JPH09113459A - 異物検査装置及び異物検査結果表示方法 - Google Patents

異物検査装置及び異物検査結果表示方法

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JPH09113459A
JPH09113459A JP7297703A JP29770395A JPH09113459A JP H09113459 A JPH09113459 A JP H09113459A JP 7297703 A JP7297703 A JP 7297703A JP 29770395 A JP29770395 A JP 29770395A JP H09113459 A JPH09113459 A JP H09113459A
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Hajime Moriya
元 森谷
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は異物検査装置に関し、複数の検査結果
を容易に閲覧し得る使い勝手の向上した異物検査装置を
実現する。 【解決手段】単位区画を少なくとも2つ以上に分割し、
被検査物の複数の検査面から得た異物の分布状況又は被
検査物の同一検査面から得た検査時点の異なる異物の分
布状況を同時表示させる表示制御手段(11)を設ける
ようにしたことにより、複数の検査面から得た異物の分
布状況又は同一検査面から得た検査時点の異なる異物の
分布状況を見比べる場合、頻繁に画面を切り換える必要
がなくなり、複数の検査結果を容易に閲覧し得る。かく
するにつき複数の検査結果を容易に閲覧し得る使い勝手
の向上した異物検査装置を実現し得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は異物検査装置及び異
物検査結果表示方法に関し、例えばLSI(Large Scal
e Integrated circuit)回路用フオトマスク、レチクル
又はウエハ等の回路パターン上に付着した異物を検出す
る際に適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来、LSI回路を製造する過程におい
ては、異物検査装置を用いてフオトマスクやレチクル、
或いはウエハ等に付着した異物を検査するようになされ
ている。これは、異物が付着した状態でLSI回路を製
造すると、異物によつて回路パターンがシヨートする
等、種々の不具合が生じるからである。このため、LS
I回路の製造過程においては、上述のようにして異物検
査装置を用いて異物検査することにより、このような不
具合が発生することを未然に回避するようになされてい
る。
【0003】このような異物検査装置として、従来、例
えばレーザー光を被検査物の検査面上に照射することに
よつて当該検査面上に付着した異物を検出する装置があ
る。この異物検査装置では、検査面上をレーザー光によ
つて走査し、検査面上に存在する異物によつて反射され
た散乱光を受光することにより、異物の位置及び大きさ
を検出する。またこの異物検査装置では、その検査結果
に基づいて異物の分布状況をデイスプレイ上に表示する
(以下、この異物の分布状況をマツプと呼ぶ)。例えば
図7に示すように、検査面を表す表示画面を複数の表示
区画に分割し、異物があればその表示区画毎にその大き
さを表示する。なお、図7においては斜線部分に異物が
存在することを示している。このようにして異物の検査
結果をマツプ表示することにより、ユーザは検査面上の
どの辺にどの位の大きさの異物が存在するかということ
を理解することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような異
物検査装置においては、複数の検査結果を閲覧する場
合、頻繁にマツプの切り換えを行わなければならず、操
作が繁雑になる問題がある。例えば被検査物の表面と裏
面の検査結果を見比べる場合、図7及び図8に示すよう
なマツプを交互にデイスプレイに表示させるか、もしく
は両方のマツプをそれぞれプリントアウトする等して見
比べなければならない。
【0005】また従来の異物検査装置では、1つのマツ
プであつても、それぞれの表示区画が同じ方法で表示さ
れているため、異物として検出されたものと、異物らし
く検出されたが実際は異物ではないもの(いわゆるパタ
ーンのエツジ等によつて起きる疑似欠陥等)とを区別し
て表示することができない問題があつた。
【0006】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、複数の検査結果を容易に閲覧し得る使い勝手の向上
した異物検査装置及び異物検査結果表示方法を提案しよ
うとするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、被検査物(2)の検査面上に光束
を走査し、該検査面上に存在する異物によつて反射され
た光束の散乱光を光電変換素子(10A〜10E)によ
つて受光することにより検査面上に存在する異物の位置
及び大きさを検出する異物検査手段(3、4A〜4C、
5〜9、10A〜10E及び15)と、検査面を表す表
示画面(21)を複数の単位区画(21A)に分けて該
単位区画毎に異物の大きさを表すことによつて異物の分
布状況を表示する表示手段(14)とを有する異物検査
装置において、単位区画(21A)を少なくとも2つ以
上に分割し、被検査物(2)の複数の検査面から得た異
物の分布状況又は被検査物(2)の同一検査面から得た
検査時点の異なる異物の分布状況を同時に表示させる表
示制御手段(11)を設けるようにした。
【0008】また本発明においては、異物検査装置にお
いて、単位区画内で大きさの異なる複数の異物が検出さ
れた場合には、単位区画(21A)を異物の大きさの分
類数に応じて分割し、該単位区画内で検出され大きさの
異なる異物を全て同時に表示させる表示制御手段(1
1)を設けるようにした。
【0009】表示制御手段(11)を設け、単位区画
(21A)を少なくとも2つ以上に分割し、被検査物
(2)の複数の検査面から得た異物の分布状況又は被検
査物(2)の同一検査面から得た検査時点の異なる異物
の分布状況を同時表示するようにしたことにより、複数
の検査面から得た異物の分布状況又は同一検査面から得
た検査時点の異なる異物の分布状況を見比べる場合、頻
繁に画面を切り換える必要がなくなり、複数の検査結果
を容易に閲覧し得る。
【0010】また単位区画内で大きさの異なる複数の異
物が検出された場合には、単位区画(21A)を異物の
大きさの分類数に応じて分割し、該単位区画内で検出さ
れ大きさの異なる異物を全て同時に表示するようにした
ことにより、単位区画内での異物の混在状況を把握し
得、使い勝手を向上し得る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
【0012】(1)第1実施例 まず図1において、本発明を適用した異物検査装置の全
体構成を示す。この異物検査装置1では、被検査物であ
る例えばレチクル2は、Y軸方向に移動可能なYステー
ジ3上に載置される。この状態においてレチクル2の表
面を異物検査する場合、まず駆動部4Aを動作させるこ
とによりスイツチングミラー5を図中破線で示すように
レーザー光が通過する位置に配置する。
【0013】このようにセツテイングした後、光源6か
らレーザー光を出力すると、そのレーザー光はスキヤナ
ーミラー7、集光レンズ8、スイツチングミラー5及び
ミラー9を順に介してレチクル2の表面に照射される。
このとき駆動部4Bを動作させてスキヤナーミラー7の
角度を変えると、レーザースポツトはレチクル2の表面
上をX軸方向に沿つて移動する。また駆動部4Cを動作
させてYステージ3をY軸方向に沿つて移動させると、
レーザースポツトはレチクル2の表面上をY軸方向に沿
つて移動する。異物検査装置1では、このようにスキヤ
ナーミラー7及びYステージ3を動作させることにより
レーザースポツトをX軸方向及びY軸方向に移動させ、
レーザー光によつてレチクル2の表面全体を走査する。
【0014】このようにしてレーザー光によつてレチク
ル2の表面を走査したとき、レチクル2の表面に異物が
存在すると、異物によつてレーザー光が乱反射する。従
つてその散乱光を検出すれば異物の存在を検出すること
ができる。このため異物検査装置1には複数の光電変換
素子10A〜10Eが散乱光を検出し得るような位置に
配設されている。
【0015】この光電変換素子10A〜10Eは光を受
光すると、光の強さに応じた電気信号SA 〜SE をそれ
ぞれ出力する。この電気信号SA 〜SE はそれぞれ制御
部11に入力される。制御部11は電気信号SA 〜SE
を解析することにより、異物が存在するか否かを判断す
る。例えば異物によつて散乱光が発生した場合には、無
指向性の散乱光が発生するため、全ての光電変換素子1
0A〜10Eが散乱光を受光して電気信号SA 〜SE
出力する。このため制御部11は全ての電気信号SA
E を受けたことにより、異物が存在することを検出す
る。またこのとき異物の大きさによつて電気信号SA
E の値が異なるため、その値を解析することにより異
物の大きさ自体も検出する。また制御部11は制御信号
A 〜CC を出力してそれぞれ駆動部4A〜4Cを制御
しているため、現状、レーザー光がレチクル2のどこに
照射されているかを認識している。このため制御部11
は、散乱光によつて異物を検出したとき、レーザ光の照
射位置を基にその異物の位置自体も検出する。このよう
にして制御部11は散乱光の受光結果により異物の位置
及び大きさを検出する。
【0016】因みに、回路パターンのエツジによつても
散乱光が発生するが、その場合には指向性の散乱光が発
生するため、光電変換素子10A〜10Eのうち一部が
散乱光を受光する。このためその場合には、全ての電気
信号SA 〜SE が発生せず、制御部11は散乱光を検出
したものの、異物ではなく疑似欠陥であると判断する。
【0017】このようにして異物検査装置1では、レチ
クル2の表面について異物検査を行い、その検査結果を
メモリ12に記憶すると共に、ユーザによる情報入力部
13の操作に応じてメモリ12から検査結果を読み出し
てデイスプレイ14にマツプ表示する。
【0018】これに対してレチクル2の裏面を異物検査
する場合には、駆動部4Aを動作させることによりレー
ザー光が通過しない位置にスイツチングミラー5を移動
させる。これにより光源6から出力されたレーザー光は
スキヤナーミラー7、集光レンズ8、ミラー15を順に
介してレチクル2の裏面に照射される。このとき同様に
してスキヤナーミラー7の角度を変えると共に、レチク
ル2をY軸方向に沿つて移動させることにより、レーザ
ースポツトでレチクル2の裏面全体を走査する。これに
より異物によつて発生した散乱光を裏面側用の光電変換
素子(図示せず)によつて検出し、その結果得た電気信
号を制御部11によつて解析する。このようにして異物
検査装置1では、レチクル2の裏面についても同様に異
物検査を行い、その検査結果をメモリ12に記憶すると
共に、ユーザによる情報入力部13の操作に応じてメモ
リ12から検査結果を読み出してデイスプレイ14にマ
ツプ表示する。
【0019】ここでデイスプレイ14に表示されるマツ
プについて説明する。この実施例の場合も、通常表示に
おいては、図2に示すようなマツプ20を表示する。す
なわち被検査面を表す表示画面21を複数の表示区画2
1Aに分け、異物があればその表示区画毎に異物の大き
さを表示する。
【0020】このとき表示区画21Aは被検査面上の所
定の大きさの領域を示している。この表示区画21Aが
表す領域の大きさは、設定によつて例えば5〔mm〕角四
方、1〔mm〕角四方、0.1 〔mm〕角四方等に切り換え得
るようになされている。但し、これは検査の分解能自体
を切り換えるということではなく、表示の最小単位を切
り換えるということである。実際上、異物検査装置1で
は、検査時のXY座標値の分解能は 0.1〔mm〕に設定さ
れており、0.1 〔mm〕角四方を単位として異物検査を行
つている。従つて表示区画21Aを例えば5〔mm〕角四
方に設定した場合には、1つの表示区画内に2500個分の
検査データが含まれることになる。
【0021】このため異物検査装置1では、1つの表示
区画内で大きさの異なる複数の異物が検出された場合に
は、検出された異物のうち最も大きい異物を表示するよ
うになされている。その際、異物検査装置1は、異物の
大きさによつて表示色を分けることにより異物の大きさ
を識別し得るようにしている。例えば異物の大きさを3
つのレベルに分け、一番小さいランクの異物の場合には
例えば「青色」で表示し、中間ランクの異物の場合には
例えば「黄色」で表示し、一番大きいランクの異物の場
合には例えば「赤色」で表示する。これによりユーザは
表示色を見て異物の大きさを認識することができる。
【0022】ところでこの実施例の異物検査装置1で
は、情報入力部13を用いてユーザが所定の操作を行う
と、レチクル2の表面の検査結果と裏面の検査結果とを
同時にデイスプレイ14上に表示し得るようになされて
いる。この場合、まず制御部11はメモリ12からレチ
クル表面の検査結果とレチクル裏面の検査結果とを両方
読み出し、所定の処理によつてそれぞれのマツプを生成
する。そして制御部11はそれらのマツプを表示する
際、図3に示すように、1つの表示区画21Aを横に2
分割し、上側の表示区画21AAにレチクル表面の検査
結果を、下側の表示区画21ABにレチクル裏面の検査
結果を表示することにより、1つの画面上で表面と裏面
の2つのマツプを同時に表示する。これによりユーザは
1つの画面上でレチクル表面のマツプとレチクル裏面の
マツプとを同時に見ることができ、容易に見比べること
ができる。
【0023】またこの実施例の異物検査装置1では、情
報入力部13を用いてユーザが所定の操作を行うと、マ
ツプの所定部分を他の部分と区別して表示し得るように
なされている。例えば異物として検出されたものと、異
物らしく検出されたが異物ではない疑似欠陥とを区別し
て表示する。この場合、制御部11はマツプを表示する
際、異物の場合には1つの表示区画21Aを全部使つて
表示を行い、疑似欠陥の場合には1つの表示区画21A
を同様に横に2分割し(図3参照)、下側の表示区画2
1ABだけを使つて表示を行う。これによりユーザはこ
の表示を見て異物と疑似欠陥とを識別することができ
る。
【0024】さらにこの実施例の異物検査装置1では、
情報入力部13を用いてユーザが所定の操作を行うと、
過去の検査結果と最新の検査結果とを同時にデイスプレ
イ14上に表示し得るようになされている。例えば一週
間前に検査したときのレチクル表面の検査結果と先程検
査したときのレチクル表面の検査結果とを同時に表示す
る。
【0025】この場合、制御部11はまずメモリ12か
ら一週間前のレチクル表面の検査結果と先程検査したレ
チクル表面の検査結果とを両方読み出し、所定の処理に
よつてそれぞれのマツプを生成する。そして制御部11
はそれらのマツプを表示する際、図4に示すように、1
つの表示区画21Aを縦に2分割し、左側の表示区画2
1ACに一週間前の検査結果を、右側の表示区画21A
Dに先程の検査結果を表示することにより、1つの画面
上で過去の検査結果によるマツプと最新の検査結果によ
るマツプとを同時に表示する。このようにして1つの表
示区画21Aを縦に2分割して左側の表示区画21AC
に過去の検査結果を表示し、右側の表示区画21ADに
最新の検査結果を表示することにより、ユーザは1つの
画面上で過去と最新の2つのマツプを容易に見比べるこ
とができる。
【0026】以上の構成において、レチクル表面の検査
結果とレチクル裏面の検査結果とを同時表示するような
操作がなされると、異物検査装置1は、1つの表示区画
21Aを横に2分割して表面の検査結果と裏面の検査結
果とを同時に表示する。これによりユーザは1つの画面
上で表面と裏面のマツプを同時に見ることができ、従来
のようにマツプを頻繁に切り換える必要がなくなる。
【0027】また疑似欠陥の部分を区別表示するような
操作がなされると、異物検査装置1は、疑似欠陥のある
ところでは、1つの表示区画21Aを2分割して下側の
部分だけを用いて表示する。このようにして区別したい
箇所を表示する場合には1つの表示区画21Aの下側だ
けを用いて表示するようにしたことにより、ユーザは特
定の部分を容易に判別することができる。
【0028】またレチクル表面の過去の検査結果と最新
の検査結果とを同時に表示するような操作がなされる
と、異物検査装置1は、1つの表示区画21Aを縦に2
分割して過去の検査結果と最新の検査結果とを同時に表
示する。これによりユーザは1つの画面上で過去と最新
の検査結果を同時に見ることができ、従来のようにマツ
プを頻繁に切り換える必要がなくなる。
【0029】以上の構成によれば、1つの表示区画21
Aを横又は縦に2分割して2つの検査結果(すなわち異
物の分布状況)を同時に表示するようにしたことによ
り、同時に2つの検査結果を容易に閲覧し得ると共に、
従来のように頻繁にマツプを切り換える必要がなくなる
ため使い勝手を従来に比して向上し得る。
【0030】(2)第2実施例 上述の第1実施例においては、レチクル2の表面及び裏
面の検査結果を同時に表示した場合について述べたが、
この第2実施例ではペリクル付きレチクルを異物検査し
たときに得られる4つの検査結果を同時に表示する。
【0031】レチクルの一種には、ペリクルという保護
材を表面及び裏面の両面に貼る付けたペリクル付きレチ
クルというものがある。このようなペリクル付きレチク
ルでは、異物検査の対象となる検査面は、ガラス側ペリ
クル面、ガラス面、パターン面及びパターン側ペリクル
面の4つになる。このためペリクル付きレチクルを異物
検査する場合には、図1に示した異物検査装置1におい
てYステージ3を上下(いわゆるZ軸方向)にも動かす
ようにし、これによつてレーザー光の焦点をそれぞれの
面に合わせて異物検査を行う。これら4つの面について
の検査結果は第1実施例と同様にそれぞれメモリ12に
記憶され、ユーザの操作に応じて読み出され、デイスプ
レイ14上にマツプ表示される。
【0032】ところでこの実施例の場合には、情報入力
部13を用いてユーザが所定の操作を行うと、ペリクル
付きレチクルの4つの検査面についての検査結果を同時
に表示し得るようになされている。この場合、まず制御
部11はメモリ12からそれぞれの検査面についての検
査結果を読み出し、所定の処理によつてそれぞれのマツ
プを生成する。そして制御部11はそれらのマツプを表
示する際、図5に示すように、1つの表示区画21Aを
横に4分割し、一番上側の表示区画21AEにガラス側
ペリクル面の検査結果を、上から2番目の表示区画21
AFにガラス面の検査結果を、上から3番目の表示区画
21AGにパターン面の検査結果を、一番下側の表示区
画21AHにパターン側ペリクル面の検査結果をそれぞ
れ表示することにより、1つの画面上で4つのマツプを
同時に表示する。
【0033】これによりユーザは1つの画面上でガラス
側ペリクル面、ガラス面、パターン面及びパターン側ペ
リクル面の4つのマツプを同時に見ることができ、容易
に見比べることができる。従つてこの実施例の異物検査
装置では、従来のようにマツプを見比べる際に頻繁にマ
ツプを切り換える必要がなくなり、使い勝手が向上す
る。
【0034】以上の構成によれば、1つの表示区画21
Aを横に4分割して4つの検査面についての検査結果を
同時に表示するようにしたことにより、同時に4つの検
査結果を容易に閲覧し得ると共に、従来のように頻繁に
マツプを切り換える必要がなくなるため使い勝手を従来
に比して向上し得る。
【0035】(3)第3実施例 上述の第1実施例においては、1つの表示区画内で大き
さの異なる複数の異物が検出された場合には、検出され
た異物のうち最も大きい異物だけを表示するようにした
場合について述べたが、この第3実施例では、大きさの
異なる複数の異物が検出された場合には、1つの表示区
画を分割してその検出結果を全て表示する。
【0036】第1実施例でも述べたように、異物検査装
置1では、表示区画21Aが表す領域の大きさは、設定
によつて例えば5〔mm〕角四方、1〔mm〕角四方、0.1
〔mm〕角四方等に切り換え得るようになされている。ま
た異物検査の分解能としては、0.1 〔mm〕角四方の分解
能がある。従つて表示区画21Aを例えば5〔mm〕角四
方に設定した場合には、1つの表示区画内に2500個分の
検査データが含まれることになる。このため1つの表示
区画内で大きさの異なる複数の異物が検出された場合に
は、検出された異物のうち最も大きい異物を表示するよ
うになされている。
【0037】ところがこのようにすると、折角検出した
小さい異物がマツプ上に表示されなくなる。このためこ
の実施例の場合には、図6に示すように、1つの表示区
画21Aを縦横でそれぞれ2分割ずつして全部で4つに
分割し、検出された大きさの異なる異物を同時に表示す
る。
【0038】具体的には、一番小さいランクの異物が検
出された場合には右上の表示区画21AIに例えば「緑
色」を表示し、その上のランクの異物が検出された場合
には左上の表示区画21AJに例えば「青色」を表示
し、さらにその上のランクの異物が検出された場合には
右下の表示区画21AKに例えば「黄色」を表示し、一
番大きいランクの異物が検出された場合には左下の表示
区画21ALに例えば「赤色」を表示する。これにより
今まで大きな異物に隠れていた小さな異物まで1つのマ
ツプ上に表示することができるようになる。またこれに
よりユーザは1つの表示区画21Aの中にどのような大
きさの異物が混在しているかを一目で理解することがで
きる。
【0039】以上の構成によれば、1つの表示区画21
Aを縦横で4分割し、表示区画21A内で検出された大
きさの異なる異物を同時に表示するようにしたことによ
り、表示区画21Aの中にどのような大きさの異物が混
在しているかを一目で理解でき、一段と使い勝手を向上
し得る。
【0040】(4)他の実施例 なお上述の第1及び第2実施例においては、被検査面が
2つ又は4つであつたため1つの表示区画21Aを2分
割又は4分割したが、本発明はこれに限らず、例えば被
検査面が6つの場合には1つの表示区画21Aを6分割
するようにすれば上述の場合と同様の効果を得ることが
できる。要は、被検査面の数に応じて分割数を決定すれ
ば上述の場合と同様の効果を得ることができる。
【0041】また上述の第3実施例においては、異物の
大きさを4つのレベルに分け、その4種類の異物を同時
に表示するため1つの表示区画21Aを4分割した場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば異物
の大きさを6つのレベルに分けた場合には1つの表示区
画21Aを6分割するようにすれば上述の場合と同様の
効果を得ることができる。要は、異物の大きさの分類数
に応じて分割数を決定すれば上述の場合と同様の効果を
得ることができる。
【0042】因みに、分割数が多くなつた場合には画面
が見難くなるおそれがあるため、その場合には適宜画面
を拡大表示することが望ましい。
【0043】さらに上述の実施例においては、表示色と
して「緑色」、「青色」、「黄色」、「赤色」等を用い
た場合ついて述べたが、本発明はこれに限らず、表示色
としてはその他の色を用いるようにしても良い。
【0044】また上述の実施例においては、表示色によ
つて異物の大きさを識別し得るようにした場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、文字や記号によつて
異物の大きさを識別し得るようにしても上述の場合と同
様の効果を得ることができる。特に、第3実施例の場合
には、表示区画21Aの中の表示位置によつて異物の大
きさが識別し得るため、同一の色や文字、或いは記号を
表示したとしても異物の大きさを十分識別し得る。
【0045】さらに上述の実施例においては、レチクル
2の異物検査を行う異物検査装置1に本発明を適用した
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば
LSI回路用フオトマスクやウエハ等を検査する異物検
査装置に本発明を適用した場合にも上述の場合と同様の
効果を得ることができる。
【0046】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、単位区画
を少なくとも2つ以上に分割し、被検査物の複数の検査
面から得た異物の分布状況又は被検査物の同一検査面か
ら得た検査時点の異なる異物の分布状況を同時表示させ
る表示制御手段を設けるようにしたことにより、複数の
検査面から得た異物の分布状況又は同一検査面から得た
検査時点の異なる異物の分布状況を見比べる場合、頻繁
に画面を切り換える必要がなくなり、複数の検査結果を
容易に閲覧し得る。かくするにつき複数の検査結果を容
易に閲覧し得る使い勝手の向上した異物検査装置を実現
し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による異物検査装置の全体構
成を示す略線図である。
【図2】通常表示のときのマツプを示す略線図である。
【図3】横に2分割した表示区画を示す略線図である。
【図4】縦に2分割した表示区画を示す略線図である。
【図5】横に4分割した表示区画を示す略線図である。
【図6】縦横で4分割した表示区画を示す略線図であ
る。
【図7】被検査物の表面の検査結果を示すマツプの略線
図である。
【図8】被検査物の裏面の検査結果を示すマツプの略線
図である。
【符号の説明】
1……異物検査装置、2……レチクル、3……Yステー
ジ、4A〜4C……駆動部、5……スイツチングミラ
ー、6……光源、7……スキヤナーミラー、8……集光
レンズ、9、15……ミラー、10A〜10E……光電
変換素子、11……制御部、12……メモリ、13……
情報入力部、14……デイスプレイ、20……マツプ、
21A、21AA〜21AL……表示区画。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検査物の検査面上に光束を走査し、該検
    査面上に存在する異物によつて反射された前記光束の散
    乱光を光電変換素子によつて受光することにより前記検
    査面上に存在する異物の位置及び大きさを検出する異物
    検査手段と、前記検査面を表す表示画面を複数の単位区
    画に分けて該単位区画毎に前記異物の大きさを表すこと
    によつて前記異物の分布状況を表示する表示手段とを有
    する異物検査装置において、 前記単位区画を少なくとも2つ以上に分割し、前記被検
    査物の複数の検査面から得た異物の分布状況又は前記被
    検査物の同一検査面から得た検査時点の異なる異物の分
    布状況を同時に表示させる表示制御手段を具えることを
    特徴とする異物検査装置。
  2. 【請求項2】被検査物の検査面上に光束を走査し、該検
    査面上に存在する異物によつて反射された前記光束の散
    乱光を光電変換素子によつて受光することにより前記検
    査面上に存在する異物の位置及び大きさを検出する異物
    検査手段と、前記検査面を表す表示画面を複数の単位区
    画に分けて該単位区画毎に前記異物の大きさを表すこと
    によつて前記異物の分布状況を表示する表示手段とを有
    する異物検査装置において、 前記単位区画内で大きさの異なる複数の異物が検出され
    た場合には、前記単位区画を異物の大きさの分類数に応
    じて分割し、該単位区画内で検出され大きさの異なる異
    物を全て同時に表示させる表示制御手段を具えることを
    特徴とする異物検査装置。
  3. 【請求項3】被検査物の検査面上に光束を走査し、該検
    査面上に存在する異物によつて反射された前記光束の散
    乱光を光電変換素子によつて受光することにより前記検
    査面上に存在する異物の位置及び大きさを検出し、前記
    検査面を表す表示画面を複数の単位区画に分けて該単位
    区画毎に前記異物の大きさを表すことによつて前記異物
    の分布状況を表示する異物検査結果表示方法において、 前記単位区画を少なくとも2つ以上に分割し、前記被検
    査物の複数の検査面から得た異物の分布状況又は前記被
    検査物の同一検査面から得た検査時点の異なる異物の分
    布状況を同時に表示するようにしたことを特徴とする異
    物検査結果表示方法。
  4. 【請求項4】被検査物の検査面上に光束を走査し、該検
    査面上に存在する異物によつて反射された前記光束の散
    乱光を光電変換素子によつて受光することにより前記検
    査面上に存在する異物の位置及び大きさを検出し、前記
    検査面を表す表示画面を複数の単位区画に分けて該単位
    区画毎に前記異物の大きさを表すことによつて前記異物
    の分布状況を表示する異物検査結果表示方法において、 前記単位区画内で大きさの異なる複数の異物が検出され
    た場合には、前記単位区画を異物の大きさの分類数に応
    じて分割し、該単位区画内で検出され大きさの異なる異
    物を全て同時に表示するようにしたことを特徴とする異
    物検査結果表示方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006184021A (ja) * 2004-12-24 2006-07-13 Saki Corp:Kk 外観検査装置

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JP2006184021A (ja) * 2004-12-24 2006-07-13 Saki Corp:Kk 外観検査装置

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