JPH09163081A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 キャリッジの副走査方向の走査速度に変動が
あっても画素の位置ずれがない画像データを得る。 【解決手段】 第１キャリッジの副走査方向の位置また
は速度を検出するために一定周波数の信号が書き込まれ
た磁気テープ１０が主走査方向に延びるように取り付け
られ、磁気テープ１０に書き込まれている信号は、第１
キャリッジに取り付けられている磁気ヘッド１２により
読み取られて第１キャリッジの走査速度が検出される。
位置誤差補正部２３は補正対象ラインの各画素の画像デ
ータを補間法によりその前後のラインの画像データと制
御部２０からの速度誤差信号に基づいて補正し、ビデオ
信号として出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、副走査方向の走査
速度むら又は走査位置ずれに応じて画像データの画素位
置の誤差を補正する画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、例えばＲ、Ｇ、Ｂの複数のイメ
ージセンサが副走査方向に離間し、且つ平行に配列され
たライン走査型画像読取装置では、各センサにより読み
取られる原稿の同一位置の画像データには時間的なずれ
があり、したがって、原稿の同一位置の画像データが各
センサから得られるように補正を行わないとカラー画像
の読み取りにおいては色ずれが発生し、色を正しく読み
取ることができない。このずれは各センサの間隔と読み
取り走査速度に応じて決定され、また、走査速度にむら
があると色ずれの原因となる。

【０００３】上記不具合を避けるために、例えば特開平
６−２２１５９号公報には読み取りキャリッジを駆動す
るモータの回転に伴って発生するパルスの間隔の間、マ
イクロプロセッサが内部クロックを計数することにより
モータの駆動速度を求めて実際の走査速度とし、この走
査速度に基づいて複数のセンサ間の位置ずれを補正する
方法が提案されている。この方法では、副走査方向の下
流のセンサに対して上流のセンサのデータが合わせら
れ、センサ間の位置ずれが補正される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
読取装置では、副走査方向の走査速度をモータから検出
しているので、モータの回転運動を直線運動に変換する
機構によりモータの回転むらとキャリッジの移動速度む
らは必ずしも一致するものではなく、走査速度を正確に
検出することができず、その結果、画素の位置ずれが発
生するという問題点がある。

【０００５】また、原稿を照明する光源が搭載されて副
走査方向に移動するキャリッジは、主走査方向の幅が大
きいので、両端が同一の速度で移動しているとは限ら
ず、したがって、両端が同一の速度で移動していない場
合にはキャリッジの両端位置で画素の位置ずれが発生す
る。

【０００６】また、上記従来の読取装置では、下流のセ
ンサに対して上流のセンサのデータを合わせるので、勿
論、最下流のセンサから得られるデータに対して補正す
る必要はない。ここで、補正を行わない最下流のセンサ
から得られるデータに着目すると、読み取り走査速度が
変動した場合には一定速度で走査して読み取る場合に比
べると原稿上の読み取り位置がずれることになり、結果
として速度変動に伴う画像の伸び縮みが起きるという問
題点がある。

【０００７】すなわち、上記従来の読取装置では、この
伸び縮みが生じるデータに対して上流のセンサのデータ
を補正しているので、結果として色ずれは防止できてい
ることになるが、カラー画像全体としては走査速度の変
動に伴う画像の伸び縮みを防止することができず、本来
の画素との位置ずれは残ることになる。また、この従来
の読取装置では、複数のラインセンサの間隔が変化しな
いものとして補正基準としているので、１つのセンサの
みを有する読取装置には適用することができない。

【０００８】ここで、速度変動に伴う画素位置のずれが
ない画像データを得る他の方法として、特開昭和６３−
２８７１６７号公報には、原稿の近傍に位置センサを配
置してその出力によってイメージセンサの読み取りタイ
ミングを制御する方法が提案されている。しかしなが
ら、この方法では、読み取りタイミングが一定でなくな
るので、ＣＣＤの蓄積時間が変化して見かけ状の感度が
変動し、そのために感度の補正が必要になる。

【０００９】また、読み取った画像データをフィルタリ
ング、中間調処理などのように複数ラインにまたがった
処理を行う場合に、ライン間の時間間隔が異なると、通
常の処理系ではクロック同期システムにより処理を進め
るので対応が困難となり、これに対応するためにはバッ
ファメモリが必要になる。

【００１０】本発明は上記従来の問題点に鑑み、キャリ
ッジの副走査方向の走査速度に変動があっても画素の位
置ずれがない画像データを得ることができる画像読取装
置を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】第１の手段は上記目的を
達成するために、原稿を照明する光源が搭載されて副走
査方向に移動するキャリッジと、前記キャリッジの副走
査方向の走査位置または走査速度を検出する検出手段
と、前記検出手段により検出された走査位置または走査
速度に基づいて、読み取りデータを走査位置または走査
速度に誤差がない場合のデータに補間する補間手段とを
備えたことを特徴とする。

【００１２】第２の手段は、第１の手段の前記検出手段
が、キャリッジの主走査方向の少なくとも２点における
原稿の副走査方向の走査位置または走査速度を検出する
ことを特徴とする。

【００１３】第３の手段は、第１または第２の手段の前
記検出手段が、線順次の読み取りタイミングに同期して
キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度を検
出することを特徴とする。

【００１４】第４の手段は、第１または第２の手段の前
記検出手段が、主、副走査方向に対して斜めであって副
走査方向に等ピッチで原稿の読み取り領域に配置された
パターンを読み取ることによりキャリッジの副走査方向
の走査位置または走査速度を検出することを特徴とす
る。

【００１５】第５の手段は、第１の手段の前記検出手段
が、キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度
を時間軸上の連続量として出力し、前記補間手段が、線
順次の読み取りタイミングにおけるこの連続量に基づい
て補間することを特徴とする。

【００１６】第６の手段は、第１の手段の前記検出手段
が、キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度
を所定のサンプリング間隔で出力し、前記補間手段が、
この所定のサンプリング間隔における走査位置または走
査速度に基づいて補間することを特徴とする。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照し、本発明の実
施の形態について説明する。

【００１８】１．第１の実施形態 図１は本発明に係る画像読取装置の一実施形態を示すブ
ロック図、図２は図１の画像読取装置を示す断面図、図
３は図２の画像読取装置を示す平面図、図４は図３のコ
ンタクトガラスのコーナ部を拡大して示す平面図、図５
は磁気テープと磁気ヘッドを示す断面図、図６は読み取
りデータの位置誤差を示す説明図である。

【００１９】先ず、図２を参照して本実施形態の読取装
置の概略を説明する。コンタクトガラス１は筐体８によ
り支持され、原稿は読み取り面を下にしてコンタクトガ
ラス１上に載置される。コンタクトガラス１上の原稿は
光源２により照明され、読み取り面の反射光が第１ミラ
ー３、第２ミラー４、第３ミラー５により順次反射さ
れ、次いでレンズ６により光電変換装置７上のライン状
の光電変換素子の受光面に結像されて電気信号に変換さ
れる。

【００２０】光源２と第１ミラー３は不図示の第１キャ
リッジに取り付けられ、この第１キャリッジは原稿を線
順次で読み取るために原稿面との距離を一定にしたまま
不図示の駆動装置により副走査方向（図の左右方向）に
移動する。また、第２ミラー４と第３ミラー５は不図示
の第２キャリッジに取り付けられ、この第２キャリッジ
は第１キャリッジの１／２の速度で副走査方向に移動す
る。このような方法によりコンタクトガラス１上の所定
の範囲を線順次で読み取ることができる。

【００２１】また、図３に示すようにコンタクトガラス
１の回りの筐体８には、シェーディング補正のために基
準濃度を光電変換素子に読み取らせるための基準濃度板
９が主走査方向に延びるように取り付けられると共に、
第１キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度
を検出するために一定周波数の信号が書き込まれた磁気
テープ１０が主走査方向に延びるように取り付けられて
いる。基準濃度板９はライン状の光電変換素子毎の感度
バラツキや、照明むら、レンズ６の周辺光量の低下等を
補正するために用いられ、また、磁気テープ１０に書き
込まれている信号は、第１キャリッジに取り付けられて
いる磁気ヘッド１２（図５参照）により読み取られる。

【００２２】図４は図３の２点鎖線の円ＣＬで囲んだ領
域を拡大して示し、第１キャリッジの副走査方向の走査
位置または走査速度の測定開始時の過度現象が原稿の読
み取り範囲の先端で納まるように、磁気テープ１０は第
１キャリッジによる原稿の読み取り範囲の先端より前の
待機状態まで延びている。磁気テープ１０は図５に示す
ようにコンタクトガラス１の下面に取り付けられ、更に
磁気テープ１０の下面には緩衝部材１１が取り付けられ
ている。緩衝部材１１はテープ１０とヘッド１２の接触
を確実にする目的と、テープ１０とヘッド１２間に強い
力が働いてテープ１０が破損することを防ぐ目的で設け
られている。なお、図示されていないが、ヘッド１２は
第１キャリッジに対してバネによりテープ１０の方向に
附勢され、第１キャリッジの移動に伴ってテープ１０と
接触を保ったまま移動する。

【００２３】次に、図１を参照して本実施形態の読取装
置を詳細に説明する。光電変換装置７は例えばラインＣ
ＣＤであり、ＣＣＤの受光部に結像された原稿画像を電
気信号に変換する。この電気信号はＡ／Ｄ変換器２１に
よりディジタルの多値データに変換され、次いでシェー
ディング補正部２２により基準濃度板９の基準濃度に基
づいてシェーディング補正されて位置誤差補正部２３に
印加される。

【００２４】また、原稿読み取りの際に第１キャリッジ
が移動すると、磁気ヘッド１２によりテープ１０の磁気
データが第１キャリッジの移動速度（走査速度）に応じ
た周波数の電気信号に変換される。なお、磁気ヘッド１
２が読み取る周波数は、ラインを読み取るタイミングの
繰り返し周波数の１０倍程度であって、ほぼ連続量の速
度データが得られるように設定されている。

【００２５】この周波数の信号はヘッドアンプ２４によ
り増幅された後、Ｆ（周波数）／Ｖ（電圧）変換器２５
により周波数に対応した電圧に変換され、この電圧はＳ
（サンプル）／Ｈ（ホールド）回路２６によりサンプル
・アンド・ホールドされて制御部２０に印加される。こ
こで、サンプリングを行うタイミングとして、ラインを
読み取る信号に同期したタイミング信号が制御部２０か
らＳ／Ｈ回路２６に印加され、その結果、制御部２０は
ラインを読み取る信号に同期したタイミングで走査速度
データ（誤差信号）を得る。

【００２６】位置誤差補正部２３は少なくとも３ライン
分のメモリを有し、シェーディング補正部２２からの補
正対象ラインの各画素の画像データを補間法によりその
前後のラインの画像データと制御部２０からの速度誤差
信号に基づいて補正し、ビデオ信号として出力する。な
お、制御部２０はまた、光電変換装置７、Ａ／Ｄ変換器
２１及びシェーディング補正部２２のタイミング制御、
動作条件の設定なども行っている。

【００２７】次に、図６を参照して位置誤差補正部２３
の処理を説明する。図６において縦軸はシェーディング
補正後の画像データの値、すなわち位置誤差補正部２３
の入力画像データの値を示し、８ビットの場合には１０
進法で０〜２５５の値である。横軸はライン順次で読み
取るラインの位置を示し、正の整数が割り当てられた位
置は、制御部２０が水晶振動子による発振周波数を分周
して生成したライン読み込みタイミング信号に対応する
各ラインの位置を示す。すなわち水晶振動子の発振周波
数の安定度は非常に高いので、整数を割り当てた位置は
画像ラインの本来有るべき位置を示している。この間隔
はまた、本システムの読み取り分解能（４００ｄｐｉ）
のドット間の距離にも対応する。

【００２８】ここで、メモリの量を最小に済ますため
に、本実施形態では画素の位置の補正をリアルタイムで
行う。リアルタイムで行うためには処理に伴う演算を簡
略化する必要があり、簡略化すれば処理系の回路規模も
小さくなり、低コストとなるので、本実施形態では処理
分解能を１／１６ドットとしている。そのため、図６に
示す横軸の整数の間は１６に分割した目盛りが付けられ
ている。

【００２９】図６では横軸位置「０」において制御部２
０が決める位置と、実際に読み取った画像位置ａが一致
しているものとして示されている。また、画素の位置誤
差が生ずる原因は色々有るが、中でも大きい原因はキャ
リッジの速度が変動するからであるので、図６は第１キ
ャリッジの速度が所定値より１／１６ドットすなわち約
６％速い状態が続いた状態を示している。この場合、横
軸の整数「１」の位置に本来対応する位置の画像（大き
な○印）を読み取るはずであるが、キャリッジが速いの
で実際には１／１６ドット先の位置ｂの画像（小さな○
印）を読むことになる。

【００３０】このときには、１ライン前のライン位置を
基準として次のラインの位置ずれを順次ライン毎に行う
ために、位置誤差補正部２３は１／１６ドットの誤差信
号と画像データを受け取ると、位置誤差測定における重
心の演算制度は１／１６より高いが、その結果を１／１
６の分解能になるように丸めを行う。

【００３１】また、図６に示す例では、キャリッジの速
度はそのまま速い状態を継続しているので、１ライン前
に読み取ったデータとの関係で測定して得られる位置誤
差は同じく１／１６である。しかし、システムクロック
により決まる本来あるべき次の整数「２」のライン位置
とは、１ライン前のライン位置が既に１／１６だけずれ
ていたので、更に１／１６だけずれることになり、その
結果２／１６だけずれた位置ｃの画像データを読んでい
ることになる。同様に、次の整数「３」の読み取り位置
では３／１６だけずれた位置ｄの画像データを読み、順
次４／１６、５／１６、６／１６だけそれぞれずれた位
置ｅ、ｆ、ｇの画像データを読んでいることになる。つ
まりライン毎に測定する位置誤差の累積により、読み取
った画像データの位置が決まるので、１／１６の分解能
を有する横軸に読み取りデータが割り付けられる。

【００３２】読み取りデータの補正は次のように行う。
位置ａ〜ｇに示すように位置誤差を有する読み取りデー
タに基づいて、例えば補間法により本来あるべき位置
「０」〜「７」に対応するデータに補正される、例えば
位置「２」におけるデータを求める場合には位置「２」
より前の位置ａ、ｂにおける２個の読み取りデータと位
置「２」より後の位置ｃ、ｄにおける２個の読み取りデ
ータを用いて３次補間法（Cubic Convolution ）により
求め、以下、前後各々２個の読み取りデータを用いる。
なお、補間方法及び用いる読み取りデータはこれに限定
されない。

【００３３】２．第２の実施形態 次に、図７を参照し、第２の実施形態について説明す
る。この実施形態では走査速度の変動を検出するため
に、加速度ピックアップ２７を第１キャリッジに取り付
けて走査速度の加速度を検出し、この加速度をチャージ
アンプ２８により増幅した後、積分器２９により走査速
度に変換し、Ｓ／Ｈ回路２６によりサンプル＆ホールド
するようにしている。この実施形態においても同様に、
サンプリングを行うタイミングとして、ラインを読み取
る信号に同期したタイミング信号が制御部２０からＳ／
Ｈ回路２６に印加され、その結果、制御部２０はライン
を読み取る信号に同期したタイミングで走査速度データ
（誤差信号）を得る。

【００３４】３．第３の実施形態 第３の実施形態では、第１の実施形態の磁気テープ１０
及び磁気ヘッド１２の代わりに、第１キャリッジに光学
センサに設けると共にこの光学センサが読み取り可能な
位置の筐体８に、一定間隔で繰り返されるスリットパタ
ーンを設ける。そして、キャリッジの走行中に光学セン
サがスリットパターンを読み取ることにより図８に示す
パルス発生器３０によりスリットの有無に応じたパルス
列を発生させ、制御部２０により所定時間におけるパル
ス数をカウントすることにより走査速度を検出する。

【００３５】ここで、この第３の実施形態では、スリッ
ト読み取りの分解能、制御部２０の処理速度などの制約
からパルス周波数は、ラインを読み取る信号の周波数よ
り低くならざるを得ず、その結果、サンプリングデータ
が低い速度データしか得られない。しかし、画素の位置
誤差を補正するためにはラインの読み取りに同期した信
号が必要になるので、このサンプリングデータが低い速
度データを補間演算部３１により補間処理してラインの
読み取りに同期した信号を得る。なお、この方式は第
１、第２の実施形態に比べて比較的低価格で実現するこ
とができる。

【００３６】また、第１キャリッジの質量と摺動部との
摩擦などによる損失によって決まる運動の時定数をサン
プリング間隔より長くすれば、第３の実施形態により得
られる速度データであっても十分に画素の位置誤差を補
正することができる。

【００３７】４．第４の実施形態 次に、図９〜図２５を参照し、第４の実施形態について
説明する。

【００３８】４．１ 測定原理まず、最初に斜線を読ん
で実行されるこの実施形態における測定原理について説
明する。図９は、本実施形態の測定原理を典型的な場合
を前提にして説明するための図である。図の主走査と書
いた矢印１０１は線順次で画像を読み取る装置が同時に
読み取る１ラインの画像の画素の並びと、この並列のデ
ータを直線のデータに変換したときの時間軸上の順序を
示す。図の副走査と書いた矢印１０２は主走査の１列が
読み取る範囲を順次移動させながら読み取って行く方向
を示している。移動する手段としては、原稿の画像を光
電変換素子に投影するミラー、照明ランプなどを機械的
に移動させるもの、原稿を移動させるもの、光電変換素
子とその結像光学系を一体にして移動させるものなどが
ある。ここではこの主走査方向と副走査方向に平行な線
で囲まれたそれぞれの４角形を画素ということにする。
画素によって構成される平面は、原稿の画像を電気信号
に変換されたデータが原稿の画像の写像がそのまま並ん
でいるというイメージでとらえることができ、ビットマ
ップということもある。読み取り装置からリアルタイム
で出力されるときには、主走査、副走査の方向が時間的
な順序を示すが、出力されたデータをメモリに取り込ん
だ状態では、それぞれの画素を任意にアクセスすること
も可能であり、主走査、副走査、時間の順序にとらわれ
ない扱いも可能になる。

【００３９】図９は主走査と副走査の画素サイズが等し
い場合で、副走査方向の走査速度が変動するときと、一
定速度で４５°の斜線を読み取るときに光電変換装置に
投影されるが、像を全く劣化のないかたちでビットマッ
プに対応させて示したものである。すなわち、ａは副走
査方向の読み取りのタイミングを制御するクロックに対
応する所定の一定速度で走査したときで、ビットマップ
にも４５°の像ができる。ｂは速度が変動するときの像
で、速度に応じて傾きが異なってくる。

【００４０】つまり、Ａ−Ｂは副走査方向の走査速度が
０のときで、副走査方向の読み取りのタイミングを制御
するクロックにより副走査方向のビットマップのアドレ
スが進んでも原稿を読み取っている位置が変わらないた
め、副走査方向に平行な線になってしまう。

【００４１】Ｂ−Ｃは副走査方向の走査速度が所定の速
度の１／２のときで、ビットマップのアドレスが進んで
も、その半分しか進まない位置の画像を読んでいること
になり、画像の副走査方向の線との角度はｔａｎθ＝
０．５から、約２６．５７°である。

【００４２】Ｃ−Ｄは所定の速度で走査しているとき
で、傾きは４５°である。同様にＤ−以降は走査速度が
１．５倍の場合で、その角度は約５６．３１°である。
つまり、走査速度によって像の傾きが異なること、言い
換えれば斜線の主走査方向への移動量が、副走査方向の
移動速度に対応することを測定原理として副走査方向の
移動速度のムラ、ミラー、レンズ、光電変換装置の振動
などに起因するビットマップ画像の画素の位置誤差を計
測する。

【００４３】以上、正方形の画素を持ち、４５°の線を
使用した場合で説明したが、画素が正方形でなく、例え
ば、主走査の分解能４００ｄｐｉ、副走査の分解能６０
０ｄｐｉといった読み取り装置の画像データに適用する
こともでき、４５°以外の斜線を用いても同様に、斜線
の画像の主走査方向への移動量が副走査方向の読み取り
方向の速度に依存するという関係は成立するので、画素
の位置誤差を計測することができる。

【００４４】４．２ システム構成 図１０は、このような位置誤差測定装置の基本的なシス
テム構成の一例を示すブロック図で、画像読取装置への
付加機能として組み込み、リアルタイムでその位置誤差
を測定するものである。このシステムは光電変換部７、
Ａ／Ｄ変換部２１、シェーディング補正部２２、位置誤
差測定部２３および制御部２０から基本的に構成されて
いる。

【００４５】光電変換装置７は、例えばラインＣＣＤ
で、画像が電気信号に変換される。電気信号に変換され
た画像はＡ／Ｄ変換部（器）２１でデジタルの多値の画
像データに変換される。変換されたデータは、照明の不
均一さ、レンズの周辺光量の低下、光電変換装置の画素
間の感度の違いなどをシェーディング補正部２２によっ
てシェーディング補正される。シェーディング補正され
た画像データは、位置誤差測定部（回路）２３に入力さ
れ、測定結果に応じた誤差信号を出力する。同時に読取
装置として画像データをビデオ信号として出力する。そ
れぞれの機能ブロックは、制御部２０によってタイミン
グの制御、動作条件の設定などがなされ、相互に関連し
て動作する。

【００４６】光電変換装置として等倍センサを用いてい
る読取装置ではレンズの特性による周辺光量の低下とい
う問題がないので、シェーディング補正を省く場合があ
るが、そのような形式の読取装置にも、本願を適用する
ことができる。

【００４７】４．３ 位置誤差測定処理 図１１は図９と同様のビットマップに斜線の画像データ
ａがあるときの位置誤差の測定を行うときの処理を説明
するためのものである。Ｗ1 は画像データの位置を求め
るための演算を行う１１×３のウインドウである。ウイ
ンドウ内のデータの位置を求めるため、主走査方向にお
ける重心を演算する。この演算では、順次ウインドウの
位置をＷ2,Ｗ3 ・・・と移動させながら重心を求める。
重心の主走査方向の位置は４５°の線の場合、画素の位
置がなんらかの誤差要因で移動することがなければ、ウ
インドウを図のように移動させた場合、主走査方向に１
画素分ずつ移動するはずである。画素の移動量が１画素
分と異なる場合は、何らかの原因で画素の位置が変動し
たことになり、位置誤差を求めることができる。位置誤
差の主要な要因が副走査方向の走査速度のムラによるこ
とが分かっている場合には、位置誤差のデータか速度ム
ラにデータを変換することは容易である。

【００４８】重心を求めるのに周辺の画素のデータを含
む多数の画素データを使っているので、ＣＣＤ固有のノ
イズを始めとしてさまざまなノイズが画像データに含ま
れるが、重心を求める過程でノイズの影響が軽減され、
Ｓ／Ｎの高い測定が可能になっている。通常、ウインド
ウの画素の数が多いほどＳ／Ｎは高くなる。

【００４９】ウインドウの形状は主走査方向の重心を求
めることから、主走査側に大きいことが望ましい。副走
査方向は１としても測定可能である。

【００５０】図１２は斜線の数が複数あって複数の斜線
Ｋ1 ，Ｋ2 ，Ｋ3 を使用して位置誤差を測定する場合の
ウインドウの移動とそれに伴う処理を説明するものであ
る。図１１の例と同様にウインドウを順次移動させ、あ
らかじめ設定したおいたＷnに達したとき、その次のウ
インドウとしてＷn+1 に移動させる。移動する前後の斜
線のパターンＫ1 とＫ2 の間隔は測定用チャートを作成
する段階で決めておき、その間隔の値を主走査方向の重
心の移動を計算するときに補正する。Ｗn+1 、Ｗn+2 、
Ｗn+3 ・・・と移動させる。パターン間の間隔を画素サ
イズの整数倍に設定しておくと、ウインドウをジャンプ
させたときの補正が簡単であり、測定に先立って測定装
置にこの補正量を入力するときにも便利である。

【００５１】この例ではウインドウを１画素ずつ移動さ
せているが、画素の位置誤差を起こす原因となる振動な
どの周波数帯域が低い場合は、ウインドウを２画素以上
ずつ移動させても良い。こうすることによって測定に要
する時間短くすることができる。

【００５２】また、複数の斜線を使って位置誤差を測定
するようにすれば、読み取り装置の読み取り範囲が縦長
であっても副走査方向の全域にわたっての測定が可能に
なる。さらに、主走査方向の狭い幅のなかだけで測定す
るようにすれば、主走査方向における中央部とか、手前
とか、奥側とかに分けて位置誤差を測定することも可能
になる。

【００５３】これらの図からも明らかなように、本願で
は高い分解能で位置誤差を測定する場合でも、それに応
じて斜線のパターンを細くする必要は全くなく、システ
ムのＭＴＦの制約の影響を受けない幅の広いパターンを
使うことができるという特徴がある。幅の広いパターン
を使えば、それに応じてウインドウも大きくなり、結果
として測定の精度を上げることができる。なお、処理速
度、リアルタイム処理を行う場合は、バッファのサイ
ズ、回路規模の経済性などとのバランスでパターンの幅
を設定すればよい。

【００５４】なお、他の例として、幅の広い線のパター
ンを用い、どちらか片側のエッジのデータによっても同
様に位置誤差を測定することが可能である。

【００５５】また、副走査の読み取りタイミングと斜線
との関係は常に同じであるから、前述の公知例のように
副走査方向に並べられた等間隔の白黒のパターンでは避
けることのできないモアレの問題を回避することがで
き、高精度な位置誤差の測定を可能にしている。

【００５６】４．４ 重心の測定処理 次に、重心の測定処理を説明する。図１３に示す回路
は、図１０に示した回路に対して左右の差の補正量を演
算して位置誤差を補正できるようにした例である。第１
〜第３の実施形態および前記図１０の回路おける処理と
同様に、光電変換装置７のラインＣＣＤの受光部に結像
された原稿画像は電気信号に変換され、この電気信号が
Ａ／Ｄ変換器２１でディジタルの多値データに変換さ
れ、次いでシェーディング補正部２２により基準濃度板
９の基準濃度に基づいてシェーディング補正される。次
いでこの実施形態では、制御部２０の制御に基づいて位
置誤差測定部３２、左右の差の補正量演算部３３及び位
置誤差補正部２３ａにより以下のような処理が行われ
る。

【００５７】すなわち、図１４のフローチャートにおい
て、この処理は原稿の走査開始と同時にスタートし、先
ず、主走査方向、副走査方向の各座標値Ｘ、Ｙがイニシ
ャライズ（Ｘ＝０，Ｙ＝０）される（ステップＳ１）。
この座標値Ｘ、Ｙは斜線判別用の例えば３×３のウイン
ドウ内のある画素位置例えば中心画素の座標である。次
に、１本の斜線に対する測定回数を示す変数ｉがイニシ
ャライズ（ｉ＝０）される（ステップＳ２）。

【００５８】次に位置誤差測定部３２により斜線判別用
の３×３のウインドウ内に斜線パターンが存在するか否
かが判断され（ステップＳ３）、無い場合にはその３×
３のウインドウを主走査方向に１画素分シフト（Ｘ＝Ｘ
＋１）する（ステップＳ４）。なお、このシフト量はウ
インドウの大きさ、斜線の太さに応じて決められ、１画
素以上でもよい。ステップＳ３において斜線パターンが
存在する場合には、重心測定用の例えば１０×３のウイ
ンドウＷ1 を設定し、そのウインドウＷ1 内の重心を求
める（ステップＳ５）。このとき、ウインドウＷ1 の大
きさ、斜線の太さに応じて、斜線と判別された画素の位
置から主走査方向に整数画素分だけシフトし、斜線の部
分がウインドウＷ1 の中心付近になるようにウインドウ
Ｗ1 を設定してもよい。

【００５９】重心の測定を終了すると、重心のズレを計
算し（ステップＳ６）、次いで主走査方向に−１画素
分、副走査方向に＋１画素分シフトしたウインドウＷ2
を設定し、また、測定回数用のカウント値ｉを１つイン
クリメントする（ステップＳ７）。なお、この実施形態
では、ウインドウＷを１画素ずつ移動させているが、画
素の位置誤差を起こす原因となる振動などの周波数帯域
が低い場合には、２画素以上ずつ移動させてもよく、こ
の方法により測定に要する時間を短縮することができ
る。

【００６０】次いで、予め設定された同一ラインの測定
回数ｎに対してｉ＝ｎとならない場合にはステップＳ８
からステップＳ５に戻り、他方、ｉ＝ｎとなった場合す
なわちウインドウＷn に達した場合には次の斜線のウイ
ンドウＷn+1 に移動させる（ステップＳ８→Ｓ９）。そ
の方法としては、斜線の主走査方向の間隔に相当する画
素分より整数画素ｍだけ、ウインドウ座標を主走査方向
にシフトした後、測定カウント値ｉをクリアし（ステッ
プＳ２）、斜線判別処理（ステップＳ３）に戻る。以下
同様に、１本の斜線に対してウインドウＷn+1 、Ｗn+2
、Ｗn+3 〜のように移動させて位置誤差を測定する。

【００６１】このように複数の斜線を用いて位置誤差を
測定することにより、読取装置の読み取り範囲が縦長で
あっても、副走査領域の全域に渡って位置誤差を測定す
ることができる。更に、主走査方向の狭い幅だけ測定す
るので、主走査方向の中央部、手前、奥側のように分け
て測定することもできる。また、高い分解能で位置誤差
を測定する場合にも、斜線のパターンを細くする必要は
全くなく、システムのＭＴＦの制約を受けずに幅が広い
パターンを用いることができる。

【００６２】更に、幅が広いパターンを用いた場合、幅
に応じてウインドウも大きくなるので結果として測定精
度を向上させることができる。したがって、斜線の幅は
処理速度、リアルタイム処理を行う場合にはバッファの
サイズ、回路規模の経済性などとのバランスを考慮して
設定すればよい。また、幅が広いパターンを用いてその
片側のエッジを検出することにより位置誤差を測定する
こともできる。更に、例えば副走査方向の読み取りタイ
ミングに関係なく白黒パターンを副走査方向に配列する
とモアレの発生が問題となるが、本実施形態では副走査
方向の読み取りタイミングと斜線の関係は常に同じであ
るのでモアレの発生が問題とならず、その結果、高精度
で位置誤差を測定することができる。

【００６３】４．５ ウインドウのデータと重心の計算 次に、ウインドウのデータと重心の計算について詳細に
説明する。図１５はウインドウデータと斜線パターンの
各画素の読み取り値の関係を示し、読み取り値は８ビッ
トであって１０進（０〜２５５）で示されている。主走
査方向の重心を求めるには、副走査方向の各列（３ライ
ン分）の和を求める。すなわち、図に示すようにこれを
左側からＸ０〜Ｘ９とすると、それぞれ１８、５０、２
０２、４２７、５９０、５６２、３４５、１５０、３
７、１４を求める。そして、各画素の主走査方向の中心
座標を左から順に０〜９とし、主走査方向の重心位置を
Ｒｍとすると、重心位置Ｒｍの回りのモーメントは０に
なるので、 Ｘ０（Ｒｍ−０）＋Ｘ１（Ｒｍ−１）・・・Ｘ９（Ｒｍ
−９）＝０ が成り立ち、数値を代入して計算するとＲｍ＝４．３６
２が得られる。

【００６４】重心を求める理由は、補間などの前処理を
必要とせず、演算を簡素化、高速化することができるか
らである。また、画像位置を求める場合、各列毎のデー
タの和の並びから補間により所定の分解能のデータ列を
得て、そのデータからピーク値が存在する位置を求める
方法を用いることができる。

【００６５】次に、複数本の斜線から成るチャートの重
心を計算する場合について説明する。図１２に示すよう
に複数本から成る斜線の重心を計算する場合、同一線上
の線では問題とならないが、違う線にウインドウが移動
したときには移動前と移動後では斜線の主走査方向の間
隔が丁度、整数画素数でない限り重心の値が異なるの
で、補正しなければならない。一例として図１２に示す
斜線Ｋ２のウインドウＷn の重心の値Ｒn が４．６５と
なり、次の斜線Ｋ３に移動した場合のウインドウＷn+1
の重心の値Ｒn+1 が４．３８、ウインドウＷn+2 の重心
の値Ｒn+2 が４．４０、ウインドウＷn+3 の重心の値Ｒ
n+3 が４．４１となった場合、ウインドウが移動したラ
インにおける重心の差ΔＲを計算すと、 ΔＲ＝Ｒn −Ｒn+1 ＝４．６５−４．３８＝０．２７ となる。

【００６６】この値ΔＲを斜線Ｋ３の重心の値に加算
し、この加算結果を重心の値として位置誤差を求める。
この場合、ウインドウＷn+2 の重心の値Ｒn+2 、ウイン
ドウＷn+3 の重心の値Ｒn+3 は、 Ｒn+2 ＝Ｒn+2 ＋ΔＲ＝４．４０＋０．２７＝４．６７ Ｒn+3 ＝Ｒn+3 ＋ΔＲ＝４．４１＋０．２７＝４．６８ となる。したがって、このように複数本の斜線から成る
チャートを使用しても、連続して高精度で位置誤差を測
定することができる。但し、斜線Ｋ２のウインドウＷn
から斜線Ｋ３のウインドウＷn+1 に移動する場合、斜線
Ｋ２、Ｋ３は主走査方向に同時に存在しなければならな
い。

【００６７】４．６ 斜線の幅 重心を計算するに当たり、斜線の幅はデータをきちんと
読み取れるものであれば問題ないが、画素が正方形で、
斜線の角度が４５°であり、画像の走査速度を所定の目
標速度からのわずかなズレをより高精度で測定する場
合、斜線の主走査方向の幅を画素の整数倍にしておく
と、ウインドウを斜め方向に移動しても、斜線と画素の
関係は斜線の両側で同じになり、画像データの誤差要因
もバランスし、画像の位置を計算する精度を高めること
ができる。

【００６８】４．７ 主走査方向の斜線の画像の移動量
と副走査方向の画素の位置誤差の関係 この方式では、副走査方向の画素の位置誤差を測定する
ために、斜線を読み取った画像の主走査方向へ画像の位
置の移動を見ている。正方形の画素で４５°の斜線を使
って測定する場合には、これまでの説明で明らかなよう
に、主走査方向の移動量のウインドウ間における偏差が
そのまま、副走査方向の位置誤差になる。画素が正方形
でない場合、斜線の角度が４５°でない場合には、換算
をして副走査方向の位置誤差を得る必要がある。

【００６９】４．８ 測定の処理手順 図１６は、測定の処理手順を示すフローチャートであ
る。この処理手順では、まず、計算するウインドウの位
置を示すＷ．Ｐ．（ウインドウポインタ）をセットし
（ステップＳ１６０１）、次に、Ｗ．Ｐ．で指示される
ウインドウのデータを取り込み（ステップＳ１６０
２）、取り込んだデータの総和Ｖを計算する（ステップ
Ｓ１６０３）。そして、データの総和Ｖがあらかじめ設
定したａとｂとの間の値を持っているかどうかをチェッ
クする（ステップＳ１６０４）。このチェックでａとｂ
との間に入っていれば、重心の計算を行い（ステップＳ
１６０５）、さらに、重心のずれを計算した（ステップ
Ｓ１６０６）後、次のＷ．Ｐ．をセットする（ステップ
Ｓ１６０７）。その後、ステップＳ１６０２に戻ってデ
ータフェッチ以降の処理を繰り返す。

【００７０】一方、ステップＳ１６０４で、データの総
和Ｖがａとｂとの間に入っていなければ、ループから抜
け出し、処理を終了する。

【００７１】なお、ステップＳ１６０４で処理の総和を
チェックするのは、スタートのときにＷ．Ｐ．を誤って
セットしたため、ウインドウ内に斜線のデータがないよ
うな場合に、正しい測定がされていないのに測定結果が
出力されるのを防止するという理由からである。また、
測定に使う斜線の長さを短くしておけば、斜線が途切れ
た位置で打ち切ることができ、必要以上の測定を無駄を
省くことができる。

【００７２】４．９ 斜線パターン 図１７は第４の実施形態における斜線パターンテープを
示す説明図、図１８は図１７の斜線パターンを詳しく示
す説明図である。

【００７３】この第４の実施形態では、図１７に示すよ
うに走査光学系が主走査方向の両端において読み取り可
能な位置に２つの斜線パターンテープ１０Ｌ、１０Ｒが
設けられ、テープ１０Ｌ、１０Ｒには図１８に示すよう
に白地上に一定幅、４５°の角度の多数の黒の斜線ＬＮ
のパターン１０ａが副走査方向に等ピッチで形成されて
いる。

【００７４】４．１０ 斜線パターンの判別 図１９は斜線パターンを拡大して示す説明図、図２０は
図１９の斜線パターンの読み取り値を示す説明図、図２
１は斜線判定用ウインドウを示す説明図、図２２は他の
斜線判定用ウインドウを示す説明図、図２３は斜線判定
用マッチングパターンを示す説明図である。

【００７５】次に、斜線パターン判別処理について説明
する。図１９は図９と同様にビットマップに斜線が有る
場合を示し、図２０はその場合の８ビット（０〜２５
５）の読み取り値を示している。なお、０＝白、２５５
＝黒であり、主走査方向の座標をＸｎ、副走査方向の座
標をＹｍとしている。また、図２１は主走査方向３画素
×副走査方向３画素の斜線パターン検知用ウインドウを
示し、図２１（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ主走査方向に１
画素ずつシフトしたウインドウを示している。

【００７６】ここで、図２１（ａ）に示すウインドウ
（Ｘ２〜Ｘ４、Ｙ１〜３）内の中心画素の挟む対角方
向、すなわち中心画素を含む左上斜め方向の３つの画素
値の和Ｐａと右下斜め方向の３つの画素値の和Ｑａを計
算すると、 Ｐａ＝（Ｘ２，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ２，Ｙ２） ＝３＋１＋１＝５ Ｑａ＝（Ｘ４，Ｙ２）＋（Ｘ３，Ｙ３）＋（Ｘ４，Ｙ３） ＝３＋４＋８＝１５ となる。

【００７７】同様に、図２１（ｂ）〜（ｅ）について求
めると、 Ｐｂ＝（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ２） ＝１＋４＋２＝７ Ｑｂ＝（Ｘ５，Ｙ２）＋（Ｘ４，Ｙ３）＋（Ｘ５，Ｙ３） ＝１３＋８＋２０１＝２２２ Ｐｃ＝（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ２） ＝４＋２＋３＝９ Ｑｃ＝（Ｘ６，Ｙ２）＋（Ｘ５，Ｙ３）＋（Ｘ６，Ｙ３） ＝２１６＋２０１＋２５０＝６６７ Ｐｄ＝（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ２） ＝２＋１８＋１３＝３３ Ｑｄ＝（Ｘ７，Ｙ２）＋（Ｘ６，Ｙ３）＋（Ｘ７，Ｙ３） ＝２４８＋２５０＋２５２＝７５０ Ｐｅ＝（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ７，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ２） ＝１８＋２２０＋２１６＝４５４ Ｑｅ＝（Ｘ８，Ｙ２）＋（Ｘ７，Ｙ３）＋（Ｘ８，Ｙ３） ＝２５０＋２５２＋２４９＝７５１ となる。

【００７８】次に、中心画素と右下斜め方向の３画素
（中心画素を含む）の差Ｒを求めると、 Ｒａ＝１５−５＝１０ Ｒｂ＝２２２−７＝２１５ Ｒｃ＝６６７−９＝６５８ Ｒｄ＝７５０−３３＝７１７ Ｒｅ＝７５１−４５４＝２９７ となる。

【００７９】この差Ｒの値が大きい場合に３×３画素の
ウインドウ内に斜線パターンが有ることを示す。したが
って、例えばＲの値が５００以上の場合に斜線パターン
が有ると判断すれば図２１（ｃ），（ｄ）に示すウイン
ドウ内に斜線パターンが有ると判断することができる。

【００８０】次に、図２２を参照して他の斜線パターン
判別処理を説明する。図２２（ａ）〜（ｅ）はそれぞれ
図２２（ａ）〜（ｅ）に示すウインドウ内の各値を閾値
＝１２８で２値化した場合を示し、同様に各ウインドウ
内の中心画素を含む左上斜め方向の３つの画素値の和Ｐ
ａ〜Ｐｅと右下斜め方向の３つの画素値の和Ｑａ〜Ｑｅ
を計算すると、 Ｐａ＝（Ｘ２，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ２，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑａ＝（Ｘ４，Ｙ２）＋（Ｘ３，Ｙ３）＋（Ｘ４，Ｙ３） ＝０＋０＋０＝０ Ｐｂ＝（Ｘ３，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ３，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｂ＝（Ｘ５，Ｙ２）＋（Ｘ４，Ｙ３）＋（Ｘ５，Ｙ３） ＝０＋０＋１＝１ Ｐｃ＝（Ｘ４，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ４，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｃ＝（Ｘ６，Ｙ２）＋（Ｘ５，Ｙ３）＋（Ｘ６，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ Ｐｄ＝（Ｘ５，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ５，Ｙ２） ＝０＋０＋０＝０ Ｑｄ＝（Ｘ７，Ｙ２）＋（Ｘ６，Ｙ３）＋（Ｘ７，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ Ｐｅ＝（Ｘ６，Ｙ１）＋（Ｘ７，Ｙ１）＋（Ｘ６，Ｙ２） ＝０＋１＋１＝２ Ｑｅ＝（Ｘ８，Ｙ２）＋（Ｘ７，Ｙ３）＋（Ｘ８，Ｙ３） ＝１＋１＋１＝３ となる。

【００８１】次に、中心画素と右下斜め方向３画素（中
心画素を含む）の差Ｒａ〜Ｒｅを求めると、 Ｒａ＝０−０＝０ Ｒｂ＝１−０＝１ Ｒｃ＝３−０＝３ Ｒｄ＝３−０＝３ Ｒｅ＝３−２＝１ となる。

【００８２】したがって、この場合にも同様にこの差Ｒ
の値が大きい場合に３×３画素のウインドウ内に斜線パ
ターンが有ることを示し、例えばＲａ〜Ｒｅの値が２以
上の場合に斜線パターンが有ると判断すれば図２２
（ｃ），（ｄ）に示すウインドウ内に斜線パターンが有
ると判断することができる。また、このように画素値を
２値化することにより、加算演算を簡単にすることがで
きる。

【００８３】図２３（ａ）〜（ｄ）は斜線パターン検出
用のマッチングパターンを示し、図中の白領域は
「０」、黒領域は「１」を表している。先ず、画像デー
タを図２２に示すように２値化し、その２値化データと
図２３（ａ）〜（ｄ）に示すマッチングパターンを比較
し、合致した場合に斜線パターンがあると判断する。こ
の例では、図２２（ｃ）と図２３（ｂ）、及び図２２
（ｄ）と図２３（ａ）が合致しており、このウインドウ
内に斜線パターンがあると判断される。

【００８４】なお、上記実施形態では、ウインドウの大
きさを３×３としたが、もちろんウインドウサイズが異
なる場合にも同様な判断方法により斜線パターンを検知
することができる。但し、一般にウインドウサイズが大
きい程、判別制度は上がるが、その分処理時間が長くな
り、また回路規模も大きくなる。

【００８５】４．１１ 斜線の配置 図２４は斜線の配置関係を示し、長さＬ1 の複数の斜線
が主走査方向に対して角度θで配置され、主走査方向の
斜線の始点と終点の位置が同一の場合、主走査方向の斜
線間隔をＬ2 とすると、 Ｌ2 ＜Ｌ1 ×cos θ ・・・（１） の関係が成り立つように斜線を配置すれば、斜線は主走
査方向には重なるので、ウインドウを主走査方向に移動
して次の斜線の重心を連続して測定することができる。
ここで、斜線の長さＬ1 と斜線の始点、終点の主走査方
向の位置は式（１）の大小関係が大きいほど精度を必要
としなくなる。

【００８６】４．１２ 主走査方向の斜線の画像の移動
量と、副走査方向の画素の位置誤差次に、主走査方向の
斜線の画像の移動量と、副走査方向の画素の位置誤差の
関係について説明する。本実施形態では副走査方向の画
素の位置誤差を測定するために、斜線を読み取った画像
の主走査方向への画像位置の移動を見ている。正方形の
画素であって４５°の斜線を使って測定する場合には、
前述したように主走査方向の移動量のウインドウ間にお
ける偏差がそのまま副走査方向の位置誤差となる。しか
し、正方形の画素でない場合、斜線の角度が４５°でな
い場合には、換算を行って副走査方向の位置誤差を得る
必要がある。

【００８７】次に、図２５を参照して左右の位置誤差の
検出誤差を補正する場合について説明する。図２５に示
す縦軸は、画素の位置誤差を画素サイズの１／１６を単
位としてある読み取りクロックにおける累積誤差を示
し、縦軸の数字は１／１６の整数倍で表したときの整数
のみを示している。横軸は主走査方向を示す。Ａ、Ｄは
それぞれ主走査方向上流側、下流側の各位置誤差を測定
する位置を示し、斜線の場合には所定の幅を有するがそ
の略中央である。Ｂ、Ｃは原稿を主走査方向に読み取る
場合の各端部を示す。

【００８８】図２５に示す例では、ある読み取りクロッ
クにおける位置Ａにおける位置誤差が３４であり、位置
Ｄにおける位置誤差が７である場合を示している。これ
らの測定点が斜線で結ばれ、図ではこの斜線が破断され
ているが実際には連続した線であり、この斜線は左右の
累積誤差を基にしてその累積誤差を近似して表してい
る。

【００８９】ここで、最大読み取りサイズがＡ３サイズ
の場合、ＢＣ間は約３００ｍｍであり、また、４００ｄ
ｐｉの場合には読み取りに使用するＣＣＤ画素数は約５
０００である。仮にＡＤ間の画素数を５０００とする
と、左右の累積誤差の差は２７（＝３４−７）であるの
で、５０００を２７で割って得られる一番近い整数を求
めると１８５となる。そして、この累積誤差が得られた
ときの読み取った画像データの配置を行うときに、Ａを
起点として主走査方向の画素をカウントして１８５にな
るまで累積誤差「３４」を適用し、それ以降は１８５画
素毎に累積誤差「３４」を１ずつ減じる。すなわち、図
２５に示すように１８５画素毎に階段状の累積誤差を適
用する。

【００９０】また、位置Ａの累積誤差から位置Ｄのそれ
を減じた値が正の場合には累積誤差を減じるが、負の場
合には増加させる。位置Ａの累積誤差と位置Ｄのそれが
等しい場合にはその差は「０」であり、「０」では割り
算を行うことができないので、「０」の代わりに「１」
を用い、同様に扱って画素数「５０００」を１単位とす
る。すなわち、主走査方向の途中では累積誤差の補正は
行わない。図１３に示す「左右の差の補正量演算部３
３」は、このようにして求めた主走査方向における画素
の位置を決める信号を補正位置信号として位置誤差補正
部２３ａに送り、位置誤差補正部２３ａは第１〜第３の
実施形態と同様に、図６に示すように補間法により位置
誤差を補正する。

【００９１】５．その他 なお、第４の実施形態では斜線を用いたが、第１の実施
形態における磁気テープ１０及び磁気ヘッド１２、第２
の実施形態の加速度ピックアップ２７、第３の実施形態
のスリットパターンにより左右の位置誤差を検出するよ
うにしてもよく、また、第１キャリッジにリニアエンコ
ーダを設けることにより走査速度を検出するようにして
もよい。更に、原稿固定／走査光学系移動型の読取装置
に限定されず、原稿移動／走査光学系固定側の場合には
例えば原稿を搬送するローラにロータリエンコーダを設
けることにより走査速度を検出することができる。

【００９２】この場合、磁気テープ１０及び磁気ヘッド
１２を設けた第１の実施形態では、その速度データから
読み取りクロックに同期した位置誤差、累積位置誤差を
得ているが、代わりに両側に取り付けられる磁気テープ
１０及び磁気ヘッド１２の位置を主走査方向の画素数に
置き換えればよい。

【００９３】また、加速度センサは原稿台上の原稿を読
み取る妨げにならないので、第１キャリッジの両端では
なく、読み取り領域内に取り付けることができるので、
キャリッジの幅が大きくなることもなく、その結果、小
型化することができる。また、図２２に示す測定位置
Ａ、Ｄが原稿位置ＢＣ間に入り込むので、それぞれの測
定点を結ぶ直線を引くことができ、その結果、ラインセ
ンサの主走査方向の走査開始位置に対応する累積誤差を
求めることができる。

【００９４】

【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、キャリッジの副走査方向の走査位置または走
査速度を検出し、走査位置または走査走査速度に基づい
て、読み取りデータを走査位置または走査走査速度に誤
差がない場合のデータに補間するので、キャリッジの走
査速度に変動があっても画素の位置ずれがない画像デー
タを得ることができる。

【００９５】請求項２記載の発明によれば、キャリッジ
の主走査方向の少なくとも２点におけるキャリッジの副
走査方向の走査位置または走査速度を検出するので、キ
ャリッジの両端が同一の速度で移動していない場合に画
素の位置ずれがない画像データを得ることができる。

【００９６】請求項３記載の発明によれば、線順次の読
み取りタイミングに同期してキャリッジの副走査方向の
走査位置または走査速度を検出するので、線順次の読み
取りタイミングに同期して走査位置または走査速度を検
出することができる、請求項４記載の発明によれば、走
査方向に対して斜めであって副走査方向に等ピッチで原
稿の読み取り領域に配置されたパターンを読み取ること
によりキャリッジの副走査方向の走査位置または走査速
度を検出するので、原稿読み取り部を使用してキャリッ
ジの走査位置または走査速度を検出することができ、し
たがって、簡単な構成で検出することができる。

【００９７】請求項５記載の発明によれば、キャリッジ
の副走査方向の走査位置または走査速度を時間軸上の連
続量として出力し、線順次の読み取りタイミングにおけ
るこの連続量に基づいて補間するので、線順次の読み取
りタイミングに同期しないキャリッジの走査位置または
走査速度を検出しても画素の位置ずれがない画像データ
を得ることができる。

【００９８】請求項６記載の発明によれば、キャリッジ
の副走査方向の走査位置または走査速度を所定のサンプ
リング間隔で出力し、この所定のサンプリング間隔にお
ける走査位置または走査速度に基づいて補間するので、
サンプリング間隔が大きい検出信号であっても画素の位
置ずれがない画像データを得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る画像読取装置の一実施形態を示す
ブロック図である。

【図２】図１の画像読取装置を示す断面図である。

【図３】図２の画像読取装置を示す平面図である。

【図４】図３のコンタクトガラスのコーナ部を拡大して
示す平面図である。

【図５】磁気テープと磁気ヘッドを示す断面図である。

【図６】読み取りデータの位置誤差を示す説明図であ
る。

【図７】第２の実施形態の画像読取装置を示すブロック
図である。

【図８】第３の実施形態の画像読取装置を示すブロック
図である。

【図９】走査速度の変動に応じた斜線パターンの読み取
りデータを示す説明図である。

【図１０】第４の実施形態における測定原理などを説明
するための基本的な回路を示すブロック図である。

【図１１】ビットマップに斜線の画像データがあるとき
の位置誤差の測定を行うときの処理を説明するための図
である。

【図１２】重心測定用ウインドウを示す説明図である。

【図１３】第４の実施形態の画像読取装置を示すブロッ
ク図である。

【図１４】図１８の画像読取装置の処理を説明するため
のフローチャートである。

【図１５】重心測定用ウインドウにおける読み取り値及
び重心測定方法を示す説明図である。

【図１６】重心測定の処理手順を示すフローチャートで
ある。

【図１７】第４の実施形態における斜線パターンテープ
を示す説明図である。

【図１８】図９の斜線パターンを詳しく示す説明図であ
る。

【図１９】斜線パターンを拡大して示す説明図である。

【図２０】図１９の斜線パターンの読み取り値を示す説
明図である。

【図２１】斜線判定用ウインドウを示す説明図である。

【図２２】他の斜線判定用ウインドウを示す説明図であ
る。

【図２３】斜線判定用マッチングパターンを示す説明図
である。

【図２４】パターンの長さ及び角度を示す説明図であ
る。

【図２５】左右の累積誤差の偏差に対する補正処理を示
す説明図である。

【符号の説明】

１ コンタクトガラス ２ 光源 ３，４，５ ミラー ６ レンズ ７ 光電変換素子 １０ 磁気テープ １０Ｌ、１０Ｒ 斜線パターンテープ １０ａ 斜線パターン １２ 磁気ヘッド ２３，２３ａ 位置誤差補正部 ２７ 加速度ピックアップ ３０ パルス発生器 ３２ 位置誤差測定部 ３３ 左右の差の補正量演算部 ＬＮ 斜線

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 原稿を照明する光源が搭載されて副走査
   方向に移動するキャリッジと、 前記キャリッジの副走査方向の走査位置または走査速度
   を検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された走査位置または走査速度
   に基づいて、読み取りデータを走査位置または走査速度
   に誤差がない場合のデータに補間する補間手段と、を備
   えた画像読取装置。
2. 【請求項２】 前記検出手段は、原稿の主走査方向の少
   なくとも２点におけるキャリッジの副走査方向の走査位
   置または走査速度を検出することを特徴とする請求項１
   記載の画像読取装置。
3. 【請求項３】 前記検出手段は、線順次の読み取りタイ
   ミングに同期してキャリッジの副走査方向の走査位置ま
   たは走査速度を検出することを特徴とする請求項１また
   は２記載の画像読取装置。
4. 【請求項４】 前記検出手段は、主、副走査方向に対し
   て斜めであって副走査方向に等ピッチで原稿の読み取り
   領域に配置されたパターンを読み取ることによりキャリ
   ッジの副走査方向の走査位置または走査速度を検出する
   ことを特徴とする請求項１または２記載の画像読取装
   置。
5. 【請求項５】 前記検出手段は、キャリッジの副走査方
   向の走査位置または走査速度を時間軸上の連続量として
   出力し、前記補間手段は、線順次の読み取りタイミング
   におけるこの連続量に基づいて補間することを特徴とす
   る請求項１記載の画像読取装置。
6. 【請求項６】 前記検出手段は、キャリッジの副走査方
   向の走査位置または走査速度を所定のサンプリング間隔
   で出力し、前記補間手段は、この所定のサンプリング間
   隔における走査位置または走査速度に基づいて補間する
   ことを特徴とする請求項１記載の画像読取装置。