JPH09186526A - 検波回路 - Google Patents

検波回路

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JPH09186526A
JPH09186526A JP44896A JP44896A JPH09186526A JP H09186526 A JPH09186526 A JP H09186526A JP 44896 A JP44896 A JP 44896A JP 44896 A JP44896 A JP 44896A JP H09186526 A JPH09186526 A JP H09186526A
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JP
Japan
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detection
resistors
ground
connection point
detection circuit
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JP44896A
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English (en)
Inventor
正彦 ▲高▼地
Masahiko Takachi
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 検波回路を構成する検波素子及びダイオード
が温度により動作状態が変化する特性を有するため、一
定レベルの高周波信号が入力しても回路が置かれた環境
温度に影響されて検波出力が変動する、という問題があ
った。 【解決手段】 正負の電圧源V1,V2を用いて平衡型回
路を構成することによって温度による出力変動を低減
し、かつ検波出力を2倍に増大した高感度の検波回路を
得ることができる。さらに、平衡型回路を構成する抵抗
がR1=R4,R2=R3であり、かつ、ダイオードDd1
とDz1の動作抵抗を加えた値とDd2とDz2の動作抵
抗を加えた値とが等しくなるように選択することによっ
て一層効果を上げることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、振幅変調された搬送波
から信号を復調するために正負の電圧源を用いて平衡型
回路を構成することによって温度による出力変動を低減
し、かつ検波出力を2倍に増大した高感度の検波回路に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、高周波信号の最大値Vmの略2倍
の検波電圧2Vmに変換する高感度検波回路としては、
図5に示すものがある。図において、高周波信号の負の
半周期ときにはダイオードD1をとおしてコンデンサC1
が充電され、C1の両端の電圧Vc1は高周波信号の最大
値Vmと等しくなる。次に高周波信号が正となるとコン
デンサC2はC1とD2とを通して充電される。このとき
C2にかかる電圧は高周波信号電圧とC1の電圧Vc1と
を加えたものとなるので、C2の電圧は信号の最大値V
mの略2倍となる。従って、C2に並列に接続された負
荷抵抗RLには、略2Vmの検波電圧が加えられること
になる(石橋著:わかる電子回路;日新出版株式会
社)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の形態
は、検波素子D2及びダイオードD1が温度により動作状
態が変化する特性を有するため、一定レベルの高周波信
号が入力しても回路が置かれた環境温度に影響されて検
波出力が変動する、という問題があった。そこで本発明
は、周囲温度に影響されず、また高感度の検波回路を提
供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる検波回路
は、2個の検波素子Dd1,Dd2を用いた検波回路であ
って、正の電圧源V1と負の電圧源V2との間に抵抗R
1,R2,R3,R4を直列に接続し、抵抗R2とR3の接続
点とアースとの間に検波出力端が設けられ、 また、抵
抗R1とR2の接続点からは検波素子Dd1、次いでコン
デンサC1を経てアースとの間に設けられた高周波入力
端が接続され、コンデンサC1と検波素 子Dd1との接
続点からアースにむかってダイオードDz1、また抵抗
R1とR2との接続点とアースとの間にコンデンサC2が
夫々接続され、さらに、アースから抵抗R3とR4の接続
点にむかってダイオードDz2、次いで検波素子Dd2が
接続されたことを特徴とする。
【0005】また、本発明に係わる他の検波回路は、2
個の検波素子Dd1,Dd2を用いた検波回路であって、
正の電圧源V1と負の電圧源V2との間に抵抗R1,R
2,R3,R4を直列に接続し、抵抗R2とR3の接続点と
アースとの間に検波出力端が設けられ、 また、アース
との間に設けられた高周波入力端から抵抗R3とR4の接
続点にむかってコンデンサC1、次いで検波素子Dd1が
接続され、アースからコンデンサC1と検波素子Dd1と
の接続点にむかってダイオードDz1、また抵抗R3とR
4との接続点とアースとの間にコンデンサC2が夫々接続
され、さらに、抵抗R1とR2の接続点からアースにむか
って検波素子Dd2、次いでダイオードDz2が接続され
たことを特徴とする。
【0006】
【作用】上記の構成によれば、本発明は、正負の電圧源
を用いて平衡型回路を構成することによって温度による
出力変動を低減し、かつ検波出力を2倍に増大した高感
度の検波回路を得ることができる。さらに、平衡型回路
を構成する抵抗がR1=R4,R2=R3であり、かつ、ダ
イオードDd1とDz1の動作抵抗を加えた値とDd2と
Dz2の動作抵抗を加えた値とが等しくなるように選択
することによって一層効果を上げることができる。
【0007】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の実施例を
説明する。なお、図面の説明において同一要素には同一
符号を付し、重複する説明を省略する。図1は本実施例
に係わる検波回路の構成を示す回路図であり、振幅変調
された搬送波から信号を復調するために2個の検波素子
Dd1,Dd2を用いた検波回路であって、正の電圧源V
1と負の電圧源V2との間に抵抗R1,R2,R3,R4を直
列に接続し、抵抗R2とR3の接続点とアースとの間に検
波出力端が設けられ、また、抵抗R1とR2の接続点から
は検波素子Dd1、次いでコンデンサC1を経てアースと
の間に設けられた高周波入力端が接続され、コンデンサ
C1と検波素 子Dd1との接続点からアースにむかって
ダイオードDz1、また抵抗R1とR2との接続点とアー
スとの間にコンデンサC2が夫々接続され、さらに、ア
ースから抵抗R3とR4の接続点にむかってダイオードD
z2、次いで検波素子Dd2が接続されている。
【0008】次いで、この回路の動作を図3、図4を用
いて説明する。図3において、入力端に信号が入力され
ない状態では、R1にはi1+i2、R2にはi2,R3には
i2、R4にはi2+i3の電流が流れる。ここで、Dd1
とDz1の動作抵抗を加えた値とDd2とDz2の動作抵
抗を加えた値とが等しければ、R1+R2に現われる電圧
とR3+R4に現われる電圧た均衡し、検波出力端子は零
ボルトとなる。 次に、正極性の高周波信号が入力され
ても、i1の電流は変動しないで出力端子には零ボルト
が出力される。一方、コンデンサC1の入力側には正電
荷が蓄電されるため、Dz1を通してコンデンサC1の出
力側には負の電荷が蓄電され、高周波信号の最大値−V
mと等しくなる。次いで、図4に示すように、入力端子
に負極性の高周波信号が入力されると、コンデンサC1
の出力側には正極性の半周期に蓄積された−Vmと負極
性の信号が入力されたことによる−Vmが加算され、−
2Vmの電圧が生じ、i1を流れる電流は2△i1だけ増
加し、結果として出力には負の電圧が発生する。但し、
△iはDz1、Dz2が抵抗負荷の場合に対する電流増加
量とする。従って、出力端子にはDz1、Dz2が負荷抵
抗の場合に比べて略2倍の検波出力を得ることができ
る。
【0009】また、R1=R4,R2=R3であり、かつ2
個の検波素子Dd1,Dd2あるいは2個のダイオードD
z1、Dz2は夫々常温特性及び温度特性が略等しいこ
と、より具体的には、Dd1とDz1の動作抵抗を加えた
値とDd2とDz2の動作抵抗を加えた値が等しくなるよ
うに選択すると、i1=i3となるので、i1+i2=i3
+i2となる。従って、検波素子Dd1、Dz1あるいは
ダイオードDd2、Dz2が個別に温度による動作状態が
変化する場合であっても、上記の条件を満たしている限
り、検波出力はその影響を抑えることができる。 ま
た、入力信号が高周波の場合は、検波素子Dd1、Dz1
あるいはダイオードDd2、Dz2としてはショットキー
バリアダイオードを使用することによって高忠実な波形
を得ることができる。さらに、抵抗R1,R4を抵抗R
2,R3に比し、十分大きく数十kΩに選択することによ
って、これらの抵抗値のばらつきによる出力変動を十分
抑制することができる。
【0010】図2は本実施例に係わる他の検波回路の構
成を示す回路図であり、振幅変調された搬送波から信号
を復調するために2個の検波素子Dd1,Dd2を用いた
検波回路であって、正の電圧源V1と負の電圧源V2との
間に抵抗R1,R2,R3,R4を直列に接続し、抵抗R2
とR3の接続点とアースとの間に検波出力端が設けら
れ、また、アースとの間に設けられた高周波入力端から
抵抗R3とR4の接続点にむかってコンデンサC1、次い
で検波素子Dd1が接続され、アースからコンデンサC1
と検波素子Dd1との接続点にむかって ダイオードDz
1、また抵抗R3とR4との接続点とアースとの間にコン
デンサC2が夫々接続され、さらに、抵抗R1とR2の接
続点からアースにむかって検波素子Dd2、次いでダイ
オードDz2が接続されている。この回路についても上
記図1の場合と同様の作用によって、出力端子には正の
電圧を発生させることができる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、正負の電圧源を用
いて平衡型回路を構成することによって温度による出力
変動を低減し、かつ検波出力を2倍に増大した高感度の
検波回路を得ることができる。さらに、平衡型回路を構
成する抵抗がR1=R4,R2=R3であり、かつ、ダイオ
ードDd1とDz1の動作抵抗を加えた値とDd2とDz2
の動作抵抗を加えた値とが等しくなるように選択するこ
とによって一層効果を上げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例に係わる検波回路の構成を示す回路図
である。
【図2】本実施例に係わる他の検波回路の構成を示す回
路図である。
【図3】本実施例の検波回路の動作を説明する回路図で
ある。
【図4】本実施例の検波回路の動作を説明する回路図で
ある。
【図5】従来の検波回路の構成を示す回路図である。
【符号の説明】
C1,C2:コンデンサ Dd1,Dd2:検波素子 Dz1,Dz2:ダイオード D1,D2:ダイオード R1,R2,R3,R4,RL:抵抗 i1,i2,i3:バイアス電流 △i:信号電流 V1,V2:電圧源 Vm:高周波信号の最大値

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2個の検波素子Dd1,Dd2を用いた検
    波回路であって、正の電圧源V1と負の電圧源V2との間
    に抵抗R1,R2,R3,R4を直列に接続し、抵抗R2と
    R3の接続点とアースとの間に検波出力端が設けられ、
    また、抵抗R1とR2の接続点からは検波素子Dd1、
    次いでコンデンサC1を経てアースとの間に設けられた
    高周波入力端が接続され、コンデンサC1と検波素子D
    d1との接続点からアースにむかってダイオードDz1、
    また抵抗R1とR2との接続点とアースとの間にコンデン
    サC2が夫々接続され、 さらに、アースから抵抗R3とR4の接続点にむかってダ
    イオードDz2、次いで検波素子Dd2が接続されたこと
    を特徴とする検波回路。
  2. 【請求項2】 2個の検波素子Dd1,Dd2を用いた検
    波回路であって、正の電圧源V1と負の電圧源V2との間
    に抵抗R1,R2,R3,R4を直列に接続し、抵抗R2と
    R3の接続点とアースとの間に検波出力端が設けられ、
    また、アースとの間に設けられた高周波入力端から抵抗
    R3とR4の接続点にむかってコンデンサC1、次いで検
    波素子Dd1が接続され、アースからコンデンサC1と検
    波素子Dd1との接続点にむかってダイオードDz1、ま
    た抵抗R3とR4との接続点とアースとの間にコンデンサ
    C2が夫々接続され、 さらに、抵抗R1とR2の接続点からアースにむかって検
    波素子Dd2、次いでダイオードDz2が接続されたこと
    を特徴とする検波回路。
  3. 【請求項3】 Dd1とDz1の動作抵抗を加えた値とD
    d2とDz2の動作抵抗を加えた値が等しいことを特徴と
    する請求項1又は2に記載の検波回路。
  4. 【請求項4】 検波素子Dd1,Dd2及びダイオードD
    z1、Dz2がショットキーバリアダイオードであること
    を特徴とする請求項1〜3のいづれかに記載の検波回
    路。
  5. 【請求項5】 抵抗R1とR4並びに抵抗R2とR3が夫々
    略等しくなるように選択されたことを特徴とする請求項
    1又は2に記載の検波回路。
  6. 【請求項6】 抵抗R2あるいはR3の抵抗値は夫々抵抗
    R1あるいはR4の値に比して大きく、数十kΩ以上であ
    ることを特徴とする請求項1、2又は5に記載の検波回
    路。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8604837B2 (en) 2011-03-18 2013-12-10 Fujitsu Semiconductor Limited Detector circuit
US9261543B2 (en) 2011-02-03 2016-02-16 Rohm Co., Ltd. Power detection device and method of driving the same

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US8604837B2 (en) 2011-03-18 2013-12-10 Fujitsu Semiconductor Limited Detector circuit
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