JPH09128263A - In-circuit emulator device used for computer device provided with cpu having bag-type lead terminal - Google Patents

In-circuit emulator device used for computer device provided with cpu having bag-type lead terminal

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JPH09128263A
JPH09128263A JP7306540A JP30654095A JPH09128263A JP H09128263 A JPH09128263 A JP H09128263A JP 7306540 A JP7306540 A JP 7306540A JP 30654095 A JP30654095 A JP 30654095A JP H09128263 A JPH09128263 A JP H09128263A
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Japan
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cpu
computer device
circuit emulator
probe
wiring board
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Application number
JP7306540A
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Japanese (ja)
Inventor
Takayasu Matsui
崇泰 松井
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Canon I Tech Inc
Original Assignee
Tokyo Denshi Sekkei KK
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify the mechanical connection of a terminal and to eliminate the need of a connection land space by installing a film-like wiring substrate between CPU and the wiring substrate of a computer device and constituting a probe device transferring the signal of CPU. SOLUTION: In the case of the computer device using BGA-type CPU 1, a Mylar-like wiring substrate 4 as a probe part, in which a signal leader is previously provided at the time of manufacturing the computer device is laid between the printed wiring board 5 of the computer device and BGA-type CPU 1 so as to solder it. Thus, a function as the probe part of an in-circuit emulator device, which is easily connected to an in-circuit emulator device and which is sufficient for the operation analysis of external CPU and the debugging of a program, can be satisfied for executing program debugging for the computer device using BGA-type CPU 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】コンピュータ装置を動作させるた
めの装置、またはそのプログラムが正常に動作している
か否かを解析するために、一般的にインサーキットエミ
ュレータ装置を使用して該装置およびそのプログラムの
内容/実行状態をデバッグする方法が採られている。し
かしコンピュータ装置(インサーキットエミュレータ装
置を接続したコンピュータ装置を技術的には「ターゲッ
トコンピュータ装置」と称されているが、本発明ではこ
の「ターゲットコンピュータ装置」のことを単に「コン
ピュータ装置」と記す)の中央処理制御装置(以下「C
PU」と記す)は、最近処理速度の向上を目指して該C
PUの動作の基本となる信号であるクロック動作周波数
(以下「クロック周波数」と記す)を高くする傾向にあ
る。本発明ではこのクロック周波数が高いCPUである
BGA型CPUを使用したコンピュータ装置に対するイ
ンサーキットエミュレータ装置において、そのコンピュ
ータ装置のプログラム/回路を解析するインサーキット
エミュレータ装置の新しいプローブ装置(以下「プロー
ブ部」と記す)を提供することにある。(CPUの形状
については後述する)。
BACKGROUND OF THE INVENTION In order to analyze whether a device for operating a computer device or its program is operating normally, an in-circuit emulator device is generally used to analyze the device and its program. The method of debugging the contents / execution state of is adopted. However, a computer device (a computer device to which an in-circuit emulator device is connected is technically called a “target computer device”, but in the present invention, this “target computer device” is simply referred to as a “computer device”). Central processing controller (hereinafter "C
"PU") has recently been used to improve the processing speed.
There is a tendency to increase the clock operating frequency (hereinafter referred to as "clock frequency"), which is a signal that is the basis of the operation of the PU. According to the present invention, in the in-circuit emulator device for the computer device using the BGA type CPU having the high clock frequency, a new probe device of the in-circuit emulator device for analyzing the program / circuit of the computer device (hereinafter referred to as "probe section"). Is provided). (The shape of the CPU will be described later).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来からコンピュータ装置のプログラム
の解析には、そのプログラムに仮のデータを与えて試行
させ、初期の目的としたデータまたは結果が得られるか
否かを確認しながらプログラムの実行/解析を行ってい
た。しかし、最近では該プログラムの解析にはインサー
キットエミュレータ装置が多く用いられるようになって
きた。従来コンピュータ装置にインサーキットエミュレ
ータ装置を接続してプログラムのデバッグを行う場合に
は、コンピュータ装置のCPUを引き抜き、図6に示す
ようにインサーキットエミュレータ装置のプローブ部を
該CPUを抜き取ったソケットに装填し、該プローブ部
に取り付けた同一規格のCPUの動作信号をインサーキ
ットエミュレータ装置の本体内部に入力して、該デバッ
グを実行する手段を採っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in the analysis of a program of a computer device, provisional data is given to the program and it is tried to execute / execute the program while confirming whether or not the initial target data or result is obtained. I was doing an analysis. However, recently, in-circuit emulator devices have come to be widely used for the analysis of the program. When a program is debugged by connecting an in-circuit emulator device to a conventional computer device, the CPU of the computer device is pulled out, and the probe portion of the in-circuit emulator device is loaded into the socket from which the CPU is pulled out, as shown in FIG. Then, a means for executing the debugging by inputting the operation signal of the CPU of the same standard attached to the probe unit into the main body of the in-circuit emulator device has been adopted.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】以上の手段により抽出
したコンピュータ装置のCPUの入力信号をインサーキ
ットエミュレータ装置本体内部の各種装置に入力するこ
とによりプログラムデバッグを実行させるが、前記BG
A型CPUの場合、それ自身は小型になりつつあるが、
CPU内部の機能が増えてきた為に、CPUと外部回路
を接続するリード端子数が増え、従来のCPUの本体周
辺に埋設した場合の最大端子数(約3ー400本)では
足りなくなり、よって本体下部全体にピンを立てた型の
PGA型(後述)、及び該ピンの代わりに直接プリント
配線板に取り付ける構造のBGA型(後述)とがある。
該コンピュータ装置のCPUの動作クロック周波数は高
く(概ね130MHz以上)、さらにCPU本体下部に
ボール条の接続リードを有するBGA型CPUを使用し
たコンピュータ装置において、インサーキットエミュレ
ータ装置への信号抽出部を設ける必要が出てきた。
The program debug is executed by inputting the input signal of the CPU of the computer device extracted by the above means into various devices inside the main body of the in-circuit emulator.
In the case of an A-type CPU, it is becoming smaller, but
Since the number of functions inside the CPU has increased, the number of lead terminals that connect the CPU and external circuits has increased, and the maximum number of terminals (about 3 to 400) when embedded in the periphery of the conventional CPU body is no longer sufficient. There are a PGA type in which a pin is erected on the entire lower part of the main body (described later) and a BGA type in which a structure is directly attached to a printed wiring board instead of the pin (described later).
The operating clock frequency of the CPU of the computer device is high (approximately 130 MHz or more), and further, in a computer device using a BGA type CPU having a ball-shaped connecting lead in the lower part of the CPU body, a signal extraction unit to an in-circuit emulator device is provided. There is a need.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】以上の問題を解決するた
めに本発明では、コンピュータ装置のBGA型CPU
と、該コンピュータ装置のCPU部分にて結合されるイ
ンサーキットエミュレータ装置のプローブ部と、マッピ
ングメモリ素子、並びにエミュレーションメモリと、該
プローブ部からインサーキットエミュレータ装置本体に
接続されるプローブケーブルと、インサーキットエミュ
レータ装置内のトレース格納メモリ、トレースコントロ
ーラ等の各機能で構成される。
In order to solve the above problems, the present invention provides a BGA type CPU of a computer device.
A probe unit of an in-circuit emulator device, a mapping memory element, and an emulation memory, which are connected to the CPU unit of the computer device; a probe cable connected from the probe unit to the main body of the in-circuit emulator device; It is composed of each function such as a trace storage memory and a trace controller in the emulator device.

【0005】[0005]

【作用】以上の手段を備えた本発明では、前述のとおり
BGA型CPUを使用したコンピュータ装置の動作状況
を解析する場合、インサーキットエミュレータ装置のプ
ローブ部をコンピュータ装置のCPUに装填し、インサ
ーキットエミュレータ装置内にCPUの作動信号を入力
し、さらにインサーキットエミュレータ装置内のコント
ロールバスラインを通じてエミュレーションメインCP
Uに入力されると同時に、トレースコントローラを経由
してトレース結果格納メモリに蓄えられる。コンピュー
タ装置のプログラムが終了するか、または実行中のプロ
グラムをインサーキットエミュレータ装置から停止信号
を発して中断させ、それ迄の実行経過を解析する場合、
前記トレース結果格納メモリに蓄えられた前記CPUの
実行状況をインサーキットエミュレータ装置の解析プロ
グラムにより、人間が判断できる文字/記号に変換しデ
ィスプレイ装置、またはプリンタ装置で出力し解析す
る。
According to the present invention having the above means, when analyzing the operating condition of the computer device using the BGA type CPU as described above, the probe portion of the in-circuit emulator device is loaded into the CPU of the computer device and the in-circuit emulator is loaded. The emulation main CP is input through the control bus line in the in-circuit emulator device by inputting the CPU operation signal into the emulator device.
At the same time as being input to U, it is stored in the trace result storage memory via the trace controller. When the program of the computer device is terminated or the program being executed is interrupted by issuing a stop signal from the in-circuit emulator device, and analyzing the execution progress up to that time,
The execution status of the CPU stored in the trace result storage memory is converted into characters / symbols that can be judged by a human by an analysis program of an in-circuit emulator device, and output by a display device or a printer device for analysis.

【0006】[0006]

【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
なお、各図に共通とする部分は同一の符号を付す。図1
はBGA型CPUの接続端子の外観形状の一例を示す図
で、(イ)は低面図、(ロ)はA−A断面図、(ハ)は
B−B断面図である(但し、リード端子の数は実際とは
異なる)。図2は本発明の一実施例であるフイルム条の
配線基板との接続状態を示す図で、(イ)は平面図、
(ロ)はC−C断面図、(ハ)は(イ)の部分拡大図で
ある。図3は本発明の一実施例を示すインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ部の形状例を示す平面図であ
る。図4は図3のD−D断面図の一実施例を示す断面図
である。図5は従来のコンピュータ装置に使用されるQ
FP型、及びBGA型CPUの外観図である(但し、リ
ード端子の数は実際数とは異なる)。図6は従来のCP
Uにて使用されるインサーキットエミュレータ装置のプ
ローブ部の形状例を示す図である。
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
It should be noted that parts common to the drawings are given the same reference numerals. FIG.
FIG. 3 is a diagram showing an example of the external shape of the connection terminal of the BGA type CPU, (a) is a low-side view, (b) is an AA sectional view, and (c) is a BB sectional view (however, the lead The number of terminals is different from the actual). FIG. 2 is a view showing a connection state of a film strip according to an embodiment of the present invention with a wiring board, (a) is a plan view,
(B) is a sectional view taken along the line CC, and (C) is a partially enlarged view of (A). FIG. 3 is a plan view showing an example of the shape of the probe section of the in-circuit emulator device showing the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a sectional view showing an embodiment of the DD sectional view of FIG. FIG. 5 shows Q used in a conventional computer device.
It is an external view of FP type and BGA type CPUs (however, the number of lead terminals is different from the actual number). Figure 6 is a conventional CP
It is a figure which shows the example of a shape of the probe part of the in-circuit emulator device used in U.

【0007】図において、従来コンピュータ装置に使用
している主なCPUの形状は、日本電子機械工業会(E
IAJ)規格ED−7411で標準的なパッケージの形
状とその名称が決められているが、その一例を図5
(イ)、(ロ)に示す。図5(イ)はクワッド・フラッ
ト・パッケージ(QFP)型と称し、厚さ数mm、一辺
の長さ10数mmから数十mmの正方形、またはやや長
方形に成形されて、内部にCPU本体が収められてお
り、その周辺(四辺)に数10ー数100本のリード・
ピン(外部電極)が出ている。図5(ロ)はピン・グリ
ッド・アレイ(前記EIAJ規格の名称でPGA)型と
称されている型で、CPU本体パッケージは前記QFP
型と略同様であるが、パッケージの低面に針状のピンが
200ー500余本整列して並んで出ているのが特長で
ある。さらに、近年では図1(イ)に示すようにボール
・グリッド・アレー(前記EIAJ規格でBGA)型が
市場に出回ってきた。図1(ロ)は(イ)のA−A断面
図(内部機構省略)、同(ハ)は同(ロ)のB−B断面
図(内部機構省略)である。
In the figure, the shape of the main CPU used in the conventional computer system is shown by the Japan Electronic Machinery Manufacturers Association (E
The standard package shape and its name are determined by the IAJ) standard ED-7411. One example is shown in FIG.
(A) and (b). FIG. 5 (a) is called a quad flat package (QFP) type, and is formed into a square with a thickness of several mm and a side length of several tens of mm to several tens of mm, or a little rectangle, and the CPU main body is inside. It is housed in the surrounding area (four sides) with tens to hundreds of leads.
The pin (external electrode) is exposed. FIG. 5B shows a type called a pin grid array (PGA under the name of the EIAJ standard) type, and the CPU main body package is the QFP type.
It is almost the same as the mold, but the feature is that more than 200-500 needle pins are lined up on the lower surface of the package. Further, in recent years, as shown in FIG. 1A, a ball grid array (BGA according to the EIAJ standard) type has been on the market. FIG. 1B is a sectional view taken along line A-A of FIG. 1A (internal mechanism omitted), and FIG. 1C is a sectional view taken along line BB of FIG.

【0008】従来のQFP型、PGA型等のCPUを使
用したコンピュータ装置に用いたインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ部は、図6に示すようにQFP
型、PGA型のCPU10はCPUソケット13に挿填
され、該CPUソケット13はさらに信号検出用のサブ
・プリント基板を(必要に応じ)1ー2枚21、22を
縦に挟んで、コンピュータ装置の本体プリント基板11
のソケット12に装填接続されている。この場合、コン
ピュータ装置本体を動作させると、前記CPU10とプ
リント配線基板11との間に電気信号が往復し動作する
が、該CPU10の電気信号は間に挟んだサブ・プリン
ト基板21、22を介してインサーキットエミュレータ
装置に信号が入力され、種々のインサーキットエミュレ
ータ装置としてのプログラム解析が実行される。しかし
BGA型CPUの場合、従来型CPUのようにコンピュ
ータ装置の本体プリント基板に直接半田付けにて接続さ
れるので、CPUとプリント基板の間にCPUソケット
は使用されないため、間にCPUソケット、及び信号抽
出用のプリント基板を挟む事が出来ない。よって、従来
のBGA型CPUに対するインサーキットエミュレータ
装置への信号検出のプローブ部においては、該プローブ
部の平面図を図3に、断面図を図4に示すように、CP
U1を取り付けたプリント配線基板11は、コンピュー
タ装置本体のプリント基板11と同一プリント配線基板
11の別の部分にCPU1の信号引出し線(概ね3ー4
百本)12を設けて信号をプローブ部14に伝送してい
る。
As shown in FIG. 6, the probe portion of the in-circuit emulator device used in the computer device using the CPU of the conventional QFP type, PGA type, etc.
Type or PGA type CPU 10 is inserted into a CPU socket 13, and the CPU socket 13 further includes a sub-printed circuit board for signal detection (if necessary) with one or two sheets 21 and 22 vertically interposed between them. Main body of printed circuit board 11
It is loaded and connected to the socket 12. In this case, when the computer apparatus main body is operated, an electric signal reciprocates between the CPU 10 and the printed wiring board 11, and the electric signal of the CPU 10 is passed through the sub-printed boards 21 and 22 sandwiched therebetween. Signal is input to the in-circuit emulator device, and program analysis as various in-circuit emulator devices is executed. However, in the case of the BGA type CPU, since it is directly connected to the printed circuit board of the computer device by soldering like the conventional CPU, the CPU socket is not used between the CPU and the printed circuit board, so that the CPU socket and the The printed circuit board for signal extraction cannot be sandwiched. Therefore, in the conventional probe portion for detecting the signal to the in-circuit emulator device for the BGA type CPU, as shown in a plan view of FIG. 3 and a sectional view of FIG.
The printed wiring board 11 to which U1 is attached is the same as the printed wiring board 11 of the computer main body, and the signal lead-out line of the CPU 1 (generally 3-4
100) 12 are provided to transmit signals to the probe unit 14.

【0009】この部分をさらに詳しく述べると、BGA
型CPU1を接続したプリント基板11はインサーキッ
トエミュレータ装置に送信する必要がある信号線12を
プリント基板11の予め設計した他の所定の部分に信号
引き出し部分を設け、該引き出し部はプローブ部14に
伝送するが、該プリント基板11の信号線12と、プロ
ーブ部14の接続を確実に接触させる為に間に接触端子
13を介在させている。前記プローブ部14に導かれた
信号は、プローブケーブル端子15、プローブケーブル
4(前記プローブケーブル4、プローブケーブル端子1
5はここでは3ケの場合を紹介するが、設計上の必要と
する数となる)を介しインサーキットエミュレータ装置
に信号が出力される。しかし前記接触端子13はプロー
ブ側とプリント配線基板側とを電気的に確実に接続させ
るための接触端子で、接点a、b間をスプリング圧着に
よりネジ17で止める構造を取っている。以上の構造と
なっているために、取り外し等はネジを外すだけであり
比較的簡単に行えるが、プローブ部14とプリント配線
基板11間に圧着端子を使用したり、コンピュータ装置
側のプリント配線基板11に余分な大きな接続用のラン
ドスペース(場所)を必要とする、等々折角装置を小型
/高性能化させようとする中で大きな隘路となり、時代
に逆向する形となっていた。
This part will be described in more detail. BGA
The printed circuit board 11 to which the type CPU 1 is connected is provided with a signal lead-out portion for the signal line 12 which needs to be transmitted to the in-circuit emulator device in another predetermined portion of the printed circuit board 11 which is designed in advance. Although the signal is transmitted, a contact terminal 13 is interposed between the signal line 12 of the printed circuit board 11 and the probe portion 14 so as to surely contact them. The signal guided to the probe unit 14 is supplied to the probe cable terminal 15 and the probe cable 4 (the probe cable 4, the probe cable terminal 1).
5 introduces the case of 3 here, but the signal is output to the in-circuit emulator device via the number required by the design). However, the contact terminal 13 is a contact terminal for electrically and surely connecting the probe side and the printed wiring board side, and has a structure in which the contact points a and b are fixed by the screw 17 by spring compression. Because of the above structure, the removal and the like can be performed relatively simply by removing the screws, but a crimp terminal is used between the probe unit 14 and the printed wiring board 11, or the printed wiring board on the computer device side. 11 requires an extra large land space (place) for connection, etc. It became a big bottleneck in trying to make the folding device smaller and higher in performance.

【0010】以上の問題点を改善するために本発明では
以下の手段を採用した。以下本発明を実施例に従って説
明する。まずBGA型CPUは、図1に示すように前記
PGA型のパッケージの低面に配置された数百のリード
・ピンの代わりに、数百の半円ボール状のハンダ(半
田)の端子6がアレー(整列)状に並べられ(引き出さ
れ)、該CPUの外部リード接続電極となっている。し
かし、前記BGA型のCPUを使用したコンピュータ装
置の場合には、前記ボール状のハンダ(半田)をコンピ
ュータ装置のプリント配線基板に直接半田付けする構造
となっているので、図6に示すようにプリント配線基板
11とCPU10をソケットから取り外してインサーキ
ットエミュレータ装置のプローブ部(図6)を装着する
ことが出来ない。よって、本発明では図2に示すとお
り、前記PGA型のCPUを使用するコンピュータ装置
の場合には、コンピュータ装置の製造時(プリント配線
基板にCPUを半田付けする前に)に、予め図2に示す
ようにマイラー状のプリント配線基板に信号引出し線を
設けたプローブ部用としてのマイラー状の配線基板を、
コンピュータ装置のプリント配線基板と該BGA型CP
Uとの間に挟んで半田付けすることで本発明を実現して
いる。すなわち、図2において(ハ)はマイラー状のプ
リント配線基板の同図(イ)の真中のBGAと記載して
ある部分の部分拡大図で、マイラー状のプリント配線基
板4(の一部)二重丸の部分が(図2ーハでは)横に7
個、縦に6個並んでいるが、該二重丸の真中は中空とな
り、二重丸の内外の中間部はプリント配線板の銅箔接続
部分で外部の引出し線7に接続されている。前記二重丸
真中の中空部分は、図2(ロ)のCPU1をプリント配
線基板5に半田付けするとき、CPU1の半田ボール6
を挟んで半田付けし、さらにプリント配線基板5はスル
ーホール型の基板で構成され、該プリント配線基板の上
下にスルーホール部6に接続され、コンピュータ装置の
装置基板となる。なお、本発明は上記実施例に限定され
るのものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種
々変形可能であることは勿論である。
In order to improve the above problems, the present invention employs the following means. The present invention will be described below with reference to examples. First, in the BGA type CPU, as shown in FIG. 1, in place of the hundreds of lead pins arranged on the lower surface of the PGA type package, several hundreds of semicircular ball-shaped solder (solder) terminals 6 are provided. They are arranged (drawn) in an array (alignment) and serve as external lead connection electrodes of the CPU. However, in the case of a computer device using the BGA type CPU, since the ball-shaped solder (solder) is directly soldered to the printed wiring board of the computer device, as shown in FIG. The printed wiring board 11 and the CPU 10 cannot be detached from the socket and the probe part (FIG. 6) of the in-circuit emulator device cannot be mounted. Therefore, according to the present invention, as shown in FIG. 2, in the case of the computer device using the PGA type CPU, the computer device shown in FIG. 2 is previously manufactured at the time of manufacturing the computer device (before soldering the CPU to the printed wiring board). As shown, a mylar-shaped wiring board for the probe part provided with a signal lead wire on a mylar-shaped printed wiring board,
Printed circuit board of computer device and the BGA type CP
The present invention is realized by sandwiching it with U and soldering. That is, in FIG. 2, (c) is a partially enlarged view of a portion of the mylar-shaped printed wiring board indicated by BGA in the middle of the same figure (a). The Shigemaru part is next to 7 (in Fig. 2C).
There are six pieces, and six pieces are arranged vertically, but the center of the double circle is hollow, and the middle portion inside and outside the double circle is connected to the external lead wire 7 at the copper foil connection portion of the printed wiring board. The hollow portion in the center of the double circle is the solder ball 6 of the CPU 1 when the CPU 1 of FIG. 2B is soldered to the printed wiring board 5.
The printed wiring board 5 is composed of a through-hole type board and is connected to the through-hole portions 6 above and below the printed wiring board to form a device board of a computer device. The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and it goes without saying that various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

【0011】[0011]

【発明の効果】以上説明したとおり、従来非常に難しか
ったBGA型CPUを使用したコンピュータ装置に対す
るプログラム・デバッグを、本発明を実施することで簡
単にインサーキットエミュレータ装置に接続され、外C
PUの動作解析及びプログラムのデバッグに充分なイン
サーキットエミュレータ装置のプローブ部としての機能
を満足させることが出来る。さらに、本発明を実施する
ことによって、既にインサーキットエミュレータ装置用
のプローブとしての接続ターミナルが設置されているの
で、従来のようにコンピュータ装置のCPUを抜き取っ
てインサーキットエミュレータ装置のプローブ部を装填
する等の面倒な機械的接続が簡単になるとともに、BG
A型CPUの様に高速のクロック周波数で動作するコン
ピュータ装置のプログラムに対してもデバッグが可能な
インサーキットエミュレータ装置を提供することができ
る。
As described above, the program debugging for the computer device using the BGA type CPU, which has been very difficult in the past, can be easily connected to the in-circuit emulator device by implementing the present invention, and the external C
It is possible to satisfy the function of the probe unit of the in-circuit emulator device which is sufficient for analyzing the operation of the PU and debugging the program. Further, by implementing the present invention, since the connection terminal as a probe for the in-circuit emulator device is already installed, the CPU of the computer device is removed and the probe portion of the in-circuit emulator device is loaded as in the conventional case. It is easy to make troublesome mechanical connections such as
It is possible to provide an in-circuit emulator device capable of debugging a program of a computer device that operates at a high clock frequency such as an A type CPU.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】BGA型CPUの接続端子の外観形状の一例を
示す図で、(イ)は低面図、(ロ)はA−A断面図、
(ハ)はB−B断面図である(但し、リード端子の数は
実際とは異なる)。
FIG. 1 is a diagram showing an example of an external shape of a connection terminal of a BGA type CPU, in which (a) is a low-side view, (b) is an AA cross-sectional view,
(C) is a BB sectional view (however, the number of lead terminals is different from the actual number).

【図2】本発明の一実施例であるフイルム条の配線板と
接続状態を示す図で、(イ)は平面図、(ロ)はC−C
断面図、(ハ)は(イ)の部分拡大図である。
FIG. 2 is a diagram showing a connection state of a film strip and a wiring board according to an embodiment of the present invention, in which (a) is a plan view and (b) is CC.
A sectional view, (c) is a partially enlarged view of (a).

【図3】本発明の一実施例を示すインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ部の形状例を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing an example of the shape of a probe section of the in-circuit emulator device showing the embodiment of the present invention.

【図4】図3のD−D断面図の一実施例を示す断面図で
ある。
FIG. 4 is a sectional view showing an embodiment of a sectional view taken along the line DD of FIG.

【図5】従来のコンピュータ装置に使用されるQFP
型、及びBGA型CPUの外観図である(但し、リード
端子の数は実際数とは異なる)。
FIG. 5: QFP used in a conventional computer device
2A and 2B are external views of a CPU and a BGA type CPU (however, the number of lead terminals is different from the actual number).

【図6】従来のCPUにて使用されるインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ部の形状例を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of the shape of a probe unit of an in-circuit emulator device used in a conventional CPU.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、BGA型CPUを使用したコンピュータ装置の中央
処理制御装置(CPU) 4、マイラー状の配線基板 5、11、コンピュータ装置の配線基板 6、ボール状のリード端子 8、コンピュータ装置の配線基板のスルーホール部分 12、プリント配線基板の銅箔配線部分 13、圧着端子 14、プローブ部 15、プローブケーブル接続端子 17、圧着端子を係止するネジ
1, a central processing control unit (CPU) of a computer device using a BGA type CPU 4, a mylar-shaped wiring substrate 5, 11, a computer device wiring substrate 6, a ball-shaped lead terminal 8, a computer device wiring substrate through Hole part 12, copper foil wiring part 13 of printed wiring board, crimp terminal 14, probe part 15, probe cable connection terminal 17, screw for locking crimp terminal

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】BGA型リード端子を有するCPUを装備
したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレ
ータ装置において、該CPUの信号を授受するプローブ
装置を、フイルム状の配線基板をCPUと該CPUを装
着するコンピュータ装置の配線基板との間に装着し、該
フイルム状の配線基板の端部から信号を送受することを
特長としたインサーキットエミュレータ装置のプローブ
装置。
1. An in-circuit emulator device used in a computer device equipped with a CPU having a BGA type lead terminal, a probe device for transmitting and receiving signals of the CPU, a film-shaped wiring board for the CPU, and a computer for mounting the CPU. A probe device for an in-circuit emulator device, characterized in that the probe device is mounted between a wiring board of the device and a signal is transmitted and received from an end of the film-shaped wiring board.
【請求項2】前記請求項1のインサーキットエミュレー
タ装置のプローブ装置において、前記フイルム状の配線
基板の端部に接続用のソケットを設け、該ソケットにイ
ンサーキットエミュレータ装置のプローブ装置、または
プローブケーブルを接続した事を特長とする請求項1の
インサーキットエミュレータ装置のプローブ装置。
2. The probe device for an in-circuit emulator device according to claim 1, wherein a socket for connection is provided at an end of the film-shaped wiring board, and the socket has a probe device for the in-circuit emulator device or a probe cable. The probe device of the in-circuit emulator device according to claim 1, wherein the probe device is connected to the probe device.
【請求項3】BGA型リード端子を有するLSI半導体
素子を装備した装置において、該LSI半導体素子の入
出力信号を授受して信号処理するインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ装置を、前記LSI半導体素子と
該半導体素子を装着する配線基板との間にフイルム状の
配線基板を装着し、該フイルム状配線基板の端部から入
出力信号を授受することを特長としたインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ装置。
3. In a device equipped with an LSI semiconductor element having a BGA type lead terminal, a probe device of an in-circuit emulator device for exchanging input / output signals of the LSI semiconductor element for signal processing is provided with the LSI semiconductor element. A probe device for an in-circuit emulator device, which is characterized in that a film-shaped wiring board is mounted between the wiring board on which a semiconductor element is mounted and an input / output signal is transmitted and received from an end portion of the film-shaped wiring board.
JP7306540A 1995-10-31 1995-10-31 In-circuit emulator device used for computer device provided with cpu having bag-type lead terminal Pending JPH09128263A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100265790B1 (en) * 1997-07-25 2000-09-15 박태진 Card edge emulation microprocessor board
US7372139B2 (en) 2004-04-20 2008-05-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor chip package

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