JPH09160836A - メモリパリティエラー監視装置 - Google Patents

メモリパリティエラー監視装置

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Publication number
JPH09160836A
JPH09160836A JP7323411A JP32341195A JPH09160836A JP H09160836 A JPH09160836 A JP H09160836A JP 7323411 A JP7323411 A JP 7323411A JP 32341195 A JP32341195 A JP 32341195A JP H09160836 A JPH09160836 A JP H09160836A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
storage means
input
opening
parity check
Prior art date
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Pending
Application number
JP7323411A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Fujisaki
修市 藤崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP7323411A priority Critical patent/JPH09160836A/ja
Publication of JPH09160836A publication Critical patent/JPH09160836A/ja
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 メモリリードを行っていないメモリのパリテ
ィチェックが行われないこと。 【解決手段】 メモリ部1に対する低レベルのリード信
号がチップセレクト14を介してアンド回路7に入力さ
れると、アンド回路7の出力が低レベルとなり、この低
レベル信号によりメモリ部1と4とが夫々パリティチェ
ック部2,5によりパリティチェックされる。また、チ
ップセレクト14は入出力制御部3にも接続されている
ため、低レベルのリード信号が入力されるとデータバス
11と13とを接続しメモリ部1のデータの入出力を可
能とする。一方、メモリ部4用のチップセレクト16の
レベルは高レベルであるため入出力制御部6によりデー
タバス15と13とは遮断され、メモリ部4のデータは
入出力されない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はメモリパリティエラ
ー監視装置に関し、特に複数のメモリのパリティエラー
を監視するメモリパリティエラー監視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のメモリパリティエラー監視装置で
は、メモリリード(メモリ読み出し)したメモリ領域の
みをエラー監視していた。
【0003】また、たとえば特開平1−263854号
公報および特開昭63−187741号公報に2つのメ
モリ領域について夫々パリティエラーの監視を行う技術
が開示されているがこれらの技術についても同様であっ
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の装置および技術では、メモリリードを行っていない
メモリを監視することができないため、実際に該当メモ
リをリードするまで該当メモリのエラーを検出すること
ができず、これがメモリエラーの発見を遅らせる原因の
一つとなっていた。
【0005】そこで本発明の目的はメモリエラーを早期
に発見することが可能なメモリパリティエラー監視装置
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、第1の記憶手段と、この第1の記憶手段が
アクセスされることにより前記第1の記憶手段のパリテ
ィチェックを行う第1のパリティチェック手段と、前記
第1の記憶手段への入出力データ線路の開閉を制御する
第1の開閉制御手段と、第2の記憶手段と、この第2の
記憶手段がアクセスされることにより前記第2の記憶手
段のパリティチェックを行う第2のパリティチェック手
段と、前記第2の記憶手段への入出力データ線路の開閉
を制御する第2の開閉制御手段と、前記第1または第2
の記憶手段のいずれか一方へのアクセスにより両方の記
憶手段がアクセスされ、アクセスした方の前記開閉制御
手段が自己の前記入出力データ線路を閉とし、アクセス
しなかった方の前記開閉制御手段が自己の前記入出力デ
ータ線路を開とするアクセス制御手段と、を有すること
を特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明によれば、第1の記憶手段
がアクセスされると、アクセス制御手段により第2の記
憶手段もアクセスされ、両者の記憶手段が夫々のパリテ
ィチェック手段によりパリティチェックされる。また、
同時にアクセス制御手段は第1の開閉制御手段を介して
第1の記憶手段への入出力データ線路のみを閉とするた
め、データの入出力は第1の記憶手段へのみ行われる。
【0008】以下、本発明の実施例について添付図面を
参照しながら説明する。図1は本発明に係るメモリパリ
ティエラー監視装置の第1実施例の構成図である。
【0009】メモリパリティエラー監視装置は、メモリ
部1、パリティチェック部2、入出力制御部3、メモリ
部4、パリティチェック部5、入出力制御部6およびア
ンド(AND)回路7を備える。
【0010】メモリ部1はアドレスバス10、データバ
ス11および共通チップセレクト(共通アクセス線)1
2に接続され、データの書き込み、読み出しを行う。
【0011】パリティチェック部2はアドレスバス1
0、データバス11および共通チップセレクト12に接
続され、メモリ部1へのメモリライト時にパリティビッ
トを作成、保存し、メモリ部1へのメモリリード時にメ
モリ部1からのリードデータとメモリライト時に保存さ
れているパリティビットとチェックを行いエラーを検出
する。
【0012】入出力制御部3はデータバス11,13と
チップセレクト14(メモリ部1のアクセス信号線)に
接続され、メモリ部1のリードおよびライト時のみデー
タを通し、それ以外は通さない。
【0013】メモリ部4はアドレスバス10、データバ
ス15および共通チップセレクト(共通アクセス線)1
2に接続され、データの書き込み、読み出しを行う。
【0014】パリティチェック部5はアドレスバス1
0、データバス15および共通チップセレクト12に接
続され、メモリ部4へのメモリライト時にパリティビッ
トを作成、保存し、メモリ部4へのメモリリード時にメ
モリ部4からのリードデータとメモリライト時に保存さ
れているパリティビットとチェックを行いエラーを検出
する。
【0015】入出力制御部6はデータバス13,15と
チップセレクト16(メモリ部4のアクセス信号線)に
接続され、メモリ部4のリードおよびライト時のみデー
タを通し、それ以外は通さない。
【0016】アンド(AND)回路7はその入力側がチ
ップセレクト14,16と接続され、その出力側が共通
チップセレクト12と接続されている。
【0017】次に、この監視装置の動作について説明す
る。メモリ部1がリードされる場合について説明する
と、チップセレクト14を介して低レベルのアクセス信
号が入出力制御部3およびアンド回路7へ入力される。
【0018】これにより、まず入出力制御部3がデータ
バス11と13とを接続する。したがって、メモリ部1
からのリードデータが入出力制御部3を通して外部に出
力可能となる。一方、メモリ部4はアクセスされないた
めチップセレクト16を介して入出力制御部6へは高レ
ベル信号が入力されるため、データバス15と13とは
遮断される。したがって、メモリ部4からのリードデー
タは外部に出力されない。
【0019】また、アンド回路7の一方の入力、すなわ
ちチップセレクト14が低レベルとなるため、アンド回
路7の出力も低レベルとなる。したがって、共通チップ
セレクト12を介して低レベルのアクセス信号がメモリ
部1,4およびパリティチェック部2,5の全てに入力
されるため、メモリ部1とともにメモリ部4もリードさ
れる。これにより、メモリ部1のリードデータとメモリ
ライト時のパリティチェックデータによりパリティチェ
ック部2でエラー検出が行われ、同時にメモリ部4のリ
ードデータとメモリライト時のパリティチェックデータ
によりパリティチェック部5でエラー検出が行われる。
【0020】なお、メモリ部1がライト(書き込み)さ
れる場合も、チップセレクト14を介して低レベルのア
クセス信号が入出力部3およびアンド回路7へ入力され
る。
【0021】すなわち、リードまたはライトの判別信号
はアクセス信号とともに別途メモリ部1に入力されるよ
う構成されている。これは、メモリ部4についても同様
である。
【0022】なお、メモリ部4がリードされる場合につ
いても同様に説明できることは明らかであるため、その
説明は省略する。
【0023】次に、第2実施例について説明する。図2
は第2実施例の構成図である。なお、図1と同様の構成
部分については同一番号を付し、その説明は省略する。
【0024】この実施例は、メモリ部を3個以上設けた
場合の構成を示す。すなわち、メモリ部21は最終番目
のメモリ部を、パリティチェック部22はこのメモリ部
21のパリティチェック部を、入出力制御部23はこの
メモリ部21の入出力制御部を示す。
【0025】そして、メモリ部21と入出力制御部23
間にはデータバス31が接続され、入出力制御部23に
はチップセレクト32が接続される。また、メモリ部2
1、入出力制御部23および入出力制御部23への他の
結線は他と共通である。
【0026】また、アンド回路24の入力側にはメモリ
部の個数分のチップセレクトが接続される。
【0027】この構成により、いずれか1個のメモリ部
をリードすることにより、アンド回路24を介して全て
のメモリ部がパリティチェックされ、かつ各入出力制御
部によりリード要求されたデータバスのみが接続され、
他は遮断されるため、必要なメモリ部のデータのみがリ
ードされる。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、2個の記憶手段が夫々
パリティチェック手段を有し、かつこれらの記憶手段の
いずれか一方へのアクセスにより両方の記憶手段がアク
セスされ、かつアクセスされた方の記憶手段のデータの
みを入出力させるアクセス制御手段を設けたため、1つ
のメモリリードでリードされていないメモリのパリティ
チェックエラーを確認でき、メモリエラーを早期に発見
することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るメモリパリティエラー監視装置の
第1実施例の構成図である。
【図2】同メモリパリティエラー監視装置の第2実施例
の構成図である。
【符号の説明】
1,4,21 メモリ部 2,5,22 パリティチェック部 3,6,23 入出力制御部 7,24 アンド回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の記憶手段と、この第1の記憶手段
    がアクセスされることにより前記第1の記憶手段のパリ
    ティチェックを行う第1のパリティチェック手段と、前
    記第1の記憶手段への入出力データ線路の開閉を制御す
    る第1の開閉制御手段と、 第2の記憶手段と、この第2の記憶手段がアクセスされ
    ることにより前記第2の記憶手段のパリティチェックを
    行う第2のパリティチェック手段と、前記第2の記憶手
    段への入出力データ線路の開閉を制御する第2の開閉制
    御手段と、 前記第1または第2の記憶手段のいずれか一方へのアク
    セスにより両方の記憶手段がアクセスされ、アクセスし
    た方の前記開閉制御手段が自己の前記入出力データ線路
    を閉とし、アクセスしなかった方の前記開閉制御手段が
    自己の前記入出力データ線路を開とするアクセス制御手
    段と、 を有することを特徴とするメモリパリティエラー監視装
    置。
  2. 【請求項2】 前記第1および第2の記憶手段は、これ
    ら記憶手段夫々に対応したメモリアクセス手段によりア
    クセスされるよう構成され、前記アクセス制御手段は、
    前記アクセスに応答して前記第1および第2の記憶手段
    を同時にアクセスするようにしたことを特徴とする請求
    項1記載のメモリパリティエラー監視装置。
  3. 【請求項3】 前記記憶手段、パリティチェック手段お
    よび開閉制御手段を3組以上有し、かつ、いずれか一個
    の記憶手段へのアクセスにより全ての記憶手段がアクセ
    スされ、アクセスした記憶手段側の前記開閉制御手段が
    自己の前記入出力データ線路を閉とし、アクセスしなか
    った他の前記開閉制御手段が自己の前記入出力データ線
    路を開とするアクセス制御手段を有することを特徴とす
    る請求項1記載のメモリパリティエラー監視装置。
JP7323411A 1995-12-13 1995-12-13 メモリパリティエラー監視装置 Pending JPH09160836A (ja)

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JP7323411A JPH09160836A (ja) 1995-12-13 1995-12-13 メモリパリティエラー監視装置

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JP7323411A JPH09160836A (ja) 1995-12-13 1995-12-13 メモリパリティエラー監視装置

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JPH09160836A true JPH09160836A (ja) 1997-06-20

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ID=18154410

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JP7323411A Pending JPH09160836A (ja) 1995-12-13 1995-12-13 メモリパリティエラー監視装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57101950A (en) * 1980-12-17 1982-06-24 Oki Electric Ind Co Ltd Double storage device control system
JPH052498A (ja) * 1991-06-25 1993-01-08 Oki Electric Ind Co Ltd 主記憶装置の故障検出装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57101950A (en) * 1980-12-17 1982-06-24 Oki Electric Ind Co Ltd Double storage device control system
JPH052498A (ja) * 1991-06-25 1993-01-08 Oki Electric Ind Co Ltd 主記憶装置の故障検出装置

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