JPH09160836A - Memory parity error monitoring device - Google Patents
Memory parity error monitoring deviceInfo
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- JPH09160836A JPH09160836A JP7323411A JP32341195A JPH09160836A JP H09160836 A JPH09160836 A JP H09160836A JP 7323411 A JP7323411 A JP 7323411A JP 32341195 A JP32341195 A JP 32341195A JP H09160836 A JPH09160836 A JP H09160836A
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- opening
- parity check
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- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 80
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 13
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明はメモリパリティエラ
ー監視装置に関し、特に複数のメモリのパリティエラー
を監視するメモリパリティエラー監視装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory parity error monitoring device, and more particularly to a memory parity error monitoring device for monitoring parity errors of a plurality of memories.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のメモリパリティエラー監視装置で
は、メモリリード(メモリ読み出し)したメモリ領域の
みをエラー監視していた。2. Description of the Related Art In a conventional memory parity error monitoring device, an error is monitored only in a memory area read from a memory.
【0003】また、たとえば特開平1−263854号
公報および特開昭63−187741号公報に2つのメ
モリ領域について夫々パリティエラーの監視を行う技術
が開示されているがこれらの技術についても同様であっ
た。Further, for example, JP-A-1-263854 and JP-A-63-187741 disclose techniques for monitoring parity errors in two memory areas, but the same applies to these techniques. It was
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の装置および技術では、メモリリードを行っていない
メモリを監視することができないため、実際に該当メモ
リをリードするまで該当メモリのエラーを検出すること
ができず、これがメモリエラーの発見を遅らせる原因の
一つとなっていた。However, with such conventional devices and techniques, it is not possible to monitor a memory that has not been read, so an error in the relevant memory is detected until the relevant memory is actually read. This was one of the causes of delaying the discovery of memory errors.
【0005】そこで本発明の目的はメモリエラーを早期
に発見することが可能なメモリパリティエラー監視装置
を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a memory parity error monitoring device which can detect a memory error at an early stage.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、第1の記憶手段と、この第1の記憶手段が
アクセスされることにより前記第1の記憶手段のパリテ
ィチェックを行う第1のパリティチェック手段と、前記
第1の記憶手段への入出力データ線路の開閉を制御する
第1の開閉制御手段と、第2の記憶手段と、この第2の
記憶手段がアクセスされることにより前記第2の記憶手
段のパリティチェックを行う第2のパリティチェック手
段と、前記第2の記憶手段への入出力データ線路の開閉
を制御する第2の開閉制御手段と、前記第1または第2
の記憶手段のいずれか一方へのアクセスにより両方の記
憶手段がアクセスされ、アクセスした方の前記開閉制御
手段が自己の前記入出力データ線路を閉とし、アクセス
しなかった方の前記開閉制御手段が自己の前記入出力デ
ータ線路を開とするアクセス制御手段と、を有すること
を特徴とする。In order to solve the above problems, the present invention provides a first storage means and a parity check of the first storage means by accessing the first storage means. The first parity check means, the first opening / closing control means for controlling opening / closing of the input / output data line to / from the first storage means, the second storage means, and the second storage means are accessed. Second parity check means for performing parity check of the second storage means, second opening / closing control means for controlling opening / closing of an input / output data line to / from the second storage means, and the first or Second
Both storage means are accessed by accessing either one of the storage means, and the opening / closing control means of the accessing side closes the input / output data line of its own, and the opening / closing control means of the one that has not accessed is Access control means for opening the input / output data line of its own.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】本発明によれば、第1の記憶手段
がアクセスされると、アクセス制御手段により第2の記
憶手段もアクセスされ、両者の記憶手段が夫々のパリテ
ィチェック手段によりパリティチェックされる。また、
同時にアクセス制御手段は第1の開閉制御手段を介して
第1の記憶手段への入出力データ線路のみを閉とするた
め、データの入出力は第1の記憶手段へのみ行われる。According to the present invention, when the first storage means is accessed, the access control means also accesses the second storage means, and both storage means are parity-checked by their respective parity check means. To be done. Also,
At the same time, the access control means closes only the input / output data line to / from the first storage means via the first opening / closing control means, so that the input / output of data is performed only to the first storage means.
【0008】以下、本発明の実施例について添付図面を
参照しながら説明する。図1は本発明に係るメモリパリ
ティエラー監視装置の第1実施例の構成図である。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. 1 is a block diagram of a first embodiment of a memory parity error monitoring device according to the present invention.
【0009】メモリパリティエラー監視装置は、メモリ
部1、パリティチェック部2、入出力制御部3、メモリ
部4、パリティチェック部5、入出力制御部6およびア
ンド(AND)回路7を備える。The memory parity error monitoring device comprises a memory unit 1, a parity check unit 2, an input / output control unit 3, a memory unit 4, a parity check unit 5, an input / output control unit 6 and an AND circuit 7.
【0010】メモリ部1はアドレスバス10、データバ
ス11および共通チップセレクト(共通アクセス線)1
2に接続され、データの書き込み、読み出しを行う。The memory unit 1 includes an address bus 10, a data bus 11 and a common chip select (common access line) 1.
2 is connected to write and read data.
【0011】パリティチェック部2はアドレスバス1
0、データバス11および共通チップセレクト12に接
続され、メモリ部1へのメモリライト時にパリティビッ
トを作成、保存し、メモリ部1へのメモリリード時にメ
モリ部1からのリードデータとメモリライト時に保存さ
れているパリティビットとチェックを行いエラーを検出
する。The parity check unit 2 has an address bus 1
0, data bus 11 and common chip select 12, create and save a parity bit at memory write to memory unit 1, read data from memory unit 1 at memory read to memory unit 1 and save at memory write Check the parity bit that is set to detect an error.
【0012】入出力制御部3はデータバス11,13と
チップセレクト14(メモリ部1のアクセス信号線)に
接続され、メモリ部1のリードおよびライト時のみデー
タを通し、それ以外は通さない。The input / output control unit 3 is connected to the data buses 11 and 13 and the chip select 14 (access signal line of the memory unit 1), and passes data only when the memory unit 1 is read and written, and does not pass other than that.
【0013】メモリ部4はアドレスバス10、データバ
ス15および共通チップセレクト(共通アクセス線)1
2に接続され、データの書き込み、読み出しを行う。The memory section 4 includes an address bus 10, a data bus 15 and a common chip select (common access line) 1.
2 is connected to write and read data.
【0014】パリティチェック部5はアドレスバス1
0、データバス15および共通チップセレクト12に接
続され、メモリ部4へのメモリライト時にパリティビッ
トを作成、保存し、メモリ部4へのメモリリード時にメ
モリ部4からのリードデータとメモリライト時に保存さ
れているパリティビットとチェックを行いエラーを検出
する。The parity check unit 5 uses the address bus 1
0, a data bus 15 and a common chip select 12, and creates and saves a parity bit at the time of memory write to the memory unit 4, and saves read data from the memory unit 4 at the time of memory read to the memory unit 4 and at the time of memory write. Check the parity bit that is set to detect an error.
【0015】入出力制御部6はデータバス13,15と
チップセレクト16(メモリ部4のアクセス信号線)に
接続され、メモリ部4のリードおよびライト時のみデー
タを通し、それ以外は通さない。The input / output control unit 6 is connected to the data buses 13 and 15 and the chip select 16 (access signal line of the memory unit 4), and passes data only when the memory unit 4 is read and written, and does not pass other than that.
【0016】アンド(AND)回路7はその入力側がチ
ップセレクト14,16と接続され、その出力側が共通
チップセレクト12と接続されている。The AND circuit 7 has its input side connected to the chip selects 14 and 16 and its output side connected to the common chip select 12.
【0017】次に、この監視装置の動作について説明す
る。メモリ部1がリードされる場合について説明する
と、チップセレクト14を介して低レベルのアクセス信
号が入出力制御部3およびアンド回路7へ入力される。Next, the operation of this monitoring device will be described. Explaining the case where the memory section 1 is read, a low-level access signal is input to the input / output control section 3 and the AND circuit 7 via the chip select 14.
【0018】これにより、まず入出力制御部3がデータ
バス11と13とを接続する。したがって、メモリ部1
からのリードデータが入出力制御部3を通して外部に出
力可能となる。一方、メモリ部4はアクセスされないた
めチップセレクト16を介して入出力制御部6へは高レ
ベル信号が入力されるため、データバス15と13とは
遮断される。したがって、メモリ部4からのリードデー
タは外部に出力されない。As a result, the input / output control unit 3 first connects the data buses 11 and 13. Therefore, the memory unit 1
The read data from can be output to the outside through the input / output control unit 3. On the other hand, since the memory section 4 is not accessed, a high level signal is input to the input / output control section 6 via the chip select 16, so that the data buses 15 and 13 are cut off. Therefore, the read data from the memory unit 4 is not output to the outside.
【0019】また、アンド回路7の一方の入力、すなわ
ちチップセレクト14が低レベルとなるため、アンド回
路7の出力も低レベルとなる。したがって、共通チップ
セレクト12を介して低レベルのアクセス信号がメモリ
部1,4およびパリティチェック部2,5の全てに入力
されるため、メモリ部1とともにメモリ部4もリードさ
れる。これにより、メモリ部1のリードデータとメモリ
ライト時のパリティチェックデータによりパリティチェ
ック部2でエラー検出が行われ、同時にメモリ部4のリ
ードデータとメモリライト時のパリティチェックデータ
によりパリティチェック部5でエラー検出が行われる。Further, since one input of the AND circuit 7, that is, the chip select 14 becomes low level, the output of the AND circuit 7 also becomes low level. Therefore, since the low-level access signal is input to all the memory units 1 and 4 and the parity check units 2 and 5 via the common chip select 12, the memory unit 4 is read together with the memory unit 1. As a result, the parity check unit 2 detects an error by the read data of the memory unit 1 and the parity check data at the time of memory write, and at the same time, the parity check unit 5 performs the error detection by the read data of the memory unit 4 and the parity check data at the time of memory write. Error detection is performed.
【0020】なお、メモリ部1がライト(書き込み)さ
れる場合も、チップセレクト14を介して低レベルのア
クセス信号が入出力部3およびアンド回路7へ入力され
る。Even when the memory section 1 is written (written), a low level access signal is input to the input / output section 3 and the AND circuit 7 via the chip select 14.
【0021】すなわち、リードまたはライトの判別信号
はアクセス信号とともに別途メモリ部1に入力されるよ
う構成されている。これは、メモリ部4についても同様
である。That is, the read or write determination signal is separately input to the memory section 1 together with the access signal. The same applies to the memory unit 4.
【0022】なお、メモリ部4がリードされる場合につ
いても同様に説明できることは明らかであるため、その
説明は省略する。It should be noted that it is obvious that the same can be applied to the case where the memory section 4 is read, and the description thereof will be omitted.
【0023】次に、第2実施例について説明する。図2
は第2実施例の構成図である。なお、図1と同様の構成
部分については同一番号を付し、その説明は省略する。Next, a second embodiment will be described. FIG.
FIG. 6 is a configuration diagram of a second embodiment. The same components as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
【0024】この実施例は、メモリ部を3個以上設けた
場合の構成を示す。すなわち、メモリ部21は最終番目
のメモリ部を、パリティチェック部22はこのメモリ部
21のパリティチェック部を、入出力制御部23はこの
メモリ部21の入出力制御部を示す。This embodiment shows a configuration in which three or more memory units are provided. That is, the memory unit 21 is the last memory unit, the parity check unit 22 is the parity check unit of this memory unit 21, and the input / output control unit 23 is the input / output control unit of this memory unit 21.
【0025】そして、メモリ部21と入出力制御部23
間にはデータバス31が接続され、入出力制御部23に
はチップセレクト32が接続される。また、メモリ部2
1、入出力制御部23および入出力制御部23への他の
結線は他と共通である。Then, the memory unit 21 and the input / output control unit 23
A data bus 31 is connected in between, and a chip select 32 is connected to the input / output control unit 23. Also, the memory unit 2
1, the input / output control unit 23, and other connections to the input / output control unit 23 are common.
【0026】また、アンド回路24の入力側にはメモリ
部の個数分のチップセレクトが接続される。Further, as many chip selects as the number of memory units are connected to the input side of the AND circuit 24.
【0027】この構成により、いずれか1個のメモリ部
をリードすることにより、アンド回路24を介して全て
のメモリ部がパリティチェックされ、かつ各入出力制御
部によりリード要求されたデータバスのみが接続され、
他は遮断されるため、必要なメモリ部のデータのみがリ
ードされる。With this configuration, by reading any one of the memory units, all the memory units are parity-checked via the AND circuit 24, and only the data bus requested to be read by each input / output control unit is read. Connected,
Since the others are cut off, only the data in the necessary memory section is read.
【0028】[0028]
【発明の効果】本発明によれば、2個の記憶手段が夫々
パリティチェック手段を有し、かつこれらの記憶手段の
いずれか一方へのアクセスにより両方の記憶手段がアク
セスされ、かつアクセスされた方の記憶手段のデータの
みを入出力させるアクセス制御手段を設けたため、1つ
のメモリリードでリードされていないメモリのパリティ
チェックエラーを確認でき、メモリエラーを早期に発見
することが可能となる。According to the present invention, the two storage means each have a parity check means, and by accessing either one of these storage means, both storage means are accessed and accessed. Since the access control means for inputting / outputting only the data of the other storage means is provided, it is possible to confirm the parity check error of the memory which is not read by one memory read, and it is possible to detect the memory error early.
【図1】本発明に係るメモリパリティエラー監視装置の
第1実施例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a first embodiment of a memory parity error monitoring device according to the present invention.
【図2】同メモリパリティエラー監視装置の第2実施例
の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of a second embodiment of the same memory parity error monitoring device.
1,4,21 メモリ部 2,5,22 パリティチェック部 3,6,23 入出力制御部 7,24 アンド回路 1, 4, 21 Memory unit 2, 5, 22 Parity check unit 3, 6, 23 Input / output control unit 7, 24 AND circuit
Claims (3)
がアクセスされることにより前記第1の記憶手段のパリ
ティチェックを行う第1のパリティチェック手段と、前
記第1の記憶手段への入出力データ線路の開閉を制御す
る第1の開閉制御手段と、 第2の記憶手段と、この第2の記憶手段がアクセスされ
ることにより前記第2の記憶手段のパリティチェックを
行う第2のパリティチェック手段と、前記第2の記憶手
段への入出力データ線路の開閉を制御する第2の開閉制
御手段と、 前記第1または第2の記憶手段のいずれか一方へのアク
セスにより両方の記憶手段がアクセスされ、アクセスし
た方の前記開閉制御手段が自己の前記入出力データ線路
を閉とし、アクセスしなかった方の前記開閉制御手段が
自己の前記入出力データ線路を開とするアクセス制御手
段と、 を有することを特徴とするメモリパリティエラー監視装
置。1. To a first storage means, a first parity check means for performing a parity check of the first storage means by accessing the first storage means, and to the first storage means. A first opening / closing control means for controlling the opening / closing of the input / output data line, a second storage means, and a second parity check of the second storage means by accessing the second storage means. Parity check means, second opening / closing control means for controlling opening / closing of the input / output data line to / from the second storage means, and access to either of the first or second storage means The storage means is accessed, the opening / closing control means of the accessing side closes its own input / output data line, and the opening / closing control means of the non-accessing side opens its own input / output data line. Memory Parity error monitoring device comprising an access control means, to have a that.
ら記憶手段夫々に対応したメモリアクセス手段によりア
クセスされるよう構成され、前記アクセス制御手段は、
前記アクセスに応答して前記第1および第2の記憶手段
を同時にアクセスするようにしたことを特徴とする請求
項1記載のメモリパリティエラー監視装置。2. The first and second storage means are configured to be accessed by a memory access means corresponding to each of the storage means, and the access control means,
2. The memory parity error monitoring device according to claim 1, wherein said first and second storage means are simultaneously accessed in response to said access.
よび開閉制御手段を3組以上有し、かつ、いずれか一個
の記憶手段へのアクセスにより全ての記憶手段がアクセ
スされ、アクセスした記憶手段側の前記開閉制御手段が
自己の前記入出力データ線路を閉とし、アクセスしなか
った他の前記開閉制御手段が自己の前記入出力データ線
路を開とするアクセス制御手段を有することを特徴とす
る請求項1記載のメモリパリティエラー監視装置。3. The storage means, the parity check means, and the opening / closing control means are provided in three sets or more, and all the storage means are accessed by accessing any one storage means, and the accessed storage means side is the above-mentioned. 2. The opening / closing control means has an access control means for closing the input / output data line of its own, and the other opening / closing control means not accessed has an access control means for opening the input / output data line of itself. A memory parity error monitoring device as described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7323411A JPH09160836A (en) | 1995-12-13 | 1995-12-13 | Memory parity error monitoring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7323411A JPH09160836A (en) | 1995-12-13 | 1995-12-13 | Memory parity error monitoring device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09160836A true JPH09160836A (en) | 1997-06-20 |
Family
ID=18154410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7323411A Pending JPH09160836A (en) | 1995-12-13 | 1995-12-13 | Memory parity error monitoring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09160836A (en) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57101950A (en) * | 1980-12-17 | 1982-06-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | Double storage device control system |
| JPH052498A (en) * | 1991-06-25 | 1993-01-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | Trouble detecting device of main memory |
-
1995
- 1995-12-13 JP JP7323411A patent/JPH09160836A/en active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57101950A (en) * | 1980-12-17 | 1982-06-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | Double storage device control system |
| JPH052498A (en) * | 1991-06-25 | 1993-01-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | Trouble detecting device of main memory |
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