JPH09129991A - Manufacture of electronic part, and divider of printed-circuit board - Google Patents
Manufacture of electronic part, and divider of printed-circuit boardInfo
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- JPH09129991A JPH09129991A JP28068795A JP28068795A JPH09129991A JP H09129991 A JPH09129991 A JP H09129991A JP 28068795 A JP28068795 A JP 28068795A JP 28068795 A JP28068795 A JP 28068795A JP H09129991 A JPH09129991 A JP H09129991A
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Classifications
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- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
-
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- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0097—Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
Landscapes
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する分野】本願発明は、電子部品の製造方法
に関し、とくに、薄板状のプリント基板に素子が搭載さ
れた形態をもつ電子部品の製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an electronic component, and more particularly to a method for manufacturing an electronic component having a form in which elements are mounted on a thin printed board.
【0002】[0002]
【従来の技術】プリント基板上に素子が搭載された形態
をもつ電子部品の製造は、ハンドリングの便宜あるいは
効率上の観点から、多数の単位基板が縦横に連結された
形態の集合基板を準備し、この集合基板を用いて行われ
るのが普通である。2. Description of the Related Art In the manufacture of electronic components having a form in which elements are mounted on a printed circuit board, a collective substrate in which a number of unit boards are vertically and horizontally connected is prepared from the viewpoint of handling convenience or efficiency. Usually, this collective substrate is used.
【0003】図9は、上記集合基板1の一例を示す。こ
の集合基板1は、ガラスエポキシ等でできた材料基板に
所定のプリント配線あるいは端子パッド等が形成され、
ミシン目13により、各単位基板領域に区画されてい
る。このミシン目13は、図9に表れているように、各
単位基板領域間を分離して各単位基板の外形を大まかに
規定するスリット14と、各単位基板間をつなぐ橋絡部
2とによって構成される。各単位基板領域に対して所定
の素子の搭載やワイヤボンディング、あるいは保護層の
形成等が行われた後、この材料基板1は上記ミシン目1
3に沿って分割され、各単位電子部品が得られる。FIG. 9 shows an example of the collective substrate 1. In this aggregate substrate 1, predetermined printed wiring or terminal pads are formed on a material substrate made of glass epoxy or the like,
The perforations 13 divide each unit substrate area. As shown in FIG. 9, this perforation 13 is formed by a slit 14 that separates each unit substrate region to roughly define the outer shape of each unit substrate, and a bridging portion 2 that connects each unit substrate. Composed. After mounting a predetermined element, wire bonding, or forming a protective layer on each unit substrate region, the material substrate 1 is cut into the perforations 1 described above.
Divided along 3 to obtain each unit electronic component.
【0004】ところで、上記のミシン目13に沿う基板
分割は、これまであまり自動化が考えられたことがな
く、たとえばニッパのような工具を用いてミシン目を形
成する橋絡部を切断することによって行われているにす
ぎなかった。その理由は種々考えられるが、その一つに
は、従来のこの種の電子部品は比較的大型であり、しか
も、最終的に電子機器の内部に組み込まれるものである
ために、上記橋絡部の切断品位にあまり気を使う必要が
なかったということが挙げられる。By the way, the above-mentioned division of the substrate along the perforations 13 has not been considered to be automated so far. For example, a tool such as a nipper is used to cut the bridging portion forming the perforations. It was only being done. There are various possible reasons for this. One of the reasons is that the conventional electronic component of this type is relatively large and is finally incorporated into an electronic device. It can be mentioned that he didn't have to pay much attention to the cutting quality of.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】一方、最近において
は、プリント基板に素子が搭載された電子部品において
も、小型化、薄型化が要求されるものが出てきており、
この場合には、たとえば、基板分割によって生じるバリ
やヒゲを完全に除去し、基板外形に高度な品位が求めら
れる場合が生じている。On the other hand, recently, some electronic parts in which elements are mounted on a printed circuit board are required to be small and thin.
In this case, for example, there are cases where burrs and whiskers caused by dividing the substrate are completely removed, and a high quality is required for the outer shape of the substrate.
【0006】基板分割を自動的に行うための手法とし
て、たとえば打ち抜きプレスの手法が考えられるが、こ
の手法では、基本的に基板を剪断によって分割するた
め、剪断面からガラスエポキシを構成するガラス繊維が
ヒゲとなって残存することを完全に解消することが困難
である。したがって、上記のような基板外形に高度な品
位が要求される場合にこのような基板分割手法を採用す
ることができない。As a method for automatically dividing the substrate, for example, a method of punching press can be considered. In this method, since the substrate is basically divided by shearing, the glass fiber constituting the glass epoxy from the sheared surface is formed. It is difficult to completely eliminate the problem of being left as a beard. Therefore, such a board dividing method cannot be adopted when a high quality is required for the board outer shape as described above.
【0007】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、ミシン目によって単位基板領域
が連結させられた材料基板を上記ミシン目に沿って各単
位基板に分割する場合において、分割部にバリやヒゲが
発生しないようにすることをその課題としている。The present invention has been devised under such circumstances, and divides a material substrate, in which unit substrate regions are connected by perforations, into each unit substrate along the perforations. In this case, the problem is to prevent burr and whiskers from occurring in the divided parts.
【0008】[0008]
【発明の開示】上記の課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を採用した。DISCLOSURE OF THE INVENTION In order to solve the above problems, the present invention employs the following technical means.
【0009】すなわち、本願発明の第1の側面によって
提供される電子部品の製造方法は、スリットと橋絡部と
からなるミシン目によって複数の単位基板領域に区画さ
れた材料基板を用いて電子部品を製造する方法であっ
て、上記各単位基板領域に所定の素子を搭載した後、上
記材料基板の下面に平面状の台座を配置した状態におい
て、楔状刃体を上記台座に向けて下動させることによ
り、上記ミシン目における橋絡部を切断することを特徴
としている。That is, in the method of manufacturing an electronic component provided by the first aspect of the present invention, the electronic component is formed by using the material substrate divided into a plurality of unit substrate regions by perforations formed of slits and bridging portions. A method of manufacturing a method, wherein after mounting a predetermined element in each of the unit substrate regions, a wedge-shaped blade is moved downward toward the pedestal in a state where a flat pedestal is arranged on the lower surface of the material substrate. Thus, the bridging portion in the perforation is cut.
【0010】本願発明における基板分割は、水平台座の
上面にセットされる基板橋絡部を、上記水平台座に向け
て下動する楔状切断刃体により、押し切りすることによ
って行われる。打ち抜きプレスにみられる剪断による切
断に比較し、押し切りによる切断の場合は、基板に含ま
れるガラス繊維を含め、基板をその厚み方向の下端位置
まで完全に切断することができる。その結果、分割され
た単位基板の周囲にバリが残ったり、ガラス繊維がヒゲ
状に残ったりすることがなくなり、製造される電子部品
のとくに基板の周囲の切断面の品位が著しく向上する。The substrate division in the present invention is carried out by pushing and cutting the substrate bridging portion set on the upper surface of the horizontal pedestal with a wedge-shaped cutting blade which moves downward toward the horizontal pedestal. Compared with the cutting by shearing seen in a punching press, in the case of cutting by pressing, the substrate including glass fibers contained in the substrate can be completely cut to the lower end position in the thickness direction. As a result, burrs do not remain around the divided unit substrates and whiskers do not remain on the glass fibers, and the quality of the cut surface of the electronic component to be manufactured, particularly around the substrate, is significantly improved.
【0011】また、打ち抜きプレスによる切断の場合
は、ダイスとポンチとの精密な位置関係が必要となるな
ど、切断装置が精密、複雑かつ高価なものとならざるを
えないが、本願発明方法における基板分割のために必要
な装置は、台座と、この台座に向けて下動することがで
きる楔状の切断刃体を備えることによって簡略的に構成
されるものであり、しかも、この切断刃体は一定の面積
を有する水平台座に対して下動するものであるので、台
座と切断刃体との間の水平方向の位置精度もそれほど必
要でない。その結果、本願発明方法に使用される基板分
割装置は、構成が簡単である上に低コストである。Further, in the case of cutting by a punching press, a precise positional relationship between the die and the punch is required, and the cutting device must be precise, complicated and expensive. The device required for dividing the substrate is simply configured by including a pedestal and a wedge-shaped cutting blade that can be moved downward toward the pedestal. Since it moves downward with respect to a horizontal pedestal having a constant area, the positional accuracy in the horizontal direction between the pedestal and the cutting blade body is not so necessary. As a result, the substrate dividing apparatus used in the method of the present invention has a simple structure and is low in cost.
【0012】好ましい実施形態においては、上記台座の
上面は、軟質金属で形成される。この軟質金属として
は、たとえば真鍮が好適に選択される。一方、切断刃体
は、切断作用を直接行うものであるため、鋼により形成
される。このようにすれば、切断刃体を傷めることがな
く、分割装置の長寿命化を図ることができる。In a preferred embodiment, the upper surface of the pedestal is made of soft metal. Brass, for example, is preferably selected as the soft metal. On the other hand, the cutting blade, which directly performs the cutting action, is made of steel. By doing so, the cutting blade body is not damaged and the life of the dividing device can be extended.
【0013】好ましい実施形態においてはまた、上記材
料基板は、厚み0.2〜0.5mmの薄状基板である。Also in a preferred embodiment, the material substrate is a thin substrate having a thickness of 0.2 to 0.5 mm.
【0014】このようにすれば、切断刃体の先端楔の角
度を大きくしてこの刃体の強度アップを図っても、基板
にダメージを与えることなく、適正にその橋絡部の切断
を行うことができる。In this way, even if the angle of the wedge of the cutting blade is increased to increase the strength of the blade, the bridging portion can be cut properly without damaging the substrate. be able to.
【0015】好ましい実施形態においてはまた、上記ミ
シン目における上記橋絡部は、各単位基板領域の周縁に
対して内側に退避する退避部から延出させられている。Further, in a preferred embodiment, the bridging portion in the perforation is extended from a retracting portion retracting inward with respect to a peripheral edge of each unit substrate area.
【0016】このようにすれば、橋絡部に対する切断位
置に多少の狂いが生じても、この橋絡部の切断端が単位
基板の周縁から突出することによって生じるバリを確実
に解消することができる。In this way, even if the cutting position with respect to the bridging portion is slightly misaligned, the burrs caused by the cut end of the bridging portion protruding from the peripheral edge of the unit substrate can be reliably eliminated. it can.
【0017】本願発明の第2の側面によれば、上記の方
法において基板分割をするための装置が提供され、この
装置は、スリットと橋絡部とからなるミシン目によって
複数の単位基板領域に区画された材料基板を上記ミシン
目に沿って各単位基板に分割するための基板分割装置で
あって、上記材料基板における各橋絡部に対応させてそ
の下面に配置される平面状の台座と、上記各橋絡部に対
応させて上記台座に向けて下動することができる少なく
とも先端が楔状の切断刃体と、を備えることを特徴とす
る。According to a second aspect of the present invention, there is provided a device for dividing a substrate in the above method, which device has a plurality of unit substrate regions formed by perforations made of slits and bridging portions. A substrate dividing device for dividing a partitioned material substrate into each unit substrate along the perforations, and a flat pedestal arranged on the lower surface corresponding to each bridging portion of the material substrate. And a cutting blade body having at least a wedge-shaped tip that can be moved downward toward the pedestal corresponding to each bridging portion.
【0018】かかる構成の基板分割装置によれば、いわ
ゆる押し切りによって材料基板のミシン目の橋絡部を、
ヒゲを残すことなく完全に切断することができ、しか
も、打ち抜きプレス装置に比較して構成が簡単で低コス
トになるという、前述したのと同様の利点を享受するこ
とができる。According to the substrate dividing device having such a structure, the perforation bridging portion of the material substrate is
It is possible to cut completely without leaving a beard, and moreover, it is possible to enjoy the same advantages as described above that the structure is simple and the cost is low as compared with the punching press device.
【0019】本願発明のその他の特徴および利点は、図
面を参照して以下に行う詳細な説明から明らかとなろ
う。Other features and advantages of the present invention will be apparent from the detailed description given below with reference to the drawings.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下においては、電子部品の一例
として、汎用E2 PROMを用いた簡易な情報記憶デバ
イスの製造に本願発明を適用した場合について説明す
る。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A case where the present invention is applied to the manufacture of a simple information storage device using a general-purpose E 2 PROM will be described below as an example of an electronic component.
【0021】図1は、上記簡易型情報記憶デバイスを製
造するための基板の全体平面図を示しており、図2は、
その一面側の形態を詳細に示しており、図3は、他面側
の形態を詳細に示している。この製造用基板1は単位基
板10が橋絡部2を介して縦横に複数連結されたような
形態をもっており、ガラスエポキシ等の基板材料の一面
側および他面側にそれぞれ所定の配線パターン、端子
部、各種のパッドを形成したのち、各単位基板10を区
画するためのミシン目13を設けることによって得られ
る。ミシン目13は、各単位基板の外形を大まかに区画
する複数のスリット14と、隣接するスリット間に配置
する橋絡部2とからなっている。上記配線パターンは、
いわゆるプリント基板としての配線パターンの形成手法
を踏襲して形成することができる。すなわち、材料基板
の表面にたとえば銅などの金属導体層を蒸着等によって
形成したのち、不要部分をエッチングによって除去する
という手法によって上記配線パターンを形成することが
できる。FIG. 1 shows an overall plan view of a substrate for manufacturing the above-mentioned simplified information storage device, and FIG. 2 shows
The form on one side is shown in detail, and FIG. 3 shows the form on the other side in detail. The manufacturing substrate 1 has a form in which a plurality of unit substrates 10 are vertically and horizontally connected via a bridging portion 2, and a predetermined wiring pattern and terminals are provided on one surface side and the other surface side of a substrate material such as glass epoxy. This is obtained by forming perforations and various pads and then providing perforations 13 for partitioning each unit substrate 10. The perforation 13 includes a plurality of slits 14 that roughly divide the outer shape of each unit substrate, and a bridging portion 2 that is arranged between adjacent slits. The wiring pattern is
It can be formed by following the method of forming a wiring pattern as a so-called printed circuit board. That is, the wiring pattern can be formed by a method of forming a metal conductor layer of copper or the like on the surface of the material substrate by vapor deposition and then removing unnecessary portions by etching.
【0022】以下、単位基板10に注目すると、各単位
基板10は、矩形状本体部11から細状延長部12を延
出させた平面形状をもっている。上記形状本体部11
は、後述する素子15を搭載するに必要十分な大きさと
されており、たとえば、数mmないし十数mm角の、比較的
小さいなものである。また、単位基板10は、その平面
形状が比較的小さいために、厚みはたとえば0.2〜
0.5mmに設定され、好ましくは0.4mm程度に設定さ
れる。Focusing attention on the unit substrates 10 below, each unit substrate 10 has a planar shape in which a narrow extension 12 is extended from a rectangular main body 11. The shape body 11
Has a size necessary and sufficient for mounting the element 15 described later, and is relatively small, for example, several mm to ten and several mm square. Further, since the unit substrate 10 has a relatively small planar shape, the unit substrate 10 has a thickness of 0.2 to, for example.
It is set to 0.5 mm, preferably about 0.4 mm.
【0023】各単位基板10は、上記矩形状本体部11
の上下辺において図2の上下に隣接配置される単位基板
10に対して橋絡部2を介して接続されている。また、
上記矩形状本体部10の側辺は、材料基板1の額縁部1
aに対して橋絡部2を介して連結されている。各橋絡部
2は、矩形状本体部10の周縁から所定距離内側に退避
する退避部10aから外方に延出させられている。橋絡
部2をこのように構成する技術的意義については、後述
する。Each unit board 10 has the rectangular main body 11 described above.
The upper and lower sides of the unit board 10 are connected to the unit substrates 10 arranged adjacently in the upper and lower sides of FIG. Also,
The side of the rectangular main body portion 10 is a frame portion 1 of the material substrate 1.
It is connected to a through the bridge portion 2. Each bridging portion 2 extends outward from a retracting portion 10a that retracts inward by a predetermined distance from the peripheral edge of the rectangular main body portion 10. The technical significance of configuring the bridge portion 2 in this way will be described later.
【0024】上記単位基板10の一面側延長部12aに
は、4つの外部接続端子部161,162,163,1
64が形成されている。各端子部161,162,16
3,164は、スルーホール171,172,173,
174により、基板他面側にパターン形成された所定の
配線に接続されている。端子部の下地導体層の厚みは、
たとえば20〜30μmである。さらに、上記単位基板
10の矩形状本体部11の上辺部近傍には、3つの検査
用パッド181,182,183が形成されており、各
検査用パッド181,182,183につながる配線1
81a,182a,183aは、スルーホール191,
192,193により、基板他面側にパターン形成され
た所定の配線26e,26f,26gに接続されてい
る。本実施形態においては、上記単位基板10の矩形状
本体部11の一面側中央部に、上記外部接続端子部16
1〜164および検査用パッド181〜183の形成と
同時に形成された金属導体層による矩形の捨てパターン
20が形成されている。そうして、この単位基板10の
一面側は、上記各外部接続端子部161,162,16
3,164および各検査用パッド181,182,18
3を残して、グリーンレジスト等の絶縁層21で覆われ
る。その結果、図7に示すように、単位基板10の一面
側の矩形状本体部11の中央部には、導体層の厚み分に
相当する膨出部22が形成されることになる。On the one surface extension 12a of the unit substrate 10, four external connection terminal parts 161, 162, 163, 1 are provided.
64 are formed. Each terminal portion 161, 162, 16
3, 164 are through holes 171, 172, 173,
By 174, it is connected to a predetermined wiring pattern-formed on the other surface side of the substrate. The thickness of the base conductor layer of the terminal part is
For example, it is 20 to 30 μm. Further, three inspection pads 181, 182, 183 are formed in the vicinity of the upper side of the rectangular main body 11 of the unit substrate 10, and the wiring 1 connected to the inspection pads 181, 182, 183 is formed.
81a, 182a, 183a are through holes 191,
192 and 193 connect to predetermined wirings 26e, 26f, and 26g that are patterned on the other surface side of the substrate. In the present embodiment, the external connection terminal portion 16 is provided at the central portion on one surface side of the rectangular main body portion 11 of the unit substrate 10.
1 to 164 and the inspection pads 181 to 183 are formed at the same time, the rectangular sacrificial pattern 20 is formed by the metal conductor layer. Then, one surface side of the unit substrate 10 has the external connection terminal portions 161, 162, 16 described above.
3,164 and inspection pads 181,182,18
3 is left and covered with an insulating layer 21 such as a green resist. As a result, as shown in FIG. 7, a bulging portion 22 corresponding to the thickness of the conductor layer is formed in the central portion of the rectangular main body portion 11 on the one surface side of the unit substrate 10.
【0025】一方、図3に表れているように、上記単位
基板10の他面側には、所定の配線26a〜26gない
しパッド25a〜25g,27a,27e,27fがパ
ターン形成、すなわち、基板材料に形成された金属導体
層の不要部分をエッチングによって除去するという手法
により形成されている。図3に示すように、単位基板1
0の矩形状本体部の他面側中央領域には、素子搭載領域
23が設定され、この領域には、E2 PROM15aが
ボンディングされる。素子搭載領域23を囲むようにし
て、素子上の端子パッドとの間をワイヤボンディングす
るためのボンディングパッド25a,25b,25c,
25d,25e,25f,25gが形成される。E2 P
ROMの上面には、図4に詳示するように、グランド
(GND)用端子パッド24aと、ロジック電源
(VDD)用端子パッド24bと、クロック信号(CL
K)用端子パッド24cと、データイン・アウト(D
IN,OUT)用端子パッド24dと、2つのアドレス
(A0 ,A1 )用端子パッド24e,24fと、テスト
(TEST)用端子パッド24gとが配置されており、
これらの各端子パッドと対応するようにして、上記ボン
ディングパッド25a,25b,25c,25d,25
e,25f,25gが基板上に配置される。On the other hand, as shown in FIG. 3, predetermined wirings 26a to 26g or pads 25a to 25g, 27a, 27e and 27f are patterned on the other surface of the unit substrate 10, that is, the substrate material. It is formed by a method of removing an unnecessary portion of the metal conductor layer formed on the substrate by etching. As shown in FIG. 3, the unit substrate 1
An element mounting area 23 is set in the central area of the other side of the rectangular main body of 0, and the E 2 PROM 15a is bonded to this area. Bonding pads 25a, 25b, 25c for wire-bonding to the terminal pads on the element so as to surround the element mounting region 23,
25d, 25e, 25f and 25g are formed. E 2 P
On the upper surface of the ROM, as shown in detail in FIG. 4, a ground (GND) terminal pad 24a, a logic power supply (V DD ) terminal pad 24b, and a clock signal (CL).
K) terminal pad 24c and data in / out (D
IN, OUT ) terminal pads 24d, two address (A 0 , A 1 ) terminal pads 24e and 24f, and a test (TEST) terminal pad 24g are arranged.
The bonding pads 25a, 25b, 25c, 25d, 25 are arranged so as to correspond to the respective terminal pads.
e, 25f and 25g are arranged on the substrate.
【0026】上記基板上のグランド(GND)用端子パ
ッド24aと対応する基板上のボンディングパッド25
aにつながるグランド用配線26aは、基板他面上をグ
ランド用外部接続端子部161の裏面側まで取り回さ
れ、スルーホール171によって上記グランド用外部接
続端子部161に接続されている。ロジック電源
(VDD)用端子パッド24bと対応するボンディングパ
ッド25bにつながるロジック電源用配線26bは、基
板他面上をロジック電源用外部接続端子部162の裏面
側まで取り回され、スルーホール172によって上記ロ
ジック電源用外部接続端子部162に接続されている。
クロック信号(CLK)用端子パッド24cと対応する
ボンディングパッド25cにつながるクロック信号用配
線26cもまた、基板他面上をクロック信号用外部接続
端子部163の裏面側まで取り回され、スルーホール1
73によって上記クロック信号用外部接続端子部163
に接続されている。さらに、データイン・アウト(D
IN,OUT)用端子パッド24dと対応するボンディングパ
ッド25dにつながるデータ用配線26dもまた、基板
他面上をデータ用接続端子部164の裏面側まで取り回
され、スルーホール174によってデータ用外部接続端
子部164に接続されている。Bonding pads 25 on the substrate corresponding to the ground (GND) terminal pads 24a on the substrate.
The ground wiring 26a connected to a is routed on the other surface of the substrate to the back surface side of the ground external connection terminal portion 161 and is connected to the ground external connection terminal portion 161 by the through hole 171. The logic power supply wiring 26b connected to the bonding pad 25b corresponding to the logic power supply (V DD ) terminal pad 24b is routed on the other surface of the substrate to the back surface side of the logic power supply external connection terminal portion 162, and the through hole 172 is used. It is connected to the logic power external connection terminal portion 162.
The clock signal wiring 26c connected to the bonding pad 25c corresponding to the clock signal (CLK) terminal pad 24c is also routed on the other surface of the substrate to the back surface side of the clock signal external connection terminal portion 163, and the through hole 1
The external connection terminal portion 163 for the clock signal by 73
It is connected to the. In addition, data in / out (D
The data wiring 26d connected to the bonding pad 25d corresponding to the ( IN, OUT ) terminal pad 24d is also routed on the other surface of the substrate to the back surface side of the data connection terminal portion 164, and the data external connection is made by the through hole 174. It is connected to the terminal portion 164.
【0027】一方、素子上の第1のアドレス(A0 )用
端子パッド24eと対応する基板上のボンディングパッ
ド25eにつながる第1アドレス用配線26eの他端部
には、120°の中心角を有する共通接続用補助パッド
27eが設けられており、この第1アドレス用配線26
eの中間部は、スルーホール191を介して、基板一面
側に形成した上記の検査用パッド181に配線181a
を介して連絡させられている。また、素子上の第2のア
ドレス(A1 )用端子パッド24fと対応する基板上の
ボンディングパッド25fにつながる第2アドレス用配
線26fの他端部は、上記第1アドレス用配線26eの
他端部に形成した共通接続用補助パッド27eの近傍ま
で引き回され、120°の中心角を有する共通接続用補
助パッド27fが設けられており、この第2アドレス用
配線26fの中間部は、スルーホール192を介して、
基板一面側に形成した上記の検査用パッド182に配線
182aを介して連絡させられている。さらに、上記グ
ランド用配線26aの中間部に形成された枝分かれ部の
先端部には、上記第1および第2アドレス配線用の各共
通接続用補助パッド27e,27fと協働して全体とし
て円形の補助パッド群を形成するように、120°の中
心角を有する共通接続用補助パッド27aが形成されて
いる。さらに、素子チップ上のテスト(TEST)用端
子パッド24gと対応する基板上のボンディングパッド
25gにつながるテスト用配線26gは、スルーホール
193を介して基板一面側に形成した検査用パッド18
3に配線183aを介して連絡されている。On the other hand, a center angle of 120 ° is formed at the other end of the first address wiring 26e connected to the bonding pad 25e on the substrate corresponding to the first address (A 0 ) terminal pad 24e on the device. The common connection auxiliary pad 27e is provided, and the first address wiring 26 is provided.
The intermediate portion of e is connected to the inspection pad 181 formed on the one surface side of the substrate via the through hole 191 and the wiring 181a.
Have been contacted via. The other end of the second address wiring 26f connected to the bonding pad 25f on the substrate corresponding to the second address (A 1 ) terminal pad 24f on the element is the other end of the first address wiring 26e. A common connection auxiliary pad 27f having a central angle of 120 ° is provided near the common connection auxiliary pad 27e formed in the above portion, and an intermediate portion of the second address wiring 26f has a through hole. Through 192,
The inspection pad 182 formed on the one surface side of the substrate is connected via a wiring 182a. Further, the tip end of the branch portion formed in the intermediate portion of the ground wiring 26a has a circular shape as a whole in cooperation with the common connection auxiliary pads 27e and 27f for the first and second address wirings. A common connection auxiliary pad 27a having a central angle of 120 ° is formed so as to form an auxiliary pad group. Further, the test wiring 26g connected to the test (TEST) terminal pad 24g on the element chip and the bonding pad 25g on the substrate corresponding to the test pad 18 is formed on the one surface side of the substrate through the through hole 193.
3 is connected to wiring 3 via wiring 183a.
【0028】その結果、基板他面側における、グランド
用配線26a、ロジック電源用配線26b、クロック信
号用配線26cおよびデータ用配線26dは、基板一面
側の各外部接続端子部161,162,163,164
にそれぞれ連結される一方、2つのアドレス用配線26
e,26fおよびテスト用配線26gはそれぞれ基板一
面側の各検査用パッド181,182,183に連結さ
れ、さらに、上記グランド用配線26aと2つのアドレ
ス用配線26e,26fには、互いに近接配置された共
通接続用補助パッド27a,27e,27fが形成され
ることになる。この基板他面側においては、素子搭載領
域23および共通接続用補助パッド27a,27e,2
7fを残して、グリーンレジスト等の絶縁層29で覆わ
れる。As a result, the ground wiring 26a, the logic power wiring 26b, the clock signal wiring 26c, and the data wiring 26d on the other surface of the substrate are connected to the external connection terminal portions 161, 162, 163 on the one surface of the substrate. 164
While being connected to each of the two address wirings 26
e, 26f and the test wiring 26g are connected to the respective test pads 181, 182, 183 on the one surface side of the substrate, and are further arranged in close proximity to the ground wiring 26a and the two address wirings 26e, 26f. The common connection auxiliary pads 27a, 27e, and 27f are formed. On the other surface side of the substrate, the element mounting region 23 and the common connection auxiliary pads 27a, 27e, 2
Except for 7f, it is covered with an insulating layer 29 such as a green resist.
【0029】上記のようにして形成される各単位基板を
もつ集合基板1を用いて、E2 PROM15を用いた簡
易な情報記憶デバイスを製造する手順について以下に説
明する。A procedure for manufacturing a simple information storage device using the E 2 PROM 15 using the collective substrate 1 having the unit substrates formed as described above will be described below.
【0030】まず、各単位基板の基板搭載領域23に
は、E2 PROMチップ15aがボンディングされ、こ
のチップ上の端子パッド24a,24b,24c,24
d,24e,24f,24gとそれぞれ対応するボンデ
ィングパッド25a,25b,25c,25d,25
e,25f,25g間がワイヤボンディングによって結
線される。First, the E 2 PROM chip 15a is bonded to the substrate mounting area 23 of each unit substrate, and the terminal pads 24a, 24b, 24c, 24 on this chip are bonded.
Bonding pads 25a, 25b, 25c, 25d and 25 corresponding to d, 24e, 24f and 24g, respectively.
The wires e, 25f and 25g are connected by wire bonding.
【0031】そして、チップ15aおよびワイヤボンデ
ィング部は、熱硬化性樹脂を塗布し、かつ硬化させるこ
とによって形成される保護層28によって覆われる。The chip 15a and the wire bonding portion are covered with a protective layer 28 formed by applying and curing a thermosetting resin.
【0032】この状態において、上記集合配置された共
通接続用補助パッド27a,27e,27fは互いに分
離しているので、チップ上に形成された7つの端子パッ
ド24a,24b,24c,24d,24e,24f,
24gへの電気的連絡は、4つの外部接続用端子16
1,162,163,164および3つの検査用パッド
181,182,183に測定端子を接触させることに
より、基板一面側から行うことができる。したがって、
チップ上のすべての端子パッドに関連する動作チェック
を問題なく行うことができ、この時点で、不良のチップ
を特定することができる。In this state, since the common connection auxiliary pads 27a, 27e, 27f arranged in a group are separated from each other, the seven terminal pads 24a, 24b, 24c, 24d, 24e, formed on the chip, 24f,
Electrical connection to 24g, 4 external connection terminals 16
1, 162, 163, 164 and the three inspection pads 181, 182, 183 can be brought into contact with the measurement terminals from the one surface side of the substrate. Therefore,
Operational checks related to all terminal pads on the chip can be performed without problems, and at this point the defective chip can be identified.
【0033】次に、集合配置された共通接続用補助パッ
ド27a,27e,27f上にたとえばハンダ等の導電
材を塗布することにより、2つのアドレス用配線26
e,26f、ひいては、チップ上の2つのアドレス用端
子パッド24e,24fを、グランド用配線26aにプ
ルダウン共通接続することができる。Next, a conductive material such as solder is applied onto the auxiliary pads 27a, 27e and 27f for common connection, which are collectively arranged, so that the two address wirings 26 are formed.
e, 26f, and by extension, the two address terminal pads 24e, 24f on the chip, can be commonly connected to the ground wiring 26a by pulldown.
【0034】このようにして、製造用基板1において各
単位基板10について上述の必要な工程を施した後、次
のようにして橋絡部2を切断する基板分割を行うことに
より、図5および図6に示すような単位デバイスが得ら
れる。In this way, after performing the above-mentioned necessary steps on each unit board 10 in the manufacturing board 1, the bridge portion 2 is cut in the following manner to divide the board, as shown in FIG. A unit device as shown in FIG. 6 is obtained.
【0035】上記基板分割を行うための装置40は、図
8に示すように、材料基板1の下面に配置される水平状
の台座41と、この台座に向けて下動することができる
楔状の切断刃体42とを備えている。上記台座41は、
少なくとも、材料基板1における各橋絡部2の下面に上
面が接触するように構成される。この台座41として
は、各橋絡部2の下面を全体的に支持する部分的なもの
であってもよいし、材料基板1の下面全面を支持するよ
うにしてもよい。しかしながら、少なくとも、上記各橋
絡部2の下面を支持する部位は、軟質金属によって形成
される。この軟質金属としては、環境に対する耐腐食性
等を勘案した場合、真鍮が好適に選択される。As shown in FIG. 8, the apparatus 40 for dividing the substrate is a horizontal pedestal 41 arranged on the lower surface of the material substrate 1 and a wedge-shaped pedestal that can be moved downward toward the pedestal. And a cutting blade 42. The pedestal 41 is
At least the upper surface of the material substrate 1 is in contact with the lower surface of each bridging portion 2. The pedestal 41 may be a partial one that entirely supports the lower surface of each bridge portion 2, or may support the entire lower surface of the material substrate 1. However, at least the portion that supports the lower surface of each bridging portion 2 is formed of a soft metal. Brass is preferably selected as the soft metal in consideration of corrosion resistance to the environment.
【0036】一方、上記切断刃体42は、少なくともそ
の先端部が先細状の楔状に形成されたものであり、たと
えば、工具鋼によって形成される。そして、各切断刃体
42は、図示しない支持部材に取付けられており、この
支持部材を上下動させることにより、各切断刃体42は
いっせいに上下動させられる。そして、各切断刃体42
は、図2および図3に破線で示した部位において、橋絡
部2を切断することができるように配置される。すなわ
ち、前述したように各橋絡部2は、各単位基板10の周
縁に設けた退避部10aから外方に延出するように形成
されているが、この橋絡部2の根元部に切断線を配置す
ることにより切断面が、単位基板10の周縁から退避す
るようにし、バリの発生を確実に解消することができる
ようにしている。On the other hand, at least the tip of the cutting blade 42 is formed in a tapered wedge shape, and is made of, for example, tool steel. The cutting blades 42 are attached to a support member (not shown), and the cutting blades 42 are simultaneously moved up and down by moving the support member up and down. And each cutting blade 42
Are arranged so that the bridging portion 2 can be cut at the portions indicated by broken lines in FIGS. 2 and 3. That is, as described above, each bridging portion 2 is formed so as to extend outward from the retreat portion 10a provided at the peripheral edge of each unit substrate 10, but is cut at the root portion of this bridging portion 2. By arranging the lines, the cut surface is made to retreat from the peripheral edge of the unit substrate 10 so that the occurrence of burrs can be reliably eliminated.
【0037】図8(a) に示すように、所定の位置決めを
行いながら材料基板1を上記台座41上にセットし、そ
うして、各切断刃体42を下動させる。この切断刃体4
2の移動行程は、比較的精密に設定され、少なくとも、
この切断刃体42の最下動時には、各切断刃体42の先
端が上記台座41の表面に接触するように設定される。As shown in FIG. 8 (a), the material substrate 1 is set on the pedestal 41 while performing predetermined positioning, and the cutting blades 42 are moved downward. This cutting blade 4
The two travel steps are set relatively precisely, and at least
It is set so that the tip of each cutting blade 42 contacts the surface of the pedestal 41 when the cutting blade 42 is in the lowest position.
【0038】図8(b) に示すように切断刃体42が下動
する際において、この切断刃体42は、上記材料基板1
の各橋絡部2を、いわゆる押し切りによって切断する。
たとえば打ち抜きプレスによる剪断作用による切断に比
較し、押し切り切断の場合は、基板に含まれるガラス繊
維を含め、基板をその厚み方向の下端位置まで完全に切
断することができるので、切断端面にガラス繊維がヒゲ
状に残ったりするということがなくなり、製造される記
憶情報デバイスの特に基板周囲の切断部の品位が著しく
向上させられる。As shown in FIG. 8 (b), when the cutting blade 42 moves downward, the cutting blade 42 forms the material substrate 1
Each bridge portion 2 of is cut by so-called push-cutting.
For example, compared with cutting by shearing action by a punching press, in the case of push-cut cutting, the substrate including the glass fiber contained in the substrate can be completely cut to the lower end position in the thickness direction. Does not remain like a whisker, and the quality of the manufactured memory information device, especially the cut portion around the substrate, is significantly improved.
【0039】また、上記台座41は、真鍮等の軟質金属
でできているので、仮に完全な切断を行うために切断刃
体の下動位置を台座41表面に接触するように設定した
としても、この台座41が切断刃体42に損傷を与える
ことがない。そして、上記基板分割装置40は、一定の
平面的な大きさをもつ台座41と、この台座に向けて下
動することができる楔状の切断刃体42とを備えている
ので、台座と切断刃体との間の水平方向の位置精度はそ
れほど必要ではなく、したがって、この基板分割装置は
簡略な構成となり、コスト安く提供され得る。Further, since the pedestal 41 is made of soft metal such as brass, even if the lower moving position of the cutting blade is set to contact the surface of the pedestal 41 for complete cutting, The pedestal 41 does not damage the cutting blade 42. Since the substrate dividing device 40 includes the pedestal 41 having a certain planar size and the wedge-shaped cutting blade body 42 that can be moved downward toward the pedestal, the pedestal and the cutting blade are provided. The horizontal positional accuracy with respect to the body is not so necessary, and thus the substrate dividing device has a simple structure and can be provided at low cost.
【0040】もちろん、この発明の範囲は上述した実施
形態に限定されるものではない。電子部品としては、薄
状基板を備えるものであればどのようなものであっても
よい。また、材料基板内に形成される各単位基板領域の
形状もまた、製造するべき電子部品に応じて種々設定さ
れ得るものである。Of course, the scope of the present invention is not limited to the above embodiment. Any electronic component may be used as long as it has a thin substrate. Further, the shape of each unit substrate region formed in the material substrate can also be variously set according to the electronic component to be manufactured.
【図1】本願発明の電子部品の製造方法に使用する材料
基板の一形態を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a material substrate used in a method for manufacturing an electronic component of the present invention.
【図2】上記材料基板の一面側拡大部分平面図である。FIG. 2 is an enlarged partial plan view of one side of the material substrate.
【図3】上記材料基板の他面側拡大部分平面図である。FIG. 3 is an enlarged partial plan view of the other side of the material substrate.
【図4】本願発明方法によって製造される電子部品の一
形態である情報記憶デバイスに用いられる汎用E2 PR
OMの端子パッドの配置図である。FIG. 4 is a general-purpose E 2 PR used for an information storage device which is one form of an electronic component manufactured by the method of the present invention.
It is a layout view of the terminal pads of the OM.
【図5】本願発明方法によって製造される電子部品の一
形態である情報記憶デバイスの一面側平面図である。FIG. 5 is a plan view of one side of an information storage device which is one form of an electronic component manufactured by the method of the present invention.
【図6】本願発明方法によって製造される電子部品の一
形態である情報記憶デバイスの他面側平面図である。FIG. 6 is a plan view of the other side of the information storage device, which is one form of an electronic component manufactured by the method of the present invention.
【図7】図5のVII −VII 線に沿う断面図である。FIG. 7 is a sectional view taken along line VII-VII in FIG.
【図8】本願発明方法の要部および基板分割装置の説明
図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of a main part of the method of the present invention and a substrate dividing device.
【図9】電子部品製造に使用する材料基板の従来例を示
す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing a conventional example of a material substrate used for manufacturing an electronic component.
【符号の説明】 1 製造用基板 2 橋絡部 10 単位基板 13 ミシン目 14 スリット 40 基板分割装置 41 台座 42 切断刃体[Explanation of Codes] 1 Manufacturing Substrate 2 Bridging Section 10 Unit Substrate 13 Perforation 14 Slit 40 Substrate Dividing Device 41 Pedestal 42 Cutting Blade
Claims (5)
よって複数の単位基板領域に区画された材料基板を用い
て電子部品を製造する方法であって、 上記各単位基板領域に所定の素子を搭載した後、上記材
料基板の下面に平面状の台座を配置した状態において、
楔状刃体を上記台座に向けて下動させることにより、上
記ミシン目における橋絡部を切断することを特徴とす
る、電子部品の製造方法。1. A method of manufacturing an electronic component using a material substrate divided into a plurality of unit substrate regions by perforations including slits and bridging portions, wherein a predetermined element is provided in each unit substrate region. After mounting, with the flat pedestal placed on the lower surface of the material substrate,
A method for manufacturing an electronic component, characterized in that a bridge portion in the perforation is cut by moving a wedge-shaped blade downward toward the pedestal.
ている、請求項1に記載の方法。2. The method according to claim 1, wherein the upper surface of the pedestal is formed of a soft metal.
の薄状基板である、請求項1または2に記載の方法。3. The material substrate has a thickness of 0.2 to 0.5 mm.
The method according to claim 1 or 2, which is a thin substrate.
単位基板領域の周縁に対して内側に退避する退避部から
延出させられている、請求項1ないし3のいずれかに記
載の方法。4. The method according to claim 1, wherein the bridging portion in the perforation is extended from a retracting portion retracting inward with respect to a peripheral edge of each unit substrate region. .
よって複数の単位基板領域に区画された材料基板を上記
ミシン目に沿って各単位基板に分割するための基板分割
装置であって、 上記材料基板における各橋絡部に対応させてその下面に
配置される平面状の台座と、上記各橋絡部に対応させて
上記台座に向けて下動することができる楔状の切断刃体
と、を備えることを特徴とする、基板分割装置。5. A substrate dividing device for dividing a material substrate, which is divided into a plurality of unit substrate regions by perforations including slits and bridging portions, into each unit substrate along the perforations. A flat pedestal arranged on the lower surface corresponding to each bridging portion in the material substrate, and a wedge-shaped cutting blade that can be moved downward toward the pedestal corresponding to each bridging portion, A substrate dividing apparatus comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28068795A JPH09129991A (en) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | Manufacture of electronic part, and divider of printed-circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28068795A JPH09129991A (en) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | Manufacture of electronic part, and divider of printed-circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09129991A true JPH09129991A (en) | 1997-05-16 |
Family
ID=17628546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28068795A Pending JPH09129991A (en) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | Manufacture of electronic part, and divider of printed-circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09129991A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007118192A (en) * | 2005-10-24 | 2007-05-17 | Seiko Epson Corp | Processing method of substrate and manufacturing method of liquid jetting head |
| CN113840456A (en) * | 2021-09-26 | 2021-12-24 | 珠海格力电器股份有限公司 | Circuit board assembly, controller and motor |
-
1995
- 1995-10-27 JP JP28068795A patent/JPH09129991A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007118192A (en) * | 2005-10-24 | 2007-05-17 | Seiko Epson Corp | Processing method of substrate and manufacturing method of liquid jetting head |
| CN113840456A (en) * | 2021-09-26 | 2021-12-24 | 珠海格力电器股份有限公司 | Circuit board assembly, controller and motor |
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