JPH09166556A - X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置 - Google Patents
X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置Info
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- JPH09166556A JPH09166556A JP7328622A JP32862295A JPH09166556A JP H09166556 A JPH09166556 A JP H09166556A JP 7328622 A JP7328622 A JP 7328622A JP 32862295 A JP32862295 A JP 32862295A JP H09166556 A JPH09166556 A JP H09166556A
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 システムの温度変化のみでなく経時変化に伴
う画像の変化を抑制する画像データの補正を簡単な装置
で達成すること。 【解決手段】 X線源から被写体を経て照射される被写
体に関するX線画像をX線ディテクタにて撮像し,撮像
されたX線画像を読み取る工程において,上記X線ディ
テクタ上の被写体からのX線が照射されない領域に照射
されたX線源からのX線によるベタX線源画像を上記撮
像装置を用いて上記X線ディテクタにて撮像し,このベ
タX線画像を上記読取装置にて読み取って得た補正デー
タをメモリに記憶し,記憶された補正データをX線画像
の撮像・読取処理が行われる都度,又は適当な時間或い
は処理回数間隔で更新すると共に,上記補正データに基
づいて被写体に対するX線画像読取り時に,読み取られ
たX線画像データを補正するようにしたX線画像記録再
生装置のデータ補正方法及び装置。
う画像の変化を抑制する画像データの補正を簡単な装置
で達成すること。 【解決手段】 X線源から被写体を経て照射される被写
体に関するX線画像をX線ディテクタにて撮像し,撮像
されたX線画像を読み取る工程において,上記X線ディ
テクタ上の被写体からのX線が照射されない領域に照射
されたX線源からのX線によるベタX線源画像を上記撮
像装置を用いて上記X線ディテクタにて撮像し,このベ
タX線画像を上記読取装置にて読み取って得た補正デー
タをメモリに記憶し,記憶された補正データをX線画像
の撮像・読取処理が行われる都度,又は適当な時間或い
は処理回数間隔で更新すると共に,上記補正データに基
づいて被写体に対するX線画像読取り時に,読み取られ
たX線画像データを補正するようにしたX線画像記録再
生装置のデータ補正方法及び装置。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,X線源を線源と
し,該X線源から被写体を経て照射される被写体に関す
る放射線画像を放射線ディテクタにて撮像し,放射線デ
ィテクタに撮像された放射線画像を読み取るX線画像記
録再生装置のデータ補正装置に関するものである。ここ
では線源としてX線を用いるためX線画像記録再生装置
と呼ぶ。
し,該X線源から被写体を経て照射される被写体に関す
る放射線画像を放射線ディテクタにて撮像し,放射線デ
ィテクタに撮像された放射線画像を読み取るX線画像記
録再生装置のデータ補正装置に関するものである。ここ
では線源としてX線を用いるためX線画像記録再生装置
と呼ぶ。
【0002】
【従来の技術】上記のようなX線画像記録再生装置の一
例として,例えば,照射したX線の一部が透過する被写
体,例えばプリント基板の半田付けの良否を検査するた
めに,プリント基板にX線を照射して,該プリント基板
を透過したX線の透過量分布画像をイメージングプレー
ト(IP)(ここでは地区制性感光体シートと同義)で
受像し,上記受像したイメージングプレートを励起光で
走査してイメージングプレートから発する上記X線の透
過量分布に比例した輝尽光を検出してX線透過量分布画
像を作成するプリント基板のX線検査方法(特開平6−
317543号公報参照)が知られている。このX線検
査装置は,図1に(a)に示すX線画像撮像工程におい
て,X線源3から投射されるX線がプリント基板1を部
分的に透過してイメージングプレート2で受像されるよ
う構成されている。X線はプリント基板1上に構成され
た回路パターンや部品,半田付け部等によるX線遮蔽の
度合いに対応して透過するので,イメージングプレート
2には透過量分布画像が受像される。イメージグプレー
ト2は被検体であるプリント基板1に近接して配置さ
れ,プリント基板1を透過したX線によりプリント基板
1上の回路像とほぼ等倍の画像がイメージングプレート
2上に形成される。従ってボケの少ない鮮明な画像を得
ることができる。
例として,例えば,照射したX線の一部が透過する被写
体,例えばプリント基板の半田付けの良否を検査するた
めに,プリント基板にX線を照射して,該プリント基板
を透過したX線の透過量分布画像をイメージングプレー
ト(IP)(ここでは地区制性感光体シートと同義)で
受像し,上記受像したイメージングプレートを励起光で
走査してイメージングプレートから発する上記X線の透
過量分布に比例した輝尽光を検出してX線透過量分布画
像を作成するプリント基板のX線検査方法(特開平6−
317543号公報参照)が知られている。このX線検
査装置は,図1に(a)に示すX線画像撮像工程におい
て,X線源3から投射されるX線がプリント基板1を部
分的に透過してイメージングプレート2で受像されるよ
う構成されている。X線はプリント基板1上に構成され
た回路パターンや部品,半田付け部等によるX線遮蔽の
度合いに対応して透過するので,イメージングプレート
2には透過量分布画像が受像される。イメージグプレー
ト2は被検体であるプリント基板1に近接して配置さ
れ,プリント基板1を透過したX線によりプリント基板
1上の回路像とほぼ等倍の画像がイメージングプレート
2上に形成される。従ってボケの少ない鮮明な画像を得
ることができる。
【0003】上記イメージングプレート2は,BaFB
r:Eu2+と表されるバリリウムフロロブロミド等の輝
尽性蛍光体の微結晶がポリエステルフィルム等に粒子サ
イズ数μmで150〜300μmの厚さに均一塗布され
たものである。上記輝尽性蛍光体は,第1の波長を有す
る情報が蓄積記録されると,第2の波長を有する電磁波
により励起されることにより蓄積記録された情報が第3
の波長を有する発光現象として現れる光輝尽発光現象を
有している。イメージングプレート2の分解能は写真フ
ィイルムと同等であるので,従来のX線検出器よりもは
るかに高い分解能を持つ。X線透過画像を受像したイメ
ージングプレート2は,次のX線透過画像読取工程にお
いて蓄積記録された画像が取り出される。
r:Eu2+と表されるバリリウムフロロブロミド等の輝
尽性蛍光体の微結晶がポリエステルフィルム等に粒子サ
イズ数μmで150〜300μmの厚さに均一塗布され
たものである。上記輝尽性蛍光体は,第1の波長を有す
る情報が蓄積記録されると,第2の波長を有する電磁波
により励起されることにより蓄積記録された情報が第3
の波長を有する発光現象として現れる光輝尽発光現象を
有している。イメージングプレート2の分解能は写真フ
ィイルムと同等であるので,従来のX線検出器よりもは
るかに高い分解能を持つ。X線透過画像を受像したイメ
ージングプレート2は,次のX線透過画像読取工程にお
いて蓄積記録された画像が取り出される。
【0004】図1に(b)て示すX線透過画像読取工程
において,X線透過画像を受像して透過量分布を蓄積記
録がなされたイメージングプレート2は,HeNeレーザ源
5,ガルバノミラー6,fθレンズ7,反射ミラー8よ
りなる励起光源4からのレーザービームにより走査され
ると,レーザービームのスポット径に対応するスポット
径で蓄積記録されたX線透過量分布に比例した輝尽光を
出力する。この輝尽光はフォトマルチプライヤ9を備え
た画像読み取り装置でX線透過量分布画像として検出さ
れる。上記イメージングプレート2を搬送基台11で副
走査方向に一定速度で送りつつ上記励起光源4により主
走査することにより,イメージングプレート2は2次元
的に読み取られる。上記のようにして励起光走査が終了
したイメージングプレート2は,図1に(c)で示す消
去工程10において残存画像が消去されて,再使用の用
に供される。消去工程10では,可視光を照射する消去
用光源から所要時間の可視光照射を行うことによって残
存画像が消去され,再びX線照射工程で使用されるイメ
ージングプレート2の循環工程を実施することができ
る。上記のように構成されるプリント基板のX線検査工
程は,図1に示すように上記工程(a),(b),
(c)間をイメージングプレート2を搬送する搬送ベル
ト等で連結することによって,一連の検査ラインが形成
される。またプリント基板1は別の搬送装置により撮像
位置に次々に搬送され,連続的に検査を行うことができ
る。
において,X線透過画像を受像して透過量分布を蓄積記
録がなされたイメージングプレート2は,HeNeレーザ源
5,ガルバノミラー6,fθレンズ7,反射ミラー8よ
りなる励起光源4からのレーザービームにより走査され
ると,レーザービームのスポット径に対応するスポット
径で蓄積記録されたX線透過量分布に比例した輝尽光を
出力する。この輝尽光はフォトマルチプライヤ9を備え
た画像読み取り装置でX線透過量分布画像として検出さ
れる。上記イメージングプレート2を搬送基台11で副
走査方向に一定速度で送りつつ上記励起光源4により主
走査することにより,イメージングプレート2は2次元
的に読み取られる。上記のようにして励起光走査が終了
したイメージングプレート2は,図1に(c)で示す消
去工程10において残存画像が消去されて,再使用の用
に供される。消去工程10では,可視光を照射する消去
用光源から所要時間の可視光照射を行うことによって残
存画像が消去され,再びX線照射工程で使用されるイメ
ージングプレート2の循環工程を実施することができ
る。上記のように構成されるプリント基板のX線検査工
程は,図1に示すように上記工程(a),(b),
(c)間をイメージングプレート2を搬送する搬送ベル
ト等で連結することによって,一連の検査ラインが形成
される。またプリント基板1は別の搬送装置により撮像
位置に次々に搬送され,連続的に検査を行うことができ
る。
【0005】上記のような蓄積性蛍光体シートを用いて
記録された画像情報を得るX線画像記録再生装置におい
て,安定した良質な画像を得る為には,撮像に係わるX
線源や,読み取りに係わるレーザ,フォトマルチプライ
ヤ等の機器の出力に安定した再現性が得られるよう,夫
々の機器を制御する必要がある。また各機器は単体とし
ても当然安定した出力が得られるよう制御する必要があ
る。ところが上記レーザやフォトマルチプライヤ及びこ
れらの電源,制御部は,環境温度に対する温度依存性が
大きく,一方,これらの機器は自ら発熱を伴うため,安
定した出力を得るの温度制御を行う方法もあるがコスト
高を招くため実用的でない。その為各機器の温度に応じ
た特性を予め知っておき,環境温度を検出手段でモニタ
し,検出温度に応じた各機器の制御を行う方法が例えば
特開平1−237640号公報に開示されている。
記録された画像情報を得るX線画像記録再生装置におい
て,安定した良質な画像を得る為には,撮像に係わるX
線源や,読み取りに係わるレーザ,フォトマルチプライ
ヤ等の機器の出力に安定した再現性が得られるよう,夫
々の機器を制御する必要がある。また各機器は単体とし
ても当然安定した出力が得られるよう制御する必要があ
る。ところが上記レーザやフォトマルチプライヤ及びこ
れらの電源,制御部は,環境温度に対する温度依存性が
大きく,一方,これらの機器は自ら発熱を伴うため,安
定した出力を得るの温度制御を行う方法もあるがコスト
高を招くため実用的でない。その為各機器の温度に応じ
た特性を予め知っておき,環境温度を検出手段でモニタ
し,検出温度に応じた各機器の制御を行う方法が例えば
特開平1−237640号公報に開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら, X線画像記憶再生装置で用いる機器の種類は多く,夫
々について独自に制御するのは各機器が固体差を有し,
極めて煩わしく,上記のような温度に対応して機器を制
御する公知の装置では,労力が掛かり過ぎるという問題
がある。 また,上記のようなレーザ装置やフォトマルチプライ
ヤは上記温度による変化ばかりでなく,経時変化があ
り,長時間の使用の間に出力値のズレが生じるため,適
時,制御条件を設定しなおさねばならないという煩わし
さがある。 さらにまた上記のような蓄積性蛍光体シートを用いて
X線画像を記憶再生する場合には,上記公知技術が問題
とするような読み取り工程における上記レーザ装置やフ
ォトマルチプライヤといった機器の制御のみならず,上
記蓄積性蛍光体シートやX線源,さらには上記レーザ装
置やフォトマルチプライヤといった機器すべてを固体差
を含めて制御,管理する必要があり,殆ど不可能に近い
問題がある。従って本発明は簡単にして安価な装置で僅
かな労力も必要とすることなく温度変化,経時変化に対
応して常時安定した良質な画質を得ることのできるX線
画像記憶再生装置のデータ補正方法及び装置を提供する
ことを目的とする。
々について独自に制御するのは各機器が固体差を有し,
極めて煩わしく,上記のような温度に対応して機器を制
御する公知の装置では,労力が掛かり過ぎるという問題
がある。 また,上記のようなレーザ装置やフォトマルチプライ
ヤは上記温度による変化ばかりでなく,経時変化があ
り,長時間の使用の間に出力値のズレが生じるため,適
時,制御条件を設定しなおさねばならないという煩わし
さがある。 さらにまた上記のような蓄積性蛍光体シートを用いて
X線画像を記憶再生する場合には,上記公知技術が問題
とするような読み取り工程における上記レーザ装置やフ
ォトマルチプライヤといった機器の制御のみならず,上
記蓄積性蛍光体シートやX線源,さらには上記レーザ装
置やフォトマルチプライヤといった機器すべてを固体差
を含めて制御,管理する必要があり,殆ど不可能に近い
問題がある。従って本発明は簡単にして安価な装置で僅
かな労力も必要とすることなく温度変化,経時変化に対
応して常時安定した良質な画質を得ることのできるX線
画像記憶再生装置のデータ補正方法及び装置を提供する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に第1の発明は,X線源と,該X線源から被写体を経て
照射される被写体に関するX線画像をX線ディテクタに
て撮像する撮像装置と,上記撮像装置によって撮像され
たX線画像を読み取る読取装置とを具備するX線画像記
録再生装置のデータ補正方法において,上記X線ディテ
クタ上の被写体からのX線が照射されない領域に照射さ
れたX線源からのX線によるベタX線源画像を上記撮像
装置を用いて上記X線ディテクタにて撮像するベタX線
画像撮像工程と,上記ベタX線画像撮像工程で得られた
ベタX線画像を上記読取装置にて読み取り,ベタX線画
像データを得るベタX線画像読取工程と,上記ベタX線
画像読取工程で得られたベタX線画像データに基づく補
正データをメモリに記憶する補正データ記憶工程と,上
記メモリに記憶された補正データをX線画像の撮像・読
取処理が行われる都度,又は適当な時間或いは処理回数
間隔で更新する補正データ更新工程と,上記メモリに記
憶された補正データに基づいて被写体に対するX線画像
読取り時に,読み取られたX線画像データを補正する補
正工程とを具備してなることを特徴とするX線画像記録
再生装置のデータ補正方法として構成されている。
に第1の発明は,X線源と,該X線源から被写体を経て
照射される被写体に関するX線画像をX線ディテクタに
て撮像する撮像装置と,上記撮像装置によって撮像され
たX線画像を読み取る読取装置とを具備するX線画像記
録再生装置のデータ補正方法において,上記X線ディテ
クタ上の被写体からのX線が照射されない領域に照射さ
れたX線源からのX線によるベタX線源画像を上記撮像
装置を用いて上記X線ディテクタにて撮像するベタX線
画像撮像工程と,上記ベタX線画像撮像工程で得られた
ベタX線画像を上記読取装置にて読み取り,ベタX線画
像データを得るベタX線画像読取工程と,上記ベタX線
画像読取工程で得られたベタX線画像データに基づく補
正データをメモリに記憶する補正データ記憶工程と,上
記メモリに記憶された補正データをX線画像の撮像・読
取処理が行われる都度,又は適当な時間或いは処理回数
間隔で更新する補正データ更新工程と,上記メモリに記
憶された補正データに基づいて被写体に対するX線画像
読取り時に,読み取られたX線画像データを補正する補
正工程とを具備してなることを特徴とするX線画像記録
再生装置のデータ補正方法として構成されている。
【0008】また第2の発明は,上記ベタX線画像読取
工程で得たベタX線画像データと一定値の濃度レベルと
の比の補正データを得る補正データ演算工程を具備し,
この補正データ演算工程で得られた補正データに基づい
て上記補正工程においてX放射線画像データを補正する
ように構成されている。第3の発明は,上記ベタX線画
像読取工程で得たベタX線画像データから,上記読取装
置固有のオフセット濃度データを除去するオフセット修
正工程を具備し,このオフセット濃度データの除去され
たデータに基づいて上記補正工程においてX放射線画像
データを補正することを特徴として構成されている。第
4の発明は,上記ベタX線画像読取工程で得たベタX線
画像データから,上記読取装置固有のオフセット濃度デ
ータを除去するオフセット修正工程を具備し,このオフ
セット濃度データの除去されたデータと一定値の濃度レ
ベルとの比の補正データを得るように構成されている。
上記放射線画像は,使用する放射線ディテクタ毎に撮像
しておくことがのぞましい。
工程で得たベタX線画像データと一定値の濃度レベルと
の比の補正データを得る補正データ演算工程を具備し,
この補正データ演算工程で得られた補正データに基づい
て上記補正工程においてX放射線画像データを補正する
ように構成されている。第3の発明は,上記ベタX線画
像読取工程で得たベタX線画像データから,上記読取装
置固有のオフセット濃度データを除去するオフセット修
正工程を具備し,このオフセット濃度データの除去され
たデータに基づいて上記補正工程においてX放射線画像
データを補正することを特徴として構成されている。第
4の発明は,上記ベタX線画像読取工程で得たベタX線
画像データから,上記読取装置固有のオフセット濃度デ
ータを除去するオフセット修正工程を具備し,このオフ
セット濃度データの除去されたデータと一定値の濃度レ
ベルとの比の補正データを得るように構成されている。
上記放射線画像は,使用する放射線ディテクタ毎に撮像
しておくことがのぞましい。
【0009】また,上記シェーディング補正は,複数の
画素についてのベタ放射線画像データの平均値を用いて
演算することが出来る。この発明は,その撮像の基本原
理として,後記する実施の形態における透過X線を蓄積
性蛍光体シートに撮像する場合のみでなく,その表裏の
関係としてのX線の吸収,又は反射X線あるいは回折X
線を検出する場合も含み,これらのX線を検出すること
により,被写体の物性,微小構造,欠陥評価等を行うこ
とができる場合を含むものである。従って上記放射線デ
ィテクタの典型例として,被写体を透過したX線を蓄積
する蓄積性蛍光体シートがあげられる。また,上記読取
装置の一例としてフォトマルチプライヤを用いたレーザ
スキャナが挙げられる。
画素についてのベタ放射線画像データの平均値を用いて
演算することが出来る。この発明は,その撮像の基本原
理として,後記する実施の形態における透過X線を蓄積
性蛍光体シートに撮像する場合のみでなく,その表裏の
関係としてのX線の吸収,又は反射X線あるいは回折X
線を検出する場合も含み,これらのX線を検出すること
により,被写体の物性,微小構造,欠陥評価等を行うこ
とができる場合を含むものである。従って上記放射線デ
ィテクタの典型例として,被写体を透過したX線を蓄積
する蓄積性蛍光体シートがあげられる。また,上記読取
装置の一例としてフォトマルチプライヤを用いたレーザ
スキャナが挙げられる。
【0010】第5の発明としては,X線源と,該X線源
から被写体を経て照射される被写体に関する放射線画像
を放射線ディテクタにて撮像する撮像装置と,上記撮像
装置によって撮像された放射線画像を読み取る読取装置
とを具備するX線画像記録再生装置のデータ補正装置に
おいて,上記放射線ディテクタ上の被写体からの放射線
が照射されない領域に照射されたX線源からのX線によ
るベタ放射線源画像を上記撮像装置を用いて上記放射線
ディテクタにて撮像するベタ放射線画像撮像手段と,上
記ベタ放射線画像撮像工程で得られたベタ放射線画像を
上記読取装置にて読み取り,ベタ放射線画像データを得
るベタ放射線画像読取手段と,上記ベタX線画像読取工
程で得られたベタ放射線画像データに基づく補正データ
をメモリに記憶する補正データ記憶手段と,上記メモリ
に記憶された補正データをX線画像の撮像・読取処理が
行われる都度,又は適当な間隔で更新する補正データ更
新手段と,上記メモリに記憶された補正データに基づい
て被写体に対するX線画像読取り時に,読み取られた放
射線画像データを補正する補正手段とを具備してなるこ
とを特徴とするX線画像記録再生装置のデータ補正装置
が挙げられる。
から被写体を経て照射される被写体に関する放射線画像
を放射線ディテクタにて撮像する撮像装置と,上記撮像
装置によって撮像された放射線画像を読み取る読取装置
とを具備するX線画像記録再生装置のデータ補正装置に
おいて,上記放射線ディテクタ上の被写体からの放射線
が照射されない領域に照射されたX線源からのX線によ
るベタ放射線源画像を上記撮像装置を用いて上記放射線
ディテクタにて撮像するベタ放射線画像撮像手段と,上
記ベタ放射線画像撮像工程で得られたベタ放射線画像を
上記読取装置にて読み取り,ベタ放射線画像データを得
るベタ放射線画像読取手段と,上記ベタX線画像読取工
程で得られたベタ放射線画像データに基づく補正データ
をメモリに記憶する補正データ記憶手段と,上記メモリ
に記憶された補正データをX線画像の撮像・読取処理が
行われる都度,又は適当な間隔で更新する補正データ更
新手段と,上記メモリに記憶された補正データに基づい
て被写体に対するX線画像読取り時に,読み取られた放
射線画像データを補正する補正手段とを具備してなるこ
とを特徴とするX線画像記録再生装置のデータ補正装置
が挙げられる。
【0011】
【実施の形態】以下,添付図面を参照して,本発明を具
体化した実施の形態につき説明し,本発明の理解に供す
る。尚,以下の実施の形態は本発明を透過X線をイメー
ジングプレートにより撮像する場合に適用した例であっ
て,本発明の技術的範囲を限定するものではない。ここ
に,図1は本発明の1実施の形態に用いるための撮像工
程(a),読取工程(b),消去工程(c)を具備する
X線検査装置の概念図,図2は同装置の検査処理手順を
示すフローチャート,図3は上記実施の形態におけるベ
タX線画像領域を説明するためのイメージングプレート
の平面図,図4は,他の検査処理手順を示すフローチャ
ート,図5は他のベタX線画像領域を説明するためのイ
メージングプレートの平面図,図6は,上記実施の形態
の手順に従ったデータの分布を示す図,図7は,補正前
のベタX線画像データの濃度分布図,図8は,補正後の
ベタX線画像データの濃度分布図である。
体化した実施の形態につき説明し,本発明の理解に供す
る。尚,以下の実施の形態は本発明を透過X線をイメー
ジングプレートにより撮像する場合に適用した例であっ
て,本発明の技術的範囲を限定するものではない。ここ
に,図1は本発明の1実施の形態に用いるための撮像工
程(a),読取工程(b),消去工程(c)を具備する
X線検査装置の概念図,図2は同装置の検査処理手順を
示すフローチャート,図3は上記実施の形態におけるベ
タX線画像領域を説明するためのイメージングプレート
の平面図,図4は,他の検査処理手順を示すフローチャ
ート,図5は他のベタX線画像領域を説明するためのイ
メージングプレートの平面図,図6は,上記実施の形態
の手順に従ったデータの分布を示す図,図7は,補正前
のベタX線画像データの濃度分布図,図8は,補正後の
ベタX線画像データの濃度分布図である。
【0012】図1に示した撮像工程(a),読取工程
(b),消去工程(c)の具体的内容は既に従来の技術
で説明した通りである。この実施の形態ではポリゴンミ
ラー6からのレーザ光がハーフミラー12により2個の
反射ミラー8,8に分割され,イメージングプレート2
の前半部と後半部とに分けられ,それぞれ前半部用及び
後半部用ののフォトマルチプライヤ9,9で検出される
2ヘッド化が行われている。またこの実施の形態で,前
記従来の技術における説明と異なる点は,各フォトマル
チプライヤ9で読み取られたアナログのX線画像データ
はA/D変換器12によりデジタルデータとして演算装
置13に導入され,補正演算処理が施され,補正済デー
タとして出力される点及び,上記演算装置13にはメモ
リ14が接続されており,このメモリ14にイメージン
グプレートの種類毎の後記するベタX線画像データ等か
ら演算されるシェーディング補正データを予め記憶させ
ておき,通常運転時に上記メモリ14に格納されたシェ
ーディング補正データを用いて上記フォトマルチプライ
ヤ9で得られたX線画像データを補正する点である。
(b),消去工程(c)の具体的内容は既に従来の技術
で説明した通りである。この実施の形態ではポリゴンミ
ラー6からのレーザ光がハーフミラー12により2個の
反射ミラー8,8に分割され,イメージングプレート2
の前半部と後半部とに分けられ,それぞれ前半部用及び
後半部用ののフォトマルチプライヤ9,9で検出される
2ヘッド化が行われている。またこの実施の形態で,前
記従来の技術における説明と異なる点は,各フォトマル
チプライヤ9で読み取られたアナログのX線画像データ
はA/D変換器12によりデジタルデータとして演算装
置13に導入され,補正演算処理が施され,補正済デー
タとして出力される点及び,上記演算装置13にはメモ
リ14が接続されており,このメモリ14にイメージン
グプレートの種類毎の後記するベタX線画像データ等か
ら演算されるシェーディング補正データを予め記憶させ
ておき,通常運転時に上記メモリ14に格納されたシェ
ーディング補正データを用いて上記フォトマルチプライ
ヤ9で得られたX線画像データを補正する点である。
【0013】上記シェーディング補正の手順を図2及び
図3を用いてさらに詳しく説明する。但し前提として前
記搬送基台11の上面には一様明度の着色が施されてい
るものとする。また上記X線ディテクタ上の被写体2か
らのX線が照射されないがX線源からのX線は照射され
るベタX線画像形成領域J1,J2 を,例えば図3に破線
で示すように定めておく。この場合のベタX線画像形成
領域J1,J2 はフォトマルチプライヤの主走査方向に形
成され,被写体2からのX線が照射された領域即ち走査
領域の先端部及び後端部に形成される。その走査ライン
数は例えば副走査方向に少なくともN本入るように,ま
た主走査方向にはM画素で1組の画素群が主走査方向に
K組入るようにそれぞれ設定される。
図3を用いてさらに詳しく説明する。但し前提として前
記搬送基台11の上面には一様明度の着色が施されてい
るものとする。また上記X線ディテクタ上の被写体2か
らのX線が照射されないがX線源からのX線は照射され
るベタX線画像形成領域J1,J2 を,例えば図3に破線
で示すように定めておく。この場合のベタX線画像形成
領域J1,J2 はフォトマルチプライヤの主走査方向に形
成され,被写体2からのX線が照射された領域即ち走査
領域の先端部及び後端部に形成される。その走査ライン
数は例えば副走査方向に少なくともN本入るように,ま
た主走査方向にはM画素で1組の画素群が主走査方向に
K組入るようにそれぞれ設定される。
【0014】〔工程1〕先ず実際に使用しようとする撮
像条件(X線源の強度,露光時間,距離L,使用するイ
メージングプレートの種類等の条件)下で前記撮像装置
(図1の(a))を作動させ,X線源3によるX線露光
を行って,イメージングプレート2に被写体1を透過す
る透過X線画像を潜像として形成する。その時,上記被
写体1から外れたX線により前記ベタX線画像形成領域
J1,J2 にいわゆるベタX線画像が撮像されると共に,
このイメージングプレート2を暗室状態のまま読取工程
(b)に運んで被写体からのX線画像に対応する走査領
域に対する読み取りを行うと共に,ベタX線画像の読み
取りを同時に行い,ベタX線画像データを得る。このベ
タX線画像データは,被写体による影響を除く,X線源
の立体角によるX線強度分布と所定のフォトマルチプラ
イヤの印加電圧にて与えられるゲイン,イメージングプ
レートの面分布特性によるシェーディング特性やノイズ
成分,オフセットによる影響等,撮像工程及び読取工程
に発生する全ての感度ムラ(シェーディング)要素を含
んだものであり,温度変化や経時変化により僅かずつ時
々刻々変化するもので,図7に示すように,主走査方向
に対して不均一に表れる。
像条件(X線源の強度,露光時間,距離L,使用するイ
メージングプレートの種類等の条件)下で前記撮像装置
(図1の(a))を作動させ,X線源3によるX線露光
を行って,イメージングプレート2に被写体1を透過す
る透過X線画像を潜像として形成する。その時,上記被
写体1から外れたX線により前記ベタX線画像形成領域
J1,J2 にいわゆるベタX線画像が撮像されると共に,
このイメージングプレート2を暗室状態のまま読取工程
(b)に運んで被写体からのX線画像に対応する走査領
域に対する読み取りを行うと共に,ベタX線画像の読み
取りを同時に行い,ベタX線画像データを得る。このベ
タX線画像データは,被写体による影響を除く,X線源
の立体角によるX線強度分布と所定のフォトマルチプラ
イヤの印加電圧にて与えられるゲイン,イメージングプ
レートの面分布特性によるシェーディング特性やノイズ
成分,オフセットによる影響等,撮像工程及び読取工程
に発生する全ての感度ムラ(シェーディング)要素を含
んだものであり,温度変化や経時変化により僅かずつ時
々刻々変化するもので,図7に示すように,主走査方向
に対して不均一に表れる。
【0015】〔工程2〕このベタX線画像データはフォ
トマルチプライヤ9の全ての画素からの出力データであ
るのでノイズ成分が多く,またそのまま記憶するのでは
記憶容量が大きくなりすぎるので,例えば前記M×Nの
画素単位で平均化し平滑化する。従って前端部及び後端
部夫々についてK個のデータが得られる。このデータを
代表濃度データDと名付ける。このデータの主走査方向
の分布の概要を図6(a)に示す。上記代表濃度データ
Dは,D=G×I+L0 (Gはフォトマルチプライヤの
ゲイン,Iはフォトマルチプライヤの出力電流,L0 は
フォトマルチプライヤの出力値が有する固有のオフセッ
ト量)の形でオフセットL0 を含むので,単純な対数変
換を行うことが出来ない。そこで次にイメージングプレ
ート2が搬送基台11上に無い状態で上記搬送基台11
上面をレーザ光を走査し,フォトマルチプライヤ9から
の出力データを検出する。前記のように上記搬送基台1
1の上面は一様な明度に着色されているので,この検出
データはフォトマルチプライヤ9のオフセットデータL
0 (図6の(b))を表すものとなる。そこでこのよう
なオフセットデータL0 を上記代表濃度データDから差
し引き32×32画素単位でのイメージングプレート2
の全面領域に対する代表固有データU(=D−L)(図
6(c)参照)を得る。右下の添字1,2 は前端部側と後
端部側を示す。
トマルチプライヤ9の全ての画素からの出力データであ
るのでノイズ成分が多く,またそのまま記憶するのでは
記憶容量が大きくなりすぎるので,例えば前記M×Nの
画素単位で平均化し平滑化する。従って前端部及び後端
部夫々についてK個のデータが得られる。このデータを
代表濃度データDと名付ける。このデータの主走査方向
の分布の概要を図6(a)に示す。上記代表濃度データ
Dは,D=G×I+L0 (Gはフォトマルチプライヤの
ゲイン,Iはフォトマルチプライヤの出力電流,L0 は
フォトマルチプライヤの出力値が有する固有のオフセッ
ト量)の形でオフセットL0 を含むので,単純な対数変
換を行うことが出来ない。そこで次にイメージングプレ
ート2が搬送基台11上に無い状態で上記搬送基台11
上面をレーザ光を走査し,フォトマルチプライヤ9から
の出力データを検出する。前記のように上記搬送基台1
1の上面は一様な明度に着色されているので,この検出
データはフォトマルチプライヤ9のオフセットデータL
0 (図6の(b))を表すものとなる。そこでこのよう
なオフセットデータL0 を上記代表濃度データDから差
し引き32×32画素単位でのイメージングプレート2
の全面領域に対する代表固有データU(=D−L)(図
6(c)参照)を得る。右下の添字1,2 は前端部側と後
端部側を示す。
【0016】〔工程3〕更に所定の濃度レベルデータB
に対して上記オフセットL0 を考慮して置きなおした一
定値の濃度レベルデータA(=B−L0 )(図6(d)
参照)と,前記代表固有データUとをの比を演算し,ベ
タX線画像データが略一定値となる補正ゲインGK 1,2
を求める(図6(e)参照)。 〔工程4〕上記補正ゲインを撮像領域全面に対するM×
N画素単位で平均化してシェーディング補正データを得
る。このシェーディング補正データをオフセット値L0
と共に種々のイメージングプレート毎に上記メモリ14
に格納する。以上の工程がこの実施の形態におけるシェ
ーディング補正データ作成の手順である。
に対して上記オフセットL0 を考慮して置きなおした一
定値の濃度レベルデータA(=B−L0 )(図6(d)
参照)と,前記代表固有データUとをの比を演算し,ベ
タX線画像データが略一定値となる補正ゲインGK 1,2
を求める(図6(e)参照)。 〔工程4〕上記補正ゲインを撮像領域全面に対するM×
N画素単位で平均化してシェーディング補正データを得
る。このシェーディング補正データをオフセット値L0
と共に種々のイメージングプレート毎に上記メモリ14
に格納する。以上の工程がこの実施の形態におけるシェ
ーディング補正データ作成の手順である。
【0017】〔工程5〕実際の測定段階では,前記した
ように被測定対象(被写体)についてフォトマルチプラ
イヤ9からのX線画像データがA/D変換器12でデジ
タル信号に変換され演算装置13に導入された時点で,
上記メモリ14から使用したイメージングプレートに対
応するシェーディング補正データが取り出され,このシ
ェーディング補正データで検出データが補正され出力さ
れる。上記工程1〜5は被写体についの撮像及び読取が
行われる都度又は適当な時間間隔或いは適当な処理回数
間隔で行われ,シェーディング補正データの更新が行わ
れる。これによりオフセットその他の,撮像工程及び読
取工程において発生する時々刻々変化する全ての感度変
化に影響されずに常に一定の感度で画像処理を行うこと
ができ,画像濃度を確認することができる。図5に前記
ベタX線画像データにシェーディング補正を施したデー
タを示す。このようにシェーディング補正することによ
り平坦な画像が得られることがわかる。尚,イメージン
グプレートが上記撮像工程,読取工程において代表補正
位置が整合しなくなると各領域補正データが位置ズレを
起こすので,上記補正領域の画素単位は,システムの位
置再現性の確保及び高周波ノイズの平均化処理が十分可
能な画素数及び撮像,読取全領域のゲイン変化量に鑑み
決定するべきである。
ように被測定対象(被写体)についてフォトマルチプラ
イヤ9からのX線画像データがA/D変換器12でデジ
タル信号に変換され演算装置13に導入された時点で,
上記メモリ14から使用したイメージングプレートに対
応するシェーディング補正データが取り出され,このシ
ェーディング補正データで検出データが補正され出力さ
れる。上記工程1〜5は被写体についの撮像及び読取が
行われる都度又は適当な時間間隔或いは適当な処理回数
間隔で行われ,シェーディング補正データの更新が行わ
れる。これによりオフセットその他の,撮像工程及び読
取工程において発生する時々刻々変化する全ての感度変
化に影響されずに常に一定の感度で画像処理を行うこと
ができ,画像濃度を確認することができる。図5に前記
ベタX線画像データにシェーディング補正を施したデー
タを示す。このようにシェーディング補正することによ
り平坦な画像が得られることがわかる。尚,イメージン
グプレートが上記撮像工程,読取工程において代表補正
位置が整合しなくなると各領域補正データが位置ズレを
起こすので,上記補正領域の画素単位は,システムの位
置再現性の確保及び高周波ノイズの平均化処理が十分可
能な画素数及び撮像,読取全領域のゲイン変化量に鑑み
決定するべきである。
【0018】
【実施例】上記のようなベタX線画像領域は,上記の他
被写体に関する画像が形成された走査領域の側部に形成
することも可能である。図5に示すベタX線画像領域F
1,F2 はその一例であり,走査方向の広がりが無いので
所謂シェーディング補正を行うことはできないが,簡略
化された狭い領域のみでことたるので,例えば補正係数
と言った概念を計算するのに都合がよい。このような簡
略化されたベタX線画像領域は図5に示す位置以外の場
所のみでなく,例えば図3に示した走査領域の先端部又
は後端部に設定することも勿論可能である。高速で画像
読取を行う場合には,図4のフローチャートにおける工
程5のように2つのヘッド(フォトマルチプライヤ9)
間の補正係数データHをH=G2 /G1 として求めてお
き,前回の補正係数データHと今回の前端側フォトマル
チプライヤ9の補正データG1 から後端側のフォトマル
チプライヤ9の補正データG2 を簡易に求めるようにし
てもよい。
被写体に関する画像が形成された走査領域の側部に形成
することも可能である。図5に示すベタX線画像領域F
1,F2 はその一例であり,走査方向の広がりが無いので
所謂シェーディング補正を行うことはできないが,簡略
化された狭い領域のみでことたるので,例えば補正係数
と言った概念を計算するのに都合がよい。このような簡
略化されたベタX線画像領域は図5に示す位置以外の場
所のみでなく,例えば図3に示した走査領域の先端部又
は後端部に設定することも勿論可能である。高速で画像
読取を行う場合には,図4のフローチャートにおける工
程5のように2つのヘッド(フォトマルチプライヤ9)
間の補正係数データHをH=G2 /G1 として求めてお
き,前回の補正係数データHと今回の前端側フォトマル
チプライヤ9の補正データG1 から後端側のフォトマル
チプライヤ9の補正データG2 を簡易に求めるようにし
てもよい。
【0019】この発明は,その撮像の基本原理として,
前記した透過X線を蓄積性蛍光体シートに撮像する場合
のみでなく,その表裏の関係としてのX線の吸収,又は
反射X線あるいは回折X線を検出する場合も含む。また
この発明の形態では急激に温度等が変化する場合には対
応できないので,朝一番の立ち上げ時等には,適当な馴
らし運転を行うことが望ましい。上記実施の形態におい
てはオフセットの影響を除く処理を加えたものについて
説明したが,上記のようなオフセットが無いかまたは極
めて小さい場合には,この処理を削除することも可能で
ある。この場合にはオフセットデータL0 を測定するこ
となく,代表濃度データDから一定値の濃度レベルデー
タAとの比を演算することになる。また逆に一定値との
比の演算を省略してオフセットの除去のみを行う場合も
あり得る。例えば,得られる検出データが理論上の検出
データと極めて近い値である場合には上記一定値の差し
引きによるデータの修正は不要となる場合がある。
前記した透過X線を蓄積性蛍光体シートに撮像する場合
のみでなく,その表裏の関係としてのX線の吸収,又は
反射X線あるいは回折X線を検出する場合も含む。また
この発明の形態では急激に温度等が変化する場合には対
応できないので,朝一番の立ち上げ時等には,適当な馴
らし運転を行うことが望ましい。上記実施の形態におい
てはオフセットの影響を除く処理を加えたものについて
説明したが,上記のようなオフセットが無いかまたは極
めて小さい場合には,この処理を削除することも可能で
ある。この場合にはオフセットデータL0 を測定するこ
となく,代表濃度データDから一定値の濃度レベルデー
タAとの比を演算することになる。また逆に一定値との
比の演算を省略してオフセットの除去のみを行う場合も
あり得る。例えば,得られる検出データが理論上の検出
データと極めて近い値である場合には上記一定値の差し
引きによるデータの修正は不要となる場合がある。
【0020】
【発明の効果】本発明に係るデータ補正方法は,以上述
べたごとく構成されているので,固体差の大きいレーザ
装置やフォトマルチプライヤについて個々に温度変化や
経時変化に対応した制御をする必要がなく,簡単な構成
で全く煩わしい作業をすることなく,環境温度や経時変
化に対応して画像を常に美しく保つことができる。また
この補正にはX線源の変化やイメージングプレート(蓄
積性感光体シート)の温度や経時による変化分の影響を
含んでいるので,このような変化状態の検出が困難な状
態変化にも簡単に対応可能である。
べたごとく構成されているので,固体差の大きいレーザ
装置やフォトマルチプライヤについて個々に温度変化や
経時変化に対応した制御をする必要がなく,簡単な構成
で全く煩わしい作業をすることなく,環境温度や経時変
化に対応して画像を常に美しく保つことができる。また
この補正にはX線源の変化やイメージングプレート(蓄
積性感光体シート)の温度や経時による変化分の影響を
含んでいるので,このような変化状態の検出が困難な状
態変化にも簡単に対応可能である。
【図1】 本発明の1実施の形態に係るシェーディング
補正方法の実施に使用するX線画像記憶装置の概要図。
補正方法の実施に使用するX線画像記憶装置の概要図。
【図2】 上記実施の形態に係る方法の手順を説明する
ためのフローチャート。
ためのフローチャート。
【図3】 上記実施の形態におけるベタX線画像領域を
説明するためのイメージングプレートの平面図。
説明するためのイメージングプレートの平面図。
【図4】 他の検査処理手順を示すフローチャート。
【図5】 他のベタX線画像領域を説明するためのイメ
ージングプレートの平面図。
ージングプレートの平面図。
【図6】 上記実施の形態の手順に従ったデータの分布
を示す図。
を示す図。
【図7】 補正前のベタX線画像データの濃度分布図。
【図8】 補正後のベタX線画像データの濃度分布図。
1…プリント基板(被写体) 2…イメージングプレート(X線ディテクタ) 3…X線源 4…励起光源 9…フォトマルチプライヤ(読取装置) 10…消去工程
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 1/401 H04N 1/40 101A
Claims (12)
- 【請求項1】 X線源と,該X線源から被写体を経て照
射される被写体に関するX線画像をX線ディテクタにて
撮像する撮像装置と,上記撮像装置によって撮像された
X線画像を読み取る読取装置とを具備するX線画像記録
再生装置のデータ補正方法において,上記X線ディテク
タ上の被写体からのX線が照射されない領域に照射され
たX線源からのX線によるベタX線源画像を上記撮像装
置を用いて上記X線ディテクタにて撮像するベタX線画
像撮像工程と,上記ベタX線画像撮像工程で得られたベ
タX線画像を上記読取装置にて読み取り,ベタX線画像
データを得るベタX線画像読取工程と,上記ベタX線画
像読取工程で得られたベタX線画像データに基づく補正
データをメモリに記憶する補正データ記憶工程と,上記
メモリに記憶された補正データをX線画像の撮像・読取
処理が行われる都度,又は適当な時間或いは処理回数間
隔で更新する補正データ更新工程と,上記メモリに記憶
された補正データに基づいて被写体に対するX線画像読
取り時に,読み取られたX線画像データを補正する補正
工程とを具備してなることを特徴とするX線画像記録再
生装置のデータ補正方法。 - 【請求項2】 上記ベタX線画像読取工程で得たベタX
線画像データと一定値の濃度レベルとの比の補正データ
を得る補正データ演算工程を具備し,この補正データ演
算工程で得られた補正データに基づいて上記補正工程に
おいてX放射線画像データを補正する請求項1記載のX
線画像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項3】 上記ベタX線画像読取工程で得たベタX
線画像データから,上記読取装置固有のオフセット濃度
データを除去するオフセット修正工程を具備し,このオ
フセット濃度データの除去されたデータに基づいて上記
補正工程においてX放射線画像データを補正する請求項
1記載のX線画像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項4】 上記ベタX線画像読取工程で得たベタX
線画像データから,上記読取装置固有のオフセット濃度
データを除去するオフセット修正工程を具備し,このオ
フセット濃度データの除去されたデータと一定値の濃度
レベルとの比の補正データを得る請求項2記載のX線画
像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項5】 使用するX線ディテクタ毎にベタX線画
像を撮像する請求項1,2,3又は4のいずれかに記載
のX線画像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項6】 上記データ補正を,複数の画素について
のベタX線画像データの平均値を用いて演算する請求項
1,2,3,4又は5のいずれかに記載のX線画像記録
再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項7】 上記ベタ放射線画像を形成する放射線デ
ィテクタ上の被写体からの放射線が照射されない領域
が,上記X線ディテクタ上のフォトマルチプライヤによ
る主走査方向に沿ってその走査領域先端部及び/又は後
端部に形成されてなる請求項1,2,3,4,5又は6
のいずれかに記載のX線画像記録再生装置のデータ補正
方法。 - 【請求項8】 上記ベタ放射線画像を形成する放射線デ
ィテクタ上の被写体からの放射線が照射されない領域
が,上記X線ディテクタ上のフォトマルチプライヤによ
る主走査方向に沿ってその走査領域の側部に形成されて
なる請求項1,2,3,4,5又は6のいずれかに記載
のX線画像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項9】 前記放射線ディテクタが被写体を透過し
たX線を蓄積する蓄積性蛍光体シートであり,上記読取
装置がフォトマルチプライヤを用いたレーザスキャナで
ある請求項1,2,3,4,5,6,7又は8記載のX
線画像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項10】 被写体がプリント基板である請求項9
記載のX線画像記録再生装置のデータ補正方法。 - 【請求項11】 X線源と,該X線源から被写体を経て
照射される被写体に関する放射線画像を放射線ディテク
タにて撮像する撮像装置と,上記撮像装置によって撮像
された放射線画像を読み取る読取装置とを具備するX線
画像記録再生装置のデータ補正装置において,上記放射
線ディテクタ上の被写体からの放射線が照射されない領
域に照射されたX線源からのX線によるベタ放射線源画
像を上記撮像装置を用いて上記放射線ディテクタにて撮
像するベタ放射線画像撮像手段と,上記ベタ放射線画像
撮像工程で得られたベタ放射線画像を上記読取装置にて
読み取り,ベタ放射線画像データを得るベタ放射線画像
読取手段と,上記ベタX線画像読取工程で得られたベタ
放射線画像データに基づく補正データをメモリに記憶す
る補正データ記憶手段と,上記メモリに記憶された補正
データをX線画像の撮像・読取処理が行われる都度,又
は適当な間隔で更新する補正データ更新手段と,上記メ
モリに記憶された補正データに基づいて被写体に対する
X線画像読取り時に,読み取られた放射線画像データを
補正する補正手段とを具備してなることを特徴とするX
線画像記録再生装置のデータ補正装置。 - 【請求項12】 被写体がプリント基板であり,前記放
射線ディテクタが被写体を透過したX線を蓄積する蓄積
性蛍光体シートであり,上記読取装置がフォトマルチプ
ライヤを用いたレーザスキャナである請求項11記載の
X線画像記録再生装置のデータ補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7328622A JPH09166556A (ja) | 1995-12-18 | 1995-12-18 | X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7328622A JPH09166556A (ja) | 1995-12-18 | 1995-12-18 | X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09166556A true JPH09166556A (ja) | 1997-06-24 |
Family
ID=18212329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7328622A Pending JPH09166556A (ja) | 1995-12-18 | 1995-12-18 | X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09166556A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002243666A (ja) * | 2001-02-14 | 2002-08-28 | Sumitomo Precision Prod Co Ltd | 既設装置における探傷方法 |
| JPWO2016174926A1 (ja) * | 2015-04-30 | 2018-04-05 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム |
-
1995
- 1995-12-18 JP JP7328622A patent/JPH09166556A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002243666A (ja) * | 2001-02-14 | 2002-08-28 | Sumitomo Precision Prod Co Ltd | 既設装置における探傷方法 |
| JPWO2016174926A1 (ja) * | 2015-04-30 | 2018-04-05 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム |
| US10458927B2 (en) | 2015-04-30 | 2019-10-29 | Fujifilm Corporation | Image processing device, image processing method, and program |
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