JPH09125238A - 磁気記録媒体形成用タ−ゲット並びに薄膜磁気記録媒体とその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体形成用タ−ゲット並びに薄膜磁気記録媒体とその製造方法Info
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- JPH09125238A JPH09125238A JP30644495A JP30644495A JPH09125238A JP H09125238 A JPH09125238 A JP H09125238A JP 30644495 A JP30644495 A JP 30644495A JP 30644495 A JP30644495 A JP 30644495A JP H09125238 A JPH09125238 A JP H09125238A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 Pt等の高価な材料を用いることなしに十分高
い保磁力を示し、かつ磁気ヘッド浮上量,記録再生ノイ
ズの低いCo系合金磁気記録媒体を提供する。 【構成】 磁気記録媒体形成用Co系合金タ−ゲットを、
Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%、 T
i,Zr,Hf,V及びNbの1種以上:合計で0.01〜10%を含
み、残部がCo及び不可避的不純物から成る化学組成に構
成する。また、該タ−ゲットを用い、基板温度を150
〜290℃としてスパッタリングすることにより、タ−
ゲットと同様の化学組成で、かつ結晶粒界に Ti,Zr,Hf,
V及びNbの1種以上のほう化物が析出した合金、あるい
は更にその結晶粒径が500Å以下の合金から成る磁気
記録媒体を得る。
い保磁力を示し、かつ磁気ヘッド浮上量,記録再生ノイ
ズの低いCo系合金磁気記録媒体を提供する。 【構成】 磁気記録媒体形成用Co系合金タ−ゲットを、
Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%、 T
i,Zr,Hf,V及びNbの1種以上:合計で0.01〜10%を含
み、残部がCo及び不可避的不純物から成る化学組成に構
成する。また、該タ−ゲットを用い、基板温度を150
〜290℃としてスパッタリングすることにより、タ−
ゲットと同様の化学組成で、かつ結晶粒界に Ti,Zr,Hf,
V及びNbの1種以上のほう化物が析出した合金、あるい
は更にその結晶粒径が500Å以下の合金から成る磁気
記録媒体を得る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ハ−ドディスク等と
いった高記録密度磁気記録媒体を形成するためのCo−Ni
−Cr系合金スパッタリングタ−ゲット、並びにCo−Ni−
Cr系合金で構成された高記録密度薄膜磁気記録媒体及び
その製造方法に関するものである。
いった高記録密度磁気記録媒体を形成するためのCo−Ni
−Cr系合金スパッタリングタ−ゲット、並びにCo−Ni−
Cr系合金で構成された高記録密度薄膜磁気記録媒体及び
その製造方法に関するものである。
【0002】
【従来技術とその課題】従来、ハ−ドディスク等の磁気
記録媒体は、一般に、Ni−P合金膜を被覆してからCrの
下地膜を形成させて表面調整したディスク基体に、Co−
Ni合金,Co−Cr合金あるいはCo−Ni−Cr合金等から成る
タ−ゲットを用いたスパッタリングによってこれら合金
からなる薄膜を形成させるという手法により製造されて
きた。ところが、近年、これら磁気記録媒体に対して更
なる高記録密度化の要求が高まってきており、この要望
に応えるべく“保磁力の向上", "磁気ヘッド浮上量の低
減", "記録再生ノイズの低減”等といった磁気記録媒体
の特性改善が種々の観点から検討されるようになった。
記録媒体は、一般に、Ni−P合金膜を被覆してからCrの
下地膜を形成させて表面調整したディスク基体に、Co−
Ni合金,Co−Cr合金あるいはCo−Ni−Cr合金等から成る
タ−ゲットを用いたスパッタリングによってこれら合金
からなる薄膜を形成させるという手法により製造されて
きた。ところが、近年、これら磁気記録媒体に対して更
なる高記録密度化の要求が高まってきており、この要望
に応えるべく“保磁力の向上", "磁気ヘッド浮上量の低
減", "記録再生ノイズの低減”等といった磁気記録媒体
の特性改善が種々の観点から検討されるようになった。
【0003】なお、磁気記録媒体の保磁力向上には A) 異方性磁界を増加させること, B) 結晶粒界に非磁性層を形成させて交換相互作用を遮
断すること, 等が有効であるとされており、これまで、これら知見に
基づいた次のような保磁力向上策が提案されている。
断すること, 等が有効であるとされており、これまで、これら知見に
基づいた次のような保磁力向上策が提案されている。
【0004】〈異方性磁界を増加させる方法〉 a) 従来から用いられてきたCo−Ni,Co−Cr,Co−Ni−C
r等の磁気記録媒体合金にTaを添加する方法{例えば特
開平1-133217号公報を参照}, b) Co−Cr磁気記録媒体合金にPtを添加する方法{例え
ば「IEEE TRANSACTIONON MAGNETICS 」のVol.26No.5 (1
990) , 第2271〜2276頁を参照}。 〈結晶粒界に非磁性層を形成させて交換相互作用を遮断
する方法〉 a) スパッタリング時の基板温度を高めて下地膜のCrや
磁気記録媒体となる磁性膜(Co−Cr合金やCo−Ni−Cr合
金等の薄膜)自身に含まれるCrを磁性膜の結晶粒界に拡
散・析出させ、これによって結晶粒界に非磁性Cr層を形
成する方法, b) 磁気記録媒体となる磁性膜をスパッタリングにより
成膜する際のガス圧を高め、結晶粒間に物理的に空間を
形成する方法。
r等の磁気記録媒体合金にTaを添加する方法{例えば特
開平1-133217号公報を参照}, b) Co−Cr磁気記録媒体合金にPtを添加する方法{例え
ば「IEEE TRANSACTIONON MAGNETICS 」のVol.26No.5 (1
990) , 第2271〜2276頁を参照}。 〈結晶粒界に非磁性層を形成させて交換相互作用を遮断
する方法〉 a) スパッタリング時の基板温度を高めて下地膜のCrや
磁気記録媒体となる磁性膜(Co−Cr合金やCo−Ni−Cr合
金等の薄膜)自身に含まれるCrを磁性膜の結晶粒界に拡
散・析出させ、これによって結晶粒界に非磁性Cr層を形
成する方法, b) 磁気記録媒体となる磁性膜をスパッタリングにより
成膜する際のガス圧を高め、結晶粒間に物理的に空間を
形成する方法。
【0005】しかしながら、TaやPt等を添加して異方性
磁界を増加させる方法には、高価な原料を使用するため
にコスト高を招くという問題が指摘されていた。また、
基板温度を高めて結晶粒界に非磁性層を形成させる方法
では、結晶粒の成長が起きて記録再生ノイズが増加した
り、結晶成長に伴い膜表面の凹凸が増幅する等の問題が
指摘され、そして、スパッタリング時のガス圧を高めて
結晶粒間に空間を形成する方法にはスパッタ作業の困難
化を招くといった問題があった。
磁界を増加させる方法には、高価な原料を使用するため
にコスト高を招くという問題が指摘されていた。また、
基板温度を高めて結晶粒界に非磁性層を形成させる方法
では、結晶粒の成長が起きて記録再生ノイズが増加した
り、結晶成長に伴い膜表面の凹凸が増幅する等の問題が
指摘され、そして、スパッタリング時のガス圧を高めて
結晶粒間に空間を形成する方法にはスパッタ作業の困難
化を招くといった問題があった。
【0006】一方、記録再生ノイズを低減する方法とし
て、Co系合金磁性膜に非固溶性乃至は低固溶性の非磁性
元素あるいは酸化物を添加する試みが提案されている
{特開平1-232517号公報や「日本応用磁気学会誌」Vol.
19 No.2(1995),第85〜88頁等を参照}。これらは、「Co
系合金磁性膜の結晶粒の周りに非磁性元素が晶出,析出
することにより結晶粒同士が分離・孤立化し、 その結果
として磁区の微細化が生じてノイズの主因である磁化遷
移幅が減少する効果」を利用した方法である。しかしな
がら、このような“非磁性元素を添加する方法”では、
ある程度の効果を挙げることはできるものの、より一層
の記録密度の向上が求められている最近の要望には十分
に応えることができなかった。
て、Co系合金磁性膜に非固溶性乃至は低固溶性の非磁性
元素あるいは酸化物を添加する試みが提案されている
{特開平1-232517号公報や「日本応用磁気学会誌」Vol.
19 No.2(1995),第85〜88頁等を参照}。これらは、「Co
系合金磁性膜の結晶粒の周りに非磁性元素が晶出,析出
することにより結晶粒同士が分離・孤立化し、 その結果
として磁区の微細化が生じてノイズの主因である磁化遷
移幅が減少する効果」を利用した方法である。しかしな
がら、このような“非磁性元素を添加する方法”では、
ある程度の効果を挙げることはできるものの、より一層
の記録密度の向上が求められている最近の要望には十分
に応えることができなかった。
【0007】このようなことから、本発明が目的とした
のは、Pt等の高価な材料を用いることなしに十分高い保
磁力を示し、かつ磁気ヘッド浮上量,記録再生ノイズの
低いCo系合金磁気記録媒体を提供することである。
のは、Pt等の高価な材料を用いることなしに十分高い保
磁力を示し、かつ磁気ヘッド浮上量,記録再生ノイズの
低いCo系合金磁気記録媒体を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記目的
を達成すべく鋭意研究を行った結果、「Co系合金磁気記
録媒体に所望の耐候性を付与するためには適量のNi及び
Crの添加を欠くことができないが、 このNi及びCrを添加
したCo−Ni−Cr合金にBを含有させ、 更にTi,Zr,Hf,
V,Nbのグル−プから選ばれた1種以上の元素をも添加
したスパッタリングタ−ゲットを用いると共に、 スパッ
タリングによる成膜時あるいは成膜の後に“形成された
薄膜”の加熱処理を行って該薄膜の結晶粒界にほう化物
を析出させると、 タ−ゲットと実質的に同じ化学組成に
形成されると共に結晶粒界にほう化物が析出して成るこ
の耐候性Co系合金薄膜は非常に高い保磁力を示すだけで
なく、 磁気ヘッド浮上量や記録再生ノイズも低く、 近年
望まれている高記録密度磁気記録媒体として十分な特性
を具備するようになる」との知見を得ることができた。
を達成すべく鋭意研究を行った結果、「Co系合金磁気記
録媒体に所望の耐候性を付与するためには適量のNi及び
Crの添加を欠くことができないが、 このNi及びCrを添加
したCo−Ni−Cr合金にBを含有させ、 更にTi,Zr,Hf,
V,Nbのグル−プから選ばれた1種以上の元素をも添加
したスパッタリングタ−ゲットを用いると共に、 スパッ
タリングによる成膜時あるいは成膜の後に“形成された
薄膜”の加熱処理を行って該薄膜の結晶粒界にほう化物
を析出させると、 タ−ゲットと実質的に同じ化学組成に
形成されると共に結晶粒界にほう化物が析出して成るこ
の耐候性Co系合金薄膜は非常に高い保磁力を示すだけで
なく、 磁気ヘッド浮上量や記録再生ノイズも低く、 近年
望まれている高記録密度磁気記録媒体として十分な特性
を具備するようになる」との知見を得ることができた。
【0009】本発明は、上記知見事項等を基にして完成
されたものであり、「磁気記録媒体形成用Co系合金タ−
ゲットを、 Ni:10〜30%(以降、 成分割合を表す%は重量%とす
る)、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%(好ましくは
0.1〜 5.0%)、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10%(好ましくは 0.1〜 5.0%) を含むと共に、残部がCo及び不可避的不純物から成る化
学組成に構成することにより、保磁力,磁気ヘッド浮上
量,記録再生ノイズの面等において優れた性能を有する
薄膜磁気記録媒体の形成を可能ならしめた点」に特徴を
有し、更には「薄膜磁気記録媒体を、 Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%(好ましくは 0.1〜 5.0%)、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10%(好ましくは 0.1〜 5.0%) を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物である化学組
成であって、かつ結晶粒界にTi,Zr,Hf,V及びNbのう
ちの1種以上のほう化物が析出した合金にて構成するこ
とにより、あるいは更にその結晶粒径を500Å以下に
調整することにより、保磁力,磁気ヘッド浮上量,記録
再生ノイズの面等において優れた性能を付与した点」、
並びに 「Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%(好ましくは 0.1〜 5.0%)、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10%(好ましくは 0.1〜 5.0%) を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物から成る合金
タ−ゲットを用い、基板温度を150〜290℃に調整
してスパッタリングすることにより、保磁力,磁気ヘッ
ド浮上量,記録再生ノイズの面等において優れた性能を
有する薄膜磁気記録媒体を安定に製造できるようにした
点」をも特徴とするものである。
されたものであり、「磁気記録媒体形成用Co系合金タ−
ゲットを、 Ni:10〜30%(以降、 成分割合を表す%は重量%とす
る)、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%(好ましくは
0.1〜 5.0%)、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10%(好ましくは 0.1〜 5.0%) を含むと共に、残部がCo及び不可避的不純物から成る化
学組成に構成することにより、保磁力,磁気ヘッド浮上
量,記録再生ノイズの面等において優れた性能を有する
薄膜磁気記録媒体の形成を可能ならしめた点」に特徴を
有し、更には「薄膜磁気記録媒体を、 Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%(好ましくは 0.1〜 5.0%)、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10%(好ましくは 0.1〜 5.0%) を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物である化学組
成であって、かつ結晶粒界にTi,Zr,Hf,V及びNbのう
ちの1種以上のほう化物が析出した合金にて構成するこ
とにより、あるいは更にその結晶粒径を500Å以下に
調整することにより、保磁力,磁気ヘッド浮上量,記録
再生ノイズの面等において優れた性能を付与した点」、
並びに 「Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜 5.0%(好ましくは 0.1〜 5.0%)、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10%(好ましくは 0.1〜 5.0%) を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物から成る合金
タ−ゲットを用い、基板温度を150〜290℃に調整
してスパッタリングすることにより、保磁力,磁気ヘッ
ド浮上量,記録再生ノイズの面等において優れた性能を
有する薄膜磁気記録媒体を安定に製造できるようにした
点」をも特徴とするものである。
【0010】続いて、本発明においてタ−ゲット及び薄
膜磁気記録媒体の化学組成,薄膜磁気記録媒体の結晶粒
径,スパッタリング時の基板温度、並びにスパッタリン
グ後における薄膜の熱処理温度を前記の如くに数値限定
した理由を、その作用と共に説明する。
膜磁気記録媒体の化学組成,薄膜磁気記録媒体の結晶粒
径,スパッタリング時の基板温度、並びにスパッタリン
グ後における薄膜の熱処理温度を前記の如くに数値限定
した理由を、その作用と共に説明する。
【0011】
A.タ−ゲット及び薄膜磁気記録媒体の化学組成 a) Ni Niはスパッタリングによって形成される磁性膜に耐候性
を付与する作用を有しているが、その含有割合が10%未
満では磁性膜の耐候性が不足し、一方、30%を超えてNi
を含有させると再生出力が低下して良好な磁気特性,電
気特性の確保が困難となる。従って、タ−ゲット及びタ
−ゲットと実質的に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒
体のNi含有割合は10〜30%と定めた。
を付与する作用を有しているが、その含有割合が10%未
満では磁性膜の耐候性が不足し、一方、30%を超えてNi
を含有させると再生出力が低下して良好な磁気特性,電
気特性の確保が困難となる。従って、タ−ゲット及びタ
−ゲットと実質的に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒
体のNi含有割合は10〜30%と定めた。
【0012】b) Cr Crはスパッタリングによって形成される磁性膜の耐候
性,残留磁化の経時的安定性を確保する作用を有してい
るが、その含有割合が5%以下では磁性膜の耐候性,残
留磁化の経時的安定性が不足し、一方、20%を超えてCr
を含有させると再生出力が低下して良好な磁気特性,電
気特性の確保が困難となる。従って、タ−ゲット及びタ
−ゲットと実質的に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒
体のCr含有割合は5超〜20%と定めた。
性,残留磁化の経時的安定性を確保する作用を有してい
るが、その含有割合が5%以下では磁性膜の耐候性,残
留磁化の経時的安定性が不足し、一方、20%を超えてCr
を含有させると再生出力が低下して良好な磁気特性,電
気特性の確保が困難となる。従って、タ−ゲット及びタ
−ゲットと実質的に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒
体のCr含有割合は5超〜20%と定めた。
【0013】なお、図1は、「Crの組成比を変えて作成
したCo−20%Ni−Cr−2%B−4%Ti合金の試料を温度
80℃,湿度85%の雰囲気中に保管した際における所
定時間後の残留磁化の変化」に関する調査結果を示した
グラフである。ここで、残留磁化は磁気記録媒体の再生
出力値を決める値であり、これが高いほど再生出力が大
きくなり記録再生特性が良好となる。この図1からも、
Cr量が5%以下の範囲では残留磁化の経時的低下が著し
く、一方、Cr量が20%を超える範囲では、残留磁化の経
時変化は少ないものの初期状態の残留磁化そのものが小
さい値であり、何れも記録媒体として適さないことが分
かる。
したCo−20%Ni−Cr−2%B−4%Ti合金の試料を温度
80℃,湿度85%の雰囲気中に保管した際における所
定時間後の残留磁化の変化」に関する調査結果を示した
グラフである。ここで、残留磁化は磁気記録媒体の再生
出力値を決める値であり、これが高いほど再生出力が大
きくなり記録再生特性が良好となる。この図1からも、
Cr量が5%以下の範囲では残留磁化の経時的低下が著し
く、一方、Cr量が20%を超える範囲では、残留磁化の経
時変化は少ないものの初期状態の残留磁化そのものが小
さい値であり、何れも記録媒体として適さないことが分
かる。
【0014】c) B Bは、スパッタリングによる成膜時あるいは成膜後の加
熱処理によりTi,Zr,Hf,VあるいはNbと非磁性のほう
化物を形成して結晶粒界に析出し、そのピンニング効果
により結晶粒の成長を抑制すると共に、非磁性であるが
故に隣接する結晶粒間に働く交換相互作用を遮断する如
く作用して保磁力の増大及び記録再生ノイズの低減に寄
与する。しかし、その含有割合が0.01%未満では前記作
用による所望の効果が得られない。なお、B含有割合の
増加と共にノイズ低減効果が増大するが、その含有割合
が 0.5%を超えると磁気的・電気的特性の低下を招くよ
うになる。従って、タ−ゲット及びタ−ゲットと実質的
に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒体のB含有割合は
0.01〜 5.0%と定めたが、より安定した効果を確保する
ためには 0.1〜 5.0%の範囲に調整するのが好ましい。
熱処理によりTi,Zr,Hf,VあるいはNbと非磁性のほう
化物を形成して結晶粒界に析出し、そのピンニング効果
により結晶粒の成長を抑制すると共に、非磁性であるが
故に隣接する結晶粒間に働く交換相互作用を遮断する如
く作用して保磁力の増大及び記録再生ノイズの低減に寄
与する。しかし、その含有割合が0.01%未満では前記作
用による所望の効果が得られない。なお、B含有割合の
増加と共にノイズ低減効果が増大するが、その含有割合
が 0.5%を超えると磁気的・電気的特性の低下を招くよ
うになる。従って、タ−ゲット及びタ−ゲットと実質的
に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒体のB含有割合は
0.01〜 5.0%と定めたが、より安定した効果を確保する
ためには 0.1〜 5.0%の範囲に調整するのが好ましい。
【0015】d) Ti,Zr,Hf,V及びNb これらの成分は、スパッタリングによる成膜時あるいは
成膜後の加熱処理によりBと非磁性のほう化物を形成し
て結晶粒界に析出し、そのピンニング効果により結晶粒
の成長を抑制すると共に、非磁性であるが故に隣接する
結晶粒間に働く交換相互作用を遮断する如く作用して保
磁力の増大及び記録再生ノイズの低減に寄与する均等な
効果を有するので、これらのグル−プから1種又は2種
以上が選択されて含有せしめられる。ただ、それらの含
有割合が合計で0.01%未満であると前記作用による所望
の効果が得られない。そして、これらの含有割合が増加
するにつれてノイズ低減効果が増大するが、それらの含
有割合が合計で 0.5%を超えると磁気的・電気的特性の
低下を招くようになる。従って、タ−ゲット及びタ−ゲ
ットと実質的に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒体の
Ti,Zr,Hf,V又はNb含有割合は合計で0.01〜 5.0%と
定めたが、より安定した効果を確保するためには合計で
0.1〜 5.0%の範囲に調整するのが好ましい。
成膜後の加熱処理によりBと非磁性のほう化物を形成し
て結晶粒界に析出し、そのピンニング効果により結晶粒
の成長を抑制すると共に、非磁性であるが故に隣接する
結晶粒間に働く交換相互作用を遮断する如く作用して保
磁力の増大及び記録再生ノイズの低減に寄与する均等な
効果を有するので、これらのグル−プから1種又は2種
以上が選択されて含有せしめられる。ただ、それらの含
有割合が合計で0.01%未満であると前記作用による所望
の効果が得られない。そして、これらの含有割合が増加
するにつれてノイズ低減効果が増大するが、それらの含
有割合が合計で 0.5%を超えると磁気的・電気的特性の
低下を招くようになる。従って、タ−ゲット及びタ−ゲ
ットと実質的に同じ化学組成となる薄膜磁気記録媒体の
Ti,Zr,Hf,V又はNb含有割合は合計で0.01〜 5.0%と
定めたが、より安定した効果を確保するためには合計で
0.1〜 5.0%の範囲に調整するのが好ましい。
【0016】B.薄膜磁気記録媒体の結晶粒径 薄膜磁気記録媒体の結晶粒径は記録再生ノイズの発生や
膜表面の凹凸に影響を及ぼす因子であり、該結晶粒径が
500Åを超えると記録再生ノイズを増加させたり、結
晶成長に伴い膜表面の凹凸の増幅が生じる等の問題を生
じがちとなる。従って、薄膜磁気記録媒体の結晶粒径を
500Å以下に抑えるのが好ましい。なお、該結晶粒径
の調整には成膜時の基板温度やその後の熱処理条件を制
御する方法が適用できる。
膜表面の凹凸に影響を及ぼす因子であり、該結晶粒径が
500Åを超えると記録再生ノイズを増加させたり、結
晶成長に伴い膜表面の凹凸の増幅が生じる等の問題を生
じがちとなる。従って、薄膜磁気記録媒体の結晶粒径を
500Å以下に抑えるのが好ましい。なお、該結晶粒径
の調整には成膜時の基板温度やその後の熱処理条件を制
御する方法が適用できる。
【0017】C.スパッタリング時の基板温度 スパッタリング時の基板温度を150〜290℃とする
のは、結晶粒界にTi,Zr,Hf,VあるいはNbのほう化物
が析出し、かつ結晶粒径が500Å以下の高性能薄膜磁
気記録媒体を安定して得る上で必要な条件だからであ
る。
のは、結晶粒界にTi,Zr,Hf,VあるいはNbのほう化物
が析出し、かつ結晶粒径が500Å以下の高性能薄膜磁
気記録媒体を安定して得る上で必要な条件だからであ
る。
【0018】これらの場合、成膜時の基板温度が150
℃を下回っていると結晶粒界におけるほう化物の析出が
不十分となって所望の保磁力を確保することが困難であ
り、一方、成膜時の基板温度が290℃を超えると基板
のNi−P膜が結晶化・磁化して記録再生ノイズを増加さ
せたり、結晶成長に伴い膜表面の凹凸の増幅が生じる等
の問題を生じがちとなる。
℃を下回っていると結晶粒界におけるほう化物の析出が
不十分となって所望の保磁力を確保することが困難であ
り、一方、成膜時の基板温度が290℃を超えると基板
のNi−P膜が結晶化・磁化して記録再生ノイズを増加さ
せたり、結晶成長に伴い膜表面の凹凸の増幅が生じる等
の問題を生じがちとなる。
【0019】ところで、上述したようなCo−Ni−Cr−B
−(Ti,Zr,Hf,V,Nb)系合金タ−ゲットは、以下のような
工程により製造することができる。即ち、B以外の各金
属原料とCo−B合金とを秤量,溶解,鋳造した後、熱間
圧延を行い、その後旋盤等で加工を行ってタ−ゲットと
する工程である。
−(Ti,Zr,Hf,V,Nb)系合金タ−ゲットは、以下のような
工程により製造することができる。即ち、B以外の各金
属原料とCo−B合金とを秤量,溶解,鋳造した後、熱間
圧延を行い、その後旋盤等で加工を行ってタ−ゲットと
する工程である。
【0020】そして、上記合金タ−ゲットを用いてスパ
ッタリングを行うことにより、基板上にタ−ゲットと実
質的に同じ化学組成を持つ磁気記録媒体用薄膜を形成す
ることが可能である。この薄膜の性質は成膜条件により
変わるが、通常、ガス圧 0.3〜 3.0Pa,基板温度150
〜290℃で成膜を行うことによって、結晶粒径が50
0Å以下で結晶粒界にTi,Zr,Hf,V及びNbの1種以上
のほう化物相が析出して成るところの磁気記録媒体とし
て好ましい薄膜を得ることができる。
ッタリングを行うことにより、基板上にタ−ゲットと実
質的に同じ化学組成を持つ磁気記録媒体用薄膜を形成す
ることが可能である。この薄膜の性質は成膜条件により
変わるが、通常、ガス圧 0.3〜 3.0Pa,基板温度150
〜290℃で成膜を行うことによって、結晶粒径が50
0Å以下で結晶粒界にTi,Zr,Hf,V及びNbの1種以上
のほう化物相が析出して成るところの磁気記録媒体とし
て好ましい薄膜を得ることができる。
【0021】上述のように、成分調整された前記スパッ
タリングタ−ゲットを用いて本発明で規定する条件に従
い磁性膜を成膜した場合、成膜時あるいは成膜後の加熱
処理によりTi,Zr,Hf,V又はNbのほう化物が結晶粒界
に析出し、そのピンニング効果によって結晶粒成長が抑
制されるために極めて微細な結晶の“化学組成が前記タ
−ゲットと同様の磁気記録媒体用磁性膜”が得られる。
また、ほう化物自体は非磁性であるため結晶粒間に非磁
性析出層が存在する結果となり、そのため隣接する結晶
粒間に働く交換相互作用を遮断することができる。そし
て、この交換相互作用の遮断効果や微細結晶粒であるこ
と等によって保磁力の増大や記録再生ノイズの低減が実
現される。
タリングタ−ゲットを用いて本発明で規定する条件に従
い磁性膜を成膜した場合、成膜時あるいは成膜後の加熱
処理によりTi,Zr,Hf,V又はNbのほう化物が結晶粒界
に析出し、そのピンニング効果によって結晶粒成長が抑
制されるために極めて微細な結晶の“化学組成が前記タ
−ゲットと同様の磁気記録媒体用磁性膜”が得られる。
また、ほう化物自体は非磁性であるため結晶粒間に非磁
性析出層が存在する結果となり、そのため隣接する結晶
粒間に働く交換相互作用を遮断することができる。そし
て、この交換相互作用の遮断効果や微細結晶粒であるこ
と等によって保磁力の増大や記録再生ノイズの低減が実
現される。
【0022】以下、本発明を実施例によって具体的に説
明する。
明する。
【実施例】まず、B以外の各金属原料とCo−B合金とを
秤量し、溶解,鋳造した後、熱間圧延を行い、更に機械
加工を施して、表1に示す各化学成分組成のスパッタリ
ング用Co−Ni−Cr系合金タ−ゲットを作成した。
秤量し、溶解,鋳造した後、熱間圧延を行い、更に機械
加工を施して、表1に示す各化学成分組成のスパッタリ
ング用Co−Ni−Cr系合金タ−ゲットを作成した。
【0023】
【表1】
【0024】次に、RFスパッタ装置を用い、8mm角で
厚さが 1.1mmのガラス基板上にNi−P合金膜を2000
Åの厚さに成膜し、次いでCr下地膜を1000Åの厚さ
で成膜した。
厚さが 1.1mmのガラス基板上にNi−P合金膜を2000
Åの厚さに成膜し、次いでCr下地膜を1000Åの厚さ
で成膜した。
【0025】続いて、この上に、表1に示す化学成分組
成の各Co−Ni−Cr系合金タ−ゲットを用いてDCスパッ
タを行い、厚さ500Åの磁性膜を成膜した。なお、こ
の際、基板温度を“室温", "150℃”及び“250
℃”に設定して成膜を行ったが、室温で成膜を行ったも
のについては、そのままで特性調査を行う試料を残して
更に加熱温度250℃の熱処理を施した。
成の各Co−Ni−Cr系合金タ−ゲットを用いてDCスパッ
タを行い、厚さ500Åの磁性膜を成膜した。なお、こ
の際、基板温度を“室温", "150℃”及び“250
℃”に設定して成膜を行ったが、室温で成膜を行ったも
のについては、そのままで特性調査を行う試料を残して
更に加熱温度250℃の熱処理を施した。
【0026】このようにして得られた磁性膜について、
“平均結晶粒径",“保磁力(Hc)”及び“S/C比”を測
定した。なお、結晶粒径はAFM(Atomic Force Micros
copy)により、保磁力はVSM(Vibrating Sample Magn
etometer)により、またS/N比は磁気記録再生装置に
よりそれぞれ測定し評価した。これらの結果を表2及び
表3に示す。
“平均結晶粒径",“保磁力(Hc)”及び“S/C比”を測
定した。なお、結晶粒径はAFM(Atomic Force Micros
copy)により、保磁力はVSM(Vibrating Sample Magn
etometer)により、またS/N比は磁気記録再生装置に
よりそれぞれ測定し評価した。これらの結果を表2及び
表3に示す。
【0027】
【表2】
【0028】
【表3】
【0029】表2及び表3に示される結果から、同一条
件で成膜した場合には、本発明例に係る磁性膜は結晶粒
径が比較例に係るそれより小さく、磁気ヘッド浮上量や
記録再生ノイズを低減できることが確認できる。また、
表2及び表3には示さなかったが、本発明例に係る磁性
膜はその結晶粒界にTi,Zr,Hf,V又はNbのほう化物の
析出相を有しているのに対して、比較例に係る磁性膜に
は結晶粒界に明瞭なほう化物相が認められないことも確
認した。その結果、表2及び表3からも明らかなよう
に、本発明例に係る磁性膜は比較例に係るそれよりも保
磁力が大きく、またS/N比も大きくなっている。
件で成膜した場合には、本発明例に係る磁性膜は結晶粒
径が比較例に係るそれより小さく、磁気ヘッド浮上量や
記録再生ノイズを低減できることが確認できる。また、
表2及び表3には示さなかったが、本発明例に係る磁性
膜はその結晶粒界にTi,Zr,Hf,V又はNbのほう化物の
析出相を有しているのに対して、比較例に係る磁性膜に
は結晶粒界に明瞭なほう化物相が認められないことも確
認した。その結果、表2及び表3からも明らかなよう
に、本発明例に係る磁性膜は比較例に係るそれよりも保
磁力が大きく、またS/N比も大きくなっている。
【0030】
【効果の総括】以上に説明した如く、この発明によれ
ば、保磁力が大きく、磁気ヘッド浮上量や記録再生ノイ
ズが低減された高記録密度化の可能な薄膜磁気記録媒体
を、Pt等の高価な材料を用いることなしに安定提供する
ことができるなど、産業上有用な効果がもたらされる。
ば、保磁力が大きく、磁気ヘッド浮上量や記録再生ノイ
ズが低減された高記録密度化の可能な薄膜磁気記録媒体
を、Pt等の高価な材料を用いることなしに安定提供する
ことができるなど、産業上有用な効果がもたらされる。
【図1】Crの組成比を変えて作成したCo−Ni−Cr−B−
Ti合金を温度80℃,湿度85%の雰囲気中に保管した
際における残留磁化の変化を示すグラフである。
Ti合金を温度80℃,湿度85%の雰囲気中に保管した
際における残留磁化の変化を示すグラフである。
Claims (7)
- 【請求項1】 重量割合にて Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜
5.0%、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10% を含むと共に、残部がCo及び不可避的不純物から成るこ
とを特徴とする磁気記録媒体形成用合金タ−ゲット。 - 【請求項2】 重量割合にて Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B: 0.1〜
5.0%、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で
0.1〜 5.0% を含むと共に、残部がCo及び不可避的不純物から成るこ
とを特徴とする磁気記録媒体形成用合金タ−ゲット。 - 【請求項3】 重量割合にて Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜
5.0%、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10% を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物である化学組
成であって、かつ結晶粒界にTi,Zr,Hf,V及びNbのう
ちの1種以上のほう化物が析出した合金から成ることを
特徴とする薄膜磁気記録媒体。 - 【請求項4】 重量割合にて Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B: 0.1〜
5.0%、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で
0.1〜 5.0% を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物である化学組
成であって、かつ結晶粒界にTi,Zr,Hf,V及びNbのう
ちの1種以上のほう化物が析出した合金から成ることを
特徴とする薄膜磁気記録媒体。 - 【請求項5】 結晶粒径が500Å以下であることを特
徴とする、請求項3又は4に記載の薄膜磁気記録媒体。 - 【請求項6】 重量割合にて Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B:0.01〜
5.0%、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で0.
01〜10% を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物から成る合金
タ−ゲットを用い、基板温度を150〜290℃に調整
してスパッタリングすることを特徴とする薄膜磁気記録
媒体の製造方法。 - 【請求項7】 重量割合にて Ni:10〜30%、 Cr:5超〜20%、 B: 0.1〜
5.0%、 Ti,Zr,Hf,V及びNbから選ばれた1種以上:合計で
0.1〜 5.0% を含むと共に残部がCo及び不可避的不純物から成る合金
タ−ゲットを用い、基板温度を150〜290℃に調整
してスパッタリングすることを特徴とする薄膜磁気記録
媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30644495A JPH09125238A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 磁気記録媒体形成用タ−ゲット並びに薄膜磁気記録媒体とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30644495A JPH09125238A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 磁気記録媒体形成用タ−ゲット並びに薄膜磁気記録媒体とその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09125238A true JPH09125238A (ja) | 1997-05-13 |
Family
ID=17957082
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30644495A Pending JPH09125238A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 磁気記録媒体形成用タ−ゲット並びに薄膜磁気記録媒体とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09125238A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001181832A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-03 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | スパッタリングターゲットの製造方法 |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP30644495A patent/JPH09125238A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001181832A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-03 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | スパッタリングターゲットの製造方法 |
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