JPH09113545A - 電流測定装置 - Google Patents
電流測定装置Info
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- JPH09113545A JPH09113545A JP29344295A JP29344295A JPH09113545A JP H09113545 A JPH09113545 A JP H09113545A JP 29344295 A JP29344295 A JP 29344295A JP 29344295 A JP29344295 A JP 29344295A JP H09113545 A JPH09113545 A JP H09113545A
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- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】スイッチによる切換を行うことなく、幅広いレ
ンジの動的な電流測定を高速で行うことができる電流測
定装置を提供する。 【解決手段】本電流測定装置は、コンデンサ１２に直流
電圧を印加することにより、コンデンサに流れる電流を
検出する。コンデンサには測定用抵抗１３が直列接続さ
れ、計測用アンプ１５は測定用抵抗の両端の電位差によ
り測定用抵抗を流れる電流を検出する。また、測定用抵
抗と直列に対数増幅器１４が接続される。計測用アンプ
および対数増幅器の出力はＡ／Ｄ変換器１６，１８を経
て演算処理回路１７に入力される。演算処理回路は、所
定の閾値を境にして計測用アンプおよび対数増幅器の出
力の何れかを選択してコンデンサに流れる電流値を求め
る。
ンジの動的な電流測定を高速で行うことができる電流測
定装置を提供する。 【解決手段】本電流測定装置は、コンデンサ１２に直流
電圧を印加することにより、コンデンサに流れる電流を
検出する。コンデンサには測定用抵抗１３が直列接続さ
れ、計測用アンプ１５は測定用抵抗の両端の電位差によ
り測定用抵抗を流れる電流を検出する。また、測定用抵
抗と直列に対数増幅器１４が接続される。計測用アンプ
および対数増幅器の出力はＡ／Ｄ変換器１６，１８を経
て演算処理回路１７に入力される。演算処理回路は、所
定の閾値を境にして計測用アンプおよび対数増幅器の出
力の何れかを選択してコンデンサに流れる電流値を求め
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電流測定装置、特に
コンデンサを流れる漏れ電流の測定に適した電流測定装
置に関するものである。
コンデンサを流れる漏れ電流の測定に適した電流測定装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、コンデンサの良否を判定するた
め、測定用の直流電圧をコンデンサに印加し、十分充電
された後のコンデンサの漏れ電流を測定している。当然
ながら、良品は漏れ電流が少ない。
め、測定用の直流電圧をコンデンサに印加し、十分充電
された後のコンデンサの漏れ電流を測定している。当然
ながら、良品は漏れ電流が少ない。
【０００３】図１は従来のコンデンサの漏れ電流測定装
置の一例を示す。この測定装置は、コンデンサ１に一定
の直流電圧を印加する定電圧電源２と、コンデンサ１と
直列接続された測定用抵抗３と、抵抗３に負入力端が接
続されたＯＰアンプ４と、ＯＰアンプ４の負入力端と出
力端との間に接続された帰還抵抗５と、ＯＰアンプの出
力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器６と、Ａ／Ｄ変換器６
の出力により漏れ電流を演算するＣＰＵ７とを備えてい
る。コンデンサ１の漏れ電流は種々異なるので、帰還抵
抗５を複数個並列接続し、これら抵抗５をスイッチ８で
切り換えることにより、ゲインを切り換え、測定電流帯
を選択していた。
置の一例を示す。この測定装置は、コンデンサ１に一定
の直流電圧を印加する定電圧電源２と、コンデンサ１と
直列接続された測定用抵抗３と、抵抗３に負入力端が接
続されたＯＰアンプ４と、ＯＰアンプ４の負入力端と出
力端との間に接続された帰還抵抗５と、ＯＰアンプの出
力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器６と、Ａ／Ｄ変換器６
の出力により漏れ電流を演算するＣＰＵ７とを備えてい
る。コンデンサ１の漏れ電流は種々異なるので、帰還抵
抗５を複数個並列接続し、これら抵抗５をスイッチ８で
切り換えることにより、ゲインを切り換え、測定電流帯
を選択していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
測定装置の場合、漏れ電流値が幅広く時間変化すると、
計測中にスイッチ８によるレンジ切換が必要となる。し
かしながら、漏れ電流が数ミリ秒の間に変化する場合に
は、スイッチ８の切り換えを行うことは不可能であり、
高速変化する動的な電流値を計測できないという問題が
あった。
測定装置の場合、漏れ電流値が幅広く時間変化すると、
計測中にスイッチ８によるレンジ切換が必要となる。し
かしながら、漏れ電流が数ミリ秒の間に変化する場合に
は、スイッチ８の切り換えを行うことは不可能であり、
高速変化する動的な電流値を計測できないという問題が
あった。
【０００５】そこで、本発明の目的は、幅広いレンジで
変化する動的な電流を、スイッチによる切換を行うこと
なく、高速で測定できる電流測定装置を提供することに
ある。
変化する動的な電流を、スイッチによる切換を行うこと
なく、高速で測定できる電流測定装置を提供することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、被測定物に直流電圧を印加することによ
り、被測定物に流れる電流を検出する電流測定装置にお
いて、被測定物に直列接続された測定用抵抗と、測定用
抵抗の両端の電位差を計測する計測用アンプと、測定用
抵抗と直列接続され、測定用抵抗を流れる電流を電圧に
対数変換する対数増幅器と、計測用アンプおよび対数増
幅器から出力される信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器
と、Ａ／Ｄ変換器の出力が入力され、所定の閾値を境に
して計測用アンプおよび対数増幅器の出力の何れかを選
択することにより、被測定物に流れる電流値を求める演
算処理回路と、を備えたものである。
め、本発明は、被測定物に直流電圧を印加することによ
り、被測定物に流れる電流を検出する電流測定装置にお
いて、被測定物に直列接続された測定用抵抗と、測定用
抵抗の両端の電位差を計測する計測用アンプと、測定用
抵抗と直列接続され、測定用抵抗を流れる電流を電圧に
対数変換する対数増幅器と、計測用アンプおよび対数増
幅器から出力される信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器
と、Ａ／Ｄ変換器の出力が入力され、所定の閾値を境に
して計測用アンプおよび対数増幅器の出力の何れかを選
択することにより、被測定物に流れる電流値を求める演
算処理回路と、を備えたものである。
【０００７】電源電流は被測定物（例えばコンデン
サ）、測定用抵抗を介して流れ、測定用抵抗にはＣＲの
時定数に従った特性で変化する電流が流れる。この時、
最初は比較的大きな電流が流れるので、演算処理回路は
この電流を計測用アンプで計測する。一方、電流値が低
下してくると、計測用アンプでは計測が不可能となるの
で、所定の閾値で演算処理回路は計測用アンプから対数
増幅器へ切り換え、対数増幅器の出力を用いて漏れ電流
を計測する。このようにすれば、従来のようなスイッチ
の切り換えが不要となり、幅広いレンジで変化する動的
な電流測定が可能である。演算処理回路はソフトウエア
によって瞬時に切り換えを行うので、高速での電流測定
が可能である。
サ）、測定用抵抗を介して流れ、測定用抵抗にはＣＲの
時定数に従った特性で変化する電流が流れる。この時、
最初は比較的大きな電流が流れるので、演算処理回路は
この電流を計測用アンプで計測する。一方、電流値が低
下してくると、計測用アンプでは計測が不可能となるの
で、所定の閾値で演算処理回路は計測用アンプから対数
増幅器へ切り換え、対数増幅器の出力を用いて漏れ電流
を計測する。このようにすれば、従来のようなスイッチ
の切り換えが不要となり、幅広いレンジで変化する動的
な電流測定が可能である。演算処理回路はソフトウエア
によって瞬時に切り換えを行うので、高速での電流測定
が可能である。
【０００８】
【発明の実施の形態】図２は本発明にかかる電流測定装
置の一例を示す。直流測定電源１０は、スイッチ１１を
介して被測定物であるコンデンサ１２に接続されてい
る。コンデンサ１２の下流側には抵抗１３が直列接続さ
れ、さらに抵抗１３の下流側に対数増幅器１４が直列接
続されている。抵抗１３の両端は、計測用アンプ１５の
正負の入力端に接続されている。
置の一例を示す。直流測定電源１０は、スイッチ１１を
介して被測定物であるコンデンサ１２に接続されてい
る。コンデンサ１２の下流側には抵抗１３が直列接続さ
れ、さらに抵抗１３の下流側に対数増幅器１４が直列接
続されている。抵抗１３の両端は、計測用アンプ１５の
正負の入力端に接続されている。
【０００９】対数増幅器１４の出力端はＡ／Ｄ変換器１
６を介して演算処理回路（ＣＰＵ）１７に接続され、計
測用アンプ１５の出力端もＡ／Ｄ変換器１８を介して演
算処理回路（ＣＰＵ）１７に接続されている。
６を介して演算処理回路（ＣＰＵ）１７に接続され、計
測用アンプ１５の出力端もＡ／Ｄ変換器１８を介して演
算処理回路（ＣＰＵ）１７に接続されている。
【００１０】ＣＰＵ１７は、コンデンサ１２の漏れ電流
が所定の閾値Ｉ0 （例えば１ｍｍＡ）より大か否かによ
って、増幅器１４，１５の一方の出力を選択して漏れ電
流を演算する。即ち、コンデンサ１２の漏れ電流が閾値
Ｉ0 より大きい領域では、計測用アンプ１５の出力Ｖ1
を用いて漏れ電流を求め、漏れ電流が閾値Ｉ0 より小さ
い領域では、対数増幅器１４の出力Ｖ2 を用いて漏れ電
流を求める。なお、漏れ電流の閾値Ｉ0 は抵抗１３によ
って決定される。
が所定の閾値Ｉ0 （例えば１ｍｍＡ）より大か否かによ
って、増幅器１４，１５の一方の出力を選択して漏れ電
流を演算する。即ち、コンデンサ１２の漏れ電流が閾値
Ｉ0 より大きい領域では、計測用アンプ１５の出力Ｖ1
を用いて漏れ電流を求め、漏れ電流が閾値Ｉ0 より小さ
い領域では、対数増幅器１４の出力Ｖ2 を用いて漏れ電
流を求める。なお、漏れ電流の閾値Ｉ0 は抵抗１３によ
って決定される。
【００１１】図３はスイッチ１１を投入した後のコンデ
ンサ１２に流れる電流変化を示し、図４はコンデンサ１
２に図３のような電流が流れた時の増幅器１４，１５の
出力電圧Ｖ1 ，Ｖ2 の変化を示す。出力Ｖ1 ，Ｖ2 をＡ
／Ｄ変換器１６，１８でデジタル信号に変換し、ＣＰＵ
１７にて次のように演算する。計測用アンプ１５の出力
Ｖ1 より電流Ｉ1 を求める式は次の通りである。
ンサ１２に流れる電流変化を示し、図４はコンデンサ１
２に図３のような電流が流れた時の増幅器１４，１５の
出力電圧Ｖ1 ，Ｖ2 の変化を示す。出力Ｖ1 ，Ｖ2 をＡ
／Ｄ変換器１６，１８でデジタル信号に変換し、ＣＰＵ
１７にて次のように演算する。計測用アンプ１５の出力
Ｖ1 より電流Ｉ1 を求める式は次の通りである。
【００１２】
【数１】 一方、対数増幅器１４の出力Ｖ2 より電流Ｉ2 を求める
式は次の通りである。
式は次の通りである。
【００１３】
【数２】 Ｉ2 ＝Ｂ-CV2 ・・・(2) 上式におけるＡ，Ｂ，Ｃは定数であり、Ｒは抵抗１３の
抵抗値である。これらＡ，Ｂ，Ｃの各値は、閾値Ｉ0 に
おける電流値Ｉ1 とＩ2 とが同一となるように設定され
る。
抵抗値である。これらＡ，Ｂ，Ｃの各値は、閾値Ｉ0 に
おける電流値Ｉ1 とＩ2 とが同一となるように設定され
る。
【００１４】次に、ＣＰＵ１７の具体的な演算処理動作
の例を図５に従って説明する。まず、Ａ／Ｄ変換器１
６，１８から増幅器１４，１５の出力Ｖ1 ，Ｖ2 を入力
する（ステップＳ1 ）。次に、出力Ｖ1 を閾値Ｉ0 に相
当する電圧Ｖ0 と比較する（ステップＳ2 ）。この電圧
Ｖ0 は次式で与えられる。
の例を図５に従って説明する。まず、Ａ／Ｄ変換器１
６，１８から増幅器１４，１５の出力Ｖ1 ，Ｖ2 を入力
する（ステップＳ1 ）。次に、出力Ｖ1 を閾値Ｉ0 に相
当する電圧Ｖ0 と比較する（ステップＳ2 ）。この電圧
Ｖ0 は次式で与えられる。
【００１５】
【数３】Ｖ0 ＝Ｉ0 ・Ｒ／Ａ Ｖ1 ≧Ｖ0 の時には、(1) 式からＩ1 を演算し（ステッ
プＳ3 ）、このＩ1 を漏れ電流値と決定する（ステップ
Ｓ4 ）。一方、Ｖ1 ＜Ｖ0 の時には、(2) 式からＩ2 を
演算し（ステップＳ5 ）、このＩ2 を漏れ電流値と決定
する（ステップＳ6 ）。
プＳ3 ）、このＩ1 を漏れ電流値と決定する（ステップ
Ｓ4 ）。一方、Ｖ1 ＜Ｖ0 の時には、(2) 式からＩ2 を
演算し（ステップＳ5 ）、このＩ2 を漏れ電流値と決定
する（ステップＳ6 ）。
【００１６】上記のように、大きな漏れ電流は計測用ア
ンプ１５で測定し、小さな漏れ電流は対数増幅器１４で
測定するので、コンデンサ１２の漏れ電流が幅広いレン
ジで変化しても、正確に測定することができる。しか
も、ＣＰＵ１７がソフトウエアにより増幅器１４，１５
の内の一方の出力を選択し、選択された出力から漏れ電
流を演算するので、従来のようなスイッチの切り換えが
不要であり、高速な電流測定が可能である。
ンプ１５で測定し、小さな漏れ電流は対数増幅器１４で
測定するので、コンデンサ１２の漏れ電流が幅広いレン
ジで変化しても、正確に測定することができる。しか
も、ＣＰＵ１７がソフトウエアにより増幅器１４，１５
の内の一方の出力を選択し、選択された出力から漏れ電
流を演算するので、従来のようなスイッチの切り換えが
不要であり、高速な電流測定が可能である。
【００１７】上記実施例では、本測定装置をコンデンサ
の漏れ電流の測定に適用した例を示したが、他の電子部
品または電子機器の電流測定に適用することもできる。
の漏れ電流の測定に適用した例を示したが、他の電子部
品または電子機器の電流測定に適用することもできる。
【００１８】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、大きな漏れ電流は計測用アンプで測定し、小さ
な漏れ電流は対数増幅器で測定するので、コンデンサの
漏れ電流が幅広いレンジで時間変化しても、正確に測定
することができる。しかも、演算処理回路はソフトウエ
アによって両増幅器の出力を瞬時に選択するので、数ミ
リ秒の間に変化する電流値でも高速に測定できる。
よれば、大きな漏れ電流は計測用アンプで測定し、小さ
な漏れ電流は対数増幅器で測定するので、コンデンサの
漏れ電流が幅広いレンジで時間変化しても、正確に測定
することができる。しかも、演算処理回路はソフトウエ
アによって両増幅器の出力を瞬時に選択するので、数ミ
リ秒の間に変化する電流値でも高速に測定できる。
【図１】従来のコンデンサの漏れ電流測定装置の一例の
回路図である。
回路図である。
【図２】本発明にかかかる電流測定装置の一例の回路図
である。
である。
【図３】コンデンサの漏れ電流の変化を示す図である。
【図４】計測用アンプと対数増幅器の出力の変化を示す
図である。
図である。
１０ 直流測定電源 １２ コンデンサ １３ 抵抗 １４ 対数増幅器 １５ 計測用アンプ １６，１８ Ａ／Ｄ変換器 １７ ＣＰＵ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成８年２月９日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のコンデンサの漏れ電流測定装置の一例の
回路図である。
回路図である。
【図２】本発明にかかかる電流測定装置の一例の回路図
である。
である。
【図３】コンデンサの漏れ電流の変化を示す図である。
【図４】計測用アンプと対数増幅器の出力の変化を示す
図である。
図である。
【図５】本発明にかかかる電流測定装置の動作を示すフ
ローチャート図である。
ローチャート図である。
【符号の説明】 １０ 直流測定電源 １２ コンデンサ １３ 抵抗 １４ 対数増幅器 １５ 計測用アンプ １６，１８ Ａ／Ｄ変換器 １７ ＣＰＵ
Claims (2)
- 【請求項１】被測定物に直流電圧を印加することによ
り、被測定物に流れる電流を検出する電流測定装置にお
いて、 被測定物に直列接続された測定用抵抗と、 測定用抵抗の両端の電位差を計測する計測用アンプと、 測定用抵抗と直列接続され、測定用抵抗を流れる電流を
電圧に対数変換する対数増幅器と、 計測用アンプおよび対数増幅器から出力される信号をＡ
／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、 Ａ／Ｄ変換器の出力が入力され、所定の閾値を境にして
計測用アンプおよび対数増幅器の出力の何れかを選択す
ることにより、被測定物に流れる電流値を求める演算処
理回路と、を備えたことを特徴とする電流測定装置。 - 【請求項２】請求項１に記載の電流測定装置において、 被測定物はコンデンサであり、コンデンサに流れる漏れ
電流を測定することを特徴とする電流測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29344295A JPH09113545A (ja) | 1995-10-16 | 1995-10-16 | 電流測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29344295A JPH09113545A (ja) | 1995-10-16 | 1995-10-16 | 電流測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09113545A true JPH09113545A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17794825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29344295A Pending JPH09113545A (ja) | 1995-10-16 | 1995-10-16 | 電流測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09113545A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6043665A (en) * | 1996-12-05 | 2000-03-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Capacitor charging current measurement method |
| US6204638B1 (en) | 1997-01-06 | 2001-03-20 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for charging capacitor |
| JP2006220450A (ja) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Jtekt Corp | 電流検出器 |
| JP2006292383A (ja) * | 2005-04-05 | 2006-10-26 | Honda Motor Co Ltd | 電流検出装置および電動ステアリング装置 |
| JP2011516859A (ja) * | 2008-03-31 | 2011-05-26 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | プログラム可能な利得トランスインピーダンス増幅器過負荷回復回路 |
| CN105974296A (zh) * | 2015-03-12 | 2016-09-28 | 格罗方德半导体公司 | 集成电路的漏电测试 |
| CN104237623B (zh) * | 2014-10-08 | 2017-04-12 | 武汉弈飞科技有限公司 | 一种高精度电流传感器检测电路及其检测方法 |
| CN114878906A (zh) * | 2022-05-06 | 2022-08-09 | 同济大学 | 一种大动态测量范围电流传感方法及电路 |
| JP2023005245A (ja) * | 2021-06-28 | 2023-01-18 | 株式会社 東京ウエルズ | コンデンサの測定装置及びコンデンサの測定方法 |
-
1995
- 1995-10-16 JP JP29344295A patent/JPH09113545A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6043665A (en) * | 1996-12-05 | 2000-03-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Capacitor charging current measurement method |
| US6204638B1 (en) | 1997-01-06 | 2001-03-20 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method for charging capacitor |
| JP2006220450A (ja) * | 2005-02-08 | 2006-08-24 | Jtekt Corp | 電流検出器 |
| JP2006292383A (ja) * | 2005-04-05 | 2006-10-26 | Honda Motor Co Ltd | 電流検出装置および電動ステアリング装置 |
| JP2011516859A (ja) * | 2008-03-31 | 2011-05-26 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | プログラム可能な利得トランスインピーダンス増幅器過負荷回復回路 |
| US8686739B2 (en) | 2008-03-31 | 2014-04-01 | Electro Scientific Industries, Inc. | Programmable gain trans-impedance amplifier overload recovery circuit |
| CN104237623B (zh) * | 2014-10-08 | 2017-04-12 | 武汉弈飞科技有限公司 | 一种高精度电流传感器检测电路及其检测方法 |
| CN105974296A (zh) * | 2015-03-12 | 2016-09-28 | 格罗方德半导体公司 | 集成电路的漏电测试 |
| JP2023005245A (ja) * | 2021-06-28 | 2023-01-18 | 株式会社 東京ウエルズ | コンデンサの測定装置及びコンデンサの測定方法 |
| CN114878906A (zh) * | 2022-05-06 | 2022-08-09 | 同济大学 | 一种大动态测量范围电流传感方法及电路 |
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