JPH0910177A - 検眼装置 - Google Patents

検眼装置

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JPH0910177A
JPH0910177A JP7187863A JP18786395A JPH0910177A JP H0910177 A JPH0910177 A JP H0910177A JP 7187863 A JP7187863 A JP 7187863A JP 18786395 A JP18786395 A JP 18786395A JP H0910177 A JPH0910177 A JP H0910177A
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Yoshikuni Hosoi
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 検査が容易にかつ効率よく行える検眼装置を
提供する。 【構成】 矯正光学系により被検眼の屈折力を検査する
自覚屈折力測定装置と、視標を呈示する視標呈示装置
と、所定のプログラム手順により複数の検査項目を実行
するために視標呈示装置と自覚屈折力測定装置を制御す
る制御手段と、を備え、被検眼の屈折力を他覚的に測定
する装置またはレンズメ−タによる測定デ−タを入力す
る入力手段と、入力された測定デ−タに基づいてプログ
ラムされた検査項目を変更するプログラム変更手段を有
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は被検眼の視機能を自覚的
に検査する検眼装置に関する。
【0002】
【従来の技術】眼鏡レンズやコンタクトレンズを処方す
るための検査では、矯正光学系を切換える自覚式屈折力
測定装置や視標提示装置を使用し、被検眼には矯正光学
系を介して検査視標を観察させる。被検者の応答を得て
検査視標及び矯正光学系を変えることによって、処方値
を得る。ところで、被検眼の球面度数、乱視度数及び乱
視軸等の精密測定のためには、各種の視標、矯正光学系
等を独立あるいは連動させて切換え操作を行わなければ
ならない。また、被検眼の完全矯正値を得る検査項目
は、一般的に乱視検査の前段階で行うレッド・グリ−ン
検査、乱視軸検出検査、乱視度数検出検査、過矯正防止
のためのレッド・グリ−ン検査、視力検査等があるが、
これらの検査項目に応じて適切な操作を行うには検眼の
知識と操作の習熟が要求される。そこで、近年では、所
定の検査手順と装置の操作を関連付けてプログラム化す
ることにより、経験の浅い検者でも容易に検査を行える
ようにした検眼装置が提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、眼鏡等を処方
するための検査では、被検眼の乱視状態の程度によって
は乱視軸検出検査等が無駄になることがあり、所定の検
眼手順のプログラムに従ってすべての検査項目を行うこ
とは必ずしも効率のよい検眼とはいえないという問題が
あった。本発明は、上記問題点に鑑み、検査が容易にか
つ効率よく行える検眼装置を提供することを技術課題と
する。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は次のような構成を持つことを特徴とする。 (1) 矯正光学系により被検眼の屈折力を検査する自
覚屈折力測定装置と、視標を呈示する視標呈示装置と、
所定のプログラム手順により複数の検査項目を実行する
ために該視標呈示装置と前記自覚屈折力測定装置を制御
する制御手段と、を備える検眼装置において、被検眼の
屈折力を他覚的に測定する装置またはレンズメ−タによ
る測定デ−タを入力する入力手段と、該入力された測定
デ−タに基づいて前記プログラムされた検査項目を変更
するプログラム変更手段と、を有することを特徴とす
る。
【0005】(2) (1)のプログラム変更手段は、
前記入力された測定デ−タの乱視度数により乱視検査の
手順を変更することを特徴とする。
【0006】(3) (2)のプログラム変更手段は、
入力された乱視度数と所定の基準度数と比較する比較手
段を持ち、前記乱視度数が所定の値以下のときは少なく
とも一部の乱視検査を省略するよう指令する指令手段を
持つことを特徴とする。
【0007】(4) (3)の比較手段は第1及び第2
の基準度数を有していることを特徴とする。
【0008】(5) (3)のプログラム変更手段は、
さらに前記省略された検査に代えて異なる乱視検査を行
うように指令することを特徴とする。
【0009】(6) (5)の検眼装置において、省略
された検査に代えて行われる異なる乱視検査とは放射線
視標による乱視確認検査であることを特徴とする。
【0010】(7) (1)の検眼装置は、検査内容及
び検査進行手順をプログラムするプログラム入力手段を
持つことを特徴とする。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1は実施例である検眼装置の全体構成を示す
外観図である。1は被検者と検者の間に配置される検眼
テ−ブルである。2は自覚式屈折力測定装置であり、自
覚式屈折力測定装置2は種々の光学素子を検眼窓11に
電動で切換え配置する。3は測定用指標を被検眼眼底に
投影し眼底の投影指標像を受光手段で検出して眼屈折力
を測定する他覚式眼屈折力測定装置である。この他覚式
眼屈折力測定装置3は検眼テ−ブル1上をスライド可能
な移動トレイに載置されており、検眼テ−ブル1の中央
位置に移動させて測定を実行する。4は検査視標を呈示
する投影式の視標呈示装置である。5は自覚式屈折力測
定装置2及び投影式視標呈示装置4を操作するためのコ
ントロ−ラ、6は各装置の通信中継を行うリレ−ユニッ
トである。
【0012】図2はコントロ−ラ5を上から見た図であ
る。30は検眼情報を表示するディスプレイであり、デ
ィスプレイ30には種々の情報を切替え表示できるよう
にドットマトリックス画面を使用している。31はスイ
ッチ部であり、スイッチ部31には、ディスプレイ30
の表示画面をメニュ−画面に切り替えるメニュ−スイッ
チ32、表示画面上に表示されたカ−ソルを移動する2
つのカ−ソル移動スイッチ33、実行スイッチ34、自
覚式屈折力検査装置2の光学系を駆動する補助レンズス
イッチ群35、測定モ−ド切換スイッチ群36、測定眼
指定スイッチ群37、数値入力に使用するスイッチやノ
ブスイッチを持つ入力スイッチ群38、他のスイッチと
組み合わせて使用するシフトスイッチ39、視標呈示装
置4を駆動する視標スイッチ群40、プログラム検眼を
実行するスタ−トスイッチ41aやプログラム送りスイ
ッチ41bなどを持つプログラム実行スイッチ群41、
ディスプレイ30の画面下方の所定位置に表示される情
報に対応するファンクションスイッチ群42、視標にマ
スクをかけるスイッチ群43が配置されている。
【0013】図3は装置の制御を説明するためのブロッ
ク図である。コントロ−ラ5のスイッチ部31からのス
イッチ信号は、所定の処理が施された後にマイクロコン
ピュ−タ回路50に入力される。マイクロコンピュ−タ
回路50には検眼プログラム等を記憶したメモリ51
と、他覚値デ−タ等を記憶するメモリ52が接続されて
おり、マイクロコンピュ−タ回路50はスイッチ信号を
各種デ−タに変換し、表示回路53を介してディスプレ
イ30の画面を制御する。また、マイクロコンピュ−タ
回路50は、リレ−ユニット6のマイクロコンピュ−タ
回路55を介して、屈折力に関する信号を自覚式屈折力
検査装置2に、視標に関する信号を視標呈示装置4に送
る。自覚式屈折力検査装置2のマイクロコンピュ−タ回
路60は、駆動回路61を介してモ−タ62を駆動し、
弱球面ディスク63、強球面ディスク64、補助レンズ
ディスク65、クロスシリンダ−ディスク66等を回転
させ、所定の光学素子を検査窓に配置する。
【0014】視標呈示装置4のマイクロコンピュ−タ回
路70は、駆動回路71を介してランプ72を点灯する
と共に、駆動回路73を介しモ−タ74を駆動し、視標
が描かれた視標ディスク75、マスクディスク76を回
転して所定の検査視標を被検眼の前方に置かれた図示な
きスクリ−ンに投影する。マイクロコンピュ−タ回路5
5には他覚式眼屈折力測定装置3やレンズメ−タ9が接
続され、送られる測定デ−タをメモリ56に格納する。
読み出し指令信号により、マイクロコンピュ−タ回路5
5は指定された測定デ−タをメモリ56から読み出し、
コントロ−ラ5側に転送する。57は測定結果を出力す
るプリンタであり、58はその駆動回路である。
【0015】以上のような構成の装置において、その動
作を図4のフロ−チャ−トに基づいて説明する。ここで
はプログラム検眼における片眼完全矯正値決定までの検
査を中心に説明する。検査を開始するに際し、検者は必
要に応じて検眼フロ−を設定し、検眼プログラムの入力
を行う。検眼プログラムの入力は、ディスプレイ30を
見ながらスイッチ部31を操作することにより行う。メ
ニュ−スイッチ32を押してメニュ−項目画面(図示せ
ず)をディスプレイ30上に表示し、続いてカ−ソル移
動スイッチ33と実行スイッチを操作してセット画面
(図示せず)を開く。セット画面上に表示される各種の
選択設定項目をスイッチ33等で所望のものを選択し、
実行スイッチを押して入力を完了する。
【0016】他覚式眼屈折力測定装置3による他覚検査
及び問診を行った後、スタ−トスイッチ41aを押すこ
とによりプログラム検眼を開始する。プログラム検眼は
裸眼視力検査からスタ−トするが、送りスイッチ41b
を押すことによって、順次前眼鏡視力検査(前眼鏡を所
持しているとき)、自覚検査、処方値決定に進む。他覚
式眼屈折力測定装置3による左右眼のSPH(球面度
数)、CYL(乱視度数)、AXIS(乱視軸角度)の
各他覚値デ−タは、他覚式眼屈折力測定装置3のプリン
トスイッチを押すことにより、リレ−ユニット6のメモ
リ56に転送され、さらに、コントロ−ラ5の入力スイ
ッチ及び他覚値スイッチにより、メモリ52の他覚値メ
モリエリアに転送される。また、マイクロコンピュ−タ
回路50は、他覚値デ−タをメモリ52の自覚値メモリ
エリアにコピ−すると共に、ディスプレイ30には表示
回路53を介して他覚値デ−タを表示する(図示せ
ず)。なお、他覚値デ−タの入力は通信によるデ−タ転
送の他、測定モ−ド切換スイッチ群36、入力スイッチ
群38の操作により手入力で行ってもよい。
【0017】検者は、検眼プログラムをスタ−トして裸
眼視力検査を行う。ディスプレイ30の表示画面は裸眼
測定モ−ドに切替わり、裸眼視力値が入力可能になる。
視標呈示装置4は所定の視力値を持つ検査視標を呈示
し、検者は被検者の応答を得てスイッチ群43の視標マ
スクスイッチで呈示視標を変更することにより被検者の
裸眼視力値を得て、その入力を行う。裸眼視力検査の終
了後、送りスイッチ41bを押すと表示画面には眼鏡有
無を確認する旨のメッセ−ジと、眼鏡有無によるファン
クションスイッチ群42のスイッチ操作指示が表示され
る。この指示に従い、眼鏡有りのファンクションスイッ
チを押すと、眼鏡視力検査を行うための眼鏡測定モ−ド
に切替わる(眼鏡無しのときは自覚検査に進む)。
【0018】眼鏡視力検査を行うときは眼鏡デ−タを入
力する。眼鏡デ−タは他覚値デ−タと同様にレンズメ−
タ9からデ−タ転送によりメモリ56に記憶させ、入力
スイッチ、前眼鏡スイッチを押すことによりさらにメモ
リ52の前眼鏡メモリエリアに記憶する(他覚値デ−タ
と同じ様に、通信によるデ−タ転送の他、測定モ−ド切
換スイッチ群36入力スイッチ群38の操作による手入
力で行ってもよい)。眼鏡の視力検査は、裸眼視力検査
と同様に検査視標を被検眼に呈示し、被検者の応答に基
づきスイッチ群43を操作することによって視力値を得
て、その値を入力する。
【0019】続いて自覚検査に移る。本装置は自覚検査
開始時に自覚式屈折力測定装置2の光学系の初期値を他
覚値デ−タに対応したものにするか、あるいは前眼鏡値
デ−タに対応したものにするかをセット画面で予め選択
できる。以下は他覚値デ−タを選択したときについて説
明する。まず、他覚値デ−タの適否等を確認する他覚矯
正値確認検査を行う。検者は自覚式屈折力検査装置2を
被検者の眼前に配置し、検査眼を指定して検査を行う。
自覚値メモリエリアにコピ−した他覚値デ−タを読みだ
し、自覚式屈折力検査装置2を動作させて、他覚値デ−
タに対応した光学素子を検査窓に配置するように調整す
るとともに、視標呈示装置4を動作させて被検者に所定
の検査視標を呈示する。また、ディスプレイ30の表示
画面を自覚測定モ−ドに切換える。
【0020】図5はこのときの表示例である。中央表示
部80には他覚値デ−タをコピ−したデ−タが表示さ
れ、明暗反転表示された部分が変更可能であることを示
している。左右表示部81には他覚値デ−タが表示さ
れ、下方表示部82には現在呈示している視標種類や操
作説明などのメッセ−ジが表示される。他覚矯正値確認
検査では呈示した視標が判読できれば他覚値デ−タは信
頼性が高く、被検者の眼にも弱視等の視機能異常がない
と判断し、次の完全矯正値決定のステップに進む。
【0021】完全矯正値決定の検査は、一般的には乱視
検査の前段階で行うR/G(レッド・グリ−ン)検査、
乱視軸検出検査、乱視度数検出検査、過矯正を防止して
最高視力を得るためのR/G検査、視力検査、片眼完全
矯正値決定の順に行うが、本装置は入力した他覚値デ−
タのCYL値(または眼鏡デ−タのCYL値を使用して
も良い)に基づき、その検眼フロ−を変えるプログラム
を持っている(図6参照)。他覚視力確認検査の終了後
送りスイッチが押されると、装置は他覚値デ−タの乱視
度数が所定の基準値以下であるか否かを判断する。本実
施例では、測定のステップが0.25D単位としてCY
L=0のときには、乱視検査のためのR/G検査、乱視
軸検出検査及び乱視度数検出検査のステップを省略し、
過矯正防止のためのR/G検査に移る。これは他覚値デ
−タで乱視が無い場合には、自覚検査でもほぼ乱視が確
認されることがないためである。
【0022】他覚値デ−タに所定以上の乱視が有るとき
は、乱視検査のためのR/G検査に移る。装置は調整の
介入を取り除くために自覚式屈折力検査装置2の初期値
に対して+0.50Dの球面度数を付与して雲霧をかけ
る。R/G検査ステップでは視標呈示装置4はレッド・
グリ−ン視標を呈示し、コントロ−ラ5は球面度数が変
更可能なモ−ドになる。検者は被検者の応答に基づき入
力スイッチ群38を操作して球面度数を調整し、赤と緑
の中の文字が同程度、または同程度にならない場合は緑
側が若干よく見えるようにすることで、最小錯乱円を網
膜近傍に位置させることができる。他覚値デ−タのCY
L値が0.50D以上か0.25Dかによって、<A>
または<B>に進む。
【0023】<A> 乱視検査のためのR/G検査終了
後、他覚値デ−タのCYL値が0.50D以上のときは
乱視軸検出検査、乱視度数検出検査の順に進む。乱視軸
検出検査では、視標呈示装置4は点群視標を呈示し、コ
ントロ−ラ5は乱視軸が変更可能なモ−ドになる。自覚
式屈折力検査装置2にはクロスシリンダレンズが反転軸
を他覚値デ−タに基づいてセットされる。検者は入力ス
イッチ群38の操作によりクロスシリンダレンズを反転
し、反転の前後でほぼ均一に見えるまで反転軸を移動さ
せ、正確な乱視軸を測定する。乱視軸が得られると、送
りスイッチを押して乱視度数検査に移る。コントロ−ラ
5は乱視度数が変更可能なモ−ドに切替わり、自覚式屈
折力検査装置2にはクロスシリンダレンズが測定された
乱視軸に基づいてセットされる。検者は、クロスシリン
ダレンズの反転の前後の被検者に視標の見え方により乱
視度数を増減し、乱視度数を得る。なお、クロスシリン
ダレンズによる反転比較においては、再び同じ度数に戻
ることがあり、これを繰り返すと堂々巡りになるため、
装置は再び同じ度数に戻ったときには乱視度数の弱い値
を決定度数として、次の検査ステップに進めることを促
すメッセ−ジを表示する。
【0024】乱視度数検査終了後、送りスイッチが押さ
れると、装置は決定した乱視度数と他覚値デ−タのそれ
とを比較する。両者の度数変動が0.25D以下である
ときは自覚検査で得られた値を乱視軸と乱視度数として
決定して、過矯正防止のためのR/G検査にプログラム
を進める。度数変動が0.50D以上あるときには再び
乱視軸検出検査を行う。これは、乱視度数が2段階以上
変わるような大きな度数変化は、軸を変動させる可能性
が高くなるからである。乱視軸検出検査により前回得た
乱視軸値に対して変動がなければ、自覚検査で得られた
値を乱視度数、軸として決定してR/G検査にプログラ
ムを進め、変動があれば再び乱視度数検査のステップに
戻る。
【0025】<B> CYL=0.25Dのときには、
乱視軸検出検査を行う前に乱視度検出のための検査ステ
ップを先に行う。これは乱視度の検出検査のときに0に
なる可能性が有るからであり、乱視度数が0の場合には
乱視軸の検査も不要であるからである(軸の検出検査を
先に行い、乱視度が0になったならば軸検査が無駄にな
る)。この検査の結果、CYL=0ならば軸の検出検査
は必要ないので、送りスイッチが押されることにより乱
視軸の検出を省略して(AXIS=0として)、最高視
力を得るためのR/G検査に移る。CYL値が0.25
D以上の時には続いて乱視軸の検査を行い、乱視度数、
軸を決定する。
【0026】このように、本装置の検眼プログラムは他
覚値デ−タ(又は眼鏡値デ−タ)のCYL値、AXIS
値の内容により、乱視度数検出、軸検出の検査ステップ
を省略したりその順序を変えるので、検者は無用な検査
項目を実施することなく、検査時間を短縮して効率良く
検眼を進めることができる。また、検査を省略又は変更
するためのスイッチ操作も最小限ですむ。なお、上記の
検眼プログラムでは、他覚値デ−タの乱視が無い(CY
L=0)ときにR/G検査、乱視軸検出検査及び乱視度
数検出検査の乱視検査を省略するものとしたが、他覚値
デ−タのCYL値が小さいときにも(0.25D又は
0.50D)、乱視度数を0にして検査を簡略化しても
良い。さらに、CYL=0.50D以下のときは球面度
数に乱視度数の半分を加える等価球面処理を施すように
しても良い。これらの乱視検査を省略する検眼プログラ
ムを採用するか否かは、検者の検眼方針、検眼目的等に
よるので、検眼をスタ−トする前に各種の設定を行うセ
ット画面で選択する。
【0027】乱視度数、軸が決定できると過矯正防止の
ためのR/G検査になる。検者は球面度数を再確認した
後、視力検査を行う。視標は視力値1.0程度の視力標
が呈示される。最高視力が決まったところで検者は球面
度数を調整し、最もプラスよりで最高視力となる度数と
し、片眼完全矯正値を決定する。片眼の完全矯正値決定
ができたら、もう片方の眼を指定し、同様に装置の検眼
プログラムに従い完全矯正値を得る。検者は、その後検
査プログラムに従って両眼バランス検査、立体視確認検
査、両眼視力検査、近用加入度検査等の自覚検査を行
い、処方値を決定する。
【0028】以上の実施例では、他覚値デ−タの乱視度
数が所定の値以下のときは、クロスシリンダレンズによ
る乱視検査を省略するものとしているが、クロスシリン
ダレンズによる乱視検査の省略に代えて、放射線視標に
よる乱視確認検査を行うようにすることもできる。この
検査を行うか否かは、検眼スタ−ト前のセット画面で予
め選択する。放射線視標による乱視確認検査の検査ステ
ップでは、視標呈示装置は放射線視標を呈示し、自覚式
屈折力検査装置2は他覚値デ−タに対して被検眼の視力
が0.5程度になるように球面度数の雲霧をかける。視
力を0.5程度にするための雲霧量の例を次に示す。他
覚値デ−タの球面度数が0〜−5.00Dのときは+
1.50D、−5.25D〜−9.00Dのときは+
1.25D、−9.25D以上のときは+1.00Dと
する。
【0029】図7は放射線視標による乱視確認検査の時
の表示画面を示し、下方表示部82には数字が付された
放射線視標の図柄表示と、ファンクションスイッチ群4
3の入力のための指示が表示される。検者は被検者にハ
ッキリ見える線があるか、ある場合はどの方向かを尋
ね、その応答に対応したファンクションスイッチを押
す。装置はスイッチ信号により最小ステップ度数(例え
ば、−0.25D)を検眼窓の光学系に付加し、応答か
ら求められる方向に乱視軸をセットする。中央表示部8
0には被検眼に付加した乱視の値が表示される。被検者
が放射線視標が同じ程度に見えるようになるまでこの操
作を繰り返す。上記実施例は当業者において種々の変容
が可能であり、本発明はこのような変容も技術思想を同
一にする範囲において含むものである。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
他覚値デ−タや前眼鏡デ−タに基づき一部の検査項目を
省いたりその順序を変更したりして、検者は無用な検査
項目を実施することなく、検査時間を短縮して効率良く
検眼を進めることができる。これにより被検者の負担も
軽減できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例である検眼装置の全体構成を示す外観図
である。
【図2】コントロ−ラを上から見た図である。
【図3】装置の制御を説明するためのブロック図であ
る。
【図4】本装置が持つプログラム検眼を説明するフロ−
チャ−ト図である。
【図5】他覚矯正値確認検査のときの表示画面例を示す
図である。
【図6】乱視検査における検眼フロ−を示す図である。
【図7】放射線視標による乱視確認検査の時の表示画面
例を示す。
【符号の説明】
2 自覚式屈折力測定装置2 4 投影式視標呈示装置4 3 他覚式眼屈折力測定装置 9 レンズメ−タ 36 測定モ−ド切換スイッチ群 50,60,70 マイクロコンピュ−タ回路 51,52 メモリ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 矯正光学系により被検眼の屈折力を検査
    する自覚屈折力測定装置と、視標を呈示する視標呈示装
    置と、所定のプログラム手順により複数の検査項目を実
    行するために該視標呈示装置と前記自覚屈折力測定装置
    を制御する制御手段と、を備える検眼装置において、被
    検眼の屈折力を他覚的に測定する装置またはレンズメ−
    タによる測定デ−タを入力する入力手段と、該入力され
    た測定デ−タに基づいて前記プログラムされた検査項目
    を変更するプログラム変更手段と、を有することを特徴
    とする検眼装置。
  2. 【請求項2】 請求項1のプログラム変更手段は、前記
    入力された測定デ−タの乱視度数により乱視検査の手順
    を変更することを特徴とする検眼装置。
  3. 【請求項3】 請求項2のプログラム変更手段は、入力
    された乱視度数と所定の基準度数と比較する比較手段を
    持ち、前記乱視度数が所定の値以下のときは少なくとも
    一部の乱視検査を省略するよう指令する指令手段を持つ
    ことを特徴とする検眼装置。
  4. 【請求項4】 請求項3の比較手段は第1及び第2の基
    準度数を有していることを特徴とする検眼装置。
  5. 【請求項5】 請求項3のプログラム変更手段は、さら
    に前記省略された検査に代えて異なる乱視検査を行うよ
    うに指令することを特徴とする検眼装置。
  6. 【請求項6】 請求項5の検眼装置において、省略され
    た検査に代えて行われる異なる乱視検査とは放射線視標
    による乱視確認検査であることを特徴とする検眼装置。
  7. 【請求項7】 請求項1の検眼装置は、検査内容及び検
    査進行手順をプログラムするプログラム入力手段を持つ
    ことを特徴とする検眼装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004275589A (ja) * 2003-03-18 2004-10-07 Topcon Corp 検眼装置
JP2006081835A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Topcon Corp 眼科情報処理システム
JP2006181271A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Topcon Corp 検眼装置
JP2007325953A (ja) * 2007-08-21 2007-12-20 Topcon Corp 検眼装置
JP2022085071A (ja) * 2020-11-27 2022-06-08 株式会社ニデック 自覚式検眼システム及び自覚式検眼プログラム

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