JPH09128263A - Bga型リード端子を有するcpuを装備したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレータ装置のプローブ装置 - Google Patents
Bga型リード端子を有するcpuを装備したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレータ装置のプローブ装置Info
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- JPH09128263A JPH09128263A JP7306540A JP30654095A JPH09128263A JP H09128263 A JPH09128263 A JP H09128263A JP 7306540 A JP7306540 A JP 7306540A JP 30654095 A JP30654095 A JP 30654095A JP H09128263 A JPH09128263 A JP H09128263A
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】クロック周波数が特に高いBGA型CPUに結
合されるインサーキットエミュレータ装置のプローブ
部。 【解決手段】CPUの信号を送受するプローブ部を、前
記CPUと該CPUを装着するコンピュータ装置の配線
基板との間にフイルム状の配線基板を装着し、該フイル
ム状の配線パターン基板の端部から信号を送受すること
を特長としたインサーキットエミュレータ装置のプロー
ブ部、及びBGA型接続端子を有するLSI半導体素子
を装備した装置において、該LSI半導体素子の入出力
信号を送受して信号を処理するインサーキットエミュレ
ータ装置のプローブ部を、前記LSI半導体素子と配線
基板との間にフイルム状の配線基板を装着し、該フイル
ム状配線基板の端部から入出力信号を送受することを特
長としたインサーキットエミュレータ装置のプローブ
部。
合されるインサーキットエミュレータ装置のプローブ
部。 【解決手段】CPUの信号を送受するプローブ部を、前
記CPUと該CPUを装着するコンピュータ装置の配線
基板との間にフイルム状の配線基板を装着し、該フイル
ム状の配線パターン基板の端部から信号を送受すること
を特長としたインサーキットエミュレータ装置のプロー
ブ部、及びBGA型接続端子を有するLSI半導体素子
を装備した装置において、該LSI半導体素子の入出力
信号を送受して信号を処理するインサーキットエミュレ
ータ装置のプローブ部を、前記LSI半導体素子と配線
基板との間にフイルム状の配線基板を装着し、該フイル
ム状配線基板の端部から入出力信号を送受することを特
長としたインサーキットエミュレータ装置のプローブ
部。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】コンピュータ装置を動作させるた
めの装置、またはそのプログラムが正常に動作している
か否かを解析するために、一般的にインサーキットエミ
ュレータ装置を使用して該装置およびそのプログラムの
内容/実行状態をデバッグする方法が採られている。し
かしコンピュータ装置(インサーキットエミュレータ装
置を接続したコンピュータ装置を技術的には「ターゲッ
トコンピュータ装置」と称されているが、本発明ではこ
の「ターゲットコンピュータ装置」のことを単に「コン
ピュータ装置」と記す)の中央処理制御装置(以下「C
PU」と記す)は、最近処理速度の向上を目指して該C
PUの動作の基本となる信号であるクロック動作周波数
(以下「クロック周波数」と記す)を高くする傾向にあ
る。本発明ではこのクロック周波数が高いCPUである
BGA型CPUを使用したコンピュータ装置に対するイ
ンサーキットエミュレータ装置において、そのコンピュ
ータ装置のプログラム/回路を解析するインサーキット
エミュレータ装置の新しいプローブ装置(以下「プロー
ブ部」と記す)を提供することにある。(CPUの形状
については後述する)。
めの装置、またはそのプログラムが正常に動作している
か否かを解析するために、一般的にインサーキットエミ
ュレータ装置を使用して該装置およびそのプログラムの
内容/実行状態をデバッグする方法が採られている。し
かしコンピュータ装置(インサーキットエミュレータ装
置を接続したコンピュータ装置を技術的には「ターゲッ
トコンピュータ装置」と称されているが、本発明ではこ
の「ターゲットコンピュータ装置」のことを単に「コン
ピュータ装置」と記す)の中央処理制御装置(以下「C
PU」と記す)は、最近処理速度の向上を目指して該C
PUの動作の基本となる信号であるクロック動作周波数
(以下「クロック周波数」と記す)を高くする傾向にあ
る。本発明ではこのクロック周波数が高いCPUである
BGA型CPUを使用したコンピュータ装置に対するイ
ンサーキットエミュレータ装置において、そのコンピュ
ータ装置のプログラム/回路を解析するインサーキット
エミュレータ装置の新しいプローブ装置(以下「プロー
ブ部」と記す)を提供することにある。(CPUの形状
については後述する)。
【0002】
【従来の技術】従来からコンピュータ装置のプログラム
の解析には、そのプログラムに仮のデータを与えて試行
させ、初期の目的としたデータまたは結果が得られるか
否かを確認しながらプログラムの実行/解析を行ってい
た。しかし、最近では該プログラムの解析にはインサー
キットエミュレータ装置が多く用いられるようになって
きた。従来コンピュータ装置にインサーキットエミュレ
ータ装置を接続してプログラムのデバッグを行う場合に
は、コンピュータ装置のCPUを引き抜き、図6に示す
ようにインサーキットエミュレータ装置のプローブ部を
該CPUを抜き取ったソケットに装填し、該プローブ部
に取り付けた同一規格のCPUの動作信号をインサーキ
ットエミュレータ装置の本体内部に入力して、該デバッ
グを実行する手段を採っていた。
の解析には、そのプログラムに仮のデータを与えて試行
させ、初期の目的としたデータまたは結果が得られるか
否かを確認しながらプログラムの実行/解析を行ってい
た。しかし、最近では該プログラムの解析にはインサー
キットエミュレータ装置が多く用いられるようになって
きた。従来コンピュータ装置にインサーキットエミュレ
ータ装置を接続してプログラムのデバッグを行う場合に
は、コンピュータ装置のCPUを引き抜き、図6に示す
ようにインサーキットエミュレータ装置のプローブ部を
該CPUを抜き取ったソケットに装填し、該プローブ部
に取り付けた同一規格のCPUの動作信号をインサーキ
ットエミュレータ装置の本体内部に入力して、該デバッ
グを実行する手段を採っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以上の手段により抽出
したコンピュータ装置のCPUの入力信号をインサーキ
ットエミュレータ装置本体内部の各種装置に入力するこ
とによりプログラムデバッグを実行させるが、前記BG
A型CPUの場合、それ自身は小型になりつつあるが、
CPU内部の機能が増えてきた為に、CPUと外部回路
を接続するリード端子数が増え、従来のCPUの本体周
辺に埋設した場合の最大端子数(約3ー400本)では
足りなくなり、よって本体下部全体にピンを立てた型の
PGA型(後述)、及び該ピンの代わりに直接プリント
配線板に取り付ける構造のBGA型(後述)とがある。
該コンピュータ装置のCPUの動作クロック周波数は高
く(概ね130MHz以上)、さらにCPU本体下部に
ボール条の接続リードを有するBGA型CPUを使用し
たコンピュータ装置において、インサーキットエミュレ
ータ装置への信号抽出部を設ける必要が出てきた。
したコンピュータ装置のCPUの入力信号をインサーキ
ットエミュレータ装置本体内部の各種装置に入力するこ
とによりプログラムデバッグを実行させるが、前記BG
A型CPUの場合、それ自身は小型になりつつあるが、
CPU内部の機能が増えてきた為に、CPUと外部回路
を接続するリード端子数が増え、従来のCPUの本体周
辺に埋設した場合の最大端子数(約3ー400本)では
足りなくなり、よって本体下部全体にピンを立てた型の
PGA型(後述)、及び該ピンの代わりに直接プリント
配線板に取り付ける構造のBGA型(後述)とがある。
該コンピュータ装置のCPUの動作クロック周波数は高
く(概ね130MHz以上)、さらにCPU本体下部に
ボール条の接続リードを有するBGA型CPUを使用し
たコンピュータ装置において、インサーキットエミュレ
ータ装置への信号抽出部を設ける必要が出てきた。
【0004】
【課題を解決するための手段】以上の問題を解決するた
めに本発明では、コンピュータ装置のBGA型CPU
と、該コンピュータ装置のCPU部分にて結合されるイ
ンサーキットエミュレータ装置のプローブ部と、マッピ
ングメモリ素子、並びにエミュレーションメモリと、該
プローブ部からインサーキットエミュレータ装置本体に
接続されるプローブケーブルと、インサーキットエミュ
レータ装置内のトレース格納メモリ、トレースコントロ
ーラ等の各機能で構成される。
めに本発明では、コンピュータ装置のBGA型CPU
と、該コンピュータ装置のCPU部分にて結合されるイ
ンサーキットエミュレータ装置のプローブ部と、マッピ
ングメモリ素子、並びにエミュレーションメモリと、該
プローブ部からインサーキットエミュレータ装置本体に
接続されるプローブケーブルと、インサーキットエミュ
レータ装置内のトレース格納メモリ、トレースコントロ
ーラ等の各機能で構成される。
【0005】
【作用】以上の手段を備えた本発明では、前述のとおり
BGA型CPUを使用したコンピュータ装置の動作状況
を解析する場合、インサーキットエミュレータ装置のプ
ローブ部をコンピュータ装置のCPUに装填し、インサ
ーキットエミュレータ装置内にCPUの作動信号を入力
し、さらにインサーキットエミュレータ装置内のコント
ロールバスラインを通じてエミュレーションメインCP
Uに入力されると同時に、トレースコントローラを経由
してトレース結果格納メモリに蓄えられる。コンピュー
タ装置のプログラムが終了するか、または実行中のプロ
グラムをインサーキットエミュレータ装置から停止信号
を発して中断させ、それ迄の実行経過を解析する場合、
前記トレース結果格納メモリに蓄えられた前記CPUの
実行状況をインサーキットエミュレータ装置の解析プロ
グラムにより、人間が判断できる文字/記号に変換しデ
ィスプレイ装置、またはプリンタ装置で出力し解析す
る。
BGA型CPUを使用したコンピュータ装置の動作状況
を解析する場合、インサーキットエミュレータ装置のプ
ローブ部をコンピュータ装置のCPUに装填し、インサ
ーキットエミュレータ装置内にCPUの作動信号を入力
し、さらにインサーキットエミュレータ装置内のコント
ロールバスラインを通じてエミュレーションメインCP
Uに入力されると同時に、トレースコントローラを経由
してトレース結果格納メモリに蓄えられる。コンピュー
タ装置のプログラムが終了するか、または実行中のプロ
グラムをインサーキットエミュレータ装置から停止信号
を発して中断させ、それ迄の実行経過を解析する場合、
前記トレース結果格納メモリに蓄えられた前記CPUの
実行状況をインサーキットエミュレータ装置の解析プロ
グラムにより、人間が判断できる文字/記号に変換しデ
ィスプレイ装置、またはプリンタ装置で出力し解析す
る。
【0006】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
なお、各図に共通とする部分は同一の符号を付す。図1
はBGA型CPUの接続端子の外観形状の一例を示す図
で、(イ)は低面図、(ロ)はA−A断面図、(ハ)は
B−B断面図である(但し、リード端子の数は実際とは
異なる)。図2は本発明の一実施例であるフイルム条の
配線基板との接続状態を示す図で、(イ)は平面図、
(ロ)はC−C断面図、(ハ)は(イ)の部分拡大図で
ある。図3は本発明の一実施例を示すインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ部の形状例を示す平面図であ
る。図4は図3のD−D断面図の一実施例を示す断面図
である。図5は従来のコンピュータ装置に使用されるQ
FP型、及びBGA型CPUの外観図である(但し、リ
ード端子の数は実際数とは異なる)。図6は従来のCP
Uにて使用されるインサーキットエミュレータ装置のプ
ローブ部の形状例を示す図である。
なお、各図に共通とする部分は同一の符号を付す。図1
はBGA型CPUの接続端子の外観形状の一例を示す図
で、(イ)は低面図、(ロ)はA−A断面図、(ハ)は
B−B断面図である(但し、リード端子の数は実際とは
異なる)。図2は本発明の一実施例であるフイルム条の
配線基板との接続状態を示す図で、(イ)は平面図、
(ロ)はC−C断面図、(ハ)は(イ)の部分拡大図で
ある。図3は本発明の一実施例を示すインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ部の形状例を示す平面図であ
る。図4は図3のD−D断面図の一実施例を示す断面図
である。図5は従来のコンピュータ装置に使用されるQ
FP型、及びBGA型CPUの外観図である(但し、リ
ード端子の数は実際数とは異なる)。図6は従来のCP
Uにて使用されるインサーキットエミュレータ装置のプ
ローブ部の形状例を示す図である。
【0007】図において、従来コンピュータ装置に使用
している主なCPUの形状は、日本電子機械工業会(E
IAJ)規格ED−7411で標準的なパッケージの形
状とその名称が決められているが、その一例を図5
(イ)、(ロ)に示す。図5(イ)はクワッド・フラッ
ト・パッケージ(QFP)型と称し、厚さ数mm、一辺
の長さ10数mmから数十mmの正方形、またはやや長
方形に成形されて、内部にCPU本体が収められてお
り、その周辺(四辺)に数10ー数100本のリード・
ピン(外部電極)が出ている。図5(ロ)はピン・グリ
ッド・アレイ(前記EIAJ規格の名称でPGA)型と
称されている型で、CPU本体パッケージは前記QFP
型と略同様であるが、パッケージの低面に針状のピンが
200ー500余本整列して並んで出ているのが特長で
ある。さらに、近年では図1(イ)に示すようにボール
・グリッド・アレー(前記EIAJ規格でBGA)型が
市場に出回ってきた。図1(ロ)は(イ)のA−A断面
図(内部機構省略)、同(ハ)は同(ロ)のB−B断面
図(内部機構省略)である。
している主なCPUの形状は、日本電子機械工業会(E
IAJ)規格ED−7411で標準的なパッケージの形
状とその名称が決められているが、その一例を図5
(イ)、(ロ)に示す。図5(イ)はクワッド・フラッ
ト・パッケージ(QFP)型と称し、厚さ数mm、一辺
の長さ10数mmから数十mmの正方形、またはやや長
方形に成形されて、内部にCPU本体が収められてお
り、その周辺(四辺)に数10ー数100本のリード・
ピン(外部電極)が出ている。図5(ロ)はピン・グリ
ッド・アレイ(前記EIAJ規格の名称でPGA)型と
称されている型で、CPU本体パッケージは前記QFP
型と略同様であるが、パッケージの低面に針状のピンが
200ー500余本整列して並んで出ているのが特長で
ある。さらに、近年では図1(イ)に示すようにボール
・グリッド・アレー(前記EIAJ規格でBGA)型が
市場に出回ってきた。図1(ロ)は(イ)のA−A断面
図(内部機構省略)、同(ハ)は同(ロ)のB−B断面
図(内部機構省略)である。
【0008】従来のQFP型、PGA型等のCPUを使
用したコンピュータ装置に用いたインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ部は、図6に示すようにQFP
型、PGA型のCPU10はCPUソケット13に挿填
され、該CPUソケット13はさらに信号検出用のサブ
・プリント基板を(必要に応じ)1ー2枚21、22を
縦に挟んで、コンピュータ装置の本体プリント基板11
のソケット12に装填接続されている。この場合、コン
ピュータ装置本体を動作させると、前記CPU10とプ
リント配線基板11との間に電気信号が往復し動作する
が、該CPU10の電気信号は間に挟んだサブ・プリン
ト基板21、22を介してインサーキットエミュレータ
装置に信号が入力され、種々のインサーキットエミュレ
ータ装置としてのプログラム解析が実行される。しかし
BGA型CPUの場合、従来型CPUのようにコンピュ
ータ装置の本体プリント基板に直接半田付けにて接続さ
れるので、CPUとプリント基板の間にCPUソケット
は使用されないため、間にCPUソケット、及び信号抽
出用のプリント基板を挟む事が出来ない。よって、従来
のBGA型CPUに対するインサーキットエミュレータ
装置への信号検出のプローブ部においては、該プローブ
部の平面図を図3に、断面図を図4に示すように、CP
U1を取り付けたプリント配線基板11は、コンピュー
タ装置本体のプリント基板11と同一プリント配線基板
11の別の部分にCPU1の信号引出し線(概ね3ー4
百本)12を設けて信号をプローブ部14に伝送してい
る。
用したコンピュータ装置に用いたインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ部は、図6に示すようにQFP
型、PGA型のCPU10はCPUソケット13に挿填
され、該CPUソケット13はさらに信号検出用のサブ
・プリント基板を(必要に応じ)1ー2枚21、22を
縦に挟んで、コンピュータ装置の本体プリント基板11
のソケット12に装填接続されている。この場合、コン
ピュータ装置本体を動作させると、前記CPU10とプ
リント配線基板11との間に電気信号が往復し動作する
が、該CPU10の電気信号は間に挟んだサブ・プリン
ト基板21、22を介してインサーキットエミュレータ
装置に信号が入力され、種々のインサーキットエミュレ
ータ装置としてのプログラム解析が実行される。しかし
BGA型CPUの場合、従来型CPUのようにコンピュ
ータ装置の本体プリント基板に直接半田付けにて接続さ
れるので、CPUとプリント基板の間にCPUソケット
は使用されないため、間にCPUソケット、及び信号抽
出用のプリント基板を挟む事が出来ない。よって、従来
のBGA型CPUに対するインサーキットエミュレータ
装置への信号検出のプローブ部においては、該プローブ
部の平面図を図3に、断面図を図4に示すように、CP
U1を取り付けたプリント配線基板11は、コンピュー
タ装置本体のプリント基板11と同一プリント配線基板
11の別の部分にCPU1の信号引出し線(概ね3ー4
百本)12を設けて信号をプローブ部14に伝送してい
る。
【0009】この部分をさらに詳しく述べると、BGA
型CPU1を接続したプリント基板11はインサーキッ
トエミュレータ装置に送信する必要がある信号線12を
プリント基板11の予め設計した他の所定の部分に信号
引き出し部分を設け、該引き出し部はプローブ部14に
伝送するが、該プリント基板11の信号線12と、プロ
ーブ部14の接続を確実に接触させる為に間に接触端子
13を介在させている。前記プローブ部14に導かれた
信号は、プローブケーブル端子15、プローブケーブル
4(前記プローブケーブル4、プローブケーブル端子1
5はここでは3ケの場合を紹介するが、設計上の必要と
する数となる)を介しインサーキットエミュレータ装置
に信号が出力される。しかし前記接触端子13はプロー
ブ側とプリント配線基板側とを電気的に確実に接続させ
るための接触端子で、接点a、b間をスプリング圧着に
よりネジ17で止める構造を取っている。以上の構造と
なっているために、取り外し等はネジを外すだけであり
比較的簡単に行えるが、プローブ部14とプリント配線
基板11間に圧着端子を使用したり、コンピュータ装置
側のプリント配線基板11に余分な大きな接続用のラン
ドスペース(場所)を必要とする、等々折角装置を小型
/高性能化させようとする中で大きな隘路となり、時代
に逆向する形となっていた。
型CPU1を接続したプリント基板11はインサーキッ
トエミュレータ装置に送信する必要がある信号線12を
プリント基板11の予め設計した他の所定の部分に信号
引き出し部分を設け、該引き出し部はプローブ部14に
伝送するが、該プリント基板11の信号線12と、プロ
ーブ部14の接続を確実に接触させる為に間に接触端子
13を介在させている。前記プローブ部14に導かれた
信号は、プローブケーブル端子15、プローブケーブル
4(前記プローブケーブル4、プローブケーブル端子1
5はここでは3ケの場合を紹介するが、設計上の必要と
する数となる)を介しインサーキットエミュレータ装置
に信号が出力される。しかし前記接触端子13はプロー
ブ側とプリント配線基板側とを電気的に確実に接続させ
るための接触端子で、接点a、b間をスプリング圧着に
よりネジ17で止める構造を取っている。以上の構造と
なっているために、取り外し等はネジを外すだけであり
比較的簡単に行えるが、プローブ部14とプリント配線
基板11間に圧着端子を使用したり、コンピュータ装置
側のプリント配線基板11に余分な大きな接続用のラン
ドスペース(場所)を必要とする、等々折角装置を小型
/高性能化させようとする中で大きな隘路となり、時代
に逆向する形となっていた。
【0010】以上の問題点を改善するために本発明では
以下の手段を採用した。以下本発明を実施例に従って説
明する。まずBGA型CPUは、図1に示すように前記
PGA型のパッケージの低面に配置された数百のリード
・ピンの代わりに、数百の半円ボール状のハンダ(半
田)の端子6がアレー(整列)状に並べられ(引き出さ
れ)、該CPUの外部リード接続電極となっている。し
かし、前記BGA型のCPUを使用したコンピュータ装
置の場合には、前記ボール状のハンダ(半田)をコンピ
ュータ装置のプリント配線基板に直接半田付けする構造
となっているので、図6に示すようにプリント配線基板
11とCPU10をソケットから取り外してインサーキ
ットエミュレータ装置のプローブ部(図6)を装着する
ことが出来ない。よって、本発明では図2に示すとお
り、前記PGA型のCPUを使用するコンピュータ装置
の場合には、コンピュータ装置の製造時(プリント配線
基板にCPUを半田付けする前に)に、予め図2に示す
ようにマイラー状のプリント配線基板に信号引出し線を
設けたプローブ部用としてのマイラー状の配線基板を、
コンピュータ装置のプリント配線基板と該BGA型CP
Uとの間に挟んで半田付けすることで本発明を実現して
いる。すなわち、図2において(ハ)はマイラー状のプ
リント配線基板の同図(イ)の真中のBGAと記載して
ある部分の部分拡大図で、マイラー状のプリント配線基
板4(の一部)二重丸の部分が(図2ーハでは)横に7
個、縦に6個並んでいるが、該二重丸の真中は中空とな
り、二重丸の内外の中間部はプリント配線板の銅箔接続
部分で外部の引出し線7に接続されている。前記二重丸
真中の中空部分は、図2(ロ)のCPU1をプリント配
線基板5に半田付けするとき、CPU1の半田ボール6
を挟んで半田付けし、さらにプリント配線基板5はスル
ーホール型の基板で構成され、該プリント配線基板の上
下にスルーホール部6に接続され、コンピュータ装置の
装置基板となる。なお、本発明は上記実施例に限定され
るのものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種
々変形可能であることは勿論である。
以下の手段を採用した。以下本発明を実施例に従って説
明する。まずBGA型CPUは、図1に示すように前記
PGA型のパッケージの低面に配置された数百のリード
・ピンの代わりに、数百の半円ボール状のハンダ(半
田)の端子6がアレー(整列)状に並べられ(引き出さ
れ)、該CPUの外部リード接続電極となっている。し
かし、前記BGA型のCPUを使用したコンピュータ装
置の場合には、前記ボール状のハンダ(半田)をコンピ
ュータ装置のプリント配線基板に直接半田付けする構造
となっているので、図6に示すようにプリント配線基板
11とCPU10をソケットから取り外してインサーキ
ットエミュレータ装置のプローブ部(図6)を装着する
ことが出来ない。よって、本発明では図2に示すとお
り、前記PGA型のCPUを使用するコンピュータ装置
の場合には、コンピュータ装置の製造時(プリント配線
基板にCPUを半田付けする前に)に、予め図2に示す
ようにマイラー状のプリント配線基板に信号引出し線を
設けたプローブ部用としてのマイラー状の配線基板を、
コンピュータ装置のプリント配線基板と該BGA型CP
Uとの間に挟んで半田付けすることで本発明を実現して
いる。すなわち、図2において(ハ)はマイラー状のプ
リント配線基板の同図(イ)の真中のBGAと記載して
ある部分の部分拡大図で、マイラー状のプリント配線基
板4(の一部)二重丸の部分が(図2ーハでは)横に7
個、縦に6個並んでいるが、該二重丸の真中は中空とな
り、二重丸の内外の中間部はプリント配線板の銅箔接続
部分で外部の引出し線7に接続されている。前記二重丸
真中の中空部分は、図2(ロ)のCPU1をプリント配
線基板5に半田付けするとき、CPU1の半田ボール6
を挟んで半田付けし、さらにプリント配線基板5はスル
ーホール型の基板で構成され、該プリント配線基板の上
下にスルーホール部6に接続され、コンピュータ装置の
装置基板となる。なお、本発明は上記実施例に限定され
るのものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種
々変形可能であることは勿論である。
【0011】
【発明の効果】以上説明したとおり、従来非常に難しか
ったBGA型CPUを使用したコンピュータ装置に対す
るプログラム・デバッグを、本発明を実施することで簡
単にインサーキットエミュレータ装置に接続され、外C
PUの動作解析及びプログラムのデバッグに充分なイン
サーキットエミュレータ装置のプローブ部としての機能
を満足させることが出来る。さらに、本発明を実施する
ことによって、既にインサーキットエミュレータ装置用
のプローブとしての接続ターミナルが設置されているの
で、従来のようにコンピュータ装置のCPUを抜き取っ
てインサーキットエミュレータ装置のプローブ部を装填
する等の面倒な機械的接続が簡単になるとともに、BG
A型CPUの様に高速のクロック周波数で動作するコン
ピュータ装置のプログラムに対してもデバッグが可能な
インサーキットエミュレータ装置を提供することができ
る。
ったBGA型CPUを使用したコンピュータ装置に対す
るプログラム・デバッグを、本発明を実施することで簡
単にインサーキットエミュレータ装置に接続され、外C
PUの動作解析及びプログラムのデバッグに充分なイン
サーキットエミュレータ装置のプローブ部としての機能
を満足させることが出来る。さらに、本発明を実施する
ことによって、既にインサーキットエミュレータ装置用
のプローブとしての接続ターミナルが設置されているの
で、従来のようにコンピュータ装置のCPUを抜き取っ
てインサーキットエミュレータ装置のプローブ部を装填
する等の面倒な機械的接続が簡単になるとともに、BG
A型CPUの様に高速のクロック周波数で動作するコン
ピュータ装置のプログラムに対してもデバッグが可能な
インサーキットエミュレータ装置を提供することができ
る。
【図1】BGA型CPUの接続端子の外観形状の一例を
示す図で、(イ)は低面図、(ロ)はA−A断面図、
(ハ)はB−B断面図である(但し、リード端子の数は
実際とは異なる)。
示す図で、(イ)は低面図、(ロ)はA−A断面図、
(ハ)はB−B断面図である(但し、リード端子の数は
実際とは異なる)。
【図2】本発明の一実施例であるフイルム条の配線板と
接続状態を示す図で、(イ)は平面図、(ロ)はC−C
断面図、(ハ)は(イ)の部分拡大図である。
接続状態を示す図で、(イ)は平面図、(ロ)はC−C
断面図、(ハ)は(イ)の部分拡大図である。
【図3】本発明の一実施例を示すインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ部の形状例を示す平面図である。
レータ装置のプローブ部の形状例を示す平面図である。
【図4】図3のD−D断面図の一実施例を示す断面図で
ある。
ある。
【図5】従来のコンピュータ装置に使用されるQFP
型、及びBGA型CPUの外観図である(但し、リード
端子の数は実際数とは異なる)。
型、及びBGA型CPUの外観図である(但し、リード
端子の数は実際数とは異なる)。
【図6】従来のCPUにて使用されるインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ部の形状例を示す図である。
ミュレータ装置のプローブ部の形状例を示す図である。
1、BGA型CPUを使用したコンピュータ装置の中央
処理制御装置(CPU) 4、マイラー状の配線基板 5、11、コンピュータ装置の配線基板 6、ボール状のリード端子 8、コンピュータ装置の配線基板のスルーホール部分 12、プリント配線基板の銅箔配線部分 13、圧着端子 14、プローブ部 15、プローブケーブル接続端子 17、圧着端子を係止するネジ
処理制御装置(CPU) 4、マイラー状の配線基板 5、11、コンピュータ装置の配線基板 6、ボール状のリード端子 8、コンピュータ装置の配線基板のスルーホール部分 12、プリント配線基板の銅箔配線部分 13、圧着端子 14、プローブ部 15、プローブケーブル接続端子 17、圧着端子を係止するネジ
Claims (3)
- 【請求項1】BGA型リード端子を有するCPUを装備
したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレ
ータ装置において、該CPUの信号を授受するプローブ
装置を、フイルム状の配線基板をCPUと該CPUを装
着するコンピュータ装置の配線基板との間に装着し、該
フイルム状の配線基板の端部から信号を送受することを
特長としたインサーキットエミュレータ装置のプローブ
装置。 - 【請求項2】前記請求項1のインサーキットエミュレー
タ装置のプローブ装置において、前記フイルム状の配線
基板の端部に接続用のソケットを設け、該ソケットにイ
ンサーキットエミュレータ装置のプローブ装置、または
プローブケーブルを接続した事を特長とする請求項1の
インサーキットエミュレータ装置のプローブ装置。 - 【請求項3】BGA型リード端子を有するLSI半導体
素子を装備した装置において、該LSI半導体素子の入
出力信号を授受して信号処理するインサーキットエミュ
レータ装置のプローブ装置を、前記LSI半導体素子と
該半導体素子を装着する配線基板との間にフイルム状の
配線基板を装着し、該フイルム状配線基板の端部から入
出力信号を授受することを特長としたインサーキットエ
ミュレータ装置のプローブ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7306540A JPH09128263A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | Bga型リード端子を有するcpuを装備したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレータ装置のプローブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7306540A JPH09128263A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | Bga型リード端子を有するcpuを装備したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレータ装置のプローブ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09128263A true JPH09128263A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=17958275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7306540A Pending JPH09128263A (ja) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | Bga型リード端子を有するcpuを装備したコンピュータ装置に用いるインサーキットエミュレータ装置のプローブ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09128263A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100265790B1 (ko) * | 1997-07-25 | 2000-09-15 | 박태진 | 카드에지에뮬레이션마이크로프로세서기판 |
| US7372139B2 (en) | 2004-04-20 | 2008-05-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor chip package |
-
1995
- 1995-10-31 JP JP7306540A patent/JPH09128263A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100265790B1 (ko) * | 1997-07-25 | 2000-09-15 | 박태진 | 카드에지에뮬레이션마이크로프로세서기판 |
| US7372139B2 (en) | 2004-04-20 | 2008-05-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor chip package |
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