JPH09126894A - 高温熔体の光温度測定方法とその光温度測定装置 - Google Patents
高温熔体の光温度測定方法とその光温度測定装置Info
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- JPH09126894A JPH09126894A JP7309894A JP30989495A JPH09126894A JP H09126894 A JPH09126894 A JP H09126894A JP 7309894 A JP7309894 A JP 7309894A JP 30989495 A JP30989495 A JP 30989495A JP H09126894 A JPH09126894 A JP H09126894A
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- Japan
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- temperature
- optical fiber
- optical
- tip
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高温熔体の温度を連続的にかつ精度良く
測定する 【解決手段】 高温熔体に光ファイバー先端を浸漬し、
該光ファイバーを通じて伝達される光信号を温度量に変
換することにより高温熔体の温度を測定する方法におい
て、光ファイバー先端を間欠的に高温熔体に浸漬し、浸
漬時と引上時の測定ピークに挟まれた定常値によって温
度測定を行い、さらに高温熔体への浸漬により失透した
光ファイバー先端部を引上時に切断し、光ファイバーの
新たな先端部を高温熔体に浸漬して次の温度測定を行う
ことを特徴とする高温熔体の光温度測定方法および装
置。
測定する 【解決手段】 高温熔体に光ファイバー先端を浸漬し、
該光ファイバーを通じて伝達される光信号を温度量に変
換することにより高温熔体の温度を測定する方法におい
て、光ファイバー先端を間欠的に高温熔体に浸漬し、浸
漬時と引上時の測定ピークに挟まれた定常値によって温
度測定を行い、さらに高温熔体への浸漬により失透した
光ファイバー先端部を引上時に切断し、光ファイバーの
新たな先端部を高温熔体に浸漬して次の温度測定を行う
ことを特徴とする高温熔体の光温度測定方法および装
置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、製銅炉などの高温
熔体の温度を容易にかつ精度良く測定することができる
光温度測定方法とその測定装置に関する。
熔体の温度を容易にかつ精度良く測定することができる
光温度測定方法とその測定装置に関する。
【０００２】
【従来技術とその課題】溶融金属の温度測定には従来か
ら熱電対が利用されており、溶融金属に直接装入して使
用する消耗型の熱電対やセラミック製保護管に収納した
ものなどが知られている。ところが、消耗型熱電対は毎
回の測定ごとにセンサープローブを交換しなければなら
ず測定操作が繁雑である。また、使い捨てであるためコ
スト高になるのを避けられない。一方、保護管を有する
ものは、その材質の耐蝕性や熱衝撃性に問題があり、計
測時間が５〜２０時間程度しか維持できない。
ら熱電対が利用されており、溶融金属に直接装入して使
用する消耗型の熱電対やセラミック製保護管に収納した
ものなどが知られている。ところが、消耗型熱電対は毎
回の測定ごとにセンサープローブを交換しなければなら
ず測定操作が繁雑である。また、使い捨てであるためコ
スト高になるのを避けられない。一方、保護管を有する
ものは、その材質の耐蝕性や熱衝撃性に問題があり、計
測時間が５〜２０時間程度しか維持できない。
【０００３】このような熱電対を用いた温度計のほか
に、光ファイバーを利用した測温方法も実施されてる。
例えば、光ファイバーの検出端を収納したセラミック製
保護管の先端を溶融金属に浸漬し、光ファイバーを通じ
て浸漬部分の放射熱を光信号として放射温度計に伝達し
て温度を測定する方法が知られている（特開平4-348236
号、特開平4-329323号など）。ところが、この方法で
は、光ファイバー先端の浸漬部が汚れて測定精度が低下
する問題が暫々ある。また、その対策として先端部に汚
れ付着防止用のガスを流すことも行われている（特開昭
60-231126 号など）が、この場合にはガス流によって先
端部の温度が低下し、測定精度の向上には限界がある。
に、光ファイバーを利用した測温方法も実施されてる。
例えば、光ファイバーの検出端を収納したセラミック製
保護管の先端を溶融金属に浸漬し、光ファイバーを通じ
て浸漬部分の放射熱を光信号として放射温度計に伝達し
て温度を測定する方法が知られている（特開平4-348236
号、特開平4-329323号など）。ところが、この方法で
は、光ファイバー先端の浸漬部が汚れて測定精度が低下
する問題が暫々ある。また、その対策として先端部に汚
れ付着防止用のガスを流すことも行われている（特開昭
60-231126 号など）が、この場合にはガス流によって先
端部の温度が低下し、測定精度の向上には限界がある。
【０００４】また、光ファイバー先端を高温熔体に浸漬
し、熔体の放熱光を直接検出して温度測定を行う方法も
実施されている（特開昭62-19729号など）。この方法
は、製鉄炉のように熔体温度が１５００℃以上に達する
高温熔体の場合には、石英ファイバー先端が熔体浸漬中
に溶融するので常に新しいファイバー端面が熔体に接触
して連続測定できるが、製銅炉のように銅熔体が１２０
０℃前後の場合には熔体温度との関係で鉄熔体のような
連続的な温度測定ができず、しかも測定誤差が大きいと
云う問題がある。
し、熔体の放熱光を直接検出して温度測定を行う方法も
実施されている（特開昭62-19729号など）。この方法
は、製鉄炉のように熔体温度が１５００℃以上に達する
高温熔体の場合には、石英ファイバー先端が熔体浸漬中
に溶融するので常に新しいファイバー端面が熔体に接触
して連続測定できるが、製銅炉のように銅熔体が１２０
０℃前後の場合には熔体温度との関係で鉄熔体のような
連続的な温度測定ができず、しかも測定誤差が大きいと
云う問題がある。
【０００５】本発明は、従来の光ファイバーを利用した
浸漬消耗型の測温方法における上記問題を解決した温度
測定方法とその装置を提供することを目的とする。
浸漬消耗型の測温方法における上記問題を解決した温度
測定方法とその装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題の解決手段】本発明者は、従来の銅熔体の測温に
おいて連続測定ができない原因は、銅の熔体温度が石英
の融点よりもかなり低く、しかも石英は溶融銅に対して
実質的に溶解性がないため、熔体に挿入した石英ファイ
バー先端が鉄熔体のようには溶融せず、むしろ失透を生
じるためであり、これを解消するために、間欠的にファ
イバーを引き上げて失透した先端部を切断し、再び銅熔
体に挿入することを繰り返しても、ファイバーの挿入時
および引上時にスパークが生じ、測定した放熱光を単純
に温度量に変換しても正確な熔体温度を検知することが
できず測定誤差が大きくなることを見出した。
おいて連続測定ができない原因は、銅の熔体温度が石英
の融点よりもかなり低く、しかも石英は溶融銅に対して
実質的に溶解性がないため、熔体に挿入した石英ファイ
バー先端が鉄熔体のようには溶融せず、むしろ失透を生
じるためであり、これを解消するために、間欠的にファ
イバーを引き上げて失透した先端部を切断し、再び銅熔
体に挿入することを繰り返しても、ファイバーの挿入時
および引上時にスパークが生じ、測定した放熱光を単純
に温度量に変換しても正確な熔体温度を検知することが
できず測定誤差が大きくなることを見出した。
【０００７】本発明は、上記知見に基づき、ファイバー
を間欠的に熔体に出し入れし、失透したファイバー先端
部を切断すると共にファイバー挿入時および引上時に生
じる測定ピークを除去し、該測定ピークに挟まれた定常
値によって温度測定を行うことにより正確で連続的な温
度測定を可能にしたものである。
を間欠的に熔体に出し入れし、失透したファイバー先端
部を切断すると共にファイバー挿入時および引上時に生
じる測定ピークを除去し、該測定ピークに挟まれた定常
値によって温度測定を行うことにより正確で連続的な温
度測定を可能にしたものである。
【０００８】すなわち、本発明によれば請求項１、２に
記載した以下の光温度測定方法が提供される。 （１） 高温熔体に光ファイバー先端を浸漬し、該光フ
ァイバーを通じて伝達される光信号を温度量に変換する
ことにより高温熔体の温度を測定する方法において、光
ファイバー先端を間欠的に高温熔体に浸漬し、浸漬時と
引上時の測定ピークに挟まれた定常値によって温度測定
を行い、さらに高温熔体への浸漬により失透した光ファ
イバー先端部を必要に応じて引上時に切断し、光ファイ
バーの新たな先端部を高温熔体に浸漬して次の温度測定
を行うことを特徴とする高温熔体の光温度測定方法。 （２）高温熔体が銅、酸化銅ないし硫化銅あるいはこれ
らを含む熔体である上記(1) に記載する光温度測定方
法。
記載した以下の光温度測定方法が提供される。 （１） 高温熔体に光ファイバー先端を浸漬し、該光フ
ァイバーを通じて伝達される光信号を温度量に変換する
ことにより高温熔体の温度を測定する方法において、光
ファイバー先端を間欠的に高温熔体に浸漬し、浸漬時と
引上時の測定ピークに挟まれた定常値によって温度測定
を行い、さらに高温熔体への浸漬により失透した光ファ
イバー先端部を必要に応じて引上時に切断し、光ファイ
バーの新たな先端部を高温熔体に浸漬して次の温度測定
を行うことを特徴とする高温熔体の光温度測定方法。 （２）高温熔体が銅、酸化銅ないし硫化銅あるいはこれ
らを含む熔体である上記(1) に記載する光温度測定方
法。
【０００９】さらに、本発明によれば請求項３〜５に記
載した以下の光温度測定装置が提供される。 （３）先端が高温熔体に浸漬され該高温熔体の放射光を
伝達する光ファイバー、該光ファイバーを高温熔体に対
して間欠的に出し入れする送出入手段、光ファイバーを
高温熔体に向かって案内するガイド手段、高温熔体から
引上げた光ファイバー先端を切断する手段、光ファイバ
ーよって伝達された光信号を温度量に変換する光温度検
知器を有することを特徴とする光温度測定装置。 （４）送出入手段が光ファイバーの巻取手段を兼用する
上記(3) に記載する光温度測定装置。 （５）切断手段が剪断機であり、該剪断機が光ファイバ
ー先端の送出入位置に設けられ、該剪断機の刃の間に光
ファイバー先端が出し入れ自在に配設されている上記
(3) または(4) に記載する光温度測定装置。
載した以下の光温度測定装置が提供される。 （３）先端が高温熔体に浸漬され該高温熔体の放射光を
伝達する光ファイバー、該光ファイバーを高温熔体に対
して間欠的に出し入れする送出入手段、光ファイバーを
高温熔体に向かって案内するガイド手段、高温熔体から
引上げた光ファイバー先端を切断する手段、光ファイバ
ーよって伝達された光信号を温度量に変換する光温度検
知器を有することを特徴とする光温度測定装置。 （４）送出入手段が光ファイバーの巻取手段を兼用する
上記(3) に記載する光温度測定装置。 （５）切断手段が剪断機であり、該剪断機が光ファイバ
ー先端の送出入位置に設けられ、該剪断機の刃の間に光
ファイバー先端が出し入れ自在に配設されている上記
(3) または(4) に記載する光温度測定装置。
【００１０】
【発明の実施形態】以下、本発明を図示する実施例に基
づいて詳細に説明する。図１は本発明の測定方法および
測定装置の概略を示す概念図であり、図２はファイバー
先端とガイド部材の概略断面図、図３は本発明による測
定結果を示すチャートである。
づいて詳細に説明する。図１は本発明の測定方法および
測定装置の概略を示す概念図であり、図２はファイバー
先端とガイド部材の概略断面図、図３は本発明による測
定結果を示すチャートである。
【００１１】（Ｉ）測定装置 図示する本発明の測定装置は、その先端が高温熔体１０
に浸漬され該高温熔体の放射光を伝達する光ファイバー
２０を有する。該光ファイバー２０は、図２に示すよう
に、コアガラスとクラッドからなる石英ファイバー２０
ａを芯線とし、これを極薄のステンレス製チューブから
なる金属被覆２０ｂによって補強したものであり、該金
属被覆２０ｂの外周には樹脂コーテング２０ｃが施され
ている。光ファイバー２０は光通信に常用されているも
のを用いることができる。
に浸漬され該高温熔体の放射光を伝達する光ファイバー
２０を有する。該光ファイバー２０は、図２に示すよう
に、コアガラスとクラッドからなる石英ファイバー２０
ａを芯線とし、これを極薄のステンレス製チューブから
なる金属被覆２０ｂによって補強したものであり、該金
属被覆２０ｂの外周には樹脂コーテング２０ｃが施され
ている。光ファイバー２０は光通信に常用されているも
のを用いることができる。
【００１２】上記光ファイバー２０はボビン２１に所定
量巻き取られており、一方、高温熔体１０が貯溜されて
いる炉３０の湯面上方には光ファイバー２０を溶融炉３
０の湯面に導くガイド手段４０が設けられている。ガイ
ド手段４０はその内部を光ファイバー２０が貫通するパ
イプないし樋状の部材であれば良い。該ガイド手段４０
の出口付近（送出入位置）には光ファイバー先端を切断
するための剪断機５０が配設されており、光ファイバー
先端は該剪断機５０の刃の間に往復動自在に挿通されて
いる。
量巻き取られており、一方、高温熔体１０が貯溜されて
いる炉３０の湯面上方には光ファイバー２０を溶融炉３
０の湯面に導くガイド手段４０が設けられている。ガイ
ド手段４０はその内部を光ファイバー２０が貫通するパ
イプないし樋状の部材であれば良い。該ガイド手段４０
の出口付近（送出入位置）には光ファイバー先端を切断
するための剪断機５０が配設されており、光ファイバー
先端は該剪断機５０の刃の間に往復動自在に挿通されて
いる。
【００１３】上記ボビン２１とガイド手段４０の間には
光ファイバー２０を高温熔体１０に向かって出し入れす
るためのピンチロール２２が設けられている。なお、該
ピンチロール２２に代えて、他の送出入手段を用いても
良く、また、ボビン２１の巻取軸に回転駆動手段を連結
し、巻取軸の駆動によって光ファイバー２０を出し入れ
しても良い。光ファイバー２０の後端には光ファイバー
よって伝達された光信号を温度量に変換する光温度検知
器６０が接続されている。なお、必要に応じ、該検知器
６０には温度表示器が付設される。検知器６０は市販品
を利用することができる。
光ファイバー２０を高温熔体１０に向かって出し入れす
るためのピンチロール２２が設けられている。なお、該
ピンチロール２２に代えて、他の送出入手段を用いても
良く、また、ボビン２１の巻取軸に回転駆動手段を連結
し、巻取軸の駆動によって光ファイバー２０を出し入れ
しても良い。光ファイバー２０の後端には光ファイバー
よって伝達された光信号を温度量に変換する光温度検知
器６０が接続されている。なお、必要に応じ、該検知器
６０には温度表示器が付設される。検知器６０は市販品
を利用することができる。
【００１４】（II）測定方法 銅熔体などの高温熔体１０の温度を測定するには、ピン
チロール２２ないしボビン２１の巻取軸の回転により光
ファイバー２０を引き出して、その先端を高温熔体１０
に浸漬し、該熔体から生じる放熱光を該光ファイバー２
０を通じて光温度検知器６０に伝達する。伝達された光
信号は該検知器６０によって温度量に変換される。
チロール２２ないしボビン２１の巻取軸の回転により光
ファイバー２０を引き出して、その先端を高温熔体１０
に浸漬し、該熔体から生じる放熱光を該光ファイバー２
０を通じて光温度検知器６０に伝達する。伝達された光
信号は該検知器６０によって温度量に変換される。
【００１５】この場合、銅熔体などに浸漬されたファイ
バー先端部は高温のために次第に失透するので、所定時
間浸漬した後にファイバー先端を引上げ、剪断機５０に
よって失透した先端部分を切断する。切断後、再びファ
イバー先端を熔体１０に挿入し、測定を繰り返す。なお
所定回数浸漬した後に失透を生じるものは、その程度に
より所定回数浸漬した後に必要に応じて先端部分を切断
すればよい。
バー先端部は高温のために次第に失透するので、所定時
間浸漬した後にファイバー先端を引上げ、剪断機５０に
よって失透した先端部分を切断する。切断後、再びファ
イバー先端を熔体１０に挿入し、測定を繰り返す。なお
所定回数浸漬した後に失透を生じるものは、その程度に
より所定回数浸漬した後に必要に応じて先端部分を切断
すればよい。
【００１６】このように、高温熔体に光ファイバー先端
を間欠的に出し入れする場合において、浸漬時に金属被
覆２０ｂの樹脂コーテング２０ｃおよび石英ファイバー
芯線外周の樹脂被覆（UVコート）が燃焼してフレームを
生じ、図３に示すように温度測定のチャートには測定開
始時に顕著な温度ピークａが記録される。このフレーム
は樹脂コーテングを除去した金属被覆を用いることによ
って減少できるが、石英ファイバー芯線外周の樹脂被覆
は除去できないので、浸漬時のフレームの発生は避けら
れない。さらに、光ファイバー先端を熔体から引き上げ
る際にも、熔体中の酸素濃度よりも外気中の酸素濃度が
高いので光ファイバー先端が外気に触れた瞬間に激しい
燃焼を生じ、温度測定のチャートには測定開始時に類似
した顕著な温度ピークｂが記録される。
を間欠的に出し入れする場合において、浸漬時に金属被
覆２０ｂの樹脂コーテング２０ｃおよび石英ファイバー
芯線外周の樹脂被覆（UVコート）が燃焼してフレームを
生じ、図３に示すように温度測定のチャートには測定開
始時に顕著な温度ピークａが記録される。このフレーム
は樹脂コーテングを除去した金属被覆を用いることによ
って減少できるが、石英ファイバー芯線外周の樹脂被覆
は除去できないので、浸漬時のフレームの発生は避けら
れない。さらに、光ファイバー先端を熔体から引き上げ
る際にも、熔体中の酸素濃度よりも外気中の酸素濃度が
高いので光ファイバー先端が外気に触れた瞬間に激しい
燃焼を生じ、温度測定のチャートには測定開始時に類似
した顕著な温度ピークｂが記録される。
【００１７】このような光ファイバー浸漬時および引上
時のフレームによる温度ピークは、鉄熔体では熔体温度
が高いので大きな影響はないが、銅熔体では温度ピーク
よりも熔体温度が低いため、かかる外乱が大きな測定誤
差になる。そこで、本発明の測定方法では浸漬時と引上
時の測定ピークａ，ｂを除外し、該測定ピークａ，ｂに
挟まれた定常値ｃを測定温度とする。
時のフレームによる温度ピークは、鉄熔体では熔体温度
が高いので大きな影響はないが、銅熔体では温度ピーク
よりも熔体温度が低いため、かかる外乱が大きな測定誤
差になる。そこで、本発明の測定方法では浸漬時と引上
時の測定ピークａ，ｂを除外し、該測定ピークａ，ｂに
挟まれた定常値ｃを測定温度とする。
【００１８】上記温度測定においては、ファイバー先端
の十分に小さい端面を通じて均一温度の熔体を直接に観
察するため、いわゆる空洞輻射に準じた状況が実現され
ており、近似的に理想黒体からの輻射と見なすことがで
きるので、熔体の種類や性状による放射率補正が不要で
あり、正確な測定結果が得られる。また、応答性が早く
２〜３秒程度の浸漬時間で十分な温度測定を行うことが
できる。
の十分に小さい端面を通じて均一温度の熔体を直接に観
察するため、いわゆる空洞輻射に準じた状況が実現され
ており、近似的に理想黒体からの輻射と見なすことがで
きるので、熔体の種類や性状による放射率補正が不要で
あり、正確な測定結果が得られる。また、応答性が早く
２〜３秒程度の浸漬時間で十分な温度測定を行うことが
できる。
【００１９】以上のように、本発明の上記測定方法およ
び測定装置は、光ファイバー先端を高温熔体に間欠的に
出し入れし、失透した先端部をその引上時に除去して再
び測定を繰り返すと共にファイバー浸漬時と引上時の外
乱を除去して温度測定を行うので、銅熔体のように石英
の溶融温度よりも熔体温度がかなり低い熔体に対しても
精度の高い連続測定が可能である。具体的には、製銅炉
における銅、酸化銅または硫化銅あるいはこれらを混合
して含む熔体の温度測定に適し、さらには、これらと同
等あるいはその付近、例えば1000〜1400℃程度の熔体温
度を有する高温熔体の温度測定に適する。
び測定装置は、光ファイバー先端を高温熔体に間欠的に
出し入れし、失透した先端部をその引上時に除去して再
び測定を繰り返すと共にファイバー浸漬時と引上時の外
乱を除去して温度測定を行うので、銅熔体のように石英
の溶融温度よりも熔体温度がかなり低い熔体に対しても
精度の高い連続測定が可能である。具体的には、製銅炉
における銅、酸化銅または硫化銅あるいはこれらを混合
して含む熔体の温度測定に適し、さらには、これらと同
等あるいはその付近、例えば1000〜1400℃程度の熔体温
度を有する高温熔体の温度測定に適する。
【００２０】
【実施例】図１に示す測定系を用い、連続製銅炉の粗銅
樋における銅熔体およびスラグ熔体の温度測定を実施し
た。なお、光ファイバーは石英芯線（石英部φ 125μm
、樹脂被覆125 μm ）に樹脂コーテングを除いた金属
被覆（φ1.2mm ）を設けたものを用いた。この光ファイ
バーの先端約３cmを粗銅の熔体に約５秒浸漬した後に引
上げ、ファイバー先端部約５cmを切断した後に再び熔体
に挿入することを繰り返した。
樋における銅熔体およびスラグ熔体の温度測定を実施し
た。なお、光ファイバーは石英芯線（石英部φ 125μm
、樹脂被覆125 μm ）に樹脂コーテングを除いた金属
被覆（φ1.2mm ）を設けたものを用いた。この光ファイ
バーの先端約３cmを粗銅の熔体に約５秒浸漬した後に引
上げ、ファイバー先端部約５cmを切断した後に再び熔体
に挿入することを繰り返した。
【００２１】この各測定（２回分）ごとの測定結果を図
３に示した。また各測定回ごとの温度値を消耗型熱電対
の測定結果と対比して図４に示した。図中、○印は本発
明による測定値であり、●印は消耗型熱電対による測定
値である。図示するように、本発明の測温結果は消耗型
熱電対の測温結果と良く一致しており、信頼性の高いこ
とが分かる。しかも消耗型熱電対と異なり繰り返し使用
が可能であり、操作性および経済性に優れる。
３に示した。また各測定回ごとの温度値を消耗型熱電対
の測定結果と対比して図４に示した。図中、○印は本発
明による測定値であり、●印は消耗型熱電対による測定
値である。図示するように、本発明の測温結果は消耗型
熱電対の測温結果と良く一致しており、信頼性の高いこ
とが分かる。しかも消耗型熱電対と異なり繰り返し使用
が可能であり、操作性および経済性に優れる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明した本発明の温度測定方法およ
び測定装置によれば、銅熔体のように石英の溶融温度よ
りも熔体温度がかなり低い熔体に対しても、連続的に正
確な熔体温度の測定を行うことができる。また、本発明
の測定系は操作性が良く、経済性にも優れる。
び測定装置によれば、銅熔体のように石英の溶融温度よ
りも熔体温度がかなり低い熔体に対しても、連続的に正
確な熔体温度の測定を行うことができる。また、本発明
の測定系は操作性が良く、経済性にも優れる。
【図１】本発明に係る測温系の概念図
【図２】上記測温系で用いる光ファイバー先端の概略断
面図
面図
【図３】上記測定系による測温チャート
【図４】上記測定系による測定値と消耗型熱電対による
測定値の対比グラフ
測定値の対比グラフ
１０−高温熔体、 ２０−光ファイバー、 ２１−ボビ
ン、２２−ピンチロール、 ３０−炉、 ４０−ガイド
手段、５０−剪断機６０−光温度検知器
ン、２２−ピンチロール、 ３０−炉、 ４０−ガイド
手段、５０−剪断機６０−光温度検知器
Claims (5)
- 【請求項１】 高温熔体に光ファイバー先端を浸漬し、
該光ファイバーを通じて伝達される光信号を温度量に変
換することにより高温熔体の温度を測定する方法におい
て、光ファイバー先端を間欠的に高温熔体に浸漬し、浸
漬時と引上時の測定ピークに挟まれた定常値によって温
度測定を行い、さらに高温熔体への浸漬により失透した
光ファイバー先端部を必要に応じて引上時に切断し、光
ファイバーの新たな先端部を高温熔体に浸漬して次の温
度測定を行うことを特徴とする高温熔体の光温度測定方
法。 - 【請求項２】 高温熔体が銅、酸化銅ないし硫化銅ある
いはこれらを含む熔体である請求項１に記載する光温度
測定方法。 - 【請求項３】 先端が高温熔体に浸漬され該高温熔体の
放射光を伝達する光ファイバー、該光ファイバーを高温
熔体に対して間欠的に出し入れする送出入手段、光ファ
イバーを高温熔体に向かって案内するガイド手段、高温
熔体から引上げた光ファイバー先端を切断する手段、光
ファイバーよって伝達された光信号を温度量に変換する
光温度検知器を有することを特徴とする光温度測定装
置。 - 【請求項４】 送出入手段が光ファイバーの巻取手段を
兼用する請求項３に記載する光温度測定装置。 - 【請求項５】 切断手段が剪断機であり、該剪断機が光
ファイバー先端の送出入位置に設けられ、該剪断機の刃
の間に光ファイバー先端が出し入れ自在に配設されてい
る請求項３または４に記載する光温度測定装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7309894A JPH09126894A (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 高温熔体の光温度測定方法とその光温度測定装置 |
| PCT/JP1996/003197 WO1997016709A1 (en) | 1995-11-02 | 1996-10-31 | Temperature measurement method, temperature control method and temperature measurement apparatus for high-temperature melt |
| CA002209207A CA2209207A1 (en) | 1995-11-02 | 1996-10-31 | Method of measuring temperature of hot melt, method of controlling temperature of hot melt and temperature measuring apparatus for use in temperature measuring and controlling methods |
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|---|---|---|---|
| JP7309894A JPH09126894A (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 高温熔体の光温度測定方法とその光温度測定装置 |
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|---|---|
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP7309894A Pending JPH09126894A (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 高温熔体の光温度測定方法とその光温度測定装置 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009513934A (ja) * | 2003-07-09 | 2009-04-02 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 溶融した塊の冷却曲線を測定するための方法及び装置 |
| JP2024529368A (ja) * | 2021-08-26 | 2024-08-06 | ヘレーウス エレクトロ－ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 光学デバイスを用いて溶融金属浴の温度を測定するための測定装置及び方法 |
-
1995
- 1995-11-02 JP JP7309894A patent/JPH09126894A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009513934A (ja) * | 2003-07-09 | 2009-04-02 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 溶融した塊の冷却曲線を測定するための方法及び装置 |
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