JPH09167345A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ディスクの情報記録面の昇温温度をディスク
特性に対応した最適な温度設定とし、記録情報特性の品
質向上を図るとともに、光ヘッド部の小型化ならびに低
コスト化を図る光ディスク装置を実現する。 【解決手段】 出射光１０のディスク９を透過した透過
光２０を透過光検出手段３１により検出し、この検出し
た透過光２０の強度からディスク９の情報記録面の温度
を算出し、レーザ光源１の出力を制御することで、ディ
スク９の情報記録面の温度を制御することにより、ディ
スク特性に対応した最適な温度を設定でき記録情報特性
の品質向上を図れる。さらに、透過光検出手段３１の検
出値を用いてディスク９に対する出射光１０のチルト角
を算出し、チルト角が垂直になるように制御することに
より、従来のチルトセンサを不要とし、光ヘッド部の小
型化ならびに低コスト化を図れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、レーザ光をレン
ズ系列により絞ったビームスポットを用い、光ディスク
上に情報を記録したり、予め記録されている情報を再生
する光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク装置は、再生型であるコンパ
クトディスク（ＣＤ）、記録再生型である相変化ディス
ク、光磁気ディスク等が一般的になっている。これら光
ディスクに情報を記録再生する手段としては、レーザ光
を集光してディスク内の情報記録面にレーザビームスポ
ットを形成し、その反射光を検出演算することで情報記
録面の情報を抽出する方法を用いている。

【０００３】以下、図４を参照しながら従来の光ディス
ク装置について説明する。図４は従来の光ディスク装置
の構成図である。図４において、１はレーザ光源、２は
コリメートレンズ、３はビームスプリッタ、４は対物レ
ンズ、５は集光レンズ、６は反射光検出素子、７はレー
ザパワーモニタ、８はチルトセンサ、９はディスク、１
０は出射光、１１はチルト角演算回路、１２はチルト角
制御回路、１３はチルト角制御機構、１４はレーザ出力
制御回路、１５はＲＦ回路、１６はトラッキング制御回
路、１７はフォーカス制御回路である。

【０００４】ディスク９に情報を記録再生するための出
射光１０は、レーザ光源１より発生させ、コリメートレ
ンズ２により平行光に変換し、ビームスプリッタ３，対
物レンズ４を経てディスク９に収束させる。ディスク９
の情報記録面よりの反射光は、対物レンズ４，ビームス
プリッタ３，集光レンズ５を透過して反射光検出素子６
に集光させ、ＲＦ回路１５で情報記録面の情報を読みと
る。

【０００５】レーザ光源１より発生させた出射光１０の
一部は、ビームスプリッタ３によりレーザパワーモニタ
７へ透過してその強度を検出、レーザ出力制御回路１４
を経てレーザ光源１の出力値を制御している。ディスク
９の出射光１０に対するチルト角は、チルトセンサ８に
より検出し、チルト角演算回路１１，チルト角制御回路
１２を経てチルト角制御機構１３により制御する。

【０００６】また、記録方法としては、ディスク９上の
情報記録面に出射光１０を集光して情報記録面を昇温す
ることにより情報を記録する方法、あるいは昇温と同時
に図示しない磁気ヘッドで磁界を印加することにより情
報を記録する方法が用いられている。どちらの記録方法
を用いる場合でも、ディスク９の情報記録面を出射光１
０により昇温させる手段が適用されており、昇温温度を
適切に設定することが記録情報特性の品質を維持する上
で、さらにはディスク９の信頼性を保つ上で、非常に重
要である。

【０００７】また、記録ならびに再生の際、ディスク９
に対する出射光１０と情報記録面との角度いわゆるチル
ト角を垂直に維持することが、記録再生情報の品質を維
持する上で重要となっている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、ディスク９の情報記録面の昇温温度の制御
方法は、ディスク９に入射する前のレーザ光強度を検出
して出射光１０の強度を制御する方法であるため、実際
の情報記録面の昇温状態をフィードバックしてはおら
ず、メーカの違い等によるディスク特性のバラツキに対
応した最適な温度設定をできず、記録情報特性の品質低
下を招くという欠点があった。

【０００９】また、チルト角を検出するためのチルトセ
ンサ８は、発光素子と受光素子を必要とするためにサイ
ズが大きく高価であり、光ヘッド部の小型化ならびに低
コスト化の妨げになっていた。この発明の第１の目的
は、ディスクの情報記録面の昇温温度を、ディスク特性
に対応した最適な温度設定とすることができ、記録情報
特性の品質向上を図ることのできる光ディスク装置を提
供することである。

【００１０】この発明の第２の目的は、光ヘッド部の小
型化ならびに低コスト化を図ることのできる光ディスク
装置を提供することである。この発明の第３の目的は、
第１の目的と第２の目的をともに達成できる光ディスク
装置を提供することである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の光ディス
ク装置は、レーザ光源からの出射光のディスクの情報記
録面を透過した透過光を検出する透過光検出手段と、透
過光検出手段の出力値よりディスクの情報記録面の温度
を演算するディスク温度演算手段と、ディスク温度演算
手段の演算結果よりディスクの情報記録面の温度が所定
値になるようにレーザ光源の出力値を制御するレーザ出
力制御手段とを設けたことを特徴とする。

【００１２】この構成によれば、ディスクの情報記録面
の温度を所定値にするためのレーザ光源の出力値の制御
を、ディスクの情報記録面を透過した透過光を検出・演
算することにより行っているため、ディスク特性に対応
した情報記録面の最適な温度設定を行うことができ、記
録情報特性の品質向上を図ることができる。請求項２記
載の光ディスク装置は、レーザ光源からの出射光のディ
スクの情報記録面を透過した透過光を検出する透過光検
出手段と、透過光検出手段の出力値より透過光の強度分
布を演算する透過光強度分布演算手段と、透過光強度分
布演算手段の演算結果よりディスクの情報記録面に対す
る出射光のチルト角を演算するチルト角演算手段と、出
射光チルト角演算手段の演算結果よりチルト角が垂直に
なるように制御するチルト角制御手段とを設けたことを
特徴とする。

【００１３】この構成によれば、ディスクの情報記録面
に対する出射光のチルト角を垂直にする制御を、従来の
ようにサイズが大きく高価なチルトセンサを用いること
なく、ディスクの情報記録面を透過した透過光を検出・
演算することにより行うことにより、光ヘッド部の小型
化ならびに低コスト化を図ることができる。請求項３記
載の光ディスク装置は、レーザ光源からの出射光のディ
スクの情報記録面を透過した透過光を検出する透過光検
出手段と、透過光検出手段の出力値よりディスクの情報
記録面の温度を演算するディスク温度演算手段と、ディ
スク温度演算手段の演算結果よりディスクの情報記録面
の温度が所定値になるようにレーザ光源の出力値を制御
するレーザ出力制御手段と、透過光検出手段の出力値よ
り透過光の強度分布を演算する透過光強度分布演算手段
と、透過光強度分布演算手段の演算結果よりディスクの
情報記録面に対する出射光のチルト角を演算するチルト
角演算手段と、出射光チルト角演算手段の演算結果より
チルト角が垂直になるように制御するチルト角制御手段
とを設けたことを特徴とする。

【００１４】この構成によれば、ディスクの情報記録面
の温度を所定値にするためのレーザ光源の出力値の制
御、およびディスクの情報記録面に対する出射光のチル
ト角を垂直にする制御を、ディスクの情報記録面を透過
した透過光を検出・演算することにより行うことによ
り、ディスク特性に対応した情報記録面の最適な温度設
定を行うことができ、記録情報特性の品質向上を図るこ
とができるとともに、光ヘッド部の小型化ならびに低コ
スト化を図ることができる。また、従来のレーザパワー
モニタとチルトセンサを用いずに、１つの透過光検出手
段をレーザ光源の出力値の制御およびチルト角の制御の
ために用いているため、検出素子数の削減ができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。 〔第１の実施の形態〕図１はこの発明の第１の実施の形
態における光ディスク装置の構成図である。図１におい
て、２０はディスク９を透過した透過光、２１は受光素
子を有する透過光検出手段、２２はディスク温度演算回
路、２３はレーザ出力制御回路であり、図４と同一の構
成要素については同一符号を付し、説明を省略する。

【００１６】この光ディスク装置は、出射光１０のディ
スク９を透過した透過光２０を透過光検出手段２１によ
り検出し、この検出した透過光２０の強度からディスク
温度演算回路２２によりディスク９の情報記録面の温度
を算出し、この算出値を用いてレーザ出力制御回路２３
によりレーザ光源１の出力を制御することで、ディスク
９の情報記録面の温度を所定値に制御するようになって
いる。なお、この実施の形態におけるチルト角を制御す
る構成は図示していないが、従来と同様に行っている。

【００１７】この構成における透過光検出手段２１によ
る透過光２０の強度は、 （透過光強度）＝（出射光強度）−（反射光強度）−
（情報記録面に吸収され昇温に寄与する光強度） で表される。ここで、（反射光強度）の（出射光強度）
に対する割合はディスクによらずほぼ一定であるため、
透過光検出手段２１で（透過光強度）を検出することに
より、（情報記録面に吸収され昇温に寄与する光強度）
が算出可能である。これをディスク温度演算回路２２で
算出する、したがってディスク９の情報記録面の温度を
算出でき、これをレーザ出力制御回路２３にフィードバ
ックすることにより、ディスク９の情報記録面に吸収さ
れ昇温に寄与する光強度、言い換えれば昇温温度を制御
する。

【００１８】この実施の形態によれば、ディスク９の情
報記録面の温度を所定値にするためのレーザ光源１の出
力値の制御を、ディスク９の情報記録面を透過した透過
光２０を検出・演算することにより行っているため、デ
ィスク特性に対応した情報記録面の最適な温度設定を行
うことができ、記録情報特性の品質向上を図ることがで
きる。

【００１９】〔第２の実施の形態〕図２はこの発明の第
２の実施の形態における光ディスク装置の構成図であ
る。図２において、２０はディスク９を透過した透過
光、３１は複数の受光素子を有する透過光検出手段、３
２は透過光強度分布演算回路、３３はチルト角演算回
路、３４はチルト角制御回路であり、図４と同一の構成
要素については同一符号を付し、説明を省略する。

【００２０】この光ディスク装置は、出射光１０のディ
スク９を透過した透過光２０を透過光検出手段３１によ
り検出し、透過光強度分布演算回路３２を経てチルト角
演算回路３３によりディスク９に対する出射光１０のチ
ルト角を算出し、この算出値を用いてチルト角制御回路
３４を経てチルト角制御機構１３を駆動し、これにより
ディスク９に対する出射光１０のチルト角が垂直になる
ように制御するようになっている。チルト角制御回路３
４およびチルト角制御機構１３によりチルト角制御手段
を構成している。なお、この実施の形態におけるレーザ
光源１の出力値を制御する構成は図示していないが、従
来と同様に行っている。

【００２１】ここで、ディスク９の傾きによるチルト角
の変動量は、複数の受光素子から成る透過光検出手段３
１で検出した透過光２０の強度分布を透過光強度分布演
算回路３２で演算し、この演算結果を用いてチルト角演
算回路３３でチルト角を算出し、この算出値をチルト角
制御回路３４にフィードバックすることで、チルト角を
制御する。

【００２２】この実施の形態によれば、ディスク９の情
報記録面に対する出射光１０のチルト角を垂直にする制
御を、従来のようにサイズが大きく高価なチルトセンサ
を用いることなく、ディスク９の情報記録面を透過した
透過光２０を検出・演算することにより行うことによ
り、光ヘッド部の小型化ならびに低コスト化を図ること
ができる。

【００２３】〔第３の実施の形態〕図３はこの発明の第
３の実施の形態における光ディスク装置の構成図であ
る。図３において、図１および図２とと同一の構成要素
については同一符号を付し、説明を省略する。この実施
の形態の光ディスク装置は、第２の実施の形態の光ディ
スク装置において、透過光検出手段３１に、第１の実施
の形態のディスク温度制御機能（ディスク温度演算回路
２２，レーザ出力制御回路２３）を接続した構成であ
る。

【００２４】この実施の形態によれば、第１および第２
の実施の形態による効果をともに得られるだけでなく、
従来のレーザパワーモニタとチルトセンサを用いずに、
１つの透過光検出手段３１をレーザ光源１の出力値の制
御およびチルト角の制御のために用いているため、検出
素子数の削減ができる。

【００２５】

【発明の効果】請求項１記載の光ディスク装置は、透過
光検出手段とディスク温度演算手段とレーザ出力制御手
段とを設け、ディスクの情報記録面の温度を所定値にす
るためのレーザ光源の出力値の制御を、ディスクの情報
記録面を透過した透過光を検出・演算することにより行
っているため、ディスク特性に対応した情報記録面の最
適な温度設定を行うことができ、記録情報特性の品質向
上を図ることができる。

【００２６】請求項２記載の光ディスク装置は、透過光
検出手段と透過光強度分布演算手段とチルト角演算手段
とチルト角制御手段とを設け、ディスクの情報記録面に
対する出射光のチルト角を垂直にする制御を、従来のよ
うにサイズが大きく高価なチルトセンサを用いることな
く、ディスクの情報記録面を透過した透過光を検出・演
算することにより行うことにより、光ヘッド部の小型化
ならびに低コスト化を図ることができる。

【００２７】請求項３記載の光ディスク装置は、透過光
検出手段とディスク温度演算手段とレーザ出力制御手段
と透過光強度分布演算手段とチルト角演算手段とチルト
角制御手段とを設け、ディスクの情報記録面の温度を所
定値にするためのレーザ光源の出力値の制御、およびデ
ィスクの情報記録面に対する出射光のチルト角を垂直に
する制御を、ディスクの情報記録面を透過した透過光を
検出・演算することにより行うことにより、ディスク特
性に対応した情報記録面の最適な温度設定を行うことが
でき、記録情報特性の品質向上を図ることができるとと
もに、光ヘッド部の小型化ならびに低コスト化を図るこ
とができる。また、従来のレーザパワーモニタとチルト
センサを用いずに、１つの透過光検出手段をレーザ光源
の出力値の制御およびチルト角の制御のために用いてい
るため、検出素子数の削減ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施の形態における光ディス
ク装置の構成図。

【図２】この発明の第２の実施の形態における光ディス
ク装置の構成図。

【図３】この発明の第３の実施の形態における光ディス
ク装置の構成図。

【図４】従来の光ディスク装置の構成図。

【符号の説明】

１ レーザ光源 ２ コリメートレンズ ３ ビームスプリッタ ４ 対物レンズ ５ 集光レンズ ６ 反射光検出素子 ９ ディスク １０ 出射光 １３ チルト角制御機構 １５ ＲＦ回路 １６ トラッキング制御回路 １７ フォーカス制御回路 ２０ 透過光 ２１ 透過光検出手段 ２２ ディスク温度演算回路 ２３ レーザ出力制御回路 ３１ 透過光検出手段 ３２ 透過光強度分布演算回路 ３３ チルト角演算回路 ３４ チルト角制御回路

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光源からの出射光を集光手段によ
   りディスクの情報記録面に収束して光スポットを形成
   し、情報の記録・再生を行う光ディスク装置であって、 前記出射光の前記ディスクの情報記録面を透過した透過
   光を検出する透過光検出手段と、 前記透過光検出手段の出力値より前記ディスクの情報記
   録面の温度を演算するディスク温度演算手段と、 前記ディスク温度演算手段の演算結果より前記ディスク
   の情報記録面の温度が所定値になるように前記レーザ光
   源の出力値を制御するレーザ出力制御手段とを設けたこ
   とを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 レーザ光源からの出射光を集光手段によ
   りディスクの情報記録面に収束して光スポットを形成
   し、情報の記録・再生を行う光ディスク装置であって、 前記出射光の前記ディスクの情報記録面を透過した透過
   光を検出する透過光検出手段と、 前記透過光検出手段の出力値より前記透過光の強度分布
   を演算する透過光強度分布演算手段と、 前記透過光強度分布演算手段の演算結果より前記ディス
   クの情報記録面に対する前記出射光のチルト角を演算す
   るチルト角演算手段と、 前記出射光チルト角演算手段の演算結果より前記チルト
   角が垂直になるように制御するチルト角制御手段とを設
   けたことを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 レーザ光源からの出射光を集光手段によ
   りディスクの情報記録面に収束して光スポットを形成
   し、情報の記録・再生を行う光ディスク装置であって、 前記出射光の前記ディスクの情報記録面を透過した透過
   光を検出する透過光検出手段と、 前記透過光検出手段の出力値より前記ディスクの情報記
   録面の温度を演算するディスク温度演算手段と、 前記ディスク温度演算手段の演算結果より前記ディスク
   の情報記録面の温度が所定値になるように前記レーザ光
   源の出力値を制御するレーザ出力制御手段と、 前記透過光検出手段の出力値より前記透過光の強度分布
   を演算する透過光強度分布演算手段と、 前記透過光強度分布演算手段の演算結果より前記ディス
   クの情報記録面に対する前記出射光のチルト角を演算す
   るチルト角演算手段と、 前記出射光チルト角演算手段の演算結果より前記チルト
   角が垂直になるように制御するチルト角制御手段とを設
   けたことを特徴とする光ディスク装置。