JPH09127420A - Confocal scanning microscope scanning device - Google Patents

Confocal scanning microscope scanning device

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JPH09127420A
JPH09127420A JP30853995A JP30853995A JPH09127420A JP H09127420 A JPH09127420 A JP H09127420A JP 30853995 A JP30853995 A JP 30853995A JP 30853995 A JP30853995 A JP 30853995A JP H09127420 A JPH09127420 A JP H09127420A
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JP
Japan
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pinhole
array surface
lens
optical element
optical path
Prior art date
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Pending
Application number
JP30853995A
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Japanese (ja)
Inventor
Mitsuhiro Ishihara
満宏 石原
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Takaoka Toko Co Ltd
Original Assignee
Takaoka Electric Mfg Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 Nipkow diskによる共焦点走査型
の共焦点走査顕微鏡は光量が十分でない、Nipkow
diskからの反射光が完全に除去できないという課
題があった。 【解決手段】 課題解決のために、集光レンズが複数個
配列された集光レンズ配列面と個々の集光レンズと光学
的に同軸に配列されたピンホールを持つピンホール配列
面とを有する光路分岐光学素子と、この光路分岐光学素
子により集光レンズの光軸に垂直な方向に分岐された光
路に挿入されピンホール配列面の像を結像する結像レン
ズと、この結像レンズの結像光束をピンホール配列面に
垂直な方向に偏向する偏向光学素子と、集光レンズ配列
面とピンホール配列面と光路分岐光学系と結像レンズと
偏向光学素子とが固定されモーターにより回転する回転
体とより共焦点走査顕微鏡の走査装置を構成する。
(57) Abstract: The confocal scanning type confocal scanning microscope by Nipkow disk does not have sufficient light quantity.
There is a problem that the reflected light from the disk cannot be completely removed. To solve the problem, a condensing lens arranging surface having a plurality of condensing lenses arranged and a pinhole arranging surface having pinholes arranged coaxially with each condensing lens are provided. An optical path branching optical element, an imaging lens which is inserted into an optical path branched by the optical path branching optical element in a direction perpendicular to the optical axis of a condenser lens to form an image of a pinhole array surface, and an imaging lens of the imaging lens. The deflection optical element that deflects the image-forming light beam in the direction perpendicular to the pinhole array surface, the condenser lens array surface, the pinhole array surface, the optical path branching optical system, the imaging lens and the deflection optical element are fixed and rotated by a motor. The scanning device of the confocal scanning microscope is constituted by the rotating body.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、共焦点走査顕微鏡
の走査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning device for a confocal scanning microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】共焦点走査顕微鏡は、一般的な光学顕微
鏡を超える分解能を達成できかつ物体の3次元形状が観
察可能であることで知られている。共焦点走査顕微鏡の
共焦点走査の方法はレーザービームを光学偏向素子(A
O素子、EO素子、ガルバノミラー、ポリゴンミラーな
ど)で走査する方法と、Nipkow diskと呼ば
れる円盤を回転させて走査する方法とがある。この2種
類の走査方法のうちでNipkow diskによる方
法は、レーザービームによる方法と比べて構造がずっと
単純で、白色光を光源として用いればカラーの画像が得
られるなどの利点があり近年注目されている。
2. Description of the Related Art Confocal scanning microscopes are known to be able to achieve a resolution exceeding that of a general optical microscope and to observe the three-dimensional shape of an object. The confocal scanning method of the confocal scanning microscope uses a laser beam as an optical deflection element (A
There is a method of scanning with an O element, an EO element, a galvano mirror, a polygon mirror, etc.) and a method of rotating a disk called Nipkow disk for scanning. Of these two types of scanning methods, the Nipkow disk method has a much simpler structure than the laser beam method, and has the advantage that a color image can be obtained by using white light as a light source. There is.

【0003】Nipkow diskによる共焦点走査
型の共焦点顕微鏡の構造を図4に示す。照明光が光路分
岐光学素子1を通ってNipkow disk41上に
投射される。Nipkow disk41は図5に示す
ような螺旋状に配置されたピンホールを多数持つもので
あり、光はこのピンホールを通過して対物レンズ11に
より集光され物体12に投射される。物体からの反射光
は同一の対物レンズ11により集光されNipkow
disk41に対して収束する。Nipkowdisk
41のピンホールを再び通過した反射光は光路分岐光学
素子1を介して結像レンズ4により集光され、ピンホー
ルの像が2次元光電センサ6上に結像するように収束す
る。Nipkow disk41の各ピンホールと対物
レンズ11は共焦点光学系をなしており、モーター8で
Nipkow disk41を回転させることによりピ
ンホールが対物レンズ11の像面上を走査することにな
って、2次元光電センサ6上に物体12の共焦点画像が
得られる。
FIG. 4 shows the structure of a confocal scanning confocal microscope according to Nipkow disk. The illumination light passes through the optical path branching optical element 1 and is projected onto the Nipkow disk 41. The Nipkow disk 41 has a large number of spirally arranged pinholes as shown in FIG. 5, and light passes through the pinholes and is condensed by the objective lens 11 to be projected on the object 12. The reflected light from the object is condensed by the same objective lens 11 and Nipkow
It converges on the disk 41. Nipkowdisk
The reflected light that has passed through the pinhole 41 again is condensed by the imaging lens 4 via the optical path branching optical element 1 and converges so that the image of the pinhole is formed on the two-dimensional photoelectric sensor 6. Each pinhole of the Nipkow disk 41 and the objective lens 11 form a confocal optical system, and by rotating the Nipkow disk 41 by the motor 8, the pinhole scans the image plane of the objective lens 11 in two dimensions. A confocal image of the object 12 is obtained on the photoelectric sensor 6.

【0004】以上が基本的な構造であるが、実際にはN
ipkow disk41上に投射された照明光がNi
pkow disk41上で反射して光路分岐光学素子
1を介して2次元光電センサ6に届いてしまう(以下で
は、このような光をdisk反射光と呼ぶことにする)
問題が発生するため、このdisk反射光除去の対策が
必要である。図4にはこのためにいくつかの偏光光学部
品が挿入され、disk反射光の除去が行われている。
即ち、まず照明光を直線偏光として、光路分岐光学素子
1(偏光ビームスプリッター)に入射させる。そして、
diskからの反射光を偏光板10によりカットする。
ピンホールを通過した光は1/4波長板9により円偏光
となり、物体12で反射して再び1/4波長板9を通過
する際に照明光と直交する直線偏光となる。再びピンホ
ールを通過した光は偏光板10とは平行ニコルの関係だ
から偏光板10をそのまま通過して2次元光電センサ6
に到達する。このようにして物体12からの反射光にN
ipkow disk41からの反射光が混じるのを防
いでいる。
The above is the basic structure, but in reality N
The illumination light projected on the ipkow disk 41 is Ni.
The light is reflected on the pkow disk 41 and reaches the two-dimensional photoelectric sensor 6 via the optical path branching optical element 1 (hereinafter, such light will be referred to as disk reflected light).
Since a problem occurs, it is necessary to take measures to remove this reflected light from the disk. For this purpose, some polarizing optical components are inserted in FIG. 4 to remove the disk reflected light.
That is, first, the illumination light is linearly polarized and made incident on the optical path branching optical element 1 (polarization beam splitter). And
The reflected light from the disk is cut by the polarizing plate 10.
The light that has passed through the pinhole is circularly polarized by the quarter-wave plate 9, and when it is reflected by the object 12 and passes through the quarter-wave plate 9 again, it becomes linearly polarized light orthogonal to the illumination light. Since the light that has passed through the pinhole again has a parallel Nicol relationship with the polarizing plate 10, it passes through the polarizing plate 10 as it is and the two-dimensional photoelectric sensor 6
To reach. In this way, the reflected light from the object 12 has N
This prevents the reflected light from the ipkow disk 41 from being mixed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】以上がNipkow
diskによる共焦点走査型の共焦点顕微鏡の構造であ
るが、この走査機構には互いに関連する2つの問題点が
ある。一つは光量である。 Nipkow disk4
1上のピンホールは互いに離れており、かつその径は小
さいから、ピンホールを通過できる照明光はわずかであ
る。ピンホールを通過できる照明光は一般に1%程度に
すぎない。そのため物体12で反射して再びピンホール
を通過し2次元光電センサ6に到達する光は非常にかす
かなものとなる(物体12の反射率が低い場合は特
に)。今一つは、 disk反射光の除去である。di
sk反射光はかなり強いものであり、逆に物体12から
の反射光は上記のようにかすかなものであるから、偏光
利用による対策がなされていても完全にdisk反射光
がカットされるわけではないことからやはり十分とはい
えない。
The above is Nipkow.
The structure of the confocal scanning confocal microscope according to the disk has two problems related to each other in this scanning mechanism. One is the amount of light. Nipkow disk4
Since the pinholes on 1 are separated from each other and their diameters are small, only a small amount of illumination light can pass through the pinholes. The illumination light that can pass through the pinhole is generally only about 1%. Therefore, the light reflected by the object 12, passing through the pinhole again, and reaching the two-dimensional photoelectric sensor 6 becomes very faint (especially when the reflectance of the object 12 is low). Another is the removal of the reflected light on the disk. di
Since the sk reflected light is quite strong, and conversely, the reflected light from the object 12 is faint as described above, the disk reflected light is not completely cut even if measures are taken by using polarized light. It's not enough because it's not there.

【0006】そこで本発明は、ピンホールを通過する光
量を大きくできかつdisk反射光の少ない共焦点走査
顕微鏡の走査装置を提供することを目的とするものであ
る。
Therefore, an object of the present invention is to provide a scanning device of a confocal scanning microscope which can increase the amount of light passing through a pinhole and has a small amount of disk reflected light.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】目的達成のために、集光
レンズが複数個配列された集光レンズ配列面と、この配
列された個々の集光レンズと光学的に同軸に配列された
ピンホールを持つピンホール配列面と、前記集光レンズ
配列面と前記ピンホール配列面との間に位置し、前記集
光レンズの光軸方向と前記集光レンズの光軸に垂直な方
向とに光路を分岐する光路分岐光学素子と、前記光路分
岐光学素子により前記集光レンズの光軸に垂直な方向に
分岐された光路に挿入され前記ピンホール配列面の像を
結像する結像レンズと、前記結像レンズの結像光束を前
記ピンホール配列面に垂直な方向に偏向する偏向光学素
子と、前記集光レンズ配列面と前記ピンホール配列面と
前記光路分岐光学系と前記結像レンズと前記偏向光学素
子とが固定されモーターにより回転する回転体とより共
焦点走査顕微鏡の走査装置を構成する。このようにすれ
ば集光レンズにより照明光を集光してピンホールに収束
させることができるから、ピンホールを通過する照明光
量を大きくすることができる。また、ピンホール通過し
ない照明光が大幅に減るためにdisk反射光も少なく
することができる。
To achieve the object, a condensing lens array surface on which a plurality of condensing lenses are arrayed, and a pin optically coaxial with each arrayed condensing lens are arranged. A pinhole array surface having holes, located between the condenser lens array surface and the pinhole array surface, in the optical axis direction of the condenser lens and in the direction perpendicular to the optical axis of the condenser lens. An optical path branching optical element for branching the optical path; and an imaging lens for forming an image of the pinhole array surface by being inserted into the optical path branched by the optical path branching optical element in a direction perpendicular to the optical axis of the condenser lens. A deflection optical element for deflecting the image-forming light flux of the image-forming lens in a direction perpendicular to the pinhole array surface, the condenser lens array surface, the pinhole array surface, the optical path branching optical system, and the image-forming lens. And the deflection optical element are fixed. Constituting a scanning device for a rotary body more confocal scanning microscope which is rotated by coater. By doing so, the illumination light can be condensed by the condenser lens and converged on the pinhole, so that the amount of illumination light passing through the pinhole can be increased. In addition, since the illumination light that does not pass through the pinhole is significantly reduced, it is possible to reduce the light reflected by the disk.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。図1は本発明に係る共焦点
走査顕微鏡の例である。1は偏光プリズム型の光路分岐
光学素子(偏光ビームスプリッター)である。その上面
は、図2(a)に示すような螺旋形にマイクロレンズ2
aが並べられた集光レンズ配列面2となっており、また
その下面は、図2(b)に示すように集光レンズ配列面
2のマイクロレンズ2aと同様の配列でピンホールが並
べられたピンホール配列面3となっている。集光レンズ
配列面2においてマイクロレンズ2a以外の領域は遮光
マスク2bで覆われている。偏光プリズム型の光路分岐
光学素子1を透過する方向(平行ニコル)に直線偏光し
た照明光が図1に示すように平行光で集光レンズ配列面
2に入射すると、入射した光は各マイクロレンズ2aの
焦点位置に収束する。この位置にピンホール配列面3が
設置されており(各ピンホールの中心が各マイクロレン
ズ2aの光軸上に位置するように配置されている)、
このため各マイクロレンズ2aに入射した光はそのほと
んどがピンホールを通過する。また、集光レンズ配列面
2に入射した照明光のうちマイクロレンズ2aに入射し
ないものは遮光マスク2bにより遮光され、ピンホール
配列面3には届かないから、ピンホール配列面3でピン
ホールを通過せずに反射する光(disk反射光に相当
する光)はほとんど無い。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an example of a confocal scanning microscope according to the present invention. Reference numeral 1 denotes a polarization prism type optical path branching optical element (polarization beam splitter). The top surface of the microlens 2 has a spiral shape as shown in FIG.
2a is a condensing lens array surface 2 and pinholes are arrayed on the lower surface in the same array as the microlenses 2a of the condensing lens array surface 2 as shown in FIG. 2B. It has a pinhole array surface 3. Areas other than the microlenses 2a on the condenser lens array surface 2 are covered with a light shielding mask 2b. When the illumination light linearly polarized in the direction of transmission through the polarizing prism type optical path branching optical element 1 (parallel Nicol) enters the condenser lens array surface 2 as parallel light as shown in FIG. It converges on the focal position of 2a. The pinhole array surface 3 is installed at this position (arranged so that the center of each pinhole is located on the optical axis of each microlens 2a).
Therefore, most of the light incident on each microlens 2a passes through the pinhole. Further, of the illumination light that has entered the condenser lens array surface 2, that which does not enter the microlens 2a is shielded by the light blocking mask 2b and does not reach the pinhole array surface 3, so pinholes are created on the pinhole array surface 3. There is almost no light that reflects without passing through (light equivalent to disk reflected light).

【0009】ピンホールを通過した照明光は1/4波長
板9によって円偏光となり、対物レンズ11による結像
作用を受けて、物体12面上にピンホールの像を結ぶ。
物体12からの反射光は同一の対物レンズ11により結
像作用を受けて収束光となり、1/4波長板9によって
照明光と直交する直線偏光となって再びピンホールを通
過する(このように再びピンホールを通過した反射光を
戻り光と呼ぶことにする)。戻り光は光路分岐光学素子
1により偏向され結像レンズ4の結像作用を受けて、ピ
ンホール配列面3の像を2次元光電センサ6上に結ぶ。
偏向光学素子5は結像レンズ4の結像光束を偏向してピ
ンホール配列面3とその像とを平行にするために設けて
ある。偏向光学素子5上の偏光板10は戻り光と平行ニ
コルの関係となっており、戻り光はそのまま透過する。
Illumination light that has passed through the pinhole is circularly polarized by the quarter-wave plate 9 and is subjected to an image forming action by the objective lens 11 to form an image of the pinhole on the surface of the object 12.
The reflected light from the object 12 is focused by the same objective lens 11 to become convergent light, and becomes a linearly polarized light orthogonal to the illumination light by the quarter-wave plate 9 and passes through the pinhole again (in this way). The reflected light that has passed through the pinhole is called return light). The return light is deflected by the optical path branching optical element 1 and subjected to the image forming action of the image forming lens 4 to form an image of the pinhole array surface 3 on the two-dimensional photoelectric sensor 6.
The deflection optical element 5 is provided for deflecting the image-forming light flux of the image-forming lens 4 to make the pinhole array surface 3 and its image parallel. The polarizing plate 10 on the deflecting optical element 5 has a parallel Nicol relationship with the return light, and the return light is transmitted as it is.

【0010】光路分岐光学素子1(集光レンズ配列面2
とピンホール配列面3を含む)と結像レンズ4と偏向光
学素子5(偏光板10を含む)とは、透明な平行平板形
の回転体7(例えば平行平板ガラス)上に固定されてお
り、モーター8の回転により回転体7とともに回転す
る。図3に示すように偏向光学素子5は、回転体7の回
転中心に対して光路分岐光学素子1とは反対側に位置し
ており、集光レンズ配列面2上及びピンホール配列面3
上のピンホールの螺旋パターンの中心(図2参照)と、
ピンホールの像の螺旋パターンの中心と、回転体7の回
転中心とは一致している。図3は結像レンズ4の倍率が
0.75倍の時の例である。
Optical path branching optical element 1 (condensing lens array surface 2
And the pinhole array surface 3), the imaging lens 4 and the deflection optical element 5 (including the polarizing plate 10) are fixed on a transparent parallel plate-shaped rotating body 7 (for example, parallel plate glass). , Rotates with the rotating body 7 by the rotation of the motor 8. As shown in FIG. 3, the deflection optical element 5 is located on the side opposite to the optical path branching optical element 1 with respect to the rotation center of the rotating body 7, and is arranged on the condenser lens array surface 2 and the pinhole array surface 3.
The center of the spiral pattern of the upper pinhole (see Figure 2),
The center of the spiral pattern of the image of the pinhole and the rotation center of the rotating body 7 coincide with each other. FIG. 3 shows an example when the magnification of the imaging lens 4 is 0.75.

【0011】2次元光電センサ6は、照明光が照射され
る位置と、回転体7の回転中心に対して反対側の位置に
設置され、固定されている(回転体7と一緒に回転しな
い)。これにより回転体7が回転すると2次元光電セン
サ6上をピンホールの像が走査する事になり、2次元光
電センサ6の露光時間を少なくともピンホールの像全て
が通過する時間以上に設定しておくことで共焦点画像が
得られる。回転体7の回転の周期は、2次元光電センサ
6の撮像周期(露光開始から次の画像の露光開始までの
時間であり、露光時間<撮像周期が成り立つ)に等し
く、例えば2次元光電センサ6がNTSC規格のテレビ
カメラの場合、撮像周期は1/60秒だから60回/秒
の回転数で回転させる。
The two-dimensional photoelectric sensor 6 is installed and fixed at a position on the opposite side of the rotation center of the rotating body 7 from the position where the illumination light is emitted (it does not rotate together with the rotating body 7). . As a result, when the rotating body 7 rotates, the image of the pinhole is scanned on the two-dimensional photoelectric sensor 6, and the exposure time of the two-dimensional photoelectric sensor 6 is set to at least the time required for all the images of the pinhole to pass. A confocal image can be obtained by setting it. The rotation cycle of the rotating body 7 is equal to the imaging cycle of the two-dimensional photoelectric sensor 6 (the time from the start of exposure to the start of exposure of the next image, and the exposure time is less than the imaging cycle). In the case of a TV camera of NTSC standard, the image pickup cycle is 1/60 second, so the image is rotated at a rotation speed of 60 times / second.

【0012】2次元光電センサ6の露光はピンホールの
像のみによって行われ、それ以外の部分では2次元光電
センサ6に照明光あるいは戻り光は入射しない(照明光
の照射位置に偏向光学素子5が来たとき、照明光と偏向
光学素子5上の偏光板10は直交ニコルの関係となるた
め偏向光学素子5内に照明光は入らない。従って2次元
光電センサ6に照明光あるいは戻り光が到達することは
ない)。
The exposure of the two-dimensional photoelectric sensor 6 is performed only by the image of the pinhole, and the illumination light or the return light is not incident on the two-dimensional photoelectric sensor 6 in other portions (the deflection optical element 5 is located at the irradiation position of the illumination light). When the illuminating light comes, the illuminating light and the polarizing plate 10 on the deflecting optical element 5 have an orthogonal Nicol relationship, so that the illuminating light does not enter the deflecting optical element 5. Therefore, the illuminating light or the returning light enters the two-dimensional photoelectric sensor 6. Never reach).

【0013】以上の例では直線偏光照明、偏光プリズム
型の光路分岐光学素子1、偏向光学素子5、1/4波長
板9など、不必要な光(迷光)をできるだけカットする
目的で偏光を利用しているが必ずしも偏光を利用する必
要はない。偏光を利用しない場合明らかに問題となる点
は照明光の照射位置に偏向光学素子5が来たときの光の
処理であるが、これは2次元光電センサ6のシャッター
機能を用いて解決できる。またこの例では集光レンズ配
列面2やピンホール配列面3が光路分岐光学素子1の表
面に直接形成されているが、平行平板のガラス、光学樹
脂、光学結晶などに形成して光路分岐光学素子1に張り
付けても良いし、回転体7上に形成しても良い。またこ
の例では回転体7として透明なものを用いているが、透
明でないものに螺旋パターンの部分だけ穴をあけたもの
でもよい。
In the above example, the polarized light is used for the purpose of cutting unnecessary light (stray light) as much as possible by the linearly polarized illumination, the polarization prism type optical path branching optical element 1, the deflection optical element 5, the quarter wavelength plate 9 and the like. However, it is not always necessary to use polarized light. A point that obviously becomes a problem when the polarized light is not used is the processing of light when the deflection optical element 5 comes to the irradiation position of the illumination light, but this can be solved by using the shutter function of the two-dimensional photoelectric sensor 6. Further, in this example, the condensing lens array surface 2 and the pinhole array surface 3 are formed directly on the surface of the optical path branching optical element 1, but they are formed on parallel plate glass, optical resin, optical crystal, etc. It may be attached to the element 1 or may be formed on the rotating body 7. Further, in this example, a transparent body is used as the rotating body 7, but a non-transparent body having only a spiral pattern portion may be used.

【0014】[0014]

【発明の効果】マイクロレンズ2aが照明光を集光する
ことによりピンホールを通過する照明光量を大きくする
ことができ、また、ピンホール通過しない照明光が大幅
に減るためにdisk反射光も少なくすることができ
る。また、回転体7周辺の光学部品(集光レンズ配列面
2、ピンホール配列面3、光路分岐光学素子1、結像レ
ンズ4、偏向光学素子5、偏光板10など)は全て一体
化させることが可能であるため、全体がコンパクトにな
り、また振動の影響なども受けにくくなる。
The amount of illumination light passing through the pinhole can be increased by condensing the illumination light by the microlens 2a, and the amount of illumination light that does not pass through the pinhole is greatly reduced, so that the amount of the disk reflection light is also small. can do. In addition, all the optical components around the rotating body 7 (the condensing lens array surface 2, the pinhole array surface 3, the optical path branching optical element 1, the imaging lens 4, the deflecting optical element 5, the polarizing plate 10, etc.) should be integrated. Since it is possible, the whole becomes compact and is less susceptible to the influence of vibration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の一例を示した図である。FIG. 1 is a diagram showing an example of an embodiment of the present invention.

【図2】集光レンズ配列面、ピンホール配列面の一例を
示した図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a condenser lens array surface and a pinhole array surface.

【図3】回転体の上面を示した図である。FIG. 3 is a diagram showing an upper surface of a rotating body.

【図4】従来技術を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional technique.

【図5】Nipkow diskを説明するための図で
ある。
FIG. 5 is a diagram for explaining a Nipkow disk.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光路分岐光学素子 2 集光レンズ配列面 3 ピンホール配列面 4 結像レンズ 5 偏向光学素子 6 2次元光電センサ 7 回転体 8 モーター 9 1/4波長板 10 偏光板 11 対物レンズ 12 物体 41 Nipkow disk DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical path branching optical element 2 Condensing lens array surface 3 Pinhole array surface 4 Imaging lens 5 Deflection optical element 6 Two-dimensional photoelectric sensor 7 Rotating body 8 Motor 9 1/4 Wave plate 10 Polarizing plate 11 Objective lens 12 Object 41 Nipkow disk

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 共焦点画像を得るために内部に2次元的
な走査装置を有する共焦点走査顕微鏡において、集光レ
ンズが複数個配列された集光レンズ配列面と、この配列
された個々の集光レンズと光学的に同軸に配列されたピ
ンホールを持つピンホール配列面と、前記集光レンズ配
列面と前記ピンホール配列面との間に位置し、前記集光
レンズの光軸方向と前記集光レンズの光軸に垂直な方向
とに光路を分岐する光路分岐光学素子と、前記光路分岐
光学素子により前記集光レンズの光軸に垂直な方向に分
岐された光路に挿入され前記ピンホール配列面の像を結
像する結像レンズと、前記結像レンズの結像光束を前記
ピンホール配列面に垂直な方向に偏向する偏向光学素子
と、前記集光レンズ配列面と前記ピンホール配列面と前
記光路分岐光学系と前記結像レンズと前記偏向光学素子
とが固定されモーターにより回転する回転体とより構成
されることを特徴とする共焦点走査顕微鏡の走査装置。
1. In a confocal scanning microscope having a two-dimensional scanning device inside for obtaining a confocal image, a condensing lens array surface on which a plurality of condensing lenses are arrayed, and each of the arrayed individual condensing lenses. A pinhole array surface having pinholes arranged coaxially with the condenser lens, and an optical axis direction of the condenser lens located between the condenser lens arrangement surface and the pinhole arrangement surface. An optical path branching optical element for branching an optical path in a direction perpendicular to the optical axis of the condenser lens, and the pin inserted in an optical path branched by the optical path branching optical element in a direction perpendicular to the optical axis of the condenser lens. An image forming lens for forming an image on the hole array surface, a deflection optical element for deflecting the image forming light flux of the image forming lens in a direction perpendicular to the pinhole array surface, the condensing lens array surface and the pinhole. Array surface and the optical path branching optical system A scanning device for a confocal scanning microscope, characterized in that the imaging lens and the deflection optical element are fixed and are constituted by a rotating body that is rotated by a motor.
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