JPH09181586A - リセット信号発生回路 - Google Patents

リセット信号発生回路

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JPH09181586A
JPH09181586A JP33373595A JP33373595A JPH09181586A JP H09181586 A JPH09181586 A JP H09181586A JP 33373595 A JP33373595 A JP 33373595A JP 33373595 A JP33373595 A JP 33373595A JP H09181586 A JPH09181586 A JP H09181586A
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JP
Japan
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reset signal
voltage
power supply
inverter
supply voltage
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JP33373595A
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English (en)
Inventor
Hisaichi Takimoto
久市 滝本
Takashi Matsumoto
敬史 松本
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】システムが安定動作を開始する前までに確実に
リセット信号を生成することができ、しかも、回路規模
が小さく低消費電力化を図ることができるリセット信号
発生回路を提供する。 【解決手段】電源電圧Vは直列に接続されたダイオード
接続したトランジスタ1,2を介して抵抗3に印加され
る。その抵抗3にかかる電圧V1 はインバータ4の入力
端子に入力される。インバータ4は抵抗3にかかる電圧
V1 に基づいてRSフリップフロップ5に対してリセッ
ト信号を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はリセット信号発生回
路に係り、詳しくは電源投入時にCMOS論理回路をリ
セットさせる際に特に好適なリセット信号発生回路に関
する。
【0002】近年、電池の小型化及び軽量化に伴い半導
体集積回路装置の低電圧及び低消費電力化が要求されて
いる。そして、半導体集積回路装置に構成されるアナロ
グ回路を低電圧及び低消費電力化を図るべくCMOS化
が進んでいる。このアナログ回路のCMOS化に伴い、
論理回路をリセットするリセット信号発生回路もアナロ
グ回路を含むシステムに対応した動作が要求されるとと
もに、小型で低電圧及び低消費電力化が求められてい
る。
【0003】
【従来の技術】従来、CMOSフリップフロップ回路等
のCMOS論理回路は、電源投入時に出力論理が不定状
態に陥って装置が誤動作するのを防止するために、リセ
ット信号発生回路からのリセット信号に基づいて初期設
定がなされている。このリセット回路は、一般に電源投
入時の電源電圧の推移を検出してリセット信号を生成さ
せるものであった。
【0004】ところで、アナログ回路を含むシステムに
おいても、低電圧及び低消費電力化の要求からアナログ
回路のCMOS化が進んでいる。アナログ回路を含むシ
ステムにおいて、CMOSフリップフロップ回路等のC
MOS論理回路の電源投入時の初期設定は、アナログ回
路を含まないCMOS論理回路だけのシステムに比べて
より速い初期設定が要求されている。つまり、アナログ
回路は、電源が投入されてシステムが安定動作を開始す
る前までにおいても電源電圧に追従しリニアに動作する
ことが求められている。従って、システムが安定動作を
開始する前までに動作するアナログ回路に応答してCM
OS論理回路もシステムが安定動作を開始する前までに
初期設定されていなければならない。
【0005】そこで、外部装置からリセット信号を入力
して初期セットするか、図7に示すように電源監視用コ
ンパレータを利用して電源投入時のリセット信号を生成
していた。図7に示す電源監視用コンパレータを利用し
たリセット信号発生回路においては、コンパレータ51
が、内部電源電圧VRFと抵抗52,53の分圧回路にて
生成される電源電圧Vの分圧電圧とを比較する。そし
て、電源が投入され電源電圧Vが分圧回路に印加される
と、コンパレータ51の出力は、投入直後において、電
源電圧Vが十分でないので、電源電圧Vの上昇とともに
一瞬上昇するがやがて動作が可能な電圧まで電源電圧V
が上昇すると、低電位(Lレベル)となる。 そして、
電源電圧Vがさらに上昇、即ち、分圧電圧が基準電圧V
RF以上になると、コンパレータ51の出力は、Lレベル
から高電位(Hレベル)となる。このコンパレータ51
の出力は、次段のCMOSインバータ54に出力され、
CMOSインバータ54は、コンパレータ51が出力す
る出力信号を反転した信号をリセット信号としてOR回
路55を介してRSフリップフロップ回路56のリセッ
ト入力端子に出力する。
【0006】このリセット信号発生回路におけるコンパ
レータ51は2個のバイポーラトランジスタがECL結
合された構成であって、非反転入力端子(一方のトラン
ジスタのベース)に分圧電圧が入力され、反転入力端子
(他方のトランジスタのベース)に基準電圧VRFが入力
される。つまり、コンパレータ51は、電源投入ととも
にその電源電圧Vが安定した電圧値まで上昇していく途
中においても、その時々の電圧値に相応した出力をす
る。従って、コンパレータ51は、電源が投入されてシ
ステムが安定動作を開始する前までにリセット信号を生
成することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、外部装
置からリセット信号を入力する場合には、リセット信号
を入力するためのリセット入力端子を設けなければなら
ず、入力端子の増加につながり半導体集積回路装置の小
型化を図る上で問題となる。
【0008】又、図7に示すリセット信号発生回路にお
いては、コンパレータ51が必要となり回路規模が大き
くなり半導体集積回路装置の小型化を図る上で問題とな
る。さらに、コンパレータ51は、バイポーラトランジ
スタがECL結合された構成であって、定電流源が必要
で常に無効電流を流しておく必要があり、省電力化を図
る上でも問題であった。
【0009】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、システムが安定動作を開始する前ま
でに確実にリセット信号を生成することができ、しか
も、回路規模が小さく低消費電力のリセット信号発生回
路を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、図1
の原理図に示すように、直列に接続されたダイオード接
続したトランジスタ1,2を介して電源電圧Vを抵抗3
に印加し、その抵抗3にかかる電圧V1 をインバータ4
の入力端子に入力する。インバータ4は抵抗3にかかる
電圧V1 に基づいて例えばRSフリップフロップ5に対
してリセット信号を出力する。
【0011】請求項2の発明は、電源電圧をゲートとド
レインを短絡してダイオード接続した2個のNチャネル
MOSトランジスタを介して抵抗に印加し、その抵抗に
かかる電圧をCMOSインバータの入力端子に入力し、
その抵抗にかかる電圧の推移に基づいてCMOSインバ
ータの出力端子からリセット信号を出力するようにし
た。
【0012】請求項3の発明は、請求項2に記載のリセ
ット信号発生回路において、前記CMOSインバータか
らの出力されるリセット信号に基づいてオンするPチャ
ネルMOSトランジスタを、前記直列に接続した2個の
NチャネルMOSトランジスタに対して並列に接続し
た。
【0013】請求項4の発明は、請求項2に記載のリセ
ット信号発生回路において、前記抵抗に対してコンデン
サを並列に接続した。 (作用)請求項1の発明によれば、電源電圧Vが直列に
接続されたダイオード接続したトランジスタ1,2の電
圧降下分の電圧まで上昇すると、抵抗3には電圧V1 が
発生する。該電圧V1 は電源電圧Vに比例して上昇す
る。一方、インバータ4は、電源電圧Vが前記トランジ
スタ1,2の電圧降下分の電圧まで上昇すると動作し始
め、その時の抵抗3にかかる電圧V1 に応答してリセッ
ト信号を出力する。そして、抵抗3にかかる電圧V1 が
インバータ4のしきい値電圧以上になると、インバータ
4はリセット信号を低電位(Lレベル)とする。従っ
て、複数個のトランジスタ1,2、抵抗3及びインバー
タ4という少ない素子で電源投入時リセット信号を発生
させることができる。
【0014】請求項2の発明によれば、電源電圧がゲー
トとドレインを短絡してなる2個のNチャネルMOSト
ランジスタの電圧降下分の電圧まで上昇すると、抵抗3
には電圧が発生する。該電圧は電源電圧に比例して上昇
する。一方、CMOSインバータ4は、電源電圧が前記
トランジスタ1,2の電圧降下分の電圧まで上昇すると
動作し始め、その時の抵抗にかかる電圧に応答して高電
位(Hレベル)のリセット信号を出力する。そして、抵
抗にかかる電圧がCMOSインバータのしきい値電圧以
上になると、CMOSインバータはHレベルのリセット
信号をHレベルから低電位(Lレベル)に立ち下げる。
従って、2個のNチャネルMOSトランジスタ、抵抗及
びCMOSインバータという少ない素子でリセット信号
を発生させることができる。
【0015】請求項3の発明によれば、CMOSインバ
ータのリセット信号がHレベルからLレベルに立ち下が
ると、PチャネルMOSトランジスタはオンされる。こ
のPチャネルMOSトランジスタのオンに基づく抵抗に
かかる電圧は、電源電圧に近い電圧まで上昇する。この
時、CMOSインバータを構成するPチャネルMOSト
ランジスタは確実にオフされる。その結果、CMOSイ
ンバータには貫通電流が流れることはない。
【0016】請求項4の発明によれば、投入時において
電源電圧が急峻に上昇した場合、抵抗にかかる電圧もこ
れに応答して急峻に上昇しようとするが、コンデンサに
より吸収され緩やかに上昇する。その結果、CMOSイ
ンバータはHレベルのリセット信号をある程度の時間出
力し続けることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
(第1の実施の形態)以下、本発明を具体化した第1の
実施の形態を図2、図3に従って説明する。図2は、1
チップの半導体集積回路装置内に設けられた電源投入時
におけるRSフリップフロップのリセット信号発生回路
の電気回路図である。リセット信号発生回路は、電源電
圧検出回路部とリセット信号出力回路部とから構成され
ている。電源電圧検出回路部は、2個の第1及び第2の
NチャネルMOSトランジスタ(以下、NMOSトラン
ジスタという)11,12と抵抗13とから構成されて
いる。第1のNMOSトランジスタ11は、そのドレイ
ンが図示しない電源入力端子に接続されている。電源入
力端子は、図示しない電源投入スイッチを介して図示し
ない電池に接続されている。従って、電源投入スイッチ
がオン操作されると、電池からの電源電圧VDDが第1の
NMOSトランジスタ11のドレインに印加される。第
1のNMOSトランジスタ11のソースは、第2のNM
OSトランジスタ12のドレインに接続されている。第
2のNMOSトランジスタ12のソースは抵抗13の一
端に接続され、その抵抗13の他端は接地されている。
【0018】又、第1及び第2のNMOSトランジスタ
11,12のゲートは、それぞれ自身のドレインに接続
されている。従って、第1及び第2のNMOSトランジ
スタ11,12はダイオード接続となる。従って、電池
からの電源電圧VDDが第1のNMOSトランジスタ11
のドレインに印加されると、第1及び第2のNMOSト
ランジスタ11,12のドレイン・ソース間の電圧降下
はそれぞれ第1及び第2のNMOSトランジスタ11,
12のしきい値電圧VTHとなる。そして、第2のNMO
Sトランジスタ11,12のソースと抵抗13を結ぶノ
ードN1の電圧VN1は、VN1=VDD−2VTH、となる。
従って、図3に示すように、電源投入スイッチがオンさ
れた時、電源電圧VDDが定常状態に到達するまでの推移
を線LAで示すと、ノードN1の電圧VN1は線LB で推
移する。つまり、電源が投入され、電源電圧VDDがしき
い値電圧VTHの2倍(=2VTH)に上昇するまでは、ノ
ードN1の電圧VN1は0ボルトであり、以後、2VTHの
電位差を維持しながら推移する。このしきい値電圧VTH
の2倍(=2VTH)の電圧は、内部回路が動作を開始し
始める動作電圧に対応さている。
【0019】リセット信号出力回路部は、インバータ1
5にて構成されている。インバータ15は、PMOSト
ランジスタ16とNMOSトランジスタ17からなるC
MOSインバータにて形成されている。そして、PMO
Sトランジスタ16のソースは電池からの電源電圧VDD
が印加される。PMOSトランジスタ16のドレインは
NMOSトランジスタ17のドレインに接続されてい
る。又、NMOSトランジスタ17のソースは接地され
ている。
【0020】インバータ15の入力端子は、前記ノード
Nに接続され電圧VN1を入力する。インバータ15の出
力端子は、2入力端子のOR回路18を介してRSフリ
ップフロップ19のリセット入力端子に接続されてい
る。本実施の形態では、PMOSトランジスタ16のし
きい値電圧及びNMOSトランジスタ17のしきい値電
圧は、第1及び第2のNMOSトランジスタ11,12
のしきい値電圧VTHと一致させている。従って、インバ
ータ15のしきい値電圧VTH1 は、電源電圧VCCの1/
2(=VCC/2)がしきい値電圧となる。又、インバー
タ15は、PMOSトランジスタ16のドレインに印加
される電源電圧VCCがしきい値電圧VTHの2 倍(=2V
TH)以上にならないと、同電源VCCに追従して動作しな
い。つまり、インバータ15はノードN1の電圧VN1が
立ち上がるとともに動作し始め、インバータ15のしき
い値電圧VTH1 は2点鎖線に示すように推移していく。
【0021】尚、前記OR回路18は、他方の入力端子
に半導体集積回路装置内の内部回路から出力されるリセ
ット信号を入力するようになっている。勿論、外部装置
からの外部リセット信号を入力するようにしてもよい。
【0022】次に、上記のように構成したリセット信号
発生回路の作用を説明する。今、電源投入スイッチがオ
ン操作されると、第1のNMOSトランジスタ11のド
レインに印加される電源電圧VDDは、図3に線LA で示
すように上昇していく。この電源電圧VDDは、インバー
タ15にも印加される。従って、インバータ15は、電
源電圧VDDがしきい値電圧VTHの2倍、即ちノードN1
の電圧VN1が立ち上がるまでは動作せず出力端子はLレ
ベルの状態にある。
【0023】電源電圧VDDがしきい値電圧VTHの2倍に
まで到達すると、インバータ15は動作可能となり、ノ
ードN1の電圧VN1に応答してリセット信号Rを出力端
子から出力する。この時、電源電圧VDDがしきい値電圧
VTHの2倍に到達するまでは、ノードN1の電圧VN1は
0ボルトであり、以後は電源電圧VDDの上昇に比例して
上昇する。又、電源電圧VDDがしきい値電圧VTHの2倍
に到達した以後は、インバータ15のしきい値電圧VTH
1 は電源電圧VDDの上昇に応じて上昇し、その時の電源
電圧VDDの1/2の電圧がしきい値となる。
【0024】従って、この時点では、ノードN1の電圧
VN1は、図3から明らかなように、インバータ15のし
き値電圧VTH1 に到達していない。その結果、インバー
タ15は、Hレベルのリセット信号Rを出力する。この
Hレベルのリセット信号Rの電位はその時の電源電圧V
DDに応じたレベルとなる。
【0025】このHレベルのリセット信号Rは、OR回
路18を介してRSフリップフロップ19のリセット入
力端子に出力される。従って、RSフリップフロップ1
9は、リセットされる。
【0026】やがて、ノードN1の電圧VN1は、インバ
ータ15のしき値電圧VTH1 以上になると、インバータ
15からのHレベルのリセット信号Rは、Lレベルに立
ち下がる。リセット信号RがLレベルになるため、RS
フリップフロップ19はセット信号が入力されるまで論
理を保持する。
【0027】次に、上記のように構成したリセット信号
発生回路の特徴を以下に述べる。 (1)本実施の形態によれば、電源電圧VDDが第1及び
第2のNMOSトランジスタ11,12のしきい値電圧
VTHの2倍の電圧になると、Hレベルのリセット信号R
が出力される。つまり、しきい値電圧VTHの2倍の値の
電源電圧VDDは、各内部回路の動作電源電圧として該電
圧に追従して動作を開始することができる直前の電圧で
あるので、システムが安定動作を開始する前までに確実
にリセット信号を生成することができ、初期設定におい
てRSフリップフロップ19を不定状態にすることなく
確実に初期設定することができる。
【0028】(2)本実施の形態によれば、第1及び第
2のNMOSトランジスタ11,12、抵抗13、及
び、PMOSトランジスタ16とNMOSトランジスタ
17からなるCMOSインバータ15とからリセット信
号発生回路を構成した。従って、従来の図7に示す電源
監視用コンパレータ51を利用したリセット信号発生回
路に比べてその回路規模を遥かに小さくすることができ
るとともに消費電力も低く抑えることができる。
【0029】(3)本実施の形態では、第1及び第2の
NMOSトランジスタ11,12をゲートとドレインを
短絡することによって両NMOSトランジスタ11,1
2をダイオード接続、即ちダイオードと同様な働きをせ
さた。従って、半導体集積回路装置の製造工程において
特別製造プロセスが加わらず、製造プロセスを複雑にす
ることはない。
【0030】(第2の実施の形態)次に、本発明の第2
の実施の形態を図4に従って説明する。尚、説明の便宜
上第1の実施の形態と同じ構成については符号を同じに
してその詳細は省略し相違する部分について説明する。
【0031】本実施の形態は、第2のPMOSトランジ
スタ21が付加されている。第2のPMOSトランジス
タ21のソースは電池からの電源電圧VDDが印加されて
いる。又、PMOSトランジスタ21のドレインは前記
ノードN1が接続されている。さらに、PMOSトラン
ジスタ21のゲートは、前記インバータ15の出力端子
に接続されている。
【0032】従って、インバータ15は、Lレベルの出
力信号を出力した後は、入力端子に入力されるノードN
1の電圧VN1は常に電源電圧VDDより2VTHだけ低い電
圧である。そして、インバータ15を構成するPMOS
トランジスタ17がオン状態となる状態が生じ貫通電流
が流れる。
【0033】この時、第2のPMOSトランジスタ21
のゲートにはインバータ15からLレベルのリセット信
号Rを入力し、第2のPMOSトランジスタ21がオン
される。従って、ノードN1の電圧VN1は電源電圧VDD
よりこのPMOSトランジスタ21の電圧降下分だけ低
い電圧となる。つまり、ノードN1の電圧VN1は第2の
PMOSトランジスタ21はオンにより上昇する。その
結果、インバータ15を構成するPMOSトランジスタ
16は確実にオフされ、インバータ15には貫通電流が
発生しない。
【0034】このように本実施の形態では、前記第1の
実施の形態の作用効果に加えて、消費電力をより小さく
することができる。 (第3の実施の形態)次に、本発明の第3の実施の形態
を図5に従って説明する。尚、説明の便宜上第2の実施
の形態と同じ構成については符号を同じにしてその詳細
は省略し相違する部分について説明する。
【0035】本実施の形態では、コンデンサ22を抵抗
13に対して並列にしたものである。このコンデンサ2
2は、投入された電源電圧VCCが急峻な立ち上がをした
場合に対処するために設けられている。つまり、電源投
入と同時に電源電圧VDDが図6に線LA で示すように立
ち上がると、リセット信号Rは、Hレベルに立ち上がっ
てからLレベルに立ち下がるまでの時間が非常に短くな
る。即ち、RSフリップフロップ19がリセット信号R
に基づいてリセット動作完了に要する所定の時間を確保
することができない場合が生じる。
【0036】そこで、この時間を確保するためにコンデ
ンサ22が設けられている。つまり、ノードN1の電圧
VN1は第1及び第2のNMOSトランジスタ11,12
と抵抗13及びコンデンサ22の時定数よって、図6に
線LAAに示すように推移させる。そして、ノードN1の
電圧VN1が、インバータ15のしきい値VTH1 に到達す
るまでの時間を延ばす。従って、リセット信号は、Hレ
ベルに立ち上がってからLレベルに立ち下がるまでの時
間を長くでき、RSフリップフロップ19のリセット動
作完了に要する所定の時間を確保することができる。
【0037】このように本実施の形態では、前記第1及
び第2の実施の形態の作用効果に加えて、電源投入時に
おいて急峻に上昇する電源電圧VDDに対してもより確実
なリセット信号Rを発生することができる。
【0038】尚、本発明は前記各実施の形態に限定され
るものではなく、以下の態様で実施してもよい。 (1)各実施の形態では、第1及び第2のNMOSトラ
ンジスタ11,12をゲートとドレインを短絡すること
によってダイオードと同様な働きをせさたが、ベースと
コレクタを短絡させたバイポーラトランジスタを使い実
施してもよい。
【0039】(2)各実施の形態では、2個のダイオー
ド接続した第1及び第2のNMOSトランジスタ11,
12からなるリセット信号発生回路に具体化したが、用
途に応じて3個以上用いて実施してもよい。
【0040】(3)各実施の形態では、電源投入時のリ
セット信号発生回路に使用したが、電源投入後の電圧変
動によるリセット信号発生回路に応用してもよい。 (4)各実施の形態では、CMOSインバータ15は、
RSフリップフロップ19に対するリセット信号Rを生
成したが、これ以外の内部回路に対するリセット信号に
使用してもよい。この場合、CMOSインバータ15を
構成するPMOSトランジスタ16とNMOSトランジ
スタ17のサイズを適宜変更して、CMOSインバータ
15の駆動能力を上げ、ファンアウト数を増加するよう
にしてもよい。
【0041】(5)各実施の形態では、CMOSインバ
ータ15は電源電圧VDDの1/2になるようにしたが、
CMOSインバータ15を構成するPMOSトランジス
タ16とNMOSトランジスタ17のサイズの比を適宜
変更して、CMOSインバータ15のしきい値電圧VTH
1 を適宜変更してもよい。
【0042】尚、上記各実施の形態から把握できる請求
項の発明以外の技術的思想について、以下にそれらの効
果とともに記載する。 (1)請求項2に記載のリセット信号発生回路におい
て、前記CMOSインバータからの出力されるリセット
信号に基づいてオンするPチャネルMOSトランジスタ
を、前記ゲートとドレインを短絡してなる2個のNチャ
ネルMOSトランジスタに対して並列に接続するととも
に、前記抵抗に対してコンデンサを並列に接続したリセ
ット信号発生回路。
【0043】このリセット信号発生回路によれば、請求
項2の発明の効果に加え、さらに低消費電力化を図るこ
とができるとともに、電源投入時において急峻な電源電
圧の推移に対しても確実なリセット信号を発生すること
ができる。
【0044】
【発明の効果】請求項1及び2の発明によれば、システ
ムが安定動作を開始する前までに確実にリセット信号を
生成することができ、しかも、回路規模が小さく低消費
電力化を図ることができる。
【0045】請求項3の発明によれば、請求項2の発明
の効果に加えて、さらに低消費電力化を図ることができ
る。請求項4の発明によれば、請求項2の発明の効果に
加えてより確実なリセット信号を発生することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理を説明するための原理図。
【図2】 第1の実施の形態のリセット信号発生回路
図。
【図3】 リセット信号発生回路の動作を説明するため
の波形図。
【図4】 第2の実施の形態のリセット信号発生回路
図。
【図5】 第3の実施の形態のリセット信号発生回路
図。
【図6】 リセット信号発生回路の動作を説明するため
の波形図。
【図7】 従来のリセット信号発生回路図。
【符号の説明】
11,12 第1及び第2のNチャネルMOSトランジ
スタ 13 抵抗 15 インバータ 16 PチャネルMOSトランジスタ 17 NチャネルMOSトランジスタ 19 RSフリップフロップ 21 第2のPチャネルMOSトランジスタ 22 コンデンサ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源電圧を直列に接続された複数のダイ
    オード接続したトランジスタを介して抵抗に印加し、そ
    の抵抗にかかる電圧をインバータの入力端子に入力する
    ようにしたリセット信号発生回路。
  2. 【請求項2】 電源電圧をゲートとドレインを短絡して
    ダイオード接続した2個のNチャネルMOSトランジス
    タを介して抵抗に印加し、その抵抗にかかる電圧をCM
    OSインバータの入力端子に入力し、その抵抗にかかる
    電圧の推移に基づいてCMOSインバータの出力端子か
    らリセット信号を出力するようにしたリセット信号発生
    回路。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載のリセット信号発生回路
    において、 前記CMOSインバータからの出力されるリセット信号
    に基づいてオンするPチャネルMOSトランジスタを、
    前記直列に接続した2個のNチャネルMOSトランジス
    タに対して並列に接続したことを特徴とするリセット信
    号発生回路。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載のリセット信号発生回路
    において、 前記抵抗に対してコンデンサを並列に接続したことを特
    徴とするリセット信号発生回路。
JP33373595A 1995-12-21 1995-12-21 リセット信号発生回路 Pending JPH09181586A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007234206A (ja) * 2006-01-31 2007-09-13 Toshiba Corp 半導体記憶装置、電源検出器、半導体装置
JP2008118381A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Mitsumi Electric Co Ltd リセット装置
US7573306B2 (en) 2006-01-31 2009-08-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device, power supply detector and semiconductor device
WO2009098738A1 (ja) 2008-02-06 2009-08-13 Panasonic Corporation 半導体装置及びそのリセット方法
JP2010098414A (ja) * 2008-10-15 2010-04-30 Toshiba Corp 電位検知回路及びbgr電位検知回路
JP2012134723A (ja) * 2010-12-21 2012-07-12 Rohm Co Ltd 制御回路及びこれを用いたデータ保持装置
JP2016086428A (ja) * 2015-12-21 2016-05-19 ローム株式会社 リセット回路及びこれを用いたデータ保持装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007234206A (ja) * 2006-01-31 2007-09-13 Toshiba Corp 半導体記憶装置、電源検出器、半導体装置
US7573306B2 (en) 2006-01-31 2009-08-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device, power supply detector and semiconductor device
JP2008118381A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Mitsumi Electric Co Ltd リセット装置
US7952400B2 (en) 2006-11-02 2011-05-31 Mitsumi Electric Co., Ltd. Reset device
WO2009098738A1 (ja) 2008-02-06 2009-08-13 Panasonic Corporation 半導体装置及びそのリセット方法
CN101622704A (zh) * 2008-02-06 2010-01-06 松下电器产业株式会社 半导体器件及其复位方法
JP2010098414A (ja) * 2008-10-15 2010-04-30 Toshiba Corp 電位検知回路及びbgr電位検知回路
JP2012134723A (ja) * 2010-12-21 2012-07-12 Rohm Co Ltd 制御回路及びこれを用いたデータ保持装置
JP2016086428A (ja) * 2015-12-21 2016-05-19 ローム株式会社 リセット回路及びこれを用いたデータ保持装置

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