JPH09173318A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents

核磁気共鳴を用いた検査装置

Info

Publication number
JPH09173318A
JPH09173318A JP8323795A JP32379596A JPH09173318A JP H09173318 A JPH09173318 A JP H09173318A JP 8323795 A JP8323795 A JP 8323795A JP 32379596 A JP32379596 A JP 32379596A JP H09173318 A JPH09173318 A JP H09173318A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
applying
nuclear
magnetic resonance
inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8323795A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2872642B2 (ja
Inventor
Etsuji Yamamoto
悦治 山本
Hidemi Shiono
英巳 塩野
Hideki Kono
秀樹 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8323795A priority Critical patent/JP2872642B2/ja
Publication of JPH09173318A publication Critical patent/JPH09173318A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2872642B2 publication Critical patent/JP2872642B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 静磁場不均一による減衰、高周波磁場の連続
照射による悪影響を軽減して核スピン信号の複数のエコ
ーを連続的に得る。 【構成】 静磁場を発生する手段14と、静磁場に傾斜
をかける傾斜磁場を印加する手段8、9、10と、検査
対象に高周波磁場を印加する手段4と、検査対象からの
核磁気共鳴信号を検出する手段4とを有する核磁気共鳴
を用いた検査装置において、少なくとも傾斜磁場を印加
する手段と高周波磁場を印加する手段とを制御する制御
手段1を有し、該制御手段1は、180°高周波磁場パ
ルスの印加、傾斜磁場の反転により、検査対象16の核
スピンによるエコーを複数回発生させるとともに、順次
異なるフェーズドエンコード量を付与してその複数回の
エコーを順次測定するシーケンスを複数のブロックに分
割して実施し、各ブロックの開始毎に核スピンの励起を
行うことの制御を実行する。 【効果】 減衰の少ない多数のエコーを測定できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は核磁気共鳴現象を用い、
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、人体などの内部構造を非破壊的に
検査する方法として、X線CTや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近、核磁気共鳴現象を用い同
様の検査を行なう試みが成功し、X線CTや超音波装置
では得られない情報を取得できることが明らかになっ
た。
【0003】核磁気共鳴装置は、対象とする核スピンか
ら発生する高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに
核スピンの密度あるいは緩和時間を位置の関数として表
示するものである。従来まで提案されている方法には、
投影再構成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも
投影角度を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を
変えて100〜200回位の測定を行ない、得られたデ
−タを計算機で処理し、元の核スピン分布を求めるもの
である。この場合、1回の測定が終了してから次の測定
に移るまでに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなけれ
ばならず、測定の大部分がこのために費やされていた。
【0004】これに対して、G.Johnsonらはエ
コーを次々と形成し、横緩和時間T2よりも十分短い時
間内に全ての測定を完了する方法を提案した(J.Ma
gn.Reson.54,374(1983)を参照の
こと)。即ち、信号読み出し傾斜磁場の反転を繰り返し
てエコーを次々と形成し、かつエコーとエコーとの間で
フェーズエンコードを行なうことにより、1回のシーケ
ンスで全てのフェーズエンコードに対応した信号を測定
するものである。しかし、この方法は重大な欠点があ
る。それは、傾斜磁場の反転により回復するのは印加し
た傾斜磁場によって生じた核スピンの位相分散だけであ
り、静磁場の不均一により生じたの位相分散は累積する
一方であるため、エコーが時間とともに次第に減衰して
行くことである。
【0005】勿論、対象物体自身の横緩和時間T2に応
じた核スピンの横緩和による減衰は、どのような方法で
も回復不可能であるため、この減衰も加わる。例えば、
対象物体が生体である場合、部位にもよるが平均的T2
は100ms程度である。一方、静磁場の不均一による
減衰は次に示す手順で計算できる。
【0006】いま対象物体内で静磁場にΔHの不均一が
あり、検査すべき絵素数がN2の時、厚さ方向の不均一
を無視する1絵素あたりの不均一ΔhはΔH/Nで与え
られる。ところが、実際には断面像を得る場合は、厚さ
1cm程度のスライスに限定して信号を得る。このた
め、1絵素あたりの不均一は、このスライスの厚さ方向
での不均一が支配的となり、ΔH/Nより1桁高い値に
なると考えられる。
【0007】そこで、Δh=10・ΔH/Nと置くと、
Δhによる減衰の時定数T2*は、T2*=2/γΔHと
なる。ここでγは核磁気回転比である。従って、静磁場
強度H0が0.5T、不均一が10ppm、N=256
とすると、プロトンに対してはT2*=38msとな
り、生体のT2に対して無視できない値となることが分
かる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記した様に、傾斜磁
場の反転により次々とエコーを形成するG.Johns
onらの提案した方法では、静磁場の不均一による減衰
のために一連のデ−タを取得できない事態が生じるおそ
れがある。一方、180°rfパルスを連続して照射し
て次々とエコーを形成する方法は、これらのrfパルス
が測定対象に悪影響を及ぼす(高周波磁場による加熱効
果等)、あるいは、180°rfパルスの照射時間を確
保するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない等の
欠点を有する。
【0009】そこで本発明の目的は、静磁場の不均一に
よる減衰を受けず、かつrfパルスの連続照射で生じる
欠点をも解消して、複数のエコーを次々と形成し得る核
磁気共鳴を用いた検査方法及び装置を提供することにあ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、180°rfパルスの
印加によるエコー形成と、傾斜磁場の反転によるエコー
形成とを組み合わせて用いる。
【0011】
【作用】即ち本発明は、静磁場の不均一による信号の減
衰は、180°rfパルスにより回復させることが可能
であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により累積
した位相分散が無視しえなくなった時点において、18
0°rfパルスを照射することによってそれを回復させ
るものである。このような走査を繰り返せば、静磁場の
不均一による信号減衰を最小限におさえ、しかもrfパ
ルスの連続照射による対象への悪影響や、シーケンスの
長時間化を軽減して多数のエコーを計測することが可能
となる。
【0012】なお、測定対象自身のT2による減衰は依
然として回復しない。これを考慮するなら、T2による
減衰が無視し得なくなった時点において、測定を中断
し、新しい磁化の回復を待って測定を繰り返す。ただ
し、この場合にはフェーズエンコードする量は繰り返し
間で均等ではなく、中断後の最初のエンコードに対して
は、それまでに印加したフェーズエンコード磁場の総和
に匹敵するフェーズエンコード磁場に次のエンコード磁
場を加えた磁場を印加しなければならない。勿論、この
方法によれば測定時間が長くなるが、その犠牲において
画質を向上させることが可能になるわけである。
【0013】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明を説明す
る。図1に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
1は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器2の出力は電力増幅器3で増幅
され、コイル4を励振する。コイル4は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器5を通り、検波器
6で検波後、信号処理装置7にで画像に変換される。高
周波パルス発生器2の他の出力は検波器6で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。z方向及びx、
y方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル8、9、1
0で行ない、これらのコイルは増幅器11、12、13
で駆動される。測定対象物16はベッド17上に横たわ
っており、ベッド17は台18上を移動する。
【0014】図2に本発明の実施例の前提となる計測シ
ーケンスを示す。まず、90°rfパルスと傾斜磁場G
zとによりスライスを選択した後、区間1でGx、Gy
を印加する。フェーズエンコードはGxにより行なう
が、Gxの過渡応答の悪影響を除去するために、この区
間においてダミー磁場を印加しておく。続いて照射する
180°rfパルスの後で印加するフェーズエンコード
は実質的には両者の差となるため、過渡応答によるエン
コード分は相殺される。従って、図3に示すように両者
の差は、同図斜線で示すように幅Δt、高さGxの矩形
波と見做すことができる。このような形状にエンコード
の増分を整えることは極めて有用である。
【0015】それは、一連のシーケンスを複数ブロック
に分割し、最初のブロック終了後、次のブロックを始め
る時、それまで印加したフェーズエンコード磁場の総和
の次のステップに相当するフェーズエンコードを付与す
ることが著しく容易になるからである。ここに示したダ
ミー磁場は、次に照射する180°rfパルスの直前に
も印加し、区間3における磁場と同様にその増分が矩形
波となるようにする。以後のシーケンスは、図2に示す
ように、区間2(実際には若干異なるが)を繰り返すこ
とになる。
【0016】ただし、ここで重要な点は、ダミー磁場と
フェーズエンコード磁場との関係である。傾斜磁場が核
スピンに及ぼす効果は、180°rfパルスにより逆の
働きをする性質があるため、図2の区間2の最初の部分
においては、傾斜磁場の時間積分は(数1)となり、実
質的にΔS1の磁場が印加されたのに等しい。
【0017】
【数1】 ΔS1=Sb−Sa …(数1) 従って、最初の信号は、ΔS1によるエンコードを受け
たことになる。次に区間3では、(数2)となり、ΔS
1の2倍の磁場が符号反転して印加されたことになる。
【0018】
【数2】 ΔS2=Sb−Sa−ΔS1=2(Sa−Sb)=−2ΔS1 …(数2) 以後は、3ΔS1、−4ΔS1、5ΔS1、……のように
繰り返す。このシーケンスでは、静磁場の不均一による
減衰が180°パルス毎に回復させられるが、測定対象
自身の横緩和T2による減衰は次第に蓄積するだけであ
る。そのため、T2による減衰が無視し得なくなった時
点において、新しいブロックへと移らなければならな
い。この時、前述したように、それまでに印加したフェ
ーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当するフ
ェーズエンコードを付与することから新しいブロックを
始める。
【0019】図4は、その最初のステップに対するシー
ケンスを示す。それまでに印加した磁場の時間積分をn
ΔS(ただし、180°rfパルスによる符号反転を考
慮)とすると、(数3)で示される関係を満足するよう
に、t1〜t4を選択すればよい(左辺の積分∫Gxdt
の範囲はt=t1〜t2、積分∫Gxdt’の範囲はt’
=t3〜t4である)。以後のシーケンスは、図2の区間
2に示すものと同じである。
【0020】
【数3】 ∫Gxdt−∫Gxdt’=(n+1)ΔS …(数3) 本発明の実施例を図5に示す。このシーケンスは、図2
にて説明したブロック毎に分割され、各ブロックで複数
のエコーを得るシーケンスを基本とし、その複数のエコ
ーを形成するのに、180°パルスと傾斜磁場の反転を
組み合わせたものである。即ち、180°パルスを図2
に示すように連続して照射することには、場合によって
は測定対象に悪影響を及ぼすのみならず、エコー間の時
間が長くなるという欠点がある。また、図2のシーケン
スでは、180°パルス毎にz方向に厚みを持つスライ
スの選択が繰り返されるが、そのスライス選択の特性が
理想的でない限り、実質的なスライス厚さが次第に減少
し、これによっても後のエコーほど信号が減衰する。
【0021】それに対して、図5に示すように180°
パルスと傾斜磁場Gyの反転の組み合わせを用いれば、
同じ数のエコーを得るのに180°パルスの数が減少
し、上記の欠点を解消できる。しかも図中の2回目の1
80°パルス以後の第4、第5、第6エコー(図では省
略)では、その2回目の180°パルスの印加により次
第に静磁場の不均一による位相分散が回復してくるの
で、この位相分散による信号減衰分は回復する。従っ
て、解消できない対象自身の横緩和による信号減衰が無
視し得なくなるまで、この180°パルスと傾斜磁場の
反転の組み合わせによるパルス形成を繰り返す。
【0022】なお、図5に示す例ではフェーズエンコー
ドするための磁場は、図6に示すように正負両極性を有
する磁場形状とする。これにより、図6の斜線部分の面
積は相殺し、その結果、フェーズエンコードに寄与する
磁場はΔtGxとなり、先に述べたと同様にフェーズエ
ンコードの増分を矩形波とするこができる。180°パ
ルスと磁場反転の組み合わせ方は、被測定体のT2と静
磁場の不均一の大小関係で決まり、一般に静磁場の不均
一が大きい程、180°パルスの数を増やさなければな
らない。なお、図2および図5で照射する180°rf
パルスは、交互に位相を180°ずらすことにより、1
80°rfパルスの振幅の誤差により生じる信号の減衰
を低減させることができる。
【0023】本発明の別の実施例を図7と図8に示す。
この実施例は、前述したブロック間の待ち時間を短縮す
る方法である。即ち、ブロックの終了した時点teに続
く区間において、それまでに付与された実効的なフェー
ズエンコード磁場と、信号のピーク以後に付与された傾
斜磁場の各々を相殺することにより、最後の測定で生じ
た核スピン間の位相分散を修復し、それを90°rfパ
ルスにより静磁場と同じ方向に強制的に向けてやるので
ある。この操作により、本来ならばあるブロックの測定
が完了してから測定対象の平均的T1程度の時間待たな
ければならないところを、90°rfパルスにより元に
戻した残留磁化の分だけ回復が早まり、ブロック間の待
ち時間を短縮することができる。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、180°高周波磁場パ
ルスの照射と傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエ
コー信号を発生させることにより、静磁場不均一に基づ
く画質劣化を防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪
影響も軽減し、かつ測定時間を短縮することが可能にな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施する核磁気共鳴検査装置の概略構
成図。
【図2】本発明の実施例の前提となる方法のパルス系列
を示す図。
【図3】図2の一部を詳細に示す図。
【図4】図2で示したブロックの次のブロックのパルス
系列を示す図。
【図5】本発明の実施例の方法のパルス系列を示す図。
【図6】図5の一部を詳細に示す図。
【図7】本発明の別の実施例の方法のパルス系列を示す
図。
【図8】本発明のさらに別の実施例の方法のパルス系列
を示す図。
【符号の説明】
1…制御装置、2…高周波パルス発生器、4…励振、受
信用コイル、6…検波器、7…信号処理装置、8、9、
10…傾斜磁場発生用コイル、14…静磁場発生用コイ
ル、16…測定対象物体、rf…高周波磁場パルス波
形、Gz…スライス選択用傾斜磁場波形、Gx…フェー
ズエンコード用傾斜磁場波形、Gy…読み出し、及びエ
コー形成用傾斜磁場波形。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の空間に静磁場を発生する手段と、前
    記静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、前
    記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手段
    と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号
    検出手段とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置におい
    て、少なくとも前記傾斜磁場を印加する手段と前記高周
    波磁場を印加する手段とを制御する制御手段を有し、該
    制御手段は、(1)前記検査対象の所定の領域の核スピ
    ンを励起すること、(2)前記検査対象に180°高周
    波磁場パルスを複数回印加すること、(3)前記各18
    0°高周波磁場パルスの印加後に、反転する傾斜磁場を
    第1方向に印加することにより、前記核スピンにエコー
    を複数回発生させること、(4)前記各エコーにそれぞ
    れ異なる位相エンコード量を付与する位相エンコード用
    傾斜磁場を第2の方向に発生すること、(5)前記各エ
    コーをそれぞれ計測することの制御を、繰返して行なう
    ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の装置において、前記位相
    エンコード用傾斜磁場は、前記各180°高周波磁場パ
    ルスの前後に振り分けられて印加される傾斜磁場を含む
    ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  3. 【請求項3】請求項1又は請求項2に記載の装置におい
    て、前記各180°高周波磁場パルスの印加は所定の間
    隔でなされることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査
    装置。
  4. 【請求項4】所定の空間に静磁場を発生する手段と、前
    記静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、前
    記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手段
    と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する手段
    とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記
    検査対象の所定スライス内の核スピンを励起する手段
    と、前記検査対象に180°高周波磁場パルスを複数回
    印加して、前記各180°高周波磁場パルスの印加後に
    前記核スピンにエコーを発生させる手段と、前記各18
    0°高周波磁場パルスの印加後に複数のエコーを発生さ
    せるための極性が反転する読み出し用傾斜磁場を発生す
    る手段と、前記各エコーに異なった位相エンコード量を
    付与する位相エンコード用傾斜磁場を発生する手段とを
    有することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  5. 【請求項5】請求項4に記載の装置において、前記位相
    エンコード用傾斜磁場の印加は前記各180°高周波磁
    場パルスの印加に先立つ前記位相エンコード用傾斜磁場
    の印加を含むことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査
    装置。
  6. 【請求項6】請求項4に記載の装置において、前記各1
    80°高周波磁場パルスの印加毎に、前記各エコーに付
    与される前記位相エンコード用傾斜磁場の極性が反転す
    ることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  7. 【請求項7】請求項4に記載の装置において、前記静磁
    場の不均一に応じて印加する前記180°高周波磁場パ
    ルスの数を変化させることを特徴とする核磁気共鳴を用
    いた検査装置。
  8. 【請求項8】請求項4に記載の装置において、前記各1
    80°高周波磁場パルスの印加は所定の間隔でなされる
    ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  9. 【請求項9】請求項8に記載の装置において、前記各所
    定の間隔の内で複数の前記エコーを計測することを特徴
    とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  10. 【請求項10】請求項8に記載の装置において、前記各
    エコーが発生する間隔は前記所定の間隔より小であるこ
    とを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  11. 【請求項11】請求項8に記載の装置において、前記各
    所定の間隔の内で前記位相エンコード用傾斜磁場は同一
    極性を有することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査
    装置。
  12. 【請求項12】請求項8に記載の装置において、前記各
    所定の間隔の内で最後の前記エコーが計測された後に、
    更に位相エンコード量を付与する前記位相エンコード用
    傾斜磁場を印加することを特徴とする核磁気共鳴を用い
    た検査装置。
  13. 【請求項13】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
    前記静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、
    前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
    段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信
    号検出手段とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置にお
    いて、少なくとも前記傾斜磁場を印加する手段と前記高
    周波磁場を印加する手段とを制御する制御手段を有し、
    該制御手段は、前記検査対象の核スピンにエコーを複数
    回発生させ、異なる位相エンコード量が付与された前記
    各エコーの測定を行なうことの制御を、繰返して行なう
    ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  14. 【請求項14】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
    前記静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、
    前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
    段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信
    号検出手段とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置にお
    いて、少なくとも前記傾斜磁場を印加する手段と前記高
    周波磁場を印加する手段とを制御する制御手段を有し、
    該制御手段は、(1)前記高周波磁場として、交互に位
    相が反転する180°高周波磁場を前記検査対象に所定
    の周期で印加して、前記検査対象の核スピンにエコーを
    複数回発生させること、(2)異なる位相エンコード量
    がそれぞれ付与された前記各エコーの測定を行なうこと
    の制御を、繰返して行なうことを特徴とする核磁気共鳴
    を用いた検査装置。
  15. 【請求項15】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
    前記静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、
    前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
    段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信
    号検出手段とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置にお
    いて、少なくとも前記傾斜磁場を印加する手段と前記高
    周波磁場を印加する手段とを制御する制御手段を有し、
    該制御手段は、前記検査対象の核スピンにエコーを複数
    回発生させ、複数の前記エコーの計測を180°高周波
    磁場パルスの印加により区切られる複数の区間に分割し
    て行ない、前記各区間内で少くなくとも1つのエコーを
    発生させ、前記各エコーに異なった位相エンコード量を
    付与する磁場を印加することの制御を、繰返して行なう
    ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
  16. 【請求項16】所定の空間に静磁場を発生する手段と、
    前記静磁場に傾斜をつける傾斜磁場を印加する手段と、
    前記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手
    段と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信
    号検出手段とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置にお
    いて、前記検査対象の所定スライス内の核スピンを励起
    する手段と、前記検査対象に180°高周波磁場パルス
    を複数回印加して前記各180°高周波磁場パルスの印
    加後に前記核スピンにエコーを発生させる手段と、前記
    各エコーに異なった位相エンコード量を付与する磁場を
    印加する手段とを有し、複数の前記エコーの計測を18
    0°高周波磁場パルスの印加により区切られる複数の区
    間に分割して行ない、前記各区間内で少くなくとも1つ
    の前記エコーを発生させることを特徴とする核磁気共鳴
    を用いた検査装置。
  17. 【請求項17】請求項13から請求項16の何れかに記
    載の装置において、前記各180°高周波磁場パルスの
    印加は所定の間隔でなされることを特徴とする核磁気共
    鳴を用いた検査装置。
  18. 【請求項18】検査対象を一様な静磁場の中に置き、前
    記検査対象に高周波磁場と、スライス用、位相エンコー
    ド用、及び読み出し用の各傾斜磁場を所定のシーケンス
    に従ってパルス的に印加することにより核磁気共鳴を生
    じさせ、この核磁気共鳴に基づくエコー信号を収集して
    映像化する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記
    高周波磁場と前記スライス用傾斜磁場の印加により検査
    対象の所望のスライス領域を励起した状態で、前記高周
    波磁場として180°高周波磁場パルスを印加する第1
    の操作と、前記読み出し用傾斜磁場を反復して反転させ
    て印加する第2の操作とを交互に繰返し行なうと共に、
    前記位相エンコード用傾斜磁場により印加される磁場の
    方向を前記180°高周波磁場パルスの印加毎に反転さ
    せる手段を備えたことを特徴とする磁気共鳴を用いた検
    査装置。
JP8323795A 1996-12-04 1996-12-04 核磁気共鳴を用いた検査装置 Expired - Lifetime JP2872642B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8323795A JP2872642B2 (ja) 1996-12-04 1996-12-04 核磁気共鳴を用いた検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8323795A JP2872642B2 (ja) 1996-12-04 1996-12-04 核磁気共鳴を用いた検査装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7310317A Division JP2760330B2 (ja) 1995-11-29 1995-11-29 核磁気共鳴を用いた検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09173318A true JPH09173318A (ja) 1997-07-08
JP2872642B2 JP2872642B2 (ja) 1999-03-17

Family

ID=18158706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8323795A Expired - Lifetime JP2872642B2 (ja) 1996-12-04 1996-12-04 核磁気共鳴を用いた検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2872642B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58200145A (ja) * 1982-04-05 1983-11-21 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ Nmrイメージング方法と装置
JPS5967450A (ja) * 1982-07-01 1984-04-17 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ 疑似fidnmr信号の影響を克服する方法と装置
JPS5983041A (ja) * 1982-11-02 1984-05-14 Yokogawa Hokushin Electric Corp 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58200145A (ja) * 1982-04-05 1983-11-21 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ Nmrイメージング方法と装置
JPS5967450A (ja) * 1982-07-01 1984-04-17 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ 疑似fidnmr信号の影響を克服する方法と装置
JPS5983041A (ja) * 1982-11-02 1984-05-14 Yokogawa Hokushin Electric Corp 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2872642B2 (ja) 1999-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3529446B2 (ja) Epi及びgrase mriにおける読み出し傾斜磁界極性の補正方法
JP4106053B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置及び渦電流補償導出方法
CN100415161C (zh) 磁共振摄像装置以及磁共振摄像方法
JPS58200145A (ja) Nmrイメージング方法と装置
JPH0222647B2 (ja)
JP3369688B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JPH1133012A (ja) 磁気共鳴イメージング装置及び撮像方法
EP0208522A2 (en) Nuclear magnetic resonance system
JPH03103236A (ja) 核磁気共鳴マルチエコー撮影方法
JPH0685768B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査方法
JP3345527B2 (ja) 核磁気共鳴装置
JPH0646985B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査方法
JPS6031069A (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JP2590641B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JPS6039539A (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JP2760330B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JP2872642B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JP2908380B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JP2005512648A (ja) 周期的に振幅が変調されたクラッシャーグラジエントを有する拡散重み付けされた複数スピンエコー(rare)シーケンス
JP3450508B2 (ja) 磁気共鳴イメージング装置
JP2607466B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JP2528864B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置
JPH0723929A (ja) Mri装置
WO2003037183A1 (fr) Dispositif d'imagerie par resonance magnetique
JP3365589B2 (ja) 核磁気共鳴を用いた検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term