウンカウンタ１１５はこの第３の四
分円１５６の間カウントアップする。要約すると、この
四分円の間、アップ／ダウンカウンタ１１５は再びカウ
ントアップしており、デジタル補足器はイネーブルさ
れ、ＤＡＣ１３３はそのスケールの下位半分を使用して
いる。
くつかの変化が生じなければならない。まず、カウンタ
１１２の最上位ビット（ｍｓｂ）がセットされる（ｍｓ
ｂ＝１）。このビットは、反転されＤＡＣ１３３の最上
位ビットに送られると、ＤＡＣにそのスケールの下位半
分を使用させる。第２に、このビットはデジタル補足器
１２０がルックアップテーブルからのデジタル値を補足
することを可能にする。補足されたデータによりＤＡＣ
１３３は波形１５０のこの第２の半分の凹形の形状を達
成する。アップ／ダウンカウンタ１１５はこの第３の四
分円１５６の間カウントアップする。要約すると、この
四分円の間、アップ／ダウンカウンタ１１５は再びカウ
ントアップしており、デジタル補足器はイネーブルさ
れ、ＤＡＣ１３３はそのスケールの下位半分を使用して
いる。
【００３１】最後に、最後の四分円１５８の間、アップ
／ダウンカウンタは再びカウントダウンするように切換
えられ、補足器はオンのままであり、それによってデジ
タル的に合成された正弦波を完成する。第４の四分円の
後、カウンタ１１２はオーバフローし、プロセスは自動
的に最初からやり直し、それによって一貫した周期刺激
信号を発生する。開示された回路は必要な回路を最小限
にするという利点を有する。なぜなら、デジタル値は所
望の波形の各サイクルの４分の１の間のみルックアップ
テーブルにストアされればよいからである。他の周期波
形は説明された態様で発生可能である。
／ダウンカウンタは再びカウントダウンするように切換
えられ、補足器はオンのままであり、それによってデジ
タル的に合成された正弦波を完成する。第４の四分円の
後、カウンタ１１２はオーバフローし、プロセスは自動
的に最初からやり直し、それによって一貫した周期刺激
信号を発生する。開示された回路は必要な回路を最小限
にするという利点を有する。なぜなら、デジタル値は所
望の波形の各サイクルの４分の１の間のみルックアップ
テーブルにストアされればよいからである。他の周期波
形は説明された態様で発生可能である。
【００３２】［刺激信号電圧］部品テスト刺激波形は保
護回路３４の源チャネルを介して端子３６でＤＵＴに結
合される。このチャネルはＤ／Ａコンバータ１３３（図
３）の出力に結合されたオペアンプ（図示せず）を含
み、刺激信号を与える。現在好ましい商業的な実施例で
は、刺激波形は３．２ボルトのピーク電圧を有する。内
部電源は固定５ボルトＤＣを与え、器具に電力を供給す
る。この器具は知られている「電池エリミネータ」を介
してＡＣ電源電圧によって、またはポータブル動作用の
電池によって電力を供給され得る。たとえば、内部ＤＣ
電源に生の電力を与えるために、直列の約６個から８個
の単３電池が使用され得る。代替的に、電源の再充電を
可能にするためにＮｉＣａｄ電池パックが使用され得
る。市販の適切なＮｉＣａｄ電池パックは、充電レベル
に依存して、約６から１２ボルトのＤＣを与える。３．
２ボルトのピーク固定刺激電圧は、広い範囲の無効分、
たとえば約７２００ｐＦから７２μＦの範囲の値を有す
るキャパシタを、上述のように２Ｈｚから２０ｋＨｚの
範囲にわたって刺激波形周波数を選択することによって
テストするために適切である。周波数は結果として生じ
るグラフィック表示（リサジュパターンなど）が容易に
目で見て検査できるのに適切なサイズになるように選択
される。この周波数範囲は上述のデジタル合成技術を使
用して可能になる。したがって、この発明の利点は広い
範囲のリアクタンスにわたって部品をテストし、固定さ
れた低電圧刺激信号源を使用して、スキャンデータの有
用なグラフィック表示を得る能力である。
護回路３４の源チャネルを介して端子３６でＤＵＴに結
合される。このチャネルはＤ／Ａコンバータ１３３（図
３）の出力に結合されたオペアンプ（図示せず）を含
み、刺激信号を与える。現在好ましい商業的な実施例で
は、刺激波形は３．２ボルトのピーク電圧を有する。内
部電源は固定５ボルトＤＣを与え、器具に電力を供給す
る。この器具は知られている「電池エリミネータ」を介
してＡＣ電源電圧によって、またはポータブル動作用の
電池によって電力を供給され得る。たとえば、内部ＤＣ
電源に生の電力を与えるために、直列の約６個から８個
の単３電池が使用され得る。代替的に、電源の再充電を
可能にするためにＮｉＣａｄ電池パックが使用され得
る。市販の適切なＮｉＣａｄ電池パックは、充電レベル
に依存して、約６から１２ボルトのＤＣを与える。３．
２ボルトのピーク固定刺激電圧は、広い範囲の無効分、
たとえば約７２００ｐＦから７２μＦの範囲の値を有す
るキャパシタを、上述のように２Ｈｚから２０ｋＨｚの
範囲にわたって刺激波形周波数を選択することによって
テストするために適切である。周波数は結果として生じ
るグラフィック表示（リサジュパターンなど）が容易に
目で見て検査できるのに適切なサイズになるように選択
される。この周波数範囲は上述のデジタル合成技術を使
用して可能になる。したがって、この発明の利点は広い
範囲のリアクタンスにわたって部品をテストし、固定さ
れた低電圧刺激信号源を使用して、スキャンデータの有
用なグラフィック表示を得る能力である。
【００３３】ＩＩＩ．部品テスト動作 ［連続データ獲得］動作中、器具が部品テスト動作モー
ドに切換えられた場合、上述の部品テスト刺激波形発生
器は、（制御マイクロプロセッサ１３０）によって活性
化され、正弦波などの周期刺激波形を連続的に発生する
ようにする。この刺激波形は上述のようにＤＵＴに与え
られる。テスト波形の他の源も使用可能である。たとえ
ば、明らかになるように、データ獲得をトリガするため
に外部信号と同期されたトリガ信号もまた与えられてい
る限り、外部信号発生器は刺激信号を与えることができ
る。
ドに切換えられた場合、上述の部品テスト刺激波形発生
器は、（制御マイクロプロセッサ１３０）によって活性
化され、正弦波などの周期刺激波形を連続的に発生する
ようにする。この刺激波形は上述のようにＤＵＴに与え
られる。テスト波形の他の源も使用可能である。たとえ
ば、明らかになるように、データ獲得をトリガするため
に外部信号と同期されたトリガ信号もまた与えられてい
る限り、外部信号発生器は刺激信号を与えることができ
る。
【００３４】上述のように、ハードウエアを介して連続
的に測定データが獲得される。より特定的には、獲得制
御回路９３は保存クロックの各サイクルごとにＲＡＭに
データ点を書込むように獲得ＲＡＭ９２を制御し、保存
ブロックはｎ分割回路９７によって制御回路に与えられ
る（図２）。現在好ましい実施例では、２５６のデータ
点がテスト刺激波形の各サイクルにわたって獲得され
る。なお、Ｃ−テストクロックはテスト波形周波数の２
５６倍で実行する。したがって、この場合の保存クロッ
クおよびＣ−テストクロックは同一である。ｎ分割回路
９７は、水晶ベースの発振器（図示せず）によって与え
られるような、たとえば１９．２ＭＨｚの周波数を有す
るシステムクロック信号を受信する。データ点は順次Ｒ
ＡＭ９２にストアされ、このＲＡＭは環状バッファとし
て配列される。このように、新しいデータは一旦バッフ
ァが一杯になると前にストアされたデータの上に上書き
される。
的に測定データが獲得される。より特定的には、獲得制
御回路９３は保存クロックの各サイクルごとにＲＡＭに
データ点を書込むように獲得ＲＡＭ９２を制御し、保存
ブロックはｎ分割回路９７によって制御回路に与えられ
る（図２）。現在好ましい実施例では、２５６のデータ
点がテスト刺激波形の各サイクルにわたって獲得され
る。なお、Ｃ−テストクロックはテスト波形周波数の２
５６倍で実行する。したがって、この場合の保存クロッ
クおよびＣ−テストクロックは同一である。ｎ分割回路
９７は、水晶ベースの発振器（図示せず）によって与え
られるような、たとえば１９．２ＭＨｚの周波数を有す
るシステムクロック信号を受信する。データ点は順次Ｒ
ＡＭ９２にストアされ、このＲＡＭは環状バッファとし
て配列される。このように、新しいデータは一旦バッフ
ァが一杯になると前にストアされたデータの上に上書き
される。
【００３５】ユーザは所望のテスト刺激信号周波数を選
択することができる。選択された周波数に対応する
「ｎ」の値はレジスタにストアされ、分割器回路９７を
制御して、Ｃ−クロックおよび保存クロックの双方とし
て適切なクロック信号を与える。再び図５を参照して、
フロントパネル２００は上述のＬＣＤ表示などの画素−
アドレス指定可能な表示モジュール１４０を含む。１行
の「ソフトキー」、たとえばソフトキー２２０、２２２
は所望の周波数の選択のために使用され得る。「ソフト
キー」は、器具の現在の動作モードに依存して、さまざ
まな入力機能のために使用されるハードウエアキースイ
ッチ（図では１−５で示される）に関係する。表示画面
上のモードインジケータ２１８は器具が「部品テスト」
モードにあることを示す。そのモードでは、ソフトキー
１−５は、２２４で表示の底に沿って示されるように、
それぞれ２Ｈｚ、２０Ｈｚ，２００Ｈｚ、２ｋＨｚおよ
び１８．７５ｋＨｚの刺激信号周波数に対応する。２２
６で示されたソフトキーの１つは強調または逆映像であ
り、現在選択された２００Ｈｚの値を示す。
択することができる。選択された周波数に対応する
「ｎ」の値はレジスタにストアされ、分割器回路９７を
制御して、Ｃ−クロックおよび保存クロックの双方とし
て適切なクロック信号を与える。再び図５を参照して、
フロントパネル２００は上述のＬＣＤ表示などの画素−
アドレス指定可能な表示モジュール１４０を含む。１行
の「ソフトキー」、たとえばソフトキー２２０、２２２
は所望の周波数の選択のために使用され得る。「ソフト
キー」は、器具の現在の動作モードに依存して、さまざ
まな入力機能のために使用されるハードウエアキースイ
ッチ（図では１−５で示される）に関係する。表示画面
上のモードインジケータ２１８は器具が「部品テスト」
モードにあることを示す。そのモードでは、ソフトキー
１−５は、２２４で表示の底に沿って示されるように、
それぞれ２Ｈｚ、２０Ｈｚ，２００Ｈｚ、２ｋＨｚおよ
び１８．７５ｋＨｚの刺激信号周波数に対応する。２２
６で示されたソフトキーの１つは強調または逆映像であ
り、現在選択された２００Ｈｚの値を示す。
【００３６】［スキャントリガ］次に、マイクロプロセ
ッサはフラグをセットし（状態および制御レジスタ９５
において）、電圧スキャンの開始を示す。応答して、獲
得制御回路９３は記憶トリガをイネーブルする。テスト
波形の次のサイクルの始めに（たとえばカウント１１２
が記憶トリガがイネーブルされた後に次にオーバフロー
するとき）、電圧スキャンが始まる。このように、電圧
スキャンは次のテスト波形サイクルの開始によってトリ
ガされる。そのとき、獲得ＲＡＭアドレスの現在値はレ
ジスタにストアされ、その結果ストアされた電圧スキャ
ンデータの開始を指し示す。測定データは獲得され続
け、デジタル電圧サンプルはテスト刺激信号のちょうど
１サイクルの間獲得ＲＡＭにストアされ続ける。これに
より１つのスキャン、電圧が獲得されている電圧スキャ
ンと呼ぶ、が完成する。獲得されたサンプルデータは一
連の２５６のデジタルデータワードまたは値を含む。２
５６の値が一旦獲得されると、ＲＡＭの記憶は上書きさ
れないように停止される。マイクロプロセッサはその後
獲得されたスキャンデータをＳＲＡＭ１３４に移す。
ッサはフラグをセットし（状態および制御レジスタ９５
において）、電圧スキャンの開始を示す。応答して、獲
得制御回路９３は記憶トリガをイネーブルする。テスト
波形の次のサイクルの始めに（たとえばカウント１１２
が記憶トリガがイネーブルされた後に次にオーバフロー
するとき）、電圧スキャンが始まる。このように、電圧
スキャンは次のテスト波形サイクルの開始によってトリ
ガされる。そのとき、獲得ＲＡＭアドレスの現在値はレ
ジスタにストアされ、その結果ストアされた電圧スキャ
ンデータの開始を指し示す。測定データは獲得され続
け、デジタル電圧サンプルはテスト刺激信号のちょうど
１サイクルの間獲得ＲＡＭにストアされ続ける。これに
より１つのスキャン、電圧が獲得されている電圧スキャ
ンと呼ぶ、が完成する。獲得されたサンプルデータは一
連の２５６のデジタルデータワードまたは値を含む。２
５６の値が一旦獲得されると、ＲＡＭの記憶は上書きさ
れないように停止される。マイクロプロセッサはその後
獲得されたスキャンデータをＳＲＡＭ１３４に移す。
【００３７】電圧スキャンが終了した後、前に説明した
ように、電流データを獲得するためにフロントエンド回
路が切換えられる。マイクロプロセッサはその後フラグ
をセットし、電流スキャンの開始を示す。再び、データ
獲得が続けられ、獲得された電流サンプルデータは電圧
データと同じ態様でＲＡＭ９２にストアされる。電圧ス
キャンの場合のように、獲得制御回路９３は記憶トリガ
をイネーブルする。テスト波形の次のサイクルの始まり
に、つまり、カウンタ１１２が記憶トリガがセットされ
た後に次にオーバフローしたときに、電流スキャンが始
まる。獲得ＲＡＭアドレスの現在の値はデジタル電流ス
キャンデータ用の出発アドレスとしてストアされる。獲
得されたデータは１サイクルにわたって、つまり電圧サ
ンプルデータの場合のように２５６のデータ点にわたっ
てストアされる。その後、ストアされた電流スキャンデ
ータはＳＲＡＭ１３４に移される。
ように、電流データを獲得するためにフロントエンド回
路が切換えられる。マイクロプロセッサはその後フラグ
をセットし、電流スキャンの開始を示す。再び、データ
獲得が続けられ、獲得された電流サンプルデータは電圧
データと同じ態様でＲＡＭ９２にストアされる。電圧ス
キャンの場合のように、獲得制御回路９３は記憶トリガ
をイネーブルする。テスト波形の次のサイクルの始まり
に、つまり、カウンタ１１２が記憶トリガがセットされ
た後に次にオーバフローしたときに、電流スキャンが始
まる。獲得ＲＡＭアドレスの現在の値はデジタル電流ス
キャンデータ用の出発アドレスとしてストアされる。獲
得されたデータは１サイクルにわたって、つまり電圧サ
ンプルデータの場合のように２５６のデータ点にわたっ
てストアされる。その後、ストアされた電流スキャンデ
ータはＳＲＡＭ１３４に移される。
【００３８】なお、電流スキャンおよび電圧スキャンは
どちらもちょうど同じトリガ点、つまりテスト刺激波形
サイクルの始めまたは他の予め定められた位相点によっ
てトリガされたことに注意されたい。結果として、スト
アされた電圧および電流スキャンデータは周期刺激波形
に関して「同期され」、したがってそれらの位相関係
は、あたかも同時に獲得されたかのように維持される。
前述の動作は電圧スキャンが電流スキャンに先行すると
して説明したが、スキャンの順序は逆でもよい。
どちらもちょうど同じトリガ点、つまりテスト刺激波形
サイクルの始めまたは他の予め定められた位相点によっ
てトリガされたことに注意されたい。結果として、スト
アされた電圧および電流スキャンデータは周期刺激波形
に関して「同期され」、したがってそれらの位相関係
は、あたかも同時に獲得されたかのように維持される。
前述の動作は電圧スキャンが電流スキャンに先行すると
して説明したが、スキャンの順序は逆でもよい。
【００３９】ストアされたデジタル電圧および電流スキ
ャンデータはＳＲＡＭにおいて整合される。つまり、そ
れらはＳＲＡＭにおける共通出発アドレスから始まっ
て、獲得された順序で電圧−−電流データ対としてスト
アされる。このように、表示モジュール１４０上でリサ
ジュパターンを形成するように、データ対は同時表示の
ためにＬＣＤコントローラ１３８に都合よく与えられ
る。
ャンデータはＳＲＡＭにおいて整合される。つまり、そ
れらはＳＲＡＭにおける共通出発アドレスから始まっ
て、獲得された順序で電圧−−電流データ対としてスト
アされる。このように、表示モジュール１４０上でリサ
ジュパターンを形成するように、データ対は同時表示の
ためにＬＣＤコントローラ１３８に都合よく与えられ
る。
【００４０】周期テスト波形の立上がりゼロ交差上でト
リガすることが便利であるが、トリガ点としてサイクル
上の任意の位相点であればいずれも使用され得る。リサ
ジュパターンを表示することが所望されるのであれば、
電圧スキャンおよび電流スキャンの双方に同じトリガ点
が使用されることのみが重要である。カウンタ１１２の
オーバフローはテスト波形の正のゼロ交差に対応するト
リガ信号を都合よく与える。しかしながら、テスト波形
上のいずれの所望の点に対応するカウンタのいずれの状
態もトリガ信号を与えるようにデコードされ得る。波形
発生回路の他の部分もまた、アップ／ダウンカウンタ１
１５のように、トリガ回路を発生するために使用され得
る。
リガすることが便利であるが、トリガ点としてサイクル
上の任意の位相点であればいずれも使用され得る。リサ
ジュパターンを表示することが所望されるのであれば、
電圧スキャンおよび電流スキャンの双方に同じトリガ点
が使用されることのみが重要である。カウンタ１１２の
オーバフローはテスト波形の正のゼロ交差に対応するト
リガ信号を都合よく与える。しかしながら、テスト波形
上のいずれの所望の点に対応するカウンタのいずれの状
態もトリガ信号を与えるようにデコードされ得る。波形
発生回路の他の部分もまた、アップ／ダウンカウンタ１
１５のように、トリガ回路を発生するために使用され得
る。
【００４１】この発明の原理をその好ましい実施例にお
いて例示しかつ説明したが、この発明はそのような原理
から逸脱することなく配列および詳細において変更可能
であることが当業者には容易に明らかであろう。発明者
は前掲の請求の範囲の精神および範囲内にあるすべての
変更をクレームする。
いて例示しかつ説明したが、この発明はそのような原理
から逸脱することなく配列および詳細において変更可能
であることが当業者には容易に明らかであろう。発明者
は前掲の請求の範囲の精神および範囲内にあるすべての
変更をクレームする。
【図１】現在好ましい実施例においてこの発明のさまざ
まな局面を具体化するテスト器具の単純化されたブロッ
ク図である。
まな局面を具体化するテスト器具の単純化されたブロッ
ク図である。
【図２】現在好ましい実施例においてこの発明のさまざ
まな局面を具体化するテスト器具の単純化されたブロッ
ク図である。
まな局面を具体化するテスト器具の単純化されたブロッ
ク図である。
【図３】図１および図２のテスト器具の部品テスト信号
源８０をより詳細に示す部分概略／部分ブロック図であ
る。
源８０をより詳細に示す部分概略／部分ブロック図であ
る。
【図４】部品テスト動作モードで図１、図２および図３
の器具によって発生されるテスト刺激信号を示す図であ
る。
の器具によって発生されるテスト刺激信号を示す図であ
る。
【図５】この発明に従って発生されたグラフィック部品
テスト表示を示す、テスト器具のフロントパネルの部分
を示す図である。
テスト表示を示す、テスト器具のフロントパネルの部分
を示す図である。
３６ 端子 ３８ ＤＵＴ ４０ 端子 １１２ カウンタ １１４ 制御論理 １１５ アップ／ダウンカウンタ １１８ ルックアップテーブル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０９Ｇ 5/00 ５１０ Ｄ 9377−5Ｈ
Claims (20)
- 【請求項１】 電圧および電流測定回路への単一チャネ
ル入力を有する電子テスト器具において、部品テストの
方法は電圧および電流測定のために前記テスト器具の前
記単一チャネル入力にＤＵＴを結合するステップと、 周期テスト刺激波形を前記ＤＵＴに与えるステップと、 前記ＤＵＴにかかる電圧を測定し、第１の予め定められ
た時間期間にわたってサンプリングされた電圧スキャン
データを獲得するステップと、 前記ＤＵＴを流れる電流を測定して、前記第１の予め定
められた時間期間に重ならない第２の予め定められた時
間期間にわたってサンプリングされた電流スキャンデー
タを獲得するステップと、 前記電圧および電流測定ステップの各々を前記周期テス
ト刺激波形に対して同期し、前記サンプリングされた電
圧および電流スキャンデータが予め定められた位相関係
を維持するようにするステップとを含む、部品テストの
方法。 - 【請求項２】 周期テスト刺激波形を前記ＤＵＴに与え
る前記ステップは前記テスト刺激波形をデジタル的に合
成するステップを含む、請求項１に記載の部品テストの
方法。 - 【請求項３】 前記同期ステップは前記周期テスト刺激
波形のそれぞれのサイクルに対して予め定められた時間
で前記電圧および電流測定ステップの各々をトリガする
ステップを含む、請求項２に記載の部品テストの方法。 - 【請求項４】 前記電圧および電流測定ステップの各々
は前記周期テスト刺激波形の１つのサイクルに等しい持
続時間を有する、請求項３に記載の部品テストの方法。 - 【請求項５】 前記獲得された電圧および電流スキャン
データをデジタル形式で環状バッファにストアするステ
ップをさらに含む、請求項１に記載の部品テストの方
法。 - 【請求項６】 前記ストアされた電圧スキャンデータお
よび電流スキャンデータをグラフィック形式で同時に表
示し、リサジュ型のパターンを形成するようにするステ
ップをさらに含む、請求項５に記載の部品テストの方
法。 - 【請求項７】 前記周期テスト刺激波形は予め定められ
たピーク電圧を有し、前記周期テスト刺激波形を与える
前記ステップは前記刺激波形の所望の周波数を選択する
ステップを含む、請求項５に記載の部品テストの方法。 - 【請求項８】 前記ピーク電圧は３．２ボルトのオーダ
であり、前記周波数は約２Ｈｚから２０ｋＨｚの範囲内
で選択される、請求項７に記載の部品テストの方法。 - 【請求項９】 前記表示するステップは約２Ｈｚから２
０ｋＨｚの範囲にわたって延びる予め定められた組の利
用可能な周波数の中から前記テスト刺激波形の所望の周
波数を選択し、結果として生じるグラフィック表示を目
で見る検査に適切な大きさにするステップを含む、請求
項７に記載の部品テストの方法。 - 【請求項１０】 前記表示するステップは低電力動作の
ために液晶型の表示パネルを与えるステップと、前記電
圧および電流スキャンデータに応答して前記表示パネル
を駆動するステップとを含む、請求項７に記載の部分テ
ストの方法。 - 【請求項１１】 前記選択するステップは前記器具上に
複数のソフトキーを与えるステップと、前記ソフトキー
を介するユーザ入力に応答して前記周波数を選択するス
テップとを含む、請求項７に記載の部品テストの方法。 - 【請求項１２】 テスト器具であって、 周期テスト刺激波形を発生するためのデジタル手段と、 前記テスト刺激波形をＤＵＴに与えるための手段と、 前記ＤＵＴで予め定められたパラメータを測定するため
の単一チャネル入力手段と、 前記入力手段に結合され、測定データを獲得し、前記獲
得された測定データをデジタルスキャンデータに変換す
るためのデータ獲得手段と、 前記デジタルスキャンデータをストアするための手段
と、 前記デジタル発生手段に結合され、前記ストアするため
の手段を制御して、前記周期テスト刺激波形の第１のサ
イクルに対する予め定められたトリガ点で始まる第１の
一連のスキャンデータをストアするようにするトリガ手
段とを含み、 前記トリガ手段は前記周期テスト刺激波形の第２のサイ
クルに対して前記予め定められたトリガ点で始まる第２
の一連のスキャンデータをストアするように前記ストア
する手段を制御するための手段を含み、それによって前
記第２の一連のスキャンデータは前記テスト刺激波形に
対して前記第１の一連のスキャンデータと同期され、前
記テスト器具はさらに前記ストアするための手段に結合
され、前記第１および第２の一連のスキャンデータを一
緒に表示し、リサジュ型パターンを形成するようにする
表示手段を含む、テスト器具。 - 【請求項１３】 周期テスト刺激波形を発生するための
前記デジタル手段は前記テスト刺激波形の所望の周波数
を選択するための手段を含み、それによって前記テスト
刺激波形電圧を変えることなくある範囲のリアクタンス
にわたって部品のテストを可能にする、請求項１２に記
載のテスト器具。 - 【請求項１４】 前記周波数選択手段は複数のソフトキ
ーを含み、各ソフトキーは予め定められた組の利用可能
な周波数のそれぞれの１つに対応する、請求項１３に記
載のテスト器具。 - 【請求項１５】 前記選択手段は約２Ｈｚから２０ｋＨ
ｚの範囲にわたって延びる１組の利用可能な周波数から
前記所望の周波数を選択するための手段を含む、請求項
１３に記載のテスト器具。 - 【請求項１６】 周期テスト刺激信号を発生するための
前記手段は前記テスト刺激信号を形成するための予め定
められた一連のデジタル値を与えるためのルックアップ
テーブルを有するデジタル合成回路を含み、前記選択手
段は前記刺激波形発生手段をクロックするためのｎ分割
回路を含む、請求項１３に記載のテスト器具。 - 【請求項１７】 前記デジタルスキャンデータをストア
するための前記手段はメモリおよび環状バッファとして
前記メモリをアドレス指定するための手段を含む、請求
項１２に記載のテスト器具。 - 【請求項１８】 部品テストのためのポータブルテスト
器具であって、 周期テスト刺激波形をＤＵＴに与えるためのデジタル合
成部品テスト源回路と、 前記部品テスト源に結合され、前記テスト刺激波形の各
サイクルに対して予め定められた時間にＣ−ＴＥＳＴ
ＴＲＩＧＧＥＲ信号を与えるための部品テストトリガ手
段と、 前記Ｃ−ＴＥＳＴ ＴＲＩＧＧＥＲ信号を受信するよう
に結合され、電圧スキャンを実行し、かつ電流スキャン
を実行するためのデータ獲得手段とを含み、 前記データ獲得手段は前記テスト刺激波形の異なったそ
れぞれのサイクルの間に前記Ｃ−ＴＥＳＴ ＴＲＩＧＧ
ＥＲ信号に応答して前記電圧スキャンおよび前記電流ス
キャンの各々を開始させ、前記電圧スキャンと前記電流
スキャンとの間に位相関係を維持するようにするための
手段を含む、ポータブルテスト器具。 - 【請求項１９】 前記部品テスト源回路は予め定められ
たピーク電圧で前記テスト刺激波形を駆動するための手
段を含み、さらに約２Ｈｚから２０ｋＨｚの範囲内の選
択された周波数で前記テスト刺激波形を発生するための
手段を含み、それによって前記刺激波形の前記ピーク電
圧を変えることなく広い範囲のリアクタンスにわたって
部品テストを可能にする、請求項１８に記載のポータブ
ルテスト器具。 - 【請求項２０】 前記電圧スキャンの間に獲得されたデ
ータをストアし、かつ前記電流スキャンの間に獲得され
たデータをストアするための手段と、 前記ストアされた電圧および電流スキャンデータを表示
し、リサジュ型のグラフィック表示パターンを形成する
ための画素−アドレス指定可能な表示手段とをさらに含
む、請求項１９に記載のポータブルテスト器具。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/289,752 US5508607A (en) | 1994-08-11 | 1994-08-11 | Electronic test instrument for component test |
| US08/289752 | 1994-08-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0894708A true JPH0894708A (ja) | 1996-04-12 |
| JP2832335B2 JP2832335B2 (ja) | 1998-12-09 |
Family
ID=23112924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7204548A Expired - Lifetime JP2832335B2 (ja) | 1994-08-11 | 1995-08-10 | 部品テストの方法、およびテスト器具 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5508607A (ja) |
| EP (1) | EP0696742A3 (ja) |
| JP (1) | JP2832335B2 (ja) |
| CA (1) | CA2149848A1 (ja) |
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| DE19642199A1 (de) * | 1996-10-12 | 1998-04-16 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Kontrollvorrichtung und Verfahren zur Prüfung von positionsabhängigen Abtastsignalen |
| US6140811A (en) * | 1997-04-29 | 2000-10-31 | Agilent Technologies | Hand-held measurement device combining two logic level indicators |
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|---|---|---|---|---|
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