JPH09168071A - 情報処理装置及び当該情報処理装置の検査装置 - Google Patents

情報処理装置及び当該情報処理装置の検査装置

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JPH09168071A
JPH09168071A JP7327205A JP32720595A JPH09168071A JP H09168071 A JPH09168071 A JP H09168071A JP 7327205 A JP7327205 A JP 7327205A JP 32720595 A JP32720595 A JP 32720595A JP H09168071 A JPH09168071 A JP H09168071A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 双方向セントロニクスインターフェース付き
ファクシミリ装置を検査する場合に、新たに検査装置を
接続し直さなければならず、時間と人手を要する問題点
があった。 【解決手段】 本発明の情報処理装置は、双方向セント
ロニクスインターフェースを持つ情報処理装置であっ
て、他の情報処理装置の双方向セントロニクスインター
フェースを中継回路を介して接続する接続手段と、同期
をとりながら各信号線を自動的に動作確認する制御手段
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、双方向セントロニ
クスインターフェース付き情報処理装置及び当該情報処
理装置の検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のセントロニクスインターフェース
は片方向で、端末側の状態(記録紙無し、動作ビジーな
ど。)をホスト側に通知することはできるものの、例え
ば端末側で読み取った画像データなどを端末側からホス
ト側に転送することができなかった。
【0003】このため、この度IEEEにおいて双方向
に通信可能なセントロニクスインターフェースの標準化
が行われた。この双方向に通信可能なセントロニクスイ
ンターフェースを実現し製品化するには、データバスの
入出力制御、および状態信号の詳細な検査工程が必要で
ある。
【0004】この検査工程においては、双方向セントロ
ニクスインターフェースにおける入出力の数が異なる
為、現状被試験機である端末装置に試験機を接続し、試
験機の検査工程により各種信号の検査を行っている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら双方向セ
ントロニクスインターフェース付きファクシミリ装置の
場合、検査工程における検査項目には、この他ファクシ
ミリ信号やダイヤル信号の送受信、読み取り、記録部、
操作部、表示部の動作などがあり、新たに双方向セント
ロニクスインターフェースの検査のために双方向セント
ロニクスインターフェース試験機を接続し直して検査工
程を行うには、時間と人手を要する不具合があった。
【0006】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、その発明の目的は、従来ファクシミリ装置の検査
工程で行っていた対向検査方式を双方向セントロニクス
インターフェースの検査にも取り入れ、ゲート付き論理
回路を仲介させて信号制御を行うことで、双方向セント
ロニクスインターフェースにおける入出力の数が異なる
問題点を解決し、対向検査方式による検査工程時間の短
縮と検査構成の簡略化を実現することである。
【0007】また、本発明は、上記問題点に鑑みなされ
たもので、その発明の目的は、従来ファクシミリ装置の
検査工程で行っていた対向検査方式を双方向セントロニ
クスインターフェースの検査にも取り入れ、ゲート付き
論理回路を仲介させて信号制御を行ない、一方の動作確
認を終えた後試験機と被試験機能を自動的に交代して同
様の動作確認を行うことで、対向検査方式による検査工
程時間の短縮と検査構成の簡略化を実現することであ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の情報処理装置は、双方向セントロニクスイ
ンターフェースを持つ情報処理装置であって、他の情報
処理装置の双方向セントロニクスインターフェースを中
継回路を介して接続する接続手段と、同期をとりながら
各信号線を自動的に動作確認する制御手段とを有する。
【0009】また、前記情報処理装置のビジー出力信号
は前記中継回路を介して前記他の情報処理装置のストロ
ーブ入力信号に接続され、前記情報処理装置のストロー
ブ入力信号は前記中継回路を介して前記他の情報処理装
置のビジー出力信号に接続される。
【0010】また、前記情報処理装置の8本のデータバ
スは、前記中継回路を介してそのまま前記他の情報処理
装置の8本のデータバスに接続され、ドライバの方向選
択により入出力が切り換えられる。
【0011】また、前記情報処理装置の5本の出力信号
は、前記中継回路内の3状態出力を持つバッファ回路を
介して前記他の情報処理装置の3本の入力信号に接続さ
れる。
【0012】また、前記情報処理装置の3本の入力信号
は、前記中継回路内の3状態出力を持つバッファ回路を
介して前記他の情報処理装置の5本の出力信号に接続さ
れる。
【0013】また、前記情報処理装置は、ファクシミリ
装置である。
【0014】また、上記目的を達成するために、本発明
の検査装置は、双方向セントロニクスインターフェース
を持つ情報処理装置と他の情報処理装置との間に介在す
る検査装置であって、第1の情報処理装置のビジー出力
信号を第2の情報処理装置のストローブ入力信号に接続
する第1の接続手段と、前記第1の情報処理装置のスト
ローブ入力信号を前記第2の情報処理装置のビジー出力
信号に接続する第2の接続手段とを有する。
【0015】また、上記目的を達成するために、本発明
の検査装置は、双方向セントロニクスインターフェース
を持つ情報処理装置と他の情報処理装置との間に介在す
る検査装置であって、第1の情報処理装置のビジー出力
信号を第2の情報処理装置のストローブ入力信号に接続
し、前記第1の情報処理装置のストローブ入力信号を前
記第2の情報処理装置のビジー出力信号に接続する接続
手段と、前記第1の情報処理装置の残りの5本の出力信
号を前記第2の情報処理装置の残りの3本の入力信号に
接続するバッファ回路を有する。
【0016】また、上記目的を達成するために、本発明
の検査装置は、双方向セントロニクスインターフェース
を持つ情報処理装置と他の情報処理装置との間に介在す
る検査装置であって、第1の情報処理装置のビジー出力
信号を第2の情報処理装置のストローブ入力信号に接続
し、前記第1の情報処理装置のストローブ入力信号を前
記第2の情報処理装置のビジー出力信号に接続する接続
手段と、前記第1の情報処理装置の残りの5本の出力信
号を前記第2の情報処理装置の残りの3本の入力信号に
接続する為の第1のバッファ回路と、前記第1の情報処
理装置の残りの3本の入力信号を前記第2の情報処理装
置の残りの5本の出力信号に接続する為の第2のバッフ
ァ回路を有する。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施例に基づき
本発明を詳細に説明する。
【0018】図1は本発明の特徴をもっともよく表すフ
ァクシミリ装置のブロック構成図であり、同図におい
て、制御部1はマイクロプロセッサ素子などからなり、
ROM8に格納されているプログラムに従って装置全体
の制御を行う。
【0019】メモリ4は、操作者が操作部3より入力し
た各種定数の格納や、制御部1が各種処理を行う際に使
用する変数の格納に使用するとともに、読み取り、記録
で扱う画像データの格納などにも使用するもので、必要
に応じて読出や書き込みを行う。
【0020】表示部9は、登録など操作の際のガイダン
スや、各種警告、時刻など装置の状態を表示する。
【0021】読み取り部2は原稿の読み取りを行うもの
で、ライン単位に走査を行うスキャナなどからなり、記
録部6は画信号や装置定数など各種レポートの印字出力
を行う。
【0022】通信部7は、モデム、NCU(網制御装
置)などからなり、通信網に接続されて通信データの授
受を行う。
【0023】プリンタIF(インターフェース)部5
は、プリンタ機器に広く使用されている双方向データ転
送が可能なセントロニクスコネクタとドライバなどから
なり、ホストコンピュータと本装置との間で各種命令や
データの入出力を制御する。
【0024】図2は、本実施例における検査構成図であ
る。
【0025】被試験機Aと被試験機Bは、お互い簡易交
換機と図3の双方向セントロニクスインターフェース中
継機を介して接続されている。
【0026】次に、プリンタIF部5の詳細について図
3を参照して説明する。
【0027】図3は、図1中プリンタIF部5で、被試
験機Aと被試験機Bの検査工程における対向接続を示し
た図である。
【0028】図中、●が出力信号、○が入力信号、そし
て△が入出力信号である。
【0029】被試験機AのBUSY(ビジー)出力信号
は被試験機BのSTB(ストローブ)入力信号に接続し
ており、逆に被試験機AのSTB(ストローブ)入力信
号は被試験機BのBUSY(ビジー)出力信号に接続し
ている。
【0030】8本のデータバスは、ドライバの方向選択
により入出力が切り換えられるため、そのまま接続す
る。
【0031】残りは入出力の数が異なるため、被試験機
AのACK(アクノリッジ)出力信号とPE(ペーパー
エンド)出力信号とSLCT(セレクト)出力信号を3
状態出力を持つバスドライバ(LS541)に接続し、
2本数が多い出力の信号(フォルト信号とIFC信号)
を、このバスドライバのゲートに接続し、バスドライバ
(LS541)の3本の出力信号を被試験機BのAFT
X入力信号とINIT入力信号とSELIN入力信号に
接続する。
【0032】このバスドライバは、ゲート信号により入
力信号に対する出力信号の論理が変化するので、各信号
線に対する検査が可能になる。
【0033】出力信号IFC(極性を変える為の信号)
のように、その出力レベルに問題のある時は、コンパレ
ータにより出力レベルを調整する。
【0034】次に図4、5、6、7のフローチャートに
従って、検査工程における双方向セントロニクスインタ
ーフェースの動作の詳細を述べる。
【0035】図2にあるような構成の中継論理回路を介
して対向接続された被試験装置で、起動時の設定により
先に被試験機となる装置が決められる。
【0036】例えば本例の場合、検査工程起動の操作
で、被試験機Aが操作部からの入力により先に被試験機
として動作するものとする。
【0037】図4において、最初に双方の同期を確立す
るため、被試験機Aはs1で試験機Bからの応答を待
つ。
【0038】試験機Bは、データ受信の用意ができた段
階でBUSY出力信号を出し(s7)、被試験機Aから
送られてくるデータの受信に向かう。
【0039】被試験機Aはs1で一定時間この応答信号
を待ち、応答がなければ図1(9)の表示部にメッセー
ジを表示し、試験機Bより応答がなかったことを知らせ
る。
【0040】なお、エラー表示については試験項目が複
数あるため、どの段階でどのようなエラーが発生したの
かを、試験機と被試験機双方で表示するものとしてい
る。
【0041】s1で試験機Bからの応答を検出した場
合、s2とs4で2度データの送信を行う。
【0042】このデータは、試験機と被試験機であらか
じめ決められているもので、異なるデータを2度交信す
ることにより、より正確に信号線の検定を行うようにし
ている。
【0043】ここでは8本のデータ線の検定を行うた
め、ビット反転したデータを2度に分けて交信し、判定
している。また試験機側での受信タイミングを規定する
ため、s3とs5において被試験機側でデータをセット
した後BUSY出力信号をオンオフし、同期信号を生成
している。
【0044】この後被試験機Aは試験機Bからの応答を
待ち、s6で応答がなければその旨エラー表示を行う。
【0045】s6で被試験機Aからの応答があった場
合、次の信号線の検査工程に移行する。
【0046】試験機Bはs8で被試験機Aから受信した
データを検定し、データ信号が正しく接続されているか
判定する。s9でデータが正しく受信され、所定の値で
あった場合にはBUSY出力信号をオフすることで応答
信号を返し、次の信号線の検査工程に移行する。
【0047】s9でデータの不一致やSTB信号のオン
オフが検出できなかった場合、その旨エラーメッセージ
を表示する。
【0048】次に図5、図6、図7の手順にしたがっ
て、被試験機Aの状態を表わす5本の出力信号の検定を
行う。
【0049】5本の出力信号は、ゲート制御による3状
態バッファを介して試験機Bの3本の入力信号に接続さ
れている。被試験機Aの状態を表わす5本の出力信号の
うち、2本の信号を3状態バッファのゲートに接続して
おり、ゲートの状態を変えることで直接信号を入力して
監視できなくても、その状態を監視できるようにしたも
のである。
【0050】3状態バッファの機能表を図8に示す。
【0051】本実施形態ではこのゲート信号に、FAU
LT、IFCを割り当てている。
【0052】図5において、s11で被試験機Aは動作
可能状態になった段階で試験機Bからの応答を待つ。
【0053】この〔受信応答待ち〕は図6にあるよう
に、STB信号のオンオフ検出で行い、これが検出でき
なかった場合にはその旨エラーメッセージを表示する。
【0054】s11で試験機Bからの応答を検出した場
合、s12でゲート信号FAULT、IFCをオンする
とともにs13で残り3本の出力信号をオンし、s14
で試験機Bへの検定同期信号として使用するBUSY出
力信号をオンにする。
【0055】図8の機能表よりこの組み合わせて正しく
接続されていると、試験機Bの3入力はすべてオンにな
ることになる。
【0056】この後試験機Bからの応答を待ち、s1
5、s16で応答がなければその旨エラー表示を行い処
理を終了する。
【0057】ここで検定効率を考えて一通りの検定を行
うようにしても良いことは言うまでもない。
【0058】s15、s16で試験機Bからの応答を検
出した場合、以降図6の機能表の組み合わせでゲート信
号を含めすべての信号線の検定を行う。
【0059】図8はこの時の試験機Bにおける動作フロ
ーチャートを示したもので、先述したように被試験機A
と同期をとりながら検査工程を進めていく。
【0060】途中エラーを検出した場合についても、検
定効率を考えて一通りの検定を行うようにしても良いこ
とは同様である。
【0061】また、上記構成で、上述した同様の動作を
行った後、試験機と被試験機の役割を交代し、試験機
A、被試験機Bとして再度同様の動作確認を行う。
【0062】本実施形態では、出力用と入力用にそれぞ
れゲート制御による3状態バッファ回路を設けている
が、試験機、あるいは被試験機として動作している時に
は一方の回路しか使用していない。
【0063】このため、中継回路に形状やコストの制約
がある際、ゲート制御による3状態バッファ回路を切り
替えて使用するアナログスイッチなどによる切り替え回
路を設けても同様の効果が得られる。
【0064】また、ファクシミリ装置内部に中継回路を
実装すれば、検査工程において特別な治具を用意するこ
とがなくなり、同様の効果が得られるとともに作業の効
率かが実現できる。
【0065】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば従
来装置の検査工程で行っていた対向検査方式を双方向セ
ントロニクスインターフェースの検査にも取り入れ、ゲ
ート付き論理回路を仲介させて信号制御を行うことで、
双方向セントロニクスインターフェースにおける入出力
の数が異なる問題点を解決し、対向検査方式による検査
工程時間の短縮、および検査構成の簡略化ができるとい
う効果がある。
【0066】また、本発明によれば従来装置の検査工程
で行っていた対向検査方式を双方向セントロニクスイン
ターフェースの検査にも取り入れ、ゲート付き論理回路
を仲介させて信号制御を行い、さらに一方の動作確認を
終えた後自動的に試験機と被試験機の役割を交代するこ
とで、双方向セントロニクスインターフェースにおける
入出力の数が異なる問題点を解決し、対向検査方式によ
る検査工程時間の短縮、および検査構成の簡略化ができ
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施したファクシミリ装置のブロック
図である。
【図2】検査工程における対向接続図である。
【図3】中継回路図である。
【図4】本発明の動作を示したフローチャートである。
【図5】本発明の動作を示したフローチャートである。
【図6】本発明の動作を示したフローチャートである。
【図7】本発明の動作を示したフローチャートである。
【図8】ゲート制御による3状態バッファの構成図と機
能表である。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 双方向セントロニクスインターフェース
    を持つ情報処理装置であって、他の情報処理装置の双方
    向セントロニクスインターフェースを中継回路を介して
    接続する接続手段と、同期をとりながら各信号線を自動
    的に動作確認する制御手段とを有することを特徴とする
    情報処理装置。
  2. 【請求項2】 前記情報処理装置のビジー出力信号は前
    記中継回路を介して前記他の情報処理装置のストローブ
    入力信号に接続され、前記情報処理装置のストローブ入
    力信号は前記中継回路を介して前記他の情報処理装置の
    ビジー出力信号に接続されることを特徴とする請求項1
    に記載の情報処理装置。
  3. 【請求項3】 前記情報処理装置の8本のデータバス
    は、前記中継回路を介してそのまま前記他の情報処理装
    置の8本のデータバスに接続され、ドライバの方向選択
    により入出力が切り換えられることを特徴とする請求項
    1に記載の情報処理装置。
  4. 【請求項4】 前記情報処理装置の5本の出力信号は、
    前記中継回路内の3状態出力を持つバッファ回路を介し
    て前記他の情報処理装置の3本の入力信号に接続される
    ことを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  5. 【請求項5】 前記情報処理装置の3本の入力信号は、
    前記中継回路内の3状態出力を持つバッファ回路を介し
    て前記他の情報処理装置の5本の出力信号に接続される
    ことを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  6. 【請求項6】 前記情報処理装置は、ファクシミリ装置
    であることを特徴とする請求項1に記載の情報処理装
    置。
  7. 【請求項7】 双方向セントロニクスインターフェース
    を持つ情報処理装置と他の情報処理装置との間に介在す
    る検査装置であって、 第1の情報処理装置のビジー出力信号を第2の情報処理
    装置のストローブ入力信号に接続する第1の接続手段
    と、 前記第1の情報処理装置のストローブ入力信号を前記第
    2の情報処理装置のビジー出力信号に接続する第2の接
    続手段とを有することを特徴とする検査装置。
  8. 【請求項8】 双方向セントロニクスインターフェース
    を持つ情報処理装置と他の他の情報処理装置との間に介
    在する検査装置であって、 第1の情報処理装置のビジー出力信号を第2の情報処理
    装置のストローブ入力信号に接続し、前記第1の情報処
    理装置のストローブ入力信号を前記第2の情報処理装置
    のビジー出力信号に接続する接続手段と、 前記第1の情報処理装置の残りの5本の出力信号を前記
    第2の情報処理装置の残りの3本の入力信号に接続する
    バッファ回路を有することを特徴とする検査装置。
  9. 【請求項9】 双方向セントロニクスインターフェース
    を持つ情報処理装置と他の情報処理装置との間に介在す
    る検査装置であって、 第1の情報処理装置のビジー出力信号を第2の情報処理
    装置のストローブ入力信号に接続し、前記第1の情報処
    理装置のストローブ入力信号を前記第2の情報処理装置
    のビジー出力信号に接続する接続手段と、 前記第1の情報処理装置の残りの5本の出力信号を前記
    第2の情報処理装置の残りの3本の入力信号に接続する
    為の第1のバッファ回路と、 前記第1の情報処理装置の残りの3本の入力信号を前記
    第2の情報処理装置の残りの5本の出力信号に接続する
    為の第2のバッファ回路を有することを特徴とする検査
    装置。
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