JPH09131951A - 印刷品質判定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】基準画像が個々で異なる印刷物の検査を自動で
行う印刷品質判定装置を提供する。 【解決手段】プリントイメージデータからマスクパター
ンデータを生成するマスクパターン生成部と、前記プリ
ントイメージデータに基づいて印刷された印刷物を撮像
し検出イメージデータを得る撮像部と、前記マスクパタ
ーンデータと前記検出イメージデータから印刷物の良否
判定を行う比較判定部とを有する印刷品質判定装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、印刷物の印刷品質
を判定する技術に属する。特に、入力されるデータに基
づいて可変情報を印刷する印刷装置、たとえばレーザプ
リンタ、インクジェットプリンタ、サーマルプリンタ等
によって印刷された部分の印刷品質判定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、可変情報の印刷装置を用いたカタ
ログ、ダイレクトメール等への宛先、氏名、ＩＤ番号、
メッセージ、ロゴ、マーク、イラスト、地紋、画像等の
印刷が広く行われる。このような可変情報が正確に印刷
されているか否かの検査は人間による目視検査が主体で
あり、全数検査は作業負荷が大きく不良の見逃しが避け
られない。また印刷物の自動検査装置としては、たとえ
ば比較用の画像データをあらかじめ登録しておき、その
登録画像データとカメラ等により取込んだ検出画像デー
タを比較し、良否判定する装置が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の自
動検査装置は固定した画像を印刷する印刷版を用いる印
刷の場合に適用される装置であり、ディジタルデータに
基づく可変画像を印刷する電子写真方式（レーザプリン
タ）、インクジェット方式（インクジェットプリンタ）
等による印刷の場合には、そのままでは適用できない。
また無理して適用する場合には、検査内容が毎回異なる
ため比較パターンをデータの件数分登録しなければなら
ず、データの作成、入力作業に多大な負荷が発生すると
いう問題がある。

【０００４】そこで本発明の目的は、人的負担、作業負
荷、製品への不良品の混入という人による検査のために
生じる問題をなくし、基準画像が個々の印刷物によって
異なるという問題を解決し、全数検査を自動で行う印刷
品質判定装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的は、下記の本発
明により達成される。すなわち、本発明は「プリントイ
メージデータからマスクパターンデータを生成するマス
クパターン生成部と、前記プリントイメージデータに基
づいて印刷された印刷物を撮像し検出イメージデータを
得る撮像部と、前記マスクパターンデータと前記検出イ
メージデータから印刷物の良否判定を行う比較判定部と
を有する印刷品質判定装置」である。本発明によれば、
プリントイメージデータに基づいて印刷される印刷物の
良否判定は、そのプリントイメージデータから生成され
たマスクパターンデータと印刷物を撮像して得た検出イ
メージデータとから行われる。したがって印刷画像が個
々の印刷物によって異なっても検査を自動で行うことが
できる印刷品質判定装置が提供される。

【０００６】また本発明は「前記マスクパターン生成部
は縦横倍率変換手段を有し、前記縦横倍率変換手段は、
プリントイメージと検出イメージが重なるように、少な
くとも前記プリントイメージデータまたは前記検出イメ
ージデータの一方の縦横倍率を変換する印刷品質判定装
置」である。本発明によれば、プリントイメージデータ
を構成する画素の縦および横配列密度と検出イメージデ
ータを構成する画素の縦および横配列密度とが異なる場
合においても、縦横倍率を変換することにより両者の画
素の縦および横配列密度とを一致させることができる。
すなわち、両者の同じ配列位置の画素が対応関係を有す
るようにすることができる。

【０００７】また本発明は「前記マスクパターン生成部
は２値化手段と、膨張処理手段と、マスク処理手段とを
有し、前記２値化手段は前記プリントイメージデータを
所定の閾値で２値化し、２値化プリントパターンデータ
を生成し、前記膨張処理手段は前記２値化プリントパタ
ーンデータの膨張処理を行い、膨張パターンデータを生
成し、前記マスク処理手段は、検査領域の外側をマスク
するデータである検査領域外マスクパターンデータと前
記膨張パターンデータとを合成して膨張マスクパターン
データを生成する印刷品質判定装置」である。本発明に
よれば、プリントイメージデータによって印刷され、印
刷インキの付着する部分をほぼ包含するパターンである
膨張パターンデータが生成され、それに検査領域外マス
クパターンデータが合成される。したがって、膨張マス
クパターンデータにより、検査領域外と印刷インキの付
着する部分とをマスクすることができる。逆を述べる
と、検査領域内の印刷インキの付着しない部分を抽出す
ることができる。

【０００８】また本発明は「前記マスクパターン生成部
は２値化手段と、収縮処理手段と、反転処理手段と、マ
スク処理手段とを有し、前記２値化手段は前記プリント
イメージデータを所定の閾値で２値化し、２値化プリン
トパターンデータを生成し、前記収縮処理手段は前記２
値化プリントパターンデータの収縮処理を行い、収縮パ
ターンデータを生成し、前記反転処理手段は前記収縮パ
ターンデータの反転処理を行い、反転パターンデータを
生成し、前記マスク処理手段は、検査領域の外側をマス
クするデータである検査領域外マスクパターンデータと
前記反転パターンデータとを合成して収縮マスクパター
ンデータを生成する印刷品質判定装置」である。本発明
によれば、プリントイメージデータによって印刷され、
印刷インキの付着する部分にほぼ包含されるパターンで
ある収縮パターンデータが生成され、それが反転処理さ
れて反転パターンデータが生成され、それに検査領域外
マスクパターンデータが合成される。したがって、収縮
マスクパターンデータにより、検査領域外と印刷インキ
の付着しない部分とをマスクすることができる。逆を述
べると、検査領域内の印刷インキの付着する部分を抽出
することができる。

【０００９】また本発明は「前記比較判定部は、総和演
算手段と、比較手段とを有し、前記総和演算手段は、前
記膨張マスクパターンデータのマスク領域外に存在する
前記検出イメージデータの画素値の総和を演算し、前記
比較手段は、その総和を所定値と比較してその総和が大
の場合に過大不良信号を出力する印刷品質判定装置」で
ある。本発明によれば、総和演算手段により膨張マスク
パターンデータのマスク領域外に存在する検出イメージ
データの画素値の総和が演算される。正常に印刷が行わ
れる場合にはマスク領域外には印刷が行われないから画
素値の総和は小さい。一方、マスク領域外に印刷が行わ
れた場合には画素値の総和は大きくなる。比較手段によ
りその総和が所定値と比較されその総和が大の場合に過
大不良信号が出力される。

【００１０】また本発明は「前記比較判定部は、画素抜
け総和演算手段と、比較手段とを有し、前記総和演算手
段は、前記収縮マスクパターンデータのマスク領域外に
存在する前記検出イメージデータの画素抜けの総和を演
算し、前記比較手段は、その総和を所定値と比較してそ
の総和が大の場合に過小不良信号を出力する印刷品質判
定装置」である。本発明によれば、画素抜け総和演算手
段により収縮マスクパターンデータのマスク領域外に存
在する検出イメージデータの画素抜けの総和が演算され
る。正常に印刷が行われる場合にはマスク領域外は印刷
が行われているから画素抜けの総和は小さい。一方、マ
スク領域外に印刷の抜けがある場合には画素抜けの総和
は大きくなる。比較手段によりその総和が所定値と比較
されその総和が大の場合に過小不良信号が出力される。

【００１１】また本発明は「テストパターンに基づい
て、少なくとも前記膨張処理手段による膨張処理の条件
と、前記収縮処理手段による収縮処理の条件とを設定す
る検査条件設定部を有する印刷品質判定装置」である。
本発明によれば、検査条件設定部によりテストパターン
に基づいて膨張処理の条件と収縮処理の条件とが設定さ
れる。この設定は印刷品質判定装置の設置状態において
行われるから、適正な設定を容易に行うことができる。

【００１２】

【発明の実施の形態】本発明について実施の形態により
説明する。図１は本発明の印刷品質判定装置とその周辺
装置の構成を示す図である。図１において、１は印刷デ
ータ、２はラスタイメージプロセッサ、３はプリンタ、
４は印刷品質判定装置、５ａ，５ｂは印刷物、６は撮像
カメラ、７は位置検出センサである。印刷データ１はテ
キストデータあるいは文章や図形の位置や傾きを記述す
るポストスクリプトデータ等のコードデータである。ま
た印刷データ１は一枚の印刷物に印刷する内容を一塊の
データとしてレコードを構成し、そのレコードを印刷物
の数だけ印刷順に配列したデータ構造を有する。この印
刷データ１を入力してラスタイメージプロセッサ２はラ
スタイメージデータを生成する。ラスタイメージデータ
は印刷データ１をビットマップに展開したものであり、
プリンタに出力される場合にはプリントイメージデータ
とも呼ばれる。本発明においてラスタイメージデータと
プリントイメージデータとは同一である。

【００１３】このラスタイメージデータはラスタイメー
ジプロセッサ２からプリンタ３と印刷品質判定装置４に
出力される。プリンタ３が入力したラスタイメージデー
タはプリンタ３によって印刷用紙に印刷されて印刷物５
ａ，５ｂが得られる。一方、印刷品質判定装置４が入力
したラスタイメージデータは印刷品質判定装置４のマス
クパターン生成部（図示せず）によって演算処理が行わ
れ、マスクパターンデータが生成される。印刷品質判定
装置４には撮像カメラ６と位置検出センサ７が接続され
ている。印刷品質判定装置４の撮像部（図示せず）の指
令により、撮像カメラ６はラスタイメージデータに基づ
いて印刷された印刷物の印刷面を撮像し、撮像信号を印
刷品質判定装置４に出力する。印刷品質判定装置４の撮
像部は、入力した撮像信号に対してＡ／Ｄ変換する等の
処理を行い検出イメージデータを得る。

【００１４】印刷物５ａ，５ｂはプリンタ３から排出さ
れて移送されており、この撮像カメラ６による印刷面の
撮像は、位置検出センサ７によって検出される印刷物５
ａ，５ｂの位置データに基づいて行われる。すなわち、
印刷品質判定装置４の撮像部は位置検出センサ７の出力
信号を入力して印刷物５ａ，５ｂの位置データを演算
し、その位置データに基づいて、印刷物５ａ，５ｂの所
定の領域を撮像するように、撮像カメラ６に撮像を指令
する。印刷品質判定装置４の比較判定部（図示せず）
は、前述のマスクパターンデータと検出イメージデータ
から印刷物５ａ，５ｂのプリンタ３による印刷面の良否
判定を行い、検査結果を出力する。

【００１５】

【実施例】次に、本発明について実施例に基づき詳細を
説明する。図２はプリントイメージデータ、マスクパタ
ーンデータおよび検出イメージデータの一例を示す図で
ある。図２において、２１はプリントイメージデータ、
２２は検査領域外マスクパターンデータ、２３は膨張パ
ターンデータ、２４は検出イメージデータである。図２
において、マスクパターンデータは膨張マスクパターン
データであり、膨張マスクパターンデータは検査領域外
マスクパターンデータ２２の部分と膨張パターンデータ
２３の部分から構成されている。

【００１６】図２に示すように、プリントイメージデー
タ２１は検出イメージデータ２４と比較してサイズが大
きい。プリントイメージデータ２１も検出イメージデー
タ２４も、縦横に配列した複数の画素の明暗データから
構成されるビットマップデータである。サイズが大きい
ということは、画素数が多く画素配列密度を同じにする
と画像サイズが大きいという意味である。図２の場合は
サイズが大きいプリントイメージデータ２１のサイズを
変更して検出イメージデータ２４と同一サイズのプリン
トイメージデータとした後に、そのデータに基づいてマ
スクパターンデータが生成される。この同一サイズとす
る処理はマスクパターン生成部の縦横倍率変換手段によ
って行われる。この縦横倍率変換手段によって行われる
縦横倍率を変換する処理は、画素数を同じにしてプリン
トイメージと検出イメージが重なるようにする処理であ
る。このようなデータの変換方法としては、ニアレスト
ネーバ法、バイリニア法、キュービックコンボリューシ
ョン法等の公知の方法を適用することができる。

【００１７】また前述したように、マスクパターンデー
タは検査領域外マスクパターンデータ２２と膨張パター
ンデータ２３の２つの部分から構成される。膨張パター
ンデータ２３は前述の同一サイズのプリントイメージデ
ータの印刷データ部分を２値化した後に膨張処理を行っ
て生成する。このマスクパターンデータを生成する処理
はマスクパターン生成部の２値化手段、膨張処理手段お
よびマスク処理手段によって行われる。このマスクパタ
ーンデータ（膨張マスクパターンデータ）により、検査
領域外と印刷インキの付着する部分とをマスクすること
ができる。すなわち、検査領域内の印刷インキの付着し
ない部分を抽出することができる。この抽出されたデー
タからインキ垂れ、汚れのような欠陥を検出することが
できる。

【００１８】上記図２とは別の一例を次に示す。図３は
プリントイメージデータ、マスクパターンデータおよび
検出イメージデータの別例を示す図である。図３におい
て、３１はプリントイメージデータ、３２は検査領域外
マスクパターンデータ、３３は反転パターンデータ、３
４は検出イメージデータである。図３において、マスク
パターンデータは収縮マスクパターンデータであり、収
縮マスクパターンデータは検査領域外マスクパターンデ
ータ３２の部分と反転パターンデータ３３の部分から構
成されている。

【００１９】図３に示すように、プリントイメージデー
タ３１は検出イメージデータ３４と比較してサイズが大
きい。図２の場合と同様の説明を繰り返すが、プリント
イメージデータ３１も検出イメージデータ３４も、縦横
に配列した複数の画素の明暗データから構成されるビッ
トマップデータである。サイズが大きいということは、
画素数が多く画素配列密度を同じにすると画像サイズが
大きいという意味である。図３の場合はサイズが大きい
プリントイメージデータ３１のサイズを変更して検出イ
メージデータ３４と同一サイズのプリントイメージデー
タとした後に、そのデータに基づいてマスクパターンデ
ータが生成される。この同一サイズとする処理はマスク
パターン生成部の縦横倍率変換手段によって行われる。
この縦横倍率変換手段によって行われる縦横倍率を変換
する処理は、画素数を同じにしてプリントイメージと検
出イメージが重なるようにする処理である。このような
データの変換方法としては、ニアレストネーバ法、バイ
リニア法、キュービックコンボリューション法等の公知
の方法を適用することができる。

【００２０】また前述したように、マスクパターンデー
タは検査領域外マスクパターンデータ３２と反転パター
ンデータ３３の２つの部分から構成される。反転パター
ンデータ３３は前述の同一サイズのプリントイメージデ
ータの印刷データ部分を２値化した後に収縮処理を行
い、さらに反転処理を行って生成する。このマスクパタ
ーンデータを生成する処理はマスクパターン生成部の２
値化手段、収縮処理手段、反転処理手段およびマスク処
理手段によって行われる。このマスクパターンデータ
（収縮マスクパターンデータ）により、検査領域外と印
刷インキの付着しない部分とをマスクすることができ
る。すなわち、検査領域内の印刷インキの付着する部分
を抽出することができる。この抽出されたデータから文
字欠け、白抜けのような欠陥を検出することができる。

【００２１】次に、前述の処理を含めて、本発明の印刷
品質判定装置におけるデータ処理過程の全体について説
明する。図４は本発明の印刷品質判定装置および周辺装
置におけるデータ処理過程を示すフロー図である。図４
において、まず印刷機側における処理を説明する。印刷
データ（図１参照）がＲＩＰ（ラスタイメージプロセッ
サ）に出力され（Ｓ１）、ＲＩＰは印刷データを入力し
てラスタイメージデータ（プリントイメージデータのこ
とをラスタイメージデータとも呼ぶ）を生成しプリンタ
と検査装置（印刷品質判定装置のことを検査装置とも呼
ぶ）に出力する（Ｓ２）。プリンタはラスタイメージデ
ータを入力して印刷を行い印刷物を排出し（Ｓ３）、そ
の印刷物は移送されて撮像カメラの撮像領域に接近する
（Ｓ４）。

【００２２】撮像カメラは、周期的に繰返し撮像を行っ
ており、その撮像信号はＡ／Ｄ変換されディジタル化さ
れバッファメモリに繰返し更新記憶される（Ｓ５）。移
送される印刷物の位置は位置検出センサによって検出さ
れており、位置検出センサは移送される印刷物の位置が
撮像カメラの撮像領域の所定の位置に達すると、転送Ｃ
ＵＥ信号をバッファメモリに出力する（Ｓ６）。その転
送ＣＵＥ信号を入力してバッファメモリは記憶されてい
るデータである検出イメージデータを検査装置の比較判
定部に転送する（Ｓ７）。

【００２３】一方、検査装置に出力されたラスタイメー
ジデータは記憶装置に記憶される。検査装置はパーソナ
ルコンピュータ、ワークステーション等のコンピュータ
の本体、あるいは、必要に応じてそれに高速の画像処理
装置を付加することで実現することができる。ラスタイ
メージデータはそのような装置の主記憶装置、フレーム
メモリあるいは画像メモリ等に記憶される（Ｓ８）。

【００２４】次にラスタイメージデータは検出イメージ
データとサイズを一致させるために、縦横倍率変換処理
が行われる。通常ラスタイメージデータは検出イメージ
データよりもサイズが大きいためラスタイメージデータ
のサイズを縮小する処理が行われるが、一般的にはラス
タイメージデータと検出イメージデータのいずれを縦横
倍率変換処理してもよい。ラスタイメージデータの画素
サイズがＡ行×Ｂ列であり、そのデータによって印刷さ
れた印刷面を撮像して得た検出イメージデータの画素サ
イズがＣ行×Ｄ列であるとする。その場合は、Ｃ／Ａ＝
α，Ｄ／Ｂ＝βとしてあらかじめα，βを求めておき、
（α×Ａ）行×（β×Ｂ）列の画素サイズに、ラスタイ
メージデータを縦横倍率変換処理する。縦横倍率変換処
理の方法としては前述したように、ニアレストネーバ
法、バイリニア法、キュービックコンボリューション法
等の方法を適用することができる（Ｓ９）。

【００２５】次に縦横倍率変換処理が行われたラスタイ
メージデータを２値化処理して２値化パターンデータを
得る。２値化処理の方法は、あらかじめ閾値を与えてお
く固定閾値法、累積分布がｐパーセントとなる明るさを
閾値とするｐタイル法、明るさのヒストグラムが双峰性
であればその谷の明るさの値を閾値とするモード法等の
方法を適用することができる（Ｓ１０）。

【００２６】一方、あらかじめ検査条件の設定処理が行
われており（後述する）、検査エリア、縦横倍率、膨張
収縮処理条件等の設定データが得られている（Ｓ１
１）。この設定データに基づいて、次に２値化パターン
データに対して膨張処理を行い膨張パターンデータを得
る。膨張処理は２値化パターンデータをそのまま使用す
ると、検出イメージデータとの解像度が違った場合の縦
横倍率変換処理の誤差、撮像カメラのレンズ倍率微妙な
変化、歪曲等によって差分が発生するのを防止するため
に行われる。１回の膨張処理は２値化パターンデータの
“１”の画素に接する“０”の画素を“１”の画素に１
回だけ置き換える処理である。この膨張処理は設定デー
タに基づき所定の回数だけ行われる（Ｓ１２）。

【００２７】次に、前述の図２に示すように膨張パター
ンデータ２３はマスクパターンデータに割り付けられる
（Ｓ１３）。さらに検査エリアの設定データに基づいて
検査領域外マスクパターンデータ２２がマスクパターン
データに割り付けられ、マスクパターンデータ（膨張マ
スクパターンデータ）を生成する（Ｓ１４）。

【００２８】さて、Ｓ７において検査装置の比較判定部
に転送された検出イメージデータはマスクパターンデー
タに基づいてマスク処理され、検査領域だけのデータが
得られる。マスク処理はマスクパターンデータの“１”
の画素と同じ位置の検出イメージデータの画素の値を
“０”とし、マスク処理はマスクパターンデータの
“０”の画素と同じ位置の検出イメージデータの画素の
値はそのままの値とする処理である。このようにマスク
処理された検査領域だけのデータに基づいて、比較判定
部の総和演算手段により画素値の総和が求められる。こ
の検査領域には正常であれば印刷が行われないから、正
常であれば画素値の総和は小さな値となる（Ｓ１５）。

【００２９】次に比較判定部の比較手段によりその総和
は所定の判定基準値と比較されて、その総和が所定の判
定基準値よりも大の場合には過大不良信号を出力する。
過大不良信号が出力されるのは印刷が行われないはずの
検査領域に印刷が行われたり、汚れが付いたりする異常
が発生した場合等である（Ｓ１６）。

【００３０】上述の膨張処理によるマスクパターンデー
タに対して、収縮処理によるマスクパターンデータ（収
縮処理マスクパターンデータ）に基づく印刷品質判定処
理が行われる。次にそれを説明する。あらかじめ検査条
件の設定処理が行われており（後述する）、検査エリ
ア、縦横倍率、膨張収縮処理条件等の設定データが得ら
れている（Ｓ１１）。

【００３１】この設定データに基づいて、次に２値化パ
ターンデータに対して収縮処理を行い収縮パターンデー
タを得る。収縮処理は２値化パターンデータをそのまま
使用すると、検出イメージデータとの解像度が違った場
合の縦横倍率変換処理の誤差、撮像カメラのレンズ倍率
微妙な変化、歪曲等によって差分が発生するのを防止す
るために行われる。１回の収縮処理は２値化パターンデ
ータの“０”の画素に接する“１”の画素を“０”の画
素に１回だけ置き換える処理である。この収縮処理は設
定データに基づき所定の回数だけ行われる（Ｓ１７）。

【００３２】次に、収縮パターンデータを反転処理して
反転パターンデータを得る。反転処理は“０”の画素を
“１”に置き換え“１”の画素を“０”に置き換える処
理である。前述の図３に示すように反転パターンデータ
３３はマスクパターンデータに割り付けられる（Ｓ１
８）。さらに検査エリアの設定データに基づいて検査領
域外マスクパターンデータ３２がマスクパターンデータ
に割り付けられ、マスクパターンデータ（膨張マスクパ
ターンデータ）を生成する（Ｓ１９）。

【００３３】さて、Ｓ７において検査装置の比較判定部
に転送された検出イメージデータはマスクパターンデー
タに基づいてマスク処理され、検査領域だけのデータが
得られる。マスク処理はマスクパターンデータの“１”
の画素と同じ位置の検出イメージデータの画素の値を
“０”とし、マスク処理はマスクパターンデータの
“０”の画素と同じ位置の検出イメージデータの画素の
値はそのままの値とする処理である。このようにマスク
処理された検査領域だけのデータに基づいて、比較判定
部の画素抜け総和演算手段により画素抜けの総和が求め
られる。この検査領域には正常であれば印刷が行われて
いるから、正常であれば画素抜けの総和は小さな値とな
る（Ｓ２０）。

【００３４】次に比較判定部の比較手段によりその総和
は所定の判定基準値と比較されて、その総和が所定の判
定基準値よりも大の場合には過小不良信号を出力する。
過小不良信号が出力されるのは印刷が行われているはず
の検査領域に印刷が行われなかったり、文字欠け異常が
発生した場合等である（Ｓ２１）。

【００３５】次に前述のＳ１１における検査条件の設定
処理について説明する。図５は検査条件の設定処理の過
程を示すフロー図である。また図６は検査条件の設定処
理において用いられるテストパターンの一例を示す図で
ある。図６に示すテストパターンにおいて、６１は左右
方向倍率確認用マーク、６２はセンター位置決め用マー
ク、６３は流れ方向倍率確認用マークである。図５にお
いて図４で示した処理の過程と共通する部分については
説明を省略するか簡単に済ませる。

【００３６】図５における一連の処理過程Ｓ１０１〜Ｓ
１１０は図４におけるＳ１〜Ｓ１０と同一の処理過程で
ある。ただし、印刷データとしては図６に示すテストパ
ターンのデータが使用される。したがって、プリントイ
メージデータ、２値化プリントパターンデータ、印刷物
および検出イメージデータ等は図６に示すテストパター
ンのデータに基づいている。また、個々の処理過程にお
いて、Ｓ１１１はＳ１３に、Ｓ１１２はＳ１４に、Ｓ１
１３はＳ１５に、Ｓ１１７はＳ１８に、Ｓ１１８はＳ１
９に、Ｓ１１９はＳ２０に相当する処理過程である。

【００３７】まず膨張処理の条件設定について説明す
る。Ｓ１０７において検査装置の比較判定部に転送され
た検出イメージデータはマスクパターンデータに基づい
てマスク処理され、検査領域だけのデータが得られる。
マスク処理はマスクパターンデータの“１”の画素と同
じ位置の検出イメージデータの画素の値を“０”とし、
マスク処理はマスクパターンデータの“０”の画素と同
じ位置の検出イメージデータの画素の値はそのままの値
とする処理である。このようにマスク処理された検査領
域だけのデータに基づいて、比較判定部の総和演算手段
により画素値の総和が求められる。この検査領域には正
常であれば印刷が行われない。したがって、マスクパタ
ーンデータが２値化プリントパターンデータに対して必
要なだけ膨張処理を行って得た膨張パターンデータを使
用して得たものであるならば、画素値の総和は小さな値
となる（Ｓ１１３）。

【００３８】次に比較判定部の比較手段によりその総和
は所定の判定基準値と比較されて、その総和が所定の判
定基準値よりも大の場合には（Ｓ１１４）、現在の膨張
パターンデータ（初回の場合は２値化プリントパターン
データが膨張パターンデータとして扱われる）に対して
１回だけ膨張処理を行って新規の膨張パターンデータを
生成し、Ｓ１１１に戻り処理過程を繰り返す。その際、
膨張処理の累計を記憶しておく。また累計の値が所定の
値を越える場合にはエラーメッセージを出力して停止す
る（Ｓ１１５）。また比較判定部の比較手段によりその
総和は所定の判定基準値と比較されて、その総和が所定
の判定基準値よりも小の場合には（Ｓ１１４）、膨張処
理の累計の値を膨張処理の設定回数として登録する（Ｓ
１１６）。

【００３９】次に収縮処理の条件設定について説明す
る。Ｓ１０７において検査装置の比較判定部に転送され
た検出イメージデータはマスクパターンデータに基づい
てマスク処理され、検査領域だけのデータが得られる。
マスク処理はマスクパターンデータの“１”の画素と同
じ位置の検出イメージデータの画素の値を“０”とし、
マスク処理はマスクパターンデータの“０”の画素と同
じ位置の検出イメージデータの画素の値はそのままの値
とする処理である。このようにマスク処理された検査領
域だけのデータに基づいて、比較判定部の画素抜け総和
演算手段により画素抜けの総和が求められる。この検査
領域には正常であれば印刷が行われている。したがっ
て、マスクパターンデータが２値化プリントパターンデ
ータに対して必要なだけ収縮処理を行って得た収縮パタ
ーンデータの反転パターンデータを使用して得たもので
あるならば、画素抜けの総和は小さな値となる（Ｓ１１
９）。

【００４０】次に比較判定部の比較手段によりその総和
は所定の判定基準値と比較されて、その総和が所定の判
定基準値よりも大の場合には（Ｓ１２０）、現在の収縮
パターンデータ（初回の場合は２値化プリントパターン
データが収縮パターンデータとして扱われる）に対して
１回だけ収縮処理を行って新規の収縮パターンデータを
生成し、Ｓ１１７に戻り処理過程を繰り返す。その際、
収縮処理の累計を記憶しておく。また累計の値が所定の
値を越える場合にはエラーメッセージを出力して停止す
る（Ｓ１２１）。また比較判定部の比較手段によりその
総和は所定の判定基準値と比較されて、その総和が所定
の判定基準値よりも小の場合には（Ｓ１１４）、収縮処
理の累計の値を収縮処理の設定回数として登録する（Ｓ
１２２）。

【００４１】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、人的負
担、作業負荷、製品への不良品の混入という人による検
査のために生じる問題をなくし、印刷画像が個々の印刷
物によって異なっても検査を自動で行うことができる印
刷品質判定装置が提供される。またマスクパターン生成
部に縦横倍率変換手段を有する本発明によれば、プリン
トイメージデータを構成する画素の縦および横配列密度
と検出イメージデータを構成する画素の縦および横配列
密度とが異なる場合においても、検査を行うことができ
る。またマスクパターン生成部に２値化手段と、膨張処
理手段と、マスク処理手段とを有する本発明によれば、
膨張マスクパターンデータにより、検査領域内の印刷イ
ンキの付着しない部分を抽出することができる。またマ
スクパターン生成部に２値化手段と、収縮処理手段と、
反転処理手段と、マスク処理手段とを有する本発明によ
れば、収縮マスクパターンデータにより、検査領域内の
印刷インキの付着する部分を抽出することができる。

【００４２】また比較判定部に、膨張マスクパターンデ
ータのマスク領域外に存在する検出イメージデータの画
素値の総和を演算する総和演算手段と、比較手段とを有
する本発明によれば、マスク領域外に印刷が行わる異常
が発生した場合に過大不良信号が出力される。また比較
判定部は、収縮マスクパターンデータのマスク領域外に
存在する検出イメージデータの画素値の総和を演算する
総和演算手段と、比較手段とを有する本発明によれば、
マスク領域外に印刷の抜けがある異常が発生した場合に
は過小不良信号が出力される。また検査条件設定部を有
する本発明によれば、印刷品質判定装置の設置状態にお
いてテストパターンに基づいて膨張処理の条件と収縮処
理の条件とが設定されるから、適正な設定を容易に行う
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の印刷品質判定装置とその周辺装置の構
成を示す図である。

【図２】プリントイメージデータ、マスクパターンデー
タおよび検出イメージデータの一例を示す図である。

【図３】プリントイメージデータ、マスクパターンデー
タおよび検出イメージデータの別例を示す図である。

【図４】本発明の印刷品質判定装置および周辺装置にお
けるデータ処理過程を示すフロー図である。

【図５】検査条件の設定処理の過程を示すフロー図であ
る。

【符号の説明】

１ 印刷データ ２ ラスライメージプロセッサ（ＲＩＰ） ３ プリンタ ４ 印刷品質判定装置 ５ａ，５ｂ 印刷物 ６ 撮像カメラ ７ 位置検出センサ ８ 撮像カメラ ２１，３１ プリントイメージデータ ２２，３２ 検査領域外マスクパターンデータ ２３ 膨張パターンデータ ２４，３４ 検出イメージデータ ３３ 反転パターンデータ ６１ 左右方向倍率確認用マーク ６２ センター位置決め用マーク ６３ 流れ方向倍率確認用マーク

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【手続補正書】

【提出日】平成８年２月２２日

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図面の簡単な説明

【補正方法】追加

【補正内容】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の印刷品質判定装置とその周辺装置の構
成を示す図である。

【図２】プリントイメージデータ、マスクパターンデー
タおよび検出イメージデータの一例を示す図である。

【図３】プリントイメージデータ、マスクパターンデー
タおよび検出イメージデータの別例を示す図である。

【図４】本発明の印刷品質判定装置および周辺装置にお
けるデータ処理過程を示すフロー図である。

【図５】検査条件の設定処理過程を示すフロー図であ
る。

【図６】検査条件の設定処理において用いられるテスト
パターンの一例を示す図である。

【符号の説明】 １ 印刷データ ２ ラスライメージプロセッサ（ＲＩＰ） ３ プリンタ ４ 印刷品質判定装置 ５ａ，５ｂ 印刷物 ６ 撮像カメラ ７ 位置検出センサ ８ 撮像カメラ ２１，３１ プリントイメージデータ ２２，３２ 検査領域外マスクパターンデータ ２３ 膨張パターンデータ ２４，３４ 検出イメージデータ ３３ 反転パターンデータ ６１ 左右方向倍率確認用マーク ６２ センター位置決め用マーク ６３ 流れ方向倍率確認用マーク

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】プリントイメージデータからマスクパター
   ンデータを生成するマスクパターン生成部と、 前記プリントイメージデータに基づいて印刷された印刷
   物を撮像し検出イメージデータを得る撮像部と、 前記マスクパターンデータと前記検出イメージデータか
   ら印刷物の良否判定を行う比較判定部と、 を有することを特徴とする印刷品質判定装置。
2. 【請求項２】前記マスクパターン生成部は縦横倍率変換
   手段を有し、 前記縦横倍率変換手段は、プリントイメージと検出イメ
   ージが重なるように、少なくとも前記プリントイメージ
   データまたは前記検出イメージデータの一方の縦横倍率
   を変換する、 ことを特徴とする請求項１記載の印刷品質判定装置。
3. 【請求項３】前記マスクパターン生成部は２値化手段
   と、膨張処理手段と、マスク処理手段と、を有し、 前記２値化手段は前記プリントイメージデータを所定の
   閾値で２値化し、２値化プリントパターンデータを生成
   し、 前記膨張処理手段は前記２値化プリントパターンデータ
   の膨張処理を行い、膨張パターンデータを生成し、 前記マスク処理手段は、検査領域の外側をマスクするデ
   ータである検査領域外マスクパターンデータと前記膨張
   パターンデータとを合成して膨張マスクパターンデータ
   を生成する、 ことを特徴とする請求項１または２記載の印刷品質判定
   装置。
4. 【請求項４】前記マスクパターン生成部は２値化手段
   と、収縮処理手段と、反転処理手段と、マスク処理手段
   と、を有し、 前記２値化手段は前記プリントイメージデータを所定の
   閾値で２値化し、２値化プリントパターンデータを生成
   し、 前記収縮処理手段は前記２値化プリントパターンデータ
   の収縮処理を行い、収縮パターンデータを生成し、 前記反転処理手段は前記収縮パターンデータの反転処理
   を行い、反転パターンデータを生成し、 前記マスク処理手段は、検査領域の外側をマスクするデ
   ータである検査領域外マスクパターンデータと前記反転
   パターンデータとを合成して収縮マスクパターンデータ
   を生成する、 ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか記載の印刷品
   質判定装置。
5. 【請求項５】前記比較判定部は、総和演算手段と、比較
   手段と、を有し、 前記総和演算手段は、前記膨張マスクパターンデータの
   マスク領域外に存在する前記検出イメージデータの画素
   値の総和を演算し、 前記比較手段は、その総和を所定値と比較してその総和
   が大の場合に過大不良信号を出力する、 ことを特徴とする請求項３記載の印刷品質判定装置。
6. 【請求項６】前記比較判定部は、画素抜け総和演算手段
   と、比較手段と、を有し、 前記画素抜け総和演算手段は、前記収縮マスクパターン
   データのマスク領域外に存在する前記検出イメージデー
   タの画素抜けの総和を演算し、 前記比較手段は、その総和を所定値と比較してその総和
   が大の場合に過小不良信号を出力する、 ことを特徴とする請求項４記載の印刷品質判定装置。
7. 【請求項７】テストパターンに基づいて、少なくとも前
   記膨張処理手段による膨張処理の条件と、前記収縮処理
   手段による収縮処理の条件とを設定する検査条件設定部
   を有することを特徴とする請求項１〜６のいずれか記載
   の印刷品質判定装置。