JPH09134237A - 電子機器 - Google Patents

電子機器

Info

Publication number
JPH09134237A
JPH09134237A JP7288833A JP28883395A JPH09134237A JP H09134237 A JPH09134237 A JP H09134237A JP 7288833 A JP7288833 A JP 7288833A JP 28883395 A JP28883395 A JP 28883395A JP H09134237 A JPH09134237 A JP H09134237A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured value
energization time
volatile memory
data
stored
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7288833A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidekazu Tsuda
英一 津田
Yasunori Mori
安徳 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP7288833A priority Critical patent/JPH09134237A/ja
Priority to KR1019960052433A priority patent/KR970031906A/ko
Priority to US08/744,754 priority patent/US5892735A/en
Publication of JPH09134237A publication Critical patent/JPH09134237A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00—Details of television systems
    • H04N5/44—Receiver circuitry for the reception of television signals according to analogue transmission standards
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
    • G06F11/3409—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
    • G06F11/3419—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment by assessing time
    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
    • G07C3/02—Registering or indicating working or idle time only
    • G07C3/04—Registering or indicating working or idle time only using counting means or digital clocks
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
    • G06F11/3409—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
    • G06F11/3419—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment by assessing time
    • G06F11/3423—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment by assessing time where the assessed time is active or idle time
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G1/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with cathode-ray tube indicators; General aspects or details, e.g. selection emphasis on particular characters, dashed line or dotted line generation; Preprocessing of data
    • G09G1/06—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with cathode-ray tube indicators; General aspects or details, e.g. selection emphasis on particular characters, dashed line or dotted line generation; Preprocessing of data using single beam tubes, e.g. three-dimensional or perspective representation, rotation or translation of display pattern, hidden lines, shadows
    • G09G1/14—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with cathode-ray tube indicators; General aspects or details, e.g. selection emphasis on particular characters, dashed line or dotted line generation; Preprocessing of data using single beam tubes, e.g. three-dimensional or perspective representation, rotation or translation of display pattern, hidden lines, shadows the beam tracing a pattern independent of the information to be displayed, this latter determining the parts of the pattern rendered respectively visible and invisible
    • G09G1/16—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with cathode-ray tube indicators; General aspects or details, e.g. selection emphasis on particular characters, dashed line or dotted line generation; Preprocessing of data using single beam tubes, e.g. three-dimensional or perspective representation, rotation or translation of display pattern, hidden lines, shadows the beam tracing a pattern independent of the information to be displayed, this latter determining the parts of the pattern rendered respectively visible and invisible the pattern of rectangular co-ordinates extending over the whole area of the screen, i.e. television type raster
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/02—Details of power systems and of start or stop of display operation
    • G09G2330/021—Power management, e.g. power saving

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 何らかの要因によって発生する電気的衝撃、
停電等により、不揮発性メモリに記憶されている計測値
が本来のものではなくなるようなことがあっても、正確
な通電時間の計測値を知ることができるようにすること
を目的とする。 【解決手段】 通電時間を計測する機能を有すると共に
この通電時間の計測値を記憶する不揮発性メモリ２を装
備した電子機器において、この通電時間の計測値を順次
この不揮発性メモリ２の３以上の箇所２1 ，２2 ，２3
に書き込むようにし、電源投入毎にこの不揮発性メモリ
２の３以上の箇所２1 ，２2 ，２3 に記憶された計測値
を互いに比較し、多数決原理に従って正しい計測値を決
定し、この決定した計測値にこの３以上の箇所２1 ，２
2 ，２3 に記憶した計数値を等しくするようにしたもの
である。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、サービス性の向上
の為、通電時間を計測し、現通電時間を知り得るように
した例えばマイクロコンピュータの映像表示装置の如き
電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、マイクロコンピュータのカラー陰
極線管を使用した映像表示装置において、サービス性の
向上の為、この映像表示装置の通電時間を計測し、例え
ば３０分おきにこの計測値を不揮発性メモリに更新して
書き込むようにし、必要に応じ、この不揮発性メモリよ
り計測値を読み出し、カラー陰極線管等の寿命等の判断
材料としていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この通電時
間の計測値を例えば３０分おきに不揮発性メモリに書き
込む場合に、この書き込みに有限の時間が必要であり、
この有限の時間内に何らかの要因によって電気的衝撃が
不揮発性メモリ、マイクロコンピュータもしくはこれら
両者を結ぶ信号線上に発生することによって、書き込み
中の計測値が本来書き込まなくてはならない計測値では
なくなってしまう場合、あるいは停電によって途中まで
しか、この不揮発性メモリに書き込まれず、結果的に本
来書き込まなくてはならない計測値ではなくなってしま
う場合があった。
【０００４】本発明は、斯かる点に鑑み、何らかの要因
によって発生する電気的衝撃、停電等により不揮発性メ
モリに記憶されている計測値が本来のものではなくなる
ようなことがあっても、正確な通電時間の計測値を知る
ことができるようにすることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明電子機器は通電時
間を計測する機能を有すると共にこの通電時間の計測値
を記憶する不揮発性メモリを装備した電子機器におい
て、この通電時間の計測値を順次この不揮発性メモリの
３以上の箇所に書き込むようにし、電源投入毎にこの不
揮発性メモリの３以上の箇所に記憶された計測値を互い
に比較し、多数決原理に従って正しい計測値を決定し、
この決定した計測値にこの３以上の箇所に記憶した計数
値を等しくするようにしたものである。
【０００６】斯かる、本発明によればこの計測値を不揮
発性メモリの３以上の箇所に時間的にずらして順次書き
込み、電源投入毎に、この３以上の箇所に記憶した計測
値を互いに比較し、多数決原理に従って、正しい通電時
間の計測値を決定し、この決定した計測値にこの３以上
の箇所に記憶した計測値を等しくしているので、例えば
途中で１箇所に記憶された計測値が何らかの要因により
電気的衝撃が発生したり、停電等により誤ったものであ
っても、他の２以上の箇所に記憶された計測値が正しい
ので、この３以上の箇所に記憶した計測値を正しくで
き、必要とするときに正確な通電時間を知ることができ
る。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明電子
機器をマイクロコンピュータの映像表示装置に適用した
例につき説明しよう。
【０００８】図１において、１はマイクロコンピュータ
を示し、このマイクロコンピュータ１に得られる表示信
号を内部バス３及びディスプレイコントローラ４を介し
て映像表示装置を構成するカラー陰極線管５に供給し、
このカラー陰極線管５に、この表示信号に応じた画面を
表示する如くする。
【０００９】また、本例においては、このマイクロコン
ピュータ１において、映像表示装置のカラー陰極線管５
に通電している時間を計測する如くし、このマイクロコ
ンピュータ１はこの通電時間の計測値のデータを例えば
３０分ごとに内部バス３を介して不揮発性メモリ２に供
給する如くする。
【００１０】この不揮発性メモリ２においては、この通
電時間の計測値のデータを書き込む３箇所のメモリエリ
ア２1 ，２2 及び２3 を設け、この通電時間の計測値の
データをこの３箇所のメモリエリア２1 ，２2 及び２3
に時間的に順次ずらして書き込む如くする。
【００１１】この不揮発性メモリ２に対する、この通電
時間の計測値のデータの書き込みの動作を図２のフロー
チャートに従って、更に説明する。即ち映像表示装置の
カラー陰極線管５に通電したときは、マイクロコンピュ
ータ１は、この通電時間を計測し（ステップＳ１）、こ
の計測値のデータを内部バス３を介して、不揮発性メモ
リ２に供給し、まず、メモリエリア２1 に書き込む（ス
テップＳ２）。
【００１２】次に、このメモリエリア２1 の書き込みが
終わった後に、このメモリエリア２ 1 に書き込んだと同
じ計測値のデータをメモリエリア２2 に書き込む（ステ
ップＳ３）。次にこのメモリエリア２2 の書き込みが終
わった後に、このメモリエリア２2 に書き込んだと同じ
計測値のデータをメモリエリア２3 に書き込む（ステッ
プＳ４）。
【００１３】上述動作を例えば３０分ごとに行ない、メ
モリエリア２1 ，２2 及び２3 に書き込まれている通電
時間の計測値のデータを更新する如くする。
【００１４】この図１において、マイクロコンピュータ
１、不揮発性メモリ２、内部バス３、ディスプレイコン
トローラ４は物理的に独立したデバイスを指すものでは
なく、概念を表すものであり、従って、１つの集積回路
上に実現することもあれば、複数の集積回路において、
実現されることもある。
【００１５】また、本例においてはマイクロコンピュー
タ１の映像表示装置に電源を投入する毎にマイクロコン
ピュータ１は、図３のフローチャートに従って、この不
揮発性メモリ２に書き込まれた通電時間の正しい計測値
のデータを読み出し、メモリエリア２1 ，２2 及び２3
に記憶した計測値のデータをこの正しい計測値のデータ
とする如くする。
【００１６】即ち、この映像表示装置に電源が投入され
たときは、先ず、メモリエリア２1，２2 及び２3 に夫
々記憶されている計測値のデータが３つとも同じかどう
かを比較し（ステップＳ５）、この３つとも同じとき
は、誤りはなかったものとし、夫々の記憶されている計
測値のデータを正しいものとして読み込む（ステップＳ
９）如くする。
【００１７】ステップＳ５において、記憶されているこ
の３つの計測値のデータの１つでも異なるときはステッ
プＳ６に移行し、同一のものが２つ有るかどうかを検査
する。このステップＳ６においてはメモリエリア２2 に
記憶した計測値のデータが誤りで、メモリエリア２1 及
び２3 に記憶した計測値のデータが正しいときに、記憶
内容に例えば３０分の誤差がでるときがあるので、この
計測値のデータに多少の誤差例えば誤差が０．１％以内
のときは同一とする如くする。
【００１８】このステップＳ６の検査の結果、いずれか
２つのメモリエリアに記憶された計測値のデータが同一
であった場合には、不一致であったものが書き込みエラ
ーがあったものとして、ステップＳ７において、このエ
ラーデータをデータが一致した２つのデータと同じデー
タに書きなおし、ステップＳ９のデータ読み込みに移行
する。
【００１９】また、ステップＳ６において、メモリエリ
ア２1 ，２2 及び２3 に記憶された計測値のデータが３
つとも異なるときは、継続的な書き込みエラーが発生し
ているものとして、ステップＳ８において、メモリエリ
ア２1 ，２2 及び２3 の全てに記憶しているデータを初
期化し、データ読み込みのステップＳ９に移行する。
【００２０】本例は、上述の如く、通電時間の計測値の
データを不揮発性メモリ２の３つのメモリエリア２1 ，
２2 及び２3 に時間的にずらして順次書き込むように
し、電源投入毎に、この３つのメモリエリア２1 ，２2
及び２3 に記憶した計測値を互いに比較し、多数決原理
に従って、正しい通電時間の計測値のデータを決定し、
この決定した計測値のデータに、この３つのメモリエリ
ア２1 ，２2 及び２3 に記憶している計測値のデータを
等しくするので、例えば途中でこの３つのメモリエリア
のうち１つのメモリエリアに記憶された計測値のデータ
が何らかの要因により発生した電気的衝撃、停電等によ
り誤ったものとなっても他の２つのメモリエリアに記憶
されている計測値のデータが正しいので、この３つのメ
モリエリア２1 ，２2 及び２3 に記憶した計測値のデー
タを正しくできる。
【００２１】従って、サービス上必要とするときに、図
３のフローチャートに従って、不揮発性メモリ２のメモ
リエリア２1 ，２2 及び２3 に記憶されている計測値の
データを読み出すようにすれば、この映像表示装置の正
しい通電時間を知ることができる利益がある。
【００２２】尚、上述実施例においては、本発明を映像
表示装置に適用した例につき述べたが、その他の通電時
間を知りたい電子機器に適用できることは勿論である。
【００２３】また上述実施例においては、不揮発性メモ
リの３箇所に計測値のデータを書き込む如く述べたが、
４箇所以上であっても良いことは勿論である。またこの
不揮発性メモリを複数個設けるようにしても良い。
【００２４】また本発明は上述実施例に限ることなく、
本発明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が
採り得ることは勿論である。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれは、何らかの要因によって
発生する電気的衝撃、停電等により、不揮発性メモリに
記憶されている計測値が本来のものでなくなるようなこ
とがあっても、正確な通電時間の計測値を知ることがで
きる利益がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の電子機器の一実施例を示す構成図であ
る。
【図２】本発明の説明に供するフローチャートである。
【図３】本発明の説明に供するフローチャートである。
【符号の説明】
１ マイクロコンピュータ ２ 不揮発性メモリ ２1 ，２2 ，２3 メモリエリア ３ 内部バス ４ ディスプレイコントローラ ５ カラー陰極線管

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 通電時間を計測する機能を有すると共に
    該通電時間の計測値を記憶する不揮発性メモリを装備し
    た電子機器において、 前記通電時間の計測値を順次前記不揮発性メモリの３以
    上の箇所に書き込むようにし、電源投入毎に前記不揮発
    性メモリの３以上の箇所に記憶された計測値を互いに比
    較し、多数決原理に従って正しい計測値を決定し、この
    決定した計測値に前記３以上の箇所に記憶した計測値を
    等しくするようにしたことを特徴とする電子機器。
  2. 【請求項２】 請求項１記載の電子機器において、 前記３以上の箇所に書き込む、計数値は同一であること
    を特徴とする電子機器。
JP7288833A 1995-11-07 1995-11-07 電子機器 Pending JPH09134237A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7288833A JPH09134237A (ja) 1995-11-07 1995-11-07 電子機器
KR1019960052433A KR970031906A (ko) 1995-11-07 1996-11-06 전자기기의 누적 통전시간을 측정하는 전자장치 및 방법
US08/744,754 US5892735A (en) 1995-11-07 1996-11-06 Electronic apparatus and method for measuring cumulative power-on time of an electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7288833A JPH09134237A (ja) 1995-11-07 1995-11-07 電子機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09134237A true JPH09134237A (ja) 1997-05-20

Family

ID=17735346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7288833A Pending JPH09134237A (ja) 1995-11-07 1995-11-07 電子機器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5892735A (ja)
JP (1) JPH09134237A (ja)
KR (1) KR970031906A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503891A (ja) * 2000-06-13 2004-02-05 エスティーマイクロエレクトロニクス 誤り訂正回路を備えた安全なｅｅｐｒｏｍメモリ
JP2011112314A (ja) * 2009-11-30 2011-06-09 Dainichi Co Ltd 燃焼制御装置
JP2011248654A (ja) * 2010-05-27 2011-12-08 Mitsutoyo Corp 情報処理方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003271909A (ja) * 2002-03-18 2003-09-26 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd メモリ内容の書き込み方法およびカードリーダにおけるメモリ内容の書き込み方法
US6810347B2 (en) * 2003-01-09 2004-10-26 Micrel, Inc. Robust power-on meter and method
US6785191B2 (en) * 2003-01-09 2004-08-31 Micrel, Inc. Robust power-on meter and method using a limited-write memory
CN101861497A (zh) * 2007-08-03 2010-10-13 郭童然 加热控制系统和节能方法
FR2927439A1 (fr) * 2008-02-12 2009-08-14 Peugeot Citroen Automobiles Sa Dispositif de sauvegarde de donnees d'un calculateur et procede de sauvegarde de donnees s'y rapportant

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4617639A (en) * 1984-08-08 1986-10-14 Caterpillar Industrial Inc. Hour meter apparatus and method
US4710888A (en) * 1984-10-01 1987-12-01 Ford Motor Company Electronic odometer
US4748594A (en) * 1984-11-12 1988-05-31 Nec Corporation Integrated circuit device having a memory and majority logic
US5067111A (en) * 1988-10-28 1991-11-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device having a majority logic for determining data to be read out
US5608684A (en) * 1994-10-13 1997-03-04 Hewlett-Packard Company System and method for RAM power and data backup utilizing a capacitor and ROM

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004503891A (ja) * 2000-06-13 2004-02-05 エスティーマイクロエレクトロニクス 誤り訂正回路を備えた安全なｅｅｐｒｏｍメモリ
JP2011112314A (ja) * 2009-11-30 2011-06-09 Dainichi Co Ltd 燃焼制御装置
JP2011248654A (ja) * 2010-05-27 2011-12-08 Mitsutoyo Corp 情報処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5892735A (en) 1999-04-06
KR970031906A (ko) 1997-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2821278B2 (ja) 半導体集積回路
JP3773773B2 (ja) 画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法
EP0557968B1 (en) Method of rewriting data in EEPROM, and EEPROM card
JPH09134237A (ja) 電子機器
US4665497A (en) Electronic odometer
CN107430837A (zh) 显示装置
JPH08320748A (ja) センサ処理装置及びシステム
CN117316124B (zh) 像素数据的处理方法、装置、计算机设备
US6253341B1 (en) IC test system
US7895577B2 (en) Device for testing the structural coverage of a software program and a method implementing the device
JPS60108944A (ja) 記憶装置
JPH0257676B2 (ja)
JPH02226597A (ja) メモリ装置のデータ補正方法
JP2701591B2 (ja) 自動車電話装置の自己診断方法
EP0840329A1 (en) Method and apparatus for testing counter and serial access memory containing it
JP5106069B2 (ja) メモリの検査方法
JP2877505B2 (ja) Ｌｓｉ実装ボード及びデータ処理装置
JP2614362B2 (ja) 電子部品試験方式
JP3215600B2 (ja) Ｉｃ試験装置
JPS6046828B2 (ja) 配置決定装置
JPH05233846A (ja) マイクロプロセッサ
JPH0793505A (ja) 計数積算装置
JP2003037971A (ja) 昇圧回路の試験回路及び試験方法
JPH11331884A (ja) 画像信号処理集積回路
JP2001067271A (ja) メモリ回路のチェック方法