JPH0916072A

JPH0916072A - 検査装置

Info

Publication number: JPH0916072A
Application number: JP18981695A
Authority: JP
Inventors: Kazunori Kita; 一記喜多
Original assignee: Casio Computer Co Ltd
Current assignee: Casio Computer Co Ltd
Priority date: 1995-07-03
Filing date: 1995-07-03
Publication date: 1997-01-17

Abstract

(57)【要約】【課題】簡便、かつ、容易に自身の知能程度、痴呆傾
向あるいは適性を判定することができる検査装置を実現
する。【解決手段】入力操作部２の操作に応じて検査問題発
生部１２が発生系２０〜６０のいずれかを動作させ、動
作指示された発生系２０〜６０では、設問レジスタ１２
ｂの内容に応じて乱数発生回路１２ｃが乱数を発生し、
発生した乱数に基づいて対応するメモリから数系列、図
形系列あるいは設問文章を読み出して検査問題や解答を
生成する。被験者がキー操作により回答すると、その回
答操作が得点集計部１３にて得点集計および評価がなさ
れて検査結果が表示部３に表示される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、知能検査や精神機
能検査、あるいは性格傾向、職業適正などを極めて容易
に判定し得る検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、一般知能を測定検査する際に
は、「個別式ビネー法」、「団体式Ａ式（言語使用検
査）」および「団体式Ｂ式（非言語検査）」等の一般知
能テストが知られている。また、精神神経科などの医療
分野での診断検査としては、「ＷＡＩＳ（ウェクスラー
成人知能検査）」や「三宅式記銘検査」などの記憶スケ
ール系一般知能検査、あるいは「コース立方体テス
ト」、「ＢＧＴ」および「ベントンテスト」等の視覚運
動テスト系一般知能検査が知られている。

【０００３】これら知能検査の種類は、１５０種前後存
在すると言われている位、各種の検査方法が確立されて
いるが、一般的には就学児童に実施する知能テストや、
企業の就職採用試験の一環として施される知能検査およ
び職業適正検査が主体となっている。一般的な知能検査
では、「推理判断力」、「敏速な処理能力」、「空間判
断力」および「記憶力」を評価するための複数の設問を
用意し、これら設問に対応する解答の得点集計により、
知能指数（ＩＱ値）を個別に判定したり、集団で判定す
るものが殆どである。

【０００４】こうした知能検査は、周知のように、被験
者に対してテスト問題用紙の形態で提供され、制限時間
内に筆記具を用いて解答作業を行う。そして、試験者は
回収した解答用紙を採点し、これを集計して知能指数や
知能偏差値などの指標を算出して各個人の知能レベルや
職業適正などを判断する際の判断材料としている。

【０００５】また、近年の著しい高齢化に伴い、アルツ
ハイマー型痴呆や脳血管性痴呆など加齢に伴う老人性痴
呆症が増加しつつあり、痴呆老人用の知能検査の必要性
も高まっているが、このような症状を呈する被験者に対
しては上述した一般知能検査が適用し難い場合が多い。
そこで、痴呆傾向を判定する為に、「長谷川式簡易知的
機能スケール」あるいは「国立精研式痴呆スクリーニン
グテスト」等で知られる質問形式の老人用痴呆尺度や、
アンケート形式の行動評価尺度および精神症状評価尺度
が確立されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した各
種知能検査、痴呆傾向評価あるいは適性検査は、言うま
でもなく専門家による判断が必要であり、一般人が日常
で簡便、かつ、容易に自身の知能程度、痴呆傾向あるい
は適性を知り得るようにしたものではない。そこで、本
発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、簡便、
かつ、容易に自身の知能程度、痴呆傾向あるいは適性を
判定することができる検査装置を提供することを目的と
している。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明では、入力操作に応じて複数
の知能検査項目のいずれかを指定する検査項目指定手段
と、この検査項目指定手段が指定する知能検査項目に対
応する知能検査問題およびその解答を発生する問題発生
手段と、前記知能検査問題に対する回答操作に応じて前
記解答を参照して採点すると共に、得点集計して評価結
果を生成する得点評価手段とを具備することを特徴とし
ている。

【０００８】好ましい態様としては、請求項２に記載の
発明によれば、前記問題記憶手段は、数列系列問題を発
生する複数の数列式と、図形系列問題を発生する複数の
図形データとを有することを特徴とする。

【０００９】さらに、請求項３に記載の発明によれば、
前記得点評価手段は、集計した得点を時系列に記憶する
得点記憶手段を備え、この得点記憶手段から読み出した
過去の得点と現在の得点とを比較して相対評価すること
を特徴とする。また、請求項４に記載の発明では、前記
得点評価手段は、予め各種検査問題に対応する複数の評
価尺度を記憶しておき、前記検査項目指定手段が指定し
た知能検査問題に対応する評価尺度を読み出して得点評
価することを特徴とする。

【００１０】本発明では、検査項目指定手段が入力操作
に応じて複数の知能検査項目のいずれかを指定すると、
問題発生手段がこの検査項目指定手段により指定された
検査項目に対応する知能検査問題と解答とを発生し、得
点評価手段が知能検査問題に対する回答操作に応じて前
記解答を参照して採点すると共に、得点集計して評価結
果を生成する。この結果、一般人であっても日常的に簡
便、かつ、容易に自身の知能程度、痴呆傾向あるいは適
性を判定することが可能になる。

【００１１】

【発明の実施の形態】本発明による検査装置は、電子手
帳や所謂、電卓などの携帯型電子装置に適用され得る。
以下では、本発明の実施の形態である携帯型電子装置を
実施例として図面を参照して説明する。Ａ．実施例の外観図１は、本発明の一実施例によるカード型の検査装置１
の外観を示す図である。この図において、２は置数操作
される各キー２ａ〜２ｄから構成される入力操作部であ
り、各キー２ａ〜２ｄはそれぞれ置数操作に応じた操作
信号を発生する。ここで、２ａは出題問題の種類を選択
したり、検査モードを選択する選択キーである。なお、
ここでいう検査モードとは、知能検査の内容（種別）を
指す。２ｂは英数字などを置数入力するテンキー、２ｃ
は解答操作キー、２ｄは解除／入力キーである。３はＬ
ＣＤ（液晶表示素子）から構成される表示部である。こ
の表示部３は、問題文が表示される問題表示領域３ａと
設問が表示される設問表示領域３ｂとを備えている。

【００１２】Ｂ．実施例の構成次に、図２を参照して上記外観による検査装置１の構成
について説明する。この検査装置１は、大別して「制御
回路１０」、「計時部１１」、「検査問題発生部１
２」、「得点集計部１３」、「演算部１４」および「表
示制御部１５」から形成されており、以下これら各部に
ついて説明する。まず、制御部１０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ
およびＲＡＭから構成され、上述した入力操作部２にお
いてなされる各キー各キー２ａ〜２ｄの置数操作に応じ
た制御信号を発生して装置各部を制御する。

【００１３】計時部１１の構成計時部１１は構成要素１１ａ〜１１ｅから形成されて日
付・時刻信号およびタイマー残時間信号を発生する。こ
の計時部１１において、１１ａは原振パルス信号を出力
する発振回路、１１ｂは原振パルス信号を分周して計時
クロック信号ＣＫを発生する分周回路である。この計時
クロック信号ＣＫは、後段の計時回路１１ｃに供給され
る一方、制御部１０の動作クロックとしても用いられ
る。計時回路１１ｃは、計時クロック信号ＣＫに応じて
タイマクロックＴＭや時刻信号を発生する。１１ｄは時
刻・日付回路であり、周知のカレンダー機能を有し、計
時回路１１ｃから供給される時刻信号に基づき現在時刻
および日付を表わすデータを発生する。１１ｅはタイマ
ー回路であり、設定されたタイマー時間までの残存時間
をタイマクロックＴＭに基づき逐次ダウンカウントして
タイマー残時間を発生する。

【００１４】検査問題発生部１２の構成検査問題発生部１２は、構成要素１２ａ〜１２ｉから形
成され、質問文とこれに対応する設問を発生すると共
に、その解答を発生する。検査問題発生部１２におい
て、１２ａは知能検査制御回路である。知能検査制御回
路１２ａは、入力操作部２のモード選択操作に応じて制
御回路１０から供給される信号に従って動作セット信号
を発生する。この動作セット信号は、後段の設問レジス
タ１２ｂに供給される一方、後述する得点集計部１３側
にも入力されるようになっており、それぞれ動作モード
を指定する。設問レジスタ１２ｂでは、動作セット信号
に基づき指定される知能検査の問題数や問題形態を指定
するデータを保持して次段へ出力する。

【００１５】１２ｃは乱数発生回路であり、設問レジス
タ１２ｂが出力する問題数データに対応する設問数分の
乱数を発生する。なお、乱数発生に際しては周知のラン
ダマイズ関数など用いられる。１２ｄは数列・図形系列
発生回路である。この回路１２ｄは、設問レジスタ１２
ｂが出力する問題形態指定データに対応した問題を生成
する為の数列発生式を、数列式メモリ１２ｅから読み出
す一方、読み出した数列発生式に乱数を代入して数列・
図形系列を表わす数列・図形系列データを発生する。数
列式メモリ１２ｅには、予め各問題形態に対応した複数
の数列発生式がテーブル記憶されており、問題形態指定
データに応じた数列発生式が読み出される。

【００１６】１２ｆは、前段から供給される数列・図形
系列データを設問内容（設問パターン）に変換して出力
する設問内容発生回路である。この設問内容発生回路１
２ｆでは、図形・語句メモリ１２ｇに記憶される設問パ
ターンを数列・図形系列データに応じて検索抽出する。
１２ｈは問題文作成回路であり、設問内容発生回路１２
ｆが発生する設問パターンに応じた問題文や設問を生成
して出力する。１２ｉは設問パターンに基づいて対応す
る解答データとその配点データとを生成する解答配点生
成回路である。

【００１７】得点集計部１３の構成得点集計部１３は、構成要素１３ａ〜１３ｉから構成さ
れ、上記検査問題発生部１２により生成された設問に対
する回答を採点し、その得点を集計して検査結果を出力
する。得点集計部１３において、１３ａは回答入力レジ
スタであり、検査問題発生部１２側から動作セット信号
が供給された状態で一定時間内に解答操作キー２ｃが操
作された場合、そのキー操作信号をラッチして出力す
る。１３ｂは正解・配点レジスタであり、上述した解答
・配点生成回路１２ｉから出力される解答データおよび
配点データを一時記憶する。１３ｃは上記レジスタ１３
ａ，１３ｂの両データを比較して回答操作の正否を判断
する照合回路であり、正解の時には対応する配点データ
を次段へ出力する。

【００１８】１３ｄは上述した動作セット信号が供給さ
れている状態で、前段から配点データが供給された場合
に得点集計して出力する得点集計回路である。１３ｅは
得点データファイルであり、得点集計回路１３ｄの出力
を記憶する。１３ｆは評価尺度指標算出部である。この
評価尺度指標算出部１３ｆは、得点集計結果を知能指数
等の評価尺度に変換して評価データファイル１３ｇに記
憶する。１３ｈは時系列成績作成回路であり、時刻・日
付回路１１ｄの出力に成績（得点）を付与してなる時系
列生成を作成して時系列ファイル１３ｉに書き込む。１
３ｊはファイル管理制御回路であり、上述した各ファイ
ル１３ｅ，１３ｇ，１３ｉをそれぞれ更新集計する。こ
のファイル管理制御回路１３ｊは、制御回路１０の指示
の下に、上記各ファイル１３ｅ，１３ｇ，１３ｉから過
去の任意の得点や評価などの履歴を読み出して表示部３
へ再生出力し得るようになっている。

【００１９】演算部１４の構成演算部１４は、構成要素１４ａ〜１４ｇから構成され、
上記得点集計部１３において生成された知能検査結果に
基づき知能指数（ＩＱ値）や偏差値などを発生する一
方、本実施例の場合、卓上計算機としての機能をも具現
している。この演算部１４において、１４ａはテンキー
２ｂの置数入力に応じた数値が一時記憶される置数入力
レジスタ、１４ｂはこの置数入力レジスタ１４ａに前回
置数入力された被演算数値を一時記憶する被演算数レジ
スタである。１４ｃは、加減乗除を指定する四則演算コ
マンドがセットされる演算コマンドレジスタである。１
４ｄ，１４ｅは、それぞれ上記レジスタ１４ａ，１４ｂ
あるいは上述したファイル管理制御回路１３ｊから供給
される数値を一時記憶するＸ，Ｙレジスタである。１４
ｆはこれらレジスタＸ，Ｙの値を、演算コマンドレジス
タ１４ｃの内容あるいはファイル管理制御回路１３ｊの
指示の下に演算する演算回路である。１４ｇはこの演算
回路１４ｆの出力を一時記憶する演算結果レジスタであ
る。

【００２０】表示制御部１５の構成表示制御部１５は、ＬＣＤドライバ等を備え、制御回路
１０の指示に応じて前述した各部１１〜１４の出力を表
示部３に表示させべく表示制御する。すなわち、制御回
路１０が時計モードである時には、表示部３に「日付・
時刻」を表示させ、検査モードである時には「タイマー
残時間」や、「問題文および設問」あるいは「解答」を
表示させる。また、得点集計モード下では、「回答」、
「得点」、「評価」および「時系列成績（あるいはファ
イルデータ）」を表示させる。さらに、演算モードで
は、「演算結果」や「置数入力」の値を表示するように
なっている。

【００２１】Ｃ．検査問題発生部１２の動作次に、上記構成による検査装置１の検査問題発生動作に
ついて説明する。なお、ここでは、上述した検査問題発
生部１２が動作主体となる訳であるが、この発生部１２
は「関連思考」、「直感的知覚」および「推理能力」等
を検査する一般的知能検査の他、性格検査（向性検査）
のための問題を生成する複数の機能を有している。そこ
で、説明の簡略化を図るため、動作主体を各機能毎に分
け、その機能構成について述べながら動作説明して行く
ものとする。

【００２２】（１）数系列問題発生系２０の機能構成お
よび動作数系列問題とは、ある一定の規則に従って配列された数
列の変化を見て、その数列中に置かれる括弧内に入るべ
き数値を推理する問題であり、推理判断力を検査する際
に用いられる。こうした数系列問題は、図３に示す数系
列問題発生系１２−１により作成される。なお、図３に
おいて、図２に示す要素と共通する部分には同一の番号
を付している。

【００２３】図３において、２１は列数レジスタであ
り、設問レジスタ１２ｂから供給されるデータと、乱数
発生回路１２ｃから供給されるデータとに応じて後述す
る要素２４、２５および問題作成回路１２ｈを制御す
る。つまり、乱数発生に応じて所定の数列発生式が定ま
る毎に数列演算と、これに対応する問題文作成を指示す
るようにしている。２２は初期値レジスタであり、乱数
に応じて指定された数列発生式に対応する初期値を一時
記憶して後述する数列演算回路２４に供給する。２３は
定数設定レジスタであり、乱数発生回路１２ｃから乱数
発生される定数Ａ〜Ｄをストアし、後述する数列演算回
路２４に供給する。数列演算回路２４は、乱数発生に応
じて数列式メモリ１２ｅから読み出される数列発生式
に、上記レジスタ２２，２３にそれぞれセットされる初
期値および定数値を代入して所定項までの数系列を発生
する。２５はこの回路２４が発生した所定項までの数系
列を保持する数系列メモリである。

【００２４】このような構成によれば、入力操作部２の
操作に応じて数系列問題発生系２０が指定されると、設
問レジスタ１２ｂの内容に応じて乱数発生回路１２ｃが
乱数を発生し、発生した乱数に基づいて数列式メモリ１
２ｅから所定の数列発生式を指定して読み出す。また、
乱数発生回路１２ｃは、指定した数列発生式に対応する
初期値を初期値レジスタ２２にセットする一方、定数設
定レジスタ２３に定数をセットする。これにより、数列
演算回路２４が数列式メモリ１２ｅから読み出される数
列発生式に、上記レジスタ２２，２３にそれぞれセット
される初期値および定数値を代入して所定項までの数系
列を発生し、数系列メモリ２５がそれを保持する。そし
て、問題作成回路１２ｈが図４に示すように、所定の項
の数値を括弧に置換してなる問題を発生する。ここで、
括弧で置換した数値が解答になる訳である。

【００２５】例えば、いま、乱数発生に応じて数列式メ
モリ１２ｅの１式が選択され、かつ、初期値としてｘ₁
が「１」、定数Ａが「２」とされた場合、生成される数
列は、「１，３，５，７，９，１１」となり、この内か
ら第３項および第６項の数値を括弧で置換した設問
「１，３，（），７，９，（）」が前述した表示部
３の設問表示領域３ｂに表示されることになる。そし
て、この設問に対して一定時間以内に回答操作がなされ
ると、次の設問が発生され、以後これを一定出題数分行
うと、前述した得点集計部１３が検査結果を集計して評
価結果を表示部３に表示する。

【００２６】（２）図形系列問題発生系３０の機能構成
および動作図形系列問題とは、ある一定の規則により変化する複数
の図形列を見て、その列中に置かれる括弧内に入るべき
図形を推理する問題であり、推理判断力を検査する際に
用いられる。こうした図形列問題は、図５に示す第１図
形系列問題発生系３０−１と、図７に示す第２図形系列
問題発生系３０−２とにより作成される。

【００２７】第１図形系列問題発生系３０−１の機能
構成図５を参照して発生系３０−１の機能構成について説明
する。この図に示す発生系３０−１は、ある一定の規則
で変化する図形列中の図形を推理する問題を生成する。
この図において、図２および図３に図示した要素と共通
する部分には同一の番号を付し、その説明を省略する。
３１は図形系列発生式メモリであり、図形の種別を表わ
す関数ｆ（ｋ）と図形の系列を表わす関数ｘ（ｋ）とが
テーブル記憶されると共に、これら関数ｆ（ｋ），ｘ
（ｋ）の初期値が対応付けて記憶される。このメモリ３
１では、乱数発生回路１２ｃから供給される乱数ｋに対
応した図形種別ｆ（ｋ）、図形系列ｘ（ｋ）が定まる一
方、定められた図形種別ｆ（ｋ）、図形系列ｘ（ｋ）に
対応する初期値ｆ₁〜ｆ₃およびｘ₁〜ｘ₃が指定される。

【００２８】３２は上記初期値ｆ₁〜ｆ₃およびｘ₁〜ｘ₃
を一時記憶する初期値レジスタである。定数レジスタ２
３には、前述と同様に乱数発生により定められる定数が
格納される。３３は図形データメモリであり、上述した
図形種別ｆ（ｋ）および図形系列ｘ（ｋ）で指定される
図形を発生するための図形データが記憶される。３４は
図形系列発生回路である。この回路３４は、図形系列発
生式メモリ３１の出力とレジスタ３２，２３の各出力と
に応じて対応する図形データを図形データメモリ３３か
ら読み出して図形系列データを発生する。３５はこの図
形系列データを一時記憶する図形系列メモリである。

【００２９】上記構成によれば、入力操作部２の操作に
応じて図形系列問題発生系３０−１が指定されると、設
問レジスタ１２ｂの内容に応じて乱数発生回路１２ｃが
乱数ｋを発生し、図形系列発生式メモリ３１がこの乱数
ｋに対応する図形種別ｆ（ｋ）および図形系列ｘ（ｋ）
を発生する一方、この図形種別ｆ（ｋ）、図形系列ｘ
（ｋ）に対応する初期値ｆ₁〜ｆ₃およびｘ₁〜ｘ₃がレジ
スタ３２，２３にセットされる。これにより、図形系列
発生回路３４が図形種別ｆ（ｋ）、図形系列ｘ（ｋ）お
よびレジスタ３２，２３の値に基づいて図形データメモ
リ３３から対応する図形データを読み出して図形系列メ
モリ３５にストアする。そして、問題作成回路１２ｈが
図６に示すように、所定の図形を括弧に置換してなる問
題を発生する。ここで、括弧で置換した図形が解答にな
る訳である。そして、この設問に対して一定時間以内に
回答操作がなされると、次の設問が発生され、以後これ
を一定出題数分行われると、前述した得点集計部１３が
検査結果を集計して評価結果を表示部３に表示する。

【００３０】第２図形系列問題発生系３０−２の機能
構成次に、図７に示す第２図形系列問題発生系３０−２で
は、図形が並べられる順序から周期的な規則性を推測す
る関係思考検査の問題を発生する。この発生系３０−２
が上記発生系３０−１と異なる点は、図形系列を周期的
に配列することにある。すなわち、図形系列発生式メモ
リ３１には、乱数ｋに応じて周期性を持つ図形系列を指
定する式が格納されている。例えば、１式には３個の図
形ｇ₁〜ｇ₃を繰り返し配列するための発生式が登録され
ている。このｇ₁〜ｇ₃は乱数ｋに対応してそれぞれ初期
値レジスタ３２にストアされる値であり、図形データメ
モリ３３に記憶される図形種類を指定する。

【００３１】このような構成において、入力操作部２の
操作に応じて図形系列問題発生系３０−２が指定された
場合、設問レジスタ１２ｂの内容に応じて乱数発生回路
１２ｃが乱数ｋを発生すると、図形系列発生式メモリ３
１がこの乱数ｋに対応する周期の図形系列を発生する一
方、その図形系列を形成する各種図形を指定するための
初期値がレジスタ３２にセットされる。これにより、図
形系列発生回路３４は、レジスタ３２の値に基づいて図
形データメモリ３３から対応する図形データを読み出し
て周期性のある図形系列を生成する。生成された図形系
列は、問題作成回路１２ｈを介して図８に示すように、
所定の図形を括弧に置換してなる問題を発生する。そし
て、この設問に対して一定時間以内に回答操作がなされ
ると、次の設問が発生され、以後これを一定出題数分行
うと、前述した得点集計部１３が検査結果を集計して評
価結果を表示部３に表示する。

【００３２】（３）置換図形問題発生系４０の機能構成
および動作置換図形問題とは、直感的知覚を検査するものであり、
複数の図形に各々文字（あるいは数字／記号）を対応つ
けて一定時間表示させて被験者に記憶させ、その表示パ
ターンを各種置換して図形に対応付けた記号を回答させ
るものである。図９は、こうした問題を発生する置換図
形問題発生系４０の機能構成を示す図であり、図２およ
び図５に図示した要素と共通する部分には同一の番号を
付し、その説明を省略する。この図において、４１は図
形や記号の数を記憶する図形／記号数レジスタである。
４２は記号群対応部であり、発生すべき図形に１対１に
対応付けられる記号を指定する。４３は乱数に応じて所
定数の図形要素を発生する図形群発生部である。４４は
発生された図形の並び順序を乱数に応じて入れ替える図
形順序並び換え部である。

【００３３】上記構成において、入力操作部２の操作に
応じて置換図形問題発生系４０が指定された場合、設問
レジスタ１２ｂの内容に応じて乱数発生回路１２ｃが乱
数ｋを発生すると、まず、図１０（イ）に図示するよう
に、設問レジスタ１２ｂを介して図形／記号数レジスタ
に「１０」がセットされる。すなわち、１０種の図形を
用いた置換図形問題を作成すべく記号群対応部４１、図
形群発生部４２および図形順序並び換え部４３に指示が
与えられる。記号群対応部４１では、これに応じて図形
識別値ｇ（ｉ）と記号指定値Ｋ（ｉ）を対応付ける。ま
た、図形群発生部４３では、図１０（ハ）に示すよう
に、発生乱数に応じて図形発生式ｆ（ｘ）により図形指
定し、これと上記図形識別値ｇ（ｉ）とを対応付ける。
さらに、図形順序並び換え部４４では、同図（ニ）に図
示する通り、図形識別値ｇ（ｉ）を並び換える操作を加
える。この結果、発生系４０では、図１１に示すよう
に、まず最初に、問題分を表示しながらガイドとして上
記図形識別値ｇ（ｉ）に応じた１０種の図形と対応する
記号（文字）とを一定時間表示させ、次に、各置換設問
を図形表示する。

【００３４】（４）対語問題発生系５０の機能構成およ
び動作対語問題とは、２組の語句を表示し、その２者の意味的
関係に合致した語句を設問から選択する問題であり、関
連思考を検査するものである。図１２は、対語問題発生
系５０の機能構成を示す図であり、図２に図示した要素
と共通する部分には同一の番号を付し、その説明を省略
する。この図において、５１は語句数をカウントする語
句数カウンタ、５２は乱数に応じて関係群（同意、反
対、形容および包含など対語の関係）を選択する関係群
選択部である。５３は選択された対語関係に基づき設問
となる対語を選択する対語１選択部である。５４はこの
対語１選択部５３により選択された対語１に対応する対
語２を選択する対語２選択部である。

【００３５】５６は上記対語１、２に応じて語句データ
メモリ５５から対応する語句を読み出す語句群発生部で
ある。語句データメモリ５５には、予め各種関係群の語
句がテーブル記憶されて形成される。語句群発生部５６
から出力される語句群は次段の発生語句メモリ５７に一
時記憶され、これに基づき問題作成回路１２ｈが設問お
よび解答を生成する。上記構成によれば、入力操作部２
の操作に応じて語句問題発生系５０が指定されると、設
問レジスタ１２ｂの内容に応じて乱数発生回路１２ｃが
乱数ｋを発生し、これに応じて上記構成要素５１〜５４
が乱数により規定された関係群の対語１と対語２とを発
生する。そうすると、語句群発生部５６が対語１、２に
基づきい語句データメモリ５５を参照して必要な語句を
読み出す。そして、これに応じて問題作成回路１２ｈ
が、例えば、図１３に図示する一例のような対語問題を
生成する。

【００３６】（５）性格検査問題発生系６０の機能構成
および動作次に、図１４は、性格検査問題発生系６０の機能構成を
示す図であり、図２に図示した要素と共通する部分には
同一の番号を付し、その説明を省略する。この図におい
て、６１は設問文章作成部であり、乱数発生回路１２ｃ
から供給される乱数に応じた設問文章を、設問データメ
モリ６２から選択的に読み出して発生する。設問データ
メモリ６２には、予め図１５に図示する形態で設問文章
とその回答に対する配点とが登録されており、乱数に応
じて設問文章作成部６１が対応する設問文章と配点とを
読み出すようにしている。設問文章は、「抑鬱性」、
「人格統御性」、「向性」、「リーダーシップ」および
「情緒安定」を問う内容となっており、これら各設問に
応答（ＹＥＳ／ＮＯ）することで各設問毎の得点が集計
され、その結果から被験者の性格（気質）が評価され
る。

【００３７】Ｄ．得点集計部１３の動作次に、上記各発生系２０〜６０が生成した検査問題の回
答を採点集計して診断評価する得点集計部１３の動作に
ついて説明する。検査問題発生部１２側から動作セット
信号が供給された状態で一定時間内に解答操作キー２ｃ
が操作されて回答レジスタ１３ａがそのキー操作信号を
ラッチして出力すると、照合回路１３ｃは正解・配点レ
ジスタ１３ｂと回答レジスタ１３ａとにストアされるデ
ータに基づき正否を判断する。ここで、両データが一致
して正解になると、得点集計回路１３ｄが得点集計し、
得点データファイル１３ｅにセットする。

【００３８】そして、評価尺度指標算出部１３ｆが得点
集計結果を知能指数等の評価尺度に変換して評価データ
ファイル１３ｇに記憶し、時系列成績作成回路１３ｈが
時刻・日付回路１１ｄの出力に成績（得点）を付与して
なる時系列生成を作成して時系列ファイル１３ｉに書き
込む。ファイル管理制御回路１３ｊでは、上述した各フ
ァイル１３ｅ，１３ｇ，１３ｉをそれぞれ更新集計する
一方、制御回路１０の指示の下に、上記各ファイル１３
ｅ，１３ｇ，１３ｉから過去の任意の得点や評価などの
履歴を読み出して表示部３へ再生出力することも可能に
なっている。

【００３９】なお、評価尺度指標算出部１３ｆは、知能
指数の他、得点に応じて診断コメントを表示する。例え
ば、図１６に図示する一例では、得点に応じて評価Ａ〜
Ｅの段階に区分けし、対応する評価段階の診断コメント
をメモリ読み出しする態様である。さらに、こうした評
価を発展させれば、各検査項目毎の得点を参照して職業
適性を評価結果として例示することも可能になる。その
一例を図１７に示す。

【００４０】以上のように、本実施例にあっては、入力
操作部２の操作に応じて検査問題発生部１２が上述した
発生系２０〜６０のいずれかを動作させ、動作指示され
た発生系２０〜６０では、設問レジスタ１２ｂの内容に
応じて乱数発生回路１２ｃが乱数を発生し、発生した乱
数に基づいて対応するメモリから数系列、図形系列ある
いは設問文章を読み出して検査問題や解答を生成する。
そして、被験者がキー操作により回答すると、その回答
操作が得点集計部１３にて得点集計および評価がなされ
て検査結果が表示部３に表示される。これにより、簡
便、かつ、容易に自身の知能程度や適性を判定し得るよ
うになる。

【００４１】Ｄ．変形例次に、図１８を参照して本発明の変形例について説明す
る。この変形例は、周知の電子手帳１００に上述した検
査装置１の機能を搭載したものである。電子手帳１００
では、液晶表示部上に配設される透明タッチパネルをタ
ッチペン１０１でポインティングしたり、なぞったりす
ることで知能検査問題の回答操作がなされる。よって、
前述した実施例によりも実際の知能検査に近い形、つま
り、従前の検査用紙に回答を書き込む感覚で行うことが
可能になる。したがって、キー操作に不慣れな年配者に
は好適な操作環境になる訳である。また、この電子手帳
１００では、メモリカード２００が着脱自在な構成とな
っており、このメモリカード２００に各種手法による知
能検査プログラムおよびデータを登録しておけば、多種
多用な検査を行うことが可能になる。

【００４２】例えば、上述した実施例と同様な知能検査
あるいは性格検査の他、痴呆老人用知能検査やアンケー
ト記入式による精神症状調査などを実施し得るようにな
っている。痴呆老人用知能検査では、図１９に示すよう
に、長谷川式簡易知能評価スケールに準じて見当識、記
憶想起、記憶記銘および計算を問う問題を生成し、各問
題の回答を採点した集計得点に基づき、図２０に図示す
る評価尺度で痴呆症状を診断する。ここで、２段階以下
が所謂、「ぼけ状態」と認定される。アンケート記入式
による精神症状調査では、図２１に示す通り、「記
憶」、「見当識」、「判断力と問題解決」、「社会適
応」および「家庭状況」などを問う複数のアンケート項
目を自動生成して表示部３に表示する。そして、各アン
ケート項目に対応して設定される評価尺度を、前述した
タッチペン１０１でポインティングすることで自動的に
調査結果が集計されて図２２に示す評価基準に基づき症
状が診断されるようになっている。

【００４３】このように、本発明によれば、知能や精神
状態、性格傾向など各種測定検査用の問題を入力操作に
応じて選択し、選択した検査問題を自動生成して表示
し、この生成された問題に対応する回答操作に従って自
動的に採点評価を行うので、簡便、かつ、容易に自身の
知能程度、痴呆症状や適性を判定し得るようになる。ま
た、上述した実施例にあっては、得点集計された成績デ
ータを自動的にファイルするため、過去の成績を読み出
して現在の成績と比較することで症状の減退や回復の度
合いを判断することも可能になっている。なお、本発明
は、カード型の例を示したが、カード型には限定され
ず、卓上型の大きさであっても良い。また、パソコン等
のソフトとしてプログラムを作成することも出来る。

【００４４】

【発明の効果】本発明によれば、検査項目指定手段が入
力操作に応じて複数の知能検査項目のいずれかを指定す
ると、問題発生手段がこの検査項目指定手段により指定
された検査項目に対応する知能検査問題と解答とを発生
し、得点評価手段が知能検査問題に対する回答操作に応
じて前記解答を参照して採点すると共に、得点集計して
評価結果を生成するので、簡便で容易に自身の知能程
度、痴呆傾向あるいは適性を判定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による携帯型電子装置の一実施例の外観
を示す図である。

【図２】同実施例の構成を示すブロック図である。

【図３】同実施例における数系列問題発生系２０の機能
を示すブロック図である。

【図４】同実施例による数系列問題発生系２０の動作を
説明するための図である。

【図５】同実施例における第１図形系列問題発生系３０
−１の構成を示すブロック図である。

【図６】同実施例における第１図形系列問題発生系３０
−１の動作を説明するための図である。

【図７】同実施例における第２図形系列問題発生系３０
−２の構成を示すブロック図である。

【図８】同実施例における第２図形系列問題発生系３０
−２の動作を説明するための図である。

【図９】同実施例における置換図形問題発生系４０の構
成を示すブロック図である。

【図１０】同実施例による置換図形問題発生系４０の動
作を説明するための図である。

【図１１】同実施例による置換図形問題発生系４０の動
作を説明するための図である。

【図１２】同実施例における対語問題発生系５０の構成
を示すブロック図である。

【図１３】同実施例における対語問題発生系５０の動作
を説明するための図である。

【図１４】同実施例における性格検査問題発生系６０の
構成を示すブロック図である。

【図１５】同実施例による性格検査問題発生系６０の動
作を説明するための図である。

【図１６】同実施例における得点集計部１３の評価例を
示す図である。

【図１７】同実施例における得点集計部１３の職業適性
評価例を示す図である。

【図１８】本発明の変形例の外観を示す斜視図である。

【図１９】変形例による痴呆老人用知能検査項目の一例
を示す図である。

【図２０】変形例における痴呆老人用知能検査の評価尺
度および診断メッセージの一例を示す図である。

【図２１】変形例によるアンケート記入式の精神症状調
査項目の一例を示す図である。

【図２２】変形例による精神症状調査の評価基準を説明
するための図である。

【符号の説明】

２入力操作部（検査項目指定手段）１０制御回路（問題発生手段、得点評価手段）１２問題発生部（問題発生手段）１３得点集計部（得点評価手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】入力操作に応じて複数の知能検査項目の
いずれかを指定する検査項目指定手段と、この検査項目指定手段が指定する知能検査項目に対応す
る知能検査問題およびその解答を発生する問題発生手段
と、前記知能検査問題に対する回答操作に応じて前記解答を
参照して採点すると共に、得点集計して評価結果を生成
する得点評価手段とを具備することを特徴とする検査装
置。
【請求項２】前記問題記憶手段は、数列系列問題を発
生する複数の数列式と、図形系列問題を発生する複数の
図形データとを有することを特徴とする請求項２記載の
検査装置。
【請求項３】前記得点評価手段は、集計した得点を時
系列に記憶する得点記憶手段を備え、この得点記憶手段
から読み出した過去の得点と現在の得点とを比較して相
対評価することを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項４】前記得点評価手段は、予め各種検査問題
に対応する複数の評価尺度を記憶しておき、前記検査項
目指定手段が指定した知能検査問題に対応する評価尺度
を読み出して得点評価することを特徴とする請求項１記
載の検査装置。