JPH0915272A - Voltage measuring circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電圧をディジタル値に
変換して測定する電圧測定回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a voltage measuring circuit for converting a voltage into a digital value and measuring it.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、電圧をディジタル値で測定する際
には、必要とする分解能(ビット幅)を有するA/D変
換器を用いるのが普通である。2. Description of the Related Art Conventionally, when measuring a voltage with a digital value, an A / D converter having a required resolution (bit width) is usually used.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】したがって、手持ちの
A/D変換器の分解能が所望の分解能に満たない場合に
は、分解能のより高いA/D変換器を入手しなくてはな
らない。本発明は、このような事情に基づいてなされた
もので、その目的は、所定分解能のA/D変換器を用い
て、被測定電圧に相当するディジタル値を上記所定分解
能よりも高い分解能で求める電圧測定回路を提供するこ
とにある。Therefore, if the resolution of the A / D converter on hand is less than the desired resolution, an A / D converter with a higher resolution must be obtained. The present invention has been made under such circumstances, and an object thereof is to obtain a digital value corresponding to a voltage to be measured with a resolution higher than the predetermined resolution by using an A / D converter having a predetermined resolution. It is to provide a voltage measurement circuit.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明の電圧測定回路
は、被測定電圧を入力するための入力端子と、前記入力
端子に印加された被測定電圧を第1の分解能に従って変
換する第1のA/D変換器と、前記第1のA/D変換器
が出力する変換値を前記第1の分解能に従って変換する
D/A変換器と、前記入力端子に印加された被測定電圧
及び前記D/A変換器の出力電圧を差動入力として所定
の増幅率で増幅する差動増幅回路と、前記差動増幅回路
の出力電圧を第2の分解能に従って変換する第2のA/
D変換器と、前記第1のA/D変換器から出力される第
1の変換値と、前記第2のA/D変換器から出力される
第2の変換値と、前記差動増幅回路の所定の増幅率とに
基づいて前記被測定電圧に対応するディジタル値を算出
する演算手段とを有することを特徴としている。The voltage measuring circuit of the present invention includes an input terminal for inputting a voltage to be measured and a first voltage converting circuit for measuring a voltage applied to the input terminal according to a first resolution. An A / D converter, a D / A converter that converts the conversion value output from the first A / D converter according to the first resolution, a measured voltage applied to the input terminal, and the D / A converter using a differential input as an input voltage for amplifying the output voltage at a predetermined amplification rate, and a second A / A converter for converting the output voltage of the differential amplifier circuit according to a second resolution.
D converter, first conversion value output from the first A / D converter, second conversion value output from the second A / D converter, and the differential amplifier circuit And a calculation means for calculating a digital value corresponding to the measured voltage based on the predetermined amplification factor of.
【0005】また、本発明は、上記第1のA/D変換
器、第2のA/D変換器、及びD/A変換器が1つのワ
ンチップマイクロコンピュータに内蔵されていることを
特徴としている。Further, the present invention is characterized in that the first A / D converter, the second A / D converter, and the D / A converter are built in one one-chip microcomputer. There is.
【0006】[0006]
【作用】第1のA/D変換器は、被測定電圧を第1の分
解能に基づいて決定される所定の電圧単位で変換して第
1の変換値を出力する。D/A変換器は、上記第1の変
換値を第1の分解能に基づいて変換して第1の電圧とし
て差動増幅回路に与える。差動増幅回路は、被測定電圧
及び上記第1の電圧を差動入力として所定の増幅率で増
幅して第2の電圧を出力する。第2のA/D変換器は、
上記所定の電圧単位を下回る電圧値に相当する上記第2
の電圧を第2の分解能に基づいて第2の変換値を出力す
る。演算手段は、第1の変換値、第2の変換値及び差動
増幅回路の増幅率から被測定電圧の値を演算することに
より、第1のA/D変換器の第1の分解能よりも高い分
解能で上記被測定電圧に相当するディジタル値を求め
る。The first A / D converter converts the measured voltage in a predetermined voltage unit determined based on the first resolution and outputs the first converted value. The D / A converter converts the first conversion value based on the first resolution and supplies the first conversion value as a first voltage to the differential amplifier circuit. The differential amplifier circuit amplifies the voltage to be measured and the first voltage as a differential input at a predetermined amplification factor and outputs a second voltage. The second A / D converter is
The second corresponding to a voltage value below the predetermined voltage unit
The second converted value is output based on the second resolution based on the second resolution. The calculating means calculates the value of the voltage to be measured from the first conversion value, the second conversion value, and the amplification factor of the differential amplifier circuit, so that the first resolution is higher than the first resolution of the first A / D converter. A digital value corresponding to the measured voltage is obtained with high resolution.
【0007】また、上記第1のA/D変換器、第2のA
/D変換器、及びD/A変換器が1つのワンチップマイ
クロコンピュータに内蔵されている場合には、部品点数
を増やすことなく電圧測定回路を構成することができ
る。The first A / D converter and the second A / D converter
When the / D converter and the D / A converter are built in one one-chip microcomputer, the voltage measuring circuit can be configured without increasing the number of parts.
【0008】[0008]
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明の電圧測定回路の一実施例を示す回
路図であり、図2は、動作フローチャートであり、図3
は、差動増幅回路の特性図である。Next, the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the voltage measuring circuit of the present invention, FIG. 2 is an operation flowchart, and FIG.
FIG. 4 is a characteristic diagram of a differential amplifier circuit.
【0009】端子tx,txは、測定する被測定電圧V
xを入力するための入力端子である。 オペアンプN
1,N2は、それぞれ正負対称の電圧+Vcc,-Vccが電源
として供給されており、出力端子が反転入力端子に接続
されて高入力インピーダンスのバッファ回路を構成して
いる。The terminals tx and tx are the measured voltage V to be measured.
It is an input terminal for inputting x. Operational amplifier N
Positive and negative symmetrical voltages + Vcc and -Vcc are supplied as power supplies to 1 and N2, respectively, and an output terminal is connected to an inverting input terminal to form a high input impedance buffer circuit.
【0010】図中二点鎖線で示す差動増幅回路10は、
動作電源として電圧Vpが供給されるオペアンプN3、
入力抵抗R1,R3,R4、及び帰還抵抗R2によって
構成されている。C1〜C4は、ノイズ防止用コンデン
サである。ここで、上記差動増幅回路10の抵抗値がR
1=R3,R2=R4という関係に設定されていれば、
入出力特性及び増幅率は、それぞれ(1)式及び(2)
式で示される。The differential amplifier circuit 10 shown by the chain double-dashed line in the figure is
An operational amplifier N3 supplied with a voltage Vp as an operating power supply,
It is composed of input resistors R1, R3, R4 and a feedback resistor R2. C1 to C4 are noise prevention capacitors. Here, the resistance value of the differential amplifier circuit 10 is R
If the relationship of 1 = R3, R2 = R4 is set,
The input / output characteristics and the amplification factor are expressed by equation (1) and (2)
It is shown by the formula.
【数1】 (Eo:出力電圧、Ei1:非反転入力電圧、Ei2:反転
入力電圧)(Equation 1) (Eo: output voltage, Ei1: non-inverting input voltage, Ei2: inverting input voltage)
【数2】 (A:増幅率)(Equation 2) (A: amplification rate)
【0011】図中一点鎖線で示すワンチップマイクロコ
ンピュータ20は、それぞれアナログ入力端子t1,t
2に接続された第1のA/D変換器21及び第2のA/
D変換器22と、アナログ出力端子t3に接続されたD
/A変換器23と、これら各部を制御するとともに、後
述する演算動作を実行する制御手段24とを内蔵してい
る。上記制御手段24は、CPU、制御プログラムを内
蔵するROM及びデータを記憶保持するRAMを含む記
憶手段、各部とのデータ及び制御指令の授受を行う周辺
I/F素子等を含むものである。A/D変換器21,2
2、D/A変換器23、制御手段24は、互いにデータ
バスDB、コントロールバスCBによって接続されてい
る。The one-chip microcomputer 20 shown by the one-dot chain line in the figure has analog input terminals t1 and t, respectively.
A first A / D converter 21 and a second A / D connected to
D converter 22 and D connected to the analog output terminal t3
The A / A converter 23 and a control means 24 that controls each of these parts and executes an arithmetic operation to be described later are incorporated. The control means 24 includes a CPU, a storage means including a ROM containing a control program and a RAM for storing and holding data, a peripheral I / F element for exchanging data and control commands with each section. A / D converters 21 and 2
2. The D / A converter 23 and the control means 24 are connected to each other by a data bus DB and a control bus CB.
【0012】なお、本実施例では、A/D変換器21,
22及びD/A変換器23の分解能(ビット幅)Wbを
8ビットとする。また、A/D変換器21,22及びD
/A変換器23の動作電圧を0V及び5Vとする。すな
わち、A/D変換器21,22の入力レンジは0V〜5
Vであり、D/A変換器23の出力レンジは0V〜5V
となる。したがって、上記A/D変換器21,22及び
D/A変換器23は、その動作電圧及び分解能で決定さ
れる単位電圧ΔVでA/D変換及びD/A変換を行う。
ここで、単位電圧ΔVは、5V/256ビット=19.53m
V/ビットとなる。In this embodiment, the A / D converter 21,
22 and the resolution (bit width) Wb of the D / A converter 23 are 8 bits. In addition, A / D converters 21, 22 and D
The operating voltage of the / A converter 23 is 0V and 5V. That is, the input range of the A / D converters 21 and 22 is 0V to 5V.
V, and the output range of the D / A converter 23 is 0V to 5V
Becomes Therefore, the A / D converters 21 and 22 and the D / A converter 23 perform A / D conversion and D / A conversion at the unit voltage ΔV determined by the operating voltage and resolution.
Here, the unit voltage ΔV is 5V / 256 bits = 19.53m
V / bit.
【0013】上記構成によれば、被測定電圧Vxは、バ
ッファN1を経て、ワンチップマイクロコンピュータ2
0のアナログ入力端子t1を通過してA/D変換器21
に供給されるとともに、差動増幅回路10の非反転入力
端子に供給される。一方、ワンチップマイクロコンピュ
ータ20のD/A変換器23の出力電圧は、出力端子t
3を通過してバッファN2を介して差動増幅回路20の
反転入力端子に供給される。差動増幅回路10は、上記
両バッファN1,N2の出力電圧の差分に基づいて所定
の増幅率分増幅した電圧をワンチップマイクロコンピュ
ータ20のアナログ入力端子t2を介してA/D変換器
22に与える。According to the above configuration, the voltage Vx to be measured passes through the buffer N1 and the one-chip microcomputer 2
0 through the analog input terminal t1 and the A / D converter 21
And the non-inverting input terminal of the differential amplifier circuit 10. On the other hand, the output voltage of the D / A converter 23 of the one-chip microcomputer 20 is the output terminal t
3 and is supplied to the inverting input terminal of the differential amplifier circuit 20 via the buffer N2. The differential amplifier circuit 10 outputs to the A / D converter 22 via the analog input terminal t2 of the one-chip microcomputer 20, the voltage amplified by a predetermined amplification rate based on the difference between the output voltages of the buffers N1 and N2. give.
【0014】次に、図1の回路図及び図2のフローチャ
ートを参照して電圧測定回路の動作について説明する。
入力端子tx,txには、被測定電圧Vxが印加されて
いるものとする。まず、制御部24は、バッファN1か
ら出力される被測定電圧Vxをアナログ入力端子t1経
由で入力しているA/D変換器21にA/D変換動作の
開始をコントロールバスCBを介して指令する(ステッ
プS1)。Next, the operation of the voltage measuring circuit will be described with reference to the circuit diagram of FIG. 1 and the flowchart of FIG.
It is assumed that the measured voltage Vx is applied to the input terminals tx and tx. First, the control unit 24 commands the A / D converter 21 receiving the measured voltage Vx output from the buffer N1 via the analog input terminal t1 to start the A / D conversion operation via the control bus CB. Yes (step S1).
【0015】制御部24は、上記A/D変換器21によ
るA/D変換動作が終了すると、A/D変換器21から
出力される第1の変換値d1を記憶手段に保持する(ス
テップS2)。When the A / D conversion operation by the A / D converter 21 is completed, the control unit 24 holds the first conversion value d1 output from the A / D converter 21 in the storage means (step S2). ).
【0016】この際、A/D変換器21は、前述した単
位電圧ΔV(19.53mV/ビット)で変換を行う。したがっ
て、上記電圧単位を下回る量子化誤差に相当する誤差電
圧Veは切り捨てられる。At this time, the A / D converter 21 performs conversion with the unit voltage ΔV (19.53 mV / bit) described above. Therefore, the error voltage Ve corresponding to the quantization error below the voltage unit is truncated.
【0017】次に、制御部24は、上記第1の変換値d
1をD/A変換器23にデータバスDBを介して供給す
るとともに、上記D/A変換器23に対してD/A変換
動作の開始を指令する(ステップS3)。Next, the control section 24 controls the first conversion value d.
1 is supplied to the D / A converter 23 via the data bus DB and the D / A converter 23 is instructed to start the D / A conversion operation (step S3).
【0018】したがって、D/A変換器23は、前述し
た単位電圧ΔVでD/A変換を行って生成したアナログ
電圧Va1をアナログ出力端子t3から出力する(ステッ
プS4)。Therefore, the D / A converter 23 outputs from the analog output terminal t3 the analog voltage Va1 generated by performing the D / A conversion with the unit voltage ΔV described above (step S4).
【0019】このアナログ電圧Va1は、バッファN2を
介して差動増幅回路10の反転入力端子に供給される。
このとき、差動増幅回路10の非反転入力端子には、バ
ッファN1を介して被測定電圧Vxが供給されている。The analog voltage Va1 is supplied to the inverting input terminal of the differential amplifier circuit 10 via the buffer N2.
At this time, the non-inverting input terminal of the differential amplifier circuit 10 is supplied with the measured voltage Vx via the buffer N1.
【0020】したがって、差動増幅回路10は、被測定
電圧Vxから電圧Va1を差し引いた差分の電圧(ステッ
プS2で説明した誤差電圧Veに相当する)が増幅され
て第2の電圧Va2として出力される。この電圧Va2がA
/D変換器22に入力される(ステップS5)。上記差
動増幅回路10の増幅率Aと上記誤差電圧Veとの関係
については、後述する。Therefore, the differential amplifier circuit 10 amplifies the difference voltage obtained by subtracting the voltage Va1 from the measured voltage Vx (corresponding to the error voltage Ve described in step S2) and outputs it as the second voltage Va2. It This voltage Va2 is A
It is input to the / D converter 22 (step S5). The relationship between the amplification factor A of the differential amplifier circuit 10 and the error voltage Ve will be described later.
【0021】ここで、制御部24は、A/D変換器22
にA/D変換動作の開始を指令する(ステップS6)。
その結果、A/D変換器22は、A/D変換結果である
第2の変換値d2を制御部24に入力する(ステップS
7)。The control unit 24 controls the A / D converter 22.
To start the A / D conversion operation (step S6).
As a result, the A / D converter 22 inputs the second conversion value d2, which is the A / D conversion result, to the control unit 24 (step S
7).
【0022】次いで、制御部24は、既に記憶手段に保
持している第1の変換値d1と、上記A/D変換器22
から供給された第2の変換値d2とから以下に示す
(3)式に基づいて被測定電圧Vxに相当するディジタ
ル電圧値Vdxを演算し(ステップS8)、その電圧値V
dxに基づいて所定の処理を実行し(ステップS9)、一
連の測定動作が終了する。Next, the control unit 24 controls the first conversion value d1 already stored in the storage means and the A / D converter 22.
A digital voltage value Vdx corresponding to the measured voltage Vx is calculated from the second conversion value d2 supplied from the above based on the following equation (3) (step S8), and the voltage value V
Predetermined processing is executed based on dx (step S9), and a series of measurement operations ends.
【0023】ここで、電圧値Vdxの算出式について説明
する。差動増幅回路10の電源電圧を0V及び5Vとす
ると、2.5Vを基準電圧として出力電圧が生成され
る。すなわち、非反転端子の入力電圧から反転端子の入
力電圧を差し引いた差分の電圧が0Vのときに出力電圧
は2.5Vとなる。A/D変換器22は、その動作電圧
が0V,5Vであり、分解能が8ビットであるため、ア
ナログ入力電圧が2.5Vのときに、ディジタル出力値
は“FFH”の1/2である“80H”(128D)と
なる。したがって、電圧値Vdxは、下記(3)式で示さ
れる。Now, the formula for calculating the voltage value Vdx will be described. When the power supply voltage of the differential amplifier circuit 10 is 0 V and 5 V, the output voltage is generated with 2.5 V as the reference voltage. That is, when the difference voltage obtained by subtracting the input voltage of the inverting terminal from the input voltage of the non-inverting terminal is 0V, the output voltage is 2.5V. The A / D converter 22 has operating voltages of 0V and 5V and a resolution of 8 bits, so that the digital output value is 1/2 of "FFH" when the analog input voltage is 2.5V. It becomes "80H" (128D). Therefore, the voltage value Vdx is expressed by the following equation (3).
【数3】 (Equation 3)
【0024】次に、図3を参照して、誤差電圧Veと差
動増幅回路10の増幅率Aとの関係について説明する。
図3は、横軸に差動増幅回路10の差動入力電圧(Ei1
−Ei2)をとり、縦軸に出力電圧Eo及びA/D変換器
22の出力値をとった特性図である。図示するように、
差動増幅回路10の差動入力電圧として必要な動作範囲
は、0Vを中心として単位電圧ΔVの幅を有していれば
よい。Next, the relationship between the error voltage Ve and the amplification factor A of the differential amplifier circuit 10 will be described with reference to FIG.
In FIG. 3, the horizontal axis represents the differential input voltage (Ei1
-Ei2) is taken, and the vertical axis represents the output voltage Eo and the output value of the A / D converter 22. As shown
The operating range required for the differential input voltage of the differential amplifier circuit 10 may have a width of the unit voltage ΔV with 0 V as the center.
【0025】また、A/D変換器22が誤差電圧Veを
変換する際の分解能を広くとるためには、差動増幅回路
10の増幅率Aは、オペアンプN3の出力電圧の直線性
が保証された範囲内において、上記差動入力電圧の動作
範囲で可能な限り大きく設定することが好ましい。Further, in order for the A / D converter 22 to have a wide resolution when converting the error voltage Ve, the amplification factor A of the differential amplifier circuit 10 ensures the linearity of the output voltage of the operational amplifier N3. Within the above range, it is preferable to set as large as possible in the operating range of the differential input voltage.
【0026】上述したように、本実施例によれば、被測
定電圧VxをA/D変換器22により8ビットの分解能
で測定する。この際、8ビットの分解能によって定めら
れる単位電圧ΔVの単位で第1の変換値d1が測定され
る。次いで、上記単位電圧ΔVを下回る誤差電圧Veを
増幅率Aの差動増幅回路10によって増幅して8ビット
のA/D変換器23でディジタル変換して第2の変換値
d2が測定される。制御部24は、第1の変換値d1、
第2の変換値d2、及び増幅率Aに基づいて被測定電圧
Vxに対応する電圧値Vdxを、第1のA/D変換器21
のビット幅である8ビットを上回る分解能で求めること
ができる。As described above, according to this embodiment, the measured voltage Vx is measured by the A / D converter 22 with 8-bit resolution. At this time, the first conversion value d1 is measured in the unit of the unit voltage ΔV determined by the 8-bit resolution. Next, the error voltage Ve below the unit voltage ΔV is amplified by the differential amplifier circuit 10 with the amplification factor A and digitally converted by the 8-bit A / D converter 23, and the second conversion value d2 is measured. The control unit 24 controls the first conversion value d1,
Based on the second conversion value d2 and the amplification factor A, the voltage value Vdx corresponding to the measured voltage Vx is converted into the first A / D converter 21.
Can be obtained with a resolution higher than 8 bits, which is the bit width of.
【0027】なお、第1のA/D変換器21と第2のA
/D変換器22との分解能(ビット幅Wb)は異なって
いてもよいが、第1のA/D変換器21とD/A変換器
23との分解能は一致させる必要がある。また、第1の
A/D変換器21及び第2のA/D変換器22の分解能
は、8ビットに限定されるものではない。The first A / D converter 21 and the second A / D converter 21
The resolution (bit width Wb) of the A / D converter 22 may be different, but the resolutions of the first A / D converter 21 and the D / A converter 23 need to match. Further, the resolution of the first A / D converter 21 and the second A / D converter 22 is not limited to 8 bits.
【0028】本実施例では、A/D変換器21,22及
びD/A変換器23を内蔵するワンチップマイクロコン
ピュータ20を用いたので、部品点数を増やすことなく
安価に電圧測定回路構成することができるが、上記各変
換器21,22,23を個別のICで構成してもよいこ
とはもちろんである。In this embodiment, since the one-chip microcomputer 20 incorporating the A / D converters 21, 22 and the D / A converter 23 is used, the voltage measuring circuit can be constructed inexpensively without increasing the number of parts. However, it goes without saying that each of the converters 21, 22, and 23 may be composed of an individual IC.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の電圧測定
回路によれば、第1のA/D変換器は、被測定電圧を第
1の分解能に基づいて決定される所定の電圧単位で変換
して第1の変換値を出力する。D/A変換器は、上記第
1の変換値を第1の分解能に基づいて変換して第1の電
圧として差動増幅回路に与える。差動増幅回路は、被測
定電圧及び上記第1の電圧を差動入力として受け入れて
所定の増幅率で増幅して第2の電圧を出力する。第2の
A/D変換器は、上記所定の電圧単位を下回る電圧値に
相当する上記第2の電圧を第2の分解能に基づいて第2
の変換値を出力する。 したがって、演算手段は、第1
の変換値、第2の変換値及び差動増幅回路の増幅率から
被測定電圧の値を演算することにより、第1のA/D変
換器の第1の分解能よりも高い分解能で上記被測定電圧
のディジタル値を求めることができる。As described above in detail, according to the voltage measuring circuit of the present invention, the first A / D converter has the predetermined voltage unit in which the measured voltage is determined based on the first resolution. And outputs the first converted value. The D / A converter converts the first conversion value based on the first resolution and supplies the first conversion value as a first voltage to the differential amplifier circuit. The differential amplifier circuit receives the measured voltage and the first voltage as a differential input, amplifies the voltage with a predetermined amplification factor, and outputs a second voltage. The second A / D converter outputs the second voltage corresponding to a voltage value lower than the predetermined voltage unit to the second voltage based on the second resolution.
Output the converted value of. Therefore, the calculation means is the first
By calculating the value of the voltage to be measured from the converted value, the second converted value, and the amplification factor of the differential amplifier circuit, with a resolution higher than the first resolution of the first A / D converter. A digital value of voltage can be obtained.
【0030】また、上記第1のA/D変換器、第2のA
/D変換器、及びD/A変換器が1つのワンチップマイ
クロコンピュータに内蔵されている場合には、部品点数
を増やすことなく、安価に電圧測定回路を構成すること
ができる。The first A / D converter and the second A / D converter
When the / D converter and the D / A converter are built in one one-chip microcomputer, the voltage measurement circuit can be configured at low cost without increasing the number of parts.
【図1】本発明の電圧測定回路の一実施例を示す回路図
である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a voltage measuring circuit of the present invention.
【図2】同実施例における動作フローチャートである。FIG. 2 is an operation flowchart in the embodiment.
【図3】同実施例における差動増幅回路の特性図であ
る。FIG. 3 is a characteristic diagram of the differential amplifier circuit in the example.
10 差動増幅回路 21 第1のA/D変換器 22 第2のA/D変換器 23 D/A変換器 24 制御部(演算手段) tx 入力端子 Vx 被測定電圧 10 differential amplifier circuit 21 1st A / D converter 22 2nd A / D converter 23 D / A converter 24 control part (arithmetic means) tx input terminal Vx measured voltage
Claims (2)
従って変換する第1のA/D変換器と、 前記第1のA/D変換器が出力する変換値を前記第1の
分解能に従って変換するD/A変換器と、 前記入力端子に印加された被測定電圧及び前記D/A変
換器の出力電圧を差動入力として所定の増幅率で増幅す
る差動増幅回路と、 前記差動増幅回路の出力電圧を第2の分解能に従って変
換する第2のA/D変換器と、 前記第1のA/D変換器から出力される第1の変換値
と、前記第2のA/D変換器から出力される第2の変換
値と、前記差動増幅回路の所定の増幅率とに基づいて前
記被測定電圧に対応するディジタル値を算出する演算手
段とを有すること、 を特徴とする電圧測定回路。1. An input terminal for inputting a measured voltage, a first A / D converter for converting the measured voltage applied to the input terminal according to a first resolution, and the first A / D converter. A D / A converter for converting the converted value output from the D / D converter according to the first resolution, and the measured voltage applied to the input terminal and the output voltage of the D / A converter as differential inputs. A differential amplifier circuit that amplifies with a predetermined amplification factor, a second A / D converter that converts an output voltage of the differential amplifier circuit according to a second resolution, and an output from the first A / D converter Corresponding to the voltage to be measured based on a first converted value, a second converted value output from the second A / D converter, and a predetermined amplification factor of the differential amplifier circuit. A voltage measuring circuit, comprising: an arithmetic means for calculating a digital value.
器、及びD/A変換器は、1つのワンチップマイクロコ
ンピュータに内蔵されていることを特徴とする請求項1
記載の電圧測定回路。2. The first A / D converter, the second A / D converter, and the D / A converter are incorporated in one one-chip microcomputer.
The voltage measurement circuit described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18796295A JPH0915272A (en) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | Voltage measuring circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18796295A JPH0915272A (en) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | Voltage measuring circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0915272A true JPH0915272A (en) | 1997-01-17 |
Family
ID=16215212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18796295A Pending JPH0915272A (en) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | Voltage measuring circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0915272A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007155538A (en) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Kodai Hitec:Kk | Device for applying/measuring current-voltage, and semiconductor inspection device |
| CN1324320C (en) * | 2004-04-07 | 2007-07-04 | 威盛电子股份有限公司 | Multi-group DC signal conversion digital signal device |
| US8866989B2 (en) | 2009-06-11 | 2014-10-21 | Apple Inc. | Portable computer display structures |
| US9069525B2 (en) | 2009-11-10 | 2015-06-30 | Apple Inc. | Methods for fabricating display structures |
| US12267449B2 (en) | 2022-03-03 | 2025-04-01 | Apple Inc. | Handheld electronic device |
-
1995
- 1995-06-30 JP JP18796295A patent/JPH0915272A/en active Pending
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| US10353432B2 (en) | 2009-06-11 | 2019-07-16 | Apple Inc. | Portable computer display structures |
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| US9575354B2 (en) | 2009-11-10 | 2017-02-21 | Apple Inc. | Methods for fabricating display structures |
| US10261540B2 (en) | 2009-11-10 | 2019-04-16 | Apple Inc. | Methods for fabricating display structures |
| US10983390B2 (en) | 2009-11-10 | 2021-04-20 | Apple Inc. | Methods for fabricating display structures |
| US12267449B2 (en) | 2022-03-03 | 2025-04-01 | Apple Inc. | Handheld electronic device |
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