JPH0918772A - 顕微鏡画像解析装置 - Google Patents
顕微鏡画像解析装置Info
- Publication number
- JPH0918772A JPH0918772A JP7160528A JP16052895A JPH0918772A JP H0918772 A JPH0918772 A JP H0918772A JP 7160528 A JP7160528 A JP 7160528A JP 16052895 A JP16052895 A JP 16052895A JP H0918772 A JPH0918772 A JP H0918772A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- image
- pixel
- dimensional
- dimensional solid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】2次元像内の任意の点ないし領域を高速に測定
でき、試料からの光量の時間変化を高速に測定すること
ができる顕微鏡画像解析装置を得ることにある。 【構成】顕微鏡1に取り付けて、試料7からの2次元光
量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置におい
て、任意の画像から、任意の順番でデータをアクセス可
能な2次元固体撮像素子10と、10からの2次元像か
ら任意の画素を指定する画素アドレス指定手段11と、
11により指定された読み出しアドレスを記憶するアド
レス記憶手段12と、12に記憶されたアドレスを順次
出力させるクロック発生手段13と、13に同期して1
からの出力をデジタル変換するA/D変換手段14を具
備した顕微鏡画像解析装置。
でき、試料からの光量の時間変化を高速に測定すること
ができる顕微鏡画像解析装置を得ることにある。 【構成】顕微鏡1に取り付けて、試料7からの2次元光
量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置におい
て、任意の画像から、任意の順番でデータをアクセス可
能な2次元固体撮像素子10と、10からの2次元像か
ら任意の画素を指定する画素アドレス指定手段11と、
11により指定された読み出しアドレスを記憶するアド
レス記憶手段12と、12に記憶されたアドレスを順次
出力させるクロック発生手段13と、13に同期して1
からの出力をデジタル変換するA/D変換手段14を具
備した顕微鏡画像解析装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡に取り付け、試
料(標本)からの2次元光量分布の経時変化を測定可能
な顕微鏡画像解析装置に関する。
料(標本)からの2次元光量分布の経時変化を測定可能
な顕微鏡画像解析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、顕微鏡像の光量変化から試料の状
態、成分、性質またはそれらの経時変化の様子を測定す
ることが実施されている。特に、生物の分野において
は、試料を蛍光色素により染色し、これに励起光を照射
することにより、発生する蛍光の像を捕らえて、その強
度から、あるいは、複数の励起波長、または、蛍光波長
の画像間で演算を行って得られる像から、試料内の性質
を測定する蛍光顕微鏡装置が公知(特開平2ー2854
2号公報)である。
態、成分、性質またはそれらの経時変化の様子を測定す
ることが実施されている。特に、生物の分野において
は、試料を蛍光色素により染色し、これに励起光を照射
することにより、発生する蛍光の像を捕らえて、その強
度から、あるいは、複数の励起波長、または、蛍光波長
の画像間で演算を行って得られる像から、試料内の性質
を測定する蛍光顕微鏡装置が公知(特開平2ー2854
2号公報)である。
【0003】一般に、蛍光顕微鏡装置を使って細胞の生
理現象を測定するにあたっては、像の光量が少なく、時
間的変化も激しいため、撮像素子としては、(1)高感
度で、信号雑音比(S/N比)が高いこと、(2)高速
で画像を撮像できるという条件を満足するものでなけれ
ばならない。しかし、一般的な撮像素子により得られる
映像信号を、記憶あるいは処理して、データを得るよう
にした場合には、測定時間分解能は、1/60秒〜1/
30秒という映像信号の速度に依存したものとなってし
まう。
理現象を測定するにあたっては、像の光量が少なく、時
間的変化も激しいため、撮像素子としては、(1)高感
度で、信号雑音比(S/N比)が高いこと、(2)高速
で画像を撮像できるという条件を満足するものでなけれ
ばならない。しかし、一般的な撮像素子により得られる
映像信号を、記憶あるいは処理して、データを得るよう
にした場合には、測定時間分解能は、1/60秒〜1/
30秒という映像信号の速度に依存したものとなってし
まう。
【0004】従来、上記の条件を全て満足する蛍光顕微
鏡装置はなかったが、次にその例について説明する。<
第1の例>(2)の条件を満足するものとして、例えば
特開平2ー293650号公報で開示されているよう
に、ラスタスキャニングとランダムスキャニングが可能
なテレビカメラを用いて、特定の位置のデータのみを測
定することで、高速に測定を行う装置がある。この場合
には、撮像素子として高速に任意の位置のデータを読み
取るイメージディセクタを使用している。
鏡装置はなかったが、次にその例について説明する。<
第1の例>(2)の条件を満足するものとして、例えば
特開平2ー293650号公報で開示されているよう
に、ラスタスキャニングとランダムスキャニングが可能
なテレビカメラを用いて、特定の位置のデータのみを測
定することで、高速に測定を行う装置がある。この場合
には、撮像素子として高速に任意の位置のデータを読み
取るイメージディセクタを使用している。
【0005】<第2の例>(1)の条件のうちの感度を
向上させるものとして、例えばイメージインテンシファ
イア付CCD(固体撮像素子)カメラを用いた装置があ
り、CCDとイメージインテンシファイア(光電面に像
を結ばせると、像の明るさに応じた量の光電子が出るも
の)を組合わせたものである。
向上させるものとして、例えばイメージインテンシファ
イア付CCD(固体撮像素子)カメラを用いた装置があ
り、CCDとイメージインテンシファイア(光電面に像
を結ばせると、像の明るさに応じた量の光電子が出るも
の)を組合わせたものである。
【0006】<第3の例>(1)の条件のうちのS/N
比が高いものとして、冷却CCDカメラを用いた装置で
あり、これはCCD素子を電子冷却し暗電流を低くした
ものである。
比が高いものとして、冷却CCDカメラを用いた装置で
あり、これはCCD素子を電子冷却し暗電流を低くした
ものである。
【0007】<第4の例>第3の例の問題点である低速
性を改善するため、あるブロックだけのデータを読出す
ようにしたものである。
性を改善するため、あるブロックだけのデータを読出す
ようにしたものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】以上述べた従来の例に
あっては、次のような問題点がある。第1の例にあって
は、イメージディセクタが、2つの離れた点のデータを
得るためには、この2点を結ぶ直線上を掃引し、各点で
のデータを得るようにしているため、不要な掃引時間を
必要としている。このため、2次元画像上に測定点が散
在するような場合や、測定点同士が離れている場合など
は、データの取得に時間を要するという欠点があった。
また、イメージディセクタは、その構造から通常の撮像
素子のように、蓄積機能を有しないため信号雑音比(S
/N比)が悪いという問題も持っている。さらに、通常
の撮像素子、例えば撮像管や固体撮像素子などは、その
構造上、任意の画素のデータを任意の順番(ランダム)
で読み取ることは難しい。
あっては、次のような問題点がある。第1の例にあって
は、イメージディセクタが、2つの離れた点のデータを
得るためには、この2点を結ぶ直線上を掃引し、各点で
のデータを得るようにしているため、不要な掃引時間を
必要としている。このため、2次元画像上に測定点が散
在するような場合や、測定点同士が離れている場合など
は、データの取得に時間を要するという欠点があった。
また、イメージディセクタは、その構造から通常の撮像
素子のように、蓄積機能を有しないため信号雑音比(S
/N比)が悪いという問題も持っている。さらに、通常
の撮像素子、例えば撮像管や固体撮像素子などは、その
構造上、任意の画素のデータを任意の順番(ランダム)
で読み取ることは難しい。
【0009】第2の例にあっては、イメージインテンシ
ファイア付CCDが高感度であるが、S/N比が普通で
あり、速度も通常毎秒30フレーム(33m sec /フレ
ーム)で m secオーダの変化に対しての応答は不可能で
ある。
ファイア付CCDが高感度であるが、S/N比が普通で
あり、速度も通常毎秒30フレーム(33m sec /フレ
ーム)で m secオーダの変化に対しての応答は不可能で
ある。
【0010】第3の例にあっては、S/Nが高いが、速
度はイメージインテンシファイア付CCDよりさらに劣
る。第4の例にあっては、素子全体の中から任意の素子
のデータをランダム(必要なデータだけ高速に)読出す
のが困難である。
度はイメージインテンシファイア付CCDよりさらに劣
る。第4の例にあっては、素子全体の中から任意の素子
のデータをランダム(必要なデータだけ高速に)読出す
のが困難である。
【0011】本発明の目的は、2次元像内の任意の点な
いし領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変化
を高速に測定することができる顕微鏡画像解析装置を提
供することにある。
いし領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変化
を高速に測定することができる顕微鏡画像解析装置を提
供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1に対応する発明は、顕微鏡に取り付けて、
試料からの2次元光量分布の経時変化を測定する顕微鏡
画像解析装置において、任意の画素から、任意の順番で
データをアクセス可能な2次元固体撮像素子と、この2
次元固体撮像素子からの2次元像の任意の画素を指定す
る画素アドレス指定手段と、この画素アドレス指定手段
により指定された読み出しアドレスを記憶するアドレス
記憶手段と、このアドレス記憶手段に記憶されたアドレ
スを前記2次元固体撮像素子に対して順次出力させるア
ドレス発生手段と、前記順次出力されるアドレスの出力
タイミングに同期して前記2次元固体撮像素子からの出
力をデジタル変換するA/D変換手段と、このA/D変
換手段により得られた輝度データを処理するデータ処理
手段と、を具備した顕微鏡画像解析装置である。
め、請求項1に対応する発明は、顕微鏡に取り付けて、
試料からの2次元光量分布の経時変化を測定する顕微鏡
画像解析装置において、任意の画素から、任意の順番で
データをアクセス可能な2次元固体撮像素子と、この2
次元固体撮像素子からの2次元像の任意の画素を指定す
る画素アドレス指定手段と、この画素アドレス指定手段
により指定された読み出しアドレスを記憶するアドレス
記憶手段と、このアドレス記憶手段に記憶されたアドレ
スを前記2次元固体撮像素子に対して順次出力させるア
ドレス発生手段と、前記順次出力されるアドレスの出力
タイミングに同期して前記2次元固体撮像素子からの出
力をデジタル変換するA/D変換手段と、このA/D変
換手段により得られた輝度データを処理するデータ処理
手段と、を具備した顕微鏡画像解析装置である。
【0013】前記目的を達成するため、請求項2に対応
する発明は、顕微鏡に取り付けて、試料からの2次元光
量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置におい
て、任意の画素から、任意の順番でデータをアクセス可
能な2次元固体撮像素子と、この2次元固体撮像素子か
らの2次元像の任意の画素を指定する画素アドレス指定
手段と、この画素アドレス指定手段により指定された読
み出しアドレスを記憶するアドレス記憶手段と、このア
ドレス記憶手段に記憶されたアドレスを前記2次元固体
撮像素子に対して順次出力させるアドレス発生手段と、
前記順次出力されるアドレスの出力タイミングに同期し
て前記2次元固体撮像素子からの出力をデジタル変換す
るA/D変換手段と、光源の波長を複数の波長に切換え
可能であって、この切換えに同期して前記アドレス発生
手段を駆動させる照明波長切換手段と、を具備した顕微
鏡画像解析装置である。
する発明は、顕微鏡に取り付けて、試料からの2次元光
量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置におい
て、任意の画素から、任意の順番でデータをアクセス可
能な2次元固体撮像素子と、この2次元固体撮像素子か
らの2次元像の任意の画素を指定する画素アドレス指定
手段と、この画素アドレス指定手段により指定された読
み出しアドレスを記憶するアドレス記憶手段と、このア
ドレス記憶手段に記憶されたアドレスを前記2次元固体
撮像素子に対して順次出力させるアドレス発生手段と、
前記順次出力されるアドレスの出力タイミングに同期し
て前記2次元固体撮像素子からの出力をデジタル変換す
るA/D変換手段と、光源の波長を複数の波長に切換え
可能であって、この切換えに同期して前記アドレス発生
手段を駆動させる照明波長切換手段と、を具備した顕微
鏡画像解析装置である。
【0014】前記目的を達成するため、請求項3に対応
する発明は、請求項1または請求項2記載の顕微鏡画像
解析装置に、2次元固体撮像素子の入力信号を増幅する
増幅手段を備えた顕微鏡画像解析装置である。
する発明は、請求項1または請求項2記載の顕微鏡画像
解析装置に、2次元固体撮像素子の入力信号を増幅する
増幅手段を備えた顕微鏡画像解析装置である。
【0015】
【作用】請求項1に対応する発明によれば、任意の画像
から、任意の順番でデータをアクセス可能な2次元固体
撮像素子を使用したので、2次元像内の任意の点ないし
領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変化を高
速に測定することができる。
から、任意の順番でデータをアクセス可能な2次元固体
撮像素子を使用したので、2次元像内の任意の点ないし
領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変化を高
速に測定することができる。
【0016】請求項2に対応する発明によれば、請求項
1の作用に加えて、照明波長切換手段を備えているで、
細胞内のイオン濃度を測定する際には、照明波長切換手
段により複数の照明光波長を順次切換えてそれぞれの波
長における蛍光量を測定し、これらの割り算などを行っ
てイオン量を求めることができる。
1の作用に加えて、照明波長切換手段を備えているで、
細胞内のイオン濃度を測定する際には、照明波長切換手
段により複数の照明光波長を順次切換えてそれぞれの波
長における蛍光量を測定し、これらの割り算などを行っ
てイオン量を求めることができる。
【0017】請求項3に対応する発明によれば、請求項
1または請求項2の作用に加えて、2次元固体撮像素子
の前方に、イメージインテンシファイアを設けたので、
微弱な反射光像や、蛍光像といった、暗い試料であって
も測定が可能となる。
1または請求項2の作用に加えて、2次元固体撮像素子
の前方に、イメージインテンシファイアを設けたので、
微弱な反射光像や、蛍光像といった、暗い試料であって
も測定が可能となる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。<第1実施例>図1は、本発明の第1実施
例を示すブロック図であり、これは顕微鏡1、2次元固
体撮像素子10、画素アドレス指定手段11、アドレス
記憶手段12、クロック発生手段13、A/D変換手段
14、データ処理手段15、表示手段16、メモリアド
レス制御手段17から構成され、クロック発生手段13
とメモリアドレス制御手段17により本発明のアドレス
発生手段を構成している。
て説明する。<第1実施例>図1は、本発明の第1実施
例を示すブロック図であり、これは顕微鏡1、2次元固
体撮像素子10、画素アドレス指定手段11、アドレス
記憶手段12、クロック発生手段13、A/D変換手段
14、データ処理手段15、表示手段16、メモリアド
レス制御手段17から構成され、クロック発生手段13
とメモリアドレス制御手段17により本発明のアドレス
発生手段を構成している。
【0019】顕微鏡1は、光源2、レンズ3,4、ハー
フミラー5、対物レンズ6を備え、光源2により照射さ
れた試料7からの透過光、反射光あるいは蛍光による像
が対物レンズ6を介して2次元固体撮像素子10に結像
する。
フミラー5、対物レンズ6を備え、光源2により照射さ
れた試料7からの透過光、反射光あるいは蛍光による像
が対物レンズ6を介して2次元固体撮像素子10に結像
する。
【0020】2次元固体撮像素子10は、任意の画像か
ら、任意の順番でデータをアクセス可能な(ランダムア
クセス可能な)、例えば公知の内部増幅型固体撮像素子
(AMI:Amplified Mos Image
r)からなっている。
ら、任意の順番でデータをアクセス可能な(ランダムア
クセス可能な)、例えば公知の内部増幅型固体撮像素子
(AMI:Amplified Mos Image
r)からなっている。
【0021】このAMIは、基本的には図2に示すよう
に、複数の画素(受光および増幅用単体セル)101か
らなる光電変換部で得られた光情報信号を同一画素内で
増幅し、垂直および水平走査スイッチ回路102,10
3を介して読出すXYアドレス型である。
に、複数の画素(受光および増幅用単体セル)101か
らなる光電変換部で得られた光情報信号を同一画素内で
増幅し、垂直および水平走査スイッチ回路102,10
3を介して読出すXYアドレス型である。
【0022】画素101の一つは、図3に示すように光
電変換部としてのフォトダイオードDとリセット用トラ
ンジスタTrs、増幅トランジスタTaおよび垂直選択
用トランジスタTy用の3個のnチャンネルMOSFE
Tより構成されている。水平スイッチTxは垂直信号ラ
イン毎に設けられている。
電変換部としてのフォトダイオードDとリセット用トラ
ンジスタTrs、増幅トランジスタTaおよび垂直選択
用トランジスタTy用の3個のnチャンネルMOSFE
Tより構成されている。水平スイッチTxは垂直信号ラ
イン毎に設けられている。
【0023】原理的には、フォトダイオードDを逆バイ
アスし、光電荷で放電させ、その電位を電流増幅して取
り出すものであり、この動作は次のようになる。リセッ
ト期間において、フォトダイオードDはリセット用トラ
ンジスタTrsを介して初期値(正電位)Vrsに設定さ
れる。蓄積期間において、光の照射により励起された電
子、正孔対のうち、電子はフォトダイオードDの容量C
PDに蓄積され、正孔は基板に流出する。従って、フォト
ダイオードDの電位は入射光に応じて減少する。この電
位を増幅トランジスタTaのゲートに印加し、フォトダ
イオードDの電位に応じた増幅された電流を垂直走査ス
イッチTy、水平走査スイッチTxを介して読出す。な
お、Xi,Yn,Yn+1は端子、Vs は出力電圧、I
S は出力電流、RL は負荷抵抗、Vp はゲート電位であ
る。
アスし、光電荷で放電させ、その電位を電流増幅して取
り出すものであり、この動作は次のようになる。リセッ
ト期間において、フォトダイオードDはリセット用トラ
ンジスタTrsを介して初期値(正電位)Vrsに設定さ
れる。蓄積期間において、光の照射により励起された電
子、正孔対のうち、電子はフォトダイオードDの容量C
PDに蓄積され、正孔は基板に流出する。従って、フォト
ダイオードDの電位は入射光に応じて減少する。この電
位を増幅トランジスタTaのゲートに印加し、フォトダ
イオードDの電位に応じた増幅された電流を垂直走査ス
イッチTy、水平走査スイッチTxを介して読出す。な
お、Xi,Yn,Yn+1は端子、Vs は出力電圧、I
S は出力電流、RL は負荷抵抗、Vp はゲート電位であ
る。
【0024】以上述べたAMIは、光電変換部と増幅部
が極めて接近しており、雑音の混入や信号の減衰がな
く、理想的増幅できるため、S/Nの良い出力が得られ
る。画素アドレス指定手段11は2次元固体撮像素子1
0からの2次元像から任意の画素を指定する。アドレス
記憶手段12はメモリ回路からなり、各メモリアドレス
の中には画素アドレス指定手段11により指定された読
み出しアドレスが、順に記憶されている。例えば、全体
の2次元像を取得したい場合には、先頭の画素アドレス
から順に最終アドレスまで、アドレス記憶手段12に設
定させることができる。
が極めて接近しており、雑音の混入や信号の減衰がな
く、理想的増幅できるため、S/Nの良い出力が得られ
る。画素アドレス指定手段11は2次元固体撮像素子1
0からの2次元像から任意の画素を指定する。アドレス
記憶手段12はメモリ回路からなり、各メモリアドレス
の中には画素アドレス指定手段11により指定された読
み出しアドレスが、順に記憶されている。例えば、全体
の2次元像を取得したい場合には、先頭の画素アドレス
から順に最終アドレスまで、アドレス記憶手段12に設
定させることができる。
【0025】クロック発生手段13はアドレス記憶手段
12に記憶されたアドレスを順次出力させる。A/D変
換手段14はクロック発生手段13に同期して2次元固
体撮像素子10からの出力をデジタル変換する。データ
処理手段15は、該変換されたデジタルデータを画像処
理や各種データ処理、例えばデータの数値に合わせた明
るさ、または色に変換し、表示手段16に表示する。メ
モリアドレス制御手段17は、クロック発生手段13か
ら発生したクロック信号に同期して、先頭メモリアドレ
スから有効なメモリアドレスまで繰り返し発生する。
12に記憶されたアドレスを順次出力させる。A/D変
換手段14はクロック発生手段13に同期して2次元固
体撮像素子10からの出力をデジタル変換する。データ
処理手段15は、該変換されたデジタルデータを画像処
理や各種データ処理、例えばデータの数値に合わせた明
るさ、または色に変換し、表示手段16に表示する。メ
モリアドレス制御手段17は、クロック発生手段13か
ら発生したクロック信号に同期して、先頭メモリアドレ
スから有効なメモリアドレスまで繰り返し発生する。
【0026】このように構成された第1実施例によれ
ば、以下のような作用効果が得られる。すなわち、2次
元固体撮像素子10の各画素101において、入力され
た光がその光量に応じて電気量に変換される。各画素1
01には、画素アドレスが割り当てられており、この画
素アドレスがアドレス記憶手段12に指定されると、指
定された画素101より光量に応じた電気量、例えば電
圧や電流が出力される。
ば、以下のような作用効果が得られる。すなわち、2次
元固体撮像素子10の各画素101において、入力され
た光がその光量に応じて電気量に変換される。各画素1
01には、画素アドレスが割り当てられており、この画
素アドレスがアドレス記憶手段12に指定されると、指
定された画素101より光量に応じた電気量、例えば電
圧や電流が出力される。
【0027】すると、メモリアドレス制御手段17はク
ロック発生手段13から発生したクロック信号に同期し
て、先頭メモリアドレスから有効なメモリアドレスまで
繰り返し発生する。
ロック発生手段13から発生したクロック信号に同期し
て、先頭メモリアドレスから有効なメモリアドレスまで
繰り返し発生する。
【0028】このように、2次元固体撮像素子10から
は、クロック信号に同期して設定した各画素の光量に対
応した電気信号が出力される。この出力された電気信号
がA/D変換手段14によってクロック発生手段13に
同期したデジタル信号に変換される。この変換されたデ
ジタル信号はデータ処理手段15に各種データ処理さ
れ、表示手段16上に描画、可視化される。このような
装置によれば、以下のような2次元画像の中の任意の点
あるいは、領域のデータを高速に収集することが実現で
きる。
は、クロック信号に同期して設定した各画素の光量に対
応した電気信号が出力される。この出力された電気信号
がA/D変換手段14によってクロック発生手段13に
同期したデジタル信号に変換される。この変換されたデ
ジタル信号はデータ処理手段15に各種データ処理さ
れ、表示手段16上に描画、可視化される。このような
装置によれば、以下のような2次元画像の中の任意の点
あるいは、領域のデータを高速に収集することが実現で
きる。
【0029】試料として例えば、図4に示すような、像
内に散在す細胞を蛍光色素などで染色したものを考え
る。ここで、図1の光源2として、ショートアークラン
プ例えば高圧水銀灯、キセノンランプなどを使用し、試
料に照明したときの蛍光像を考える。
内に散在す細胞を蛍光色素などで染色したものを考え
る。ここで、図1の光源2として、ショートアークラン
プ例えば高圧水銀灯、キセノンランプなどを使用し、試
料に照明したときの蛍光像を考える。
【0030】まず、画素アドレス指定手段11によりア
ドレス記憶手段12へ全画素のアドレスを記憶させる。
これにより表示手段16上には、2次元固体撮像素子1
0が捕らえた2次元像が繰り返し表示されるようにな
る。この状態で、試料6のピント調整及び、測定位置合
わせを行うことができる。次に表示された像から測定対
象とする画素を以下の手順でで指定する。
ドレス記憶手段12へ全画素のアドレスを記憶させる。
これにより表示手段16上には、2次元固体撮像素子1
0が捕らえた2次元像が繰り返し表示されるようにな
る。この状態で、試料6のピント調整及び、測定位置合
わせを行うことができる。次に表示された像から測定対
象とする画素を以下の手順でで指定する。
【0031】2次元像内で目的とする細胞を含む領域を
一つ以上指定する。指定方法は、長方形の対角となる2
点を指定する。この長方形に内接する楕円を指定する、
円の中心と半径を指定する、複数の直線により囲んだ内
部を指定する、自由曲線により囲んだ内部を指定するな
どが考えられる。次に、これらによって指定された領域
の内部に閾値を設定し、この閾値以上またはそれ以下と
なる画素のアドレスを測定対象として画素アドレス記憶
手段12に記憶させる。以降、この測定対象となる画素
アドレスのみデータの読み取りを行うことで、高速に測
定することができる。
一つ以上指定する。指定方法は、長方形の対角となる2
点を指定する。この長方形に内接する楕円を指定する、
円の中心と半径を指定する、複数の直線により囲んだ内
部を指定する、自由曲線により囲んだ内部を指定するな
どが考えられる。次に、これらによって指定された領域
の内部に閾値を設定し、この閾値以上またはそれ以下と
なる画素のアドレスを測定対象として画素アドレス記憶
手段12に記憶させる。以降、この測定対象となる画素
アドレスのみデータの読み取りを行うことで、高速に測
定することができる。
【0032】<第2実施例>図5に示すように、図1の
第1実施例と異なる点は、光源2とレンズ3の間に、光
源2の波長を高速に切り換える照明波長切換手段20を
設けると共に、照明波長切換手段20から得られる切換
信号をクロック発生手段13に導入するように構成した
点のみである。
第1実施例と異なる点は、光源2とレンズ3の間に、光
源2の波長を高速に切り換える照明波長切換手段20を
設けると共に、照明波長切換手段20から得られる切換
信号をクロック発生手段13に導入するように構成した
点のみである。
【0033】照明波長切換手段20の一例として、例え
ば特開平6ー160722号公報に示すように構成され
たものがあり、図6はこれを説明するためのものであ
る。取付機構21により励起光を射出する光源31を有
するランプハウス22が取付けられている。コレクタレ
ンズ23(焦点距離f)の焦点位置にはランプハウス2
2から出射された光を入射光軸に対して所望の角度に偏
向せしめるミラー24がミラー駆動装置25により面方
向を変更可能に配置されている。ミラー24からの反射
光は、ミラー24の向きに応じた遮光板26の開口を通
ってコリメータレンズ27に入射し、干渉フィルタ28
を通過した後、コレクタレンズ29に入射する。コレク
タレンズ35(焦点距離f)の焦点には、取付機構34
により装置本体に取付けたライトガイド36の端面が位
置している。干渉フィルタ28はスライダ29に取付け
られていて、装置本体のガイドレール30に容易に着脱
可能となっている。またコレクタレンズ23の後側に
は、ランプハウス22から入射する光を必要に応じて遮
断するシャッタ32が設けられている。コリメータレン
ズ27と干渉フィルタ28の間及び干渉フィルタ28と
コレクタレンズ35との間に遮光筒33が配設されてい
る。
ば特開平6ー160722号公報に示すように構成され
たものがあり、図6はこれを説明するためのものであ
る。取付機構21により励起光を射出する光源31を有
するランプハウス22が取付けられている。コレクタレ
ンズ23(焦点距離f)の焦点位置にはランプハウス2
2から出射された光を入射光軸に対して所望の角度に偏
向せしめるミラー24がミラー駆動装置25により面方
向を変更可能に配置されている。ミラー24からの反射
光は、ミラー24の向きに応じた遮光板26の開口を通
ってコリメータレンズ27に入射し、干渉フィルタ28
を通過した後、コレクタレンズ29に入射する。コレク
タレンズ35(焦点距離f)の焦点には、取付機構34
により装置本体に取付けたライトガイド36の端面が位
置している。干渉フィルタ28はスライダ29に取付け
られていて、装置本体のガイドレール30に容易に着脱
可能となっている。またコレクタレンズ23の後側に
は、ランプハウス22から入射する光を必要に応じて遮
断するシャッタ32が設けられている。コリメータレン
ズ27と干渉フィルタ28の間及び干渉フィルタ28と
コレクタレンズ35との間に遮光筒33が配設されてい
る。
【0034】以上述べた照明波長切換手段20は、ミラ
ー24とミラー駆動装置25とで偏向手段を構成してお
り、ミラー24の向きを変えることにより、所望の光を
入射させ、ライトガイド36から出射される照明光の波
長を変更することができる。
ー24とミラー駆動装置25とで偏向手段を構成してお
り、ミラー24の向きを変えることにより、所望の光を
入射させ、ライトガイド36から出射される照明光の波
長を変更することができる。
【0035】以上のように構成された第2実施例によれ
ば、以下のような作用効果が得られる。すなわち、細胞
内のイオン濃度を測定する際には、照明波長切換手段2
0により複数の照明光波長を順次切換えてそれぞれの波
長における蛍光量を測定し、これらの割り算などを行っ
てイオン量を求めることができる。
ば、以下のような作用効果が得られる。すなわち、細胞
内のイオン濃度を測定する際には、照明波長切換手段2
0により複数の照明光波長を順次切換えてそれぞれの波
長における蛍光量を測定し、これらの割り算などを行っ
てイオン量を求めることができる。
【0036】この場合、照明光波長の切換えには、有限
の時間を要し、従って撮像素子10からの出力には有効
な出力信号と、切換途中の無効な出力信号とが存在する
こととなる。
の時間を要し、従って撮像素子10からの出力には有効
な出力信号と、切換途中の無効な出力信号とが存在する
こととなる。
【0037】このようなことから、本実施例では、照明
波長切換手段20から波長切換が終了し、照明光が有効
な状態にあることを示す信号をクロック発生手段13に
導入し、有効なときのみクロック信号が出力されるよう
に構成されているので、撮像素子10からの有効な出力
のみを取り出すことができる。
波長切換手段20から波長切換が終了し、照明光が有効
な状態にあることを示す信号をクロック発生手段13に
導入し、有効なときのみクロック信号が出力されるよう
に構成されているので、撮像素子10からの有効な出力
のみを取り出すことができる。
【0038】第2実施例の変形例として、アドレス記憶
手段12からは、先頭から最後までの有効な画素アドレ
スを出力している間に、照明波長切換手段20の波長の
切換を行わないように、照明波長切換手段20に対して
切換え禁止信号を出力するように構成していもよい。
手段12からは、先頭から最後までの有効な画素アドレ
スを出力している間に、照明波長切換手段20の波長の
切換を行わないように、照明波長切換手段20に対して
切換え禁止信号を出力するように構成していもよい。
【0039】<第3実施例>図7に示すように、2次元
固体撮像素子10の前方に、光電変換面より発生する光
電子を、加速、結像させる電子レンズからなるイメージ
インテンシファイア40を設けた点のみが、図5の第2
実施例と異なる点である。
固体撮像素子10の前方に、光電変換面より発生する光
電子を、加速、結像させる電子レンズからなるイメージ
インテンシファイア40を設けた点のみが、図5の第2
実施例と異なる点である。
【0040】イメージインテンシファイア40の構成
は、図8のように光電変換面41と、光電変換面41よ
り発生する光電子を、加速、結像させる電子レンズ42
と、マイクロチャンネルプレート43と、蛍光面44か
らなっている。マイクロチャンネルプレート43は、細
い穴(チャンネル)が無数にあいていて、この穴に電子
が入射すると電位勾配に引かれて電子は内壁に数十回衝
突しながら反対側から出てくる際に、電子の衝突によっ
て壁面から2次電子が放出されるため、入射電子に対し
て出力電子は数千倍以上に像倍され、この結果マイクロ
チャンネルプレート43の各チャンネル一つ一つが画素
に相当し、各画素が同時に増強される。
は、図8のように光電変換面41と、光電変換面41よ
り発生する光電子を、加速、結像させる電子レンズ42
と、マイクロチャンネルプレート43と、蛍光面44か
らなっている。マイクロチャンネルプレート43は、細
い穴(チャンネル)が無数にあいていて、この穴に電子
が入射すると電位勾配に引かれて電子は内壁に数十回衝
突しながら反対側から出てくる際に、電子の衝突によっ
て壁面から2次電子が放出されるため、入射電子に対し
て出力電子は数千倍以上に像倍され、この結果マイクロ
チャンネルプレート43の各チャンネル一つ一つが画素
に相当し、各画素が同時に増強される。
【0041】このように構成した第3実施例によれば、
次のような作用効果が得られる。前述した第1及び第2
実施例において、顕微鏡像を直接2次元固体撮像素子1
0の上に結像させ、このとき撮像素子10からの出力を
測定する例を示したが、この場合には、試料7から微弱
な反射光や、蛍光像などを測定する場合、感度が不足こ
とが考えられる。ところが、第3実施例では撮像素子1
0の前方に、イメージインテンシファイア40を設けた
ので、前述の実施例と同様に2次元像内の任意の点ない
し領域を高速に測定できるばかりでなく、前述の実施例
の効果に以外に、微弱な反射光像や、蛍光像といった、
暗い試料7であっても測定が可能となる。
次のような作用効果が得られる。前述した第1及び第2
実施例において、顕微鏡像を直接2次元固体撮像素子1
0の上に結像させ、このとき撮像素子10からの出力を
測定する例を示したが、この場合には、試料7から微弱
な反射光や、蛍光像などを測定する場合、感度が不足こ
とが考えられる。ところが、第3実施例では撮像素子1
0の前方に、イメージインテンシファイア40を設けた
ので、前述の実施例と同様に2次元像内の任意の点ない
し領域を高速に測定できるばかりでなく、前述の実施例
の効果に以外に、微弱な反射光像や、蛍光像といった、
暗い試料7であっても測定が可能となる。
【0042】<変形例>前述の実施例では、2次元固体
撮像素子10としてAMIを例にあげて説明したが、A
MIの他に、例えばCMD、フォトダイオードアレイ
(フォトダイオードをマトリクス状に並べたもの)、フ
レーム転送型CCD(固体撮像素子CCDのデータを一
括してメモリ回路へ転送し、この内容を順次読出すよう
にしたもの)でも、前述の実施例と同様な効果を上げる
ことができる。
撮像素子10としてAMIを例にあげて説明したが、A
MIの他に、例えばCMD、フォトダイオードアレイ
(フォトダイオードをマトリクス状に並べたもの)、フ
レーム転送型CCD(固体撮像素子CCDのデータを一
括してメモリ回路へ転送し、この内容を順次読出すよう
にしたもの)でも、前述の実施例と同様な効果を上げる
ことができる。
【0043】また、照明波長切換手段として図6のよう
に構成されたものをあげたが、これ以外に円盤状に並べ
た複数のフィルタを回転させて切換えるもの、光チョッ
パ・セクタミラーなどを用いるもの、ガルバノメータス
キャナを用いても同様な効果が得られる。
に構成されたものをあげたが、これ以外に円盤状に並べ
た複数のフィルタを回転させて切換えるもの、光チョッ
パ・セクタミラーなどを用いるもの、ガルバノメータス
キャナを用いても同様な効果が得られる。
【0044】
【発明の効果】本発明によれば、2次元像内の任意の点
ないし領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変
化を高速に測定することができる顕微鏡画像解析装置を
提供することができる。
ないし領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変
化を高速に測定することができる顕微鏡画像解析装置を
提供することができる。
【図1】本発明の顕微鏡画像解析装置の第1実施例を説
明するためのブロック図。
明するためのブロック図。
【図2】図1の2次元固体撮像素子10の一例を説明す
るための図。
るための図。
【図3】図2の一つの画素を説明するための等価回路
図。
図。
【図4】図1の試料の一例を示す図。
【図5】本発明の顕微鏡画像解析装置の第2実施例を説
明するためのブロック図。
明するためのブロック図。
【図6】図5の照明波長切換手段の一例を説明するため
の図。
の図。
【図7】本発明の顕微鏡画像解析装置の第3実施例を説
明するためのブロック図。
明するためのブロック図。
【図8】図7のイメージインテンシファイアの一例を説
明するための図。
明するための図。
【符号の説明】 1…顕微鏡、2…光源、3,4…レンズ、5…ハーフミ
ラー、6…対物レンズ、7…試料、10…2次元固体撮
像素子、101…画素、11…画素アドレス指定手段、
12…アドレス記憶手段、13…クロック発生手段、1
4…A/D変換手段、15…データ処理手段、16…表
示手段、17…メモリアドレス制御手段、20…照明波
長切換手段、40…イメージインテンシファイア。
ラー、6…対物レンズ、7…試料、10…2次元固体撮
像素子、101…画素、11…画素アドレス指定手段、
12…アドレス記憶手段、13…クロック発生手段、1
4…A/D変換手段、15…データ処理手段、16…表
示手段、17…メモリアドレス制御手段、20…照明波
長切換手段、40…イメージインテンシファイア。
Claims (3)
- 【請求項1】 顕微鏡に取り付けて、試料からの2次元
光量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置にお
いて、 任意の画素から、任意の順番でデータをアクセス可能な
2次元固体撮像素子と、 この2次元固体撮像素子からの2次元像の任意の画素を
指定する画素アドレス指定手段と、 この画素アドレス指定手段により指定された読み出しア
ドレスを記憶するアドレス記憶手段と、 このアドレス記憶手段に記憶されたアドレスを前記2次
元固体撮像素子に対して順次出力させるアドレス発生手
段と、 前記順次出力されるアドレスの出力タイミングに同期し
て前記2次元固体撮像素子からの出力をデジタル変換す
るA/D変換手段と、 このA/D変換手段により得られた輝度データを処理す
るデータ処理手段と、 を具備した顕微鏡画像解析装置。 - 【請求項2】 顕微鏡に取り付けて、試料からの2次元
光量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置にお
いて、 任意の画素から、任意の順番でデータをアクセス可能な
2次元固体撮像素子と、 この2次元固体撮像素子からの2次元像の任意の画素を
指定する画素アドレス指定手段と、 この画素アドレス指定手段により指定された読み出しア
ドレスを記憶するアドレス記憶手段と、 このアドレス記憶手段に記憶されたアドレスを前記2次
元固体撮像素子に対して順次出力させるアドレス発生手
段と、 前記順次出力されるアドレスの出力タイミングに同期し
て前記2次元固体撮像素子からの出力をデジタル変換す
るA/D変換手段と、 光源の波長を複数の波長に切換え可能であって、この切
換えに同期して前記アドレス発生手段を駆動させる照明
波長切換手段と、 を具備した顕微鏡画像解析装置。 - 【請求項3】 前記2次元固体撮像素子の入力信号を増
幅する増幅手段を備えた請求項1または請求項2記載の
顕微鏡画像解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7160528A JPH0918772A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 顕微鏡画像解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7160528A JPH0918772A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 顕微鏡画像解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0918772A true JPH0918772A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15716921
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7160528A Pending JPH0918772A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 顕微鏡画像解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0918772A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005121602A (ja) * | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Olympus Corp | 蛍光寿命測定装置 |
| JP2006145634A (ja) * | 2004-11-16 | 2006-06-08 | Hamamatsu Photonics Kk | 共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法 |
| US7586688B2 (en) | 2003-02-19 | 2009-09-08 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Electronic microscope |
| JP2015505979A (ja) * | 2011-11-23 | 2015-02-26 | プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ | 高い空間的および/または時間的精度での撮像のためのシステムおよび方法 |
| US20150096687A1 (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-09 | Panasonic Corporation | Bonding apparatus |
-
1995
- 1995-06-27 JP JP7160528A patent/JPH0918772A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7586688B2 (en) | 2003-02-19 | 2009-09-08 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Electronic microscope |
| JP2005121602A (ja) * | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Olympus Corp | 蛍光寿命測定装置 |
| JP2006145634A (ja) * | 2004-11-16 | 2006-06-08 | Hamamatsu Photonics Kk | 共焦点像計測システム、共焦点顕微鏡、及び共焦点像計測方法 |
| JP2015505979A (ja) * | 2011-11-23 | 2015-02-26 | プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ | 高い空間的および/または時間的精度での撮像のためのシステムおよび方法 |
| US20150096687A1 (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-09 | Panasonic Corporation | Bonding apparatus |
| CN104564943A (zh) * | 2013-10-09 | 2015-04-29 | 松下电器产业株式会社 | 接合装置 |
| US10058019B2 (en) * | 2013-10-09 | 2018-08-21 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Bonding apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7706584B2 (en) | Random access high-speed confocal microscope | |
| US20060000984A1 (en) | Method for increasing the spectral and spatial resolution of detectors | |
| US6765609B1 (en) | Solid-state image sensor and analysis system using the same | |
| JP2002039716A (ja) | 距離画像入力装置 | |
| US7589309B2 (en) | Imager system for an automated microscope | |
| US5136373A (en) | Image processing apparatus | |
| JP4540931B2 (ja) | 撮像システム | |
| JP4451509B2 (ja) | 蛍光測定デバイスおよびそのようなデバイスを使用する装置 | |
| JP2622567B2 (ja) | 高感度光学的イメージ装置 | |
| US20240053594A1 (en) | Method and Device for Microscopy | |
| US4399360A (en) | Transmission electron microscope employing sequential pixel acquistion for display | |
| JP2000275541A (ja) | レーザ顕微鏡 | |
| CA1158079A (en) | Solid state optical microscope | |
| US6633331B1 (en) | High-speed CCD array camera with random pixel selection | |
| JPH0646265B2 (ja) | 可視光・赤外光用内視鏡装置 | |
| EP0526134B1 (en) | Feeble light measuring device | |
| KR20050038553A (ko) | 형광 투시장치 및 방법 | |
| JP2007242252A (ja) | 質量分析装置 | |
| GB2216744A (en) | Scanning optical microscopes | |
| JPH01149354A (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JP2609528B2 (ja) | 光子相関測定装置 | |
| Hyrtskiv et al. | Television-computer scanning optical microscopy: foretime, nowadays and the near future | |
| Uslenghi et al. | Characterization of a photon-counting intensified active pixel sensor (PC-IAPS): Preliminary results | |
| JPH02312150A (ja) | コインシデンス型電子顕微鏡 | |
| CA2157755A1 (en) | Camera system for imaging at low light levels |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040413 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040427 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040623 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041026 |